電機轉子位置檢測電路和電壓檢測電路的制作方法

電機轉子位置檢測電路和電壓檢測電路的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及電機轉子位置檢測電路和電壓檢測電路。根據實施例，提供了一種無傳感器的檢測電路，所述無傳感器檢測電路包括第一電壓調整電路和第二電壓調整電路，其中，所述第一電壓調整電路以耦接方式連接，用于接收感應電壓，所述第二電壓調整電路也以耦接方式連接，用于接收共用電壓。差動放大器具有反相輸入端子和非反相輸入端子，其中，所述反相輸入端子耦接到所述第一電壓調整電路，所述非反相輸入端子耦接到所述第二電壓調整電路。根據另一個實施例，提供了一種檢測電機轉子位置的方法，所述方法包括：接收處于第一電壓電平下的第一反電動勢，并且把所述第一反電動勢從所述第一電壓電平移動到第二電壓電平。所述第一反電動勢經濾波產生第一濾波電壓；所述第一濾波電壓與基準電壓進行比較后，響應生成第一電機轉子位置信號。
【專利說明】
電機轉子位置檢測電路和電壓檢測電路
技術領域
[0001]本發明總體上涉及電子器件，并且更具體地講，涉及一種無刷直流電機。
【背景技術】
[0002]許多應用都會用到無刷直流(DC)電機，如磁盤驅動器、壓縮盤播放器、數字視頻盤播放器、掃描儀、打印機、標繪器、汽車工業和航空工業中使用的致動器等等。通常，多相電機包含產生旋轉磁場的固定部分或定子，以及通過旋轉磁場形成扭矩的非固定部分或轉子。扭矩致使轉子發生旋轉，這種旋轉繼而致使連接到轉子的軸也發生旋轉。在啟動時，我們希望能夠檢測無刷直流電機的轉子位置和旋轉速率。在具有傳感器的無刷直流電機中，可使用霍爾傳感器來檢測和控制轉子位置及其旋轉速率。然而，霍爾傳感器的準確性會受到操作環境的影響，導致其提供的測量的準確性降低。在無傳感器的無刷直流電機中，使用反電動勢(BEMF)信號檢測轉子位置。使用BEMF信號的一個缺點在于，BEMF通常會與高壓PNP電路元件所產生的電壓進行比較，而這不適于使用單片集成電路工藝的小型化。另一個缺點在于，比較器只能比較正壓。使用BEMF信號的另一個缺點在于，當轉子緩慢移動或根本不移動時，BEMF信號會變得非常小。
[0003]因此，使用適應高輸入電壓范圍并具有抗噪聲性的方法和結構來檢測轉子位置，會更為有利。如果實施成本較低且時間也很短，則這種方法和結構就是理想的。
【實用新型內容】
[0004]根據本實用新型的第一方面，提供一種電機轉子位置檢測電路，其特征在于所述電路包括:基準設置電路，所述基準設置電路至少具有第一端子和第二端子;微調電路，所述微調電路至少具有第一端子、第二端子和第三端子，所述微調電路的所述第一端子耦接到所述基準設置電路;基準電壓產生電路，所述基準電壓產生電路具有輸入端子、第一端子和第二端子；以及第一比較器，所述第一比較器具有第一輸入端子、第二輸入端子和輸出端子，所述第一比較器的所述第一輸入端子被耦接為用于接收第一電機信號，并且所述第一比較器的所述第二輸入端子耦接到所述基準電壓產生電路的所述第二端子。
[0005]根據上述電機轉子位置檢測電路的一個單獨實施例，其中所述微調電路包括:寄存器，所述寄存器具有第一端子、第二端子、第三端子和第四端子，所述寄存器的所述第一端子用作所述微調電路的所述第一端子;存儲元件，所述存儲元件具有輸入端子和輸出端子，所述存儲元件的所述輸出端子耦接到所述寄存器的所述第二端子；以及接口電路，所述接口電路至少具有第一端子、第二端子和第三端子，所述接口電路的所述第一端子耦接到所述寄存器的所述第三端子。
[0006]根據上述電機轉子位置檢測電路的一個單獨實施例，其中電壓調整電路的第一端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子，并且其中所述基準電壓產生電路包括:第一電阻器，所述第一電阻器具有第一端子和第二端子；以及第二電阻器，所述第二電阻器具有第一端子和第二端子，所述第二電阻器的所述第一端子耦接到所述第一電阻器的所述第二端子，所述第一電阻器的所述第一端子耦接到所述第一比較器電路的所述第二輸入端子，并且所述第二電阻器的所述第二端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子。
[0007]根據上述電機轉子位置檢測電路的一個單獨實施例，其中所述基準設置電路的所述第二端子耦接到第一電流反射鏡的所述第二端子，并且其中反電動勢檢測電路還包括第二比較器，所述第二比較器具有第一輸入端子、第二輸入端子和輸出端子，所述第二比較器的所述第一輸入端子耦接到所述第一比較器的所述第一輸入端子，并且所述第二比較器的所述第二輸入端子耦接到所述基準電壓產生電路的所述第一端子。
[0008]根據上述電機轉子位置檢測電路的一個單獨實施例，其中電壓調整電路包括:第一電阻器，所述第一電阻器具有第一端子和第二端子；以及第二電阻器，所述第二電阻器具有第一端子和第二端子，所述第二電阻器的所述第一端子耦接到所述第一電阻器的所述第二端子，所述第一電阻器的所述第一端子耦接到所述第一比較器電路的所述第二輸入端子，并且所述第二電阻器的所述第二端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子;并且其中所述反電動勢檢測電路還包括:第一電流反射鏡，所述第一電流反射鏡具有第一導電端子和第二導電端子，所述第一電流反射鏡的所述第一導電端子耦接到所述第一電阻器的所述第一端子;第二電流反射鏡，所述第二電流反射鏡具有第一端子和第二端子，所述第二電流反射鏡的所述第一端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子;其中所述微調電路還包括具有多個端子的寄存器;第一晶體管，所述第一晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子;第二晶體管，所述第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第二晶體管的所述控制端子耦接到所述第一晶體管的所述控制端子;第一開關，所述第一開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第一開關的所述第一導電端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子，所述第一開關的所述第二導電端子耦接到所述第一晶體管的所述第一載流端子，并且所述第一開關的所述控制端子耦接到所述寄存器的所述多個端子中的第一端子；以及第二開關，所述第二開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第二開關的所述第一導電端子耦接到所述第二電流反射鏡的所述第二端子，所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第二晶體管的所述第一載流端子，并且所述第二開關的所述控制端子耦接到所述寄存器的所述多個端子中的第二端子。
[0009]根據本實用新型的第二方面，提供一種電壓檢測電路，其特征在于所述電路包括:電流產生電路，所述電流產生電路具有第一端子、第二端子和第三端子；電流微調電路，所述電流微調電路具有偏置端子、第一控制端子和第一導電端子，所述偏置端子耦接到所述電流產生電路的所述第三端子;分壓器電路，所述分壓器電路具有第一端子、第二端子和節點，所述分壓器電路的所述第一端子耦接到所述第一導電端子;第一電流反射鏡，所述第一電流反射鏡具有第一端子和第二端子，所述第一電流反射鏡的所述第一端子耦接到所述分壓器電路的所述第二端子；以及第一比較器，所述第一比較器具有反相輸入端子、非反相輸入端子和輸出端子，所述第一比較器的所述非反相輸入端子耦接到所述分壓器電路的所述第二端子。
[0010]根據上述電壓檢測電路的一個單獨實施例，還包括緩沖電路，所述緩沖電路具有輸入端子和輸出端子，所述緩沖電路的所述輸出端子耦接到所述分壓器電路的所述節點。
[0011]根據上述電壓檢測電路的一個單獨實施例，其中所述電流微調電路還包括:第一電流微調部件，所述第一電流微調部件包括:第一晶體管，所述第一晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第一晶體管的所述控制端子用作所述電流微調電路的所述偏置端子；以及第一開關，所述第一開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第一開關的所述第二導電端子耦接到所述第一晶體管的所述第一載流端子，并且所述第一開關的所述第二導電端子耦接到所述分壓器電路的所述第一端子。
[0012]根據上述電壓檢測電路的一個單獨實施例，其中所述電流微調電路還包括:第二電流微調部件，所述第二電流微調部件包括:第二晶體管，所述第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第二晶體管的所述控制端子用作所述電流微調電路的所述偏置端子；以及第二開關，所述第二開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第二晶體管的所述第一載流端子，并且所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第一電流反射鏡的所述第二端子。
[0013]根據上述電壓檢測電路的一個單獨實施例，其中所述第一電流微調部件還包括:第三晶體管，所述第三晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第三晶體管的所述控制端子耦接到所述第一晶體管的所述控制端子；以及第三開關，所述第三開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第三開關的所述第二導電端子耦接到所述第三晶體管的所述第一載流端子，并且所述第三開關的所述第二導電端子耦接到所述分壓器電路的所述第一端子，并且其中所述第二電流微調部件還包括:第四晶體管，所述第四晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第四晶體管的所述控制端子耦接到所述第二晶體管的所述控制端子;以及第四開關，所述第四開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第四開關的所述第二導電端子耦接到所述第四晶體管的所述第一載流端子，并且所述第四開關的所述第二導電端子耦接到所述第一電流反射鏡的所述第二端子。
[0014]根據上述電壓檢測電路的一個單獨實施例，還包括:第二電流反射鏡，所述第二電流反射鏡具有第一端子和第二端子，所述第二電流反射鏡的所述第一端子耦接到所述電流產生電路的所述第一端子，并且所述第二電流反射鏡的所述第二端子耦接到所述分壓器電路的所述第一端子，其中所述電流微調電路還包括:第二電流微調部件，所述第二電流微調部件包括:第二晶體管，所述第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第二晶體管的所述控制端子用作所述電流微調電路的所述偏置端子；以及第二開關，所述第二開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第二晶體管的所述第一載流端子，并且所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第一電流反射鏡的所述第二端子。
【附圖說明】
[0015]結合附圖來閱讀以下【具體實施方式】，有助于更好地理解本發明，在附圖中類似的參考符號指示類似的元件，并且其中:
[0016]圖1是根據本發明的一個實施例的一種無傳感器檢測電路的示意性電路圖，該檢測電路耦接到無刷直流(BLDC)電機以及電機驅動電路；
[0017]圖2是根據本發明的另一個實施例的一種無傳感器檢測電路的示意性電路圖，該檢測電路耦接到無刷直流(BLDC)電機以及電機驅動電路；
[0018]圖3是根據本發明的另一個實施例的一種基準設置電路的示意性電路圖；
[0019]圖4是根據本發明的一個實施例的一種檢測電路的示意性電路圖；
[0020]圖5A和5B是根據本發明的另一個實施例的一種檢測電路的示意性電路圖。
[0021]為了簡潔、清楚地進行說明，附圖中的元件不一定按比例繪制，但是不同附圖中的相同參考符號指示相同元件。另外，為了保持簡潔，未對眾所周知的步驟和元件進行描述，也未說明細節。如本文所使用，載流電極指的是設備上用于載送電流通過設備的元件，諸如MOS晶體管的源極或漏極，或雙極性晶體管的發射極或集電極，或二極管的陰極或陽極，控制電極指的是設備上用于控制電流流過設備的元件，諸如MOS晶體管的柵極，或雙極型晶體管的基極。雖然，在本文中相關設備被解釋為某些η溝道或P溝道設備，或解釋為某些η型或P型摻雜設備，但是本領域的普通技術人員將會了解，根據本發明的實施例，其也可能是互補設備。應當指出的是，摻雜區域可稱為摻雜物區域(dopant reg1n)。本領域的技術人員將會了解，本文所用的詞匯“在…期間(過程中)”、“在…的同時”和“當…時”，并非限于在發動的瞬時發生動作，而是指在初始動作所引起的反應與初始動作之間可存在一定較短但合理的延遲，諸如傳播延遲。本文中使用的詞匯“大約”、“約”或“大致”，指的是元件的值具有預期將非常接近給定值或位置的參數。然而，如本領域所熟知地那樣，由于始終存在微小差異，所以值或位置無法與所述的完全一致。本領域公認，最高至約百分之十(10%)(對半導體摻雜濃度來說是最高至百分之二十(20%))的差異被視為是與所述的準確理想目標的合理差異。
【具體實施方式】
[0022]—般來講，本發明的實施例包括被配置成檢測電機轉子位置的無傳感器電路，以及用于檢測電機轉子位置的方法。根據一個實施例，無傳感器檢測電路包括第一電壓調整電路、第二電壓調整電路、一個差動放大器和一個比較器。第一電壓調整電路具有第一端子和第二端子，其中第一電壓調整電路的第一端子以耦接方式連接，用于接收第一感應電壓、第二感應電壓或第三感應電壓。第二電壓調整電路具有第一端子和第二端子，其中第二電壓調整電路的第一端子以耦接方式連接，用于接收共用電壓。差動放大器具有一個反相輸入端子、一個非反相輸入端子和一個輸出端子，其中差動放大器的反相輸入端子連接到第一電壓調整電路的第二端子，差動放大器的非反相輸入端子連接到第二電壓調整電路的第二端子。比較器具有第一輸入端子、第二輸入端子和一個輸出端子，其中比較器的第一輸入端子耦接到差動放大器的輸出端子。
[0023]根據另一個實施例，無傳感器電路被配置成檢測電機轉子位置，并且包括一個有源濾波器、第一電平移動電路、第二電平移動電路和一個確定電路。有源濾波器具有一個差動輸入端和一個輸出端，其中差動輸入端包括一個反相輸入端子和一個非反相輸入端子。第一電平移動電路具有第一端子和第二端子，其中第一端子以耦接方式連接，用于接收第一反電動勢;第二端子以可切換的方式連接到有源濾波器的反相輸入端子。第二電平移動電路具有第一端子和第二端子，其中第一端子以耦接方式連接，用于接收共用電壓，第二基準端子以可切換的方式連接到有源濾波器的非反相輸入端子。確定電路具有第一輸入端子、第二輸入端子和一個輸出端子，其中第一輸入端子連接到有源濾波器的輸出端。
[0024]根據另一個實施例，提供了一種用于檢測電機轉子位置的方法，該方法包括:接收處于第一電壓電平下的第一反電動勢，以及把第一反電動勢從第一電壓電平移動到第二電壓電平。處于第二電壓電平下的第一反電動勢經濾波，產生第一濾波電壓。第一濾波電壓與基準電壓比較后，響應生成第一電機轉子位置信號。
[0025]圖1示出耦接到無刷直流(BLDC)電機12以及電機驅動電路14的檢測電路10的示意性電路圖。檢測電路1由微調(tr imming)電路20、電壓調整電路23、緩沖放大器24、基準設置電路26、比較器28和比較器30構成。電壓調整電路23具有輸入端子23A和輸出端子23B、23C、23D和23E，其中輸入端子23A連接到緩沖放大器24的輸出端子，輸出端子23B連接到比較器28的反相輸入端子，輸出端子23C連接到比較器30的反相輸入端子，輸出端子23D連接到電流反射鏡22的端子22A，輸出端子23E連接到電流反射鏡22的端子22B。基準設置電路26由偏移電平調整電路25構成，其中偏移電平調整電路25具有連接到電流反射鏡22的輸入端子22E的輸入端子25A。電流反射鏡22包括端子22A、22B、22C和22D。端子22A和22B用作基準設置電路26的輸出端子。微調電路20具有端子20A、20B、20C和20D，其中端子20A連接到電流反射鏡22的端子22C，端子20B連接到電流反射鏡22的端子22D，端子20C用作微調電路20的輸入端子，端子20D用作微調電路20的輸出端子。
[0026]比較器28和比較器30各自具有連接到節點32的非反相輸入端子，用于接收反電動勢(BEMF)。反電動勢也被稱為感應電壓。
[0027]根據一個實施例，節點32以耦接方式連接，用于分別通過開關34、36和38接收反電動勢電壓Vbemf1、Vbemf2和Vbemf3。舉例來說，反電動勢電壓Vbemf1、Vbemf2和Vbemf3分別出現在節點76、78和80處。因此，節點76通過開關34連接到節點32;節點78通過開關36連接到節點32;節點80通過開關38連接到節點32。更具體地講，節點76、78和80以可切換方式耦接到節點32。開關34具有控制端子34A、導電端子34B和導電端子34C，其中控制端子34A以耦接方式連接，用于從開關控制電路40接收控制信號，導電端子34B連接到節點76，導電端子34C連接到節點32。開關36具有控制端子36A、導電端子36B和導電端子36C，其中控制端子36A以耦接方式連接，用于從開關控制電路40接收控制信號，導電端子36B連接到節點78，導電端子36C連接到節點32。開關38具有控制端子38A、導電端子38B和導電端子38C，其中控制端子38A以耦接方式連接，用于從開關控制電路40接收控制信號，導電端子38B連接到節點80，導電端子38C連接到節點32。
[0028]電機驅動電路14包含耦接到驅動晶體管62、64、66、68、70和72的驅動控制電路60，其中驅動控制電路60被配置成用于驅動晶體管62-72。驅動晶體管62-72各自具有漏極、源極和柵極。晶體管62、64和66的漏極通常連接在一起并且連接到驅動控制電路60的端子60A，而晶體管68、70和72的源極通常連接在一起并且連接到驅動控制電路60的端子60B。晶體管62的源極連接到晶體管68的漏極并連接到開關34的端子34B，形成節點76。反電動勢乂冊飢可在節點76處產生。晶體管64的源極連接到晶體管70的漏極并連接到開關36的端子36B，形成節點78。反電動勢Vbemf2可在節點78處產生。晶體管66的源極連接到晶體管72的漏極并連接到開關38的端子38B，形成節點80。反電動勢BEmF3可在節點80處產生。應當指出的是，反電動勢Vbemfi可出現在節點76、78和80處，同樣，反電動勢Vbemf2也可出現在節點76、78和80處，并且反電動勢Vbemf3也可出現在節點76、78和80處。晶體管62的柵極連接到驅動控制電路60的端子60C;晶體管64的柵極連接到驅動控制電路60的端子60D;晶體管66的柵極連接到驅動控制電路60的端子60E;晶體管68的柵極連接到驅動控制電路60的端子60F;晶體管70的柵極連接到驅動控制電路60的端子60G;晶體管72的柵極連接到驅動控制電路60的端子60H。
[0029]BLDC電機12包括感應元件80、82和84。感應元件80的端子80A通常分別連接到感應元件82的端子82A和感應元件84的端子84A，形成共用節點COM。感應元件80的端子80B連接到節點76，感應元件82的端子82B連接到節點78，感應元件84的端子84B連接到節點80。
[0030]在操作時，驅動控制電路60在輸出端子60A、60B、60C、60D、60E、60F、60G和60H處生成驅動控制信號。更具體地講，驅動控制電路60在輸出端子60A處產生偏置電壓，在輸出端子60B處也產生偏置電壓。舉例來說，輸出端子60B處的偏置電壓是接地的。驅動控制電路60進一步產生出現在晶體管62-72的柵極處的柵極電壓。例如，驅動控制電路60在輸出端子60C處產生晶體管62的柵極電壓，在輸出端子60D處產生晶體管64的柵極電壓，在輸出端子60E處產生晶體管66的柵極電壓，在輸出端子60F處產生晶體管68的柵極電壓，在輸出端子60G處產生晶體管70的柵極電壓，在輸出端子60H處產生晶體管72的柵極電壓。響應于在輸出端子60A-60H處的驅動信號，分別在節點76、78和80處生成BEMF信號VBEMF1、VBEMF2和VBEMF3。另外，在共用節點COM處產生共用電壓Vcom。
[0031]舉例來說，在通常稱為U相的相位中，BEMF信號Vbemf1出現在節點76處，而節點78處不存在BEMF信號Vbemf2，節點80處也不存在BEMF信號Vbemf3。開關控制電路40生成閉合開關34和打開開關36和38的控制信號。更具體地講，開關控制電路40在控制端子34A處生成閉合開關34的控制信號，S卩，將端子34B連接到開關34的端子34C;在控制端子36A處生成打開開關36的控制信號，S卩，將端子36B與開關36的端子36C之間的連接斷開;在控制端子38A處生成打開開關38的控制信號，S卩，將端子38B與開關38的端子38C之間的連接斷開。在開關34閉合期間，作為響應，導電端子34B處出現的電壓Vbemfi被傳輸到導電端子34C，然后傳輸到比較器28和30的非反相輸入端。
[0032]節點COM處出現的共用電壓Vom被傳輸到緩沖放大器24的輸入端子24A，緩沖放大器24對電壓進行緩沖，繼而將緩沖過的電壓Vcqm傳輸到電壓調整電路23的輸入端子23A。響應于從微調電路20通過電流反射鏡22傳輸的電壓Vcqm和信號，電壓調整電路23分別在端子23B和23C處產生調整電壓Vadji和Vad〗2，之后這些調整電壓分別被傳輸到比較器28和30的反相輸入端。比較器28和30在各自的輸出端生成輸出信號，用作跨零信號。
[0033]舉例來說，在通常稱為V相的相位中，BEMF信號Vbemf2出現在節點78處，而節點76處不存在BEMF信號Vbemfi，節點80處也不存在BEMF信號Vbemf3。開關控制電路40生成閉合開關36和打開開關34和38的控制信號。更具體地講，開關控制電路40在控制端子36A處生成閉合開關36的控制信號，S卩，將端子36B電連接到開關36的端子36C;在控制端子34A處生成打開開關34的控制信號，S卩，將端子34B與開關34的端子34C之間的連接斷開;在控制端子38A處生成打開開關38的控制信號，S卩，將端子38B與開關38的端子38C之間的連接斷開。在開關36的閉合期間，作為響應，導電端子36B處出現的電壓VBEMF2被傳輸到導電端子36C，然后傳輸到比較器30的非反相輸入端28A。
[OO34 ]節點COM處出現的共用電壓Vccim被傳輸到緩沖放大器2 4的輸入端子2 4A，緩沖放大器24繼而將電壓Vcqm傳輸到電流反射鏡22的輸入端子22A。響應于從微調電路20通過電流反射鏡22傳輸的電壓Vccim和信號，電壓調整電路23分別在端子23B和23C處產生調整電壓Vadji和Vadj2,之后這些調整電壓分別被傳輸到比較器28和30的反相輸入端。比較器28和30在各自的輸出端生成輸出信號，用作跨零信號。
[0035]舉例來說，在通常稱為W相的相位中，BEMF信號Vbemf3出現在節點80處，而節點76處不存在BEMF信號Vbemfi，節點78處也不存在BEMF信號Vbemf2。開關控制電路40生成閉合開關38和打開開關34和36的控制信號。更具體地講，開關控制電路40在控制端子38A處生成閉合開關38的控制信號，S卩，將端子38B連接到開關38的端子38C;在控制端子34A處生成打開開關34的控制信號，S卩，將端子34B與開關34的端子34C之間的連接斷開;在控制端子36A處生成打開開關36的控制信號，S卩，將端子36B與開關36的端子36C之間的連接斷開。在開關38的閉合期間，作為響應，導電端子38B處出現的電壓VBEMF3被傳輸到導電端子38C，然后傳輸到比較器28和30的非反相輸入端。
[0036]節點COM處出現的共用電壓Vom被傳輸到緩沖放大器24的輸入端子24A，緩沖放大器24繼而將電壓Vcqm傳輸到電流反射鏡22的輸入端子22A。響應于從微調電路20通過電流反射鏡22傳輸的電壓Vccim和信號，電壓調整電路23分別在端子23B和23C處產生調整電壓Vadji和Vadj2,之后這些調整電壓分別被傳輸到比較器28和30的反相輸入端。比較器28和30在各自的輸出端生成輸出信號，用作跨零信號。
[0037]圖2示出耦接到無刷直流(BLDC)電機12以及電機驅動電路14的檢測電路100的示意性電路圖。檢測電路100由微調電路120、電流反射鏡122、基準電壓發生器123、緩沖放大器124、基準設置電路126、比較器28、比較器30、開關控制電路40、位置信息檢測電路128和三相分布邏輯電路129構成。基準電壓發生器123可被稱為電壓調整電路。微調電路120具有端子120A、端子120B、接口端子120C和接口端子120D，其中端子120A連接到基準設置電路126，端子120B連接到基準設置電路126，接口端子120C用于接收數據，接口端子120D以耦接方式連接，用于從微調電路120傳輸數據。根據一個實施例，微調電路120由寄存器134、存儲電路136和接口電路138構成。寄存器134具有輸入端134A和134B和輸出端134C、134D和134E，其中輸出端134D和134E分別耦接到基準設置電路126的晶體管1302和130!。存儲元件136具有輸入端136A和輸出端136B，其中輸出端136B連接到寄存器134的輸入端134A。舉例來說，存儲元件136是一次性可編程存儲元件。接口電路138具有一個連接到存儲元件136的輸入端136A的輸出端、一個連接到寄存器134的輸入端134B的輸出端、一個連接到寄存器134的輸出端134C的輸入端、一個用作微調電路120的輸入端120C并以耦接方式連接、用于接收數據信號的輸入端，以及一個用作微調電路120的輸出端120D并以耦接方式連接、用于傳輸數據信號的輸出端。
[0038]電壓調整電路123還包括輸入端子123A、端子123B和端子123C，其中輸入端子123A連接到緩沖放大器124的輸出端子124B，端子123B連接到比較器28的反相輸入端子，端子123C通常連接到比較器30的反相輸入端，并且連接到基準設置電路126的輸出端126A(即晶體管13(h的漏極)。具體地講，電壓調整電路123由連接到電阻器127的電阻器125構成。電阻器125的其中一個端子通常與電阻器127的其中一個端子連接在一起，形成節點129，其中節點129可用作電壓調整電路123的輸入端子123A。電阻器125的另一個端子用作電壓調整電路123的端子123B，而電阻器127的另一個端子用作電壓調整電路123的端子123C。端子123B連接到電流反射鏡122的端子112A，晶體管1302的漏極連接到電流反射鏡122的端子122B。
[0039]比較器28的非反相輸入端子以耦接方式連接，用于在節點32處接收感應電壓信號，而比較器30的非反相輸入端子以耦接方式連接，用于在節點32處接收感應電壓。感應電壓也被稱為反電動勢(BEMF)。
[0040]電流反射鏡122包括晶體管140和142，其中晶體管140和142各自具有柵極端子、漏極端子和源極端子。晶體管140和142的源極端子通常連接在一起，用于接收工作勢源Vdd;晶體管140和142的柵極端子通常連接在一起并且連接到晶體管140的漏極端子，形成電流反射鏡122的端子122B。晶體管142的漏極端子用作電流反射鏡122的端子122A，或者連接到電流反射鏡122的端子122A。
[0041 ] 基準設置電路126由電流源150和152、晶體管13(h，1302和154以及開關156構成。電流源150和152各自具有一對端子，其中電流源150的一個端子連接到電流源152的一個端子并以耦接方式連接，用于接收工作勢源Vdd。電流源150的另一個端子連接到晶體管154的漏極端子并且連接到晶體管154的柵極端子。開關156具有一個連接到電流源152的一個端子的導電端子、一個連接到晶體管154的漏極端子的導電端子、一個連接到旋轉狀態判斷電路155的一個輸出端子的控制端子。晶體管13(h的漏極用作基準設置電路126的端子126A，柵極連接到晶體管154的通常相連的柵極和漏極，源極以耦接方式連接，用于接收工作勢源Vss。晶體管1302的漏極用作基準設置電路126的端子126B，柵極連接到晶體管154的通常相連的柵極和漏極，源極以耦接方式連接，用于接收工作勢源Vss。應當指出的是，電流源150和153可實施為配置成電流源的晶體管，并且其工作電勢Vss可接地。
[0042]根據一個實施例，緩沖放大器124由放大器160構成，放大器160的非反相輸入端子用作緩沖放大器124的輸入端子124A;放大器160的反相輸入端子連接到放大器160的輸出端子，形成緩沖放大器160的輸出端子124B。
[0043I檢測電路100還包括位置信息檢測電路128，所述位置信息檢測電路具有連接到比較器28的輸出端子28C的輸入端子128A、連接到比較器30的輸出端子30C的輸入端子128B以及一個連接到三相分布邏輯電路129的輸入端子129A的輸出端子。三相分布邏輯電路129具有一個連接到開關控制電路40的輸入端的輸出端。
[0044]根據一個實施例，節點32以耦接方式連接，用于分別通過開關34、36和38接收反電動勢電壓Vbemf1、Vbemf2和Vbemf3。更具體地講，節點76通過開關34連接到節點32;節點78通過開關36連接到節點32;節點80通過開關38連接到節點32。因此，節點76、78和80以可切換方式耦接到節點32。開關34、36和38及其分別到節點76、78和80的連接，而開關控制電路40的實施例已經參考圖1進行了描述。相似地，電機驅動電路14和BLDC電機12的實施例已經參考圖1進行了描述。
[0045]在工作過程中，用于在無傳感器情況下檢測電機轉子位置的方法包括在節點76、78和80中的一個或多個處產生反電動勢電壓。在開關控制電路40的控制下，反電動勢電壓通過開關34、36和38傳送到節點32。應當指出的是，開關控制電路40負責控制開關34、36和38，讓開關34、36和38之間一次只能閉合一個，S卩，一次只向節點32傳送一個反電動勢電壓。節點32處出現的反電動勢電壓還會出現在比較器28和30的非反相輸入端。例如，響應于來自于電機驅動電路14的驅動信號，在節點76處會產生反電動勢電壓。接著，反電動勢信號傳送或傳輸到比較器28和30的非反相輸入端子。
[0046]響應于一個基準電壓和一個電流，在比較器28的反相輸入端處會產生一個高基準電壓，同樣響應于該基準電壓和該電流，在比較器30的反相輸入端子處會產生一個低基準電壓。比較器28把反電動勢電壓與高基準電壓進行比較，在比較器28的輸出端子處產生一個比較電壓。而比較器30把反電動勢電壓與低基準電壓進行比較，在比較器30的輸出端子處產生一個比較電壓。接著，響應于比較器28的輸出端子處的比較電壓以及比較器30的輸出端子處的比較電壓，生成跨零檢測信號。之后位置信息檢測電路128響應于跨零檢測信號，生成位置指示信號。
[0047]根據多個實施例，高基準電壓和低基準電壓可由基準電壓產生電路123產生。更具體地講，共用電壓Vcqm輸入到緩沖放大器124中，由緩沖放大器124產生在節點129處出現的緩沖共用電壓Vbom。流過電壓產生電路123的電流Ivc在電阻器125兩端形成一個壓降，在電阻器127兩端也形成一個壓降。因此，比較器28的反相輸入端子處的電壓由VbCR125 *IVG決定，比較器30的反相輸入端子處的電壓由\^(?1-1?127*]^決定，其中1?125是電阻器125的電阻值，Rm是電阻器127的電阻值。應當指出的是，如果電阻器125的電阻值R125等于電阻器127的電阻值Rm，則電阻器125兩端的電壓等于電阻器127兩端的電壓。在這種情況下，電壓Vbcom周圍的電壓是對稱的。
[0048]在圖2所示的實施例中，電流Ivg是響應于基準設置電路126的輸出端子126A和126B處的電流而產生的。流過輸出端子126A和126B的電流可響應于來自基準設置電路126的信號進一步調整或微調。更具體地講，開關156可配置成處于打開狀態，讓電流I15q鏡反射到輸出端子126A;或者，開關156可配置成處于閉合狀態，讓大小等于電流I15q和I152之和的電流鏡反射到輸出端子126A。如果讓電流I15q鏡反射到輸出端子，則可以在電機旋轉時檢測電機轉子的位置，反之，如果鏡反射大小等于電流1-和I152之和的電流，則可以在啟動電機時確認電機轉子的位置并判斷電機轉子的旋轉狀態。因此，可控制開關156來調整比較器28和30的輸入端子處的電壓的偏移電平。
[0049]應當指出的是，反電動勢電壓的U相、V相和W相的中點參考比較器28和30，并且基準比較器28和30不受共用電壓Vcqm的波動影響。因此，檢測電路100提供用于確定反電動勢電壓的跨零點的結構。
[0050]還應指出的是，微調電路120允許調整反電動勢電壓檢測偏移電壓，其中包括比較器28和30的輸入偏移電壓。
[0051]圖3是根據本發明的另一個實施例的基準設置電路200的示意性電路圖。應當指出的是，基準設置電路200是適合用作圖2的基準設置電路126或圖1的基準設置電路26的一個實施例。基準設置電路200包括結合圖2描述的晶體管154和開關156。基準設置電路200還包含電流反射鏡202，而電流反射鏡202包括晶體管204、150A和152A。也就是說，晶體管204、150A和152A被配置成電流反射鏡。晶體管204、150A和152A各自具有一個柵極端子、一個漏極端子和一個源極端子，其中晶體管204、150A和152A的柵極端子通常連接在一起，并且晶體管204、150A和152A的源極端子通常也連接在一起并且連接用于接收工作勢源VDD。晶體管150A的漏極端子連接到晶體管154的漏極端子，而晶體管152A的漏極端子通過開關156連接到晶體管154的漏極端子。應當指出的是，晶體管150A類似于電流源150，并且晶體管152A類似于電流源152。
[0052]基準設置電路200包括放大器212，并且放大器212具有一個反相輸入端子、一個非反相輸入端子和一個輸出端子，其中非反相輸入端子連接到帶隙基準(BGR)電路214，輸出端子連接到晶體管210。更具體地講，晶體管210的柵極端子連接到放大器212的輸出端子，源極端子連接到放大器212的反相輸入端子，漏極端子連接到晶體管204的漏極端子。放大器212以電壓跟隨器配置進行連接。晶體管210的源極端子通過電阻器206連接到工作勢源Vss，其中電阻器206的其中一個端子通常連接到晶體管210的源極端子并且連接到放大器212的反相輸入端子，形成節點216，而在這個節點處會出現電壓V1。電阻器206的另一個端子連接到工作勢源Vss。舉例來說，工作勢源Vss是接地的。
[0053]應當指出的是，基準設置電路200包含晶體管130n，該晶體管的柵極端子連接到晶體管154的柵極端子，源極端子以耦接方式連接，用于接收(例如)工作勢源Vss，漏極端子用作電流支路或電流溝道。加入的晶體管130n用來表示提供可耦接到晶體管154的支路或溝道的附加電流反射鏡晶體管。例如，圖2示出的晶體管130dP 1302以及圖4和5示出的晶體管130!、1302、1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和 1301()的漏極端子便是附加電流反射鏡溝道。因此，η表示整數。
[0054]在工作過程中，BGR電路214與電壓跟隨器212相互配合，在節點216處產生電壓W。響應于電壓V1，電路中會產生電流Im，流過電阻器206。電流反射鏡202對電流Im進行鏡反射，產生從晶體管150A的源極端子流出的電流I1和從晶體管152A的源極端子流出的電流12。電流UPI2可通過調整晶體管150A和152A的大小來調整。應當指出的是，圖3中的電流IjPI2對應圖2中的電流115Q和1152。應當了解，電流I雨12能夠用于在轉子18開始旋轉時確認轉子狀態，即，檢測到電流IjPI2即表示電機12的轉子正在旋轉。另外，電流Ijg夠用于在電機12的轉子旋轉時檢測轉子的位置。
[0055]包括帶隙基準電路214的一個好處是，帶隙基準電路214具有較低的溫漂。
[0056]圖4示出根據本發明的一個實施例的檢測電路300的示意性電路圖。應當指出的是，檢測電路300可耦接到無刷直流(BLDC)電機12以及電機驅動電路14。BLDC電機12和電機驅動電路14的實施例結合圖1和圖2進行了描述。檢測電路300可由微調電路302、電流反射鏡122、電壓調整電路123、緩沖放大器124、基準設置電路126、比較器28和比較器30構成。根據一個實施例，微調電路302由微調元件304和306、寄存器134、存儲電路136和接口電路138構成。根據圖4的例子，微調元件304由連接到切換部分304B的反射鏡部分304A構成，微調元件306由連接到切換部分306B的反射鏡部分306A構成。切換部分304B可被稱為一個選通部分，切換部分306B也可被稱為一個選通部分。應當指出的是，寄存器134具有包括端子134A、134B、134C和134D的輸出總線134!，以及包括端子133A、133B、133C和133D的輸出總線1342。
[0057]反射鏡部分304A由配置為鏡反射支路的多個晶體管構成。更具體地講，微調元件120的所述多個晶體管包括晶體管1303、1304、1305和1306，其中晶體管1303、1304、1305和1306各自具有柵極端子、漏極端子和源極端子。晶體管1303、1304、1305和1306的柵極端子通常連接在一起并且連接到晶體管130dP1302的柵極端子。同樣，晶體管1303、1304、1305和1306的源極端子通常連接在一起，用于接收工作勢源Vss。舉例來說，工作勢源Vss是接地的。切換部分304B由多個開關334、336、338和340構成，其中每個開關都有一個控制端子和一對導電端子。開關334具有控制端子334C、導電端子334A和導電端子334B，其中控制端子334C連接到寄存器134的輸出端子134A，導電端子334A通常連接到電壓調整電路123的端子123C并且連接到晶體管13(h的漏極端子，導電端子334B連接到晶體管1303的漏極端子。開關336具有控制端子336C、導電端子336A和導電端子336B，其中控制端子336C連接到寄存器134的輸出端子134B，導電端子336A通常連接到電壓調整電路123的端子123C、晶體管13(h的漏極端子以及開關334的導電端子334A，導電端子336B連接到晶體管1304的漏極端子。開關338具有控制端子338C、導電端子338A和導電端子338B，其中控制端子338C連接到寄存器134的輸出端子134C，導電端子338A通常連接到電壓調整電路123的端子123C、晶體管13(h的漏極端子以及導電端子334A、336A和338A，導電端子338B連接到晶體管1305的漏極端子。開關340具有控制端子340C、導電端子340A和導電端子340B，其中控制端子340C連接到寄存器134的輸出端子134D，導電端子340A通常連接到電壓調整電路123的端子123C、晶體管13(h的漏極端子以及導電端子334A、336A和338A，導電端子340B連接到晶體管1306的漏極端子。
[0058]反射鏡部分306A由配置為鏡反射支路的多個晶體管構成。更具體地講，微調元件306A的所述多個晶體管包括晶體管1307、1308、1309和1301Q，其中晶體管1307、1308、1309和1301Q各自具有柵極端子、漏極端子和源極端子。晶體管1307、1308、1309和1301Q的柵極端子通常連接在一起并且連接到晶體管130!、1302、1303、1304、1305和1306的柵極端子。晶體管1307、1308、1309和1301Q的源極端子通常連接在一起，用于接收工作勢源Vss。舉例來說，工作勢源Vss是接地的。
[0059]切換部分306B由多個開關362、364、366和368構成，其中每個開關都有一個控制端子和一對導電端子。開關362具有控制端子362C、導電端子362A和導電端子362B，其中控制端子362C連接到寄存器134的輸出端子133A，導電端子362A通常連接到電流反射鏡122的端子122B并且連接到晶體管1302的漏極端子，導電端子362B連接到晶體管1307的漏極端子。開關364具有控制端子364C、導電端子364A和導電端子364B，其中控制端子364C連接到寄存器134的輸出端子133B，導電端子364A通常連接到電流反射鏡122的端子122B、晶體管1302的漏極端子以及開關362的導電端子362A，導電端子364B連接到晶體管1308的漏極端子。開關366具有控制端子366C、導電端子366A和導電端子366B，其中控制端子366C連接到寄存器134的輸出端子133C，導電端子366A通常連接到電流反射鏡122的端子122B、晶體管1302的漏極端子以及導電端子3624和3644，導電端子36613連接到晶體管1309的漏極端子。開關368具有控制端子368C、導電端子368A和導電端子368B，其中控制端子368C連接到寄存器134的輸出端子133D，導電端子368A通常連接到電流反射鏡122的端子122B、晶體管1302的漏極端子以及導電端子362A、364A和366A，導電端子368B連接到晶體管1301Q的漏極端子。
[0060]因此，晶體管1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和1301()的柵極端子連接到基準設置電路126的輸出端子126A，因此也連接到晶體管154、13(h、1302的柵極端子。根據一個實施例，晶體管 130!、1302、1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和 1301Q 的源極端子通常連接在一起，用于接收工作勢源，例如工作勢源Vss。晶體管13(^的漏極端子連接到電壓調整電路123的端子123C。晶體管1303的漏極端子通過開關3 34連接到輸出端子134A;晶體管1304的漏極端子通過開關336連接到輸出端子134B;晶體管1305的漏極端子通過開關338連接到輸出端子134C;晶體管1306的漏極端子通過開關340連接到輸出端子134D。晶體管1302的漏極端子連接到電流反射鏡122的端子122B。晶體管1307的漏極端子通過開關362連接到輸出端子133A;晶體管1308的漏極端子通過開關364連接到輸出端子133B;晶體管1309的漏極端子通過開關366連接到輸出端子133C;晶體管1301Q的漏極端子通過開關368連接到輸出端子133Do
[0061]在工作過程中，用于在無傳感器情況下檢測電機轉子位置的方法包括在節點76、78和80中的一個或多個處產生反電動勢電壓。在開關控制電路40的控制下，反電動勢電壓通過開關34、36和38傳送到節點32。應當指出的是，開關控制電路40負責控制開關34、36和38，讓開關34、36和38之間一次只能閉合一個，S卩，一次只向節點32傳送一個反電動勢電壓。節點32處出現的反電動勢電壓還會出現在比較器28和30的非反相輸入端。例如，響應于來自于電機驅動電路14的驅動信號，在節點76處會產生反電動勢電壓。接著，反電動勢信號被傳送或傳輸到比較器28和30的非反相輸入端子。
[0062]響應于一個基準電壓和一個電流，在比較器28的反相輸入端處會產生一個高基準電壓，同樣響應于該基準電壓和該電流，在比較器30的反相輸入端子處會產生一個低基準電壓。比較器28把反電動勢電壓與高基準電壓進行比較，在比較器28的輸出端子處產生一個比較電壓。而比較器30把反電動勢電壓與低基準電壓進行比較，在比較器30的輸出端子處產生一個比較電壓。接著，響應于比較器28的輸出端子處的比較電壓以及比較器30的輸出端子處的比較電壓，生成跨零檢測信號。之后位置信息檢測電路響應于跨零檢測信號，生成位置指示信號。
[0063]根據多個實施例，高基準電壓和低基準電壓可由基準電壓產生電路123產生。更具體地講，共用電壓Vcqm輸入到緩沖放大器124中，由緩沖放大器124產生在節點129處出現的緩沖共用電壓Vbcom。流過電壓產生電路123的電流Ivc在電阻器125兩端形成一個壓降，在電阻器127兩端也形成一個壓降。因此，比較器28的反相輸入端子處的電壓由VBCQM+R125*IVG決定，比較器30的反相輸入端子處的電壓由\^(?1-1?127*]^決定，其中1?125是電阻器125的電阻值，Rm是電阻器127的電阻值。應當指出的是，如果電阻器125的電阻值R125等于電阻器127的電阻值Rm，則電阻器125兩端的電壓等于電阻器127兩端的電壓。在這種情況下，電壓Vbcom周圍的電壓是對稱的。
[0064]在圖4示出的實施例中，電流Ivg是響應于基準設置電路126的輸出端子126A和126B處的電流，以及由來自寄存器134的控制信號確定的、流過開關334、336、338、340、362、364、366和368的電流而產生的。更具體地講，寄存器134可對開關334、336、338、340、362、364、366和368進行配置，使得電流Ivg包含來自晶體管1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和130ιο中的一個或多個的分量。流過輸出端子126A和126B的電流可響應于來自基準設置電路126的信號進一步調整或微調。更具體地講，開關156可配置成處于打開狀態，讓電流I150鏡反射到輸出端子126A;或者，開關156可配置成處于閉合狀態，讓大小等于電流I15q和I152之和的電流鏡反射到輸出端子126A。如果讓電流I15q鏡反射到輸出端子，則可以在電機旋轉時檢測電機轉子的位置，反之，如果鏡反射大小等于電流1150和1152之和的電流，則可以在啟動電機時確認電機轉子的位置并判斷電機轉子的旋轉狀態。因此，可控制開關156來調整比較器28和30的輸入端子處的電壓的偏移電平。
[0065]在圖4示出的實施例中，電流IVG是響應于基準設置電路126的輸出端子126A和126B處的電流，以及由來自寄存器134的控制信號確定的、流過開關334、336、338、340、362、364、366和368的電流而產生的。更具體地講，寄存器134可對開關334、336、338、340、362、364、366和368進行配置，使得電流Ivg包含來自晶體管1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和1301Q中的一個或多個的分量。
[0066]應當指出的是，反電動勢電壓的U相、V相和W相的中點參考比較器28和30，并且基準比較器28和30不受共用電壓Vcqm的波動影響。因此，檢測電路100提供用于確定反電動勢電壓的跨零點的結構。
[0067]還應指出的是，微調電路120允許調整反電動勢電壓檢測偏移電壓，其中包括比較器28和30的輸入偏移電壓。
[0068]圖5A和58示出根據本發明的另一個實施例的檢測電路400的示意性電路圖。應當指出的是，由于示意性電路圖過大，以致無法在同一張圖上清楚示出，所以BLDC電機12和電機驅動電路14在圖5A中示出，而檢測電路400在圖5B中示出。BLDC電機12和電機驅動電路14的實施例結合圖1和2進行了描述。檢測電路400由微調電路302、電流反射鏡122、電壓調整電路123、緩沖放大器124、基準設置電路126、比較器28和比較器30構成。根據一個實施例，微調電路302由微調元件304和306、寄存器134、存儲電路136和接口電路138構成。舉例來說，微調元件304由連接到對應的多個開關的多個晶體管構成，微調元件306也是由連接到對應的多個開關的多個晶體管構成。
[0069]圖5A示出了連接到電機驅動電路14并且連接到多個開關34、36和38的無刷直流(BLDC)電機12的示意性電路圖的一部分，圖5B示出了根據本發明的一個實施例的連接到BLDC電機12并且連接到電機驅動電路14的檢測電路400 ALDC電機12和電機驅動電路14的實施例結合圖1和2進行了描述。檢測電路300可由微調電路302、電流反射鏡122、電流反射鏡402、電壓調整電路123、緩沖放大器124、基準設置電路126、比較器28和比較器30構成。根據一個實施例，微調電路302由微調元件304和306、寄存器134、存儲電路136和接口電路138構成。根據圖5A和5B的例子，微調元件304由連接到切換部分304B的反射鏡部分304A構成，微調元件306由連接到切換部分306B的反射鏡部分306A構成。切換部分304B可被稱為一個選通部分，切換部分306B也可被稱為一個選通部分。應當指出的是，寄存器134具有包括端子134A、134B、134C和134D的輸出總線134!，以及包括端子133A、133B、133C和133D的輸出總線1342。
[0070]電流反射鏡402由晶體管404和406構成，其中晶體管404和406各自具有柵極端子、漏極端子和源極端子。根據圖5A和5B的例子，晶體管404和406的源極端子連接在一起，用于接收工作勢源Vdd，并且晶體管404和406的柵極端子也連接在一起。晶體管404和406的通常相連的柵極端子連接到晶體管404的漏極端子，形成端子402A。晶體管130j^漏極端子連接到電流反射鏡402的端子402A。晶體管406的漏極端子用作電流反射鏡402的端子402B，連接到電壓調整電路123的端子123C，并且分別連接到開關334、336、338和340的導電端子334厶、3364、338々和340八。
[0071]電流反射鏡122的端子122B，即晶體管140的漏極端子，分別連接到開關362、364、366 和 368 的導電端子362A、364A、366A 和 368A。
[0072]反射鏡部分304A由配置為鏡反射支路的多個晶體管構成。更具體地講，微調元件304A的所述多個晶體管包括晶體管1303、1304、1305和1306，其中晶體管1303、1304、1305和1306各自具有柵極端子、漏極端子和源極端子。晶體管1303、1304、1305和1306的柵極端子通常連接在一起并且連接到晶體管13(h和1302的柵極端子。同樣，晶體管1303、1304、1305和1306的源極端子通常連接在一起，用于接收工作勢源Vss。舉例來說，工作勢源Vss是接地的。切換部分304B由多個開關334、336、338和340構成，其中每個開關都有一個控制端子和一對導電端子。開關334具有控制端子334C、導電端子334A和導電端子334B，其中控制端子334C連接到寄存器134的輸出端子134A，導電端子334A通常連接到電壓調整電路123的端子123C并且連接到晶體管13(h的漏極端子，導電端子334B連接到晶體管1303的漏極端子。開關336具有控制端子336C、導電端子336A和導電端子336B，其中控制端子336C連接到寄存器134的輸出端子134B，導電端子336A通常連接到電壓調整電路123的端子123C、晶體管13(h的漏極端子以及開關334的導電端子334A，導電端子336B連接到晶體管1304的漏極端子。開關338具有控制端子338C、導電端子338A和導電端子338B，其中控制端子338C連接到寄存器134的輸出端子134C，導電端子338A通常連接到電壓調整電路123的端子123C、晶體管13(h的漏極端子以及導電端子334A、336A和338A，導電端子338B連接到晶體管1305的漏極端子。開關340具有控制端子340C、導電端子340A和導電端子340B，其中控制端子340C連接到寄存器134的輸出端子134D，導電端子340A通常連接到電壓調整電路123的端子123C、晶體管13(h的漏極端子以及導電端子334A、336A和338A，導電端子340B連接到晶體管1306的漏極端子。
[0073]反射鏡部分306A由配置為鏡反射支路的多個晶體管構成。更具體地講，微調元件306A的所述多個晶體管包括晶體管1307、1308、1309和1301Q，其中晶體管1307、1308、1309和1301Q各自具有柵極端子、漏極端子和源極端子。晶體管1307、1308、1309和1301Q的柵極端子通常連接在一起并且連接到晶體管130!、1302、1303、1304、1305和1306的柵極端子。晶體管1307、1308、1309和1301Q的源極端子通常連接在一起，用于接收工作勢源Vss。舉例來說，工作勢源Vss是接地的。
[0074]切換部分306B由多個開關362、364、366和368構成，其中每個開關都有一個控制端子和一對導電端子。開關362具有控制端子362C、導電端子362A和導電端子362B，其中控制端子362C連接到寄存器134的輸出端子133A，導電端子362A通常連接到電流反射鏡122的端子122B并且連接到晶體管1302的漏極端子，導電端子362B連接到晶體管1307的漏極端子。開關364具有控制端子364C、導電端子364A和導電端子364B，其中控制端子364C連接到寄存器134的輸出端子133B，導電端子364A通常連接到電流反射鏡122的端子122B、晶體管1302的漏極端子以及開關362的導電端子362A，導電端子364B連接到晶體管1308的漏極端子。開關366具有控制端子366C、導電端子366A和導電端子366B，其中控制端子366C連接到寄存器134的輸出端子133C，導電端子366A通常連接到電流反射鏡122的端子122B、晶體管1302的漏極端子以及導電端子3624和3644，導電端子36613連接到晶體管1309的漏極端子。開關368具有控制端子368C、導電端子368A和導電端子368B，其中控制端子368C連接到寄存器134的輸出端子133D，導電端子368A通常連接到電流反射鏡122的端子122B、晶體管1302的漏極端子以及導電端子362A、364A和366A，導電端子368B連接到晶體管1301Q的漏極端子。
[0075]因此，晶體管1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和1301Q的柵極端子連接到晶體管 154、130!、1302的柵極端子。根據一個實施例，晶體管 130!、1302、1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和1301Q的源極端子通常可連接在一起，用于接收工作勢源，例如工作勢源Vss。晶體管13(^的漏極端子連接到電流反射鏡402的端子402A。晶體管1303的漏極端子通常通過開關334連接到電流反射鏡402的端子402B、電壓調整電路123的端子123C，以及比較器30的反相輸入端子；晶體管1304的漏極端子通常通過開關336連接到電流反射鏡402的端子402B、電壓調整電路123的端子123C以及比較器30的反相輸入端子；晶體管1305的漏極端子通常通過開關338連接到電流反射鏡402的端子402B、電壓調整電路123的端子123C以及比較器30的反相輸入端子；晶體管1306的漏極端子通常通過開關340連接到電流反射鏡402的端子402B、電壓調整電路123的端子123C以及比較器30的反相輸入端子。晶體管1302的漏極端子連接到或用作輸出端子126B，而輸出端子126B連接到晶體管142的漏極端子，即連接到電流反射鏡122的端子，并連接到比較器28的反相輸入端子。晶體管1307的漏極端子通過開關362連接到晶體管140的漏極端子;晶體管1308的漏極端子通過開關364連接到晶體管140的漏極端子；晶體管1309的漏極端子通過開關366連接到晶體管140的漏極端子；晶體管1301Q的漏極端子通過開關368連接到晶體管140的漏極端子。
[0076]在工作過程中，用于在無傳感器情況下檢測電機轉子位置的方法包括在節點76、78和80中的一個或多個處產生反電動勢電壓。在開關控制電路40的控制下，反電動勢電壓通過開關34、36和38傳送到節點32。應當指出的是，開關控制電路40負責控制開關34、36和38，讓開關34、36和38之間一次只能閉合一個，S卩，一次只向節點32傳送一個反電動勢電壓。節點32處出現的反電動勢電壓還會出現在比較器28和30的非反相輸入端。例如，響應于來自于電機驅動電路14的驅動信號，在節點76處會產生反電動勢電壓。接著，反電動勢信號傳送或傳輸到比較器28和30的非反相輸入端子。
[0077]響應于一個基準電壓和一個電流，在比較器28的反相輸入端處會產生一個高基準電壓，同樣響應于該基準電壓和該電流，在比較器30的反相輸入端子處會產生一個低基準電壓。比較器28把反電動勢電壓與高基準電壓進行比較，在比較器28的輸出端子處產生一個比較電壓。而比較器30把反電動勢電壓與低基準電壓進行比較，在比較器30的輸出端子處產生一個比較電壓。接著，響應于比較器28的輸出端子處的比較電壓以及比較器30的輸出端子處的比較電壓，生成跨零檢測信號。之后位置信息檢測電路響應于跨零檢測信號，生成位置指示信號。
[0078]根據多個實施例，高基準電壓和低基準電壓可由基準電壓產生電路123產生。更具體地講，共用電壓Vcqm輸入到緩沖放大器124中，由緩沖放大器124產生在節點129處出現的緩沖共用電壓Vbom。流過電壓產生電路123的電流Ivc在電阻器125兩端形成一個壓降，在電阻器127兩端也形成一個壓降。因此，比較器28的反相輸入端子處的電壓由VBCQM+R125*IVG決定，比較器30的反相輸入端子處的電壓由\^(?1-1?127*]^決定，其中1?125是電阻器125的電阻值，Rm是電阻器127的電阻值。應當指出的是，如果電阻器125的電阻值R125等于電阻器127的電阻值Rm，則電阻器125兩端的電壓等于電阻器127兩端的電壓。在這種情況下，電壓Vbcom周圍的電壓是對稱的。
[0079]在圖5示出的實施例中，電流Ivg是響應于基準設置電路126的輸出端子126A和126B處的電流，以及由來自寄存器134的控制信號確定的、流過開關334、336、338、340、362、364、366和368的電流而產生的。更具體地講，寄存器134可對開關334、336、338、340、362、364、366和368進行配置，使得電流Ivg包含來自晶體管1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309和130ιο中的一個或多個的分量。流過輸出端子126A和126B的電流可響應于來自基準設置電路126的信號進一步調整或微調。更具體地講，開關156可配置成處于打開狀態，讓電流I150鏡反射到輸出端子126A;或者，開關156可配置成處于閉合狀態，讓大小等于電流I15q和I152之和的電流鏡反射到輸出端子126A。如果讓電流I15q鏡反射到輸出端子，則可以在電機旋轉時檢測電機轉子的位置，反之，如果鏡反射大小等于電流1150和1152之和的電流，則可以在啟動電機時確認電機轉子的位置并判斷電機轉子的旋轉狀態。因此，可控制開關156來調整比較器28和30的輸入端子處的電壓的偏移電平。
[0080]在圖5A和5B示出的實施例中，電流Ivg是響應于基準設置電路126的輸出端子126A和126B處的電流，以及由來自寄存器134的控制信號確定的、流過開關334、336、338、340、362、364、366和368的電流而產生的。更具體地講，寄存器134可對開關334、336、338、340、362、364、366和368進行配置，使得電流Ivg包含來自晶體管1303、1304、1305、1306、1307、1308、130g和130ιο中的一個或多個的分量。
[0081]應當指出的是，反電動勢電壓的U相、V相和W相的中點參考比較器28和30，并且基準比較器28和30不受共用電壓Vcqm的波動影響。因此，檢測電路100提供用于確定反電動勢電壓的跨零點的結構。
[0082]還應指出的是，微調電路120允許調整反電動勢電壓檢測偏移電壓，包括比較器28和30的輸入偏移電壓。
[0083]現在，應當了解，已提供了電子轉子位置檢測電路以及用于檢測電機轉子位置的方法。根據一個實施例，電機轉子位置檢測電路包括連接到微調電路以及基準電壓產生電路的基準設置電路。基準電壓產生電路連接到一個或多個比較器。根據另一個實施例，提供了一種在無傳感器情況下檢測電機轉子位置的方法，該方法包括:響應于第一反電動勢來產生第一電壓；響應于來自于電機的共用電壓來產生第二電壓；響應于來自于電機的共用電壓來產生第三電壓。第一電壓與第二電壓相比較，產生一個比較電壓，同時第一電壓與第三電壓相比較，產生另一比較電壓。檢測電路利用比較電壓生成位置檢測信號。
[0084]電機轉子位置檢測電路被配置成通過把輸出端126A處的電流調整為等于電流I150或等于電流1150和I152之和來設定比較器基準電壓。
[0085]根據一些實施例，其中流過電阻器125和127的電流大致等于電流I15q和I152之和并且電阻器125和127具有相同的電阻值，節點129周圍可產生對稱電壓，S卩，比較器28的反相輸入端子處的電壓大于節點29處的電壓的量等于比較器30的反相輸入端子處的電壓小于節點29處的電壓的量。
[0086]如果基準設置電路126被配置成產生流過電阻器125和127、大小等于電流I150和Ii52之和的電流，并且電阻器125和127被選擇為具有相等的電阻值并滿足等式(I15Q+I152)*R125 = +/-50mV，則在此類實例中，不僅能夠確認電機開始旋轉時的狀態，并且當檢測到電機旋轉時的電壓高于預定電壓時，還可判定此時的電壓在+/_50mV內，應當使電機停止旋轉。
[0087]在電流設定值被配置成符合等式lVdRmZlVG^Rm = +/-^)!^的例子中，在電機旋轉時檢測電路將會檢測磁體的位置，并且比較器閾值設定用于減緩振顫。
[0088]根據本發明的另一方面，電機轉子位置檢測電路還包括具有第一導電端子和第二導電端子的第一電流反射鏡;并且所述第一電流反射鏡的第一導電端子被耦接到第一電阻器的第一端子。
[0089]根據本發明的另一方面，基準設置電路還包括:第一電流源、第二電流源、第一開關以及第一晶體管。其中，第一電流源具有第一端子和第二端子;第二電流源具有第一端子和第二端子，并且第二電流源的第一端子耦接到第一電流源的第一端子;第一開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第一開關的第一導電端子耦接到第二電流源的第二端子，第一開關的第二導電端子耦接到第一電流源的第二端子;第一晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第一晶體管的控制端子耦接到第一晶體管的第一載流端子、第一電流源的第二端子以及第二電流源的第二端子，而第一晶體管的第二載流端子以耦接方式連接，用于接收第一工作勢源。
[0090]根據本發明的另一方面，基準設置電路還包括第二晶體管;第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第二晶體管的控制端子耦接到第一晶體管的控制端子，第二晶體管的第二載流端子以耦接方式連接，用于接收所述第一工作勢源，其中第二晶體管的第一載流端子用作基準設置電路的第一輸出端子。
[0091]根據本發明的另一方面，基準設置電路還包括第三晶體管;第三晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第三晶體管的控制端子耦接到第一晶體管和第二晶體管的控制端子，第三晶體管的第二載流端子以耦接方式連接，用于接收所述第一工作勢源，其中第三晶體管的第一載流端子用作基準設置電路的第二輸出端子。
[0092]根據本發明的另一方面，微調電路還包括第一組晶體管及第一組開關，其中第一組晶體管中的每個晶體管都具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第一組晶體管中的每個晶體管的控制端子彼此耦接，而第一組晶體管的第二載流端子以耦接方式連接，用于接收第一工作勢源;第一組開關中的每個開關都具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第一組開關耦接到第一組晶體管中的對應的晶體管。
[0093]根據本發明的另一方面，微調電路還包括第二組晶體管及第二組開關，其中第二組晶體管中的每個晶體管都具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第二組晶體管中的每個晶體管的控制端子彼此耦接，而第二組晶體管的第二載流端子以耦接方式連接，用于接收第一工作勢源;第二組開關中的每個開關都具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第二組開關耦接到第二組晶體管中的對應的晶體管。
[0094]根據本發明的另一方面，微調電路還包括具有多個端子的寄存器;并且其中第一組晶體管包括:第四晶體管、第五晶體管、第六晶體管和第七晶體管，其中第四晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子；第五晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第五晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;第六晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第六晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;第七晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第七晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;并且其中所述第二組晶體管包含:第八晶體管、第九晶體管、第十晶體管和第十一晶體管，其中第八晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第八晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;第九晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第九晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;第十晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第十晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;第十一晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且第十一晶體管的控制端子耦接到第四晶體管的控制端子;并且其中所述第一組開關包括:第二開關、第三開關、第四開關和第五開關，其中第二開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第二開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第一端子，第二開關的第二導電端子耦接到第四晶體管的第一載流端子，第二開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第一端子;第三開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第三開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第一端子，第三開關的第二導電端子耦接到第五晶體管的第一載流端子，第三開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第二端子;第四開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第四開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第一端子，第四開關的第二導電端子耦接到第六晶體管的第一載流端子，第四開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第三端子;第五開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第五開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第一端子，第五開關的第二導電端子耦接到第七晶體管的第一載流端子，第五開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第四端子;并且其中所述第二組開關包括:第六開關、第七開關、第八開關和第九開關，其中第六開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第六開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第二端子，第六開關的第二導電端子耦接到第八晶體管的第一載流端子，第六開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第五端子;第七開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第七開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第二端子，第七開關的第二導電端子耦接到第九晶體管的第一載流端子，第七開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第六端子;第八開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第八開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第二端子，第八開關的第二導電端子耦接到第十晶體管的第一載流端子，第八開關的控制端子耦接到寄存器的多個端子中的第七端子;第九開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，并且第九開關的第一導電端子耦接到基準設置電路的第二端子，第九開關的第二導電端子耦接到第十一晶體管的第一載流端子，第九開關的控制端子被耦接到寄存器的多個端子中的第八端子。
[0095]根據本發明的另一方面，提供了一種在無傳感器情況下檢測電機轉子位置的方法，該方法包括:響應于第一反電動勢來產生第一電壓;響應于來自于電機的共用電壓來產生第二電壓；響應于來自于電機的共用電壓來產生第三電壓;對第一電壓和第二電壓進行比較，生成第一比較信號；對第一電壓和第三電壓進行比較，生成第二比較信號；響應于第一比較信號和第二比較信號來生成位置檢測信號。
[0096]根據本發明的另一方面，產生第二電壓和產生第一電壓包括調整流過電壓產生電路的電流，生成第一電壓和第二電壓。
[0097]雖然本文公開了一些具體的實施例，但是并非意在用這些公開的實施例來限制本發明的范圍。本領域的技術人員將認識到，可以在不背離本發明的精神的情況下做出修改以及變化。本發明旨在涵蓋落入所附權利要求書的范圍內的所有此類修改以及變化。
【主權項】
1.一種電機轉子位置檢測電路，其特征在于所述電路包括: 基準設置電路，所述基準設置電路至少具有第一端子和第二端子； 微調電路，所述微調電路至少具有第一端子、第二端子和第三端子，所述微調電路的所述第一端子耦接到所述基準設置電路； 基準電壓產生電路，所述基準電壓產生電路具有輸入端子、第一端子和第二端子；以及第一比較器，所述第一比較器具有第一輸入端子、第二輸入端子和輸出端子，所述第一比較器的所述第一輸入端子被耦接為用于接收第一電機信號，并且所述第一比較器的所述第二輸入端子耦接到所述基準電壓產生電路的所述第二端子。2.根據權利要求1所述的電機轉子位置檢測電路，其中所述微調電路包括: 寄存器，所述寄存器具有第一端子、第二端子、第三端子和第四端子，所述寄存器的所述第一端子用作所述微調電路的所述第一端子； 存儲元件，所述存儲元件具有輸入端子和輸出端子，所述存儲元件的所述輸出端子耦接到所述寄存器的所述第二端子;以及 接口電路，所述接口電路至少具有第一端子、第二端子和第三端子，所述接口電路的所述第一端子耦接到所述寄存器的所述第三端子。3.根據權利要求1所述的電機轉子位置檢測電路，其中電壓調整電路的第一端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子，并且其中所述基準電壓產生電路包括: 第一電阻器，所述第一電阻器具有第一端子和第二端子；以及 第二電阻器，所述第二電阻器具有第一端子和第二端子，所述第二電阻器的所述第一端子耦接到所述第一電阻器的所述第二端子，所述第一電阻器的所述第一端子耦接到所述第一比較器電路的所述第二輸入端子，并且所述第二電阻器的所述第二端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子。4.根據權利要求1所述的電機轉子位置檢測電路，其中所述基準設置電路的所述第二端子耦接到第一電流反射鏡的所述第二端子，并且其中反電動勢檢測電路還包括第二比較器，所述第二比較器具有第一輸入端子、第二輸入端子和輸出端子，所述第二比較器的所述第一輸入端子耦接到所述第一比較器的所述第一輸入端子，并且所述第二比較器的所述第二輸入端子耦接到所述基準電壓產生電路的所述第一端子。5.根據權利要求1所述的電機轉子位置檢測電路，其中電壓調整電路包括: 第一電阻器，所述第一電阻器具有第一端子和第二端子；以及 第二電阻器，所述第二電阻器具有第一端子和第二端子，所述第二電阻器的所述第一端子耦接到所述第一電阻器的所述第二端子，所述第一電阻器的所述第一端子耦接到所述第一比較器電路的所述第二輸入端子，并且所述第二電阻器的所述第二端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子;并且其中反電動勢檢測電路還包括: 第一電流反射鏡，所述第一電流反射鏡具有第一導電端子和第二導電端子，所述第一電流反射鏡的所述第一導電端子耦接到所述第一電阻器的所述第一端子； 第二電流反射鏡，所述第二電流反射鏡具有第一端子和第二端子，所述第二電流反射鏡的所述第一端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子;其中所述微調電路還包括具有多個端子的寄存器； 第一晶體管，所述第一晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子； 第二晶體管，所述第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第二晶體管的所述控制端子耦接到所述第一晶體管的所述控制端子； 第一開關，所述第一開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第一開關的所述第一導電端子耦接到所述基準設置電路的所述第一端子，所述第一開關的所述第二導電端子耦接到所述第一晶體管的所述第一載流端子，并且所述第一開關的所述控制端子耦接到所述寄存器的所述多個端子中的第一端子;以及 第二開關，所述第二開關具有控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第二開關的所述第一導電端子耦接到所述第二電流反射鏡的所述第二端子，所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第二晶體管的所述第一載流端子，并且所述第二開關的所述控制端子耦接到所述寄存器的所述多個端子中的第二端子。6.—種電壓檢測電路，其特征在于所述電路包括: 電流產生電路，所述電流產生電路具有第一端子、第二端子和第三端子； 電流微調電路，所述電流微調電路具有偏置端子、第一控制端子和第一導電端子，所述偏置端子耦接到所述電流產生電路的所述第三端子； 分壓器電路，所述分壓器電路具有第一端子、第二端子和節點，所述分壓器電路的所述第一端子耦接到所述第一導電端子； 第一電流反射鏡，所述第一電流反射鏡具有第一端子和第二端子，所述第一電流反射鏡的所述第一端子耦接到所述分壓器電路的所述第二端子;以及 第一比較器，所述第一比較器具有反相輸入端子、非反相輸入端子和輸出端子，所述第一比較器的所述非反相輸入端子耦接到所述分壓器電路的所述第二端子。7.根據權利要求6所述的電壓檢測電路，還包括緩沖電路，所述緩沖電路具有輸入端子和輸出端子，所述緩沖電路的所述輸出端子耦接到所述分壓器電路的所述節點。8.根據權利要求6所述的電壓檢測電路，其中所述電流微調電路還包括: 第一電流微調部件，所述第一電流微調部件包括: 第一晶體管，所述第一晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，所述第一晶體管的所述控制端子用作所述電流微調電路的所述偏置端子;以及 第一開關，所述第一開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第一開關的所述第二導電端子耦接到所述第一晶體管的所述第一載流端子，并且所述第一開關的所述第二導電端子耦接到所述分壓器電路的所述第一端子。9.根據權利要求8所述的電壓檢測電路，其中所述電流微調電路還包括: 第二電流微調部件，所述第二電流微調部件包括: 第二晶體管，所述第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第二晶體管的所述控制端子用作所述電流微調電路的所述偏置端子;以及 第二開關，所述第二開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第二晶體管的所述第一載流端子，并且所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第一電流反射鏡的所述第二端子。10.根據權利要求9所述的電壓檢測電路，其中所述第一電流微調部件還包括: 第三晶體管，所述第三晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第三晶體管的所述控制端子耦接到所述第一晶體管的所述控制端子;以及 第三開關，所述第三開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第三開關的所述第二導電端子耦接到所述第三晶體管的所述第一載流端子，并且所述第三開關的所述第二導電端子耦接到所述分壓器電路的所述第一端子，并且其中所述第二電流微調部件還包括: 第四晶體管，所述第四晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第四晶體管的所述控制端子耦接到所述第二晶體管的所述控制端子;以及 第四開關，所述第四開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第四開關的所述第二導電端子耦接到所述第四晶體管的所述第一載流端子，并且所述第四開關的所述第二導電端子耦接到所述第一電流反射鏡的所述第二端子。11.根據權利要求8所述的電壓檢測電路，還包括: 第二電流反射鏡，所述第二電流反射鏡具有第一端子和第二端子，所述第二電流反射鏡的所述第一端子耦接到所述電流產生電路的所述第一端子，并且所述第二電流反射鏡的所述第二端子耦接到所述分壓器電路的所述第一端子，其中所述電流微調電路還包括: 第二電流微調部件，所述第二電流微調部件包括: 第二晶體管，所述第二晶體管具有控制端子、第一載流端子和第二載流端子，并且所述第二晶體管的所述控制端子用作所述電流微調電路的所述偏置端子;以及 第二開關，所述第二開關具有第一控制端子、第一導電端子和第二導電端子，所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第二晶體管的所述第一載流端子，并且所述第二開關的所述第二導電端子耦接到所述第一電流反射鏡的所述第二端子。
【文檔編號】H02P6/182GK205647312SQ201620384840
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年4月29日
【發明人】橫尾聰, 市川淳啟
【申請人】半導體元件工業有限責任公司