光電子脈沖遺漏檢測器的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種光電子脈沖遺漏檢測器，包括第一電阻至第六電阻、第一電容至第三電容、三極管、晶閘管、復位開關、光電耦合器、電位器和雙時基芯片，所述雙時基芯片由第一芯片和第二芯片組成。本實用新型光電子脈沖遺漏檢測器由光電耦合器、雙時基芯片與阻容元件構成的單穩態觸發器和多諧振蕩器等組成，光電耦合器內的發光管和光敏管之間開有一個幾毫米的槽縫，當外界隔光物體插進其縫隙時，其內部的光敏管因通道光束被切斷而呈高阻，使第二芯片的脈沖信號檢測器因得不到復位信號而輸出高電平，進暫穩態，若信號中斷時間大于暫穩時間，則第二芯片復位，輸出的低電平使三極管截止，晶閘管導通，提醒光電子脈沖發生遺漏。
【專利說明】光電子脈沖遺漏檢測器
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種光電子檢測器，尤其涉及一種光電子脈沖遺漏檢測器。
【背景技術】
[0002]光電子技術在經過與其相關技術相互交叉滲透之后，其技術和應用取得了飛速發展，在社會信息化中起著越來越重要的作用，光電子脈沖是相對于連續信號在整個信號周期內短時間發生的信號，脈沖信號是一種離散信號，形狀多種多樣，與普通模擬信號相比，波形之間在時間軸不連續但具有一定的周期性是它的特點，光電子脈沖信號能夠用來表示信息或者作為載波，如果脈沖信號出現泄漏，則會使傳輸的信息不準確。
實用新型內容
[0003]本實用新型的目的就在于為了解決上述問題而提供一種光電子脈沖遺漏檢測器。
[0004]本實用新型通過以下技術方案來實現上述目的:
[0005]一種光電子脈沖遺漏檢測器，包括第一電阻至第六電阻、第一電容至第三電容、三極管、晶閘管、復位開關、光電稱合器、電位器和雙時基芯片，所述雙時基芯片由第一芯片和第二芯片組成，所述第一電阻的第一端分別與所述第一芯片的復位端、所述光電耦合器的正極輸入端、所述第三電阻的第一端、所述電位器的第一端、所述電位器的滑動端、所述第二芯片的電源端、所述第三電容的第一端、所述第六電阻的第一端和所述復位開關的第一端連接并接正電壓，所述第一電阻的第二端分別與所述第二電阻的第一端和所述第一芯片的放電端連接，所述第二電阻的第二端分別與所述第一芯片的閾值端和所述第一芯片的觸發端和所述第一電容的第一端連接，所述光電耦合器的負極輸入端與所述第一芯片的輸出端連接，所述第三電阻的第二端分別與所述光電耦合器的集電極輸出端、所述第二芯片的復位端和所述第二芯片的觸發端連接，所述電位器的第二端分別與所述第二芯片的放電端、所述第二芯片的閾值端和所述第二電容的第一端連接，所述第二芯片的輸出端與所述第五電阻的第一端連接，所述第五電阻的第二端與所述三極管的基極連接，所述第六電阻的第二端分別與所述三極管的集電極和所述晶閘管的門極連接，所述復位開關的第二端與所述晶閘管的正極連接，所述晶閘管的負極與所述第四電阻的第一端連接，所述第四電阻的第二端分別與所述三極管的發射極、所述第二芯片的接地端、所述第二電容的第二端、所述光電耦合器的發射極輸出端和所述第一電容的第二端連接并接地，所述第三電容的第二端接地。
[0006]本實用新型的有益效果在于:
[0007]本實用新型光電子脈沖遺漏檢測器由光電耦合器、雙時基芯片與阻容元件構成的單穩態觸發器和多諧振蕩器等組成，光電耦合器內的發光管和光敏管之間開有一個幾毫米的槽縫，當外界隔光物體插進其縫隙時，其內部的光敏管因通道光束被切斷而呈高阻，使第二芯片的脈沖信號檢測器因得不到復位信號而輸出高電平，進暫穩態，若信號中斷時間大于暫穩時間，則第二芯片復位，輸出的低電平使三極管截止，晶閘管導通，提醒光電子脈沖發生遺漏。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]圖1是本實用新型光電子脈沖遺漏檢測器的電路圖。
【具體實施方式】
[0009]下面結合附圖對本實用新型作進一步說明:
[0010]如圖1所示，本實用新型光電子脈沖遺漏檢測器，包括第一電阻Rl至第六電阻R6、第一電容Cl至第三電容C3、三極管VT、晶閘管SCR、復位開關AN、光電耦合器0C、電位器RP和雙時基芯片1C，雙時基芯片IC由第一芯片IC-1和第二芯片IC-2組成，第一電阻Rl的第一端分別與第一芯片IC-1的復位端、光電稱合器OC的正極輸入端、第三電阻R3的第一端、電位器RP的第一端、電位器RP的滑動端、第二芯片IC-2的電源端、第三電容C3的第一端、第六電阻R6的第一端和復位開關AN的第一端連接并接正電壓，第一電阻Rl的第二端分別與第二電阻R2的第一端和第一芯片IC-1的放電端連接，第二電阻R2的第二端分別與第一芯片IC-1的閾值端和第一芯片IC-1的觸發端和第一電容Cl的第一端連接,光電I禹合器OC的負極輸入端與第一芯片IC-1的輸出端連接,第三電阻R3的第二端分別與光電I禹合器OC的集電極輸出端、第二芯片IC-2的復位端和第二芯片IC-2的觸發端連接，電位器RP的第二端分別與第二芯片IC-2的放電端、第二芯片IC-2的閾值端和第二電容C2的第一端連接，第二芯片IC-2的輸出端與第五電阻R5的第一端連接,第五電阻R5的第二端與三極管VT的基極連接，第六電阻R6的第二端分別與三極管VT的集電極和晶閘管SCR的門極連接，復位開關AN的第二端與晶閘管SCR的正極連接，晶閘管SCR的負極與第四電阻R4的第一端連接，第四電阻R4的第二端分別與三極管VT的發射極、第二芯片IC-2的接地端、第二電容C2的第二端、光電稱合器OC的發射極輸出端和第一電容Cl的第二端連接并接地,第三電容C3的第二端接地。
[0011]本實用新型光電子脈沖遺漏檢測器的工作原理如下所示:
[0012]多諧振蕩器由第一芯片IC-1和第一電阻R1、第二電阻R2、第一電容Cl等組成,檢測器由光電耦合器0C、雙時基芯片IC與阻容元件構成的單穩態觸發器和多諧振蕩器等組成，光電耦合器OC內的發光管和光敏管之間開有一個幾毫米的槽縫，當外界隔光物體插進其縫隙時，其內部的光敏管因通道光束被切斷而呈高阻，使第二芯片IC-2的脈沖信號檢測器因得不到復位信號而輸出高電平，進暫穩態，若信號中斷時間大于暫穩時間，則第二芯片IC-2復位，輸出的低電平使三極管VT截止，晶閘管SCR導通，提醒光電子脈沖發生遺漏。
【權利要求】
1.一種光電子脈沖遺漏檢測器，其特征在于:包括第一電阻至第六電阻、第一電容至第三電容、三極管、晶閘管、復位開關、光電稱合器、電位器和雙時基芯片，所述雙時基芯片由第一芯片和第二芯片組成，所述第一電阻的第一端分別與所述第一芯片的復位端、所述光電耦合器的正極輸入端、所述第三電阻的第一端、所述電位器的第一端、所述電位器的滑動端、所述第二芯片的電源端、所述第三電容的第一端、所述第六電阻的第一端和所述復位開關的第一端連接并接正電壓，所述第一電阻的第二端分別與所述第二電阻的第一端和所述第一芯片的放電端連接，所述第二電阻的第二端分別與所述第一芯片的閾值端和所述第一芯片的觸發端和所述第一電容的第一端連接，所述光電耦合器的負極輸入端與所述第一芯片的輸出端連接，所述第三電阻的第二端分別與所述光電耦合器的集電極輸出端、所述第二芯片的復位端和所述第二芯片的觸發端連接，所述電位器的第二端分別與所述第二芯片的放電端、所述第二芯片的閾值端和所述第二電容的第一端連接，所述第二芯片的輸出端與所述第五電阻的第一端連接，所述第五電阻的第二端與所述三極管的基極連接，所述第六電阻的第二端分別與所述三極管的集電極和所述晶閘管的門極連接，所述復位開關的第二端與所述晶閘管的正極連接，所述晶閘管的負極與所述第四電阻的第一端連接，所述第四電阻的第二端分別與所述三極管的發射極、所述第二芯片的接地端、所述第二電容的第二端、所述光電耦合器的發射極輸出端和所述第一電容的第二端連接并接地，所述第三電容的第二端接地。
【文檔編號】H03K5/19GK203563035SQ201320719189
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年11月14日 優先權日:2013年11月14日
【發明者】雷勇, 王舉, 帥娟 申請人:四川省迪特爾電子有限公司