專利名稱：檢測系統及檢測方法
技術領域：
本發明關于一種檢測系統及檢測方法，特別是一種批次測試電子元件的檢測系統及檢測方法。
背景技術：
隨著科技的進步，電子產品在日常生活中隨處可見，并愈趨多樣化發展。各種電子產品的功能及應用領域雖有不同，為使系統順利運作，相關必要元件包括如處理器、儲存單元及電連接器等。其中，由于制程技術的發展迅速，使得電子元件的體積漸小，為確保良品率，電子元件通常在出廠或組裝前，需要進行檢測，以確保電子產品的良品率。以儲存單元為例，依照現有的不同技術及結構分類，包括動態隨機存取存儲器 (dynamic random access memory, DRAM)、快閃存儲器(flashmemory)、固態硬盤(Solid State Disk，SSD)等。當針對儲存單元進行檢測時，隨著儲存容量的增大，可想見檢測時間會亦隨之增加。傳統的檢測系統，可采用多個測試裝置同時進行操作。如圖1所示，傳統的檢測系統10包括四個測試裝置111、112、113、114，其中，測試裝置111、112共用一個機械手臂 131，測試裝置113、114則共用另一個機械手臂132。多個待測元件14置放到承載盤15上備用，機械手臂16抓取已就緒的承載盤15，并放置在輸送裝置171、172上，輸送裝置171、 172可分別在輸送軌道181、182上來回移動，用以將容置有待測元件14的承載盤15送進檢測系統10內，或待測元件14經檢測系統10檢測后，隨承載盤19自檢測系統10中移出。更明確地說，當載有待測元件14的承載盤15送進檢測系統10，機械手臂131、132 忙碌地反復來回作動，依序將待測元件14置放到測試裝置111、112、113、114中。各個待測元件14有電性接點(圖未示)，測試裝置111、112、113、114則具有電路板及多個探針(圖未示)，當待測元件14的電性接點與測試裝置111、112、113、114上的探針接觸，將可與電路板電性連接。為了確保接觸，通常的作法為將待測元件14放置且布滿測試裝置111、112、 113、114上，再以一壓板下壓確保電性連接，以對測試裝置111、112、113、114上的所有待測元件14，同時進行測試。然而，傳統檢測系統10中，測試裝置111、112、113、114必須等待機械手臂131、132 將待測元件14逐步配置完成，才能進行檢測動作，此段時間測試裝置111、112、113、114即處于閑置狀態；一旦測試裝置111、112、113、114可進入檢測程序，此時機械手臂131、132則呈現閑置狀態。如前所述，隨著儲存容量的增大，檢測時間會亦隨之增加，機械手臂131、132 的閑置時間將更多。由于檢測設備價格昂貴(機械手臂的售價甚至更高于測試裝置本身)， 若設備經常出現閑置狀態，均會造成檢測效率的降低及成本的增加。傳統的檢測系統10或可考慮增加測試裝置的數量，以增加整體系統的總和產量， 然而，測試裝置的體積龐大，且成套的機械手臂數量亦必須同時增加，此僅為擴大檢測系統的規模，對于工作效率及成本問題，仍無法有效解決。有鑒于此，提供一種高效率且具有批次概念的檢測系統及檢測方法，乃為此一業界亟待解決的問題。
發明內容
本發明的一個目的在于提供一種檢測系統及檢測方法，可批次地對多個待測元件進行檢測。明確地說，本發明是將載滿待測元件的承載盤，直接送入測試裝置中，并隨即進行電性連接及檢測，省卻傳統檢測系統中，必須依賴機械手臂依序將待測元件分配至測試裝置的方式。檢測程序完成后，即可卸除該承載盤，并緊接著送入另一承載盤，如此重復操作，故測試裝置可大幅減少分配待測元件的閑置時間，使得各個測試裝置的每小時產能 (units perhour, UPH)最大化。本發明的另一個目的在于提供一種檢測系統及檢測方法，借由導入生產線的概念，以一輸送部串連多個測試裝置，并將專責從事將待測元件配載至承載盤的分配機構 (或機械手臂)，設置到檢測系統的前端區域，故分配機構幾乎不會閑置，每小時產能可最大化。載滿待測元件的承載盤，將被置于輸送部的進口區，隨時因應各個測試裝置的狀況， 將該承載盤輸送至空閑的測試裝置進行檢測。本發明檢測系統中，可視分配機構的工作效率，對應配置適當數量的測試裝置。如此一來，由于測試裝置及分配機構均能避免閑置，處于接近產能滿載的狀態。此時，檢測系統的每小時產能(即總和所有測試裝置的產能)，將與分配機構的每小時產能接近。可想見地，檢測效率可獲提升、而成本得以降低。本發明的又一個目的在于提供一種檢測系統及檢測方法，輸送部串連多個測試裝置的概念，并不局限于平面配置，視測試裝置的擺設而可為三維空間配置，以有效利用廠房的空間。為達上述目的，本發明公開一種檢測系統，用以批次檢測多個待測元件，該檢測系統包括一輸送部、至少一承載盤、至少一測試裝置、及一分配機構。其中，該輸送部具有進口區、出口區、及位于進口區與出口區之間的檢測區；該承載盤可自進口區被輸送至檢測區、 及自檢測區被輸送至出口區，承載盤包括多個承載座，用以容置所述待測元件；測試裝置鄰設于檢測區，用以接受該承載盤，并對承載盤上的待測元件進行檢測；該分配機構用以將所述待測元件，預先置放到該至少一承載盤的承載座中。本發明還公開一種檢測方法，用以批次檢測多個待測元件，該檢測方法包括下列步驟將等待測元件依序分配至多個承載盤上，其中各承載盤具有多個承載座，以容置所述待測元件；依據至少一測試裝置的操作狀態，輸送該承載盤至該至少一測試裝置；利用該至少一測試裝置檢測所述待測元件；以及，自該至少一測試裝置卸載該承載盤。為讓上述目的、技術特征、和優點能更明顯易懂，下文以優選實施例配合附圖進行詳細說明。
圖1為傳統檢測系統的示意圖；圖2為本發明第一實施例的檢測系統的示意圖；圖3為本發明第一實施例中，承載盤及分配機構在操作狀態的側視示意圖；圖4為本發明第一實施例中，測試裝置與待測元件電性連接的示意圖5為本發明第二實施例的檢測系統的示意圖；及
圖6A，圖6B為本發明第二二實施例的檢測方法的流程
主要元件符號說明
10檢測系統111測試裝置
112測試裝置113測試裝置
114測試裝置131機械手臂
132機械手臂14待測元件
15承載盤16機械手臂
171輸送裝置172輸送裝置
181輸送軌道182輸送軌道
19承載盤20檢測系統
21承載盤211承載座
22分配機構23待測元件
231電性接點24存料裝置
25輸送部251進口區
252出口區253檢測區
255輸送裝置26測試裝置
261第一移轉機構263探針
265電路板267壓板
27第二移轉機構28第三移轉機構
具體實施例方式本發明的第一實施例如圖2所示，其為關于一種用以批次檢測多個待測元件的檢測系統20，檢測系統20包括至少一承載盤(tray) 21及一分配機構(handler) 22，優選地， 測試系統20包括多個承載盤21，承載盤21用以承載所述待測元件23。請一并參閱圖3，其為承載盤(tray) 21及分配機構22在操作狀態的側視示意圖，該承載盤21包括多個承載座 211，用以容置所述待測元件23，分配機構22用以將所述待測元件23，預先置放到該承載盤 21的所述承載座211。待測元件23可先收集存放在一存料裝置M中，分配機構22自該存料裝置24依序抓取待測元件23并分配至承載盤21的承載座211。檢測系統20還包括一輸送部25，為方便清楚說明，可將輸送部25區分為進口區 251、出口區252、及位于進口區251與出口區252之間的檢測區253 ；輸送部25可選用輸送軌或輸送帶，視實際需求而定，在此不作限制。當采用輸送軌為輸送部25時，可再配置一輸送裝置(shuttle)255，輸送裝置255適可沿該輸送部25來回移動，以運載該承載盤21。例如，承載盤21可自進口區251被輸送至檢測區253進行檢測，以及在檢測完成后自檢測區 253被輸送至出口區252。須說明的是，分配機構22及存料裝置M優選為鄰設于輸送部25的進口區251，但不以此為限，分配機構22及存料裝置M亦可視環境空間的配置需求，設置在遠端，待分配機構22將承載盤21載入待測元件23后，再運送至輸送部25的進口區251，亦可實施本發明。
檢測系統20還包括至少一測試裝置沈，鄰設于輸送部25的檢測區253，優選地， 檢測系統20包括多個測試裝置沈，模塊化地沿該輸送部25的檢測區253設置，故可各別地針對測試裝置沈進行組裝或拆卸，方便進行維修保養。當承載盤21被運送至檢測區253， 測試裝置沈可接受該承載盤21，并對其上的待測元件23進行檢測。更明確地說，各測試裝置沈包括第一移轉機構，用以自輸送部25抓取承載盤21，并定位至可進行測試的適當位置，當測試程序結束后，第一移轉機構261亦可將該承載盤21釋放回輸送部25，承載盤 21隨后將沿輸送部25被運送至出口區252。本實施例的檢測系統20，可還包括第二移轉機構27，鄰設于輸送部25的進口區 251。當所述待測元件23經由分配機構22配置承載于所述承載盤21，該第二移轉機構27 用以將該承載盤21搬運至輸送部25的進口區251。同樣地，本實施例的檢測系統20可還包括第三移轉機構觀，鄰設于輸送部25的出口區252，當完成檢測的待測元件23隨承載盤 21被運載至該出口區252，第三移轉機構觀可用以自出口區252卸載該承載盤21。本實施例中測試裝置沈的操作說明如下。如圖4所示，各待測元件23具有至少一電性接點231，而該測試裝置沈具有多個探針263及電路板沈5。當該測試裝置沈接受該承載盤21，并定位至預定位置，可借由一壓板267壓掣待測元件23，確保待測元件23的電性接點231與測試裝置沈的探針263接觸，以與該電路板沈5電性連接。借由本實施例所公開的檢測系統20，模塊化設計及配置的測試裝置沈，可分別接受對應的承載盤21，并獨立地對其上的待測元件23進行檢測。且當該測試裝置沈對其中一承載盤21上的待測元件23進行檢測時，分配機構22仍同時運作，可操作地將待測元件 23依序置放至另一承載盤21的承載座中211。本發明的第二實施例如圖5所示。在本實施例中，輸送部25的進口區251與出口區252彼此相鄰，例如輸送部25呈現U型的配置。當所述待測元件23完成檢測且該承載盤21被運載至該出口區252，該第二移轉機構27自該出口區252卸載該承載盤21。如此一來，可省卻如第一實施例的第三移轉機構28的配置，僅利用第二移轉機構27即可同時提供裝卸承載盤21的功能。進一步而論，本發明的檢測系統20不限于附圖所示的平面配置， 更可視廠房三維空間配置，只要以輸送部25加以串連即可本發明的第三實施例為一種用以批次檢測多個待測元件的檢測方法，相關步驟如圖6A及圖6B所示，請一并參考前述的第一實施例或第二實施例的檢測系統。首先，將所述待測元件依序分配至多個承載盤上，其中各該承載盤具有多個承載座，以容置待測元件。詳細地說，先執行步驟601提供多個承載盤，其中所述承載盤系呈現未承載待測元件的空載狀態；接下來利用分配裝置，例如一機械手臂，在步驟602，依序地將待測元件載入到承載盤的承載座中。然后，依據至少一測試裝置的操作狀態，輸送該承載盤至該至少一測試裝置。詳細地說，先執行步驟603，將載有待測元件的承載盤搬移至輸送部上；再以步驟604，沿輸送部運送承載盤；然后步驟605為測試裝置利用第一移轉機構，自該輸送部抓取該承載盤。接下來，執行步驟606，利用該至少一測試裝置檢測所述待測元件；詳細地說，各該待測元件具有至少一電性接點，該至少一測試裝置具有至少一電路板及多個探針，步驟 606是將各該待測元件的該至少一電性接點經由與該至少一測試裝置的探針接觸，以與該至少一電路板電性連接并進行檢測作業。
待測試結束后，即可自該至少一測試裝置卸載該承載盤。詳細地說，執行步驟607， 該至少一測試裝置利用第一移轉機構，將承載盤釋放至輸送部；然后，執行步驟608，沿輸送部運送承載盤；最后以步驟609，將承載盤自輸送部卸除。最后，本實施例的檢測方法，進行步驟610，依據檢測所述待測元件的結果，篩選所述待測元件，剔除未能通過檢測標準的元件，僅保留合格的元件，以進行后續作業。須說明的是，上述檢測方法可應用于前述第一實施例及第二實施例的檢測系統， 該系統內優選地配置有多個承載盤及多個測試裝置，其數量可依據步驟602的分配裝置的能力進行搭配，以降低閑置的發生。綜合上述，本發明所公開的檢測系統及檢測方法，可對多個待測元件進行批次檢測，且測試裝置無須等待機械手臂的分配，機械手臂亦不會因為測試時間的增加而閑置，各元件的效能可充分利用，成本可顯著降低。上述的實施例僅用來例舉本發明的實施形態，以及闡釋本發明的技術特征，并非用來限制本發明的保護范疇。任何本領域技術人員可輕易完成的改變或均等性的安排均屬于本發明所主張的范圍，本發明的保護范圍應以權利要求書為準。
權利要求
1.一種檢測系統，用以批次檢測多個待測元件，該檢測系統包括一輸送部，具有一進口區、一出口區、及位于該進口區與該出口區之間的一檢測區；至少一承載盤，可自該進口區被輸送至該檢測區，以及自該檢測區被輸送至該出口區， 其中，該至少一承載盤包括多個承載座，用以容置所述待測元件；至少一測試裝置，鄰設于該檢測區，用以接受該至少一承載盤，并對該至少一承載盤上的所述待測元件進行檢測；及一分配機構，用以將所述待測元件，預先置放到該至少一承載盤的所述承載座中。
2.根據權利要求1所述的檢測系統，其中該至少一承載盤包括多個承載盤，當該至少一測試裝置對所述承載盤上的其中之一上的所述待測元件進行檢測時，該分配機構同時可操作地將所述待測元件依序置放至另一承載盤的所述承載座中。
3.根據權利要求2所述的檢測系統，其中該至少一測試裝置包括一第一移轉機構，用以自該輸送部抓取該至少一承載盤，以及將該至少一承載盤釋放回該輸送部。
4.根據權利要求3所述的檢測系統，還包括一存料裝置，用以存放所述待測元件，該分配機構自該存料裝置依序抓取所述待測元件并分配至該至少一承載盤的所述承載座。
5.根據權利要求4所述的檢測系統，其中該分配機構及該存料裝置為鄰設于該輸送部的進口區。
6.根據權利要求5所述的檢測系統，還包括一第二移轉機構，鄰設于該輸送部的進口區，當所述待測元件分配至該至少一承載盤后，該第二移轉機構將該至少一承載盤搬運至該進口區。
7.根據權利要求6所述的檢測系統，還包括一第三移轉機構，鄰設于該輸送部的出口區，當所述待測元件完成檢測且該至少一承載盤被運載至該出口區，該第三移轉機構自該出口區卸載該至少一承載盤。
8.根據權利要求6所述的檢測系統，其中該輸送部的進口區與該出口區彼此相鄰，當所述待測元件完成檢測且該至少一承載盤被運載至該出口區，該第二移轉機構自該出口區卸載該至少一承載盤。
9.根據權利要求2所述的檢測系統，還包括一輸送裝置，可沿該輸送部移動，以運載該至少一承載盤。
10.根據權利要求2所述的檢測系統，其中各該待測元件具有至少一電性接點，該至少一測試裝置具有至少一電路板及多個探針，當該至少一測試裝置接受該至少一承載盤，各該待測元件的該至少一電性接點與該至少一測試裝置的探針接觸，以與該至少一電路板電性連接。
11.根據權利要求2所述的檢測系統，其中該至少一測試裝置包括多個測試裝置，所述測試裝置為模塊化地沿該輸送部設置。
12.根據權利要求11所述的檢測系統，其中各該測試裝置可獨立地接受該承載盤，并對其上的所述待測元件進行檢測。
13.—種檢測方法，用以批次檢測多個待測元件，該檢測方法包括將所述待測元件依序分配至多個承載盤上，其中各該承載盤具有多個承載座，以容置所述待測元件；依據至少一測試裝置的操作狀態，輸送該承載盤至該至少一測試裝置；利用該至少一測試裝置檢測所述待測元件；及自該至少一測試裝置卸載該承載盤。
14.根據權利要求13所述的檢測方法，其中，將所述待測元件依序分配至多個承載盤上的步驟包括提供多個承載盤，其中所述承載盤呈現一空載狀態；及依序地將所述待測元件載入到所述承載盤的所述承載座中。
15.根據權利要求14所述的檢測方法，其中，輸送該承載盤的步驟包括將載有所述待測元件的該承載盤搬移至一輸送部上；沿該輸送部運送該承載盤；及該至少一測試裝置利用一第一移轉機構，自該輸送部抓取該承載盤。
16.根據權利要求13所述的檢測方法，其中各該待測元件具有至少一電性接點，該至少一測試裝置具有至少一電路板及多個探針，檢測所述待測元件的步驟包括將各該待測元件的該至少一電性接點經由與該至少一測試裝置的探針接觸，與該至少一電路板電性連接。
17.根據權利要求13所述的檢測方法，其中，卸載該承載盤的步驟包括該至少一測試裝置利用該第一移轉機構，將該承載盤釋放至該輸送部；沿該輸送部運送該承載盤；及將該承載盤自該輸送部卸除。
18.根據權利要求17所述的檢測方法，還包括一步驟依據檢測所述待測元件的結果， 篩選所述待測元件。
全文摘要
本發明關于一種檢測系統及檢測方法，用以批次測試多個待測元件，該檢測系統包括一輸送部、至少一承載盤、至少一測試裝置、及一分配機構。其中，分配機構將所述待測元件，預先分配到該至少一承載盤中，載滿所述待測元件的承載盤可沿輸送部被運載至該至少一測試裝置，并整體進行批次測試。本發明可依據分配機構的產能，配置適當數量的測試裝置，以減少閑置、提升測試效能及降低成本。
文檔編號G11C29/00GK102194526SQ20101011571
公開日2011年9月21日 申請日期2010年3月2日 優先權日2010年3月2日
發明者林景洋 申請人:復格企業股份有限公司