光盤庫裝置的光盤檢查方法和光盤庫裝置制造方法
光盤庫裝置的光盤檢查方法和光盤庫裝置制造方法
【專利摘要】本發明的目的為在裝載多個光驅動器的光盤庫裝置中降低溫度變化導致的記錄再現性能的劣化。在本發明的光盤庫裝置中，分析光盤的品質劣化的原因，為了實施與該原因相應的恢復，測量上述光盤庫裝置內的溫度，基于上述測量到的溫度，決定檢查上述光盤的檢查周期，根據上述決定的周期，由上述光驅動器進行對儲存在上述光盤庫裝置中的已記錄的上述光盤的記錄品質的檢查。
【專利說明】光盤庫裝置的光盤檢查方法和光盤庫裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及裝載有多個光盤裝置的光盤庫裝置的光盤檢查方法。
【背景技術】
[0002]與本發明相關的【背景技術】例如有專利文獻I中記載的技術。專利文獻I中記載了如下內容:“測定光盤的記錄品質并生成盤管理信息和測定履歷信息，進一步地，基于這些盤管理信息和測定履歷信息決定下次記錄品質的測定時間。在所決定的該測定時間到來時，光盤管理裝置再次測定光盤的記錄品質”。
[0003]現有技術文獻
[0004]專利文獻
[0005]專利文獻1:日本特開2008-204580號公報
【發明內容】
[0006]發明要解決的課題
[0007]上述專利文獻I中有根據光盤的記錄品質的測定結果所示的劣化程度來決定測定時間的記載。但在實際的光盤中不僅有記錄品質的隨時間劣化，例如還有因傷痕或塵埃的影響而被判定為記錄品質劣化的情況。
[0008]本發明鑒于以上而完成，本發明的目的為對光盤庫裝置分析光盤品質劣化的原因并實施與其原因相應的恢復。
[0009]用于解決課題的方案
[0010]為了解決上述問題，作為一個例子，本發明的裝載有光盤和光驅動器的光盤庫裝置的光盤檢查方法中，測量光盤庫裝置內的溫度，根據測量到的溫度決定檢查光盤的檢查周期，根據決定的周期，由光驅動器進行對儲存在光盤庫裝置中的已記錄的光盤的記錄品質的檢查。
[0011]發明效果
[0012]通過本發明能夠對光盤庫裝置根據光盤的品質劣化的原因實施合適的恢復處理。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1是第一實施例中決定光盤的檢查周期的流程圖。
[0014]圖2是第一實施例中的光盤庫裝置的框圖。
[0015]圖3是第一實施例中的光驅動器的框圖。
[0016]圖4是第三實施例中的光盤庫裝置的框圖。
[0017]圖5是表示環境溫度與檢查周期的圖。
[0018]圖6是表示光盤的壽命預測的圖。
[0019]圖7是表示環境溫度與光盤壽命的關系的圖。
[0020]圖8是說明第一實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0021]圖9是說明第二實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0022]圖10是說明第三實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0023]圖11是說明第四實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0024]圖12是第五實施例中的光盤庫裝置的框圖。
[0025]圖13是表示第六實施例中的光盤上的記錄區域的圖。
[0026]圖14是表示記錄功率與記錄品質的關系的圖。
[0027]圖15是表示記錄功率與記錄品質的關系的圖。
[0028]圖16是表示記錄功率與再現信號的波形對稱性指標的關系的圖。
[0029]圖17是說明使用檢查用光盤的檢查方法的流程圖。
[0030]圖18是表示記錄功率與品質檢查值的關系的圖。
[0031]圖19是表示用于塵埃檢查的光盤檢查區域的圖。
[0032]圖20是表示用于塵埃檢查的光盤檢查區域的圖。
[0033]符號說明:
[0034]10......光盤庫裝置
[0035]11......庫控制部
[0036]14......主機接口
[0037]15……光驅動器選擇部
[0038]16......驅動器接口
[0039]32……光拾取器
[0040]33......控制器接口
[0041]40......光盤
[0042]50......盤旋轉機構
[0043]51......滑動機構
【具體實施方式】
[0044]以下利用【專利附圖】
【附圖說明】依照本發明的光盤庫裝置的實施例。
[0045]【實施例1】
[0046]參考附圖對作為本發明的第一實施例的光盤庫裝置的結構和動作進行詳述。其中，作為光盤，本實施例使用藍光光盤，但并不限于此。可為藍光光盤之外的全息記錄等的光盤，或可裝載其它可更換介質及其記錄再現裝置。
[0047]圖2是第一實施例中的光盤庫裝置的框圖。本實施例的光盤庫裝置10由庫控制部
11、換盤機構12、容納多個光盤40的數據盤儲存部13、備用盤儲存部132、廢盤儲存部133、主機接口 14、光驅動器選擇部15、驅動器接口 16、光盤監測部17、存儲器18、溫度計19和多個光驅動器30所構成。
[0048]光盤庫裝置10經由主機接口 14與主機20連接，接收數據記錄或再現等各種命令和待記錄的數據，發送命令的執行結果和再現的數據。
[0049]數據盤儲存部13配備多個插槽，每個插槽內能夠儲存一個光盤40。
[0050]備用盤儲存部132在光盤庫裝置10的通常動作中不使用，在光盤通過檢查被判定為超出劣化檢測閾值的情況下提供光盤40。
[0051]廢盤儲存部133為光盤庫裝置10在盤檢查中判斷為超出劣化檢測閾值的光盤40的儲存部。
[0052]庫控制部11具有控制光盤庫裝置10的全部動作的功能。在對儲存在數據盤儲存部13中儲存的光盤40進行數據存取時，即存儲在光盤40中的數據的再現時或對光盤40寫入數據時，使換盤機構12動作，從數據盤儲存部13取出規定的光盤40，搬送到進行數據存取的光驅動器30并裝載。或者相反地，對一定時間未有數據存取的光盤40從進行數據存取的光驅動器30彈出，通過換盤機構12搬送到數據盤儲存部13的規定插槽并儲存。此夕卜，光驅動器選擇部15經由驅動器接口 16與各光驅動器30相連接，規定的光驅動器30接收記錄或再現等各種命令。
[0053]光盤監測部17執行光盤40的狀態管理，存儲器18保存光盤監測部17檢測出的記錄在各光盤40中的數據管理信息、各光盤40的記錄品質、光盤40的檢查周期、環境溫度坐寸ο
[0054]溫度計19監測光盤庫裝置10的內部溫度。當庫控制部11對溫度計19進行環境溫度取得請求指示時，溫度計19向庫控制部11發送當前的環境溫度的測量結果。光盤監測部17定期地從庫控制部11接收溫度的測量結果并保存在存儲器18中。
[0055]圖3是第一實施例中的光驅動器30的框圖。本實施例的光驅動器30由光驅動器控制部31、光拾取器32、控制器接口 33、盤旋轉機構50、滑動機構51、伺服控制部52、伺服信號生成部53、再現信號生成部54、再現信號二進制化部55、記錄品質檢查部56、編碼部57、和解碼部58所構成。
[0056]光驅動器控制部31控制光驅動器30的全部動作。即，通過伺服控制部52進行盤旋轉機構50中裝入的光盤40的旋轉控制，驅動滑動機構51進行使光拾取器32在光盤40的半徑方向上移位的尋軌控制和進給控制，驅動光拾取器32的物鏡進行聚焦控制和跟蹤控制。
[0057]此外，光驅動器控制部31控制光拾取器32的激光器發光。在記錄時，由編碼部57將從庫控制部11經由控制器接口 33發送來的記錄數據信號轉換成基于規定的調制規則的NRZI信號，供給到光驅動器控制部31，光驅動器控制部31轉換成與該NRZI信號對應的記錄策略(發光脈沖串)，使激光器根據規定光強度和脈沖串發光。
[0058]來自光盤40的發射光量被光拾取器32的光檢測器接收而被轉換成電信號,發送到伺服信號生成部53和再現信號生成部54。伺服信號生成部53根據適合裝入的光盤40的檢測方法來選擇、生成各種伺服信號，供給到光驅動器控制部31。伺服信號至少包含聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。光驅動器控制部31基于這些伺服信號通過上述伺服控制部52驅動物鏡，進行聚焦伺服和跟蹤伺服。
[0059]再現信號生成部54配備波形均衡電路和A/D轉換器，對從光拾取器32供給的模擬的再現信號進行規定的波形均衡化后，進行采樣和量化，轉換成數字信號，供給到再現信號二進制化部55。
[0060]再現信號二進制化部55配備橫向濾波器和維特比(Viterbi)解碼電路。從再現信號生成部54供給的數字信號由橫向濾波器均衡化為規定的PR類別，由維特比解碼電路進行最大似然解碼，將該均衡波形轉換成基于規定的調制規則的NRZI信號。由再現信號二進制化單元55生成的NRZI信號通過解碼部58進行數據的解調處理，轉換成再現數據信號，經由控制器接口 33發送到庫控制部11。
[0061]記錄品質檢查部56能夠進行數據的糾錯處理等，檢查再現錯誤率。此外，能夠檢查作為記錄品質指標的再現信號的波形對稱性指標β和信號振幅的調制度M或者作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動(jitter)等。
[0062]光盤庫裝置10定期地檢查光盤40的品質，生成盤管理信息和檢查履歷信息，通過光盤監測部17將各信息保存在存儲器18中。本光盤庫裝置10定期地對儲存在數據盤儲存部13中的所有已記錄的光盤40進行品質檢查，在檢查結果超過檢查閾值的情況下，對儲存在備用盤儲存部132中的光盤40進行記錄在該光盤的數據的重寫。以下對該動作詳細地進行說明。
[0063]圖1是第一實施例中光盤庫裝置10決定光盤40的檢查周期的流程圖。庫控制部11定期地通過溫度計19測量光盤庫裝置10的溫度(S10)。溫度測量后，光盤監測部17參考當前環境溫度和表示該環境溫度下光盤40的劣化進度的關系的表格(S11)。圖5是環境溫度與檢查周期的表格。庫控制部11根據圖5中記錄的溫度范圍設定檢查周期(S12)。此夕卜，對溫度測量的結果與檢查周期的變更方法在后面說明。此外，根據適當地更新后的記錄品質檢查計劃，對儲存在光盤庫裝置10中的所有已記錄的光盤40依次進行檢查。
[0064]接著，對庫控制部11中記錄品質檢查計劃的更新方法利用圖6至圖7進行說明。
[0065]圖6是表示根據阿倫尼斯模型等推算的光盤壽命預測的圖。阿倫尼斯模型為溫度作為活性化能量的化學反應模型，通過環境溫度變化來進行估測材料的故障預測。圖6表示高溫(35°C)環境下品質檢查值的推移和低溫(25°C)環境下品質檢查值的推移。在高溫環境下，由于活性化能量比低溫環境下更高，化學反應進行更快，因此光盤的劣化進度較快。在考慮長期保存的情況下，預計在35°C環境下保管的光盤比在25°C環境下保管的光盤更快地發生再現錯誤。因此，通過使在25°C環境下的各光盤40的檢查期間b比從光盤庫裝置10中達到推薦進行光盤40的重寫的檢測閾值到實際產生再現錯誤的期間B更短，能夠通過品質檢查正確地實施重寫，確保作為光盤庫裝置10的可靠性。并且這對于35°C環境也同樣，以比從達到推薦光盤40重寫的檢測閾值到發生再現錯誤的期間A更短的檢查期間a實施各光盤的檢查。通過本方法，光盤庫裝置10能夠不發生再現錯誤而向主機20發出重寫請求的警告并適當地實施重寫。此外，作為表示品質的是通過糾錯所計算出的錯誤率或錯誤數，但也可使用間接地表示該趨勢的再現信號的波形對稱性指標β、信號振幅的調制度M或作為二進制化信號在時間軸上的擺動的抖動等。
[0066]在本發明中，光盤的劣化檢測閾值的確定、再現錯誤以及分別到達它們的到達時間即預測劣化時間是重要的要素。圖7表示環境溫度與光盤壽命的關系。環境溫度為光盤管理中的氣溫，光盤壽命為通常表示以糾錯的錯誤率難以確保兼容性為目標的數值，在本發明中，在藍光光盤的情況下，以4.2Χ10_3為劣化檢測閾值。此外，再現錯誤依賴于錯誤的發生原因，采用2.0X10'但這些數值并不限于上述數值。可根據光驅動器的再現性能、光盤庫裝置的控制方法替換這些數值。在圖7中為在環境溫度80°C、70°C、60°C三點檢查實際到達劣化檢測閾值的時間的結果。在這些環境溫度下，繪制光盤的錯誤率達到4.2X 1-3的時間。展示了對這三點作擬合直線并外延得到25°C的壽命預測時間的結果。例如，在圖7 中，根據 80°C:0.19 年、70。。:0.46 年、60°C:1.18 年這一結果，得到 25°C:50.0 年。接著求出與到達再現極限(再現錯誤)的數值的關系。在25°C的情況下，若為經過60年達到再現錯誤的錯誤率，則預測相對于檢測閾值經過1.2倍的時間后將發生錯誤。即，只要在達到劣化檢測閾值開始的1.2倍的期間完成所有已記錄的光盤的檢查，則可在任何光盤因隨時間劣化而發生再現錯誤之前檢測。
[0067]此外，在圖5中以表格表示環境溫度與檢查周期的關系，而如圖7所示，絕對溫度與壽命的關系為直線近似式。因此，可將該直線近似式保存在存儲器中，根據環境溫度的測量而適當地變更檢查周期。此外，在溫度變化較大的保存環境或運輸環境中，除了利用溫度平均值的估算，也可考慮以該測量期間內的峰值溫度為主的情況。因此，可為利用該測量期間的最大值的計算，或可為對各溫度區間的平均值和最大值進行加權的計算方法。
[0068]根據以上的條件，光盤監測部17基于檢測溫度計算檢查周期并更新光盤的檢查周期。假定作為光盤的保存環境的最差條件(最高溫度條件)為80°C的情況下，預測從所述檢測閾值到發生再現錯誤的劣化期間為約兩周。因此，光盤的檢查周期的更新期望使用至少每周一次左右的平均值。這是因為如果小于一天，則預想到會高靈敏度地檢測到一天的氣溫變動的影響或光盤運輸時等特殊狀態。而且因為光盤是適合于長期保存的介質，如果為每周一次以上的頻度高的周期，則有可能對光盤庫裝置的正常動作產生影響。庫控制部11用于光盤檢查的占用率期望至多為1%左右。這是因為，通過在光盤庫裝置的使用中使光盤的檢查不為主要用途或者抑制使用率，能夠充分利用光盤的長期保存的特性。此外，1%的占用率為一臺光驅動器一周時間約檢查一個光盤的比例。
[0069]接著，圖8是光盤檢查的流程圖。雖然未圖示，首先在光盤監測部17中預先確定檢查的順序。例如，可為數據盤儲存部13的插槽的編號管理，或可為利用光盤的固有ID的管理。接著，庫控制部η基于圖1所示的光盤檢查周期來指示換盤機構12，將下一張待檢查的光盤40搬送到光驅動器30。換盤機構12將該光盤40搬送到光驅動器30后，光驅動器30裝載光盤40，開始記錄品質檢查(S20)。記錄品質期望為除去連續發生的突發錯誤之外的錯誤率，但也可使用一般計算的錯誤率，或者使用作為間接指標的再現信號的波形對稱性指標β、信號振幅的調制度M或作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動等。在此，記錄品質檢查為庫控制部11依次地將上述光盤裝載到光驅動器中并計算上述光盤的各糾錯塊單位的錯誤數或錯誤率。對于檢查的光盤的結果，光盤監測部17將該光盤40的ID、各糾錯塊單位的錯誤數或錯誤率及其地址保存在存儲器18中。但由于有存儲器空間的制約，可不保存全部的糾錯塊單位。由于實際上關注的是品質差的塊，因此可僅保存品質最差的糾錯塊的錯誤數或錯誤率，或者保存包括品質最差的糾錯塊在內的多個糾錯塊的錯誤數或錯誤率的結果。
[0070]接著，庫控制部11進行記錄品質檢查的結果是否超過作為遷移閾值即劣化檢查閾值的4.2X10_3的判定(S21)。此外，判定基準并不將該數值限定于上述數值。可根據光驅動器的再現性能和光盤庫裝置的控制方法替換這些數值。在超過劣化檢測閾值的情況下，對儲存在備用盤儲存部132中的備用光盤40實施重寫。此外，在S21中，在劣化檢測閾值之下的情況下可確認至少在下一光盤檢查之前的期間能夠再現。因此，庫控制部11指示該光盤40搬送到原來的數據盤儲存部13中。
[0071]【實施例2】
[0072] 圖9是表示第二實施例的流程圖。以下僅對與實施例1不同的部分進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的步驟附以相同記號，省略其重復說明。
[0073]在實施例2中，在光盤檢查的流程中，超過遷移閾值即劣化檢測閾值時的步驟不同。在超過遷移閾值的情況下，庫控制部11通過向主機發出警告，來執行對光盤庫裝置10的用戶和管理公司的通知(S32)。本實施例對不具備備用盤儲存部132和廢盤儲存部133的光盤庫裝置10以及在沒有儲存在備用盤儲存部132中的光盤40的情況下是有效的方法。通過該警告，發出裝載在所述光盤庫裝置10中的光盤40的狀態劣化或者環境惡化、光盤庫裝置10的運行變得困難的提醒。在發出該警告的情況下，期望迅速地實施裝載在該光盤庫裝置10中的光盤40的重寫、交換。
[0074]【實施例3】
[0075]圖4是表示第三實施例的框圖，圖10是表示第三實施例的流程圖。以下僅對與實施例I不同的部分進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的步驟附以相同記號，省略其重復說明。
[0076]圖4為對圖2附加盤清潔部134后的框圖。此外，圖10中，在光盤檢查流程中是否超過遷移閾值即劣化檢測閾值的判斷(S21)之后不同。在遷移閾值之下的情況下，判斷為盤未劣化。但在實際中，存在從記錄的初始狀態開始仍在遷移閾值之下但被確認為劣化的情況。為了嚴密地檢測出這樣的要素，通過與初始記錄時的檢查結果或上一次檢查該光盤的結果相比較，來進行詳細的判斷。在S411中，與第一次檢查的結果即記錄后立刻檢查的結果或該光盤上一次的檢查結果相比較，糾錯數增加100字節以上的情況為急劇的變化，假定有光盤的劣化或塵埃、傷痕等干擾的影響。因此，雖然本來在遷移閾值之下，但通過事先對光盤的再現性能劣化發出盤清潔的警告，實現實際達到遷移閾值之前的對策。此外，記錄品質的檢查值即糾錯數采用100字節，但并不限于此。例如可為根據光盤的再現能力、光盤庫裝置的系統控制或調制方式等導出的數值。
[0077]判斷指標為兩階段，首先是該光盤是否急劇地品質劣化，其次是作為參考對比的其它光盤即全體光盤是否急劇地品質劣化。若確認該光盤急劇地品質劣化，可判斷為個體原因，而若其它光盤也有同樣的趨勢，則可判斷為全體趨勢的變動原因。例如，在因周圍環境的變化而在光盤庫裝置中進入有塵埃的情況下，根據其大小而異，會檢測到大量突發錯誤。因而首先實施光盤的清潔，在未見改善的情況下可判斷為盤上產生的傷痕或者與傷痕等同、無法除去。作為其它光盤的相對品質檢查，為了測得全體的趨勢而使用從檢查開始后每次檢查時取得的平均值。將所述光盤的糾錯數的平均值與該光盤的糾錯數相比較，在增加了 100字節以上的情況下為急劇的變化，判斷為異常。因此，在與其它光盤的相對品質檢查中確認100字節以上的增加的情況下，在S42中也與上面同樣地對光盤的再現性能劣化事先發出盤清潔的警告，實現實際達到遷移閾值之前的對策。
[0078]此外，在平均值的計算中也可使用品質檢查值的移動平均。若溫度環境的變化小至1、2°C左右，并且檢測時間為一個月左右的期間，則可判斷環境變化中不發生較大變化。例如，在每周兩張左右的檢查計劃中，對每個月10張左右的檢查履歷進行平均，實施相對比較。由于假定了光盤自身的個體差異，因此期望至少為10張左右。此外，在與其它光盤的相對比較中，可改變作為閾值的品質檢查值。檢測靈敏度因進行基準值平均的參數而變化，需要加以注意。
[0079] 在超過遷移閾值的情況下，庫控制部11向主機發出光盤40的清潔警告(S42)。根據光盤的清潔警告，庫控制部11向用戶或管理公司通知光盤的狀態發生劣化。之后，庫控制部11指示換盤機構12將光盤40搬送到盤清潔部134。換盤機構12將光盤40搬送到盤清潔部134。盤清潔部134執行該光盤40的表面清潔，除去光盤表面附著的塵埃或傷痕坐寸ο
[0080]之后，庫控制部11指示換盤機構12將該光盤40搬送到光驅動器30。換盤機構12將光盤40從盤清潔部134搬送到光驅動器30。光驅動器30裝載光盤40再次檢查光盤40的記錄品質。在盤清潔有效、記錄檢查的結果低于劣化檢測閾值的情況下，由于能夠與通常的光盤同樣地實施記錄再現動作，因此結束光盤檢查。但在盤清潔無效果、記錄品質檢查的結果仍高于劣化檢測閾值的情況下，為了嚴格區分其原因，庫控制部11判定該記錄品質惡化的區域是否發生作為連續錯誤的突發錯誤(S43)。在突發錯誤在2000字節以下的情況下，由于光盤40的劣化原因并非突發錯誤而是取決于盤自身，因此庫控制部11對儲存在備用盤儲存部132中的光盤40實施重寫(S22)。
[0081]接著在S43中，在突發錯誤在2000字節以上的情況下，由于光盤40的劣化原因為突發錯誤，因此庫控制部11提取包含該光盤40的突發錯誤的數據文件，對儲存在備用盤儲存部132中的光盤40僅實施該數據文件的重寫。此外，突發錯誤數使用2000字節，但并不限于此。例如可為根據光驅動器的再現能力或光盤庫裝置的系統控制導出的數值。
[0082]由此，光盤庫裝置10能夠根據光盤40中品質劣化的原因來實施合適的重寫。
[0083]【實施例4】
[0084]圖11是表示第四實施例的流程圖。表示第四實施例的框圖與圖2相同。以下僅對與實施例1不同的點進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的步驟附以相同記號，省略其重復說明。
[0085]光盤因其劣化原因而在品質指標中的檢測結果不同。因此對光盤的劣化原因進行比較。光盤的劣化原因大致分為作為光盤自身劣化的隨時間劣化、使用系統導致的傷痕和保存環境導致的塵埃。作為結果，它們都被檢測為再現品質的劣化，但通過區分其影響度、影響范圍，能夠提高光盤的利用效率。可預測到，這些原因中塵埃導致的影響尤其對光盤表面有比較平均的影響。除此之外，隨時間劣化有尤其在作為光盤端面的外周側上檢測出品質變化的趨勢。此外，傷痕因光盤庫裝置的搬送裝置而產生，其主要發生在光盤的外周側的可能性較高。這是因為光盤與搬送機構或光盤儲存部的接觸點為光盤的外周部。尤其光盤的外周部，相對于12cm的直徑，距離數據區域僅有2_左右的空白，搬送機構導致的品質劣化的可能性較高。搬送機構導致的傷痕、尤其是大范圍傷痕可檢測出作為連續缺陷的突發錯誤。由上，作為劣化的判定，將遍布光盤整體的離散的突發錯誤預測為塵埃的原因，將偏向盤外周的突發錯誤預測為隨時間劣化或傷痕所導致。圖19是表示用于塵埃檢查的光盤檢查區域的圖。檢查區域A為從光盤的內周到中部的區域，認為塵埃等的影響大致相同。作為對照，檢查區域B在光盤的外周部(例如從55mm到58mm)的范圍，除了上述塵埃的影響之外，也包含了搬送機構導致的傷痕等原因和記錄品質的隨時間劣化等影響，難以惟一地確定原因。
[0086]因此，將檢查范圍限定在檢查區域A來進行檢查。庫控制部11在檢查區域A中僅檢測連續地發生的突發錯誤。通過累加突發錯誤數來檢測光盤自身存在的缺陷等導致的突發錯誤與塵埃導致的突發錯誤。通過檢測這些差別，能夠判斷塵埃導致的錯誤的增加量。因此，圖11中的記錄品質的檢查表示突發錯誤(S20)。針對突發錯誤，與所檢查的光盤在記錄后檢查的結果或者在記錄前檢查的結果進行比較(S51)。其結果是各糾錯塊單位的突發錯誤在1000字節以上的情況下，認為是塵埃導致的品質劣化。因此，在S52中，庫控制部11可通過向主機發出盤清潔的警告來確定光盤的保管環境中塵埃的原因導致的品質劣化。
[0087]圖20是表示用于塵埃檢查的光盤的檢查區域的圖。檢查區域A的范圍與圖19不同。在圖19中，定義檢查區域A為檢查區域B之外的區域，但也可如圖20所示，為光盤的內周或中部的部分區域。通過限制檢查區域A的范圍可獲得檢查時間的縮短效果。
[0088]【實施例5】
[0089]圖12是表示第五實施例的框圖。以下僅對與實施例1不同的點進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的模塊附以相同記號，省略其重復說明。
[0090]相比圖2，圖12配備了光驅動器30以及品質檢查用光驅動器301。在實施例1中，裝載在光盤庫裝置中的光驅動器30的任意個實施品質檢查。在圖12中，品質檢查用光驅動器301實施所有的品質檢查。通過本實施例，由于能夠始終使用相同光驅動器檢測品質檢查值，能夠降低光驅動器的個體差異導致的檢查值的波動。
[0091]此外，品質檢查用光驅動器301中，對于對再現性能的差異產生較大影響的例如IV放大器等部件，可通過特別地安裝與其它光驅動器30不同的部件來實現光驅動器自身的再現性能的提聞，能夠聞精度地檢查光盤的品質。
[0092]【實施例6】
[0093]圖13是表示第六實施例的光盤的圖。圖10是表示第六實施例的流程圖。以下僅對與實施例1不同的點進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的模塊附以相同記號，省略其重復說明。
[0094]圖13為在規定的地址設有5個記錄條件各異的區域的光盤。圖6表示存在該光盤的保存時間因光驅動器的記錄條件而改變的可能性。圖6為對品質檢查值相同的光盤進行比較的結果，實際中因光驅動器與光盤的組合以及進一步地因環境溫度等的不同，即使基于相同參數的記錄，記錄結果也不同。考慮了這些變動因素的設計為如圖13所示的使用多種記錄功率的帶狀結構。通過檢查該帶狀結構的品質，能夠通過一張該光盤的檢查實現上述光盤庫裝置中裝載的所有光盤的品質檢查。
[0095]圖14是表示記錄功率與記錄品質在老化后的檢查結果的圖。橫軸為記錄功率，相當于圖13的各條帶的記錄功率。縱軸為品質檢查值，期望采用除去連續地發生的突發錯誤之外的錯誤率，但也可使用一般計算的錯誤率，或可使用作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動等。根據圖14的結果，在記錄功率較高的記錄狀態中顯著地表現出品質劣化。除了隨時間劣化，傷痕或塵埃等導致的劣化也可認為是品質劣化的原因。
[0096]圖15是表示記錄功率與記錄品質在老化后的檢查結果的圖。但老化后的劣化原因不同。圖14的情況為光盤自身發生的隨時間劣化，而圖15的情況為傷痕或塵埃等導致。根據以上的結果可知，因光盤老化后的劣化原因的不同，其品質劣化的狀況不同。通過恰當地判別它們，能夠區分劣化原因。
[0097] 此外，也可通過作為間接指標的再現信號的波形對稱性指標β或信號振幅的調制度M等進行該評價。圖16表示將再現信號的波形對稱性指標β作為指標時的檢查結果。作為老化后的變化，品質評價值被平移并檢測。在進行超過允許變動范圍的檢測的情況下，能夠與錯誤率檢測同樣地檢測出劣化。但由于不是直接的評價指標，最終希望如上所述地采用錯誤率等品質檢查指標。此外，為了降低光驅動器的再現性能的差異等導致的再現結果的差別，通過同時使用錯誤率或錯誤數以及再現波形指標的β或Μ，可期待提高光盤檢查結果的精度。
[0098]基于以上，如上所述地按照圖10的流程進行說明。首先庫控制部11指示將進行檢查的光盤搬送到光驅動器30。在此，檢查用的光盤為如圖13所示的預備了條帶的光盤，其中對條帶準備了多種記錄功率。檢查用的條帶記錄區域并不限于圖13所示的地址，可僅配備于檢查用的特定光盤上，也可配備在所有的光盤上。此外，這些檢查用的條帶記錄區域可配備于用戶數據區域，實際地記錄的數據可為OOh的重復數據等固定數據。對于原本的用戶數據，固定作為上述檢查用的條帶記錄區域的地址，掩蓋(Mask)上述地址并記錄數據。
[0099]換盤機構12將該光盤40搬送到光驅動器30后，光驅動器30裝載光盤40，開始記錄品質檢查(S20)。記錄品質期望為除去連續發生的突發錯誤之外的錯誤率，但也可使用一般計算的錯誤率，或者使用作為間接指標的再現信號的波形對稱性指標β、信號振幅的調制度M或作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動等。或可不進行數據調制而僅記錄固定數據長度(例如6Τ的重復，T為信道比特長度)的模式，檢查其抖動。或可從上述OOh的重復數據等依照調制規則的記錄數據中進行6Τ的模式判別，提取該數據長度模式的抖動進行檢查。
[0100]以下,利用圖17至圖18對利用檢查用光盤的檢查方法進行說明。圖17是表示利用檢查用光盤的檢查方法的流程圖。此外，圖18表示上述各條帶的記錄功率與品質檢查值的結果。首先，庫控制部11為了確定圖18所示的假定變動范圍而進行品質分布范圍的初始值設定(S50)。上述品質分布范圍的初始值設定可使用預先決定的固定值，也可參考光盤的ID和分布范圍表格進行設定。接著，庫控制部11參考之前的光盤檢查的結果，判定是否存在超過圖18中記載的假定變動范圍的結果(S51)。在存在超過上述假定變動范圍的結果的情況下，表示上述光盤庫裝置中裝載的光盤的品質分布范圍超出假定的結果，庫控制部11進行該假定變動范圍的更新(S52)。接著轉移到檢查用光盤的品質檢查。
[0101]光盤庫裝置11指示換盤機構12，將檢查用光盤搬送到光驅動器30。換盤機構12將上述檢查用光盤搬送到光驅動器30后，光驅動器30加載檢查用光盤，進行上述各條帶的品質檢查(S53)。品質檢查的結果如圖18所不。繪制各記錄功率條件下的品質檢查值，利用二次逼近法推出上述光盤庫裝置中裝載的所有光盤的假定品質分布(S54)。然后求出假定變動范圍與上述二次逼近法得到的曲線的交點。在圖18中由于是以記錄功率100%附近為極值點的二次曲線，利用兩個交點中品質檢查值較高的結果來進行所有光盤的假定最差值是否在劣化檢測閾值以下的判定(S55)。在規定值之下的情況下，由于可判斷當前所有光盤的品質沒有問題，結束光盤檢查。在超過規定值的情況下，由于假定了上述光盤庫裝置中裝載的光盤的品質的劣化，庫控制部11向主機發出警告以迅速地實施上述光盤庫裝置中裝入的光盤的重寫(S56)。
[0102]此外，本發明并不限于上述的實施例，包含了各種變形例。例如，上述實施例是為了對本發明易懂地說明而進行的詳細說明，并非限定必須具備所說明的全部的結構。此外，可將某實施例的結構的一部分替換成其它實施例的結構，或者可在某實施例中添加其它實施例的結構。另外，針對各實施例的結構的一部分，能夠進行其它結構的追加、刪除、替換。
[0103]此外，上述的各結構、功能、處理部、處理單元等，其部分或者全部可通過例如使用集成電路來設計等以硬件實現。此外，上述的各結構、功能，也可通過處理器解釋和執行實現各自功能的程序以軟件實現。實現各功能的程序、表格、文件等信息，可存儲在存儲器、硬盤、SSD (Solid State Drive:固態硬盤)等記錄裝置中，或者IC卡、SD卡、DVD等記錄介質中。
[0104]此外，控制線路和信息線路表示說明中所需的部分，并不限定產品中表現出所有的控制線路和信息線路。實際上可以認為幾乎全部的結構互相連接。
【權利要求】
1.一種裝載有光盤和光驅動器的光盤庫裝置的光盤檢查方法，其特征在于: 測量所述光盤庫裝置內的溫度， 根據所述測量到的溫度決定檢查所述光盤的檢查周期， 根據所述決定的周期，由所述光驅動器進行對儲存在所述光盤庫裝置中的已記錄的所述光盤的記錄品質的檢查。
2.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為未達到規定的記錄品質的情況下，向上級主 機發出表達將該光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
3.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 當進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為達到規定的記錄品質時，在通過所述檢查得到的記錄品質與過去由所述光驅動器檢查所述光盤所得到的記錄品質的差超過第一閾值的情況下，也向上級主機發出規定的警告。
4.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述已記錄的光盤為裝載在所述光盤庫裝置中的所有已記錄的所述光盤。
5.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述已記錄的光盤為從裝載在所述光盤庫裝置中的已記錄的所述光盤中抽取的至少一個所述光盤。
6.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述測量到的溫度為至少一天以上的平均值。
7.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述測量到的溫度為在至少一天以上的相同時間帶取得的所述溫度的測量值。
8.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述光驅動器為，裝載在所述光盤庫裝置中的多個所述光驅動器中比較了所述光盤的記錄品質的結果為再現性能比用戶數據記錄再現用光驅動器好的光驅動器。
9.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述光盤為以多種不同的記錄功率在所述光盤的至少一層以上的一部分用戶數據區域中記錄有至少一個能夠糾錯的數據長度的光盤。
10.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述記錄品質，由糾錯的數目表示，是以物理上連續的缺陷導致的突發錯誤作為原因的錯誤率或錯誤數。
11.如權利要求10所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為檢測到規定長度以上的突發錯誤的情況下，將包含所述突發錯誤的數據文件重寫到其它光盤。
12.如權利要求10或11所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為突發錯誤或者除去突發錯誤之外的錯誤數或錯誤率超過第一閾值的情況下，發出用于進行光盤的清潔的警告。
13.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述記錄品質，由糾錯的數目表示，是物理上連續的缺陷導致的突發錯誤和從一個糾錯塊中除去突發錯誤之外的錯誤率或錯誤數。
14.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述記錄品質為再現信號的波形對稱性指標、或表示信號振幅相對于未記錄的信號電平的比率的調制度、或作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動。
15.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的首次取得的記錄品質與所述檢查后取得的記錄品質進行比較，其差超過第一閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
16.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的至少一次以上之前取得的記錄品質與所述檢查之后取得的記錄品質進行比較，其差超過第一閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
17.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的首次取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，且對至取得所述第二記錄品質為止的記錄品質平均值與所述第二記錄品質進行比較，其差超過第二閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
18.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的至少一次以上之前取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，且對至取得所述第二記錄品質為止的記錄品質平均值與所述第二記錄品質進行比較，其差超過第二閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
19.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的首次取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，對至取得所述第二記錄品質為止的多個所述光盤的記錄品質的平均值與所述光盤的所述第二記錄品質進行比較，其差為第三閾值以下的情況下，向上級主機發出表達將多個所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
20.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的至少一次以上之前取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，對至取得所述第二記錄品質為止的多個所述光盤的記錄品質的平均值與所述光盤的所述第二記錄品質進行比較，其差為第三閾值以下的情況下，向上級主機發出表達將多個所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
21.一種對多個光盤進行信息的記錄再現的光盤庫裝置，其特征在于，包括: 儲存多個光盤的光盤儲存部； 搬送所述光盤的換盤機構； 進行所述光盤的記錄再現的光驅動器； 測量環境溫度的溫度計；和控制部，其進行控制使得利用所述溫度計測量所述光盤庫裝置內的溫度，根據測量到的所述溫度決定檢查所述光盤的檢查周期，根據決定的所述周期，利用所述光驅動器進行對儲存在所述光盤庫裝置中的已記錄的所述光盤的記錄品質的檢查。
22.如權利要求21所述的光盤庫裝置，其特征在于: 所述控制部，在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為未達到規定的記錄品質的情況下，向上級主機發出表達將該光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
23.如權利要求21所述的光盤庫裝置，其特征在于: 所述控制部，當進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為達到規定的記錄品質時，在通過所述檢查得到的記錄品質與過去由所述光驅動器檢查所述光盤所得到的記錄品質的差超過第一閾值的情 況下，也向上級主機發出規定的警告。
【文檔編號】G11B20/18GK104078070SQ201410058043
【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年2月20日 優先權日:2013年3月27日
【發明者】安川貴清 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司
【專利摘要】本發明的目的為在裝載多個光驅動器的光盤庫裝置中降低溫度變化導致的記錄再現性能的劣化。在本發明的光盤庫裝置中，分析光盤的品質劣化的原因，為了實施與該原因相應的恢復，測量上述光盤庫裝置內的溫度，基于上述測量到的溫度，決定檢查上述光盤的檢查周期，根據上述決定的周期，由上述光驅動器進行對儲存在上述光盤庫裝置中的已記錄的上述光盤的記錄品質的檢查。
【專利說明】光盤庫裝置的光盤檢查方法和光盤庫裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及裝載有多個光盤裝置的光盤庫裝置的光盤檢查方法。
【背景技術】
[0002]與本發明相關的【背景技術】例如有專利文獻I中記載的技術。專利文獻I中記載了如下內容:“測定光盤的記錄品質并生成盤管理信息和測定履歷信息，進一步地，基于這些盤管理信息和測定履歷信息決定下次記錄品質的測定時間。在所決定的該測定時間到來時，光盤管理裝置再次測定光盤的記錄品質”。
[0003]現有技術文獻
[0004]專利文獻
[0005]專利文獻1:日本特開2008-204580號公報
【發明內容】
[0006]發明要解決的課題
[0007]上述專利文獻I中有根據光盤的記錄品質的測定結果所示的劣化程度來決定測定時間的記載。但在實際的光盤中不僅有記錄品質的隨時間劣化，例如還有因傷痕或塵埃的影響而被判定為記錄品質劣化的情況。
[0008]本發明鑒于以上而完成，本發明的目的為對光盤庫裝置分析光盤品質劣化的原因并實施與其原因相應的恢復。
[0009]用于解決課題的方案
[0010]為了解決上述問題，作為一個例子，本發明的裝載有光盤和光驅動器的光盤庫裝置的光盤檢查方法中，測量光盤庫裝置內的溫度，根據測量到的溫度決定檢查光盤的檢查周期，根據決定的周期，由光驅動器進行對儲存在光盤庫裝置中的已記錄的光盤的記錄品質的檢查。
[0011]發明效果
[0012]通過本發明能夠對光盤庫裝置根據光盤的品質劣化的原因實施合適的恢復處理。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1是第一實施例中決定光盤的檢查周期的流程圖。
[0014]圖2是第一實施例中的光盤庫裝置的框圖。
[0015]圖3是第一實施例中的光驅動器的框圖。
[0016]圖4是第三實施例中的光盤庫裝置的框圖。
[0017]圖5是表示環境溫度與檢查周期的圖。
[0018]圖6是表示光盤的壽命預測的圖。
[0019]圖7是表示環境溫度與光盤壽命的關系的圖。
[0020]圖8是說明第一實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0021]圖9是說明第二實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0022]圖10是說明第三實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0023]圖11是說明第四實施例中的光盤檢查的流程圖。
[0024]圖12是第五實施例中的光盤庫裝置的框圖。
[0025]圖13是表示第六實施例中的光盤上的記錄區域的圖。
[0026]圖14是表示記錄功率與記錄品質的關系的圖。
[0027]圖15是表示記錄功率與記錄品質的關系的圖。
[0028]圖16是表示記錄功率與再現信號的波形對稱性指標的關系的圖。
[0029]圖17是說明使用檢查用光盤的檢查方法的流程圖。
[0030]圖18是表示記錄功率與品質檢查值的關系的圖。
[0031]圖19是表示用于塵埃檢查的光盤檢查區域的圖。
[0032]圖20是表示用于塵埃檢查的光盤檢查區域的圖。
[0033]符號說明:
[0034]10......光盤庫裝置
[0035]11......庫控制部
[0036]14......主機接口
[0037]15……光驅動器選擇部
[0038]16......驅動器接口
[0039]32……光拾取器
[0040]33......控制器接口
[0041]40......光盤
[0042]50......盤旋轉機構
[0043]51......滑動機構
【具體實施方式】
[0044]以下利用【專利附圖】
【附圖說明】依照本發明的光盤庫裝置的實施例。
[0045]【實施例1】
[0046]參考附圖對作為本發明的第一實施例的光盤庫裝置的結構和動作進行詳述。其中，作為光盤，本實施例使用藍光光盤，但并不限于此。可為藍光光盤之外的全息記錄等的光盤，或可裝載其它可更換介質及其記錄再現裝置。
[0047]圖2是第一實施例中的光盤庫裝置的框圖。本實施例的光盤庫裝置10由庫控制部
11、換盤機構12、容納多個光盤40的數據盤儲存部13、備用盤儲存部132、廢盤儲存部133、主機接口 14、光驅動器選擇部15、驅動器接口 16、光盤監測部17、存儲器18、溫度計19和多個光驅動器30所構成。
[0048]光盤庫裝置10經由主機接口 14與主機20連接，接收數據記錄或再現等各種命令和待記錄的數據，發送命令的執行結果和再現的數據。
[0049]數據盤儲存部13配備多個插槽，每個插槽內能夠儲存一個光盤40。
[0050]備用盤儲存部132在光盤庫裝置10的通常動作中不使用，在光盤通過檢查被判定為超出劣化檢測閾值的情況下提供光盤40。
[0051]廢盤儲存部133為光盤庫裝置10在盤檢查中判斷為超出劣化檢測閾值的光盤40的儲存部。
[0052]庫控制部11具有控制光盤庫裝置10的全部動作的功能。在對儲存在數據盤儲存部13中儲存的光盤40進行數據存取時，即存儲在光盤40中的數據的再現時或對光盤40寫入數據時，使換盤機構12動作，從數據盤儲存部13取出規定的光盤40，搬送到進行數據存取的光驅動器30并裝載。或者相反地，對一定時間未有數據存取的光盤40從進行數據存取的光驅動器30彈出，通過換盤機構12搬送到數據盤儲存部13的規定插槽并儲存。此夕卜，光驅動器選擇部15經由驅動器接口 16與各光驅動器30相連接，規定的光驅動器30接收記錄或再現等各種命令。
[0053]光盤監測部17執行光盤40的狀態管理，存儲器18保存光盤監測部17檢測出的記錄在各光盤40中的數據管理信息、各光盤40的記錄品質、光盤40的檢查周期、環境溫度坐寸ο
[0054]溫度計19監測光盤庫裝置10的內部溫度。當庫控制部11對溫度計19進行環境溫度取得請求指示時，溫度計19向庫控制部11發送當前的環境溫度的測量結果。光盤監測部17定期地從庫控制部11接收溫度的測量結果并保存在存儲器18中。
[0055]圖3是第一實施例中的光驅動器30的框圖。本實施例的光驅動器30由光驅動器控制部31、光拾取器32、控制器接口 33、盤旋轉機構50、滑動機構51、伺服控制部52、伺服信號生成部53、再現信號生成部54、再現信號二進制化部55、記錄品質檢查部56、編碼部57、和解碼部58所構成。
[0056]光驅動器控制部31控制光驅動器30的全部動作。即，通過伺服控制部52進行盤旋轉機構50中裝入的光盤40的旋轉控制，驅動滑動機構51進行使光拾取器32在光盤40的半徑方向上移位的尋軌控制和進給控制，驅動光拾取器32的物鏡進行聚焦控制和跟蹤控制。
[0057]此外，光驅動器控制部31控制光拾取器32的激光器發光。在記錄時，由編碼部57將從庫控制部11經由控制器接口 33發送來的記錄數據信號轉換成基于規定的調制規則的NRZI信號，供給到光驅動器控制部31，光驅動器控制部31轉換成與該NRZI信號對應的記錄策略(發光脈沖串)，使激光器根據規定光強度和脈沖串發光。
[0058]來自光盤40的發射光量被光拾取器32的光檢測器接收而被轉換成電信號,發送到伺服信號生成部53和再現信號生成部54。伺服信號生成部53根據適合裝入的光盤40的檢測方法來選擇、生成各種伺服信號，供給到光驅動器控制部31。伺服信號至少包含聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。光驅動器控制部31基于這些伺服信號通過上述伺服控制部52驅動物鏡，進行聚焦伺服和跟蹤伺服。
[0059]再現信號生成部54配備波形均衡電路和A/D轉換器，對從光拾取器32供給的模擬的再現信號進行規定的波形均衡化后，進行采樣和量化，轉換成數字信號，供給到再現信號二進制化部55。
[0060]再現信號二進制化部55配備橫向濾波器和維特比(Viterbi)解碼電路。從再現信號生成部54供給的數字信號由橫向濾波器均衡化為規定的PR類別，由維特比解碼電路進行最大似然解碼，將該均衡波形轉換成基于規定的調制規則的NRZI信號。由再現信號二進制化單元55生成的NRZI信號通過解碼部58進行數據的解調處理，轉換成再現數據信號，經由控制器接口 33發送到庫控制部11。
[0061]記錄品質檢查部56能夠進行數據的糾錯處理等，檢查再現錯誤率。此外，能夠檢查作為記錄品質指標的再現信號的波形對稱性指標β和信號振幅的調制度M或者作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動(jitter)等。
[0062]光盤庫裝置10定期地檢查光盤40的品質，生成盤管理信息和檢查履歷信息，通過光盤監測部17將各信息保存在存儲器18中。本光盤庫裝置10定期地對儲存在數據盤儲存部13中的所有已記錄的光盤40進行品質檢查，在檢查結果超過檢查閾值的情況下，對儲存在備用盤儲存部132中的光盤40進行記錄在該光盤的數據的重寫。以下對該動作詳細地進行說明。
[0063]圖1是第一實施例中光盤庫裝置10決定光盤40的檢查周期的流程圖。庫控制部11定期地通過溫度計19測量光盤庫裝置10的溫度(S10)。溫度測量后，光盤監測部17參考當前環境溫度和表示該環境溫度下光盤40的劣化進度的關系的表格(S11)。圖5是環境溫度與檢查周期的表格。庫控制部11根據圖5中記錄的溫度范圍設定檢查周期(S12)。此夕卜，對溫度測量的結果與檢查周期的變更方法在后面說明。此外，根據適當地更新后的記錄品質檢查計劃，對儲存在光盤庫裝置10中的所有已記錄的光盤40依次進行檢查。
[0064]接著，對庫控制部11中記錄品質檢查計劃的更新方法利用圖6至圖7進行說明。
[0065]圖6是表示根據阿倫尼斯模型等推算的光盤壽命預測的圖。阿倫尼斯模型為溫度作為活性化能量的化學反應模型，通過環境溫度變化來進行估測材料的故障預測。圖6表示高溫(35°C)環境下品質檢查值的推移和低溫(25°C)環境下品質檢查值的推移。在高溫環境下，由于活性化能量比低溫環境下更高，化學反應進行更快，因此光盤的劣化進度較快。在考慮長期保存的情況下，預計在35°C環境下保管的光盤比在25°C環境下保管的光盤更快地發生再現錯誤。因此，通過使在25°C環境下的各光盤40的檢查期間b比從光盤庫裝置10中達到推薦進行光盤40的重寫的檢測閾值到實際產生再現錯誤的期間B更短，能夠通過品質檢查正確地實施重寫，確保作為光盤庫裝置10的可靠性。并且這對于35°C環境也同樣，以比從達到推薦光盤40重寫的檢測閾值到發生再現錯誤的期間A更短的檢查期間a實施各光盤的檢查。通過本方法，光盤庫裝置10能夠不發生再現錯誤而向主機20發出重寫請求的警告并適當地實施重寫。此外，作為表示品質的是通過糾錯所計算出的錯誤率或錯誤數，但也可使用間接地表示該趨勢的再現信號的波形對稱性指標β、信號振幅的調制度M或作為二進制化信號在時間軸上的擺動的抖動等。
[0066]在本發明中，光盤的劣化檢測閾值的確定、再現錯誤以及分別到達它們的到達時間即預測劣化時間是重要的要素。圖7表示環境溫度與光盤壽命的關系。環境溫度為光盤管理中的氣溫，光盤壽命為通常表示以糾錯的錯誤率難以確保兼容性為目標的數值，在本發明中，在藍光光盤的情況下，以4.2Χ10_3為劣化檢測閾值。此外，再現錯誤依賴于錯誤的發生原因，采用2.0X10'但這些數值并不限于上述數值。可根據光驅動器的再現性能、光盤庫裝置的控制方法替換這些數值。在圖7中為在環境溫度80°C、70°C、60°C三點檢查實際到達劣化檢測閾值的時間的結果。在這些環境溫度下，繪制光盤的錯誤率達到4.2X 1-3的時間。展示了對這三點作擬合直線并外延得到25°C的壽命預測時間的結果。例如，在圖7 中，根據 80°C:0.19 年、70。。:0.46 年、60°C:1.18 年這一結果，得到 25°C:50.0 年。接著求出與到達再現極限(再現錯誤)的數值的關系。在25°C的情況下，若為經過60年達到再現錯誤的錯誤率，則預測相對于檢測閾值經過1.2倍的時間后將發生錯誤。即，只要在達到劣化檢測閾值開始的1.2倍的期間完成所有已記錄的光盤的檢查，則可在任何光盤因隨時間劣化而發生再現錯誤之前檢測。
[0067]此外，在圖5中以表格表示環境溫度與檢查周期的關系，而如圖7所示，絕對溫度與壽命的關系為直線近似式。因此，可將該直線近似式保存在存儲器中，根據環境溫度的測量而適當地變更檢查周期。此外，在溫度變化較大的保存環境或運輸環境中，除了利用溫度平均值的估算，也可考慮以該測量期間內的峰值溫度為主的情況。因此，可為利用該測量期間的最大值的計算，或可為對各溫度區間的平均值和最大值進行加權的計算方法。
[0068]根據以上的條件，光盤監測部17基于檢測溫度計算檢查周期并更新光盤的檢查周期。假定作為光盤的保存環境的最差條件(最高溫度條件)為80°C的情況下，預測從所述檢測閾值到發生再現錯誤的劣化期間為約兩周。因此，光盤的檢查周期的更新期望使用至少每周一次左右的平均值。這是因為如果小于一天，則預想到會高靈敏度地檢測到一天的氣溫變動的影響或光盤運輸時等特殊狀態。而且因為光盤是適合于長期保存的介質，如果為每周一次以上的頻度高的周期，則有可能對光盤庫裝置的正常動作產生影響。庫控制部11用于光盤檢查的占用率期望至多為1%左右。這是因為，通過在光盤庫裝置的使用中使光盤的檢查不為主要用途或者抑制使用率，能夠充分利用光盤的長期保存的特性。此外，1%的占用率為一臺光驅動器一周時間約檢查一個光盤的比例。
[0069]接著，圖8是光盤檢查的流程圖。雖然未圖示，首先在光盤監測部17中預先確定檢查的順序。例如，可為數據盤儲存部13的插槽的編號管理，或可為利用光盤的固有ID的管理。接著，庫控制部η基于圖1所示的光盤檢查周期來指示換盤機構12，將下一張待檢查的光盤40搬送到光驅動器30。換盤機構12將該光盤40搬送到光驅動器30后，光驅動器30裝載光盤40，開始記錄品質檢查(S20)。記錄品質期望為除去連續發生的突發錯誤之外的錯誤率，但也可使用一般計算的錯誤率，或者使用作為間接指標的再現信號的波形對稱性指標β、信號振幅的調制度M或作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動等。在此，記錄品質檢查為庫控制部11依次地將上述光盤裝載到光驅動器中并計算上述光盤的各糾錯塊單位的錯誤數或錯誤率。對于檢查的光盤的結果，光盤監測部17將該光盤40的ID、各糾錯塊單位的錯誤數或錯誤率及其地址保存在存儲器18中。但由于有存儲器空間的制約，可不保存全部的糾錯塊單位。由于實際上關注的是品質差的塊，因此可僅保存品質最差的糾錯塊的錯誤數或錯誤率，或者保存包括品質最差的糾錯塊在內的多個糾錯塊的錯誤數或錯誤率的結果。
[0070]接著，庫控制部11進行記錄品質檢查的結果是否超過作為遷移閾值即劣化檢查閾值的4.2X10_3的判定(S21)。此外，判定基準并不將該數值限定于上述數值。可根據光驅動器的再現性能和光盤庫裝置的控制方法替換這些數值。在超過劣化檢測閾值的情況下，對儲存在備用盤儲存部132中的備用光盤40實施重寫。此外，在S21中，在劣化檢測閾值之下的情況下可確認至少在下一光盤檢查之前的期間能夠再現。因此，庫控制部11指示該光盤40搬送到原來的數據盤儲存部13中。
[0071]【實施例2】
[0072] 圖9是表示第二實施例的流程圖。以下僅對與實施例1不同的部分進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的步驟附以相同記號，省略其重復說明。
[0073]在實施例2中，在光盤檢查的流程中，超過遷移閾值即劣化檢測閾值時的步驟不同。在超過遷移閾值的情況下，庫控制部11通過向主機發出警告，來執行對光盤庫裝置10的用戶和管理公司的通知(S32)。本實施例對不具備備用盤儲存部132和廢盤儲存部133的光盤庫裝置10以及在沒有儲存在備用盤儲存部132中的光盤40的情況下是有效的方法。通過該警告，發出裝載在所述光盤庫裝置10中的光盤40的狀態劣化或者環境惡化、光盤庫裝置10的運行變得困難的提醒。在發出該警告的情況下，期望迅速地實施裝載在該光盤庫裝置10中的光盤40的重寫、交換。
[0074]【實施例3】
[0075]圖4是表示第三實施例的框圖，圖10是表示第三實施例的流程圖。以下僅對與實施例I不同的部分進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的步驟附以相同記號，省略其重復說明。
[0076]圖4為對圖2附加盤清潔部134后的框圖。此外，圖10中，在光盤檢查流程中是否超過遷移閾值即劣化檢測閾值的判斷(S21)之后不同。在遷移閾值之下的情況下，判斷為盤未劣化。但在實際中，存在從記錄的初始狀態開始仍在遷移閾值之下但被確認為劣化的情況。為了嚴密地檢測出這樣的要素，通過與初始記錄時的檢查結果或上一次檢查該光盤的結果相比較，來進行詳細的判斷。在S411中，與第一次檢查的結果即記錄后立刻檢查的結果或該光盤上一次的檢查結果相比較，糾錯數增加100字節以上的情況為急劇的變化，假定有光盤的劣化或塵埃、傷痕等干擾的影響。因此，雖然本來在遷移閾值之下，但通過事先對光盤的再現性能劣化發出盤清潔的警告，實現實際達到遷移閾值之前的對策。此外，記錄品質的檢查值即糾錯數采用100字節，但并不限于此。例如可為根據光盤的再現能力、光盤庫裝置的系統控制或調制方式等導出的數值。
[0077]判斷指標為兩階段，首先是該光盤是否急劇地品質劣化，其次是作為參考對比的其它光盤即全體光盤是否急劇地品質劣化。若確認該光盤急劇地品質劣化，可判斷為個體原因，而若其它光盤也有同樣的趨勢，則可判斷為全體趨勢的變動原因。例如，在因周圍環境的變化而在光盤庫裝置中進入有塵埃的情況下，根據其大小而異，會檢測到大量突發錯誤。因而首先實施光盤的清潔，在未見改善的情況下可判斷為盤上產生的傷痕或者與傷痕等同、無法除去。作為其它光盤的相對品質檢查，為了測得全體的趨勢而使用從檢查開始后每次檢查時取得的平均值。將所述光盤的糾錯數的平均值與該光盤的糾錯數相比較，在增加了 100字節以上的情況下為急劇的變化，判斷為異常。因此，在與其它光盤的相對品質檢查中確認100字節以上的增加的情況下，在S42中也與上面同樣地對光盤的再現性能劣化事先發出盤清潔的警告，實現實際達到遷移閾值之前的對策。
[0078]此外，在平均值的計算中也可使用品質檢查值的移動平均。若溫度環境的變化小至1、2°C左右，并且檢測時間為一個月左右的期間，則可判斷環境變化中不發生較大變化。例如，在每周兩張左右的檢查計劃中，對每個月10張左右的檢查履歷進行平均，實施相對比較。由于假定了光盤自身的個體差異，因此期望至少為10張左右。此外，在與其它光盤的相對比較中，可改變作為閾值的品質檢查值。檢測靈敏度因進行基準值平均的參數而變化，需要加以注意。
[0079] 在超過遷移閾值的情況下，庫控制部11向主機發出光盤40的清潔警告(S42)。根據光盤的清潔警告，庫控制部11向用戶或管理公司通知光盤的狀態發生劣化。之后，庫控制部11指示換盤機構12將光盤40搬送到盤清潔部134。換盤機構12將光盤40搬送到盤清潔部134。盤清潔部134執行該光盤40的表面清潔，除去光盤表面附著的塵埃或傷痕坐寸ο
[0080]之后，庫控制部11指示換盤機構12將該光盤40搬送到光驅動器30。換盤機構12將光盤40從盤清潔部134搬送到光驅動器30。光驅動器30裝載光盤40再次檢查光盤40的記錄品質。在盤清潔有效、記錄檢查的結果低于劣化檢測閾值的情況下，由于能夠與通常的光盤同樣地實施記錄再現動作，因此結束光盤檢查。但在盤清潔無效果、記錄品質檢查的結果仍高于劣化檢測閾值的情況下，為了嚴格區分其原因，庫控制部11判定該記錄品質惡化的區域是否發生作為連續錯誤的突發錯誤(S43)。在突發錯誤在2000字節以下的情況下，由于光盤40的劣化原因并非突發錯誤而是取決于盤自身，因此庫控制部11對儲存在備用盤儲存部132中的光盤40實施重寫(S22)。
[0081]接著在S43中，在突發錯誤在2000字節以上的情況下，由于光盤40的劣化原因為突發錯誤，因此庫控制部11提取包含該光盤40的突發錯誤的數據文件，對儲存在備用盤儲存部132中的光盤40僅實施該數據文件的重寫。此外，突發錯誤數使用2000字節，但并不限于此。例如可為根據光驅動器的再現能力或光盤庫裝置的系統控制導出的數值。
[0082]由此，光盤庫裝置10能夠根據光盤40中品質劣化的原因來實施合適的重寫。
[0083]【實施例4】
[0084]圖11是表示第四實施例的流程圖。表示第四實施例的框圖與圖2相同。以下僅對與實施例1不同的點進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的步驟附以相同記號，省略其重復說明。
[0085]光盤因其劣化原因而在品質指標中的檢測結果不同。因此對光盤的劣化原因進行比較。光盤的劣化原因大致分為作為光盤自身劣化的隨時間劣化、使用系統導致的傷痕和保存環境導致的塵埃。作為結果，它們都被檢測為再現品質的劣化，但通過區分其影響度、影響范圍，能夠提高光盤的利用效率。可預測到，這些原因中塵埃導致的影響尤其對光盤表面有比較平均的影響。除此之外，隨時間劣化有尤其在作為光盤端面的外周側上檢測出品質變化的趨勢。此外，傷痕因光盤庫裝置的搬送裝置而產生，其主要發生在光盤的外周側的可能性較高。這是因為光盤與搬送機構或光盤儲存部的接觸點為光盤的外周部。尤其光盤的外周部，相對于12cm的直徑，距離數據區域僅有2_左右的空白，搬送機構導致的品質劣化的可能性較高。搬送機構導致的傷痕、尤其是大范圍傷痕可檢測出作為連續缺陷的突發錯誤。由上，作為劣化的判定，將遍布光盤整體的離散的突發錯誤預測為塵埃的原因，將偏向盤外周的突發錯誤預測為隨時間劣化或傷痕所導致。圖19是表示用于塵埃檢查的光盤檢查區域的圖。檢查區域A為從光盤的內周到中部的區域，認為塵埃等的影響大致相同。作為對照，檢查區域B在光盤的外周部(例如從55mm到58mm)的范圍，除了上述塵埃的影響之外，也包含了搬送機構導致的傷痕等原因和記錄品質的隨時間劣化等影響，難以惟一地確定原因。
[0086]因此，將檢查范圍限定在檢查區域A來進行檢查。庫控制部11在檢查區域A中僅檢測連續地發生的突發錯誤。通過累加突發錯誤數來檢測光盤自身存在的缺陷等導致的突發錯誤與塵埃導致的突發錯誤。通過檢測這些差別，能夠判斷塵埃導致的錯誤的增加量。因此，圖11中的記錄品質的檢查表示突發錯誤(S20)。針對突發錯誤，與所檢查的光盤在記錄后檢查的結果或者在記錄前檢查的結果進行比較(S51)。其結果是各糾錯塊單位的突發錯誤在1000字節以上的情況下，認為是塵埃導致的品質劣化。因此，在S52中，庫控制部11可通過向主機發出盤清潔的警告來確定光盤的保管環境中塵埃的原因導致的品質劣化。
[0087]圖20是表示用于塵埃檢查的光盤的檢查區域的圖。檢查區域A的范圍與圖19不同。在圖19中，定義檢查區域A為檢查區域B之外的區域，但也可如圖20所示，為光盤的內周或中部的部分區域。通過限制檢查區域A的范圍可獲得檢查時間的縮短效果。
[0088]【實施例5】
[0089]圖12是表示第五實施例的框圖。以下僅對與實施例1不同的點進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的模塊附以相同記號，省略其重復說明。
[0090]相比圖2，圖12配備了光驅動器30以及品質檢查用光驅動器301。在實施例1中，裝載在光盤庫裝置中的光驅動器30的任意個實施品質檢查。在圖12中，品質檢查用光驅動器301實施所有的品質檢查。通過本實施例，由于能夠始終使用相同光驅動器檢測品質檢查值，能夠降低光驅動器的個體差異導致的檢查值的波動。
[0091]此外，品質檢查用光驅動器301中，對于對再現性能的差異產生較大影響的例如IV放大器等部件，可通過特別地安裝與其它光驅動器30不同的部件來實現光驅動器自身的再現性能的提聞，能夠聞精度地檢查光盤的品質。
[0092]【實施例6】
[0093]圖13是表示第六實施例的光盤的圖。圖10是表示第六實施例的流程圖。以下僅對與實施例1不同的點進行說明，對于具有與上述的圖相同的功能的模塊附以相同記號，省略其重復說明。
[0094]圖13為在規定的地址設有5個記錄條件各異的區域的光盤。圖6表示存在該光盤的保存時間因光驅動器的記錄條件而改變的可能性。圖6為對品質檢查值相同的光盤進行比較的結果，實際中因光驅動器與光盤的組合以及進一步地因環境溫度等的不同，即使基于相同參數的記錄，記錄結果也不同。考慮了這些變動因素的設計為如圖13所示的使用多種記錄功率的帶狀結構。通過檢查該帶狀結構的品質，能夠通過一張該光盤的檢查實現上述光盤庫裝置中裝載的所有光盤的品質檢查。
[0095]圖14是表示記錄功率與記錄品質在老化后的檢查結果的圖。橫軸為記錄功率，相當于圖13的各條帶的記錄功率。縱軸為品質檢查值，期望采用除去連續地發生的突發錯誤之外的錯誤率，但也可使用一般計算的錯誤率，或可使用作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動等。根據圖14的結果，在記錄功率較高的記錄狀態中顯著地表現出品質劣化。除了隨時間劣化，傷痕或塵埃等導致的劣化也可認為是品質劣化的原因。
[0096]圖15是表示記錄功率與記錄品質在老化后的檢查結果的圖。但老化后的劣化原因不同。圖14的情況為光盤自身發生的隨時間劣化，而圖15的情況為傷痕或塵埃等導致。根據以上的結果可知，因光盤老化后的劣化原因的不同，其品質劣化的狀況不同。通過恰當地判別它們，能夠區分劣化原因。
[0097] 此外，也可通過作為間接指標的再現信號的波形對稱性指標β或信號振幅的調制度M等進行該評價。圖16表示將再現信號的波形對稱性指標β作為指標時的檢查結果。作為老化后的變化，品質評價值被平移并檢測。在進行超過允許變動范圍的檢測的情況下，能夠與錯誤率檢測同樣地檢測出劣化。但由于不是直接的評價指標，最終希望如上所述地采用錯誤率等品質檢查指標。此外，為了降低光驅動器的再現性能的差異等導致的再現結果的差別，通過同時使用錯誤率或錯誤數以及再現波形指標的β或Μ，可期待提高光盤檢查結果的精度。
[0098]基于以上，如上所述地按照圖10的流程進行說明。首先庫控制部11指示將進行檢查的光盤搬送到光驅動器30。在此，檢查用的光盤為如圖13所示的預備了條帶的光盤，其中對條帶準備了多種記錄功率。檢查用的條帶記錄區域并不限于圖13所示的地址，可僅配備于檢查用的特定光盤上，也可配備在所有的光盤上。此外，這些檢查用的條帶記錄區域可配備于用戶數據區域，實際地記錄的數據可為OOh的重復數據等固定數據。對于原本的用戶數據，固定作為上述檢查用的條帶記錄區域的地址，掩蓋(Mask)上述地址并記錄數據。
[0099]換盤機構12將該光盤40搬送到光驅動器30后，光驅動器30裝載光盤40，開始記錄品質檢查(S20)。記錄品質期望為除去連續發生的突發錯誤之外的錯誤率，但也可使用一般計算的錯誤率，或者使用作為間接指標的再現信號的波形對稱性指標β、信號振幅的調制度M或作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動等。或可不進行數據調制而僅記錄固定數據長度(例如6Τ的重復，T為信道比特長度)的模式，檢查其抖動。或可從上述OOh的重復數據等依照調制規則的記錄數據中進行6Τ的模式判別，提取該數據長度模式的抖動進行檢查。
[0100]以下,利用圖17至圖18對利用檢查用光盤的檢查方法進行說明。圖17是表示利用檢查用光盤的檢查方法的流程圖。此外，圖18表示上述各條帶的記錄功率與品質檢查值的結果。首先，庫控制部11為了確定圖18所示的假定變動范圍而進行品質分布范圍的初始值設定(S50)。上述品質分布范圍的初始值設定可使用預先決定的固定值，也可參考光盤的ID和分布范圍表格進行設定。接著，庫控制部11參考之前的光盤檢查的結果，判定是否存在超過圖18中記載的假定變動范圍的結果(S51)。在存在超過上述假定變動范圍的結果的情況下，表示上述光盤庫裝置中裝載的光盤的品質分布范圍超出假定的結果，庫控制部11進行該假定變動范圍的更新(S52)。接著轉移到檢查用光盤的品質檢查。
[0101]光盤庫裝置11指示換盤機構12，將檢查用光盤搬送到光驅動器30。換盤機構12將上述檢查用光盤搬送到光驅動器30后，光驅動器30加載檢查用光盤，進行上述各條帶的品質檢查(S53)。品質檢查的結果如圖18所不。繪制各記錄功率條件下的品質檢查值，利用二次逼近法推出上述光盤庫裝置中裝載的所有光盤的假定品質分布(S54)。然后求出假定變動范圍與上述二次逼近法得到的曲線的交點。在圖18中由于是以記錄功率100%附近為極值點的二次曲線，利用兩個交點中品質檢查值較高的結果來進行所有光盤的假定最差值是否在劣化檢測閾值以下的判定(S55)。在規定值之下的情況下，由于可判斷當前所有光盤的品質沒有問題，結束光盤檢查。在超過規定值的情況下，由于假定了上述光盤庫裝置中裝載的光盤的品質的劣化，庫控制部11向主機發出警告以迅速地實施上述光盤庫裝置中裝入的光盤的重寫(S56)。
[0102]此外，本發明并不限于上述的實施例，包含了各種變形例。例如，上述實施例是為了對本發明易懂地說明而進行的詳細說明，并非限定必須具備所說明的全部的結構。此外，可將某實施例的結構的一部分替換成其它實施例的結構，或者可在某實施例中添加其它實施例的結構。另外，針對各實施例的結構的一部分，能夠進行其它結構的追加、刪除、替換。
[0103]此外，上述的各結構、功能、處理部、處理單元等，其部分或者全部可通過例如使用集成電路來設計等以硬件實現。此外，上述的各結構、功能，也可通過處理器解釋和執行實現各自功能的程序以軟件實現。實現各功能的程序、表格、文件等信息，可存儲在存儲器、硬盤、SSD (Solid State Drive:固態硬盤)等記錄裝置中，或者IC卡、SD卡、DVD等記錄介質中。
[0104]此外，控制線路和信息線路表示說明中所需的部分，并不限定產品中表現出所有的控制線路和信息線路。實際上可以認為幾乎全部的結構互相連接。
【權利要求】
1.一種裝載有光盤和光驅動器的光盤庫裝置的光盤檢查方法，其特征在于: 測量所述光盤庫裝置內的溫度， 根據所述測量到的溫度決定檢查所述光盤的檢查周期， 根據所述決定的周期，由所述光驅動器進行對儲存在所述光盤庫裝置中的已記錄的所述光盤的記錄品質的檢查。
2.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為未達到規定的記錄品質的情況下，向上級主 機發出表達將該光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
3.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 當進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為達到規定的記錄品質時，在通過所述檢查得到的記錄品質與過去由所述光驅動器檢查所述光盤所得到的記錄品質的差超過第一閾值的情況下，也向上級主機發出規定的警告。
4.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述已記錄的光盤為裝載在所述光盤庫裝置中的所有已記錄的所述光盤。
5.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述已記錄的光盤為從裝載在所述光盤庫裝置中的已記錄的所述光盤中抽取的至少一個所述光盤。
6.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述測量到的溫度為至少一天以上的平均值。
7.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述測量到的溫度為在至少一天以上的相同時間帶取得的所述溫度的測量值。
8.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述光驅動器為，裝載在所述光盤庫裝置中的多個所述光驅動器中比較了所述光盤的記錄品質的結果為再現性能比用戶數據記錄再現用光驅動器好的光驅動器。
9.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述光盤為以多種不同的記錄功率在所述光盤的至少一層以上的一部分用戶數據區域中記錄有至少一個能夠糾錯的數據長度的光盤。
10.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述記錄品質，由糾錯的數目表示，是以物理上連續的缺陷導致的突發錯誤作為原因的錯誤率或錯誤數。
11.如權利要求10所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為檢測到規定長度以上的突發錯誤的情況下，將包含所述突發錯誤的數據文件重寫到其它光盤。
12.如權利要求10或11所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為突發錯誤或者除去突發錯誤之外的錯誤數或錯誤率超過第一閾值的情況下，發出用于進行光盤的清潔的警告。
13.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述記錄品質，由糾錯的數目表示，是物理上連續的缺陷導致的突發錯誤和從一個糾錯塊中除去突發錯誤之外的錯誤率或錯誤數。
14.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 所述記錄品質為再現信號的波形對稱性指標、或表示信號振幅相對于未記錄的信號電平的比率的調制度、或作為二進制化信號在時間軸上的擺動成分的抖動。
15.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的首次取得的記錄品質與所述檢查后取得的記錄品質進行比較，其差超過第一閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
16.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的至少一次以上之前取得的記錄品質與所述檢查之后取得的記錄品質進行比較，其差超過第一閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
17.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的首次取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，且對至取得所述第二記錄品質為止的記錄品質平均值與所述第二記錄品質進行比較，其差超過第二閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
18.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的至少一次以上之前取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，且對至取得所述第二記錄品質為止的記錄品質平均值與所述第二記錄品質進行比較，其差超過第二閾值的情況下，向上級主機發出表達將所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
19.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的首次取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，對至取得所述第二記錄品質為止的多個所述光盤的記錄品質的平均值與所述光盤的所述第二記錄品質進行比較，其差為第三閾值以下的情況下，向上級主機發出表達將多個所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
20.如權利要求1所述的光盤檢查方法，其特征在于: 在所述光盤庫裝置中，在由所述光驅動器對所述光盤的至少一次以上之前取得的第一記錄品質與所述第一記錄品質的檢查之后取得的第二記錄品質進行比較，其差超過第一閾值，對至取得所述第二記錄品質為止的多個所述光盤的記錄品質的平均值與所述光盤的所述第二記錄品質進行比較，其差為第三閾值以下的情況下，向上級主機發出表達將多個所述光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
21.一種對多個光盤進行信息的記錄再現的光盤庫裝置，其特征在于，包括: 儲存多個光盤的光盤儲存部； 搬送所述光盤的換盤機構； 進行所述光盤的記錄再現的光驅動器； 測量環境溫度的溫度計；和控制部，其進行控制使得利用所述溫度計測量所述光盤庫裝置內的溫度，根據測量到的所述溫度決定檢查所述光盤的檢查周期，根據決定的所述周期，利用所述光驅動器進行對儲存在所述光盤庫裝置中的已記錄的所述光盤的記錄品質的檢查。
22.如權利要求21所述的光盤庫裝置，其特征在于: 所述控制部，在進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為未達到規定的記錄品質的情況下，向上級主機發出表達將該光盤的數據重寫到其它光盤之意思的警告。
23.如權利要求21所述的光盤庫裝置，其特征在于: 所述控制部，當進行所述光盤的所述記錄品質的檢查的結果為達到規定的記錄品質時，在通過所述檢查得到的記錄品質與過去由所述光驅動器檢查所述光盤所得到的記錄品質的差超過第一閾值的情 況下，也向上級主機發出規定的警告。
【文檔編號】G11B20/18GK104078070SQ201410058043
【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年2月20日 優先權日:2013年3月27日
【發明者】安川貴清 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司
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