專利名稱：：雙通道檢測物理層/介質訪問控制層狀態的裝置及方法
技術領域：
：本發明涉及通訊
技術領域：
，尤其涉及一種雙通道備份;險測物理層/介質訪問控制層工作狀態的裝置及方法，進而涉及雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層工作狀態的系統。
背景技術：
：OSI(OpenSystemInterconnection)開放式系統互聯模型是1984年國際標準化組織(ISO)提出的一個參考模型。此OSI模型作為網絡通信的概念性標準框架，使得在由不同制造商的設備和應用軟件所形成的網絡上進行通信成為可能。現在此OSI模型已成為一個用于計算機之間和網絡間通信主要的結構才莫型。目前使用的大多數網絡通信協議都基于OSI模型的結構，或者對其進行了筒化。OSI模型將網絡系統結構定義為七層，即將網絡計算機中有關活動信息的任務劃分為七個更小、更易于處理的任務組。一個任務或任務組:帔分配到一個OSI層。每一層都是獨自存在的，因此分配到各層的任務能夠獨立地執行。在底層的物理層和^據鏈^各層之間，即為Mil接口(MediaIndependentInterface,i某介無關接口)，它實現了上層數據到物理信號的編解碼和傳輸。MDC/MDIO接口總線是一種媒介無關接口(Mil)中的管理接口，一般用于連接介質訪問控制層MAC和物理層PHY之間。它實現了數據鏈路層對底層物理層的管理和配置，使物理層對上層應用透明。類似于I2C總線，MDC/MDIO總線具有兩根信號線一根時鐘線MDC，一根雙向數據線MDIO。所有連接到MDC/MDIO總線上的器件的時鐘線MDC均連接到該總線的時鐘線MDC,其數據線MDIO都連接到該總線的雙向數據線MDIO線。MDC/MDIO總線使用軟件尋址來識別連接到該總線上的每個器件(如不同的PHY物理層器件有不同的地址)，完全省去了每個器件的片選線，因而使得系統的接線非常簡單。伴隨著計算機網絡的快速發展，目前以太網已經成為重要的全球業界標準，被所有主要的計算機數據通訊相關廠商所認同和使用，而MAC和PHY之間的配置和管理都是通過MDC/MDIO接口。在典型的計算才幾網絡通訊設備中，主機(或等效的邏輯器件)具有SPI(SerialPeripheralInterfaceBus,串行外圍設備接口)總線接口對MAC(MediaAccessControl,介質訪問控制)器件進行管理，同時通過MAC器件間接對PHY器件進行管理。MDC/MDIO總線工作時，由總線上的主器件控制時鐘線MDC提供時鐘同步信號脈沖，由雙向數據線MDIO完成數據傳送。MDC/MDIO總線的數據傳送速率，在標準工作方式下為2.5Mbit/s。MDC/MDIO總線技術規范中，總線協議有著嚴格的時序要求。MDC/MDIO總線的數據傳送格式如表1所示:<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>表l:MII接口管理幀格式MDC/MDIO總線的工作速度一般是取決于主器件和從器件的性能，參考MDC/MDIO的總線規范，時鐘線MDC的工作頻率可以工作在0Hz到12.5MHz之間。SPI總線由四根信號組成，分別為SS，從器件選擇，低電平有效；SCK,串行時鐘；MOSI,主輸出從輸入；MISO，主輸入從輸出。SPI總線本身是可靠的，但在某些情況下此通道可能會不通，例如總線上存在干擾或者MAC故障等，主機對PHY的管理和診斷都無法通過SPI間接進行。因此必須通過一定的手段來彌補出現此種情況下SPI總線的不能訪問的問題。在計算機通訊設備內，MDC/MDIO總線上的主器件一般是MAC層普通芯片或MAC層的交換芯片，從器件是連接在MDC/MDIO總線上的其它器件，主要是PHY器件。通常情況下上電工作后，都是MAC層的普通芯片或交換芯片作為主器件通過MDIO總線不斷的掃描PHY層器件的內部寄存器，以獲得PHY層器件的工作狀態，然后進行相應的配置，使設備正常工作。但是當MAC層或PHY層器件出現故障時，MAC層器件通常不能掃描到通過MDIO總線相連的PHY層器件的寄存器內容。這時設備便無法正常工作。這時由于PHY層的寄存器沒法讀取，故障定位變得比較難，調試及解決問題比較費時。
發明內容本發明所要解決的技術問題在于，針對現有技術中主機對物理層器件的管理和診斷無法通過SPI間接進行的情況，提供一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層工作狀態的系統、裝置及方法，以便能夠更可靠、更便捷的實現對物理層器件的狀態控制。本發明提供一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層工作狀態的控制器，包括信號連接的控制模塊、MDC/MDIO總線時序生成模塊、總線檢測模塊、SPI總線時序生成模塊，其中，控制模塊通過所述MDC/MDIO總線時序生成模塊生成的MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，或者通過所述SPI總線時序生成模塊生成的SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；總線檢測模塊，檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的狀態返回值，該返回值送至控制模塊，由所述控制述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。所述控制模塊是CPU或可編程邏輯器件，定制專用IC芯片。所述MDC/MDIO總線時序生成模塊或SPI總線時序生成模塊，是單一時序功能芯片、或由CPU的IO輸入/輸出口通過軟件直接實現、或由時序邏輯器件實現、或由硬件描述語言實現。所述總線檢測模塊，是根據MDC/MDIO總線標準監控MDC/MDIO總線，獲取MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，和/或根據SPI總線標準監控SPI總線，獲取SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，其檢測;漠式是中斷方式、或命令觸發、或專侖詢4企測。所述控制模塊，是根據MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值和SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值進行相比判斷是否有誤，來判斷物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常工作的，若判斷有誤，則判定該器件工作異常，否則判斷該器件工作正常。本發明還提供一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層器件工作狀態的系統，包括控制器，以及通過MDC/MDIO總線與所述控制器相連的至少一個物理層器件和/或至少一個介質訪問控制層器件，所述每一介質訪問控制層器件通過MDC/MDIO總線與所述若干物理層器件相連并通過SPI總線與所述控制器相連，其中所述控制器通過所述MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，和/或通過SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；并檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的狀態返回值，對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值進行對比判斷所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。所述控制器進一步包括信號連接的控制模塊、MDC/MDIO總線時序生成模塊、總線檢測模塊、SPI總線時序生成模塊，其中，控制模塊通過所述MDC/MDIO總線時序生成纟莫塊生成的MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，或者通過所述SPI總線時序生成4莫塊生成的SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；總線檢測模塊，檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，該返回值送至控制模塊，由所述控制模塊對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值對比判斷所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。所述控制模塊是CPU或可編程邏輯器件，定制專用IC芯片。所述MDC/MDIO總線時序生成模塊或SPI總線時序生成模塊時序生成模塊包括單一時序功能芯片、或由CPU的IO輸入/輸出口通過軟件直接實現、或由邏輯器件實現、或由硬件描述語言實現。所述總線檢測模塊是根據MDC/MDIO總線標準監控MDC/MDIO總線，獲取MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值；和/或根據SPI總線標準監控SPI總線，獲取SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，其檢測模式是中斷方式、或命令觸發、或輪詢檢測。所述控制模塊，是根據MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值和SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值進行相比判斷是否有誤，來判斷物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常工作的，若判斷有誤，則判定該器件工作異常，否則判斷該器件工作正常。本發明還提供一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層器件工作狀態的方法，其中控制器在需要直接控制物理層器件和/或介質訪問控制層器件時，通過MDC/MDIO總線發送時序控制命令至物理層器件和/或介質訪問控制層器件；控制器在需要間接控制物理層器件時，通過SPI總線發送時序控制命令至介質訪問控制層器件，由所述介質訪問控制層器件通過MDC/MDIO總線控制所述物理層器件，并通過MDC/MDIO總線直接獲取所述物理層器件的工作狀態、通過SPI總線間接獲取的所述物理層器件的工作狀態返回值；控制器將所述通過MDC/MDIO總線直接獲得的物理層器件的工作狀態返回值與所述通過SPI總線間接獲取的該物理層器件的工作狀態返回值進行比對，并根據比對結果判斷該物理層器件是否正常。所述方法進一步包括控制器通過MDC/MDIO總線直接獲取所述介質訪問控制層器件的工作狀態，通過SPI總線直接獲取的所述介質訪問控制層器件的工作狀態返回值，將所述通過MDC/MDIO總線獲取的與所述通過SPI總線獲取的該數介質訪問控制層器件的返回值進行比對，并根據比對結果判斷該介質訪問控制層器件是否正常。采用本發明，完全可以避免對PHY的配置僅僅依靠SPI間接操作的情況，特別是在調試期間很有益處。直接通過備份的通道直接訪問管理MAC，PHY芯片，使系統具有了快速故障定位能力。本發明提高調試效率，減少維護成本。且該技術實現起來方便靈活，硬件成本很低。圖1是本發明雙通道^f全測PHY/MAC層工作狀態的系統結構圖；圖2是本發明雙通道4全測PHY/MAC層工作狀態的裝置結構圖；圖3是本發明雙通道檢測PHY/MAC層工作狀態的控制器裝置的工作狀態轉換示意圖；圖4是本發明雙通道檢測PHY/MAC層工作狀態的控制器裝置進行狀態控制的流程圖。具體實施方式為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，以下結合附圖對本發明作進一步地詳細說明。本發明針對現有技術中諸如CPU或主控邏輯器件等無法直接訪問物理層器件以及通過介質訪問控制MAC層器件間接訪問物理層器件時一旦發生故障，則無法獲知物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態等問題，提出了一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層(PHY/MAC)工作狀態的系統、方法以及該系統中的控制器裝置，通過將物理層器件通過總線(例如MDC/MDIO總線)與所述控制器直接相連作為備用輔助總線通道的方式，實現了所述系統中控制器對物理層器件和/或介質訪問控制層器件的自動診斷，能夠快速定位故障。該系統中的控制器通常不通過輔助總線通道對PHY層和MAC層器件做任何操作，但可在設備異常時，通過該新增加的輔助總線通道直接讀取物理層(PHY)器件的狀態，進一步的也可以直接讀取介質訪問控制層器件的狀態。如圖1所示，顯示了本發明中一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層(PHY/MAC)工作狀態的系統的結構示意圖，該系統包括控制器103,以及通過MDC/MDIO總線與控制器103相連的物理層器件101、104和介質訪問控制層器件102，介質訪問控制層器件102通過MDC/MDIO總線與物理層器件101、104相連，同時還可連接若干其它物理層器件，同時該介質訪問控制層器件102還通過SPI總線與所述控制器103相連，其中所述控制器103通過所述MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件101、104以及介質訪問控制層器件102,同時還可通過SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件102控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件101、104;并通過檢測MDC/MDIO總線和SPI總線來獲^f又物理層器件101、104和/或介質訪問控制層器件102的工作狀態返回值，對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值進行對比判斷該物理層器件和/或該介質訪問控制層器件是否正常。若只需判斷物理層器件，則直接通過MDC/MDI0總線獲取該物理層器件的狀態、通過SPI總線間接獲得該物理層器件的狀態，并將直接和間接得到的兩個狀態返回值進行比對即可進行判斷，判斷時可以根據不同總線協議或者狀態值算法進行轉換為可比較的數值，若判斷返回值比對一致，則認為該物理層器件工作正常，否則工作異常。若只需判斷介質訪問控制層器件，則只直接通過MDC/MD10總線獲取該介質訪問控制層器件的狀態、通過SPI總線直接獲得該介質訪問控制層器件的狀態，并將得到的兩個狀態返回值進行比對即可進行判斷，判斷時可以根據不同總線協議或者狀態值算法進行轉換為可比較的數值，若判斷返回值比對一致，則認為該介質訪問控制層器件工作正常，否則工作異常。進一步地，也可以通過在每條總線上掃描獲得多個物理層器件和/或介質訪問控制層器件的狀態返回值，進行多個物理層器件或介質訪問控制層器件的狀態判斷，以便實現快速故障診斷及處理。如圖2所示，顯示了控制器103的結構示意圖，控制器103包括彼此信號連接的控制模塊1031、MDC/MDIO總線時序生成模塊1032、總線檢測模塊1033、SPI總線時序生成模塊1034,其中，控制模塊1031通過所述MDC/MDIO總線時序生成模塊1032生成的MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，或者通過所述SPI總線時序生成模塊1034生成的SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；控制模塊1031是CPU或可編程邏輯器件。MDC/MDIO總線時序生成模塊1032或SPI總線時序生成模塊時序生成模塊1034是單一時序功能芯片、或由CPU的10輸入/輸出口通過軟件直接實現、或由時序邏輯器件實現、或由硬件描述語言Verilog或VHDL實現。所述MDC/MDIO總線時序生成模塊1032進一步還可包括用于生成MDC時序的時序生成子單元A,以及用于與MDIO相連的進行內容監控的子單元B。總線檢測一莫塊1033,用于檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的工作狀態返回值，該返回值送至控制模塊1301，由所述控制模塊1301對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值進行對比判斷所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。總線檢測模塊1303是根據MDC/MDIO總線標準監控MDC/MDIO總線，獲取MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，和/或根據SPI總線標準監控SPI總線，獲取SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，其檢測模式包括中斷方式、或命令觸發、或輪詢沖會測。若只需判斷物理層器件是否正常，則所述控制模塊1301通過總線檢測模塊1303—方面從MDC/MDIO總線獲取該物理層器件的狀態、另一方面從SPI總線間接獲得該物理層器件的狀態，并將直接和間接得到的兩個狀態返回值進行比對即可進行判斷，判斷時可以根據不同總線協議或者狀態值算法進行轉換為可比較的數值，若判斷返回值比對一致，則認為該物理層器件工作正常，否則工作異常。若只需判斷介質訪問控制層器件是否正常，則所述控制模塊1301通過總線檢測模塊1303—方面從MDC/MDIO總線獲取該介質訪問控制層器件的狀態、另一方面從SPI總線直接獲得該介質訪問控制層器件的狀態，并將得到的兩個狀態返回值進行比對即可進行判斷，判斷時可以根據不同總線協議或者狀態值算法進行轉換為可比較的數值，若判斷返回值比對一致，則認為該介質訪問控制層器件工作正常，否則工作異常。所述總線檢測模塊1303進一步也可分為兩個子單元，一個子單元用于檢測MDC/MDIO總線，而另一子單元則可用于檢測SPI總線。在實際設備運行中，若SPI總線通道間接操作物理層器件無效時，控制器通過備份的MDC/MDIO總線通道直接對PHY層和MAC層器件進行控制操作，同時通過備^f分的MDC/MDIO通道也可以對MAC層器件或MAC層的交換芯片內的寄存器進行讀寫，以便判斷MAC層普通器件或MAC層交換芯片的工作狀態。當設備異常時，控制器103通過SPI總線使MAC層器件進入MDC/MDIO總線從器件模式，然后控制器103便直接占用MDC/MDIO總線而作為主器件，這樣也能幫助確定MAC層器件的工作狀態是否正常，控制器通過輔助的MDC/MDIO總線，在任何時候都可以確定PHY層器件的工作狀態是否正常，在正常的工作狀態下，控制器還是通過SPI總線掌握設備的各部分狀態，包括物理層器件或介質訪問控制層器件的狀態。具體實施本發明的系統及控制器裝置時，在單元(單板)的系統設計、原理圖設計階段，就應考慮把MDC/MDIO總線同時引入控制器，如主機CPU或者邏輯器件，分別通過軟件語言和邏輯綜合語言實現"MDC/MDIO總線時序生成和MDC/MDIO總線讀寫4企測以及SPI總線的讀寫"功能。實際應用中為了形成模塊化，適應多家廠商的PLD器件，控制器103中控制模塊1031、時序命令生成模塊1302、1304，總線檢查模塊1303等一般由硬件描述語言Verilog或VHDL實現，以提高模塊的可移植性，若為借助處理器由軟件實現，可以更加靈活。控制模塊1301控制所述總線檢查模塊1303根據MDC/MDIO總線標準監控MDC/MDIO總線，按照一定的算法，并把當前MDC/MDIO總線的返回值和SPI總線得到的返回值進行對比，可以中斷也可以輪詢進行，比如，某個PHY層的某寄存器SPI命令配置是否異常，PHY的寄存器返回值兩者相比是否有誤。一旦有誤可直接上報控制器或通過邏輯器件上報。圖3所示是控制模塊工作時的狀態轉換圖。其中每一個圓圈，代表著一種狀態，箭頭表示出在不同條件下狀態的轉換。此狀態圖為Verilog或VHDL中的狀態機編程或CPU軟件算法的編程提供參考。控制模塊1301工作時的狀態轉換如下在無有關MDC/MDIO或SPI總線命令的情況下，狀態為"空閑"狀態；在"空閑"狀態，如果收到對MDC/MDIO總線器件的直接操作命令，MDC/MDIO總線時序生成模塊1302立刻生成相應的MDC/MDIO總線時序，對PHY層器件進行操作；操作結束，可以直接返回"空閑"狀態；在"空閑"狀態，如果SPI總線出現操作信號，"總線檢測模塊1303"可以被使能或者可以不斷輪詢PHY層器件的狀態，進而可以判斷MAC層和PHY層器件的狀態是否正常，狀態轉換到"檢測對比"狀態；此時如果檢測正常，則可以不用上報系統，控制模塊1301的工作狀態轉換到"完成，，狀態；在"檢測對比"狀態，當檢測到異常后，控制模塊1301的工作狀態轉換為"判為異常"，并上報系統，上報結束后，返回到"完成"狀態；在"完成"狀態，如果沒有操作命令，控制模塊1301即進入"空閑"工作狀態；在"完成"狀態，控制模塊1301可以直接接受命令控制所述時序生成模塊1302或1304進行時序生成，或者控制總線檢測模塊1303檢測總線，對檢測所得工作狀態進行對比操作，進入對應狀態。"總線檢測模塊"的開啟可以選擇觸發方式，在一定境況下開始檢測，也可選褲4侖詢方式，甚至后臺不間斷運行。根據上述控制器中控制模塊的狀態變化圖以及所述裝置，本發明還可提供多種具體的實現方法。而這些眾多的方法，為簡潔起見，未——列舉，但都是據本專利申請中的思想產生的，故也應在本專利保護的框架內。如在命令觸發下，雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層工作狀態的方法包括如下流程401:控制器判斷是否有MDC/MDIO或SPI總線命令，若有，則進行步驟402，若沒有，則狀態保持為"空閑"狀態；402:判斷收到的總線命令類型是MDCMDIO總線命令還是SPI總線命令，若是MDC/MDIO總線命令進入403，若是SPI總線命令進入404;403:收到對MDC/MDIO總線上的器件的直接操作命令，MDC/MDIO總線時序生成模塊，則立刻生成相應的MDC/MDIO總線時序命令，對物理層器件進行操作，操作結束后直接返回步驟401;404:收到SPI總線出現操作信號，SPI總線時序生成模塊，則立刻生成相應的SPI總線時序命令，通過介質訪問控制層器件對物理層器件進行操作，同時，使能或觸發總線檢測模塊對物理層器件進行狀態檢查，獲取物理層器件或介質訪問控制層器件的狀態，將狀態上報至控制模塊；步驟405:控制模塊對通過檢測模塊獲得的狀態返回值進行比對，判斷物理層器件或介質訪問控制層器件是否正常；步驟406:若比對一致，則判定物理層器件或介質訪問控制層器件正常，返回步驟401;步驟407:若比對不一致，則判定物理層器件或介質訪問控制層器件異常，則上報系統，上報完成后，返回步驟401。本裝置也可應用于其他類似總線的應用場景，如SMBUS或I2C總線系統中，SMBUS與I2C總線除了接入總線控制器外，再接入上層控制器如CPU中，由總線控制器與上層控制器備份控制SMBUS與I2C總線。以上所述，僅為本發明較佳的實現方式，但本發明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本
技術領域：
的技術人員在本發明揭露的技術范圍內，可輕易想到的變化或者替換，都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。因此本發明的保護范圍應以權利要求的保護范圍為準。權利要求1、一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層工作狀態的控制器，其特征在于，包括信號連接的控制模塊、MDC/MDIO總線時序生成模塊、總線檢測模塊、SPI總線時序生成模塊，其中，控制模塊通過所述MDC/MDIO總線時序生成模塊生成的MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，或者通過所述SPI總線時序生成模塊生成的SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；總線檢測模塊，檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的狀態返回值，該返回值送至控制模塊，由所述控制模塊對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值進行對比判斷所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。2、如權利要求l所述的控制器，其特征在于所述控制模塊包括CPU、可編程邏輯器件或定制專用IC芯片。3、如權利要求l所述的控制器，其特征在于所述MDC/MDIO總線時序生成模塊或SPI總線時序生成模塊，是單一時序功能芯片、或由CPU的10輸入/輸出口通過軟件直接實現、或由時序邏輯器件實現、或由硬件描述語言實現。4、如權利要求1所述的控制器，其特征在于所述總線檢測模塊，是根據MDC/MDIO總線標準監控MDC/MDIO總線，獲取MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，和/或根據SPI總線標準監控SPI總線，獲取SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，其檢測模式是中斷方式、或命令觸發、或專侖詢4企測。5、如權利要求1所述的控制器，其特征在于所述控制模塊，是根據MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值和SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值進行相比判斷是否有誤，來判斷物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常工作的，若判斷有誤，則判定該器件工作異常，否則判斷該器件工作正常。6其特征在于，包括控制器，以及通過MDC/MDIO總線與所述控制器相連的至少一個物理層器件和/或至少一個介質訪問控制層器件，所述每一介質訪問控制層器件通過MDC/MDIO總線與所述若干物理層器件相連并通過SPI總線與所述控制器相連，其中所述控制器通過所述MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，和/或通過SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；并檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的狀態返回值，對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值進行對比判斷所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。7、如權利要求6所述的系統，其特征在于，所述控制器進一步包括信號連接的控制模塊、MDC/MDIO總線時序生成模塊、總線檢測模塊、SPI總線時序生成模塊，其中，控制模塊通過所述MDC/MDIO總線時序生成才莫塊生成的MDC/MDIO總線時序命令直接控制MDC/MDIO總線上的物理層器件和/或介質訪問控制層器件，或者通過所述SPI總線時序生成模塊生成的SPI總線時序命令間接由介質訪問控制層器件控制與之通過MDC/MDIO總線相連的物理層器件；總線檢測模塊，檢測MDC/MDIO總線和SPI總線獲取物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，該返回值送至控制模塊，由所述控制模塊對所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值對比判斷所述物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常。8、如權利要求7所述的系統，其特征在于所述控制模塊包括CPU、可編程邏輯器件或定制專用IC芯片。9、如權利要求7所述的系統，其特征在于所述MDC/MDK)總線時序生成模塊或SPI總線時序生成模塊時序生成模塊包括單一時序功能芯片、或由CPU的10輸入/輸出口通過軟件直接實現、或由邏輯器件實現、或由硬件描述語言實現。10、如權利要求7所述的系統，其特征在于所述總線檢測模塊是根據MDC/MDIO總線標準監控MDC/MDIO總線，獲取MDC/MDI0總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值；和/或根據SPI總線標準監控SPI總線，獲取SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件的返回值，其檢測模式是中斷方式、或命令觸發、或輪詢檢測。11、如權利要求7所述的系統，其特征在于所述控制模塊，是根據MDC/MDIO總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值和SPI總線上物理層器件和/或介質訪問控制層器件工作狀態返回值進行相比判斷是否有誤，來判斷物理層器件和/或介質訪問控制層器件是否正常工作的，若判斷有誤，則判定該器件工作異常，否則判斷該器件工作正常。12、一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層器件工作狀態的方法，其特征在于控制器在需要直接控制物理層器件和/或介質訪問控制層器件時，通過MDC/MDIO總線發送時序控制命令至物理層器件和/或介質訪問控制層器件；控制器在需要間接控制物理層器件時，通過SPI總線發送時序控制命令至介質訪問控制層器件，由所述介質訪問控制層器件通過MDC/MDIO總線控制所述物理層器件，并通過MDC/MDIO總線直接獲取所述物理層器件的工作狀態、通過SPI總線間接獲取的所述物理層器件的工作狀態返回值；控制器將所述通過MDC/MDIO總線直接獲得的物理層器件的工作狀態返回值與所述通過SPI總線間接獲取的該物理層器件的工作狀態返回值進行比對，并根據比對結果判斷該物理層器件是否正常。13、如權利要求12所述的方法，其特征在于，所述方法進一步包括控制器通過MDC/MDIO總線直接獲取所述介質訪問控制層器件的工作狀態，通過SPI總線直接獲取的所述介質訪問控制層器件的工作狀態返回值，將所述通過MDC/MDIO總線獲取的與所述通過SPI總線獲取的該數介質訪問控制層器件的返回值進行比對，并根據比對結果判斷該介質訪問控制層器件是否正常。全文摘要本發明公開了一種雙通道備份檢測物理層/介質訪問控制層工作狀態的系統、裝置及方法，本發明將物理層器件通過例如MDC/MDIO的總線與所述控制器直接相連，作為物理層器件通過介質訪問控制層器件利用SPI總線間接連接到控制器的備用輔助總線通道的方式，實現了所述系統中控制器對物理層器件和/或介質訪問控制層器件的自動診斷，能夠快速定位故障。該系統中的控制器在設備異常時，通過該新增加的輔助總線通道直接讀取物理層器件的狀態，進一步的也可以直接讀取介質訪問控制層器件的狀態。文檔編號H04L29/08GK101247412SQ200810007748公開日2008年8月20日申請日期2008年3月7日優先權日2008年3月7日發明者余加兵,尹紅彬,高勝宏申請人:中興通訊股份有限公司