專利名稱：一種電路測試儀的電路轉換裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及測試技術領域，特別涉及一種電路測試儀的電路轉換裝置。
背景技術：
在電子產品設計過程中，為了檢驗電路設計是否達到設計要求，或檢驗電路排布是否達到批量生產要求，需要使用測試儀進行測試；為了確保測試效果準確，要求待測試電路與測試儀連接穩固而通暢；但實際測試過程中，往往需要多次修訂并檢測，才能使待測試電路達到生產要求，因而待測試電路需與測試儀多次連接，這難免造成測試儀接口損傷。因此生產商多采用測試板作為待測試電路與測試儀之間的電路轉換裝置，目前電路測試儀的電路轉換裝置廣泛應用于各式各樣的電連接器和線材的測試中。現有技術中的測試板通常包括PCB板、設置在PCB板前端部的測試頭，以及設置于 PCB板后端部的依次排列的引腳，測試頭通過PCB板電路與引腳相連，然而該現有技術的測試板在測試時，需要先將測試線一根根焊接在引腳上，然后將測試頭與測試儀插接進行測試，在使用過程中，由于測試板需要頻繁被拔插，當PCB板或測試頭等由于頻繁拔插而損壞時，就必須更換整個測試板，測試線也不得不重新焊接，操作繁瑣。另外，隨著信息技術的發展，電子設備越來越復雜，電連接器上的線路和零件也越來越密集，相應的測試板上引腳的排列也越來越緊湊，當引腳越來越小，密度越密時，其焊接的難度就越大，焊線也越麻煩，當測試線與引腳進行焊接時，由于引腳的間隔距離小，測試線與引腳對位定位難度大，焊接操作中相互干擾大，線路連接不穩定，導致測試過程費時費力，容易造成人為失誤，測試效率低。
發明內容本實用新型的目的在于針對現有技術的不足而提供一種操作簡單、線路連接穩定、人為失誤小且測試效率高的電路測試儀的電路轉換裝置。為實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案。一種電路測試儀的電路轉換裝置，包括PCB板，以及設置于PCB板前端部的與測試儀配合使用的測試頭，還包括排針座，以及與測試線相連接的排母座，所述排針座固接于 PCB板的后端部，所述測試頭通過PCB板電路與排針座相連，所述排針座的后端部與排母座插接。本實用新型還包括如下的進一步技術方案。其中，所述PCB板的后端部開設有通孔，所述排針座插接于所述通孔。其中，所述通孔在PCB板的后端部呈上下兩排排列，所述PCB板電路包括設置于 PCB板上表面的上PCB板電路和設置于PCB板下表面的下PCB板電路，所述上PCB板電路和下排的通孔相連，所述下PCB板電路和上排的通孔相連。其中，所述排針座包括與通孔配合使用的排針和開設有排針插槽的排針殼體，所述排針穿過并伸出排針殼體，所述排針包括上排排針和下排排針，所述上排排針的前端部
3與上排的通孔插接，所述下排排針的前端部與下排的通孔插接。其中，所述排母座包括與排針配合使用的排母端子和開設有排母端子插槽的排母殼體，所述排母端子包括上排排母端子和下排排母端子，所述排母端子的前端部固定于排母端子插槽內，所述排母端子的后端部穿過并伸出排母殼體。其中，所述PCB板電路的后端部成型有與通孔形狀相匹配的插接部，所述插接部套設于所述通孔內。其中，所述PCB板后端部的PCB板電路的密度大于PCB板前端部的PCB板電路的
也/又。其中，所述PCB板開設有螺紋孔，所述PCB板與一底板螺接。其中，上排的所述通孔與下排的所述通孔相對并列設置。其中，上排的所述通孔與下排的所述通孔相對錯位設置。本實用新型有益效果為本實用新型的一種電路測試儀的電路轉換裝置，包括 PCB板，以及設置于PCB板前端部的與測試儀配合使用的測試頭，還包括排針座，以及與測試線相連接的排母座，所述排針座固接于PCB板的后端部，所述測試頭通過PCB板電路與排針座相連，所述排針座的后端部與排母座插接。由于排母座和排針座插接，避免重復焊線， 操作簡單且確保線路連接穩定，便于拆卸更換PCB板，測試效率高，使用方便；此外，排針座和排母座插接連接，降低焊接操作對位定位難度，有效避免人為失誤，為測試電路的頻繁拔插提供方便，測試效率高。
[0018]利用附圖對本實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制U[0019]圖1是本實用新型--種電路測試儀的電路轉換裝置的結構示意圖。[0020]圖2是本實用新型--種電路測試儀的電路轉換裝置的正面結構示意圖。[0021]圖3是本實用新型--種電路測試儀的電路轉換裝置的背面結構示意圖。[0022]圖4是本實用新型--種電路測試儀的電路轉換裝置的分解結構示意圖。[0023]圖5是附圖4中“A’’位置的結構放大示意圖。[0024]圖6是本實用新型--種電路測試儀的電路轉換裝置固定于底板的結構示意圖。[0025]在圖1至圖6中包括有[0026]1—-PCB 板11—通孔[0027]12—一PCB板電路121——上PCB板電路[0028]122-—下PCB板電路13——插接部[0029]14—一螺紋孔2——測試頭[0030]3——-排針座31——排針[0031]311-——上排排針312——下排排針[0032]32—一排針殼體321——排針插槽[0033]4——一排母座41——排母端子[0034]411-——上排排母端子412——下排排母端子[0035]42—一排母殼體421——排母端子插槽[0036]5——底板51——凹槽。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，
以下結合附圖和實施例對本實用新型進行進一步詳細說明。實施例一。如圖1至圖6所示，一種電路測試儀的電路轉換裝置，包括PCB板1，以及設置于 PCB板1前端部的與測試儀配合使用的測試頭2，還包括排針座3，以及與測試線相連接的排母座4，所述排針座3固接于PCB板1的后端部，所述測試頭2通過PCB板電路12與排針座 3相連，所述排針座3的后端部與排母座4插接。測試前，排針座3固接于PCB板1的后端部，測試頭2通過PCB板電路12與排針座3電連接，測試頭2、PCB板1和排針座3即形成一套件；測試時，使測試頭2與測試儀插接連接，與此同時將測試線與排母座4焊接連接，再將排母座4與排針座3插接連接，使得測試線與測試儀電性導通，即可進行測試。排母座4和排針座3插接連接，組裝方便，確保線路連接穩定，提高測試效率；測試完畢后，取下排母座4即可進行下一次的測試，一組測試線在進行測試時，還可同時將另一組待測的測試線先焊接在排母座4上，每次測試只需要拔插排母座4，使用方便。本實用新型操作簡單，一旦PCB板1由于頻繁插拔而損壞時，取下排針座3和排母座4，拆卸更換設置有測試頭2的PCB板1，只需要在排母座4上焊一次線即可進行測試，使用方便，測試效率高。此外，排針座3和排母座4插接連接，降低焊接操作對位定位難度，有效避免人為失誤，為測試電路的頻繁拔插提供方便，提高測試效率。本實施例中PCB板1的后端部開設有通孔11，所述排針座3插接于所述通孔11。 排針座3插接于通孔11中，使排針座3與PCB板1固接連接，有效避免焊接固接帶來的麻煩，防止焊線時產生人為誤差，省時省力，一次插接便可進行多次測試，提高本實用新型的測試效率。本實施例中通孔11在PCB板1的后端部呈上下兩排排列，所述PCB板電路12包括設置于PCB板1上表面的上PCB板電路121和設置于PCB板1下表面的下PCB板電路122， 所述上PCB板電路121和下排的通孔11相連，所述下PCB板電路122和上排的通孔11相連。通孔11在PCB板1的后端部呈上下兩排排列，增大焊接間距，降低焊接操作對位定位難度，有效避免焊接操作過程中的干擾而導致線路連接不穩定，避免產生人為失誤，有效提高測試效率。上PCB板電路121和下排的通孔11相連，所述下PCB板電路122和上排的通孔11相連，有效增大PCB板電路12的分布密度，便于加工成型，提高PCB板1的使用可靠性。本實施例的排針座3包括與通孔11配合使用的排針31和開設有排針插槽321的排針殼體32，所述排針31穿過并伸出排針殼體32，所述排針31包括上排排針311和下排排針312，所述上排排針311的前端部與上排的通孔11插接，所述下排排針312的前端部與下排的通孔11插接。上排排針311和上排的通孔11插接，下排排針312和下排的通孔11 插接，確保排針31和測試頭2分別電性導通，且排針座3與PCB板1插接，便于組裝，操作方便，提高使用便利性。本實施例的排母座4包括與排針31配合使用的排母端子41和開設有排母端子插
5槽421的排母殼體42，所述排母端子41包括上排排母端子411和下排排母端子412，所述排母端子41的前端部固定于排母端子插槽421內，所述排母端子41的后端部穿過并伸出排母殼體42。測試線分別焊接于排母端子41的后端部，排針31的后端部與排母端子41的前端部插接連接并固定在排母端子插槽421內，確保測試線與測試儀電性導通，電連接穩定性高，測試效果好，只需要焊一次線即可完成測試，有效避免PCB板1因頻繁拔插損壞而導致重復焊線，提高測試效率。優選地，本實施例中排母端子41呈音叉形。排母座4與排針座3插接時，由于排母端子41呈音叉形，當排針31的后端與音叉形的排母端子41的叉位相抵時，則排針31與排母端子41電連接，確保測試線與測試頭2電性導通，排針31與排母端子41抵接連接確保排針31與排母端子41連接穩定，方便組裝，操作簡單，提高本實用新型的使用便利性。本實施例中PCB板電路12的后端部成型有與通孔11形狀相匹配的插接部13，所述插接部13套設于所述通孔11內，排針31與通孔11插接時，由于插接部13套設在通孔 11內，則排針31的外側面與插接部13的內側面相接觸而實現電連接，具體地，插接部13的外側面與通孔11的內側面形狀相匹配，增大了排針31與PCB板電路12的接觸面積，確保排針31與測試頭2連接穩定，提高測試效率。本實施例中PCB板1后端部的PCB板電路12的密度大于PCB板1前端部的PCB 板電路12的密度，通過PCB板電路12將緊湊的測試儀接口電路轉移至PCB板1，通過PCB 板電路12的轉換，在PCB板1后端的通孔11插接排針座3，降低測試線焊接連接的對位定位難度，有效降低人為誤差。因此，測試線接入本實用新型的連接方式，既可采用焊接連接， 亦可采用排針座3或排母座4等標準件進行連接，這提高了加工操作便利性，擴大了工藝結構可選擇范圍，提高了適用范圍。本實施例中PCB板1開設有螺紋孔14，所述PCB板1與一底板5螺接。將PCB板 1固定在底板5上，避免在測試過程中PCB板1發生偏移，確保在測試過程中電性連接穩定， 信號傳輸效果好。優選的，底板5對應通孔11的位置開設有凹槽51，便于排針座3與PCB 板1插接連接，提高本實用新型的使用便利性。本實施例中上排的所述通孔11與下排的所述通孔11相對并列設置，使同一個PCB 板1中可設置的通孔11數量增加，當待測試成品為導線時，則每次測試的導線的數量亦可增加，提高測試效率；當待測試成品為電連接器等電子設備時，同一個PCB板1中可設置的通孔11數量的增加能較好地適應現代電子元件多線路、多端子的需要。實施例二。與實施例一不同的是，本實施例的上排的所述通孔11與下排的所述通孔11相對錯位設置，相應的，所述PCB板1的上PCB板電路121和下PCB板電路122亦錯位分布，這增大了 PCB板電路12的分布密度，降低了使用過程中因瞬時高壓而使PCB板1被擊穿的風險，提高了 PCB板1的使用可靠性，進一步延長了本實用新型的使用壽命。本實施例其余部分與實施例一相同，這里不再贅述。以上所述僅是本實用新型的較佳實施方式，故凡依本實用新型專利申請范圍所述的構造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均包括于本實用新型專利申請范圍內。
權利要求1.一種電路測試儀的電路轉換裝置，包括PCB板，以及設置于PCB板前端部的與測試儀配合使用的測試頭，其特征在于還包括排針座，以及與測試線相連接的排母座，所述排針座固接于PCB板的后端部，所述測試頭通過PCB板電路與排針座相連，所述排針座的后端部與排母座插接。
2.根據權利要求1所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述PCB板的后端部開設有通孔，所述排針座插接于所述通孔。
3.根據權利要求2所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述通孔在 PCB板的后端部呈上下兩排排列，所述PCB板電路包括設置于PCB板上表面的上PCB板電路和設置于PCB板下表面的下PCB板電路，所述上PCB板電路和下排的通孔相連，所述下PCB 板電路和上排的通孔相連。
4.根據權利要求3所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述排針座包括與通孔配合使用的排針和開設有排針插槽的排針殼體，所述排針穿過并伸出排針殼體，所述排針包括上排排針和下排排針，所述上排排針的前端部與上排的通孔插接，所述下排排針的前端部與下排的通孔插接。
5.根據權利要求4所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述排母座包括與排針配合使用的排母端子和開設有排母端子插槽的排母殼體，所述排母端子包括上排排母端子和下排排母端子，所述排母端子的前端部固定于排母端子插槽內，所述排母端子的后端部穿過并伸出排母殼體。
6.根據權利要求5所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述PCB板電路的后端部成型有與通孔形狀相匹配的插接部，所述插接部套設于所述通孔內。
7.根據權利要求6所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述PCB板后端部的PCB板電路的密度大于PCB板前端部的PCB板電路的密度。
8.根據權利要求7所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于所述PCB板開設有螺紋孔，所述PCB板與一底板螺接。
9.根據權利要求1至8中任意一項所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于上排的所述通孔與下排的所述通孔相對并列設置。
10.根據權利要求1至8中任意一項所述的一種電路測試儀的電路轉換裝置，其特征在于上排的所述通孔與下排的所述通孔相對錯位設置。
專利摘要本實用新型涉及測試技術領域，特別涉及一種電路測試儀的電路轉換裝置，包括PCB板，以及設置于PCB板前端部的與測試儀配合使用的測試頭，還包括排針座，以及與測試線相連接的排母座，所述排針座固接于PCB板的后端部，所述測試頭通過PCB板電路與排針座相連，所述排針座的后端部與排母座插接。由于排母座和排針座插接，避免重復焊線，操作簡單且確保線路連接穩定，便于拆卸更換PCB板，測試效率高，使用方便；此外，排針座和排母座插接連接，降低焊接操作對位定位難度，有效避免人為失誤，為測試電路的頻繁拔插提供方便，測試效率高。
文檔編號H01R13/66GK202042780SQ201120067758
公開日2011年11月16日 申請日期2011年3月15日 優先權日2011年3月15日
發明者周法勇 申請人:周法勇