專利名稱：一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器的制作方法
技術領域：
本發明涉及精密測試技術領域，具體涉及測試儀器用高性能射頻同軸連接器。
背景技術：
射頻同軸連接器，廣泛的應用于微波通信，郵電通訊工程，宇航計測系統，精密測試領域中。對于互調測試儀器用的高性能射頻同軸連接器，由于對連接器本身的互調要求很高，要求2@43dBm測試時，互調要求-166dBC，所以目前為止，只有國外幾家大公司能夠生產此類型的連接器。現有的解決射頻同軸連接器互調的辦法，通常是用無磁銅棒加工成殼體，然后電鍍三元合金，絕緣層采用聚四氟乙烯，內導體用彈性青銅制成，然后電鍍銀層。目前國內的互調測試儀器用高性能射頻同軸連接器，主要依賴國外廠家定制提供，訂貨，生產周期長，價格昂貴，往往從下單到拿到產品，耗時最短也要半年，這樣的供貨已嚴重與我國內的需求相背。而目前國內還沒有出現能替代進口連接器的廠家。現用的測試連接器，依靠進口，成本過高，訂貨周期過長，更換替代受國外廠家限制，給實際測試造成諸多不便。
發明內容
本發明提供一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器，本發明解決了現用的測試連接器，依靠進口，成本過高，訂貨周期過長，更換替代受國外廠家限制，給實際測試造成諸多不便的問題。為解決上述問題，本發明采用如下技術方案:一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器，包括內導體2、絕緣子3和導套5形成的組件，一個內導體2與一個整體的絕緣子3采用緊配合方式，內導體2從左向右壓入于絕緣子孔中，在內導體2內孔的右端緊配合一個導套5，內導體2右端面與導套5左端將絕緣子3夾緊；上述形成的組件整體從右向左壓配于殼體I的內腔中，絕緣子3與殼體I為過盈配合；襯管4由右向左壓入殼體I的內孔中，襯管4左端面頂在絕緣子3右端面邊沿，絕緣子3左端邊沿頂在殼體I內腔的臺階上。進一步地，本發明的一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器還具有如下特點:襯管4突出殼體I右端面的距離a的尺寸范圍為0.1 0.25mm，襯管4右端面的圓環平面的寬度C尺寸范圍為1.5 2mm。本發明是一種互調測試儀器用高性能射頻同軸連接器。本發明的高互調測試連接器，全部使用國內現有的材料與裝備，加工周期短，實際使用效果能達到進口產品的性能，方便了國內的測試儀器生產廠家研發出性價比更好的儀器，來服務更多的企業。
圖1是本發明結構示意圖。圖中符號說明:殼體1，內導體2，絕緣子3，襯管4，導套5。
具體實施例方式下面用最佳的實施例對本發明做詳細的說明。如圖1所示，一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器，包括內導體2、絕緣子3和導套5形成的組件，一個內導體2與一個整體的絕緣子3采用緊配合方式，內導體2從左向右壓入于絕緣子孔中，在內導體2內孔的右端緊配合一個導套5，內導體2右端面與導套5左端將絕緣子3夾緊，防止了絕緣子3的串動；上述形成的組件整體從右向左壓配于殼體I的內腔中，絕緣子3與殼體I為過盈配合，防止灰塵等細小顆粒物吸附在殼體的內壁上，從而影響產品的互調。一個兩端表面高光潔度的襯管4由右向左壓入殼體I的內孔中，襯管4左端面頂在絕緣子3右端面邊沿，絕緣子3左端邊沿頂在殼體I內腔的臺階上。襯管4突出殼體I右端面的距離a的尺寸范圍為0.1 0.25mm，襯管4右端面的圓環平面的寬度C尺寸范圍為1.5 2mm。本發明主要特點是:(一)襯管4與殼體I右端面之間專門設計了一個互調臺階環,高0.1 0.25mm,圓環平面寬度1.5 2mm,可以保證殼體之間接觸良好,從而使測試連接器的互調值長期穩定在較高的水平。(二)絕緣子采用整體結構，與殼體與內導體間均采用緊配合，防止使用過程中的 細小顆粒物吸附到連接器內部，從而保證產品的互調值一直穩定在很高的數值上。本發明與現有進口測試連接器相比的優點是:生產成本低，加工容易，生產周期短，滿足了現在國內測試儀器的發展需求。本發明與現有國內其它的測試連接器相比的優點是:專門設計了互調環，采用整體絕緣子，保證了測試連接器的互調性能長期穩定在高水平上。最后應說明的是:顯然，上述實施例僅僅是為清楚地說明本發明所作的舉例，而并非對實施方式的限定。對于所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見的變化或變動仍處于本發明的保護范圍之中。
權利要求
1.一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器，其特征在于，包括內導體(2)、絕緣子(3)和導套(5)形成的組件，一個內導體(2)與一個整體的絕緣子(3)采用緊配合方式，內導體(2)從左向右壓入于絕緣子孔中，在內導體(2)內孔的布端緊配合一個導套(5)，內導體(2)右端面與導套(5)左端將絕緣子(3)夾緊； 上述形成的組件整體從右向左壓配于殼體(I)的內腔中，絕緣子(3)與殼體(I)為過盈配合； 襯管(4)由右向左壓入殼體(I)的內孔中，襯管(4)左端面頂在絕緣子(3)右端面邊沿，絕緣子(3)左端邊沿頂在殼體(I)內腔的臺階上。
2.如權利要求1所述一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器，其特征在于，襯管(4)突出殼體(I)右端面的距離(a)的尺寸范圍為0.1 0.25mm，襯管(4)右端面的圓環平面的寬度(C)尺寸范圍為1.5 2mm。
全文摘要
本發明公開了一種測試儀器用高性能射頻同軸連接器，涉及精密測試技術領域，具體涉及測試儀器用高性能射頻同軸連接器。包括內導體、絕緣子和導套形成的組件，一個內導體與一個整體的絕緣子采用緊配合方式，內導體從左向右壓入于絕緣子孔中，在內導體內孔的右端緊配合一個導套，內導體右端面與導套左端將絕緣子夾緊；上述形成的組件整體從右向左壓配于殼體的內腔中，絕緣子與殼體為過盈配合；襯管由右向左壓入殼體的內孔中，襯管左端面頂在絕緣子右端面邊沿，絕緣子左端邊沿頂在殼體內腔的臺階上。本發明解決了現用的測試連接器，依靠進口，成本過高，訂貨周期過長，更換替代受國外廠家限制，給實際測試造成諸多不便的問題。
文檔編號H01R24/40GK103227395SQ201310100089
公開日2013年7月31日 申請日期2013年3月27日 優先權日2013年3月27日
發明者於俊杰, 王云蘭 申請人:江蘇宏信電子科技有限公司