專利名稱：發光模件及采用該發光模件的兼容式光學讀取裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種用于發射激光束的發光模件和采用該發光模件的兼容式光學讀取裝置，并尤其涉及一種把兩個分別發射不同波長的兩束光束的光源封裝到單個模件上的發光模件，以及采用該種模件的兼容式光學讀取裝置，從而能兼容地使用不同格式的記錄介質。
背景技術：
典型的光學讀取裝置被用在CD(密集盤)播放器、CD-ROM驅動器、DVD(數字多用盤)播放器和DVD-ROM驅動器以在和從記錄介質上以非接觸方式記錄/再現信息。
DVD播放器和DVD-ROM在視頻/音頻領域以其高密度的記錄/再現容量而為人們所熟悉。為了兼容性的原因，運用在DVD播放器中的光學讀取裝置應能夠不僅在和從DVD上記錄和/或再現信息，而且能夠在和從諸如CD，CD-R(可記錄的CD)，CD-RW(可寫入的CD)，CD-I(交互式CD)和CD-G(CD圖表)之類的CD系列上記錄和/或再現信息。
但是，因盤傾斜的允許誤差和物鏡的數值孔徑，DVD的厚度被標準化成不同于其它的CD系列的規格。即，現存的CD系列厚度為1.2mm，DVD的厚度為0.6mm。因為CD系列和DVD的厚度不同，所以當DVD的光學讀取裝置用于CD系列時，由于厚度的不同會產生球差。球差導致記錄信息信號所需的光強不足或是在再現信號時信號發生畸變。
另外，在再現光光源的波長方面DVD被標準化成不同于CD系列。即，現存的CD系列的再現光光源的波長約是780nm，DVD的再現光光源的波長約是650nm。
因此，一般的CD播放器因為上述差異而不能再現DVD上記錄信息，所以需要對DVD的光學讀取裝置加以改進。屆時，DVD的光學讀取裝置應對現存的CD系列兼容。
為了解決上述問題，常規的可兼容的光學讀取裝置如圖1所示，包括一個發射波長為650nm光束的第一光學模件20，一個發射波長為780nm光束的第二光學模件30，用于改變分別從第一和第二光學模件20和30中發出的光束傳播路徑的第一和第二分束器12和14，一個把入射光束聚焦到盤10上的物鏡11，和一個接收從盤10反射的光并通過第二分束器14和第一分束器12的光檢測器40。此處，第一光學模件20用于相對較薄的盤10a，如DVD，而第二光學模件30是用于相對較厚的盤10b，如CD系列。
第一光學模件20，如圖2所示，包括安裝有多個管腳27的基底21，一個安裝在基底21上的散熱器22，安裝在散熱器22側面的光源23，通過接收發射到光源23后部的光監測光源23的光輸出的監測光電檢測器25，和具有投射窗28并包圍光源23和監測光電檢測器25的罩29。當監測光電檢測器25使用發射到光源23后部的光時，考慮到光源23后側的光輸出，需要把光源23的反射率上限值限制到50-60％。
因為第二光學模件30的結構基本上與第一光學模件20的相同，所以省去關于其詳細描述。但是，第二光學模件30不同于第一光學模件20，第二光學模件30采用發射光波長大約為780nm的光源。
具有平板結構的第一分束器12把從第一光學模件20發出的光束向前反射到第二分束器14。第二分束器14有一個立體結構，其鏡面透射或反射入射光。
從第一光學模件20發出的光被第一分束器12反射后透過第二分束器14并向光盤10傳播。從第一光學模件30發出的光被第二分束器14反射并由物鏡11聚焦，且最終落到光盤10上。此處，在第二光學模件30和第二分束器14之間布置一個衍射入射光的光柵13。
反射入射光的反射鏡15和聚焦入射光的準直透鏡16考慮到光學安排沿第二分束器14和物鏡11之間的光路布置。
從第一光學模件20發出的光被相對較薄的盤10a反射并被光電檢測器40接收。從第二光學模件30發出的光被相對較厚的盤10b反射并被光電檢測器40接收。即，從第一和第二光學模件20和30發出的光的RF(射頻)信號由單個光電檢測器40探測。此處，傳感透鏡17布置在第一分束器12和光電檢測器40之間。
在調整第一和第二光學模件20和30以及具有上述結構的兼容式光學讀取裝置的光電檢測器40的過程中，首先，調整光電檢測器40，使得通過固定包括發射650nm波長光束的半導體激光器23的第一光學模件20并處理從第一光學模件20發出的、在通過第一和第二分束器12和14以及物鏡11和光電檢測器40之后被光盤10所反射的光而使得伺服和RF信號的再現成為可能。然后調整第二光學模件30，使得從第二光學模件30發出的并被光盤10反射的光能夠精確地聚焦在光電檢測器40上。
因此，具有上述結構的常規的兼容式光學讀取裝置有下列缺點。
第一，因為必須至少調節第一光學模件、第二光學模件和光電檢測器中的一個，故組裝不方便并且組裝過程中的缺陷率增大。
第二，因為第一和第二模件被選定在分離的位置，所以要使光學讀取裝置最小化很困難。
第三，因為需要兩個監測光電檢測器來調節每個光源的光輸出，所以電路線復雜。
發明內容
為了解決上述問題，本發明的目的在于提供一種具有改進結構的發光模件和采用此光學模件的兼容式光學讀取裝置，通過改進的結構使得光學結構簡化，并且零件數量減少。
因此，為了達到上述目的，提供了一種發光模件，包括一個基底，安裝在基底上的用于發射不同波長范圍的光束的第一和第二光源，一個將第一和第二光源發出的光束分束的分束器，和一個通過接收從第一和第二光源發出并從分束器沿一個方向分出的光束而監測第一和第二光源的光輸出的監測光電檢測器。
為了實現上述目的，本發明提供了一種兼容式光學讀取裝置，該裝置包括一個發光模件，發光模件具有一個基底，安裝在基底上的用于發射不同波長范圍的光束的第一和第二光源，一個將第一和第二光源所發出的光束分束的分束器，和一個通過接收從第一和第二光源發出并從分束器沿一個方向分出的光束而監測第一和第二光源的光輸出的監測光電檢測器，該裝置還包括一個設置在發光模件和光記錄介質之間光路上的、用于把第一和第二光源所發出的光束聚焦到光記錄介質上的物鏡，一個設置在發光模件和物鏡之間光路上的、用于轉變入射光傳播路徑的光路轉變裝置，和一個用于接收從第一和第二光源發出的、從光記錄介質反射并經光路轉變裝置入射的光束的光電檢測器。
本發明的上述目的和優點將通過參考附圖對優選實施例的詳細描述而變得更加清晰。
圖1是常規的兼容式光學讀取裝置的光學布局示意圖；圖2是圖1所示的光學讀取裝置中采用的第一發光模件的透視圖；圖3是根據本發明第一優選實施例的發光模件的光學布局平面圖；圖4是與根據本發明第一優選實施例的發光模件的第一和第二光源發光點匹配的裝置的光學布局示意圖；圖5是根據本發明第一優選實施例的兼容式光學讀取裝置的光學布局示意圖；圖6是根據本發明第一優選實施例的發光模件的分束器透射特性曲線；圖7是根據本發明第二優選實施例的發光模件的光學布局平面圖；圖8是根據本發明第二優選實施例的發光模件剖面圖；圖9是根據第二優選實施例的兼容式光學讀取裝置的光學布局示意圖；圖10是根據第二優選實施例的兼容式光學讀取裝置的光電檢測器的光學布局示意圖。
具體實施例方式
參見圖3，根據本發明的發光模件50包括基底51，設置在基底51上的用于發射不同波長范圍的激光束的第一和第二光源61和63，將第一和第二光源所發出的光束分束的分束器65，和通過接收從第一和第二光源61和63發出并從分束器65沿一個方向分出的光束而監測第一和第二光源的光輸出的監測光電檢測器67，和設置在基底51上封裝第一和第二光源61和63、分束器65和監測檢測器67的罩57。
第一和第二散熱器55、56也設置在基底51上。第一光源61安裝在第一散熱器55的側面上并在垂直于基底51的方向上發射光束。第二光源63安裝在第一散熱器55的頂面上并在平行于基底51的方向上發射光束。另外，監測光電檢測器67安裝在第二散熱器56的側面，面對第二光源63，分束器65設置其間。
第一和第二光源61、63和監測光電檢測器67通過導線53和多個穿過基底51安裝的管腳52電連結到外部驅動器(未示出)。第一和第二光源61、63是用于輻射不同波長的光束的半導體激光器。例如，第一光源61發射波長范圍大致在635至650nm的光束，而第二光源63發射波長范圍大致在780nm的光束。
分束器65設置在第一、第二光源61、63和監測光電檢測器67之間，它使得從第一和第二光源61和63發射的大部分光束經形成在罩57上的發射孔57a導向罩57的外部，且一部分光束被導向監測光電檢測器67。此處發射孔57a最好由分束器65密封。
監測光電檢測器67利用第一和第二光源61、63發射的光束中的經分束器67分離的光束。換言之，使用從第一和第二光源61和63發出的部分有效光。因為發射到第一和第二光源61和63后表面的光束不是必要的，所以第一和第二光源61和63的結構可以改進，使得反射率基本上達到99％或更大，從而提高光輸出效率。另外，因為半導體激光器的壽命正比于其光輸出的平方，所以其壽命可以大大地延長。
在具有上述結構的發光模件50中，利用圖4所示的系統執行第一和第二光源61和63的照射點重合的組裝工作。
從發光模件50的第一光源61發射、并經分束器65發散的光束被擴大并經準直透鏡81和聚焦透鏡83形成在CCD(電荷耦合裝置)照相機85上。此處，當通過擴大光束經監測器90觀察到形成在CCD照相機85上的光點時，調節第一光源61的位置并將其固定在第一散熱器55的側面上。然后，當從監測器90觀察到形成在CCD照相機85上的光點時，調節第二光源63的位置并將其固定在第一散熱器55的頂表面上。
參見圖3和圖5，根據本發明的兼容式光學讀取裝置包括一個發光模件50，發光模件50具有在其中成為一體的第一和第二光源61、63，一個將第一和第二光源61、63所發出的光束聚焦到光記錄介質1上的物鏡77，用于轉變入射光傳播路徑的光路轉變裝置，和一個接收從第一和第二光源61、63發出并從光記錄介質1上反射、再經光路轉變裝置輸入的光束的監測光電檢測器。此處因為發光模件50的結構與參見圖3所作的描述相同，所以將省去對其的描述。
當采用較薄的光盤1a如DVD作為記錄介質1時，利用第一光源61，并發射波長范圍大約在635至650nm范圍的激光。當采用較厚的光盤1b如CD作為記錄介質1時，利用第二光源63，并發射波長范圍大約為780nm的激光。
參見圖6，分束器65設計成透射大約90％的650nm波長范圍的光束和透射大約10％的780nm波長范圍的光束。也即，分束器65透射從第一光源61發射的大部分光并反射部分光。另外，分束器65反射從第二光源63發射的大部分光并透射部分光。因此，從第一和第二光源61、63發射的大部分光經分束器65被導向光記錄介質1，并且只有一部分光被導向監測光電檢測器67。
光路轉變裝置設置在發光模件50、物鏡77和光電檢測器80之間的光路上并使得從發光模件50發出的光束被導向光記錄介質1，并使得從光記錄介質1上反射的光束被導向光電檢測器80。光路轉變裝置最好是如圖5所示的平板型分束器73，。另外，也可以使用立方分束器、偏振分束器或全息裝置。
此處，為了用光電檢測器以三束法探測軌道誤差信號，最好再在發光模件50和平板型分束器73之間的光路上設置一個光柵71，用于把從發光模件50發出的光衍射并透射成0級光束、±1級光束等。
另外，還可以在平板型分束器73和物鏡77之間的光路上設置包括用于反射入射光以改變其傳播路徑的反射鏡74和用于聚焦入射的發散光并使該光成為準直光束的準直透鏡75的光學元件。
光電檢測器80接收從第一和第二光源61、63發出的并經光記錄介質1入射的光束，并從其探測信息信號和伺服信號。
此處，最好在平板型分束器73和光電檢測器80之間的光路上設置一個象散透鏡79，以象散法探測聚焦誤差信號。象散透鏡79最好傾斜設置在光路上，從而校正由于平板型分束器73的傾斜導致的象差。
在具有上述結構的兼容式光學讀取裝置的操作中，當使用較薄的光盤1a如DVD作為光束記錄介質1時，利用從第一光源61發出的光。換言之，從第一光源61發出的光的大部分透過分束器65，并且再由光柵71衍射成至少三束光。衍射光束從分束器73和反射鏡74反射并由準直透鏡75準直以導向物鏡77。物鏡77對要形成在較薄的光盤1a上的入射光進行聚焦。從光盤1a上反射的光束經物鏡77、準直透鏡75和反射鏡74導向平板型分束器73。這些光束穿過平板型分束器73并經穿過透鏡79落在光電檢測器80上。光電檢測器80從入射光中探測薄光盤1a的信息信號和聚焦誤差信號，并從光柵71衍射的光束中探測軌道誤差信號。
從發光模件50的第一光源61發出并從分束器65反射的光束落到監測光電檢測器67上，并且由設置在第一光源61和監測光電檢測器67之間的光輸出控制電路(未示出)控制第一光源61的光輸出。
當采用較厚的光盤1b如CD作為光記錄介質1時，使用從第二光源63發出的光。在這種情況下，從第二光源63發出的光的大部分被分束器65反射導向光記錄介質1。此處，與從第一光源61發出的光束相比，除了光是由物鏡77聚焦到較厚光盤1b上以外，光束的操作基本上相同，因此在此省去詳細描述。
從第二光源63發出并透過分束器65的光束被聚焦到監測光電檢測器67上，并且第二光源63的光輸出由設置在第二光源61和監測光電檢測器67之間的光輸出控制電路(未示出)控制。
本發明優選實施例的上述發光模件和兼容式光學讀取裝置有下列優點。
首先，由于第一和第二光源安裝在單個光學模件中，因而光學讀取裝置的總裝被簡化，如同在一個DVD或CD專用的光學讀取裝置中。
其次，由于監測光電檢測器用于多種波長，因此光學輸出控制器的電路被簡化。
第三，因為監測光電檢測器利用從第一和第二光源發出的有效光束的一部分，所以不必需要第一和第二光源的后表面的光輸出。
因此，可以通過改變光源的結構而極大地提高光學輸出效率。
參見圖7和圖8，根據本發明第二優選實施例的發光模件100包括基板111，布置在基板111上用于發射不同波長范圍的激光束的第一和第二光源121和131，使得第一和第二光源121和131發出的光在一個方向傳播的反射元件115，通過接收第一和第二光源121和131發出的光來分別監測第一和第二光源121和131的光輸出的第一和第二監測光電檢測器125和135，外殼141，和多個外殼管腳145。
基板111由一種硅材構成，并有一個內部空間，內部空間中安置有第一和第二光源121和131，以及第一和第二監測光電檢測器125和135。此處的內部空間通過蝕刻制得。
第一光源121安置在基板111的內部空間并從其兩側發射預定波長的激光束，如650nm的激光束。從第一光源121發出的光在兩個方向，一個方向的光向反射元件115傳播，另一個方向的光向第一監測光電檢測器125傳播。
第二光源131以相對于第一光源121分離預定距離地安置在基板111上，并從其兩側發射預定波長的激光束，如780nm的激光束。第二光源131在兩個方向發射的光束中的一個方向的光束向反射元件115傳播，而在另一個方向的光向第二監測光電檢測器135傳播。
在基板111的內表面最好形成為一對用于導向第一和第二光源121和131連接位置的以凹進在第一和第二光源121和131連接位置的導槽111a和111b。因此，通過減小在第一和第二光源121和131與基板111的連接中產生的誤差，第一和第二光源121和131的光軸的相對移動量可被精確地控制。
反射元件115安裝在第一和第二光源121、131之間的基板111上，并使得從第一和第二光源121、131每一個的一側發射的激光在一個方向上傳播。反射元件115與基板111構成為一體并包括一個基底13，基底上具有布置成與第一和第二光源121、131的每一個相對應的呈預定角度傾斜的第一和第二表面113a和113b，以及形成在第一和第二表面113a和113b上用于反射從第一和第二光源121、131發出的入射光的第一和第二反射部分115a和115b。
形成內部空間時通過蝕刻基板111而形成基底113，并且第一表面113a和基板111之間的角度以及第二表面113b和基板111之間的角度最好為45。此時，因選做基板111的材料的硅具有立方形的晶體結構故容易以45度的角蝕刻。第一和第二反射部分115a和115b最好通過在基底113的第一和第二表面113a和113b上的反射涂層形成。因此，從第一和第二光源121、131發射的并被第一和第二反射部分115a和115b的每一個反射的光彼此平行傳播，同時在其光軸之間保持距離d1。
另外，最好把第二光源131的出射面131a和反射元件115之間的光軸長度l2布置成比第一光源121的出射面121a和反射面115之間的光軸長度l1相對地長。這是考慮到當光從第一和第二光源121、131中發出并通過光學元件時因出射光波長的不同所致的出射光截面大小的變化。
布置在基板111上的對應的第一和第二光電檢測器125和135接收從第一和第二光源121、131發射的光以分別監測第一和第二光源121、131的光輸出。此處，第一和第二監測光電檢測器125和135最好通過在基板111上相應的位置處沉積p型半導體層和n型半導體層的半導體加工來制造。另外，可以通過關于附加基板(未示出)的半導體加工來制造第一和第二監測光電檢測器125、135，并把它們附著到基板的側壁上。
外殼141包圍基板111，第一和第二光源121、131，反射元件115和第一及第二監測光電檢測器125和135，并把它們組合在殼體中。外殼141由一種如熔融樹脂的材料制成。
殼體管腳145穿過外殼141，并且其每一端導線連接到第一和第二光源121、131以及第一和第二監測光電檢測器125、135。殼體管腳145包括一個用于同基板111接地連接的導線、兩個用于對第一和第二光源121、131的每一個提供驅動電壓的導線、和一個用于傳遞第一和第二監測光電檢測器125、135探測的電信號的導線。此處因為第一和第二光源121和131被選擇地驅動，所以對第一和第二監測光電檢測器125、135通常采用一根單獨的導線。
參見圖9和10，根據本發明第二優選實施例的兼容式光學讀取裝置包括一個發光模件100，一個把從發光模件100發出的光聚焦到光記錄介質1上的物鏡159，一個轉變入射光傳播路徑的光路轉變裝置153，一個布置在發光模件100和光路轉變裝置153之間的光路上的用于衍射和透射入射光的光柵151，一個用于接收從發光模件100發出的并被光記錄介質1反射、且通過光軸轉變裝置153的入射光的光電檢測器170，和一個布置在光路轉變裝置153和光電檢測器170之間的光軸上的全息裝置161。
因為發光模件100與參考圖7和圖8描述的情形相同，所以省去其詳細的描述。
當采用較薄的光盤1a如DVD時，使用第一光源121，該光源發射波長大約為635至650nm的光束。當采用較厚的光盤1b如CD時，使用第二光源131，該光源發射波長大約為780nm的光束。第一和第二光源121和131最好布置成在第二光源131的出射面和反射元件115之間的光軸長度12相對地大于第一光源121的出射面和反射元件115之間的光軸長度11。
布置在發光模件100和光路轉變裝置153之間光軸上的光柵151衍射并透射入射光，具體地講，把第二光源131發出的光衍射和透射成第0級光、第1級光等。因此，可通過三束法檢測到由相對較厚的光記錄介質1b反射的光的軌道誤差信號。
光路轉變裝置153構造為一個具有上述相同結構的分束器154。分束器154轉變光的傳播路徑，使得從發光模件100發出的光向光記錄介質1傳播，并且使得被光記錄介質1反射的光向光電檢測器170傳播。
設置在分束器154和光電檢測器170之間的光軸上的全息裝置161將入射光衍射并透射成+1級光和-1級光。當被全息裝置161分開的+1級光和-1級光聚焦到不同的焦點上時，用象散法檢測聚焦誤差信號。也即，在聚焦期間，由全息裝置161衍射并透射的+1級光聚焦到光電檢測器170的前方。-1級光聚焦到光電檢測器170的后部。此處，最好把光柵151的衍射方向和全息裝置161的衍射方向設置為形成一個直角。
光電檢測器170包括由十個分束板構成的第一至第四光電檢測器171、173、175和177，每個光電檢測器獨立地執行光電轉換。
布置成分離預定距離的第一和第二光電檢測器171和173接收由光柵151衍射成0級光并再在全息裝置161處衍射成+1級光和-1級光的光。為了檢測在相位差法中關于較薄的光記錄介質1a的軌道誤差信號(TES)，第一光電檢測器171包括具有22的布局的A，B，C和D四個分束板，并且在分束板A和B之間以及C和D之間設置分束板G1。此處，第一光電檢測器171的分束板A和D以及分束板B和C之間的邊界部分設置成對應于聚焦在第一光電檢測器171上的光點S11的中心通過的部分。
第二光電檢測器173包括三個分束板G2，H和G3，通過與第一光電檢測器171探測的信號的區別來檢測聚焦誤差信號(FES)。
布置成彼此關于第一和第二光點檢測器171和173分開預定距離的第三和第四光電檢測器175和177分別接收被光柵151衍射成+1級光和-1級光并且再在全息裝置161處被衍射成+1級光和-1級光的光。
此處，至于被第一光電檢測器171接收的光，從第一光源121發出的光點S11聚焦成與第二光源131發出并聚焦的光點S21分開預定的距離d2。至于由第二光電檢測器173接收的光，從第一光源121發出的光點S12被聚焦成與從第二光源131發出并聚焦的光點S22分開預定的距離d3。
這是因為第一和第二光源121和131布置成彼此關于基板111分開距離d1，并且在全息裝置161處依據波長發生衍射角差異。特別是，因為當波長為780nm的光具有大于波長為650nm的光的衍射角時，在+1級光的情形中兩光束的移動量小于-1級光的情形，所以在距離d2和d3之間產生差異。
通過第一至第四光電檢測器171、173、175、177，經下列的加減運算得到關于具有不同厚度的兩種光記錄介質1a和1b如DVD和CD的軌道誤差信號、聚焦誤差信號和信息信號DVD聚焦誤差信號＝(G1+G2+G3)(A+B+C+D+H)DVD軌道誤差信號＝(A+C)PHASE(B+D)PHASECD聚焦誤差信號＝(G1+G2+G3)(A+B+C+D+H)CD軌道誤差信號＝EFDVD，CD信息信號＝A+B+C+D+G+H另外，根據本發明的光學讀取裝置最好還包括布置在分束器154和物鏡159之間的光軸上的光學元件如反射鏡157，用于通過轉變反射入射光的光路，和使得通過聚焦入射的發散光而把光變成平行光的準直透鏡155。
在具有上述結構的兼容式光學讀取裝置的操作中，當使用較薄的光盤1a如DVD作為光記錄介質1時，采用第一光源121發射的光。也即，從第一光源121發出的光透過分束器154并經準直透鏡155變成平行光束并被反射鏡157反射而向物鏡159傳播。物鏡159使得入射光聚焦到較薄的光盤1a上。光盤1a反射的光通過物鏡159、反射鏡157和準直透鏡155并向分束器154傳播。該光束被分束器154反射，而全息裝置161衍射其+1級光和-1級光以聚焦到第一至第四光電檢測器171、173、175和177。第一至第四光電檢測器171、173、175和177從入射光中探測關于較薄光盤1a的信息信號、通過相差法探測軌道誤差信號，并通過象散法經全息裝置161探測聚焦誤差信號。
發射到第一光源121后部的光聚焦到第一監測光電檢測器125上，使得第一光源121的光學輸出由設置在第一監測光電檢測器125和第一光源121之間的光輸出控制電路(未示出)進行控制。
當使用較厚光盤1b如CD作為光記錄介質1時，采用從第二光源131發射的光。也即，從第二光源131發出的光在被光柵151衍射成至少三束光之后透過分束器154并向光記錄介質1傳播。該光束被物鏡159聚焦到較厚的光盤1b上并再從那兒反射并通過物鏡159、分束器154和全息裝置161以聚焦到第一至第四光電檢測器171、173、175和177。第一至第四光電檢測器171、173、175和177從入射光中探測關于較厚光盤1b的信息信號、通過三束法探測軌道誤差信號，并通過象散法經全息裝置161探測聚焦誤差信號。
發射到第二光源131后部并透過分束器154的光聚焦到第二監測光電檢測器135，使得第二光源131的光輸出由設置在第二監測光電檢測器135和第二光源131之間的光輸出控制電路(未示出)控制。
根據本發明的具有上述結構的發光模件和采用該模件的兼容式光學讀取裝置有下列優點。
第一，因第一和第二光源安置在單一的光學模件上，故光學讀取裝置的組裝被簡化為類似于DVD-或CD-式專用光學讀取裝置。
第二，因把通過對多種波長設置的監測光電檢測器得到的光輸出信號用作一個單一光學輸出控制信號，故可以簡化光學輸出控制電路的連線。
權利要求
1.一種發光模件，包括一個基板；一個第一光源，安置在所述基板上，用于從其兩側發射一種波長的激光；一個第二光源，以與所述第一光源分開預定距離的方式安置在所述基板上，用于從其兩側發射不同于所述第一光源發射的激光束波長的激光束；一個反射元件，布置在所述第一光源和所述第二光源之間的基板上，用于把從所述第一和第二光源中的每個光源側面發出的激光束反射向一個方向；第一和第二監測光電檢測器，用于接收從每個所述第一和第二光源的另一側發出的激光束并監測所述第一和第二光源的光輸出；一個包圍所述基板、第一和第二光源、反射元件及第一和第二光電檢測器的外殼；和一個外殼管腳，通過穿過外殼并導線連接到所述第一和第二光源以及第一和第二監測光電檢測器而形成。
2.如權利要求1所述的發光模件，其特征在于所述反射元件包括一個基底，與基板形成一體，并包括具有預定傾斜度的第一和第二表面；和第一和第二反射部分，分別形成在所述第一和第二表面上，用于反射從第一和第二光源發射的入射光。
3.如權利要求1所述的發光模件，其特征在于所述第一和第二光源分別發射大約650nm和780nm波長的激光束，且所述第一和第二光源布置成在所述第二光源的出射面和所述反射元件之間的光軸上的長度相對地大于所述第一光源的出射面和所述反射元件之間的光軸上的長度。
4.如權利要求1所述的發光模件，其特征在于在基板中形成一對用于導向所述第一和第二光源連接位置的導槽，以凹進所述第一和第二光源連接的位置。
5.如權利要求1-4任何一個的所述發光模件，還包括一個發射孔，通過該發射孔從第一和第二光源發射和由反射元件反射的的光被發射，和安裝在外殼上的罩包圍著第一和第二光源，反射元件和第一和第二監視光電檢測器。
6.一種兼容式光學讀取裝置，包括一個發光模件，該模件包括一個基板，安裝在基底上的用于從其兩側發射第一和第二波長的激光束的第一和第二光源，一個設置在所述第一和第二光源之間的所述基板上的用于將每個所述第一和第二光源一側反射的激光束反射向一個方向的反射元件，和用于接收從每個所述第一和第二光源另一側發出的激光束并監測所述第一和第二光源的光輸出的第一和第二監測光電檢測器。一個物鏡，設置在所述發光模件和光記錄介質之間的光路上，用于把入射的第一和第二激光束聚焦到所述光記錄介質上；一個光路轉變裝置，設置在發光模件和物鏡之間的光路上，用于轉變入射光傳播路徑；一個光柵，設置在發光模件和光路轉變裝置之間的光路上，用于衍射和透射入射光；一個光電檢測器，用于接收從所述第一和第二光源發出并被所述光記錄介質反射并通過所述光路轉變裝置的入射光；一個全息裝置，設置在所述光路轉變裝置和光輸出裝置之間的光路上，用于衍射和透射入射光。
7.如權利要求6所述的兼容式光學讀取裝置，其特征在于所述反射元件包括一個基底，與基板形成一體，并包括具有預定傾斜度的第一和第二表面；和第一和第二反射部分，分別形成在所述第一和第二表面上，用于反射從所述第一和第二光源發射的入射光。
8.如權利要求7所述的兼容式光學讀取裝置，其特征在于所述第一和第二光源分別發射大約650nm和780nm波長的激光束，且所述第一和第二光源布置成在所述第二光源的出射面和所述反射元件之間的光軸上的長度相對地大于所述第一光源的出射面和所述反射元件之間的光軸上的長度。
9.如權利要求6所述的兼容式光學讀取裝置，其特征在于在基板中形成一對用于導向所述第一和第二光源連接位置的導槽，以凹進所述第一和第二光源連接的位置。
10.如權利要求6所述的兼容式光學讀取裝置，其特征在于所述光柵和全息裝置布置成使由光柵和全息裝置中的每一個衍射的光的衍射方向形成一個直角，并且所述光電檢測器包括第一和第二光電檢測器，設置成分開預定的距離，用于接收被所述光柵衍射成0級光并又在所述全息裝置處分別衍射成+1級光和-1級光的光；和第三和第四光電檢測器，布置成與所述第一和第二光電檢測器相隔預定的距離，用于接收被所述光柵衍射成+1級光和-1級光并又在所述全息裝置處分別衍射成+1級光和-1級光的光。
11.如權利要求10所述的兼容式光學讀取裝置，其特征在于為了檢測在相位差法中的軌道誤差信號(TES)，所述第一光電檢測器包括(A，B，C和D)具有22的布局的四個分束板，及一塊設置在所述分束板A和B與所述分束板C和D之間的分束板(G1)，并且所述第二光電檢測器包括三個分束板(G2，H和G3)，以通過對所述第一光電檢測器探測的信號的區別來檢測聚焦誤差信號(FES)。
全文摘要
一種發光模件，封裝兩個發射兩種不同波長的光束的光源，以及一種采用這種模件的兼容式光學讀取裝置。該發光模件包括一個基底，和安裝在基底上的用于發射不同波長范圍的激光束的第一和第二光源，一個分束器，和一個通過接收從第一和第二光源發出并從分束器在一個方向中分出的光束而檢測第一和第二光源的光輸出的監測光電檢測器。另外，另一種發光模件包括一個基板，安裝在基板上的用于從其兩側發射第一和第二波長的激光束的第一和第二光源，一個用于從每個第一和第二光源的一側發射的激光束反射向一個方向的反射元件，和一個用于監測第一和第二光源的光輸出的第一和第二監測光電檢測器。該兼容式光學讀取裝置包括具有上述結構的發光模件，一個物鏡，用于把第一和第二激光束聚焦到光記錄介質上；一個光路轉變裝置，一個光柵，設置在發光模件和光路轉變裝置之間的光路上，用于衍射和透射入射光；一個光電檢測器。
文檔編號H01S5/40GK1516137SQ0313068
公開日2004年7月28日 申請日期2000年4月19日 優先權日1999年4月19日
發明者成平庸, 李溶宰, 柳炳烈, 孫龍基 申請人:三星電子株式會社