專利名稱：并行檢測集成電路中ram生產缺陷的方法
技術領域：
本發明涉及一種集成電路中RAM生產缺陷的測試方法。
背景技術：
宏觀的RAM (Random Access Memory,隨機存儲器)測試包括存儲單元的測試、數據線測試和地址線測試。對于控制線，由于對前兩者的測試中已經附帶完成，因此不做專門測試。而地址線的測試總是在假設數據線正常的情況下進行的，顯然需要先進行數據線的測試，然后才能進行地址線的測試。隨著集成電路規模的增大和集成度的提高，系統中RAM的數量越來越多，寬度和深度也各不相同，對其測試也需要進行細化。以往要完成對系統中RAM的測試，通常采用的方法是每一個RAM對應一個測試模塊，必然增加整個芯片的面積，成本偏高，而且所采用的測試方法均不能一次測全所有的缺陷，因此不僅增加了芯片面積，而且增加了測試的時間、測試復雜度和測試成本。在集成電路的生產過程中，由于工藝技術或者其他原因，容易造成電路中RAM的缺陷。目前RAM的基本生成缺陷如下
Stuck-At Fault ( SAF，固定型故障)RAM中的某一位固定為I或者0，無法寫入相反的值；或者說RAM電路中的某條連線本來應該根據其源節點的取值而取值，但由于存在某種故障，其邏輯值固定為0或I ;如果線wr上有固定為0的故障,則記為wr (s-a-0),如果有固定為I的故障，則記為wr(s-a-l)。
Stuck-Open Fault (SOpF,固定開路故障)RAM中某一單元，由于線的斷裂,無法對其進行操作
Transition Fault ( TF，傳輸錯誤)即對RAM中的某一位寫入0時，其實際寫入的是1，或者寫入I時，其實際寫入的是O。
Idempotent Coupling Fault (CFid,冪等稱合故障):對待測RAM中某一位進行操作時，如果該位寫入的數值與原來該位的數值不同，就會發生跳變，而這個跳變過程可能對其相鄰的位產生影響，可能導致相鄰位變為I或者0狀態。因此，CFid共分為四種類型
權利要求
1.一種并行檢測集成電路中RAM生產缺陷的方法，其特征在于，并行測試一個芯片上同類的多個RAM，該方法包括以下步驟 1)對RAM所有地址各位寫入O; 在以下的步驟中以地址為操作對象，且此后各步驟在當前地址完成當前步驟的測試后進入下一地址的測試，直到遍歷整個RAM后進入下一個步驟的測試 2)讀取RAM當前地址存放的值，若含有I的位，則終止檢測，報錯；若全是O位，則對該地址各位寫入1，然后讀取該地址存放的值，若含有O的位，則終止檢測，報錯；若全是I位，則對該地址各位寫入O，然后讀取該地址存放的值，若含有I的位，則終止檢測，報錯；若全是O位，則對該地址各位寫入I ; 3)讀取RAM當前地址存放的值，若含有O的位，則終止檢測，報錯；若全是I位，則對該地址各位寫入O，讀取該地址存放的值，若含有I的位，則終止檢測，報錯；若全是O位，則對該地址各位寫入I。
2.根據權利要求1所述的并行檢測集成電路中RAM生產缺陷的方法，其特征在于，步驟I)到步驟3)對RAM的操作順序均是從低地址到高地址。
3.根據權利要求2所述的并行檢測集成電路中RAM生產缺陷的方法，其特征在于，在步驟3)后還包括從RAM高地址到低地址操作的如下步驟 4)讀RAM當前地址存放的值，若含有O的位，則終止檢測，報錯；若全是I位，則對該地址各位與入O ; 5)讀RAM當前地址存放的值，若含有I的位，則終止檢測，報錯；若全是O位，則對該地址各位寫入I ;然后讀該地址存放的值，若含有O的位，則終止檢測，報錯；若全是I位，則對該地址各位寫入O，再將按照1、0的序列組成的數據寫入該地址，讀該地址，判斷CFst的〈I 1>缺陷，若存在該缺陷，報錯，否則，將按照O、I的序列組成的數據寫入該地址，然后順序讀該地址，判斷CFst的〈O I O〉缺陷，若存在該缺陷，報錯，否則，完成該地址測試。
4.根據權利要求1所述的并行檢測集成電路中RAM生產缺陷的方法，其特征在于，在寫入和讀取數據時，根據同一芯片上同類RAM不同的最大寬度和最大深度設定為測試的寬度和深度。
5.根據權利要求1至4任一所述的并行檢測集成電路中RAM生產缺陷的方法，其特征在于，在測試過程中，所有RAM當前步驟的測試全部完成后再進入下一步驟的測試。
全文摘要
本發明公開了一種并行檢測集成電路中RAM生產缺陷的方法，依據本發明，實現基于前一測試步驟RAM當前地址狀態的用于后一步驟的測試，不必每次測試僅測試一個測試點，效率大大提高。并行測試芯片中同類RAM的測試方法，能夠有效減小測試芯片的面積，降低生產成本，而且降低了測試的復雜度和測試的時間，從而降低了測試的成本。
文檔編號G11C29/04GK103065687SQ201210582418
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月28日 優先權日2012年12月28日
發明者趙陽, 張洪柳, 孫曉寧, 劉大銪, 王運哲, 劉守浩 申請人:山東華芯半導體有限公司