專利名稱：一種手機天線輻射性能自動測試方法
技術領域：
本發明屬于3G手機技術領域，涉及一種手機天線輻射性能的測試方法。
背景技術：
手機天線的輻射性能直接影響著通信質量，快速、準確地測試其輻射性能 具有十分重要的意義。CTIA(Cellular Telecommunications & Internet Association)標準指出總輻射功率TRP和總全向靈敏度TIS是有效地衡量手機 天線性能的兩個重要指標。其中總輻射功率TRP可以全面衡量手機的發射情況, 總全向靈敏度TIS可以全面衡量手機的接收性能。總輻射功率TRP的計算公式
^尸三I>z7^(《，A) + ^T^(《^.)]sin(《.) (工)
,二i y=o
式(1)中，《和-，是球坐標系的坐標值，其取值范圍為0。S^S180。、 0°^(^360Q。 N和M分別為0和^方向的取樣點數。EiRP6和EiRP(l)是天線的e和 ^極化方向的EiRP。 EiRP是天線輸入功率(P )和該天線增益(G )的乘積， 即
EIRP = P * G ( 2 )
TIS的計算公式為
7" = AM附-l ^ ] ( 3 )
臺臺^ZV《，A)
式(3)中，EIS是有效等方向靈敏度，此值可由TD-SCDMA終端綜測儀測出。 N、 M、 ^和^與式(1)中的含義相同。
為了測試手機總輻射功率TRP和總全向靈敏度TIS,只需測試天線輸入功 率和手機接收參考靈敏度。利用綜測儀測試手機發射功率相對比較簡單，但 是現有技術中在測試手機接收參考靈敏度時，手機容易斷鏈，對于2G手機很 容易就可以重新建立鏈接，但對于3G手機在測量全向靈敏度過程中，鏈路一 旦斷開就很難重新連上，要重新鏈接就需要重新開手機，故而現有技術中測試手機天線輻射性能的方法在測試3G手機時效率較低，不利于測試。
發明內容
本發明的目的是提供一種快速、準確的測試手機天線輻射性能的方法，該 測試方法既保證在測試時不會斷鏈，又提高了測試效率。
本發明所提供的測試手機天線輻射性能的方法，按如下步驟進行
(1) 置手機于最大發射功率狀態；
(2) 從手機天線測試裝置的頻譜分析模塊讀取最大功率測量結果，并計 算手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值AP;
(3) 若手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值AP大于預期 總輻射功率誤差值，調整手機天線測試裝置的上、下行線路損耗，繼續步驟(2 )、 步驟(3),直到手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值AP小于
預期總輻射功率誤差值，否則直接進入下一步；
(4) 將手機天線測試裝置的參考功率值設為總全向靈敏度測試的參考功
率值；
(5) 測試手機的誤碼率，判斷誤碼率是否超過全向靈敏度測試誤差值 (0. 001); .
(6) 若誤碼率小于全向靈敏度測試誤差值，減小參考功率值，否則增大 參考功率值；重復步驟(5)和驟(6)，直至找到誤碼率等于全向靈敏度測 試誤差值的測試功率點，由手機天線測試裝置的數據處理單元計算總全向靈 敏度。
本發明所提供手機天線輻射性能測試方法的原理是首先測試出手機總輻 射功率，根據該總輻射功率計算出手機天線的增益，將手機天線的增益值設為 終端綜合測試儀的上、下行線損值，參考功率值設為全向靈敏度測量的臨界參 考功率值，這樣設置的參考功率值將非常接近臨界參考功率值，故而能夠保證 在測試過程中鏈路不會斷開。采用本測試方法一般只需測兩次就可以找到符合要求的參考功率值，同時又可以測得手機天線的總輻射功率，從而提高了測試 效率和測試穩定性。
本發明的有益效果是，可以在保證鏈路不斷開情況下快速、準確測試出3G 手機的總輻射功率和總全向靈敏度，正確評價手機天線的輻射性能，提高手機 天線的生產效率。
圖l是手機天線輻射測試硬件連接原理示意圖； 圖2是手機天線輻射性能測試流程圖； —圖3是手機天線輻射性能圖。
具體實施例方式
下面結合附圖，來說明本發明的手機天線輻射性能自動測試方法的實施。 圖l是手機天線輻射測試硬件連接原理示意圖。AV4943是一種TD綜合測試儀表， 可以測試被測終端(手機)的射頻指標。被測終端放在暗室中的轉臺上，AV494 3 綜測儀通過暗室內的天線發射或接收信號與手機進行通信，從而測量總輻射功 率TRP和總全向靈敏度TIS。圖2是手機天線輻射性能測試流程圖。按照圖2的流 程圖即可實施本發明所提供的手機天線輻射性能自動測試方法。由圖2可知 本發明所釆用的方法步驟如下
(1) 置手機于最大發射功率狀態；
(2) 從手機天線測試裝置的頻譜分析模塊讀取最大功率測量結果，并計 算手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值AP;
(3) 若手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值AP大于預期 總輻射功率誤差值(可設為l),調整手機天線測試裝置的上、下行線路損耗， 繼續步驟(2)、步驟(3)，.直到手機實際發射的最大功率與預期測量結果之 間的差值AP小于預期總輻射功率誤差值，否則直接進入下一步；(4 )將手機天線測試裝置的參考功率值設為總全向靈敏度測試的參考功
率值(該值根據具體手機的最小靈敏度參考電平臨界值而定， 一般取-108dBm);
(5) 測試手機的誤碼率，判斷誤碼率是否超過全向靈敏度測試誤差值 (0. 001);
(6) 若誤碼率小于全向靈敏度測試誤差值，減小參考功率值，否則增大 參考功率值；重復步驟(5)和驟(6)，直至找到誤碼率等于全向靈敏度測 試誤差值的測試功率點，由手機天線測試裝置的數據處理單元計算總全向靈 敏度。
圖3是釆用本發明所提供手機天線輻射性能自動測試方法得到的手機天 線輻射性能圖。該圖所示的圖形比較規則，所測試的手機天線輻射性能符合要 求。
權利要求
1、一種手機天線輻射性能自動測試方法，其特征是按如下步驟進行(1)置手機于最大發射功率狀態；(2)從手機天線測試裝置的頻譜分析模塊讀取最大功率測量結果，并計算手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值ΔP；(3)若手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值ΔP大于預期總輻射功率誤差值，調整手機天線測試裝置的上、下行線路損耗，繼續步驟(2)、步驟(3)，直到手機實際發射的最大功率與預期測量結果之間的差值ΔP小于預期總輻射功率誤差值，否則直接進入下一步；(4)將手機天線測試裝置的參考功率值設為總全向靈敏度測試的參考功率值；(5)測試手機的誤碼率，判斷誤碼率是否超過全向靈敏度測試誤差值(0.001)；(6)若誤碼率小于全向靈敏度測試誤差值，減小參考功率值，否則增大參考功率值；重復步驟(5)和驟(6)，直至找到誤碼率等于全向靈敏度測試誤差值的測試功率點，由手機天線測試裝置的數據處理單元計算總全向靈敏度。
全文摘要
本發明屬于3G手機技術領域，涉及一種手機天線輻射性能的測試方法。本發明首先測試出手機總輻射功率，根據該總輻射功率計算出手機天線的增益，將手機天線的增益值設為終端綜合測試儀的上、下行線損值，參考功率值設為全向靈敏度測量的臨界參考功率值，這樣設置的參考功率值將非常接近臨界參考功率值，故而能夠保證在測試過程中鏈路不會斷開。采用本測試方法一般只需測兩次就可以找到符合要求的參考功率值，同時又可以測得手機天線的總輻射功率，從而提高了測試效率和測試穩定性。
文檔編號H04B17/00GK101459477SQ20081024967
公開日2009年6月17日 申請日期2008年12月28日 優先權日2008年12月28日
發明者凌云志, 劉司偉, 志 王, 趙潤年, 陳向民 申請人:中國電子科技集團公司第四十一研究所