專利名稱：Sdh/sonet設備外時鐘測試設備的制作方法
技術領域：
本發明涉及時鐘測試技術領域，更具體而言，涉及一種SDH/SONET設備外時鐘測試設備。
背景技術：
同步數字系列(SDH，Synchronous Digital Hierarchy)是在準同步數字系列(PDH，Plesiochronous Digital Hierarchy)的基礎上發展起來的一種數字傳輸技術體制，同步光網絡(SONET，Synchronous Optical Network)是美國采用的傳輸標準。根據國際電聯電信標準化部門(ITU-T，International TelecommunicationsUnion-Telecommunications Standardization Sector)G.813、G.703建議、GR253 R5、GR1244 R4標準的要求，SDH/SONET設備時鐘指標主要包括以下一些項目頻率準確度、牽引入和牽引出范圍、噪聲產生、鎖定模式下的漂移、輸出抖動、噪聲容限、漂移容限、抖動容限、噪聲傳輸、瞬變響應和保持性能、短期相位瞬變響應、長期相位瞬變響應、Bit/Hz電接口指標等。
一般而言，在產品研發階段，對以上指標均應進行摸底測試；在產品批量發貨階段，重點在于測試產品功能，可將測試項目縮減為以下幾項頻率準確度、牽引入和牽引出范圍、Bit模式下的開銷測試等，將其它項目作為抽測項目對待。
針對以上精簡測試項目，搭建SDH/SONET外時鐘測試設備所需的儀表種類較多，如頻率計、高精度時鐘源及E1/DS1協議分析儀等。下面簡要進行示例性說明。
一、測試在自由振蕩模式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度指標要求長期(30天)時鐘頻率準確度應優于±4.6ppm。
測試示意圖如
圖1所示。
測試過程將SDH/SONET網元的時鐘源配置為內部自振蕩時鐘源，用標定后的頻率計長時間測試網元輸出時鐘的頻率準確度，即為自由振蕩模式下的頻率準確度。
二、測試在鎖定和保持工作方式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度指標要求時鐘頻率準確度應優于±0.37ppm。
測試示意圖如圖2所示。
測試過程閉合開關K，使網元時鐘鎖定SDH/SONET分析儀輸出的Bit時鐘，用標定后的頻率計長時間測試網元輸出時鐘的頻率準確度，即為鎖定工作方式下的頻率準確度；然后，斷開開關K，使網元時鐘脫離SDH/SONET分析儀輸出的Bit時鐘而進入保持模式，用標定后的頻率計長時間測試網元輸出時鐘的頻率準確度，即為保持工作方式下的頻率準確度。
三、測試SDH/SONET設備外時鐘的牽引入和牽引出范圍指標要求時鐘的牽引入和牽引出范圍都應該在±4.6ppm以外。
測試示意圖如圖3所示。
測試過程以SDH/SONET分析儀輸出的Bit時鐘為參考時鐘，設置網元時鐘鎖定該參考時鐘，通過頻率計讀取在鎖定工作方式下網元輸出時鐘的頻率準確度。此時，可這樣測試網元輸出時鐘的牽引出范圍調節參考時鐘的頻率，使其相對于標稱頻率的正或負頻偏緩慢加大，并在調節的同時通過頻率計監測網元輸出時鐘的頻率準確度，直至找到這樣一個頻率，即超出該頻率網元時鐘就會失鎖(網元時鐘是否失鎖通過判斷在頻率計上讀取的頻率準確度是否超出指標要求來確定)；然后，再調節參考時鐘的頻率，使其相對于標稱頻率在另一方向上的頻偏緩慢加大，并在調節的同時通過頻率計監測網元輸出時鐘的頻率準確度，直至找到另一個這樣的頻率，即超出該頻率網元時鐘就會失鎖。根據這兩個臨界頻率即可確定牽引出范圍。可這樣測試網元時鐘的牽引入范圍在因參考時鐘的正或負頻偏大而導致的自由振蕩模式下，逐步調小該頻偏，并在調節的同時通過頻率計監測網元輸出時鐘的頻率準確度，直至達到一個使網元時鐘剛好能鎖定參考時鐘的頻率；然后，再在因參考時鐘在另一方向上的頻偏大而導致的自由振蕩模式下，逐步調小該頻偏，并在調節的同時通過頻率計監測網元輸出時鐘的頻率準確度，直至達到另一個使網元時鐘剛好能鎖定參考時鐘的頻率。根據這兩個臨界頻率即可確定牽引入范圍。
對上述測試而言，存在以下缺陷
1.由于采用頻率計進行頻率測試，只覆蓋了Hz模式的外時鐘測試，對Bit模式的時鐘及其S1開銷字節等存在漏測；2.需要使用SDH/SONET分析儀、頻標(銣鐘、銫鐘)、頻率計等儀表，測試成本高；3.由于測試只針對設備時鐘的頻率而未針對其相位進行，不能檢測出網元輸出時鐘與參考時鐘之間的相位差過大或頻繁跳變等情形，可能對網元是否鎖定參考時鐘造成誤判。
發明內容
本發明的目的是提供一種能覆蓋Bit模式的SDH/SONET設備外時鐘測試并能降低成本的SDH/SONET設備外時鐘測試設備。
根據本發明，提供一種SDH/SONET設備外時鐘測試設備，包括時鐘發生裝置，用于產生基準時鐘；E1/DS1線路接口部件，用于將被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換成Hz時鐘，并輸出該Hz時鐘作為被測信號；和，子測試裝置，包括同步裝置、計數裝置和計算裝置，其中子測試裝置接收被測信號，同步裝置用于將子測試裝置接收到的被測信號和基準時鐘同步，計數裝置用于利用基準時鐘對同步后的被測信號計數，計算裝置用于基于計數結果進行計算。
優選地，SDH/SONET設備外時鐘測試設備還包括用于接收被測SDH/SONET設備Hz外時鐘并提供該被測SDH/SONET設備Hz外時鐘作為被測信號的被測Hz外時鐘接口裝置。
優選地，SDH/SONET設備外時鐘測試設備還包括基于基準時鐘產生Hz參考時鐘的參考時鐘發生器，以便提供參考時鐘給被測SDH/SONET設備。
優選地，SDH/SONET設備外時鐘測試設備還包括用于將Hz參考時鐘提供給被測SDH/SONET設備作為參考時鐘的Hz參考時鐘輸出裝置。
進一步優選地，SDH/SONET設備外時鐘測試設備還包括用于將Hz參考時鐘轉換為Bit參考時鐘的E1/DS1成幀器，和用于將該Bit參考時鐘提供給被測SDH/SONET設備作為參考時鐘的Bit參考時鐘輸出裝置。
優選地，子測試裝置還包括用于將其接收到的被測信號降頻的降頻裝置。
優選地，SDH/SONET設備外時鐘測試設備還包括相位差檢測及量化裝置，對于工作在鎖定或保持工作方式下的被測SDH/SONET設備，相位差檢測及量化裝置用于檢測被測SDH/SONET設備Hz外時鐘或由被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換得到的Hz時鐘與所述Hz參考時鐘之間的相位差，量化所述相位差，以及提供量化后的相位差作為被測信號。
優選地，相位差檢測及量化裝置還包括降頻裝置，用于將所述被測SDH/SONET設備Hz外時鐘或由被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換得到的Hz時鐘和所述Hz參考時鐘降頻。
優選地，時鐘發生裝置包括頻標，用于產生具有一個頻率的時鐘信號；時鐘升頻電路，用于提升所述時鐘信號的頻率；和，直接數字綜合電路，用于基于升頻后的時鐘信號產生基準時鐘。
本發明帶來的有益效果是1.能覆蓋對Bit模式的時鐘及其S1開銷字節的測試，無漏測，在降低測試成本的同時，能完成SDH/SONET設備外時鐘的一些常規指標測試，且作為一體化設備，攜帶方便；2.通過優選配置，可提供測試外時鐘相對于參考時鐘的相位差穩定性的功能，能全面覆蓋對SDH/SONET設備外時鐘鎖相環性能的測試，避免對鎖定狀態的誤判。
附圖簡述僅以舉例的方式，參照附圖更詳細地描述本發明的優選實施方案，其中圖1為現有技術的在自由振蕩模式下SDH/SONET設備Hz外時鐘的頻率準確度測試示意圖；圖2為現有技術的在鎖定和保持工作方式下SDH/SONET設備Hz外時鐘的頻率準確度測試示意圖；圖3是現有技術的SDH/SONET設備Hz外時鐘的牽引入和牽引出范圍測試示意圖；
圖4是根據本發明的一個優選實施方案的SDH/SONET設備外時鐘測試設備的框圖；圖5是根據本發明的優選實施方案的在自由振蕩模式下SDH/SONET設備Hz外時鐘的頻率準確度測試示意圖；圖6是圖解圖5中測試電路的操作的示意圖；圖7是根據本發明的優選實施方案的在自由振蕩模式下SDH/SONET設備Bit外時鐘的頻率準確度測試示意圖；圖8是根據本發明的優選實施方案的在鎖定和保持工作方式下SDH/SONET設備Hz外時鐘的頻率準確度及SDH/SONET設備Hz外時鐘相差穩定性、牽引入/牽引出范圍的測試示意圖；圖9是根據本發明的優選實施方案的在鎖定和保持工作方式下SDH/SONET設備Bit外時鐘的頻率準確度測試示意圖；圖10是圖解圖8中測試電路進行相差穩定性測試時的操作的示意圖；和，圖11是圖解圖8中測試電路在測試相差穩定性時進行相差量化及計數的示意圖。
具體實施例方式
參照圖4，根據本發明的一個優選實施方案的SDH/SONET設備外時鐘測試設備包括頻標1、時鐘升頻電路2、直接數字綜合電路(DDS，Direct Digital Synthesis)3、測試電路5、Hz時鐘防護電路6、去直流整形電路7、Hz時鐘防護電路8、差分驅動電路9、Bit時鐘防護電路10、去直流整形電路11、E1/DS1線路接口部件(LIU，LineInterface Unit)和成幀器(Framer)12、以及Bit時鐘防護電路13。
頻標1可以是一個恒溫晶振，用于根據需要輸出相應頻率的時鐘信號給時鐘升頻電路2。時鐘升頻電路2通過專用鎖相環對來自頻標1的信號頻率進行提升，使升頻后的時鐘滿足DDS的輸入門限要求，并將其提供給DDS3。DDS3用于根據DDS原理合成指定頻率的時鐘，并將其提供給測試電路5。Hz時鐘防護電路6和8提供用于連接被測設備(DUT，Device Under Test)的Hz時鐘接口，并實現對帶電插拔的防護。去直流整形電路7連接到Hz時鐘防護電路6，用于去除來自被測設備的Hz時鐘信號中的直流分量。差分驅動電路9連接到測試電路5和Hz時鐘防護電路8，用于從測試電路5接收參考時鐘信號，并以差分方式將該參考時鐘信號輸送至Hz時鐘防護電路8以增強該參考時鐘信號的抗干擾能力，然后該參考時鐘信號經由Hz時鐘防護電路8被提供給被測設備。Bit時鐘防護電路10和13提供用于連接被測設備的Bit時鐘接口，并實現對帶電插拔的防護。去直流整形電路11連接到Bit時鐘防護電路10和E1/DS1線路接口部件和成幀器12，用于去除來自被測設備的Bit時鐘信號中的直流分量，并將其提供給E1/DS1線路接口部件和成幀器12。E1/DS1線路接口部件和成幀器12用于將2.048Mbit/s/1.544Mbit/s的Bit時鐘轉換成2.048MHz/1.544MHz的Hz時鐘和將2.048MHz/1.544MHz的Hz時鐘轉換成2.048Mbit/s/1.544Mbit/s的Bit時鐘，并相應地完成S1字節的提取或插入。在圖4中，E1/DS1線路接口部件和成幀器12還連接到測試電路5和Bit時鐘防護電路13，一方面用于將來自被測設備的Bit時鐘信號轉換成Hz時鐘信號后提供給測試電路5，同時將S1字節提取出來提供給測試電路5；另一方面用于從測試電路5接收參考時鐘信號，并將其轉換成Bit時鐘信號后經由Bit時鐘防護電路13提供給被測設備。測試電路5用于針對被測時鐘的頻率、相位等進行測試，下面進行詳細描述。
一、測試在自由振蕩模式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度1.對于Hz時鐘參照圖5和圖6。如圖5所示，將被測SDH/SONET網元連接到Hz時鐘防護電路6，設置網元工作在自由振蕩模式下。被測網元輸出的時鐘信號經Hz時鐘防護電路6進行防護和隔離并經去直流整形電路7進行去直流整形操作后，進入測試電路5；頻標1輸出的時鐘信號經時鐘升頻電路2升頻后，進入DDS3進行頻率合成，由此產生指定頻率的基準時鐘信號，該基準時鐘信號被提供給測試電路5。需要說明的是，所合成基準時鐘信號的頻率應比來自被測網元的時鐘頻率高若干倍。這樣，可在測試電路5中進行測試。如圖6所示，測試電路5對被測時鐘信號進行降頻處理，然后將降頻后的被測時鐘信號與基準時鐘信號進行同步處理，再利用基準時鐘信號對同步后的被測時鐘信號計數，最后根據計數結果計算被測時鐘的頻率準確度。
所謂計數是指邏輯統計被測時鐘信號在單個周期內為高電平的時段內DDS3輸出的高頻基準時鐘的上升沿和/或下降沿的發生次數。假設被測時鐘信號的標稱頻率為2.048MHz，降頻后頻率達到1Hz，并假設所合成基準時鐘信號的頻率為40MHz。將被測時鐘信號與基準時鐘信號同步后，這兩個時鐘信號波形的某個上升沿或下降沿將會是對準的。可假設該對準沿是某個上升沿，以該對準沿為參考計數起點，在基準時鐘信號波形的上升沿和/或下降沿，每當檢測到被測時鐘信號為高電平時就將計數值加1，直至檢測到被測時鐘信號為低電平，將此時的計數值作為計數結果。若僅在上升沿進行檢測，則按照假設條件，在理想情況下計數值應為2*107。通過計算測試得到的實際計數值與該理想值之差相對于該理想值的比值就可得到被測時鐘的頻率準確度。
容易理解的是，針對被測時鐘進行上述降頻處理的目的在于提高測量精度，因而并不是必需的。
在上述計數過程中，根據具體要求，可僅在上升沿或僅在下降沿進行檢測和計數，也可進行雙邊沿計數，后者可提高分辨率。
2.對于Bit時鐘參照圖7，將被測SDH/SONET網元連接到Bit時鐘防護電路10，設置網元工作在自由振蕩模式下。被測網元輸出的時鐘信號經Bit時鐘防護電路10進行防護和隔離并經去直流整形電路11進行去直流整形操作后，進入E1/DS1線路接口部件和成幀器12。E1/DS1線路接口部件和成幀器12將來自被測設備的Bit時鐘轉換成Hz時鐘后提供給測試電路5，同時提取出Bit時鐘的S1字節提供給測試電路5以便測試電路5獲悉被測時鐘信號的質量等級等信息。其它過程和在測試電路5中進行的操作可參照上面針對Hz時鐘的頻率準確度測試所進行的描述，這里不再詳述。
二、測試在鎖定和保持工作方式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度1.對于Hz時鐘參照圖8，將被測SDH/SONET網元連接到Hz時鐘防護電路6和8。測試電路5對從DDS3接收到的高頻基準頻率分頻以得到一個參考時鐘信號，并將該參考時鐘信號輸出至差分驅動電路9。差分驅動電路9以差分方式將該參考時鐘信號輸出至Hz時鐘防護電路8。然后Hz時鐘防護電路8將該參考時鐘信號輸出給被測SDH/SONET網元，以使被測網元鎖定該參考時鐘。被測網元輸出的時鐘經由Hz時鐘防護電路6和去直流整形電路7被提供給測試電路5。這樣，可在測試電路5中進行測試，具體過程與測試自由振蕩模式下的Hz時鐘頻率準確度時在測試電路5中進行的操作完全相同。由此，可得到鎖定模式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度。
然后，在鎖定模式下，斷開提供給被測網元的參考時鐘，使網元工作在保持方式下。然后，可在測試電路5中進行測試，具體過程與測試自由振蕩模式下的Hz時鐘頻率準確度時在測試電路5中進行的操作完全相同。由此，可得到保持模式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度。
2.對于Bit時鐘參照圖9，將被測SDH/SONET網元連接到Hz時鐘防護電路10和13。測試電路5對從DDS3接收到的高頻基準頻率分頻以得到一個參考時鐘信號，并將該參考時鐘輸出至E1/DS1線路接口部件和成幀器12。E1/DS1線路接口部件和成幀器12將該參考時鐘轉換成Bit時鐘后，經由Bit時鐘防護電路13將其提供給被測SDH/SONET網元，以使被測網元鎖定該參考時鐘。被測網元輸出的時鐘經由Bit時鐘防護電路10和去直流整形電路11被提供給E1/DS1線路接口部件和成幀器12，并由E1/DS1線路接口部件和成幀器12轉換成Hz時鐘后提供給測試電路5。這樣，可在測試電路5中進行測試，具體過程與測試自由振蕩模式下的Bit時鐘頻率準確度時在測試電路5中進行的操作完全相同。由此，可得到鎖定模式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度。
然后，在鎖定模式下，斷開提供給被測網元的參考時鐘，使網元工作在保持方式下。然后，可在測試電路5中進行測試，具體過程與測試自由振蕩模式下的Hz時鐘頻率準確度時在測試電路5中進行的操作完全相同。由此，可得到保持模式下SDH/SONET設備外時鐘的頻率準確度。
三、測試SDH/SONET設備外時鐘的相位差穩定性以Hz時鐘為例。參照圖8，測試電路5對從DDS3接收到的高頻基準時鐘進行分頻以得到一個參考時鐘信號，然后經由差分驅動電路9和Hz時鐘防護電路8將該參考時鐘輸出給被測SDH/SONET網元，以使被測網元鎖定該參考時鐘。被測網元經由Hz時鐘防護電路6和去直流整形電路7將其輸出的時鐘提供給測試電路5。這樣，可在測試電路5中進行相差穩定性測試，下面進行簡要說明。
參照圖10，測試電路5將來自被測網元的被測時鐘信號和參考時鐘信號進行降頻處理，檢測這兩個時鐘信號的相位差并對相位差進行量化處理以得到量化相差(在圖11中示出)，將量化相差與DDS3所合成的高頻基準時鐘進行同步處理(在圖11中示出)，然后用基準時鐘對量化相差進行單邊沿或雙邊沿計數(在圖11中示出)，最后可根據計數結果計算SDH/SONET設備外時鐘的相位差穩定性指標。
所謂計數是指邏輯統計量化相差在單個周期內為1的時段內DDS3輸出的高頻基準時鐘的上升沿和/或下降沿的發生次數，具體過程可參照前面的有關描述。
關于Bit時鐘的相位差穩定性測試，這里不再詳細描述。
四、測試SDH/SONET設備外時鐘的牽引入和牽引出范圍以Hz時鐘為例。再參照圖8，將被測SDH/SONET網元連接到Hz時鐘防護電路6和8。測試電路5對從DDS3接收到的高頻基準時鐘進行分頻以得到一個參考時鐘信號，然后經由差分驅動電路9和Hz時鐘防護電路8將該參考時鐘輸出給被測SDH/SONET網元，以使被測網元鎖定該參考時鐘。被測網元經由Hz時鐘防護電路6和去直流整形電路7將其輸出的時鐘提供給測試電路5。
可這樣測試網元時鐘的牽引出范圍調節DDS3輸出的基準時鐘的頻率，使測試電路5輸出的參考時鐘相對于標稱頻率具有一定的正或負頻偏，使該頻偏緩慢加大，并在調節的同時通過測試電路5監測被測時鐘相對于參考時鐘的相差穩定性，直至找到這樣一個頻率，即超過該頻率網元時鐘就會失鎖(網元時鐘是否失鎖通過判斷相差穩定性是否超出指標要求來確定)；然后，再調節DDS3輸出的基準時鐘的頻率，使測試電路5輸出的參考時鐘相對于標稱頻率具有另一方向上的頻偏，使該頻偏緩慢加大，并在調節的同時通過測試電路5監測被測時鐘相對于參考時鐘的相差穩定性，直至找到另一個這樣的頻率，即超出該頻率網元時鐘就會失鎖。根據這兩個臨界頻率即可確定牽引出范圍。
可這樣測試網元時鐘的牽引入范圍在因測試電路5輸出的參考時鐘的正或負頻偏大而導致的自由振蕩模式下，通過調節DDS3輸出的基準時鐘的頻率逐步調小該頻偏，并在調節的同時通過測試電路5監測被測時鐘相對于參考時鐘的相差穩定性，直至達到一個使網元剛好能鎖定參考時鐘的頻率(此時相差穩定性剛好能滿足指標要求)；然后，再在因參考時鐘在另一方向上的頻偏大而導致的自由振蕩模式下，通過調節DDS3輸出的基準時鐘的頻率逐步調小該頻偏，并在調節的同時通過測試電路5監測被測時鐘相對于參考時鐘的相差穩定性，直至達到另一個使網元時鐘剛好能鎖定參考時鐘的頻率。根據這兩個臨界頻率即可確定牽引入范圍。
關于Bit時鐘的牽引入和牽引出范圍的測試，這里不再詳述。
在上面提到的牽引入和牽引出范圍的測試過程中，通過判斷被測SDH/SONET網元時鐘相對于參考時鐘的相差穩定性是否超出指標要求來確定網元時鐘是否失鎖；但明顯的是，網元時鐘是否失鎖還可結合被測SDH/SONET網元時鐘的頻率準確度是否超出指標要求來確定。此外，在上面的描述中，測試電路5通過將從DDS3接收到的高頻基準時鐘分頻來得到參考時鐘信號；但本領域的普通技術人員應該意識到，還可以借助其它已有技術、基于從DDS3接收到的高頻基準時鐘產生參考時鐘信號。此外，根據附圖和上面的描述，參考時鐘是在測試電路5中產生的；但本領域的普通技術人員應該意識到，產生參考時鐘的裝置也可不包括在測試電路5中。
盡管描述了本發明的優選實施方案，但通過閱讀和掌握本發明的原則和教導，本領域的技術人員可對這里公開的實施方案進行各種改型。例如，在圖4所示的優選實施方案中，基準時鐘是利用頻標、時鐘升頻電路和直接數字綜合電路產生的，但也可以利用現有技術的其它時鐘發生裝置來產生。另外，圖4中的被測SDH/SONET設備Hz外時鐘經由Hz時鐘防護電路和去直流整形電路進入測試電路，但被測SDH/SONET設備Hz外時鐘經由其它形式的接口電路進入測試電路也是可能的；對被測SDH/SONET設備Bit外時鐘而言，情形類似。因此，旨在本發明的范圍由附在這里的權利要求限定。
權利要求
1.一種SDH/SONET設備外時鐘測試設備，包括時鐘發生裝置，用于產生基準時鐘；E1/DS1線路接口部件，用于將被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換成Hz時鐘，并輸出該Hz時鐘作為被測信號；和，子測試裝置，包括同步裝置、計數裝置和計算裝置，其中子測試裝置接收被測信號，同步裝置用于將子測試裝置接收到的被測信號和基準時鐘同步，計數裝置用于利用基準時鐘對同步后的被測信號計數，計算裝置用于基于計數結果進行計算。
2.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，還包括用于接收被測SDH/SONET設備Hz外時鐘并提供該被測SDH/SONET設備Hz外時鐘作為被測信號的被測Hz外時鐘接口裝置。
3.如權利要求2所述的測試設備，其特征在于，還包括基于基準時鐘產生Hz參考時鐘的參考時鐘發生器，以便提供參考時鐘給被測SDH/SONET設備。
4.如權利要求3所述的測試設備，其特征在于，還包括用于將所述Hz參考時鐘提供給被測SDH/SONET設備作為參考時鐘的Hz參考時鐘輸出裝置。
5.如權利要求3所述的測試設備，其特征在于，還包括用于將所述Hz參考時鐘轉換為Bit參考時鐘的E1/DS1成幀器，和用于將該Bit參考時鐘提供給被測SDH/SONET設備作為參考時鐘的Bit參考時鐘輸出裝置。
6.如權利要求4或5所述的測試設備，其特征在于，被測SDH/SONET設備工作在鎖定或保持工作方式下。
7.如權利要求1-5中任一權利要求所述的測試設備，其特征在于，所述子測試裝置還包括用于將其接收到的被測信號降頻的降頻裝置。
8.如權利要求6所述的測試設備，其特征在于，還包括相位差檢測及量化裝置，用于檢測被測SDH/SONET設備Hz外時鐘或由被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換得到的Hz時鐘與所述Hz參考時鐘之間的相位差，量化所述相位差，以及提供量化后的相位差作為被測信號。
9.如權利要求8所述的測試設備，其特征在于，所述相位差檢測及量化裝置還包括降頻裝置，用于將所述被測SDH/SONET設備Hz外時鐘或由被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換得到的Hz時鐘和所述Hz參考時鐘降頻。
10.如權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述時鐘發生裝置包括頻標，用于產生具有一個頻率的時鐘信號；時鐘升頻電路，用于提升所述時鐘信號的頻率；和，直接數字綜合電路，用于基于升頻后的時鐘信號產生基準時鐘。
全文摘要
提供一種SDH/SONET設備外時鐘測試設備，包括時鐘發生裝置，用于產生基準時鐘；E1/DS1線路接口部件，用于將被測SDH/SONET設備Bit外時鐘轉換成Hz時鐘，并輸出該Hz時鐘作為被測信號；和，子測試裝置，包括同步裝置、計數裝置和計算裝置，其中子測試裝置接收被測信號，同步裝置用于將子測試裝置接收到的被測信號和基準時鐘同步，計數裝置用于利用基準時鐘對同步后的被測信號計數，計算裝置用于基于計數結果進行計算。所述測試設備還可包括用于接收并提供被測SDH/SONET設備Hz外時鐘作為被測信號的被測Hz外時鐘接口裝置，以及用于提供Hz和Bit參考時鐘的裝置。所述測試設備還可進一步包括相位差檢測及量化裝置，以便對工作在鎖定或保持工作方式下的被測SDH/SONET設備進行相差穩定性測試。
文檔編號H04L29/06GK1983886SQ200610060459
公開日2007年6月20日 申請日期2006年4月21日 優先權日2006年4月21日
發明者朱靖華 申請人:華為技術有限公司