一種適用于近場通訊的檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種適用于近場通訊的檢測方法。
【背景技術】
[0002]近場通訊技術在近年來的物聯網及移動支付口號下,得到了迅猛發展。電子標簽在多年的技術更迭下,也實現了更小、更輕、更廉價,方便了超市、物流、公交卡、銀行卡等的快速覆蓋。移動支付領域在運營商、終端廠商等的推動下實現了快速增長。每一移動支付終端勢必需要一個天線來完成信息的傳輸,因此,及需要一種一種快速實現抓取分析信號的工具,還有在移動支付終端研發過程中,工程師在設計自己的產品時,也希望能夠有,了解產品性能,為設計更具兼容性的產品做前期工作。
【發明內容】
[0003]本發明的目的在于克服現有技術之缺陷,提供了一種適用于近場通訊的檢測方法,其具有的操作簡單,實用性強的特性。
[0004]本發明是這樣實現的:一種適用于近場通訊的檢測方法,其包括以下步驟:
[0005](1)提供一待測物,其具有一 NFC天線;
[0006](2)提供一檢測天線,并將檢測天線置于待測物上方,其具有至少三組檢測線圈,三組檢測線圈的尺寸分別為70 X 50mm, 50 X 30mm, 30 X 15mm,所述檢測線圈均為非閉合式的,每一所述檢測線圈的自諧振頻率大于NFC天線的自諧振頻率,且檢測天線連接至一測試儀器;
[0007](3)觀測待測物的NFC天線的尺寸;
[0008](4)將檢測天線切換到對應的檢測線圈,所述檢測線圈的尺寸與NFC天線的尺寸相當;
[0009](5)移動檢測天線相對于待測物的位置,并觀察測試儀器的顯示,抓取數據。
[0010]進一步地,在步驟⑵中,三組檢測線圈分別通過三個獨立的開關控制。
[0011]本發明并將檢測天線置于待測物上方,觀測待測物的NFC天線的尺寸,將檢測天線切換到對應的檢測線圈,所述檢測線圈的尺寸與NFC天線的尺寸相當;移動檢測天線相對于待測物的位置,并觀察測試儀器的顯示,抓取數據,簡易快速、經濟適用,普遍性強,容易為廣大消費者所接受。
【附圖說明】
[0012]為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案,下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動性的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0013]圖1為本發明實施例提供的流程圖;
[0014]圖2為本發明實施例提供的示意圖。
【具體實施方式】
[0015]下面將結合本發明實施例中的附圖,對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發明保護的范圍。
[0016]如圖1-圖2,本發明實施例提供一種適用于近場通訊的檢測方法,具體請參見以下詳細說明。
[0017]一種適用于近場通訊的檢測方法,其包括以下步驟:
[0018]第一步,提供一待測物,其具有一 NFC天線。
[0019]第二步,提供一檢測天線,并將檢測天線置于待測物上方,其具有至少三組檢測線圈,三組檢測線圈分別通過三個獨立的開關控制,三組檢測線圈的尺寸分別為70 X 50mm, 50 X 30mm, 30 X 15mm,所述檢測線圈均為非閉合式的,每一所述檢測線圈的自諧振頻率大于NFC天線的自諧振頻率,且檢測天線連接至一測試儀器,檢測線圈自諧振頻率可以通過天線面積、匝數、線寬、間距、材料等控制,其中測試儀器為網絡分析儀、頻譜分析儀、示波器等儀器,測試儀器滿足13.56MHz或其他待測物需求的頻率。
[0020]第三步,觀測待測物的NFC天線的尺寸。
[0021]第四步,將檢測天線切換到對應的檢測線圈,所述檢測線圈的尺寸與NFC天線的尺寸相當,以避免檢測線圈過大時,測試儀器無法讀取到數據;檢測線圈過小時,移動不同位置,測試儀器讀取數據差異大。
[0022]第五步,移動檢測天線相對于待測物的位置,并觀察測試儀器的顯示,抓取數據。測試儀器為網絡分析儀時,可讀取待測物天線的自諧振頻率;測試儀器為頻譜儀時,可讀取待測物的功率分布圖;測試儀器為示波器時,可讀取待測物調制波形。通過測試儀器數據,工程師可清晰的知曉待測物天線性能,并據此發現問題,并解決,簡易快速、經濟適用,普遍性強,容易為廣大消費者所接受。
[0023]以上所述僅為本發明的較佳實施例而已,并不用以限制本發明,凡在本發明的精神和原則之內,所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種適用于近場通訊的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟: (1)提供一待測物,其具有一NFC天線; (2)提供一檢測天線,并將檢測天線置于待測物上方,其具有至少三組檢測線圈,三組檢測線圈的尺寸分別為70X50mm, 50X30mm, 30X 15mm,所述檢測線圈均為非閉合式的,每一所述檢測線圈的自諧振頻率大于NFC天線的自諧振頻率,且檢測天線連接至一測試儀器; (3)觀測待測物的NFC天線的尺寸; (4)將檢測天線切換到對應的檢測線圈,所述檢測線圈的尺寸與NFC天線的尺寸相當; (5)移動檢測天線相對于待測物的位置,并觀察測試儀器的顯示,抓取數據。2.如權利要求1所述的基于版帶圖像投影的刺繡機對位方法,其特征在于:在步驟(2)中,三組檢測線圈分別通過三個獨立的開關控制。
【專利摘要】本發明提供了一種適用于近場通訊的檢測方法,其包括以下步驟:提供一待測物,其具有一NFC天線;提供一檢測天線,并將檢測天線置于待測物上方,其具有至少三組檢測線圈,三組檢測線圈的尺寸分別為70×50mm,50×30mm,30×15mm,所述檢測線圈均為非閉合式的,每一所述檢測線圈的自諧振頻率大于NFC天線的自諧振頻率,且檢測天線連接至一測試儀器;觀測待測物的NFC天線的尺寸;將檢測天線切換到對應的檢測線圈,所述檢測線圈的尺寸與NFC天線的尺寸相當;移動檢測天線相對于待測物的位置,并觀察測試儀器的顯示,抓取數據,簡易快速、經濟適用,普遍性強,容易為廣大消費者所接受。
【IPC分類】H04B17/15, H04B5/00
【公開號】CN105391503
【申請號】CN201510689447
【發明人】楊若敏, 尹強, 蔣林杰, 劉漢林
【申請人】深圳市三極天線技術有限公司
【公開日】2016年3月9日
【申請日】2015年10月21日