專利名稱：電子元件的測試裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測試裝置，特別涉及一種電子元件的測試裝置。
背景技術：
大家都知道，半導體產業技術進步迅速，晶片的制造過程不斷提高，已經由0.18微米進步到現在的0.13微米，晶粒是愈做愈小，所以使電子產品愈漸小型化，降低了生產成本，提高了經濟效益。同樣，電阻、電容和電壓器甚至直流電阻阻抗(DCR)等元件也是朝此趨勢發展。
電子產品在向輕量化、小型化的發展過程中，除了產品本身的品質外，最令人擔心的就是小型化的產品在制作、品保過程中，因體積小使操作人員在檢驗或測試時不易測量，還會因人為疏忽而產生誤差。例如，以往使用電感電容電阻測試器(LCR-meter)測量參數數據時通常是利用手持探測棒的方式來測量，由此很可能會因手指顫動而造成誤差值過大或誤判斷，并且在測量時還需考驗操作人員的穩定度以及耐心，除了造成品質不穩定延誤出貨外，還會產生操作人員由于趕工加班而心情浮躁、情緒不佳的負面效果。
發明內容
為克服現有技術的缺點，本實用新型的目的是提供一種可精確、迅速地測試電子元件的測試裝置。
為了實現上述目的，本實用新型提供一種電子元件的測試裝置，它包括上固定板，其具有一凹槽，可向測試物提供一定位的測試位置；固定座，其設置在固定板的下方，固定座上形成有一測試區，在該測試區上設有由金屬絲制成的測具，該測具位于上固定板和固定座之間，并由夾具和測試導軌組成，所述夾具可從兩側將測試物穩固地夾持住；所述測試導軌與測試物的底端相接觸，該測試導軌與測試儀器相接，故可對測試物進行測試。
上述夾具可呈一齒狀。
上述測試導軌穿過固定座并從其下方露出，露出的部分可以連接不同的測試儀器，以檢測出測試物的參數或數據。
上述夾具略高于所述測試導軌并緊鄰該測試導軌。
上述金屬絲為不銹鋼絲。
上述夾具的前端還設有一開口處，其可將測試物導引到測試區內。
本實用新型的電子元件的測試裝置具有下列優點1)本實用新型的裝置克服了以往利用人工方式測量小型電子元件的不便性，使操作人員不用耗費過多的時間去調整元件位置的準確度，將人員情緒、工作效率保持在最佳狀態，能穩定、精確地測試電子元件。
2)本實用新型的裝置采用半自動化檢測方式，對元件是否具有缺陷進行檢查與判定，以取代手動測試方式，能夠縮短測試時間，提高生產率。
3)本實用新型的裝置具有小型化的優點，可適合空間狹小的場地使用，不受空間的限制，在任何地方都可以方便地操作，甚至可以隨身攜帶。
圖1為本實用新型的電子元件測試裝置的分解示意圖；圖2為本實用新型的電子元件測試裝置的部分放大示意圖；圖3為本實用新型的電子元件測試裝置的動作示意圖；圖4為圖3中a-a’向剖面圖；圖5為本實用新型的電子元件測試裝置中測具的另一種實施例示意圖。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的電子元件的測試裝置包括上固定板2和固定座1。
其中，所述上固定板2具有一凹槽21，可向測試物3提供一定位的測試位置。
所述固定座1設置在上固定板2的下方，它們可互相搭配地形成一測試區A，以協助測具的精確定位。固定座上設有由金屬絲制成的測具11，該測具位于上固定板2和固定座1之間，并處于測試區A上。測具由夾具12和測試導軌13組成，該金屬絲可以是不銹鋼絲。所述夾具12可從兩側將測試物3穩固地夾持住。所述測試導軌13位于所述測試區A內并與測試物3的底端相接觸。該金屬絲所形成的測試導軌13穿過固定座1并從其下方露出，露出的部分可以連接不同的測試儀器，以檢測出測試物3的參數或是數據，從而讓操作者迅速判斷測試物的優劣。
如圖2所示，夾具12的金屬絲略高于測試導軌13并緊鄰該測試導軌13，由此能夠將測試物3以夾持方式平穩地固定。
如圖3所示，夾具12前端設有一開口處121，可將測試物3迅速、順利地引入測試區A中。當測試物3進入測試區A后，夾具12會起到一夾持作用，即從兩側將測試物夾持住。如圖4所示，由于測試物3本身所具有的形狀，使夾具12具有能夠下壓、扣持的功效，從而將測試物穩定地固定位。
測試物3通過滑行可到達上固定板2的凹槽21內，由此完成了定位動作，然后由外部的測試儀器對測試物3進行測試。可見，本實用新型的電子元件的測試裝置在對小型化、輕量化的電子元件進行測試時，能減少人為誤差發生的概率，提高測試的穩定性，可大大地縮短測試時間，提高生產率。
如圖5所示，為加強金屬絲所形成的夾具的扣持力，增加操作者對于測試物導入時的手感，該夾具可被做成齒狀122，對于不同的測試物還可以擴增夾具間的寬度。
前述僅為本實用新型的較佳實施例，并不局限本實用新型的實施范圍，如軌道的材質和形狀等，在不偏離本實用新型所做的任何等效變化或修飾仍屬本實用新型的涵蓋范圍。
權利要求1.一種電子元件的測試裝置，其特征在于，它包括上固定板(2)，其具有一凹槽(21)，可向測試物(3)提供一定位的測試位置；固定座(1)，其設置在固定板(2)的下方，固定座上形成有一測試區(A)，在該測試區(A)上設有由金屬絲制成的測具(11)，該測具位于上固定板(2)和固定座(1)之間，并由夾具(12)和測試導軌(13)組成，所述夾具(12)可從兩側將測試物(3)穩固地夾持住；所述測試導軌(13)與測試物(3)的底端相接觸，該測試導軌與測試儀器相接，故可對測試物(3)進行測試。
2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述夾具(12)可呈一齒狀。
3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試導軌(13)穿過固定座(1)并從其下方露出，露出的部分可以連接不同的測試儀器，以檢測出測試物(3)的參數或數據。
4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述夾具(12)略高于所述測試導軌(13)并緊鄰該測試導軌。
5.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述金屬絲為不銹鋼絲。
6.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述夾具(12)的前端還設有一開口處(121)，其可將測試物(3)導引到測試區(A)內。
專利摘要本實用新型涉及一種電子元件的測試裝置,它包括:上固定板,其具有一凹槽,可向測試物提供一定位的測試位置;固定座,其設置在固定板的下方,固定座上形成有一測試區,在該測試區上設有由金屬絲制成的測具,該測具位于上固定板和固定座之間,并由夾具和測試導軌組成,所述夾具可從兩側將測試物穩固地夾持住;所述測試導軌與測試物的底端相接觸,該測試導軌與測試儀器相接,故可對測試物進行測試。該裝置可迅速、穩定、精確地對電子元件進行測試,生產率高。
文檔編號H01L21/66GK2512112SQ01270330
公開日2002年9月18日 申請日期2001年11月8日 優先權日2001年11月8日
發明者王士偉 申請人:致茂電子股份有限公司