專利名稱：6線0.95節距陶瓷無引線片式載體老化測試插座的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，是能對6線節距為0. 95mm的陶 瓷無引線片式載體元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。屬電子信息技術電子元 器件可靠性領域。
背景技術：
目前，在我國電子元器件可靠性技術領域，公知的國內一般老化試驗插座的本 體材料大都采用的是非耐高溫普通塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅 為-25°C +85°C，工作時間短、節距寬、結構簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、老 化溫度低、一致性差和使用壽命短的重大缺陷，不能滿足對器件的質量篩選和性能指標的 測試要求，容易引發工程質量事故。國內在可靠性技術領域內特別是對配套于神舟飛船、大 推力火箭、衛星、核潛艇、洲際導彈及其它國防軍工、航天、航空、航海、通信等重點國防尖端 武器裝備等重大項目的集成電路、微電子元器件，尚無高低溫老化、測試、篩選及可靠性試 驗的專用測試裝置，所使用的測試插座大量依賴國外進口，價格極為昂貴，國家每年要花費 大筆外匯進口產品，訂貨周期較長，特殊規格的產品無法訂貨，部分重要產品還因禁運而影 響我國軍用電子元器件研發生產進度。
發明內容為克服現有老化試驗插座的工作時間短、節距寬、結構簡單的技術缺陷和接觸電 阻大、老化溫度低、一致性差和使用壽命短的不足，本實用新型提供一種新型的專用于集成 電路、微電子元器件在線通電狀態下進行高低溫老化、測試、篩選及可靠性試驗的6線0. 95 節距陶瓷無引線片式載體老化測試插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從_25°C +85°C擴展至_55°C +150°C，一次老化連續工作時間長達IOOOh (150°C )以上，插拔壽命 3000次以上，而且在對被測試器件進行高低溫老化、測試、篩選及可靠性試驗過程中，具有 接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優點，大大提高了插座 的可靠性和使用壽命。本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是按照6線陶瓷無引線片式載體元 器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成插座體、接觸件兩大組成部分，即由插座體和接 觸件兩個部分統一組成。插座體由座、蓋和鉤組成，選用進口的耐高溫型特種工程塑料，經 高溫注塑成型工藝技術制造成插座本體，用于接觸件固定。座體上的斜面為定位和壓緊設 計，用于被試器件的定位安裝，方便被試器件的放入和取出，同時插座體可起壓緊裝置作 用。接觸件采用彈性結構曲梁式設計及硬金層技術表面鍍金，接觸件由軸向對稱的6線鍍 金簧片兩面排列組成，節距僅有0. 95mm，分別安裝于座的兩面凹槽中，在同系列的產品中屬 于細小節距結構設計。插座的壓緊裝置由座、蓋、鉤組成。這種翻蓋式機構把接觸件設計成零插拔力的結構，避免了接觸件插拔時磨損電鍍 層，影響電接觸性能，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環境弱、一致性差和機械壽命不長的技術難點。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用6線0.95節距和其它同 類陶瓷無弓I線片式載體元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內空白，替代進口，為國 家節約了外匯，為用戶節約了成本，可以獲得較大的經濟效益和社會效益。
以下結合附圖和實施方式對本實用新型作進一步說明。
圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。圖2是本實用新型外型結構俯視圖。圖11座2前腳接觸件3后腳接觸件4軸5蓋6壓簧7鉤
具體實施方案在圖1中，第一步將接觸件即前腳接觸件( 和后腳接觸件C3)按與被試器件引 出線相對應結構插入座(1)中；第二步將鉤(7)、壓簧(6)和軸(4)裝入蓋(5)內；第三 步再將裝好的蓋(5)和軸⑷裝入座⑴內。該方案中，插座座體用于接觸件的固定，同時用于被試器件的安裝定位；插座體還 起著壓緊裝置的作用，當鉤受力向下翻轉與座嚙合時，蓋向下產生位移，被試器件自動壓緊 接觸件；接觸件由鍍金簧片按與被試器件引出線相對應、自動壓緊和零插拔力結構安裝于 插座體的座中。
權利要求1.一種6線0. 95節距陶瓷無引線片式載體老化測試插座，其特征是插座設計成兩大 組成部分，即由插座體和接觸件兩個部分統一組成，插座體由座(1)、蓋( 和鉤(7)組成， 接觸件O)、(3)采用彈性結構曲梁式設計及硬金層技術表面鍍金，由軸向對稱的兩面簧片 組成，節距僅有0.95mm，安裝于插座體座(1)上。
2.根據權利要求1所述的6線0.95節距陶瓷無引線片式載體老化測試插座，其特征 是插座體和接觸件是一個統一整體，接觸件O)、(3)由軸向對稱的6線0.95mm節距的鍍 金簧片兩面排列組成，分別安裝于座(1)的兩面凹槽中。
3.根據權利要求1所述的6線0.95節距陶瓷無引線片式載體老化測試插座，其特征 是插座的壓緊裝置由座(1)、蓋(5)、鉤(7)組成，座體上的斜面為定位和壓緊設計。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，是能對6線陶瓷無引線片式載體封裝元器件可靠性進行高低溫老化、測試、篩選及可靠性試驗的插座。插座設計成兩大組成部分，即插座體、接觸件。插座體由座、蓋和鉤組成，插座座體斜面還具有定位功能和壓緊裝置，用于被試器件的定位安裝。當鉤受力向下翻轉與座嚙合時，使蓋向下產生位移，從而使被試器件壓緊接觸件。接觸件采用彈性結構曲梁式設計，節距僅有0.95mm，屬于細小節距結構設計，由軸向對稱、分布均勻的兩面簧片組成，并與被試器件引出線相對應的方式，安裝于插座體座上。通電后進行高溫老化試驗和性能測試。
文檔編號H01R13/46GK201868650SQ20102028197
公開日2011年6月15日 申請日期2010年8月2日 優先權日2010年8月2日
發明者曹宏國 申請人:曹宏國