一種測試系統及其應用的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及測試領域，特別是涉及一種測試系統及其應用的測試裝置。
【背景技術】
[0002]目前的終端頻段和制式非常多，生產線需要做天線耦合測試，已確保終端和天線的性能和一致性。由于空間環境和成本的限制，當前耦合測試一般均是采用在屏蔽盒中測試。但是屏蔽盒存在以下問題:
[0003]1、由于產線耦合測試屬于電磁波的近場測試，不同頻段，不同的天線方向性不同，這樣就導致在同一位置，不同的終端，不同的頻段無法同時滿足能判定天線的發射和接收的標準。
[0004]2、產線對于不同的終端，不同的天線會制作特殊的耦合箱，特殊的位置，這樣就導致耦合測試無法通用的問題。
[0005]耦合測試的根本問題是量產的終端不可能每一臺均做完整的天線TRP和TIS，只能采用簡易耦合屏蔽箱的測試方法，而耦合測試由于屬于近場測試，不同的終端，不同的廠家天線又有不同的方向性，無法達到統一。
[0006]且現有的近場耦合測試均是針對特殊終端制作特殊的耦合屏蔽箱，對不同的頻段不同的制式有一個特殊的位置，換一個項目終端很可能就無法進行耦合測試了。而且在耦合測試時大多只能一個頻段一個工位的測試，無法同一個工位完成全頻段任意測試。比如5模17頻段終端GSM、WCDMA, TDSCDMA、CDMA, LTE需要至少3個測試位完成高中低三個頻段的測試，這會增加測試的成本以及降低測試的效率。
【發明內容】
[0007]鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種供電裝置，用于解決現有技術中不能快速準確的找出導致服務器掉電的供電單元的問題。
[0008]為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種測試裝置，用于對電子設備進行測試的測試系統中，包括:屏蔽盒，以為待測電子設備的測試提供屏蔽的環境；天線，設置于所述屏蔽盒內，用以接收發送給所述待測電子設備的外部測試信號或發射所述待測電子設備的反饋信號；支架，用以支撐待測電子設備，其中，所述支架可調整為令所述待測電子設備處于多個角度的設置。
[0009]可選的，所述天線為全頻段天線。
[0010]可選的，所述天線為平板天線。
[0011]可選的，所述支架可根據測試的頻段調整所述電子設備處于相應的角度設置。
[0012]可選的，所述支架為可360度旋轉以及可上下調整的活動結構。
[0013]可選的，所述測試系統為近場耦合測試系統。
[0014]可選的，所述天線通過一射頻線纜與一綜測設備電連接。
[0015]可選的，所述待測電子設備為智能手機或平板電腦。
[0016]為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種測試系統，包括如上任一項所述的測試裝置，以及一與所述天線電連接的綜測設備，用以對設置于所述屏蔽盒的支架上的待測電子設備進行測試。
[0017]如上所述，本發明的測試系統及其應用的測試裝置，用于對電子設備進行測試的測試系統中，所述測試裝置包括:屏蔽盒，以為待測電子設備的測試提供屏蔽的環境；天線，設置于所述屏蔽盒內，用以接收發送給所述待測電子設備的外部測試信號或發射所述待測電子設備的反饋信號；支架，用以支撐待測電子設備，其中，所述支架可調整為令所述待測電子設備處于多個角度的設置。所述支架可根據不同的測試頻段而調整為令待測電子設備更好的接收相應測試頻段測試信號的方向，同時，天線與支架達到最合理的耦合。
【附圖說明】
[0018]圖1顯示為本發明的測試裝置在一具體實施例中的結構示意圖。
[0019]圖2顯示為本發明的測試系統在一具體實施例中的結構示意圖。
[0020]元件標號說明
[0021]1、21測試裝置
[0022]11 屏蔽盒
[0023]12 天線
[0024]13 支架
[0025]2 測試系統
[0026]21 綜測設備
【具體實施方式】
[0027]以下通過特定的具體實例說明本發明的實施方式，本領域技術人員可由本說明書所揭露的內容輕易地了解本發明的其他優點與功效。本發明還可以通過另外不同的【具體實施方式】加以實施或應用，本說明書中的各項細節也可以基于不同觀點與應用，在沒有背離本發明的精神下進行各種修飾或改變。需說明的是，在不沖突的情況下，以下實施例及實施例中的特征可以相互組合。
[0028]需要說明的是，以下實施例中所提供的圖示僅以示意方式說明本發明的基本構想，遂圖示中僅顯示與本發明中有關的組件而非按照實際實施時的組件數目、形狀及尺寸繪制，其實際實施時各組件的型態、數量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態也可能更為復雜。
[0029]請參閱圖1，顯示為本發明的一種測試裝置在一具體實施例中的結構示意圖。
[0030]所述測試裝置I應用于對電子設備進行測試的測試系統中，其中，所述測試系統為近場耦合測試系統，所述電子設備例如為智能手機、平板電腦等，所述測試裝置I包括屏蔽盒11、天線12、以及支架。
[0031]所述屏蔽盒11以為待測電子設備的測試提供屏蔽的環境。
[0032]所述天線12設置于所述屏蔽盒11內，用以接收發送給所述待測電子設備的外部測試信號或發射所述待測電子設備的反饋信號；優選的，所述天線12為全頻段天線可選的，且更優選的，于本實施例中，所述天線12為平板天線。
[0033]所述支架13用以支撐待測電子設備，由于產線耦合測試屬于電磁波的近場測試，不同頻段，不同的天線方向性不同，這樣就導致在同一位置，不同的終端，不同的頻段無法同時滿足能判定天線的發射和接收的標準。所以，本實施例中，所述支架13可調整為令所述待測電子設備處于多個角度的設置。優選的，所述支架13可根據測試的頻段調整所述電子設備處于相應的角度設置，例如所述支架為可360度旋轉以及可上下調整的活動結構，以滿足全頻段的耦合測試。
[0034]請參閱圖2，顯示為本發明的一種測系統在一具體實施例中的結構示意圖。
[0035]所述測試系統2包括一測試裝置21以及一綜測設備22，其中所述測試裝置21的結構以及應用原理與圖1所述實施例中的測試裝置I相同，其中，于本實施例中，所述測試裝置21中的天線與所述綜測設備22通過一射頻線纜通信，用以對設置于所述屏蔽盒內的支架上的待測電子設備進行測試，即實現同一個耦合箱，同一個工位能夠同時完成任何頻段耦合測試。
[0036]綜上所述，本發明的測試系統及其應用的測試裝置，用于對電子設備進行測試的測試系統中，所述測試裝置包括:屏蔽盒，以為待測電子設備的測試提供屏蔽的環境；天線，設置于所述屏蔽盒內，用以接收發送給所述待測電子設備的外部測試信號或發射所述待測電子設備的反饋信號；支架，用以支撐待測電子設備，其中，所述支架可調整為令所述待測電子設備處于多個角度的設置。所述支架可根據不同的測試頻段而調整為令待測電子設備更好的接收相應測試頻段測試信號的方向，同時，天線與支架達到最合理的耦合。所以，本發明有效克服了現有技術中的種種缺點而具高度產業利用價值。
[0037]上述實施例僅例示性說明本發明的原理及其功效，而非用于限制本發明。任何熟悉此技術的人士皆可在不違背本發明的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者在未脫離本發明所揭示的精神與技術思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應由本發明的權利要求所涵蓋。
【主權項】
1.一種測試裝置，其特征在于，用于對電子設備進行測試的測試系統中，包括: 屏蔽盒，用以為待測電子設備的測試提供屏蔽的環境； 天線，設置于所述屏蔽盒內，用以接收發送給所述待測電子設備的外部測試信號或發射所述待測電子設備的反饋信號； 支架，用以支撐待測電子設備，其中，所述支架可調整為令所述待測電子設備處于多個角度的設置。2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述天線為全頻段天線。3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述天線為平板天線。4.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述支架根據測試的頻段調整所述電子設備處于相應的角度設置。5.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述支架為可360度旋轉以及可上下調整的活動結構。6.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試系統為近場耦合測試系統。7.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述天線通過一射頻線纜與一綜測設備電連接。8.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述待測電子設備為智能手機或平板電腦。9.一種測試系統，其特征在于，包括如權利要求1?8中任一項所述的測試裝置，以及一與所述天線電連接的綜測設備，用以對設置于所述屏蔽盒內的支架上的待測電子設備進行測試。
【專利摘要】本發明的一種測試系統及其應用的測試裝置，用于對電子設備進行測試的測試系統中，所述測試裝置包括：屏蔽盒，以為待測電子設備的測試提供屏蔽的環境；天線，設置于所述屏蔽盒內，用以接收發送給所述待測電子設備的外部測試信號或發射所述待測電子設備的反饋信號；支架，用以支撐待測電子設備，其中，所述支架可調整為令所述待測電子設備處于多個角度的設置。所述支架可根據不同的測試頻段而調整為令待測電子設備更好的接收相應測試頻段測試信號的方向，同時，天線與支架達到最合理的耦合。
【IPC分類】H04M1/24
【公開號】CN105162929
【申請號】CN201510548265
【發明人】鄧浩浩
【申請人】上海斐訊數據通信技術有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年8月31日