專利名稱：異步通訊芯片時間參數的測試方法
技術領域：
本發明涉及一種大規模集成電路異步通訊芯片測試方法，特別是涉及一種當異步通訊芯片的時間參數相當小甚至高于測試儀的精度時時間參數的測試方法。
背景技術：
在對一些異步通訊芯片進行評價或測試時，往往會先對芯片發出一個指令然后等待芯片的響應，當得到響應后等待一段時間，然后再發出第二個指令再看操作的結果。現在的問題是1、當這一等待時間非常短，甚至測試儀在處理第一個響應的時間就已經超過了最小等待時間時如何測試這一等待時間。
2、由于是異步通訊芯片，同一個芯片每次響應的時間都是隨機分布，不確定的，而響應出來的先后又會影響到第二個指令操作的結果。因此如何設定這個等待時間也是非常困難的。
用現有的測試方法是很難測到上述等待時間的。這些也正是本發明所要攻克的難點。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種異步通訊芯片時間參數的測試方法，它可對異步通訊芯片實現隨機響應后，當等待時間非常短，甚至測試儀來不及測量這個時間時，檢測出該等待時間。
為解決上述技術問題，本發明異步通訊芯片時間參數的測試方法，首先，通過對被測芯片進行多次測試響應時間統計，計算出平均值；再統計一個等待時間后動作響應合格的概率；根據這個概率計算出概率為50％的中心點，與前面計算出的平均值相減測出等待時間。
采用本發明的方法可以對一些芯片進行評價與驗證。例如采用一般的測試儀進行測試的方法，由于第一個指令響應是隨機分布的，所以看到第二個指令的結果則是不穩定的。若想要測到這個等待時間是非常困難的。因為如果用判斷響應出來后再等待一段等待時間的方法，測試儀判斷處理就需要200納秒，而實際等待時間只需要幾十納秒，所以若要測試與評價這類芯片，就必須使用更高級的測試儀來進行。而采用本發明的方法進行測試只需要使用普通的測試儀。這也意味著對一個產品的開發測試成本大大地降低了。
下面結合附圖與具體實施方式
對本發明作進一步詳細的說明圖1是測試異步通訊芯片等待時間的示意圖；圖2～3是采用本發明的方法測試異步通訊芯片等待時間的示意圖。
具體實施例方式
本發明異步通訊芯片時間參數的測試方法，使用統計學中的高斯分布的特性來解決上述時間測量問題。通過對異步通訊芯片第一個指令響應時間進行一個統計。由于響應的時間先后是隨機的，所以對測試響應的統計可以得到一個高斯分布的統計數據圖。而對第二個指令的等待時間的測量，可以選擇一個合適的等待時間進行操作，統計在這個等待時間下指令響應結果合格與不合格的概率。由于第二個指令響應結果合格與否是由第一個指令響應的先后決定的。第一個指令響應來得早，后面等待時間就長，第二個指令響應結果就成功。因此，第二個指令響應結果合格的概率分布圖是與第一個指令響應的分布圖是一致的。將兩個分布圖的中心線相減就可以得到實際需要的最小準備時間。以此來實現對異步通訊芯片動作等待時間的測試。
如圖1所示，這類測試時會碰到下述問題T1為第一個指令執行后響應出現的時間，T2為響應出現后到第二個指令執行實際等待時間，T3為第一個指令執行后到第二個指令執行間的等待時間。由于響應的輸出是隨機的，因此T1是隨機變化的。T3一般是固定的，因此T2也是隨機變化的。當T2過短的時候就會造成第二個指令的結果不合格。
如圖2所示，在實際的運用時，先只執行第一個指令若干次(例如5000次)統計響應出現的時間，根據統計數據可以畫出響應的高斯分布圖以及計算出隨機分布圖的中心點與標準偏差。然后，選擇合適的等待時間T3，統計第二個指令合格的概率。由于第二個指令的結果是由第一個指令響應的先后引起的，因此第二個指令合格概率的分布與第一個指令響應的分布相同，兩個分布的標準偏差相同。
再參見圖3，由標準高斯分布的密度函數和T3合格的概率，由公式一可以計算出分布數值Z。
Z=X-μσ]]>(公式一)其中，Z為分布數值，μ為平均值，σ為標準偏差，X為實際坐標。由分布數值Z和標準偏差σ以及圖3中B點的時間(B點就是選擇一個固定T3時間開始第二個指令的時間點)，用公式二就可以計算出C點的坐標(分布的中心點)。
P=∫-∞z12πe-z22dz]]>(公式二)其中，P為累積概率，Z為分布數值。
將圖3中C點與A點(響應時間分布的中心點)坐標相減就得到了最小等待時間。
權利要求
1.一種異步通訊芯片時間參數的測試方法，其特征在于首先，通過對被測芯片進行多次測試響應時間統計，計算出平均值；再統計一個等待時間后動作響應合格的概率；根據這個概率計算出概率為50％的中心點，與前面計算出的平均值相減測出等待時間。
全文摘要
本發明公開了一種異步通訊芯片時間參數的測試方法，首先，通過對被測芯片進行多次測試響應時間統計，計算出平均值；再統計一個等待時間后動作響應合格的概率；根據這個概率計算出概率為50％的中心點，與前面計算出的平均值相減測出等待時間。本發明可以提高測試時間參數的能力，用較低級的測試儀就可以測試高精度的時間信號，最大限度降低了新產品開發測試的成本。
文檔編號H04B17/00GK1980101SQ20051011129
公開日2007年6月13日 申請日期2005年12月8日 優先權日2005年12月8日
發明者武建宏, 謝晉春 申請人:上海華虹Nec電子有限公司