專利名稱：存儲器位錯誤產生裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種應用于電腦領域中的電腦主板存儲器糾錯測試技 術，特別是涉及一種存儲器位錯誤產生裝置。
背景技術：
作為電腦系統(tǒng)中的重要部件，存儲器是由多顆隨機讀寫存儲半導 體芯片和連接這些半導體芯片的電路板組成，這些半導體芯片中有成
百萬個記憶單元，每個單元通過電路開關的型態(tài)記憶"0"或"1"的 數(shù)碼信息。而存儲器是用以配合中央處理單元(CPU)高速存儲正在
執(zhí)行的程序及數(shù)據(jù)的，因此，存儲器的可靠性和容錯能力一直是業(yè)界 研究的課題。
目前，業(yè)界已將錯誤檢査與糾正技術(Error Checking and Correcting; ECC)應用于例如服務器、工作站等電子裝置中，以測試 主板存儲器糾錯性能。然而，要應用上述ECC技術需配合使用存儲器 位錯誤產生裝置，以通過該存儲器位錯誤產生裝置用以令待測存儲器 產生位錯誤，從而在后續(xù)通過該ECC技術執(zhí)行主板存儲器糾錯性能測 試。
如圖1所示，其顯示了現(xiàn)有存儲器位錯誤產生裝置結構示意圖， 其可產生單位及雙位錯誤。該裝置是由普通存儲器(DIMM)改裝而得， 如圖所示，其分別于存儲器1的任意二存儲器顆粒11、 12的引腳110、 120與存儲器上對應的引腳13、 14之間的傳輸線路la、 lb上設置跳線 器15、 16。
在進行ECC測試之前，需將該存儲器位錯誤產生裝置插入主機板 上的目標存儲器插槽(DIMM slot)中，并于該主機板上的其它存儲器 插槽插入普通的存儲器以產生合理的存儲器配置，之后，開機進入操 作系統(tǒng)并運行存儲器測試軟件。當需要產生單位錯誤時，將該存儲器 位錯誤產生裝置的跳線器15或16去掉以將存儲器顆粒11 (或存儲器顆粒12)上的引腳110 (或存儲器顆粒12上的引腳120)與存儲器條 上對應的引腳13 (或引腳14)斷開，以使引腳13 (或14)處于懸空 狀態(tài)，進而產生單位錯誤。
當需要產生雙位錯誤時，將該存儲器位錯誤產生裝置的跳線器15、 16均去掉以將存儲器顆粒11、 12上的引腳110、 120與存儲器條上對 應的引腳13、 14斷開，以使引腳13、 14均處于懸空狀態(tài)，進而產生 雙位錯誤。
然而，前述現(xiàn)有的存儲器位錯誤產生裝置仍存在如下缺陷
首先，去掉該存儲器位錯誤產生裝置上的跳線器15及或16后， 存儲器1上用于產生位錯誤的引腳13及或14處于懸空狀態(tài)，其狀態(tài) 可能為邏輯"0"，或為邏輯"1"，因此在運行存儲器測試軟件進行 讀操作時需考慮到處于懸空狀態(tài)的引腳的兩種狀態(tài)值。
其次，由于現(xiàn)有的存儲器位錯誤產生裝置是由一般的DIMM存儲 器改制而成，故需要直接對存儲器的線路進行改動，(例如上述在存 儲器顆粒11、 12的一引腳110、 120與存儲器條上對應的引腳13、 14 之間的傳輸線路上設置la、 lb上設置跳線器15、 16)。而這種線路改 動需要很高的技巧，風險較大，很容易導致改動失敗，導致存儲器報 廢，造成資產損失。
再次，由于跳線器15、 16的尺寸太小，其插拔很不方便。尤其是 對于某些CPU平臺，多位存儲器錯誤會導致系統(tǒng)自動重起，此時需要 操作人員迅速將剛剛拔掉的跳線器插上，方能保證系統(tǒng)順利重起并看 到錯誤信息。如此操作即給測試過程增加額外的困難。
再者，在進行ECC測試時，必須使用與現(xiàn)有的存儲器位錯誤產生 裝置同一型號的存儲器，若該型號存儲器短缺，測試便無法進行，因 而給測試帶來一定的限制。
因此，如何提出一種新的存儲器位錯誤產生裝置，以克服上述現(xiàn) 有技術的種種缺陷，實己成為目前業(yè)界急待克服的課題。
發(fā)明內容
鑒于上述現(xiàn)有技術的缺點，本發(fā)明的一個目的在于提供一種存儲 器位錯誤產生裝置，使其制作容易，不易造成資產損失。本發(fā)明的又一個目的在于提供一種存儲器位錯誤產生裝置，在該 存儲器位錯誤產生裝置中無需使用跳線器，使用方便。
本發(fā)明的再一個目的在于提供一種存儲器位錯誤產生裝置，無需
使用與其型號相同的存儲器，因而不會給ECC測試帶來限制。
本發(fā)明的再一個目的在于提供一種存儲器位錯誤產生裝置，其能
夠將產生位錯誤的數(shù)據(jù)引腳鉗位于一種邏輯狀態(tài)。
為達上述及其他目的，本發(fā)明提供一種存儲器位錯誤產生裝置，
用于插接至電子裝置主板的第一存儲器插槽以供測試該主板，該存儲
器位錯誤產生裝置包括 一第二存儲器插槽，用于插接存儲器，具有 與該存儲器相同數(shù)量的引腳，且各該引腳的定義與該存儲器引腳的定 義相匹配，該些引腳中包括多個數(shù)據(jù)引腳；主板插頭，用于插接至該 電子裝置主板的第一存儲器插槽，該主板插頭具有與該存儲器相同數(shù) 量的引腳，各該引腳的定義與該存儲器的引腳定義相同，該些引腳中 包括多個數(shù)據(jù)引腳；多個傳輸線路，逐一連接該主板插頭上的引腳與 該第二存儲器插槽上對應的引腳；以及至少一控制開關，具有第一端 和第二端，串接在一對該主板插頭上的數(shù)據(jù)引腳和該第二存儲器插槽 上對應的數(shù)據(jù)引腳的傳輸線路中，該第一端與該主板插頭上的數(shù)據(jù)引 腳連接，該第二端與該第二存儲器插槽上對應的數(shù)據(jù)引腳連接，當該 控制開關閉合時，該主板插頭上的數(shù)據(jù)引腳的狀態(tài)值等于該第二存儲 器插槽上對應的該數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)值，當該控制開關斷開時，產生存儲 器位錯誤。
該存儲器位錯誤產生裝置還包括用于控制該控制開關通斷的按鈕。
該存儲器位錯誤產生裝置還包括鉗位電路，其一端與該控制開關 的第一端電性連接，當該控制開關斷開時，將該主板插頭上對應的數(shù) 據(jù)引腳鉗位至一狀態(tài)值，其中，該狀態(tài)值為邏輯"1"或邏輯"0"。 該鉗位電路為上拉電路，當該控制開關斷開時，將該主板插頭上對應 的數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)值上拉至邏輯"1"。該主板插頭的引腳還包括至少一 Vdd引腳，該上拉電路包括一上拉電阻，該上拉電路的另一端與該主 板插頭的Vdd引腳電性連接。
在本發(fā)明中，該第二存儲器插槽設置于該存儲器位錯誤產生裝置的頂部。且該第二存儲器插槽的方向與第一存儲器插槽的方向相同。
相比于現(xiàn)有技術，本發(fā)明主要是將存儲器位錯誤產生裝置插接于 電子裝置主板的第一存儲器插槽，并將存儲器插接于本發(fā)明的存儲器 位錯誤產生裝置，并通過本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置的控制開關 控制待測存儲器的數(shù)據(jù)引腳與電子裝置主板的第一存儲器插槽的數(shù)據(jù) 引腳之間的連接狀態(tài)，進而控制該存儲器位錯誤產生裝置的數(shù)據(jù)輸出， 藉以產生存儲器單位錯誤或多位錯誤。本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝 置與存儲器分離，無需如現(xiàn)有技術那樣對待測存儲器進行線路改動， 因而不會發(fā)生現(xiàn)有對存儲器線路改動使存儲器報廢，造成資產損失的 問題產生。
其次，本發(fā)明僅需操作存儲器位錯誤產生裝置上的控制開關即可 控制存儲器數(shù)據(jù)輸出，因此測試時操作簡單。
再者，本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置對插接于其上的存儲器無 型號要求，其可配合任何型號的存儲器使用，給存儲器性能測試帶來 很大的靈活性。
以及，在本發(fā)明中，當通過控制開關使存儲器的數(shù)據(jù)引腳與電子 裝置主板的第一存儲器插槽的數(shù)據(jù)引腳之間的連接斷開時，是通過本 發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置中的鉗位電路將第一存儲器插槽的數(shù)據(jù) 引腳鉗位至一狀態(tài)值。因此運行存儲器測試軟件進行讀操作時無需考 慮第一存儲器插槽的數(shù)據(jù)引腳的狀態(tài)值，給測試帶來便利。
圖1為現(xiàn)有存儲器位錯誤產生裝置結構示意圖。
圖2A為本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置的基本架構示意圖。 圖2B為存儲器位錯誤產生裝置內部線路示意圖。 圖2C為本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置的另一實施例的基本架 構示意圖。
圖3為存儲器、本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置、電子裝置的主 板插槽進行組裝的示意圖。1、 3 11、 12
110、 120、 13、 14 la、 lb 15、 16
2、 2"
21
22
23、 23a、 23b、 23c、 23d 241、 242、 243、 244
25
Rl、 R2、 R3、 R4 Vdd
26 a b 4
存儲器 存儲器顆粒
傳輸線路 跳線器
存儲器位錯誤產生裝置
主板插頭
第二存儲器插槽
傳輸線路
控制開關
鉗位電路
電阻
Vdd引腳
按鈕
第一端
第二端
第一存儲器插槽
具體實施例方式
以下將通過特定的具體實例說明本發(fā)明的實施方式，熟悉此技藝 的人士可由本說明書所揭示的內容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點與功 效。本發(fā)明亦可通過其他不同的具體實例加以施行或應用，本說明書 中的各項細節(jié)亦可基于不同觀點與應用，在不背離本發(fā)明的精神下進 行各種修飾與變更。
請參閱圖2A、 2B，其分別為本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置的基 本架構示意圖及內部局部線路示意圖，存儲器位錯誤產生裝置2可插 拔于例如電腦等電子裝置(未圖示)主板的第一存儲器插槽上，在本 實施方式中，存儲器位錯誤產生裝置2為小板卡，且以可產生四位位 錯誤的存儲器位錯誤產生裝置為例進行圖示說明。如圖2A、圖2B所 示，該存儲器位錯誤產生裝置2包括主板插頭21、第二存儲器插槽22、 多個傳輸線路23、控制開關241、 242、 243、 244、以及鉗位電路25。以下即對本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置2進行詳細介紹。
主板插頭21用以供存儲器位錯誤產生裝置2與電子裝置主板的第 一存儲器插槽進行插拔作業(yè)。主板插頭21具有與存儲器相同數(shù)量的引 腳，所述引腳的定義與該存儲器的引腳定義相同。所述引腳中包括多 個數(shù)據(jù)引腳。
第二存儲器插槽22用以供插接存儲器，第二存儲器插槽22上的
引腳與存儲器的引腳定義匹配。該些引腳中包括多個數(shù)據(jù)引腳。
請參閱圖2B，傳輸線路23用以逐一連接存儲器位錯誤產生裝置2 的主板插頭21上的引腳(PIN<0>~ PIN<n>)與第二存儲器插槽22上 對應的引腳(PIN<0> PIN<n>)。當存儲器位錯誤產生裝置2的主板 插頭21插入該電子裝置主板的第一存儲器插槽，且存儲器位錯誤產生 裝置2的第二存儲器插槽22插接有存儲器時，該電子裝置即可通過傳 輸線路23對該存儲器進行數(shù)據(jù)讀寫操作。
請參閱圖2B，控制開關241、 242、 243、 244分別與四位數(shù)據(jù)引 腳之間的傳輸線路23a、 23b、 23c、 23d串接，用以控制四位傳輸線路 23a、 23b、 23c、 23d的通斷。該些控制開關241、 242、 243、 244分別 具有第一端a與第二端b，該第一端a與該主板插頭21上的數(shù)據(jù)引腳 連接，該第二端b與該第二存儲器插槽22上對應的數(shù)據(jù)引腳連接。如 圖2B所示，當控制開關241、 242、 243、 244全部閉合，傳輸線路23a、 23b、 23c、 23d處于連通狀態(tài)，此時插接于第二存儲器插槽22上的存 儲器正常工作，該電子裝置可對其進行讀寫操作。而當控制開關241、 242、 243、 244不全部閉合時，傳輸線路23a、 23b、 23c、 23d中有一 條或多條線路處于斷開狀態(tài)。例如控制開關241、 242未閉合，則與開 關241、 242串接的傳輸線路23a、 23b斷開，主板插頭21上的數(shù)據(jù)引 腳(PIN<0>~PIN<1>)與第二存儲器插槽22上對應的數(shù)據(jù)引腳(PIN< 0>~PIN<1>)之間的數(shù)據(jù)傳輸斷開，主板插頭21上的數(shù)據(jù)引腳(PIN< 0>~PIN<1>)處于懸空狀態(tài)，其狀態(tài)值可能為邏輯"1"或邏輯"0", 此種狀態(tài)值不確定的情形給該電子裝置運行測試軟件進行測試帶來不 便。
如圖2B所示，為使懸空的數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)值確定，本發(fā)明在存儲器 位錯誤產生裝置2中設置鉗位電路25。如圖所示，該存儲器位錯誤產生裝置的主板插頭21引腳還包括至少一 Vdd引腳，鉗位電路25中的 電阻R1、 R2、 R3、 R4的一端分別與上述控制開關241、 242、 243、 244的第一端a連接，Rl、 R2、 R3、 R4的另一端均連接至該主板插頭 21的該Vdd引腳。當通過控制開關241、 242、 243、 244斷開一條或 多條傳輸線路時，可通過該鉗位電路25將主板插頭21上對應的引腳 的狀態(tài)值拉升至邏輯"l"。在本發(fā)明的其他實施例中，也可以通過鉗 位電路將主板插頭21上對應的引腳的狀態(tài)值拉升至邏輯"0"。
為便利操作控制開關，本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置的另一實 施例中還包括按鈕26，如圖2C所示，本實施例的存儲器位錯誤產生 裝置2'是在存儲器位錯誤產生裝置2的表面設置分別對應控制開關 241、 242、 243、 244的按鈕26，以由按鈕26來控制241、 242、 243、 244的斷開與閉合。
請參閱圖3，其為存儲器3、本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置2、 電子裝置主板的第一存儲器插槽4進行組裝的示意圖。如圖所示，是 將上述三者按箭頭標示方向進行組裝。以下配合上述圖2A、圖2B對 應用本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置2產生單位或多位錯誤的原理進 行說明。
電子裝置開機進入操作系統(tǒng)，并運行存儲器測試軟件進行寫入0 操作。當需要產生單位錯誤時，是通過按壓裝置2表面的一個按鈕26 使其中一個控制開關(例如241)斷開，此時，傳輸線路23a斷開，鉗 位電路25將主板插頭21上對應的數(shù)據(jù)引腳PIN<0>的狀態(tài)值上拉至邏 輯"l"，該電子裝置運行存儲器測試軟件讀取存儲器位錯誤產生裝置 2輸出的數(shù)據(jù)中有一位數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤，即數(shù)據(jù)由0變?yōu)?。該存儲器位 錯誤產生裝置2產生單位錯誤。
當需要產生雙位錯誤時，是通過按壓裝置2表面的兩個按鈕26使 其中兩個控制開關，例如使241、 242斷開，此時，傳輸線路23a、 23b 斷開，鉗位電路25將主板插頭21上對應的數(shù)據(jù)引腳PINW、 PIN<1> 的狀態(tài)值上拉至邏輯"l"，該電子裝置運行存儲器測試軟件讀取存儲 器位錯誤產生裝置2輸出的數(shù)據(jù)中有兩位數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤，即數(shù)據(jù)由0 變?yōu)? 。該存儲器位錯誤產生裝置2產生雙位錯誤。
需說明的是，在本發(fā)明的較佳實施例中，上述第二存儲器插槽22設置于該存儲器位錯誤產生裝置2的頂部，且第二存儲器插槽22的方 向與該電子裝置主板的第一存儲器插槽的方向相同，以方便測試過程 中對該第二存儲器插槽22上的存儲器進行插拔，同時不會與主板上鄰 近該第一存儲器插槽的其他存儲器插槽發(fā)生干涉，因此不會影響該鄰 近的其他記憶插槽插置存儲器。
此外，本發(fā)明也可以通過按壓三個按鈕以使存儲器3產生三位錯 誤，也可通過按壓四個按鈕以使存儲器3產生四位錯誤。其產生位錯 誤的原理同上述產生單位、雙位錯誤的原理相同，故在此不再詳細敘 述。
相比于現(xiàn)有技術，本發(fā)明主要是將存儲器位錯誤產生裝置插接于 電子裝置主板的第一存儲器插槽，并將存儲器插接于本發(fā)明的存儲器 位錯誤產生裝置，并通過本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置的控制開關 控制待測存儲器的數(shù)據(jù)引腳與電子裝置主板的第一存儲器插槽的數(shù)據(jù) 引腳之間的連接狀態(tài)，進而控制該存儲器位錯誤產生裝置的數(shù)據(jù)輸出， 藉以產生存儲器單位錯誤或多位錯誤。本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝 置是與存儲器分離的，無需如現(xiàn)有技術那樣對存儲器進行線路改動， 因而不會發(fā)生現(xiàn)有對存儲器線路改動使存儲器報廢而造成資產損失的 問題。
其次，本發(fā)明僅需操作存儲器位錯誤產生裝置上的控制開關即可 控制存儲器數(shù)據(jù)輸出，因此測試時操作簡單。
再者，本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置對插接于其上的存儲器無 型號要求，其可配合任何型號的存儲器使用，給存儲器性能測試帶來 很大的靈活性。
以及，在本發(fā)明中，當通過控制開關使存儲器的數(shù)據(jù)引腳與電子 裝置主板的第一存儲器插槽的數(shù)據(jù)引腳之間的連接斷開時，是通過本 發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置中的鉗位電路將第一存儲器插槽的數(shù)據(jù) 引腳鉗位至一狀態(tài)值。因此運行存儲器測試軟件進行讀操作時無需考 慮電子裝置主板的第一存儲器插槽的數(shù)據(jù)引腳的狀態(tài)值，給測試帶來 便利。
此外，需特別說明的是，本實施方式是以最多能產生四位位錯誤 的存儲器位錯誤產生裝置為例進行圖示說明，在其他實施方式中，本
ii發(fā)明也可以依據(jù)電子裝置主板能夠支持的存儲器數(shù)據(jù)糾錯功能制作所需位數(shù)位錯的存儲器位錯誤產生裝置。例如可以使本發(fā)明的六個控制開關串接六位傳輸線路、八個控制開關串接八位傳輸線路，以形成可產生六位、八位位錯誤的存儲器位錯誤產生裝置。
上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何所屬領域的普通技術人員可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對上述實施例進行修飾與改變。因此，本發(fā)明的權利保護范圍，應如所附的權利要求書范圍所限定。
權利要求
1、一種存儲器位錯誤產生裝置，其用于插接至電子裝置主板的第一存儲器插槽以供測試該主板，該存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于，包括一第二存儲器插槽，用于插接存儲器，具有與該存儲器相同數(shù)量的引腳，且各該引腳的定義與該存儲器引腳的定義相匹配，該些引腳包括多個數(shù)據(jù)引腳；一主板插頭，用于插接至該電子裝置主板的第一存儲器插槽，具有與該存儲器相同數(shù)量的引腳，且各該引腳的定義與該存儲器引腳的定義相同，該些引腳包括多個數(shù)據(jù)引腳；多個傳輸線路，逐一連接該主板的插頭上的引腳與該第二存儲器插槽上對應的引腳；以及至少一控制開關，具有第一端和第二端，串接在一對該主板的插頭上的數(shù)據(jù)引腳和該第二存儲器插槽上對應的數(shù)據(jù)引腳的傳輸線路中，該第一端與該主板的插頭上的數(shù)據(jù)引腳連接，該第二端與該第二存儲器插槽上對應的數(shù)據(jù)引腳連接，當該控制開關閉合時，該主板的插頭上的數(shù)據(jù)引腳的狀態(tài)值等于該第二存儲器插槽上對應的該數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)值，當該控制開關斷開時，產生存儲器位錯誤。
2、 根據(jù)權利要求1所述的存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于， 還包括鉗位電路，其一端與該控制開關的第一端電性連接，當該控制 開關斷開時，將該主板的插頭上對應的數(shù)據(jù)引腳鉗位至一狀態(tài)值。
3、 根據(jù)權利要求2所述的存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于， 該鉗位電路為上拉電路，當該控制開關斷開時，將該主板的插頭上對 應的數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)值上拉至邏輯"1"。
4、 根據(jù)權利要求3所述的存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于， 該主板插頭的引腳還包括至少一 Vdd引腳，該上拉電路包括一上拉電 阻，該上拉電路的一端與該控制開關的第一端電性連接，另一端與該主板插頭的Vdd引腳電性連接。
5、 根據(jù)權利要求1所述的存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于， 該第二存儲器插槽設置于該存儲器位錯誤產生裝置的頂部。
6、 根據(jù)權利要求5所述的存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于， 該第二存儲器插槽的方向與第一存儲器插槽的方向相同。
7、 根據(jù)權利要求1所述的存儲器位錯誤產生裝置，其特征在于， 還包括用于控制該控制開關通斷的按鈕。
全文摘要
一種存儲器位錯誤產生裝置，包括主板插頭、第二存儲器插槽、傳輸線路、以及至少一控制開關，當該控制開關閉合時，該主板插頭上的數(shù)據(jù)引腳的狀態(tài)值等于該第二存儲器插槽上對應的該數(shù)據(jù)引腳狀態(tài)值，當該控制開關斷開時，產生存儲器位錯誤。本發(fā)明的存儲器位錯誤產生裝置與存儲器分離，無需如現(xiàn)有技術那樣對待測存儲器進行線路改動，僅需操作存儲器位錯誤產生裝置上的控制開關即可控制存儲器數(shù)據(jù)輸出，因此測試時操作簡單，對插接于其上的存儲器無型號要求，運行存儲器測試軟件進行讀操作時無需考慮第一存儲器插槽的數(shù)據(jù)引腳的狀態(tài)值。
文檔編號G11C29/44GK101667463SQ20081021395
公開日2010年3月10日 申請日期2008年9月1日 優(yōu)先權日2008年9月1日
發(fā)明者吳長嶺, 李華慶, 范文綱 申請人:英業(yè)達股份有限公司