專利名稱：一種發光二極管的電性參數測試電路的制作方法
技術領域：
本發明涉及電子電路測試領域，特別涉及到一種發光二極管的電性參數測 試電路。
背景技術：
通常發光二極管經封裝完成后，需要對其電性參數或光學參數進行測試， 以確保其相關性能指標和可適用性。以前的測試方法主要是利用專用的發光二極管儀器完成，普遍存在效率低，精準度低的缺點；目前普遍使用的是自動化 程度較高且精度較高的電路完成測試，該測試方法比以前的人工分光相比，存 在很大的進步，但其本身仍存在一些缺陷，比如在測試發光二極管正向電壓時， 發光二極管與正向恒流源導通后，發現通過發光二極管的正向電流隨時間的延 長有所降低，并且降到一頂程度后才會穩定，因此，直接導致了所測發光二極 管正向電壓值偏高；并且在不同的電壓環境下，測試發光二極管的各項電性參 數都會有較大誤差；在測試電路中所選用的電子元器件的精度，靈敏度不同， 往往也會導致測試結果存在誤差，并且電流源或電壓源的調整范圍較小，同樣 也影響了可測試發光二極管對象的范圍。發明內容本發明提供了一種發光二極管的電性參數測試電路，其中，電阻R1、 R2 與R3串聯，連接在地線與恒壓源/恒流源之間，由計算機上層控制軟件控制恒 壓源/恒流源的輸出，電阻R2兩端的取樣電壓與指定的標準電壓源均通過切換 電路輸入至計算機上層控制軟件；標準電壓源接入電路，構成本電路的校準回 路；計算機上層控制軟件分別與D/A恒壓源基準和D/A恒流源基準相接，所 述D/A恒壓源基準和D/A恒流源基準分別提供了各自的參考電壓，所述D/A 恒壓源基準通過與其對應的比4交器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3 之間的節點電位與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒壓源相關的反饋電 路，該比較器的輸出端與恒壓源連接，恒壓源與其反饋電路路構成本電路的恒 壓控制回路；在所述的第二回路中，比較器將電阻R2和R3之間的節點電位 和D/A恒壓源基準的輸入電壓進行比較判斷，確保FH點電位處于所控制的電
位范圍之內；所述D/A恒流源基準通過與其對應的比較器的一個輸入端與恒 流源相連，電阻R1兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒 流源相關的反饋電路，該比較器的輸出端與恒流源連接，恒流源與其反饋電路 路構成本電路的恒流控制回路；所述的第三回路中與D/A恒流源基準相對應 的比較器將電阻R1兩端的取樣電壓與D/A恒流源基準提供的輸入電壓進行比 較判斷，確保通過R1的電流在控制的有效范圍之內；測試待測發光二極管時， 電阻R3與電阻R1、 R2斷開，待測發光二極管與電阻R1、 R2串聯。通過以上技術方案可以看出，本發明有以下優點首先，電路中設置有標準電源，提供整個電路自檢標準電源，防止測試產 生誤差；其次，D/A恒流源基準和D/A恒壓源基準分別提供高精度的恒流源和恒 壓源的參考電壓；再次，集成運算放大器和單管放大組合方式提供電源，提高電源輸出功率； 最后，電路中包括反饋電路，提高了電源的輸出精度。
下面結合附圖和具體實施方式
對本發明作進一步詳細的說明圖1是本發明提供發光二極管的電性參數測試電路的電路圖；圖2是圖1所示電路的原理流程圖；圖3為本發明第一實施例流程圖；圖4為本發明第二實施例流程圖。
具體實施方式
圖1描述的是本發明所提供的發光二極管的電性參數測試電路的電路圖， 其中，電阻R1、 R2與R3串聯，連接在電源與地線與恒壓源/恒流源之間， 由計算機上層控制軟件控制恒壓源/恒流源的輸出，電阻R2兩端的取樣電壓與 指定的標準電壓源均通過切換電路輸入至計算機上層控制軟件；標準電壓源接 入電路，可以完成對整個電路進行校驗；計算機上層控制軟件分別與D/A恒
壓源基準和D/A恒流源基準相接，所述D/A恒壓源基準通過與其對應的比較 器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3之間的節點電位與比較器的另 一個輸入端相連，形成與恒壓源相關的反饋電路，該比較器的輸出端與恒壓源 連接，恒壓源與其反饋電路路構成本電路的第二回路；所述D/A恒流源基準 通過與其對應的比較器的一個輸入端與恒流源相連，電阻Rl兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒流源相關的反饋電路，該比較器的輸 出端分別與恒流源連接，恒流源與其反饋電路路構成本電路的第三回路；發光 二極管與電阻R3可開關并聯，并上報發光二極管的兩端電壓至計算機上層軟 件顯示。圖2描述的是發光二極管的電性參數測試電路的電路圖的原理流程圖。包 括步驟Dl)對電路進行校準，包括對增益和A/D通路的校驗、恒流源方式下的 電路校驗、恒壓源方式下的電路校驗；D2)用戶根據需要提出測試請求，請求消息所包括的信息通過上層軟件 以及ISA插槽傳送至所述發光二極管的電性參數測試電路中；D3)所述發光二極管的電性參數測試電路根據其中的地址與數據，控制 發光二極管的電性參數測試電路工作在恒流源方式或者恒壓源方式；D4)所述發光二極管的電性參數測試電路工作在恒流源方式或者恒壓源 方式，并完成對發光二極管電性參數的測試，并將電性參數上報至上層軟件。請參閱圖3，為本發明第二實施例流程圖，該實施例主要反映了所述發光 二極管的電性參數測試電路工作于恒流源方式時，本發明完整的實施過程。Sl )標準電壓源接入電路，完成對整個電路進行校驗，并自動校準補償值；S2)上層軟件根據用戶信息自動計算并輸出數據至D/A恒流源基準進行 數據轉換；S3 )設置所述發光二極管的電性參數測試電路工作于正向恒流源方式；S4)將轉換后的結果與電阻R1兩端的取樣電壓進行比較，并根據比較結 果控制所述正向恒流源輸出正向恒定電流； S5 )根據簡單算法測試發光二極管的正向電壓和反向電壓；具體方法表現 為恒定電路中通過R1的正向電流和反向電流，測試出FH與FL之間的差值 電壓，將所述差值電壓的數值返回計算機，從而完成了對發光二極管的正向電 壓和反向電壓的測試。請參閱圖4，為本發明第三實施例流程圖，該實施例主要反映了所述發光 二極管的電性參數測試電路工作于恒壓源方式時，本發明完整的實施過程。Jl )標準電壓源接入電路，完成對整個電路進行校驗，并自動校準補償值；J2 )上層軟件根據用戶信息自動計算并輸出數據至D/A恒壓源基準進行數 據轉換，恒定FH點的點電壓；J3 )設置所述發光二極管的電性參數測試電路工作于恒壓源方式；J4 )將經D/A恒壓源基準轉換后的結果與FH點的點電壓進行比較，并根 據比較結果控制FH點的點電壓工作在指定電壓下；J5 )并測試發光二極管的正向電流和反向電流兩個參數，具體方法表現為 恒定電路中FH與FL之間的差值電壓，并測試通過R2的電流I，因為電阻R2 與發光二極管串聯在電路中，所以電流I即為發光二極管的電流值，將電流值 返回計算機，從而完成了對發光二極管的正向電流和反向電流的測試。綜上所述，在對所述發光二極管進行測試之前，首先通過本發明所提供的 標準電源，既提供整個電路自檢標準電源，避免電路可能存在的相關缺陷；進 一步通過D/A恒流源基準和D/A恒壓源基準分別提供高精度的恒流源和恒壓 源的參考電壓；并且在電路中包括反饋電路，確保電源的輸出精度。最后，用 戶可以根據自己的實際需要，通過上層軟件的操作界面有選擇地對所述發光二 極管的正向電流、反向電流或者正向電壓、反向電壓進行精確測量。以上對本發明所提供的一種發光二極管的電性參數測試電路進行了詳細施例的說明只是用于幫助理解本發明的方法及其核心思想；同時，對于本領域 的一般技術依據本發明的思想，在特定實施方式及應用范圍上均會有改變之 處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發明的限制。
權利要求
1、一種發光二極管的電性參數測試電路，其特征在于，電阻R1、R2與R3串聯，連接在地線與恒壓源/恒流源之間，由計算機上層控制軟件控制恒壓源/恒流源的輸出，標準電壓源接入電路，構成本電路的校準回路，通過電阻R2兩端的取樣電路獲取該回路中的電流大小，并將獲取的電流值與指定的標準電壓源均通過切換電路輸入至計算機上層控制軟件；計算機上層控制軟件分別與D/A恒壓源基準和D/A恒流源基準相接，所述D/A恒壓源基準通過與其對應的比較器的一個輸入端與恒壓源相連，電阻R2和R3之間的節點電位與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒壓源相關的反饋電路，該比較器的輸出端與恒壓源連接，恒壓源與其反饋電路構成本電路的恒壓控制回路；所述D/A恒流源基準通過與其對應的比較器的一個輸入端與恒流源相連，電阻R1兩端的取樣電壓與比較器的另一個輸入端相連，形成與恒流源相關的反饋電路，該比較器的輸出端分別與恒流源連接，恒流源與其反饋電路路構成本電路的恒流控制回路；測試發光二極管時，電阻R3與電阻R1、R2斷開，待測發光二極管與電阻R1、R2串聯。
全文摘要
本發明公開了一種發光二極管的電性參數測試電路，其中，該電路由校準回路、恒壓控制回路、恒流控制回路組成，所述校準回路中設置有標準電源，提供整個電路自檢標準電源；所述恒壓控制回路通過D/A恒壓源基準提供高精度的恒壓源的參考電壓；所述恒流控制回路通過D/A恒壓源基準提供高精度的恒流源的參考電壓；恒壓控制回路和恒流控制回路中設置有反饋電路，提高了電源的輸出精度。
文檔編號H01L21/66GK101109783SQ20061014711
公開日2008年1月23日 申請日期2006年11月8日 優先權日2006年7月18日
發明者楊少辰, 登 潘, 羅會才, 韓金龍 申請人:楊少辰;韓金龍;羅會才