本發明涉及內存調試,尤其涉及內存參數優化調試方法。
背景技術:
1、現有ddr每個產品的ddr的參數都是固定的,隨著環境的變化,電子產品的電阻.電容會發生微弱的變化,但如果參數不是最優,這些微小的變化會影響到ddr的信號,隨著信號的干擾,會造成讀取的數據有些許偏差。
技術實現思路
1、本發明的目的是為了解決現有技術中存在的缺點,而提出的內存參數優化調試方法,該調試方法為解決ddr在運行過程中的穩定性,尋找一組最優化的參數。
2、為了實現上述目的,本發明采用了如下技術方案:
3、內存參數優化調試方法,該調試方法包括如下步驟:
4、s1:軟件初始化ddr各項參數;
5、s2:設置odt的初始值為0,odt為ddr片上終端電阻;
6、s3:連續寫入ddr數據,triger?cpu控制器去采樣一根信號線的電壓值,在開始寫入數據后觸發數據采樣,采樣轉換為數字信號存放在內存中;
7、s4:軟件算法根據寫入的數據,和cpu的參考時鐘對照,獲取采樣數據的相位差;
8、s5:根據相位差偏移參考時鐘,獲取采樣數據的時鐘周期;
9、s6:連續重復過數步驟s3-s5,直至最后相位差到0結束循環,最終形成穩定的輸入時鐘;
10、s7:眼圖構建,隨機寫入數據,連續采集數據,并將數據圖形進行重疊會形成一個類似于眼睛的圖形;
11、s8:依據眼圖原理,在采集的數據中在,依據s6獲取的時鐘,采集眼圖的最大點ymax,采集眼圖的最小點ymin;
12、s9:依據采集到的ymax-ymin獲取眼睛的最大開口值,如果開口值小于一個固定值a,表明我們配置的odt不合理,舍棄數據,更換新的odt數值,重復步驟s7-s8;
13、s10:如果所有odt都不適合,尋找參數失敗,重新設置初始值。
14、優選地,在步驟s8中,利用軟件對眼圖進行降噪處理,去除線條多余毛刺。
15、優選地,在步驟s9之前,重復步驟s8若干輪。
16、優選地,步驟s9中,固定值a依據測試數據總結得出。
17、與現有技術相比,本發明的有益效果是:本發明中硬件支持采樣,配置硬件的寄存器,讓采樣結構存入固定寄存器,軟件根據參考時鐘,讀取采樣結果,軟件根據特定的算法,迭代出一個眼圖;根據迭代出的眼圖,能獲取上下最大值,左右最大值,如果上下最值不能滿足要求,繼續調整參數進行下一輪的采樣,直至采樣結束,能夠自動檢測到信號,調整參數,讓信號能容忍更大的環境變化;不用手動調整,提高工作效率。
1.內存參數優化調試方法,其特征在于,該調試方法包括如下步驟:
2.根據權利要求1所述的內存參數優化調試方法,其特征在于,在步驟s8中,利用軟件對眼圖進行降噪處理,去除線條多余毛刺。
3.根據權利要求2所述的內存參數優化調試方法,其特征在于,在步驟s9之前,重復步驟s8若干輪。
4.根據權利要求3所述的內存參數優化調試方法,其特征在于,步驟s9中,固定值a依據測試數據總結得出。