專利名稱：64線0.5節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，是能對64線0.5mm節距陶瓷四 邊引線扁平封裝元器件可靠性進行高溫老化篩選試驗和性能測試的插座；本實用新型屬電 子信息技術微電子元器件可靠性領域。
背景技術：
目前，在我國電子元器件可靠性技術領域，公知的國內一般老化試驗插座的本 體材料大都采用的是非耐高溫普通塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅 為-25°C +85°C，工作時間短、接觸件節距寬、引線根數少、結構簡單，存在著與被測器件 之間接觸電阻大、老化溫度低、一致性差和使用壽命短的重大缺陷，不能滿足對器件的質量 篩選和性能指標的測試要求，容易引發工程質量事故。國內在可靠性技術領域內特別是對 配套于神舟飛船、大推力火箭、衛星、核潛艇、洲際導彈及其它國防軍工、航天、航空、航海、 通信等重點國防尖端武器裝備等重大項目的集成電路、微電子元器件，尚無高低溫老化可 靠性試驗和測試的專用測試裝置，所使用的測試插座大量依賴國外進口，價格極為昂貴，國 家每年要花費大筆外匯進口產品，訂貨周期較長，特殊規格的產品無法訂貨，部分重要產品 還因禁運而影響我國軍用電子元器件研發生產進度。
發明內容為克服現有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不 足，本實用新型提供一種新型的專用于集成電路、微電子元器件在線通電狀態下進行高低 溫老化、測試、篩選及可靠性試驗的64線節距僅為0. 5mm的陶瓷四邊引線扁平封裝元器件 插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25°C +85°C擴展至-55°C +150°C，一次老 化連續工作時間長達1500h(150°C)以上，插拔壽命8000次以上，而且在對被測試器件進行 高溫老化試驗和性能測試過程中，具有引線根數多、接觸件節距細、接觸電阻小、一致性好、 低插拔力、表面耐磨和使用方便的優點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是按照64線0. 5節距陶瓷四邊引 線扁平封裝元器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即插座體、接觸件 和定位裝置。插座體主要由座、蓋和鉤組成，選用耐高溫型工程塑料，經高溫注塑成型工藝 技術制造成插座本體，接觸件由軸向對稱的64線、0. 5mm細節距的鍍金簧片縱向排列組成， 與被試器件引出線相對應，分別安裝于座的4面凹槽中。插座的鎖緊裝置由座、蓋、鉤、壓塊 和定位板組成，插座體的座、蓋、鉤及壓塊和定位板可起壓緊裝置作用，當被試器件放在定 位板上，鉤受力向下翻轉與座嚙合時，使蓋及安裝在蓋上的壓塊產生位移，由于壓塊向下運 動，被試器件壓緊接觸件，而定位板四個腳上有壓簧，有很好的彈性，促使插座達到更好的 壓緊效果。該實用新型在同一系列中屬于細節距結構，接觸件的節距僅有0. 5mm。采用與被 試器件引出線相對應的方式，并由中心對稱、四面排列形式組成。該實用新型還采用由定位 板和壓塊組成定位裝置的新樣式，被試器件的引線與接觸件相對應并安裝在定位板上。通電后進行高溫老化試驗和性能測試。這種翻蓋式結構設計成零插拔力式的結構，可避免接 觸件插拔時磨損電鍍層，影響電接觸性能，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中 的接觸電阻大、耐環境弱、一致性差和機械壽命不長的技術難點，還可以滿足被試器件不同 引線的要求。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用64線和其它同類陶瓷 四邊引線扁平封裝元器件高溫老化試驗和性能測試；本實用新型的研制成功填補了國內空 白，替代進口，為國家節約了外匯，為用戶節約了成本，可以獲得較大的經濟效益和社會效果。
以下結合附圖和實施方式對本實用新型作進一步說明。
圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。圖2是本實用新型外型結構俯視圖。圖1 :1中腳接觸件(簧片)2座3前腳接觸件(簧片)4定位板5壓簧6后腳 接觸件(簧片)7軸8扭簧9蓋10壓塊11軸12壓簧13鉤
具體實施方式
在圖1中，第一步將接觸件即前腳簧片(3)中腳簧片⑴和后腳簧片(6)按與 被試器件引出線相對應的結構插入座O)中；第二步將鉤(13)、壓簧(12)、軸(7)裝入蓋 (9)內；第三步將壓簧(5)和定位板⑷裝入座(2)內；第四步將壓塊(10)、軸(11)裝 入蓋(9)內；第五步再將裝好的蓋(9)、軸(7)和扭簧⑶裝入座⑵內。該方案中，插座體用于被試器件的自動壓緊，當鉤受力向下翻轉與座嚙合時，被試 器件自動壓緊接觸件；接觸件由鍍金簧片按與被試器件引出線相對應、自動壓緊和零插拔 力結構安裝于插座體的座中；還采用由定位板和壓塊進行定位的新樣式，確保被試器件放 入時的引線與接觸件相對應并；定位塊下的壓簧可以確保接觸件受力均勻。
權利要求1.一種64線0. 5節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其特征是它是由插 座體、接觸件和定位裝置三個部分統一組成，插座體由座( 、蓋(9)和鉤(1 組成，插座體 選用耐高溫型工程塑料，經高溫注塑成型工藝技術制造而成，接觸件(1)、(3)、(6)與被試 器件引出線相對應并安裝于插座體的座中。
2.根據權利要求1所述的64線0.5節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其 特征是插座體和接觸件(1)、(3)、(6)是一個統一整體，接觸件(1)、(3)、(6)由軸向對稱 的64線、0. 5mm細節距的鍍金簧片縱向排列組成，分別安裝于座的4面凹槽中。
3.根據權利要求1所述的64線0.5節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其 特征是插座的鎖緊裝置由座O)、蓋(9)、鉤(13)、壓塊(10)和定位板(4)組成，定位板四 個腳上有壓簧(5) (12)，這種翻蓋式結構把接觸件設計成自動壓緊鎖、零插拔力結構。
4.根據權利要求1所述的64線0.5節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其 特征是插座的定位裝置由壓塊(10)和定位板(4)組成，被試器件的引線與接觸件相對應 并安裝在定位板上。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，能對64線0.5節距陶瓷四邊引線扁平封裝元器件可靠性進行高溫老煉篩選和性能測試的插座。本實用新型按64線0.5節距陶瓷四邊引線扁平封裝型的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即插座體、接觸件和定位裝置。插座體由座、蓋和鉤組成，插座體還起壓緊裝置作用，當被試器件安裝在定位板上后，鉤受力向下翻轉與座嚙合時，蓋及壓塊向下運動，使被試器件壓緊接觸件。接觸件采用與被試器件引出線相對應的方式，并由中心對稱、四面排列形式組成。定位裝置由定位板和壓塊組成。
文檔編號H01R13/42GK201927782SQ20102028194
公開日2011年8月10日 申請日期2010年8月2日 優先權日2010年8月2日
發明者曹金學 申請人:曹金學