一種有源光纜的測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開一種有源光纜的測試裝置，采用標準化的外殼、光纖插頭，能夠對QSFP+AOC有源光纜的半成品進行固定及連接測試，且該測試裝置結構簡單便于測試作業，其中的光跳線和MTP/MPO光纖插頭方便在測試過程中更換。
【專利說明】一種有源光纜的測試裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及光通信領域，尤其是一種有源光纜的測試裝置。
【背景技術】
[0002]隨著光纖通信技術的發展，通過將電信號轉變為光信號傳輸解決了銅纜損耗對電信號傳輸速率和傳輸距離的限制，已經被廣泛用于高速度、大容量電路終端的數據傳送。
[0003]QSFP (Quad Small Form-factor Pluggable ;四通道 SFP 接口)+AOC (ActiveOptical Cable)有源光纜，是為了滿足市場對功能和數據量和速度的傳輸而提出的一種更高密度更高速度更低功耗的可熱插拔的光互聯解決方案，相當于4個SFP+光收發模塊，實現了達到40Gbps?56Gbps的超高速率，以及大容量數據傳輸。現有的QSFP+A0C是由帶狀光纜連接兩個高速并行光模塊，而帶狀光纜的兩端是封裝在并行光模塊內部。在生產測試時，無法直接使用此帶狀光纜測試，給測試帶來很多的不便。
[0004]故，需要一種新的技術方案以解決上述問題。
實用新型內容
[0005]本實用新型的目的是針對現有技術存在的不足，提供一種標準化并且測試方便的有源光纜的測試裝置。
[0006]為實現上述目的，本實用新型有源光纜的測試裝置，可采用如下技術方案:
[0007]—種有源光纜的測試裝置,包括外殼、位于外殼一端的插口、位于外殼內的光跳線母頭、與光跳線母頭連接的ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭及固定ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭的固定裝置，所述固定裝置通過螺栓鎖緊在外殼上，所述ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭位于插口中。
[0008]與【背景技術】相比，本實用新型中采用標準化的外殼、光纖插頭，能夠對QSFP+A0C有源光纜的半成品進行固定及連接測試，且該測試裝置結構簡單便于測試作業，其中的光跳線和ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭方便在測試過程中更換。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型有源光纜的測試裝置的俯視結構示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖和具體實施例，進一步闡明本實用新型，應理解這些實施例僅用于說明本實用新型而不用于限制本實用新型的范圍，在閱讀了本實用新型之后，本領域技術人員對本實用新型的各種等價形式的修改均落于本申請所附權利要求所限定的范圍。
[0011]請參閱圖1所示，本實用新型公開一種有源光纜的測試裝置，包括外殼4、位于外殼4 一端的插口 3、位于外殼4內的光跳線母頭1、與光跳線母頭I連接的ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭11及固定ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭11的固定裝置2，所述固定裝置2通過螺栓鎖緊在外殼上，所述ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭11位于插口 3中。所述光跳線母頭I及ΜΤΡ/ΜΡ0光纖插頭11形成為MT-MT光跳線。使用時，將QSFP+AOC半成品裝入4符合標準協議的金屬外殼4中，將光跳線母頭I連接到光引擎(未圖示)。MTP/MPO光纖插頭11可直接插入通用的MTP/MPO母頭光纖，一旦裝配完成，即可對QSFP+AOC有源光纜進行測試裝置，可拆卸的固定裝置2保證了光纖通道對整個裝置的高精度和高穩定性，如果在使用中，MT-MT光跳線和MTP/MPO光纖插頭有所損壞，通過固定裝置2可以進行更換。
【權利要求】
1.一種有源光纜的測試裝置，其特征在于:包括外殼、位于外殼一端的插口、位于外殼內的光跳線母頭、與光跳線母頭連接的MTP/MPO光纖插頭及固定MTP/MPO光纖插頭的固定裝置，所述固定裝置通過螺栓鎖緊在外殼上，所述MTP/MPO光纖插頭位于插口中。
2.根據權利要求1所述的有源光纜的測試裝置，其特征在于:所述光跳線母頭與MTP/MPO光纖插頭形成MT-MT光跳線。
【文檔編號】H04B10/07GK203563067SQ201320683224
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年10月31日 優先權日:2013年10月31日
【發明者】張金輝 申請人:江蘇奧雷光電有限公司