一種薄膜電容檢測設備的制造方法
【專利摘要】本新型提供了一種薄膜電容檢測設備，包括送料機構、進料平移機構、主測試架、切腳機構、電容測試夾具線和包裝機構，電容測試夾具線為封閉的環狀，所述的電容測試夾具線設置多個電容測試夾具；所述的進料平移機構包括平移上夾和進料下夾，所述的平移上夾包括分腳進料夾、整型進料夾、不良下料夾和測試進料夾；所述的進料下夾包括左右移動引導槽、分腳座、整型座和測試座；所述的平移上夾底部設有凸起的軌道，與進料下夾的左右移動引導槽相配合，相對進料下夾左右移動。本新型將薄膜電容的引腳分離、整形、剪切以及點數包裝多個部分結合于一體，機臺的結構設置更為緊湊合理，同時把人工的分選環節高效變為自動化，節約了使用者的場地、人工。
【專利說明】
_種薄膜電容檢測設備
技術領域
[0001]本實用新型涉及生產設備領域，特別涉及到一種用于電容生產測試的設備。
【背景技術】
[0002]電容都具有兩個引腳，對于一般的薄膜電容而言，其引腳較長，在需要進行電路測試時需要人工將引腳打開再進行使用，而打開后，也需要人工對引腳進行整理，以方便引腳分別與兩電極極性匹配，這就無法有效提高測試、包裝整理的速度。同時在某些過程中，電容引腳不可避免地發生彎折過大或者彎折不一致的情況，這也大大增加了工人們繁瑣的工作量，也占用較大的廠房面積。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型要解決的技術問題是提供一種可自動對電容進行引腳整理、測試以及切斷的設備。
[0004]通過以下技術方案實現上述目的:
[0005]—種薄膜電容檢測設備，包括送料機構、進料平移機構、主測試架、切腳機構、電容測試夾具線和包裝機構，電容測試夾具線為封閉的環狀，所述的電容測試夾具線設置多個電容測試夾具，所述的進料平移機構、主測試架和切腳機構分別位于電容測試夾具線的一側;所述的進料平移機構包括平移上夾和進料下夾，所述的平移上夾包括分腳進料夾、整型進料夾、不良下料夾和測試進料夾，所述的分腳進料夾、整型進料夾、測試進料夾和不良下料夾依次放置，且位于同一直線上;所述的進料下夾包括左右移動引導槽、分腳座、整型座和測試座，所述的分腳座、整型座和測試座依次放置，且位于同一直線上;所述的平移上夾底部設有凸起的軌道，與進料下夾的左右移動引導槽相配合，相對進料下夾左右移動。
[0006]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的進料下夾還包括一不良下料座，不良下料座與所述的分腳座、整型座和測試座位于同一直線上。
[0007]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，還包括進料引導單元，所述的進料引導單元位于分腳進料夾前方，且與分腳進料夾位于同一水平面上。
[0008]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的整型座、測試座和不良下料座均為兩個相互分離夾持的塊結構。
[0009]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的切腳機構包括下壓限位塊、切刀、切腳夾和取料夾，所述切刀位于切腳夾的正下方，所述的取料夾通過氣缸驅動沿切腳夾上方水平移動。
[0010]本實用新型的有益效果是:將薄膜電容生產過程中的檢測、引腳分離、整形、剪腳、包裝多段工藝融為一臺機器，機臺的結構設置更為緊湊合理，同時把人工的分選環節高效變為自動化，減少了生產過程中的浪費，節約了使用者的場地、人工等生產成本。
【附圖說明】
[0011]圖1為本新型的整體結構示意圖；
[0012]圖2為平移上夾的結構示意圖；
[0013]圖3為進料下夾的結構示意圖；
[0014]圖4為切腳機構的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0015]以下結合附圖對本實用新型進行進一步說明:
[0016]以下實施例中所提到的方向用語，例如“上、下、左、右”僅是參考附圖的方向，因此，使用的方向用語是用來說明并非用來限制本實用新型。
[0017]如圖1-4所示，一種薄膜電容檢測設備，包括送料機構1、進料平移機構2、主測試架
3、切腳機構4、電容測試夾具線6和包裝機構5，電容測試夾具線為封閉的環狀，所述的電容測試夾具線6設置多個電容測試夾具，所述的進料平移機構2、主測試架3和切腳機構4分別位于電容測試夾具線6的一側;所述的進料平移機構2包括平移上夾和進料下夾，所述的平移上夾包括分腳進料夾21、整型進料夾22、不良下料夾23和測試進料夾24，所述的分腳進料夾21、整型進料夾22、測試進料夾24和不良下料夾23依次放置，且位于同一直線上;所述的進料下夾包括左右移動引導槽25、分腳座26、整型座27和測試座28，所述的分腳座26、整型座27和測試座28依次放置，且位于同一直線上;所述的平移上夾底部設有凸起的軌道，與進料下夾的左右移動引導槽25相配合，相對進料下夾左右移動。
[0018]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的進料下夾還包括一不良下料座29，不良下料座29與所述的分腳座26、整型座27和測試座28位于同一直線上，且位于測試座28的下一工位，當測試判斷不良時，將由不良下料座對物料進行分類。
[0019]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，還包括進料引導單元7，所述的進料引導單元位于分腳進料夾21前方，且與分腳進料夾21位于同一水平面上。在進入分腳進料夾21前，通過進料引導單元3可令夾持的位置更為準確。
[0020]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的整型座27、測試座28和不良下料座29均為兩個相互分離夾持的塊結構。
[0021]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的切腳機構4包括下壓限位塊41、切刀42、切腳夾43和取料夾44，所述切刀42位于切腳夾43的正下方，所述的取料夾44通過氣缸45驅動沿切腳夾43上方水平移動。
[0022]作為對上述一種薄膜電容檢測設備的進一步描述，所述的分腳座26為兩相互夾持的分腳塊，一分腳塊的中部為一向外凸起的“V”形分塊，另一分腳塊的中部為對應“V”形分塊形狀的凹陷分塊。由該“V”形分塊可直接插入電容兩引腳縫隙之間，借由兩分腳塊的合并，電容兩引腳也隨“V”形分塊的邊緣而逐漸分開，達到分離目的。
[0023]此設備的主要流程如下:
[0024]通過送料機構I的振動盤上料，進料平移機構2對進料產品分腳、整腳以保證產品整齊不損傷，然后進入主測試夾具。
[0025]進入主測試架后，通過專用電容測試夾具保證電容引腳與充電夾具之間的良好通導性，減少誤判，提尚良品率。
[0026]通過測試的良品進入切腳機構根據需求進行引腳的切割，良品隨后進入包裝機構內設置好數量的包裝盒，盒子每單次裝滿設置數量時可自動轉開，空盒子再自動轉過來接上，實現了自動精準點數，減少人為誤判。
[0027]以上所述并非對本新型的技術范圍作任何限制，凡依據本實用新型技術實質對以上的實施例所作的任何修改、等同變化與修飾，均仍屬于本新型的技術方案的范圍內。
【主權項】
1.一種薄膜電容檢測設備，包括送料機構、進料平移機構、主測試架、切腳機構、電容測試夾具線和包裝機構，電容測試夾具線為封閉的環狀，其特征在于:所述的電容測試夾具線設置多個電容測試夾具，所述的進料平移機構、主測試架和切腳機構分別位于電容測試夾具線的一側;所述的進料平移機構包括平移上夾和進料下夾，所述的平移上夾包括分腳進料夾、整型進料夾、不良下料夾和測試進料夾，所述的分腳進料夾、整型進料夾、測試進料夾和不良下料夾依次放置，且位于同一直線上；所述的進料下夾包括左右移動引導槽、分腳座、整型座和測試座，所述的分腳座、整型座和測試座依次放置，且位于同一直線上;所述的平移上夾底部設有凸起的軌道，與進料下夾的左右移動引導槽相配合，相對進料下夾左右移動。2.根據權利要求1所述的一種薄膜電容檢測設備，其特征在于:所述的進料下夾還包括一不良下料座，不良下料座與所述的分腳座、整型座和測試座位于同一直線上。3.根據權利要求1所述的一種薄膜電容檢測設備，其特征在于:還包括進料引導單元，所述的進料引導單元位于分腳進料夾前方，且與分腳進料夾位于同一水平面上。4.根據權利要求2所述的一種薄膜電容檢測設備，其特征在于:所述的整型座、測試座和不良下料座均為兩個相互分離夾持的塊結構。5.根據權利要求1所述的一種薄膜電容檢測設備，其特征在于:所述的切腳機構包括下壓限位塊、切刀、切腳夾和取料夾，所述切刀位于切腳夾的正下方，所述的取料夾通過氣缸驅動沿切腳夾上方水平移動。
【文檔編號】H01G13/00GK205645559SQ201620227337
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年3月22日
【發明人】王勇
【申請人】東莞市仟泰電子科技有限公司