專利名稱：測試電路板的制作方法
技術領域：
本實用新型相關于測試電路板，尤指 一 種用來對集成電路 進4亍測試的測試電游^反。
背景技術：
為了確保集成電路(integrated circuit, IC)出貨時的品質， 在完成制造過程之后， 一般都會對每一個IC執行測試，制造商 會依據對IC執行測試的結果，來決定此IC是否合格，并據以判 斷是否可將此IC供應給下游的廠商。
請參閱圖1，圖l所示為已知技術用來執行IC量產測試的測 試架構示意圖。在此一測試架構中，利用測試^/L ( tester ) 10 來作為測試待測試元件(Device Under Test, DUT) 22的工具。 其中，待測試元件22可為一待測的集成電路(IC),而為了測試 方便，待測試元件22通常設置于一待測試元件電路板(DUT board) 20上。
請參閱圖2,圖2所示為已知技術的測試電路板的示意圖。 如圖1以及圖2所示，通常，測試機10在進行測試時，通常都招: 配專屬的待測試元件電路板20來進行測試，而且根據不同的待 測試元件22，其相對應的待測試元件電鴻一反20上的電^各也有所 不同，待測試元件電路板20上通常包括一些基本的測試連接端 點24用以對;降測試元件22進^f亍測試，例如電源端(DPS)、繼電 器控制端(RELAY CONTROL)、通道端(CHANNEL)、 CBIT端、 萬用孔等等。然而，上述的測試連接端點24皆是凌亂的散布于 待測試元件電聘^反20的四周，因此制作待測試元件電路板20是 相當麻煩的，而且在制作的過程中，有可能會因為測試者進行
人工接線而將復雜的連接線28錯誤連接，此種情況下會導致測 試者必需浪費額外的時間進行除錯，不僅耗費時間又耗費人力。 因此，確實有必要提出 一種不需要復雜接線的測試電路板， 可以省去人工接線所帶來的不便，更可避免將連接線錯誤連接 的狀況發生，以解決已知技術所面臨的問題。
實用新型內容
因此，本實用新型的目的之一，在于提供一種可提升芯片 測試的便利性以及準確性的測試電路板，以解決已知技術所面 臨的問題。
本實用新型的實施例揭露一種測試電鴻4反，用來置方文包括 多個腳位的至少一待測試元件，并傳遞一測試機所產生的多個 測試信號以對該至少 一 待測試元件進行測試。該測試電^各板包 括一電路基板、多個轉接槽、多個連接槽以及多條傳輸線。多 個轉接槽設置于該電路基板上，所述多個轉接槽分別耦接于該 測試機。多個連接槽設置于該電路基板上，所述多個連接槽分 別耦接于該至少一待測試元件所包括的多個腳位以及該多個轉 接槽之間，用以才是供該多個測試信號至該至少一待測試元件， 并接收該至少 一 待測試元件根據該多個測試信號所相對應產生 的多個輸出信號。多條傳輸線耦接于該多個轉接槽以及該多個 連接槽之間，用以傳輸該多個測試信號以及該多個輸出信號， 其中該多條傳輸線利用 一預定方式設置于該電路基板上。
本實用新型所述的測試電路板，該預定方式指將該多條傳 輸線以印刷電路的方式設置于該電路基板上。
本實用新型所述的測試電路板，該多條傳輸線的材質為銅。
本實用新型所述的測試電路板，該電路基板為一印刷電路板。
本實用新型所述的測試電^各板，該至少 一待測試元件為集
成電i 各(Integrated Circuit, IC)。
本實用新型所述的測試電路板，該多個連接槽包括一電源 插槽，用以提供該至少一待測試元件所需的電源。
本實用新型所述的測試電路板，該多個轉接槽通過多條轉 接接口耦接于該測試機，該多條轉接接口用以傳遞該多個測試 信號以及該多個輸出信號。
本實用新型所述的測試電路板，該多條轉接接口中每一條 轉接接口分別為一總線。
本實用新型所述的測試電路板，該測試機為VTT V7100系 列的測試才幾其中之一。
本實用新型所述的測試電蹈—反，該測試電鴻^反適用于該 VTT V7100系列的測試才幾。
本實用新型所述的測試電路板，能夠避免人工連接錯誤的 狀況發生，可以有效的節省測試所需的時間，進一步提升測試 效率。
圖l為已知技術用來執行IC量產測試的測試架構示意圖。
圖2所示為已知技術的測試電路板的示意圖。
圖3所示為本實用新型所提出的測試電路板的示意圖。
具體實施方式
請參閱圖3，圖3所示為本實用新型所提出的測試電路板的 示意圖。如圖3所示，本實用新型揭露一種測試電路板30,用來 置放包括多個腳位的至少一待測試元件(圖未示)，并用以傳遞 一測試機(圖未示)所產生的多個測試信號以對該至少一待測試
元件(圖未示)進行測試。于一實施例中，待測試元件為一集成
電路(Integrated Circuit, IC)。
測試電路板30包括一電路基板32、多個轉接槽34、多個連 接槽36以及多條傳輸線38。多個轉接槽34設置于電路基板32上， 所述多個轉接槽34分別耦接于測試機(圖未示)。多個連接槽36 設置于電路基板32上，所述多個連接槽36分別耦接于至少一待 測試元件(圖未示)所包括的多個腳位以及該多個轉接槽34之 間，用以提供多個測試信號至該至少一待測試元件(圖未示)， 并進一步接收該至少一待測試元件(圖未示)根據多個測試信號 所相對應產生的多個輸出信號。多條傳輸線38耦接于多個轉接 槽34以及多個連4妄槽36之間，用以傳輸該多個測試信號以及該 多個輸出信號，其中該多條傳輸線38采用 一預定方式設置于該 電路基板32上。于一實施例中，該預定方式指將該多條傳輸線 38以印刷電路的方式預先設置于該電路基板32上。借此，可以 省去采用人工將多條傳輸線38逐一連接所花費的時間。于一 實 施例中，該測試機(圖未示)為VTT V7100系列的測試機其中之 一。而該測試電路板30適用于VTT V7100系列的測試機。
于一實施例中，電路基板32為 一印刷電路板。而該多條傳 輸線38的材質為銅，以銅所構成的多條傳輸線38釆用預先印刷 于電路基板32的方式，直接設置于電路基板32上的轉接槽34以 及多個連接槽36之間。
多個連接槽36中另包括至少一電源插槽40,耦接于一電源 供應裝置(圖未示)，電源插槽40用以自電源供應裝置(圖未示) 取得電源后，進一步提供給該至少一待測試元件(圖未示)，以 進行測試。此外，該多個轉接槽34通過多條轉接接口 (圖未示) 耦接于測試機(圖未示)，該多條轉接接口 (圖未示)用以傳遞該多 個測試信號以及該多個輸出信號。于一實施例中，該多條轉接
接口 (圖未示)中每一條轉接接口分別為一總線。
在本實用新型的各個實施例中，本實用新型的測試電路板
預先利用印刷電路的方式將所有的連接線設置于測試電路板 上，省去以往需要使用人工將連接線耦接于待測試元件的每個 腳位以及相對應的連接槽之間，才能順利進行測試所帶來的不 便，此外，預先使用印刷電路的方式設置連接線更能夠避免人 工連接錯誤的狀況發生，可以有效的節省測試所需的時間，進 一步提升測試效率，這些都是本實用新型優于已知技術的特點。 以上所述僅為本實用新型較佳實施例，然其并非用以限定 本實用新型的范圍，任何熟悉本項技術的人員，在不脫離本實 用新型的精神和范圍內，可在此基礎上做進一步的改進和變化， 因此本實用新型的保護范圍當以本申請的權利要求書所界定的 范圍為準。
附圖中符號的簡單說明如下:
10:測試機
20:待測試元件電路板
22:待測試元件
24:測試連"l妻端點
28:連接線
38:傳輸線
30:測試電^各才反
32:電路基板
34:轉接槽
36:連接槽
40:電源插槽。
權利要求1. 一種測試電路板，其特征在于，用來置放包括多個腳位的至少一待測試元件，并傳遞一測試機所產生的多個測試信號以對該至少一待測試元件進行測試，該測試電路板包括一電路基板；多個轉接槽，設置于該電路基板上，所述多個轉接槽分別耦接于該測試機；多個連接槽，設置于該電路基板上，所述多個連接槽分別耦接于該至少一待測試元件所包括的多個腳位以及該多個轉接槽之間，用以提供該多個測試信號至該至少一待測試元件，并接收該至少一待測試元件根據該多個測試信號所相對應產生的多個輸出信號；以及多條傳輸線，分別耦接于該多個轉接槽以及該多個連接槽之間，用以傳輸該多個測試信號以及該多個輸出信號，其中該多條傳輸線利用一預定方式設置于該電路基板上。
2. 根據權利要求l所述的測試電路板，其特征在于，該預 定方式指將該多條傳輸線以印刷電路的方式設置于該電路基板 上。
3. 根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，該多 條傳輸線的材質為銅。
4. 根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，該電 路基板為 一 印刷電^各板。
5. 根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，該至 少一待測試元件為集成電路。
6. 根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，該多 個連接槽包括一電源插槽，用以提供該至少一待測試元件所需 的電源。
7. 根據權利要求2所述的測試電路板，其特征在于，該多 個轉接槽通過多條轉接接口耦接于該測試機，該多條轉接接口 用以傳遞該多個測試信號以及該多個輸出信號。
8. 根據權利要求7所述的測試電路板，其特征在于，該多 條轉接接口中每一條轉接接口分別為一總線。
9. 根據權利要求l所述的測試電路寺反，其特征在于，該測 試機為VTT V7100系列的測試機其中之一。
10. 根據權利要求9所述的測試電路板，其特征在于，該測 試電游^反適用于該VTT V7100系列的測試才幾。
專利摘要本實用新型揭露一種測試電路板，用來置放至少一待測試元件，并用以傳遞一測試機所產生的多個測試信號以對待測試元件進行測試。測試電路板包括一電路基板、多個轉接槽、多個連接槽以及多條傳輸線。該多個轉接槽、多個連接槽以及多條傳輸線設置于電路基板上。其中，該些傳輸線采用一預定方式設置于該電路基板上。本實用新型所述的測試電路板，能夠避免人工連接錯誤的狀況發生，可以有效的節省測試所需的時間，進一步提升測試效率。
文檔編號H05K1/02GK201212905SQ200820110889
公開日2009年3月25日 申請日期2008年5月7日 優先權日2008年5月7日
發明者宋淳立 申請人:普誠科技股份有限公司