專利名稱：檢測(cè)裝置、電力接收裝置、非接觸電力傳輸系統(tǒng)和檢測(cè)法的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本申請(qǐng)涉及一種用于在電力發(fā)送裝置與電力接收裝置之間檢測(cè)諸如金屬等導(dǎo)體的存在的檢測(cè)裝置。此外，本申請(qǐng)還涉及電力接收裝置、非接觸電力傳輸系統(tǒng)和檢測(cè)方法。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，通過采用無(wú)線技術(shù)提供電力的非接觸電力傳輸系統(tǒng)得到迅猛發(fā)展。采用無(wú)線技術(shù)提供電力的方法包括下述兩種方法。這兩種方法之一是已被廣泛知曉的電磁感應(yīng)方法。在電磁感應(yīng)方法中，電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間的接合度很高，以至于可以高效地將電力從電力發(fā)送側(cè)供應(yīng)到電力接收側(cè)。然而，由于需要使電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間的接合系數(shù)保持在高值，因此，如果電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間的距離增加或電力發(fā)送側(cè)從暴露于電力接收側(cè)的位置移開，則電力發(fā)送側(cè)的線圈與電力接收側(cè)的線圈之間的電力傳輸效率將顯著惡化。在下面的說明中，電力發(fā)送側(cè)的線圈與電力接收側(cè)的線圈之間的電力傳輸效率也稱為線圈間效率。另一方法是被稱為磁諧振方法的技術(shù)。磁諧振方法的特征在于，通過有意地采用諧振現(xiàn)象，電力提供方和電力接收方共享的磁通量小。在磁諧振方法中，即使接合系數(shù)小，只要Q因數(shù)(品質(zhì)因數(shù))高，那么線圈間效率也不會(huì)惡化。Q因數(shù)是代表電路中能量維持和能量損失之間的關(guān)系的指標(biāo)，其中電路包括電力發(fā)送側(cè)的線圈和電力接收側(cè)的線圈。也就是說，Q因數(shù)是代表諧振電路中的諧振強(qiáng)度的指標(biāo)。換句話說，磁諧振方法的優(yōu)點(diǎn)在于電力接收側(cè)線圈的軸不用必須調(diào)整成電力發(fā)送側(cè)線圈的軸。其它優(yōu)點(diǎn)包括:選擇電力發(fā)送側(cè)位置和電力接收側(cè)位置時(shí)的自由度高，并且設(shè)置電力發(fā)送側(cè)和電力接收側(cè)之間的距離的自由度高。非接觸電力傳輸系統(tǒng)中一個(gè)重要要素是采取措施來(lái)解決金屬異物的散熱。當(dāng)采用不限于電磁感應(yīng)方法或磁諧振方法的非接觸技術(shù)從電力發(fā)送側(cè)向電力接收側(cè)提供電力時(shí)，在電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間可能存在金屬。在這種情況下，可能在金屬中流動(dòng)有渦電流，于是恐怕會(huì)散熱。作為解決金屬散熱的措施，已經(jīng)提出多種技術(shù)來(lái)檢測(cè)這種金屬異物。例如，已知的是使用光傳感器或溫度傳感器的技術(shù)。然而，如果電力供應(yīng)范圍廣，如同在采用磁諧振方法的情況下，那么使用傳感器檢測(cè)金屬的方法是昂貴的。此外，如果例如使用溫度傳感器，那么溫度傳感器輸出的結(jié)果取決于傳感器周圍的熱傳導(dǎo)率。因此，對(duì)電力發(fā)送側(cè)的設(shè)備和電力接收側(cè)的設(shè)備施加了設(shè)計(jì)限制。為了解決上述問題，已經(jīng)提出一種技術(shù)，該技術(shù)通過檢查金屬異物的存在所引起的參數(shù)變化來(lái)確定在電力發(fā)送側(cè)和電力接收側(cè)之間是否存在金屬異物。參數(shù)的變化通常包括電流變化和電壓變化。通過采用這種技術(shù)，不再對(duì)電力發(fā)送側(cè)的設(shè)備和電力接收側(cè)的設(shè)備施加設(shè)計(jì)限制。此外，還可以降低成本。如在日本專利特開號(hào)2008-206231(下文中稱為專利文獻(xiàn)I)中所述，已經(jīng)提出如下一種技術(shù)，該技術(shù)通過檢查電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間傳輸?shù)恼{(diào)制程度來(lái)檢測(cè)金屬異物。也就是說，通過檢查振幅變化和相位變化的有關(guān)信息來(lái)檢測(cè)金屬異物。此外，如在日本專利特開號(hào)2001-275280(下文中稱為專利文獻(xiàn)2)中所述，已經(jīng)提出如下一種技術(shù)，該技術(shù)通過檢查渦電流損失來(lái)檢測(cè)金屬異物。該技術(shù)也稱為基于DC-DC效率的異物檢測(cè)方法。然而，專利文獻(xiàn)I和2公開的技術(shù)沒有考慮到電力接收側(cè)的金屬殼的影響。在電力接收側(cè)接收電力的普通移動(dòng)設(shè)備使用某些金屬(例如金屬殼和金屬部件)的可能性相當(dāng)高。在這種情況下，很難確定參數(shù)的變化是由金屬殼等的影響引起的還是由金屬異物的存在引起的。例如，在專利文獻(xiàn)2公開的技術(shù)的情況下，很難確定渦電流損失是由移動(dòng)設(shè)備的金屬殼引起的，還是由電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間存在的金屬異物引起的。于是，從以上說明可以清楚地看到，專利文獻(xiàn)I和2中公開的技術(shù)很難說是能夠高精確度地檢測(cè)金屬異物的技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問題，提出本發(fā)明。期望提高對(duì)電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間存在的金屬異物進(jìn)行檢測(cè)的精度。根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，提供一種檢測(cè)裝置，其包括:設(shè)置有Q因數(shù)測(cè)量線圈和一個(gè)或多個(gè)電容器的諧振電路，其用作接收脈沖的電路；響應(yīng)波形檢測(cè)部，其用于對(duì)所述諧振電路響應(yīng)于所述脈沖而輸出的響應(yīng)波形進(jìn)行檢測(cè)；和Q因數(shù)測(cè)量部，其用于根據(jù)所述響應(yīng)波形檢測(cè)部檢測(cè)到的所述響應(yīng)波形來(lái)測(cè)量所述諧振電路的Q因數(shù)。根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，提供一種電力接收裝置，其包括:電力接收線圈，其電磁耦合到外部裝置；電力接收部，其用于通過所述電力接收線圈從所述外部裝置接收電力；和上述實(shí)施例的檢測(cè)裝置。根據(jù)本發(fā)明的又一實(shí)施例，提供一種非接觸電力傳輸系統(tǒng)，其包括:電力發(fā)送裝置，其用于通過采用非接觸傳輸技術(shù)發(fā)送電力；和電力接收裝置，其用于從所述電力發(fā)送裝置接收所述電力。所述電力接收裝置包括:電力接收線圈，其電磁耦合到所述電力發(fā)送裝置的電力發(fā)送線圈；電力接收部，其用于通過所述電力接收線圈從所述電力發(fā)送裝置接收電力；和上述實(shí)施例的檢測(cè)裝置。根據(jù)本發(fā)明的進(jìn)一步實(shí)施例，提供一種檢測(cè)方法，其包括:向設(shè)置有Q因數(shù)測(cè)量線圈和一個(gè)或多個(gè)電容器的諧振電路施加脈沖；驅(qū)動(dòng)響應(yīng)波形檢測(cè)部來(lái)對(duì)所述諧振電路響應(yīng)于所述脈沖而輸出的響應(yīng)波形進(jìn)行檢測(cè)；以及驅(qū)動(dòng)Q因數(shù)測(cè)量部來(lái)根據(jù)所述響應(yīng)波形檢測(cè)部檢測(cè)的所述響應(yīng)波形測(cè)量所述諧振電路的Q因數(shù)。根據(jù)本發(fā)明，通過使用簡(jiǎn)單的配置就能夠提高對(duì)電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間存在的金屬異物進(jìn)行檢測(cè)的精度。
圖1大致表示通過測(cè)量Q因數(shù)檢測(cè)金屬異物的代表性檢測(cè)電路；
圖2表示串聯(lián)諧振電路輸出的電壓的代表性頻率特性；圖3大致表不本發(fā)明第一實(shí)施例的代表性檢測(cè)電路；圖4是表示圖3所示的微型計(jì)算機(jī)的代表性內(nèi)部構(gòu)造的框圖；圖5表示作為圖3所示的檢測(cè)電路的模型而構(gòu)造的模擬電路；圖6A-6E表示在第一條件下在沒有金屬異物的模擬電路的各種測(cè)量點(diǎn)處獲得的代表性波形，第一條件即是Q因數(shù)為100且重復(fù)周期為2ms的條件，其中圖6A是表示脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖的波形的放大圖，圖6B是表示脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖的序列，圖6C是表示脈沖序列的頻域響應(yīng)，圖6D是表示脈沖序列的頻域響應(yīng)的放大圖，圖6E是表示圖5所示電容器的兩端子處的電壓的頻域響應(yīng)波形；圖7A-7E表示在第二條件下在沒有金屬異物的模擬電路的各種測(cè)量點(diǎn)處獲得的代表性波形，第二條件即是Q因數(shù)為100且重復(fù)周期為IOms的條件，其中圖7A是表示脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖波形的放大圖，圖7B表示脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖序列，圖7C表示脈沖序列的頻域響應(yīng)，圖7D通過放大每個(gè)脈沖序列的內(nèi)部來(lái)表示頻域中的脈沖序列，圖7E表示圖5所示電容器的兩端子處的電壓的頻域響應(yīng)波形；圖8A和8B表示在Q因數(shù)為100且重復(fù)周期為IOms的情況下電容器兩端子處的電壓的代表性波形，其中圖8A表示時(shí)域響應(yīng)波形，圖8B表示頻域響應(yīng)波形；圖9A和9B表示針對(duì)Q因數(shù)為50且重復(fù)周期為IOms的情況，電容器兩端子處的電壓的代表性波形，其中圖9A表示時(shí)域響應(yīng)波形，圖9B表示頻域響應(yīng)波形；圖10是大致表示本發(fā)明第二實(shí)施例所提供的用作應(yīng)用有檢測(cè)電路的代表性設(shè)備的電力接收裝置的電路圖；圖11大致表示本發(fā)明第三實(shí)施例的代表性檢測(cè)電路；以及圖12大致表示本發(fā)明第四實(shí)施例的代表性檢測(cè)電路。
具體實(shí)施例方式下文通過參考附圖來(lái)說明本發(fā)明的實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)注意，在整個(gè)附圖和說明書中，彼此功能實(shí)質(zhì)相同和/或彼此構(gòu)造實(shí)質(zhì)相同的構(gòu)造元件由相同的附圖標(biāo)記表示，并省略重復(fù)的說明。應(yīng)當(dāng)注意，將實(shí)施例的說明劃分成按照以下順序排列的主題:1.介紹2.第一實(shí)施例(信號(hào)源:使用脈沖發(fā)生器的示例)3.第二實(shí)施例(檢測(cè)電路:對(duì)電力接收裝置的代表性應(yīng)用)4.第二實(shí)施例(檢測(cè)電路:米用包絡(luò)線(envelop-line)檢測(cè)電路的不例)5.第四實(shí)施例(Q因數(shù)測(cè)量:使用振動(dòng)數(shù)量的代表性Q因數(shù)測(cè)量)6.第五實(shí)施例(Q因數(shù)測(cè)量:基于處于預(yù)定范圍內(nèi)的電壓V2的代表性Q因數(shù)測(cè)量)7.第六實(shí)施例(Q因數(shù)測(cè)量:即使電壓％不在預(yù)定范圍內(nèi)，基于時(shí)間限制的代表性Q因數(shù)測(cè)量)8.其它1.介紹通過測(cè)量Q因數(shù)來(lái)檢測(cè)金屬異物
為了高精確度地檢測(cè)電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間存在的金屬異物，已經(jīng)設(shè)想到如下一種方法，該方法基于電路的所測(cè)量Q因數(shù)(品質(zhì)因數(shù))來(lái)確定金屬異物是否位于與電力接收側(cè)的諧振電路中所包括的線圈接近的位置，該線圈是與電力發(fā)送側(cè)的外部部件磁耦合的線圈。由于隨著金屬異物靠近諧振電路，電路的Q因數(shù)降低，所以能夠確定是否存在金屬異物。諧振電路的Q因數(shù)是代表諧振電路中能量維持和能量損失之間的關(guān)系的指標(biāo)?？偠灾?，Q因數(shù)是用于表示諧振電路的諧振曲線的峰值的尖銳度的值。換句話說，Q因數(shù)是用于表示諧振電路的諧振程度的值。金屬異物的檢測(cè)是針對(duì)電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間的電路執(zhí)行的，該電路包括非預(yù)期的線圈和諸如金屬的導(dǎo)體。本說明書中使用的技術(shù)術(shù)語(yǔ)“導(dǎo)體”是指廣義上的導(dǎo)體。因而，本說明書中使用的技術(shù)術(shù)語(yǔ)“導(dǎo)體”也可以解釋為半導(dǎo)體。在以下說明中，用于檢測(cè)包括這類線圈和諸如金屬等導(dǎo)體在內(nèi)的電路的操作也稱作導(dǎo)體檢測(cè)等。下文說明用于通過測(cè)量Q因數(shù)來(lái)檢測(cè)金屬異物的代表性檢測(cè)電路。圖1大致表示用于通過測(cè)量諧振電路的Q因數(shù)來(lái)檢測(cè)金屬異物的代表性檢測(cè)電路
1如圖1所示，檢測(cè)電路I包括Q因數(shù)測(cè)量線圈11、電容器12、信號(hào)源13和ADC 16，ADC 16是模數(shù)轉(zhuǎn)換器。圖1所示的檢測(cè)電路I是在解釋檢測(cè)操作的概況時(shí)所參考的大致電路，該檢測(cè)操作通過測(cè)量諧振電路的Q因數(shù)來(lái)檢測(cè)金屬異物，該諧振電路包括Q因數(shù)測(cè)量線圈11和電容器12。在檢測(cè)電路I中，Q因數(shù)測(cè)量線圈11和電容器12彼此串聯(lián)，以形成由虛線包圍的諧振電路。調(diào)整Q因數(shù)測(cè)量線圈11的電感和電容器12的電容，使得諧振電路在測(cè)量頻率(稱作諧振頻率)處諧振。在以下說明中，Q因數(shù)測(cè)量線圈11的電感和電容器12的電容也分別稱作L值和C值。信號(hào)源13連接到包括Q因數(shù)測(cè)量線圈11和電容器12的上述諧振電路。信號(hào)源13中包含的變頻正弦信號(hào)發(fā)生器14產(chǎn)生具有可變頻率的正弦信號(hào)，并將該信號(hào)提供到諧振電路。信號(hào)源13中的電阻器15代表變頻正弦信號(hào)發(fā)生器14的內(nèi)部電阻，或變頻正弦信號(hào)發(fā)生器14的輸出阻抗。在接收正弦信號(hào)的諧振電路的測(cè)量點(diǎn)處產(chǎn)生的模擬信號(hào)被提供到用于將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的ADC 16。然后，通過將ADC 16輸出的數(shù)字信號(hào)用作模數(shù)轉(zhuǎn)換結(jié)果來(lái)測(cè)量諧振電路的Q因數(shù)。應(yīng)當(dāng)注意，檢測(cè)電路I具有未在圖中所示的供電部。供電部向檢測(cè)電路I中采用的部件提供電力。如上所述，檢測(cè)電路I中采用的部件包括信號(hào)源13和ADC16。在測(cè)量諧振電路的Q因數(shù)時(shí)，首先，對(duì)施加到諧振電路的正弦信號(hào)執(zhí)行頻率掃描，以得到諧振頻率A，在頻率&下，諧振電路的電壓輸出達(dá)到最大值。然后，在諧振頻率&下，測(cè)量電壓V1和電壓\，并且在測(cè)量Q因數(shù)時(shí)使用所測(cè)量的電壓。如圖1所示，電壓V1是Q因數(shù)測(cè)量線圈11與信號(hào)源13之間的連接點(diǎn)處的電壓，而電壓&是0因數(shù)測(cè)量線圈11與電容器12之間的連接點(diǎn)處的電壓。通常，在測(cè)量Q因數(shù)時(shí)，LCR測(cè)量計(jì)用作Q因數(shù)測(cè)量裝置。由下面給出的方程I表示諧振電路的Q因數(shù)。在該方程I中，如上所述，參考符號(hào)V1表示Q因數(shù)測(cè)量線圈11與信號(hào)源13之間的連接點(diǎn)處的電壓，而參考符號(hào)Vc是Q因數(shù)測(cè)量線圈11與電容器12之間的連接點(diǎn)處的電壓。另一方面，參考符號(hào)R表示諧振頻率A下的串聯(lián)電阻。[方程I]
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)裝置，包括: 設(shè)有Q因數(shù)測(cè)量線圈和一個(gè)或多個(gè)電容器的諧振電路，所述諧振電路用作接收脈沖的電路； 響應(yīng)波形檢測(cè)部，其用于對(duì)所述諧振電路響應(yīng)于所述脈沖而輸出的響應(yīng)波形進(jìn)行檢測(cè)；和 Q因數(shù)測(cè)量部，其用于根據(jù)所述響應(yīng)波形檢測(cè)部檢測(cè)到的所述響應(yīng)波形來(lái)測(cè)量所述諧振電路的Q因數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其中，由所述響應(yīng)波形檢測(cè)部檢測(cè)到的所述響應(yīng)波形是時(shí)域響應(yīng)波形。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置，其中，所述Q因數(shù)測(cè)量部根據(jù)第一振幅和第二振幅測(cè)量所述諧振電路的所述Q因數(shù)，所述第一振幅是在第一時(shí)刻h處從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的，所述第二振幅是在第二時(shí)刻t2處從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的，所述第二時(shí)刻t2比所述第一時(shí)刻h滯后了預(yù)先確定的時(shí)間段。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)裝置，其中，當(dāng)所述諧振電路的諧振頻率由f表示，在所述第一時(shí)刻處從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的所述第一振幅由V1表示，且在所述第二時(shí)刻t2處從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的所述第二振幅由V2表示時(shí)，所述Q因數(shù)測(cè)量部根據(jù)以下方程測(cè)量所述Q因數(shù):Q 因數(shù)= Jif.U^t1)/In (V1A2)
5.如權(quán)利要求4所述的檢測(cè)裝置，其中，所述Q因數(shù)測(cè)量部在從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的所述第二振幅位于不包括所述第一振幅的預(yù)定振幅范圍中時(shí)測(cè)量所述Q因數(shù)。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測(cè)裝置，其中，針對(duì)從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的所述第二振幅設(shè)置的所述預(yù)定振幅范圍是從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的所述第一振幅的40%-25%的范圍。
7.如權(quán)利要求4所述的檢測(cè)裝置，其中，如果從所述時(shí)域響應(yīng)波形獲得的所述第二振幅在預(yù)定時(shí)間段內(nèi)沒有進(jìn)入不包括所述第一振幅的預(yù)定振幅范圍，所述Q因數(shù)測(cè)量部通過對(duì)經(jīng)過所述預(yù)定時(shí)間段后的時(shí)間點(diǎn)處的所述第二振幅進(jìn)行檢測(cè)來(lái)測(cè)量所述Q因數(shù)。
8.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置，其中，當(dāng)所述時(shí)域響應(yīng)波形在預(yù)定時(shí)間段內(nèi)出現(xiàn)的振動(dòng)的數(shù)量由“振動(dòng)數(shù)”表示，在所述預(yù)定時(shí)間段開始時(shí)獲得的振幅由V1表示，并且在所述預(yù)定時(shí)間段結(jié)束時(shí)獲得的振幅由V2表示時(shí)，所述Q因數(shù)測(cè)量部根據(jù)以下方程測(cè)量所述Q因數(shù): Q因數(shù)=π.振動(dòng)數(shù)/In (V1A2)
9.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，還包括: 確定部，其用于通過比較所述Q因數(shù)測(cè)量部測(cè)量的所述Q因數(shù)與預(yù)定基準(zhǔn)值來(lái)確定所述Q因數(shù)測(cè)量線圈與外部裝置之間的電磁耦合狀態(tài)。
10.如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)裝置，其中，所述Q因數(shù)測(cè)量線圈與所述外部裝置之間的所述電磁耦合狀態(tài)意味著在所述Q因數(shù)測(cè)量線圈與所述外部裝置之間是否存在有包括任何線圈或?qū)w的電路。
11.如權(quán)利要求10所述的檢測(cè)裝置，還包括: 控制部，其用于執(zhí)行控制，以在確定出在所述Q因數(shù)測(cè)量線圈與所述外部裝置之間存在有包括任何線圈或?qū)w的電路的情況下，停止從所述外部裝置輸出電力發(fā)送信號(hào)。
12.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其中，所述響應(yīng)波形檢測(cè)部檢測(cè)到的所述響應(yīng)波形是頻域響應(yīng)波形。
13.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)裝置，其中，所述諧振電路是串聯(lián)諧振電路，所述Q因數(shù)測(cè)量部根據(jù)兩個(gè)頻率之間的帶寬測(cè)量所述Q因數(shù)，，所述頻域響應(yīng)波形在每個(gè)所述兩個(gè)頻率處的振幅是所述頻域響應(yīng)波形在逝述串聯(lián)諧振電路的諧振頻率處的振幅的I/ V 2倍。
14.如權(quán)利要求12所述的檢測(cè)裝置，其中，所述諧振電路是并聯(lián)諧振電路，所述Q因數(shù)測(cè)量部根據(jù)兩個(gè)頻率之間的帶寬測(cè)量所述Q因數(shù)，所述頻域響應(yīng)波形在每個(gè)所述兩個(gè)頻率處的振幅是所述頻域響應(yīng)波形在逝述并聯(lián)諧振電路的諧振頻率處的振幅的V 2倍。
15.如權(quán)利要求1-14中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置，其中，施加到所述諧振電路的所述脈沖是單個(gè)脈沖。
16.如權(quán)利要求1-14中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置，還包括: 脈沖發(fā)生器，其用于產(chǎn)生所述脈沖，并將所述脈沖施加到所述諧振電路。
17.一種電力接收裝置，包括: 電力接收線圈，其電磁耦合到外部裝置； 電力接收部，其用于通過所述電力接收線圈從所述外部裝置接收電力；和 權(quán)利要求1-16中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置。
18.—種非接觸電力傳輸系統(tǒng),包括: 電力發(fā)送裝置，其用于通過采用非接觸傳輸技術(shù)發(fā)送電力；和 電力接收裝置，其用于從所述電力發(fā)送裝置接收所述電力， 其中，所述電力接收裝置包括: 電力接收線圈，其電磁耦合到所述電力發(fā)送裝置的電力發(fā)送線圈； 電力接收部，其用于通過所述電力接收線圈從所述電力發(fā)送裝置接收電力；和 權(quán)利要求1-16中任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置。
19.一種檢測(cè)方法，包括: 向設(shè)有Q因數(shù)測(cè)量線圈和一個(gè)或多個(gè)電容器的諧振電路施加脈沖； 對(duì)所述諧振電路響應(yīng)于所述脈沖而輸出的響應(yīng)波形進(jìn)行檢測(cè)；以及 根據(jù)所檢測(cè)的所述響應(yīng)波形測(cè)量所述諧振電路的Q因數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及檢測(cè)裝置、電力接收裝置、非接觸電力傳輸系統(tǒng)和檢測(cè)方法。檢測(cè)裝置包括設(shè)置有Q因數(shù)測(cè)量線圈和一個(gè)或多個(gè)電容器的諧振電路，其用作接收脈沖的電路；響應(yīng)波形檢測(cè)部，其用于對(duì)所述諧振電路響應(yīng)于所述脈沖而輸出的響應(yīng)波形進(jìn)行檢測(cè)；和Q因數(shù)測(cè)量部，其用于根據(jù)所述響應(yīng)波形檢測(cè)部檢測(cè)到的所述響應(yīng)波形來(lái)測(cè)量所述諧振電路的Q因數(shù)。另外，所述電力接收裝置和非接觸電力傳輸系統(tǒng)包含上述檢測(cè)裝置，且所述檢測(cè)方法是所述檢測(cè)裝置實(shí)施的方法。根據(jù)本發(fā)明，能夠提高對(duì)存在于電力發(fā)送側(cè)與電力接收側(cè)之間的金屬異物的檢測(cè)的精度。
文檔編號(hào)H02J17/00GK103176215SQ201210535508
公開日2013年6月26日 申請(qǐng)日期2012年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月21日
發(fā)明者込山伸二 申請(qǐng)人:索尼公司