專利名稱：分支光纖檢測系統及方法、光分配網絡和分光器的制作方法
技術領域：
本發明涉及光網絡通信技術領域，尤其涉及一種分支光纖檢測系統和方法，以及一種可以用于上述分支光纖檢測系統的光分配網絡和分光器。
背景技術：
無源光網絡(Passive Optical Network, PON)系統是一種點到多點的光接入網絡系統，其通常包括位于局端的光線路終端(Optical Line Terminal, 0LT)和位于用戶側的多個光網絡單元(Optical Network Unit, 0NU)。其中OLT和ONU之間采用光分配網絡 (Optical Distribution Network, 0DN)進行連接，該ODN通常包括分光器。該分光器可以用來實現將來自局端的下行光信號通過分支光纖分配給對應用戶，并將來自各個用戶的上行光信號匯聚到主干光纖并發送給局端設備。為實現光纖檢測，在現有的ODN的分光器中，連接不同分支光纖的用戶側端口通常會設置有不同的帶通濾波器，并且與局端設備連接的主干光纖可連接有光時域反射儀 (Optical Time Domain Ref lectometer，0TDR)。在進行光纖檢測時，該OTDR可發出具有多個不同中心波長的測試光譜，其中該測試光譜的每個中心波長分別對應于配置在該分光器中一個用戶側端口的帶通濾波器。該測試光譜經過在各個帶通濾波器發生帶通濾波之后， 傳輸到各個分支光纖的測試信號分別對應于不同的中心波長。該不同波長的測試信號在分支光纖發生反射之后，反射光經過該分光器后返回該主干光纖。該OTDR通過檢測該主干光纖傳輸的反射光，便可獲知各個分支光纖的信道特性，比如是否發生斷纖以及光纖的損耗分布等。不過，在大分光比的PON系統中，比如在分光比為1 N的網絡架構下，經過分光器的分光和帶通濾波之后，發送到各個分支光纖的測試信號以及對應的反射信號的光強度只有OTDR光源光強度的1/N。在采用二級分光或者多級分光的情況下，各個測試信號和反射信號的光強度更低。因此，現有技術的分支光纖檢測方案存在光利用率低的問題，此容易導致OTDR在主干光纖上檢測到的反射光的信噪比過低而可能造成誤檢。另一方面，在現有技術的分支光纖檢測方案中，需要在分光器的用戶側端口分別為各個分支光纖配置不同的帶通濾波器，此將導致倉儲和系統維護成本過高。
發明內容
有鑒于此，有必要提供一種可解決上述現有技術存在問題的分支光纖檢測系統和方法，同時有必要提供一種可采用該分支光纖檢測方法的光分配網絡以及風光器。為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案本發明實施例一方面提供一種分支光纖檢測系統，包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述主干光纖的一端耦合有測試設備，另一端通過所述分光模塊連接到所述多個分支光纖，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同；所述測試設備用于根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號，并且接收所述測試信號在對應分支光纖反射而形成的反射信號，并根據反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。本發明實施例另一方面提供一種分支光纖檢測方法，應用于點到多點的光纖網絡，所述光纖網絡包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則進行鍍膜以使所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同，所述方法包括根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向所述光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號，通過所述分光器端口的鍍膜，所述測試信號經過所述待測分支光纖所對應的分光器端口并傳輸至所述待測分支光纖，而在其他分支光纖對應的分光器端口被濾除而不進入其他分支光纖；接收所述測試信號在待測分支光纖反射而形成的反射信號，并根據所述反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。本發明實施例還提供一種光分配網絡，包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖， 其中，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同。進一步地，本發明實施例還提供一種可以用于上述光分配網絡的分光器，其包括多個分光器端口，其中各個分光器端口通過鍍膜的方式對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波，且不同分光器端口的通帶不同。本發明實施例提供的各種方案通過在光分配網絡中分光器端口采用預設規則進行鍍膜以實現在各個分光器端口對測試信號進行帶通濾波，從而降低分光器的倉儲和維護成本。并且，在進行分支光纖檢測時，測試設備(如光時域反射儀0TDR)根據待測分支光纖所對應的鍍膜方式，在測試光譜中選擇與所述分支光纖對應的分光器端口相匹配的測試波長子帶并發送波長與所選擇的測試波長子帶相對應的測試信號，使測試信號在待測分支光纖對應的測試鏈路上的傳輸過程中不會發生大量光功率衰減，從而提高分支光纖檢測時的光利用率，提高測試精度。
圖1為本發明實施例提供的方案可以適用的PON系統的結構示意圖；圖2為圖1所示PON系統的光分配網絡采用一級分光時的結構示意圖；圖3為圖1所示PON系統的光分配網絡采用兩級分光時的結構示意圖；圖4為圖1所示PON系統的光分配網絡采用多級分光時的結構示意圖；圖5為本發明實施例的分支光纖檢測系統采用一級分光時分光器端口鍍膜示意圖；圖6為本發明實施例的分支光纖檢測系統采用兩級分光時第二級分光器端口鍍膜示意圖；圖7為本發明實施例的分支光纖檢測系統采用兩級分光時第一級分光器端口鍍膜示意圖；圖8為本發明實施例的分支光纖檢測方法的流程圖；圖9為本發明實施例的分支光纖檢測系統的流程圖。
具體實施例方式下面結合附圖對本發明實施例提供的分支光纖檢測方法、系統和分光器進行詳細的說明。本發明實施例提供的各種技術方案可以適用于點到多點的光纖網絡，如無源光網絡PON系統。為便于理解，以下實施例以應用在PON系統為例進行描述，不過，應當理解，本發明實施例提供的各種技術方案并不限于應用在PON系統，所屬技術領域的技術人員可以通過以下具體實施方式
的內容知悉，本發明實施例提供的各種技術方案還可以應用于其他光纖網絡。本發明實施例為解決現有技術存在的問題，通過在光分配網絡中分光器端口采用預設規則進行鍍膜以實現在各個分光器端口對測試信號進行帶通濾波，從而降低分光器的倉儲和維護成本。并且，在進行分支光纖檢測時，測試設備(如光時域反射儀0TDR)根據待測分支光纖所對應的鍍膜方式，在測試光譜中選擇與所述分支光纖對應的分光器端口相匹配的測試波長子帶并發送波長與所選擇的測試波長子帶相對應的測試信號，使測試信號在待測分支光纖對應的測試鏈路上的傳輸過程中不會發生大量光功率衰減，從而提高分支光纖檢測時的光利用率，提高測試精度。請參閱圖1，其為本發明實施例可以應用在的無源光網絡PON系統的架構圖。所述 PON系統100包括局端通信設備(比如光線路終端0LT) 110、測試設備(比如光時域反射儀 0TDR)120、光分配網絡ODN 130和多個用戶側通信設備(比如光網絡單元0NU) 140。其中， 所述局端通信設備110通過所述光分配網絡130以點到多點的方式連接到所述用戶側通信設備140。并且，通過所述光分配網絡130，在下行方向，所述局端通信設備110可以采用時分復用(TDM)的方式與所述多個用戶側通信設備140進行通信，而在上行方向，所述多個用戶側通信設備140可采用時分多址(TDMA)的方式與所述局端通信設備110進行通信。所述光分配網絡130可以包括主干光纖131、分光模塊132和多個分支光纖133。 其中所述分光模塊132包括網絡側端口 134和多個用戶側端口 135。所述網絡側端口 134 通過所述主干光纖131連接到所述局端通信設備110，且每個用戶側端口 135分別通過一個分支光纖133連接到對應的用戶側通信設備140。所述測試設備120可通過波分復用器(WDM)耦合到所述主干光纖131，且其可以用于通過所述主干光纖131和分光模塊132向所述分支光纖133發送測試信號，并接收所述測試信號在所述分支光纖133反射而返回的反射信號。在具體實施例中，所述測試設備120 采用可調激光器進行測試信號的發送，并且其發送的用于檢測不同分支光纖的測試信號各不相同。比如，所述測試設備120采用的測試光譜可以包括多個測試波長子帶，且其發出的用于檢測不同分支光纖的測試信號的波長可以分別位于其中不同的測試波長子帶，即不同分支光纖分別對應于不同的測試波長子帶。并且，所述測試設備120內部可以預先配置有所述分支光纖與波長子帶的對應關系，并且在對某一分支光纖進行檢測時可根據所述對應關系選擇與所述分支光纖對應的測試波長子帶并發送對應的測試信號。
在所述光分配網絡130中，所述分光模塊132可通過分光器(Splitter)對來自局端的下行光信號(包括測試設備120發送的測試信號)進行分路處理，并對來自用戶側的上行光信號進行匯聚處理。在具體實現上，所述光分配網絡130可以通過一個或多個分光器實現一級分光、兩級分光或者多級分光。具體地，請參閱圖2，當所述光分配網絡130采用一級分光時，所述分光模塊132可以為一個單獨的分光器，且該分光器的各個端口可作為所述用戶側端口 135。請參閱圖3， 當所述光分配網絡130采用兩級分光時，所述分光模塊132可以具有多個分光器，包括一個第一級分光器和多個連接到所述第一級分光器的第二級分光器。其中所述第一級分光器的各個端口分別通過光纖連接到對應的第二級分光器，且所述第二級分光器的各個端口可分別作為所述分光模塊132的用戶側端口 135。請參閱圖4，當所述光分配網絡130采用多級分光時，所述分光模塊132的具體實現可在以上二級分光基礎上進行對應的擴展。另一方面，在本發明實施例中，所述分光模塊132中的每個分光器的端口分別通過特定的鍍膜方式以實現帶通濾波，并且所述分光器端口的鍍膜方式可以使得所述分光模塊132中與各個分支光纖133對應測試鏈路的通帶均為不同，即使得每個用戶側端口 135 所對應的通帶均為不同。比如，所述分光器端口可以按照預設規定分別鍍有特定的光學膜， 所述光學膜可以相當于一個簡化的帶通濾波器，用于限制各個分支光纖133對應的測試鏈路可以通過的測試信號。具體地，所述光學膜可以使得由所述測試設備120提供的且波長與待測分支光纖133相匹配的測試信號可以完全通過所述待測分支光纖133連接的用戶側端口 135，并使所述測試信號在所述待測分支光纖133上反射而形成的反射信號返回給所述測試設備120，并且可以使得由所述測試設備120發出的其他波長的測試信號無法通過所述用戶側端口 135，即阻止波長與待測分支光纖133不對應的測試信號通過所述用戶側端口 135。為便于描述，假定所述光分配網絡130可以實現分光比為1 N的分光處理。在一種具體實施例中，所述光分配網絡130采用一級分光，所述分光模塊(即一單獨的分光器)132的N個用戶側端口 135分別鍍有不同的光學膜，每種光學膜分別對應于不同的通帶。在具體實現上，比如，可以將所述測試設備120采用的測試光譜進行N等分以形成N個波長子帶Δ& Δ ，所述分光器132的每個端口所鍍的光學膜可以分別對應于其中一個波長子帶(如圖5所示)，從而使得每個用戶側端口 135只允許波長與所述端口連接的分支光纖相對應的測試信號通過。在另一種具體實施例中，所述光分配網絡130采用兩級分光，且N = mXn。所述分光模塊132包括一個分光比為1 m的第一級分光器和m個分光比為1 η的第二級分光器。其中，所述第一級分光器和所述m個第二級分光器的端口可按照預設規則分別進行鍍膜處理，以使所述分光模塊132中與所述mXn個分支光纖對應的測試鏈路分別對應于不同的通帶，比如使得所述mXn個用戶側端口 135分別對應不同的通帶。在具體實現上，可選地，可以將所述測試設備120的測試光譜進行N等分以形成N 個測試波長子帶AB1 Δ 。并且，將所述第一級分光器的m個端口所鍍有的光學膜對應的通帶分別定義為m個第一波長子帶，將每個第二級分光器的η個端口所鍍有的光學膜對應的通帶分別定義為η個第二波長子帶Δ C1 ACn。其中，所述m個第一波長子帶各不相同，所述m個第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且所述η個第二波長子帶可以是將測試光譜進行η等分而形成。并且，每個第二波長子帶Δ C1 Δ Cn分別包括m個測試波長子
市ο比如，假定N = 32且m = 4、n = 8，則AC1可以包括AB1- ΔΒ4，Δ C2包括Δ& ，以此類推，如圖6所示。并且，每個第二級分光器的η個端口所鍍的光學膜可以分別
對應于其中一個第二波長子帶Δ。、AC2......或Δ Cn，而所述第一級分光器的每個端口
所鍍的光學膜所對應的第一波長子帶可分別包括η個相互間隔的測試波長子帶，且其中所述η個相互間隔的測試波長子帶中的每個測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶，另外，所述第一分光器中不同端口所對應的第一波長子帶互不相同且互不交迭。比如，在m =4、η = 8的情況下，所述第一級分光器的第一個端口的光學膜對應于八個測試波長子帶 Δ (其中i 1 = 1，5，9，13，17，21，25，四)，第二個端口的光學膜對應于八個測試波長子帶 ΔΒ 2( 2 = 2，6，10，14，18，22，26，30)，以此類推，如圖 7 所示。當然，應當理解，以上所述僅是在所述光分配網絡130采用兩級分光時可以采用的一種可選的鍍膜方式，在實際應用上還可以采用其他鍍膜方式，只要所采用的鍍膜方式可以使得所述mXn個用戶側端口 135分別對應于不同的通帶便可。進一步地，當所述光分配網絡130采用多級分光時，所述分光模塊132中各個分光器可以采用的具體鍍膜方式可以參照上述方案進行類推。基于上述PON系統100，本發明實施例首先提供一種分支光纖檢測方法。請參閱圖8，所述方法可以包括步驟Sl 根據待測分支光纖對應的分光器端口，所述測試設備120在測試光譜中選擇與所述分光器端口的鍍膜相對應的測試波長子帶，并發送與所述波長子帶相對應的測試信號。具體地，所述測試設備120內部可以預先配置有分支光纖與測試波長子帶的對應關系，其中，所述測試光譜中的每一測試波長子帶分別對應于一個分支光纖133。如上所述， 在所述光分配網絡130中，通過在分光器端口進行鍍膜的方式實現帶通濾波，且每個分支光纖133所對應的分光器端口的具體鍍膜方式分別可以使得帶通濾波的通帶為所述分支光纖133對應的測試波長子帶。因此，通過所述分支光纖與測試波長子帶的對應關系，所述測試設備120便可獲知待測分支光纖所對應的分光器端口的鍍膜方式，并在測試光譜中選擇與所述鍍膜相匹配的測試波長子帶。在所述對應關系中，可選地，所述分支光纖可通過分支光纖標識進行表示。進一步地，所述測試設備120可以通過其內部的可調激光器生成并發送與所述測試波長子帶相對應的測試信號，其中所述測試信號的譜寬可以為完全覆蓋所述測試波長子帶，也可以為僅為所述測試波長子帶的一部分，甚至還可以為所述測試波長子帶中的單一波長信號。或者，由于每個分支光纖133分別對應于不同的分光器端口，因此所述分支光纖可以通過其對應的分光器端口的端口號進行表示，相對應地，所述分支光纖與測試波長子帶的對應關系便可通過分光器端口號與測試波波長子帶的對應關系來實現。當所述光分配網絡130采用單級分光時，每一分支光纖133分別連接在分光器的其中一端口，因此每一分支光纖133分別對應于一個端口號，即所述分光器中與所述分支光纖133相連接的端口的端口號。當所述光分配網絡130采用兩級分光時，每一分支光纖 133分別對應于兩個分光器端口號，其中一個為第二級分光器中與所述分支光纖133對應的端口號，即所述第二級分光器中與所述分支光纖133相連接的端口的端口號，另一個為第一級分光器中與所述分支光纖133對應的端口號，即所述第一級分光器中與所述第二級分光器相連接的端口的端口號。相類似地，當所述光分配網絡130采用多級分光時，每一分支光纖133分別對應于多個分光器端口號。在本實施例提供的分支光纖檢測方法中，若所述分支光纖通過其對應的分光器端口號來表示，則所述測試設備120可以根據待測分支光纖對應的分光器端口號，在測試光譜中選擇測試波波長子帶并生成對應的測試信號。步驟S2 所述光分配網絡130通過在其分光模塊132內部的分光器端口所鍍的光學膜分別對所述測試信號進行帶通濾波，以將所述測試信號傳送到所述待測分支光纖133 并阻止所述測試信號進入其他分支光纖133。具體地，在所述光分配網絡130中，所述測試信號通過所述主干光纖131進入所述分光模塊132，所述分光模塊132內部的分光器對所述測試信號進行分光處理并發送到所述分光器的各個端口，所述分光器的各個端口通過其所鍍的光學膜分別對所述測試信號進行帶通濾波，以使所述測試信號通過所述分光器中與所述待測分支光纖相對應的端口，并在其他端口被濾除掉，并且使得用于檢測其他分支光纖133的測試信號在所述分光器端口被濾除。可選地，當所述光分配網絡130采用兩級分光時，所述步驟S2還可以包括所述分光器將與所述待測分支光纖對應的端口通過的測試信號送入與所述端口連接的下一級分光器，所述下一級分光器進一步對所述測試信號進行分光處理并發送到所述下一級分光器的各個端口。相類似地，所述下一級分光器的各個端口進一步通過其所鍍有的光學膜分別對所述測試信號進行帶通濾波，以使所述測試信號通過與所述待測分支光纖對應的端口并發送到所述待測分支光纖，并在所述下一級分光器的其他端口被濾除掉。步驟S3，所述待測分支光纖133在其末端對所述測試信號進行反射，反射信號進一步通過所述待測分支光纖133、分光模塊132和主干光纖131返回所述測試設備120。具體地，在所述光纖網絡中，每個分支光纖133鄰近用戶側的一端可以設置有反射鏡，比如所述反射鏡可以通過波分復用器耦合到所述分支光纖133末端，或者，所述反射鏡也可以設置在與所述分支光纖133相連接的光網絡單元140中。當測試信號通過所述分支光纖133傳送到所述反射鏡時，所述測試信號將被所述反射鏡反射而轉換為反射信號。 所述反射信號沿原路徑返回，由于所述反射信號的波長與所述測試信號相對應，因此其可以直接通過原路徑上的分光器端口所鍍的光學膜，并經由所述主干光纖131進入所述測試設備120。步驟S4，所述測試設備120接收所述反射信號，并對其波長進行檢測以獲取其所對應的波長子帶，進一步地，所述測試設備120可以通過查詢預先設置在其內部的波長子帶與分支光纖的對應關系，獲知所述反射信號所對應的分支光纖133，即所述待測分支光纖，并通過所述反射信號獲取待測分支光纖133的信道特性。為更好地理解本發明實施例提供的方案，下面以光纖網絡為兩級分光且分光比為 1 32(第一級分光為1 4，第二級分光為1 8)為例進行實例說明。請參閱圖9，其為本實施例所采用對分光比為1 32的光纖網絡進行分支光纖檢測的系統結構示意圖，為更清楚直接地表示本實施例的檢測方案，圖9并沒有表示出局端和用戶側的通信設備。如圖9所示，所述分支光纖檢測系統包括測試儀、一個分光比為1 4的第一級分光器和四個分光比為1 8的第二級分光器。其中，所述測試儀包括測試光發射光源TLS (Tunable Laser Source，超寬帶可調諧激光器)和PD (Photo Detector，光感測器)。其中所述TLS和PD通過光纖連接器連接到主干光纖的一端。所述第一級分光器連接到所述主干光纖的另一端，且其包括四個端口。所述四個第二級分光器分別連接到所述第一級分光器的其中一端口，且每個第二級分光器包括八個端口，即所述四個第二級分光器共包括32個端口，其中每個第二級分光器端口分別連接至一分支光纖。在本實施例中，所述測試儀可采用的測試光譜的寬度U-Band為1625nm-1675nm。所述第一級分光器和第二級分光器通過在其分光器端口進行鍍膜的方式實現帶通濾波，且其中第一級分光器端口所鍍的光學膜與第二級分光器端口所鍍的光學膜相互配合，使每個分支光纖所對應的測試鏈路的通帶各不相同。比如，在本實施例中，所述第一級分光器的端口與所述四個第二級分光器的端口可以采用梳齒交叉鍍膜的方式，實現在所述第一級和第二級中與每一分支光纖所對應的測試鏈路具有預先設定的帶通濾波功能。具體而言，上述梳齒交叉鍍膜方式可以如下由于所述光纖網絡的分光比為1 32，因此可以將所述測試光譜U-Band的寬度平均進行32等分，從而劃分為32個測試波長子帶ABid < i < 32)，其中每個測試波長子帶 ABi 帶寬為(l675nm-l625nm)/32。將所述第一級分光器的四個端口分別記為端口 P11 P14，本實施例中，端口 P11所鍍的光學膜可以對應于測試波長子帶AB1, ΔB5, Δ B9, ΔΒ13、ΔB17, ΔB21, ΔΒμ禾口 ABfflW 集合，端口 P12所鍍的光學膜可以對應于測試波長子帶ΔΒ2、Δ B6, Δ B10, Δ B14, Δ B18, Δ B22, ABa^P Δ B3tl的集合，端口 P11所鍍的光學膜可以對應于測試波長子帶ΔΒ3、Δ B7, Δ B11, ΔB15, ΔB19, ΔΒ23> ΔB27 ^P A^1的集合，端口 P11所鍍的光學膜可以對應于測試波長子帶 Δ B4, Δ B8, Δ B12, Δ B16, Δ B20, Δ B24, Δ B28禾口 Δ B32的集合。若4奪所述第一級分光器四個端口所鍍的光學膜對應的通帶分別定義為四個第一波長子帶，則不同的第一波長子帶互不相同和互不交迭。在所述四個第二級分光器中，將第一個第二級分光器的八個端口分別記為端口 P21 P28，第二個第二級分光器的八個端口分別記為P31 P38，第三個第二級分光器的八個端口分別記為P41 P48，第四個第二級分光器的八個端口分別記為P51 ρ58。在本實施例中，端口 P21、P31, P41和P51所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶AB1 AB4的集合；端口 P22、P32Unh2所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶Δ& 的集合；端口 ρ23、ρ33、ρ43和P53所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶ΔΒ9 AB12的集合；端口 P24、P34, P44和P54所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶ΔΒ13 八8^5的集合；端口己5、？35、 45和？55所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶ΔΒ17 Ahtl的集合；端口 Ρ26、Ρ36、Ρ46和P56所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶ΔΒ21 ΔΒ24的集合；端口 ρ27、ρ37、ρ47和P57所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶ΔΒ25 AB28的集合；端口 P28、P38, P48和P58 所鍍的光學膜是相同的，其分別對應于測試波長子帶ΔΒμ AB32W集合。也就是說，對于所述四個第二級分光器而言，其端口的鍍膜方式是統一的。若將所述第二級分光器八個端口所鍍的光學膜對應的通帶分別定義為八個第二波長子帶，則不同的第二波長子帶也互不相同也互不交迭。所述八個第二波長子帶可以是通過將所述測試光譜U-Band的寬度平均進行八等分得到。由此，每個第二級分光器的八個端口所鍍的光學膜分別對應于其中一個第二波長子帶，且每個第二波長子帶分別包括四個相鄰的測試波長子帶。并且，通過上面的描述可以看出，每個第一波長子帶可以分別對應于八個相互間隔的測試波長子帶，且其中所述八個相互間隔的第一波長子帶中的每個第一波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。圖9所示的分支光纖檢測系統的具體工作過程可以如下首先，所述測試儀根據待測分支光纖對應的分光器端口的鍍膜方式，選擇對應的測試波長子帶，并調整其內部的TLS的發射波長，以使所述TLS發射出的測試信號的波長與所述待測分支光纖對應的分光器端口通過鍍膜形成的帶通濾波器的通帶相匹配。假定對第一個分支光纖進行檢測，所述TLS發射的測試信號的波長對應于測試波長子帶Δ Bp所述測試信號經過所述第一級分光器的分光處理之后傳送至所述第一級分光器的四個端口，所述第一級分光器分別通過各個端口所鍍的光學膜分別對傳送到各個端口的測試信號進行濾波。由于所述第一級分光器中只有端口 P11的通帶與所述測試波長子帶 AB1相匹配，因此所述測試信號只能通過所述端口 P11并進一步進入所述第一個第二級分光器。相類似地，由所述端口 P11輸出的測試信號經過所述第一個第二級分光器的分光處理之后傳送至所述第一個第二級分光器的八個端口，所述第二級分光器分別通過各個端口所鍍的光學膜分別對傳送到各個端口的測試信號進行濾波。由于所述第一級分光器中只有端口 P21的通帶與所述測試波長子帶AB1相匹配，因此所述測試信號只能通過所述端口 P21并進一步進入第一個分支光纖。通過分光器端口所鍍的光學膜的濾波作用，所述測試信號被限制為只能傳送至所述待測分支光纖。進一步地，所述待測分支光纖在其末端對所述測試信號進行發射，反射信號進一步通過原路徑返回至所述測試儀，并被所述測試儀的PD所接收。接著，所述測試儀可對其接收到的反射信號進行波長檢測以得到所述反射信號的波長所位于的測試波長子帶AB1, 由此獲知所述反射信號所對應的分支光纖，即所述待測分支光纖，進一步地，所述測試儀可以通過所述反射信號獲取到待測分支光纖的信道特性。通過以上的實施方式的描述，本領域普通技術人員可以理解實現上述實施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關的硬件來完成，所述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質中，該程序在執行時，包括如上述方法實施例的步驟，所述的存儲介質，如R0M/RAM、磁碟、光盤等。以上所述，僅為本發明的具體實施方式
，但本發明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術范圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。因此，本發明的保護范圍應以權利要求的保護范圍為準。
權利要求
1.一種分支光纖檢測系統，包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述主干光纖的一端耦合有測試設備，另一端通過所述分光模塊連接到所述多個分支光纖，其特征在于所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同；所述測試設備用于根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號，并且接收所述測試信號在對應分支光纖反射而形成的反射信號，并根據反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。
2.如權利要求1所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述分光模塊為一個分光比為1 N的分光器，所述測試光譜包括N個測試波長子帶，且所述分光器的每個端口所設置的光學膜分別對應于一個測試波長子帶。
3.如權利要求1所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述測試光譜包括N個測試波長子帶，所述分光模塊的分光比為1 N，其中N = mXn，且所述分光模塊包括一個連接到所述主干光纖且分光比為1m的第一級分光器和m個分光比為1η的第二級分光器， 其中所述m個第二級分光器分別連接到所述第一級分光器的m個端口，且不同的第二級分光器端口分別連接到不同的分支光纖。
4.如權利要求3所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述第一級分光器的m個端口所設置的光學膜分別對應于m個不同的第一波長子帶，所述m個第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且每個第二級分光器中η個端口所設置的光學膜分別對應于η個不同的第二波長子帶，其中不同的第一波長子帶不相互交迭，不同的第二波長子帶也不相互交迭，每個第二波長子帶分別包括m個相鄰的測試波長子帶，每個第一波長子帶分別包括η個相互間隔的測試波長子帶，且其中所述η個相互間隔的第一波長子帶中的各個測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。
5.如權利要求1所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述預設規則為梳齒交叉間隔的鍍膜方式。
6.如權利要求1至5中任一項所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述測試設備內部預先設置有分支光纖與測試波長子帶的對應關系，其中不同的測試波長子帶分別對應于不同的分支光纖，且所述測試設備在對待測分支光纖進行檢測時可根據所述對應關系選擇與所述待測分支光纖對應的測試波長子帶并發送對應波長的測試信號。
7.如權利要求1至5中任一項所述的分支光纖檢測系統，其特征在于，所述測試設備內部預先設置有分光器端口號與測試波長子帶的對應關系，其中不同的測試波長子帶分別對應于不同的分光器端口號，且所述測試設備在對待測分支光纖進行檢測時可根據所述對應關系選擇與所述待測分支光纖連接到的分光器端口的端口號對應的測試波長子帶并發送對應波長的測試信號。
8.一種分支光纖檢測方法，應用于點到多點的光纖網絡，所述光纖網絡包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則進行鍍膜以使所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同，其特征在于，所述方法包括根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向所述光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號， 通過所述分光器端口的鍍膜，所述測試信號經過所述待測分支光纖所對應的分光器端口并傳輸至所述待測分支光纖，而在其他分支光纖對應的分光器端口被濾除而不進入其他分支光纖；接收所述測試信號在待測分支光纖反射而形成的反射信號，并根據所述反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。
9.一種光分配網絡，其特征在于，包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，其中，所述分光模塊包括至少一個分光器，所述至少一個分光器的各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同。
10.如權利要求9所述的光分配網絡，其特征在于，所述至少一分光器用于接收通過所述主干光纖傳送的測試信號，其中所述測試信號的波長位于測試光譜中的預設波長子帶， 且所述預設波長子帶與待測分支光纖所鍍的光學膜相匹配。
11.如權利要求10所述的光分配網絡，所述測試光譜包括N個測試波長子帶，所述分光模塊的分光比為1 N，其中N = mXn，且所述分光模塊包括一個連接到所述主干光纖且分光比為1 m的第一級分光器和m個分光比為1 η的第二級分光器，所述第一級分光器的m個端口所設置的光學膜分別對應于m個不同的第一波長子帶，所述m個第二級分光器的端口鍍膜方式是一致的，且每個第二級分光器中η個端口所設置的光學膜分別對應于 η個不同的第二波長子帶，其中不同的第一波長子帶不相互交迭，不同的第二波長子帶也不相互交迭，每個第二波長子帶分別包括m個相鄰的測試波長子帶，每個第一波長子帶分別包括η個相互間隔的測試波長子帶，且其中所述η個相互間隔的第一波長子帶中的各個測試波長子帶分別位于不同的第二波長子帶。
12.如權利要求11所述的光分配網絡，其特征在于，所述預設規則為梳齒交叉間隔的鍍膜方式。
13.一種用于如權利要求9所述的光分配網絡的分光器，其特征在于，包括多個分光器端口，其中各個分光器端口通過鍍膜的方式對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波，且不同分光器端口的通帶不同。
全文摘要
本發明實施例提供一種分支光纖檢測系統，包括主干光纖、分光模塊和多個分支光纖，所述分光模塊包括至少一個分光器，其各個端口按照預設規則設置有用于對傳送至所述分光器端口的光信號進行帶通濾波的光學膜，且所述光學膜使得所述分光模塊中與各個分支光纖相對應的測試鏈路的通帶不同；所述測試設備用于根據待測分支光纖所對應的分光器端口，在測試光譜中選擇與所述分光器端口的光學膜相匹配的測試波長子帶，向光纖網絡發送與所選測試波長子帶相對應的測試信號，并且接收所述測試信號在對應分支光纖反射而形成的反射信號，并根據反射信號獲取所述待測分支光纖的信道特性。本發明實施例還提供一種分支光纖檢測方法、光分配網絡和分光器。
文檔編號H04B10/077GK102244538SQ20101016715
公開日2011年11月16日 申請日期2010年5月10日 優先權日2010年5月10日
發明者單小磊, 溫運生, 王世軍, 王波, 趙峻 申請人:華為技術有限公司