專利名稱：衍射光柵、光拾取器裝置及光盤裝置的制作方法
技術領域：
本發明是涉及衍射光柵、光拾取器裝置及光盤裝置。
背景技術：
作為本技術領域的背景技術，例如有專利文獻1 (日本專利特開
2004-281026號公報)和專利文獻2(日本專利特開2006-31913號公報)。 在專利文獻l (日本專利特巧2004-281026號公報)中，作為課題 記載如下，即，"將TE信號振幅的變動量定義為APP-(振幅a-振幅b) /(振幅a+振幅b)，在由上述以往的結構檢測TE信號的情況下，變動 量APP為0.69，偏差oftl為+33nm，偏差oft2為-33nm，表現出大的 值。這樣，在如上所述TE信號振幅的變動量APP進行大變動時，在 軌道Tn-l與Tn中，存在有跟蹤控制的利得下降，跟蹤控制不穩定， 不能對信息進行高可靠性的記錄與再現的問題"。作為解決手段，記載 有，"本發明中進而另一光信息裝置具有如下特征，設置有光源、聚光 裝置、分歧裝置、分割裝置、檢測裝置、多個變換裝置、以及跟蹤誤 差信號生成裝置。光源射出光束；聚光裝置將從上述光源射出的光束 聚光于具有軌道(磁道)的光存儲介質；分歧裝置將上述光存儲介質 反射/衍射的光束進行分歧；分割裝置由多個領域對上述分歧的光束進 行分割；檢測裝置具有檢測出上述分割裝置所分割的光束，對應于檢 測的光量而輸出電流信號的多個檢測區域；變換裝置將從上述光檢測 裝置輸出的電流信號變換為電壓信號；跟蹤誤差信號生成裝置。將配 置于上述分割裝置的上述多個區域中，主要包含跟蹤誤差信號的區域 稱為第一區域，主要包含跟蹤誤差信號的偏移量成分的區域稱為第二 區域，從上述第一區域得到的電壓信號，減去從上述第二區域得到的 電壓信號乘以系數，由此生成跟蹤誤差信號。與通過上述第一區域的 光束多大上述檢測裝置的效率相比，通過上述第二區域的光束多大上 述檢測裝置的效率較高"。光拾取器裝置， 一般地，為了對光盤內規定的記錄軌道上正確地 照射光點，除了通過聚焦誤差信號的檢測而使物鏡在聚焦方向上移動， 調整聚焦方向之外，還檢測跟蹤誤差信號，使物鏡在盤狀存儲介質的 半徑方向上移動，進行跟蹤調整。由這些信號對物鏡的位置進行控制。
作為其中跟蹤誤差信號的檢測方法，已知的有推挽方式，但是存 在有物鏡在光拾取器裝置驅動方向上的移動而產生大的直流變動(以
下稱為DC偏移量)的問題。因此，在專利文獻1中，使用分割裝置 分割檢測出包含以跟蹤成分為主的光束與不包含跟蹤成分的光束，通 過二者的差值計算而檢測抑制了 DC偏移量的跟蹤誤差信號。然而， 在從由盤的掃描半徑位置而改變相對軌道角度而看的情況下，由于在 為了修正本來跟蹤成分的區域內檢測了跟蹤成分，計算差值是能夠減 少跟蹤成分的一部分。因此，存在有跟蹤控制室的增益地下，不能進 行穩定的跟蹤控制的問題。
發明內容
本發明是鑒于上述問題而提出，其目的在于提供能夠得到穩定伺 服信號的光拾取器裝置及搭載有光拾取器裝置的光盤裝置。 上述目的，可以通過權利要求范圍內記載的發明而實現。 對本說明書中公開的發明的具有代表性的內容，簡單的說明如下。 本發明的光拾取器裝置，具有 一個以上半導體激光器，其射出 激光；第一物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚光于 第一光盤；第二物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚 光于第二光盤；衍射光柵，其對從第二光盤反射的光束進行分支；光 檢測器，其具有接受由所述衍射光柵分支后的光束的多個受光面；和 驅動機構，其在所述第一光盤及第二光盤的半徑方向上進行驅動，所 述第一物鏡和所述第二物鏡被排列搭載在與所述驅動方向大致垂直的 方向上，且，所述第一物鏡的透鏡中心配置在從所述第一光盤的中心 在驅動方向延伸的軸上，所述衍射光柵具有第一區域、第二區域、第 三區域、第四區域、第五區域、第六區域這六個區域，所述衍射光柵 的第一區域、第二區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述 衍射光柵的第三區域、第五區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第四區域、第六區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第一區域夾在第四區域和第五區域之間； 所述衍射光柵的第二區域夾在第三區域和第六區域之間；所述衍射光 柵的第一區域和第二區域的中心部在與所述驅動方向垂直的方向上以 距離d的間隔而配置。 '
根據本發明，即使是物鏡在光拾取器裝置驅動方向直線上不是盤 旋轉中心的情況下，也能夠提供可以得到穩定伺服信號的光拾取器裝 置及搭載有光拾取器裝置的光盤裝置。
本發明的上述及其他特征、目的與優點，能夠通過以下的附圖與 說明而得到更好的理解。
圖1是說明實施例1中的光拾取器裝置與光盤的配置的圖。
圖2是說明實施例1中本發明的光學系統的圖。
圖3是說明表示實施例1中本發明的光檢測器的圖。
圖4是說明專利文獻1的跟蹤誤差信號檢測方式的圖。
圖5是表示內外周位置的軌道角度變化的圖。
圖6是表示專利文獻1的結構中，在盤內外周上的跟蹤誤差信號
振幅變動的圖。
圖7是說明專利文獻1的結構的問題的圖。
圖8是說明專利文獻2的跟蹤誤差信號檢測方式的圖。
圖9是表示專利文獻2的結構盤內外周中跟蹤誤差信號振幅變動的圖。
圖IO是說明專利文獻1的結構的問題的圖。
圖11是說明實施例1中本發明的衍射光柵的圖。
圖12是說明實施例1中本發明的效果的圖。
圖13是說明實施例1中本發明的效果的圖。
圖14是說明圖11以外的衍射光柵的圖。
圖15是說明實施例2中本發明的光學系統的圖。
圖16是說明表示實施例2中本發明的衍射光柵的圖。
圖17是說明表示實施例2中本發明的光檢測器的圖。圖18是說明實施例3中光學的再現裝置的圖。 圖19是說明實施例4中光學的再現裝置的圖。
具體實施例方式
以下說明本發明的實施方式。 (實施例1)
圖1是說明實施例1中的光拾取器裝置與光盤的配置的圖。 如圖1所示，光拾取器裝置1構成為，可利用驅動機構7在光盤 100的半徑方向上進行驅動。而且，在光拾取器裝置的致動器5上，搭 載有物鏡2與物鏡3，在物鏡3的光拾取器裝置驅動方向的直線上，有 盤旋轉中心，但是在物鏡2的光拾取器裝置驅動方向的直線上，沒有 盤旋轉中心。
這里，例如設物鏡3為DVD/CD，物鏡2為BD物鏡，而進行說明。
在上述光拾取器裝置中，圖2表示光學系統。首先，對DVD/CD 光學系統進行說明。從二波長激光器40，射出波長約為650nm的光束 與波長約為785nm的光束。從二被長激光器40射出的光束，經過輔助 透鏡41，衍射光柵42，由分束器43所反射。分束器43所反射的光束， 透過分束器53，由準直透鏡51變換為大致平行的光束。透過準直透鏡 51的光束，透過光束擴展器54、豎起反射鏡45、 1/4波長板46之后， 利用搭載在致動器5上的物鏡3聚光于光盤100。
由光盤100所反射的光束透過物鏡3、 1/4波長板46、豎起反射鏡 45、光束擴展器54、準直透鏡51、分束器53、分束器43之后，經過 檢測透鏡47，由光檢測器48進行檢測。由于對CD也是同樣，所以其 說明予以省略。
接著對BD光學系統進行說明。從半導體激光器50作為發散光射 出波長約為405nm的光束。從半導體激光器50射出的光束，透過分束 器52及偏光衍射光柵11 (以下稱為衍射光柵)，由分束器53反射。
由分束器53所反射的光束利用準直透鏡51變換為大致平行的光。 透過準直透鏡51的光束入射到光束擴展器54。光束擴展器54通過改 變光束的發散/收斂狀態，能夠用于補償由光盤100的覆蓋層的厚度誤差所引起的球面像散。從光束擴展器54射出的光束透過豎起反射鏡 45，由豎起反射鏡55所反射，透過1/4波長板56，之后利用搭載在致 動器5上的物鏡3，聚光于光盤100。
由光盤100所反射的光束，經過物鏡2、 1/4波長板56、豎起反射 鏡55、豎起反射鏡45、光束擴展器54、準直透鏡51、分束器53，入 射到衍射光柵ll。由衍射光柵ll將光束分割為多個區域的光束，向各 自不同的方向行進，入射到檢測透鏡12。由檢測透鏡12給予像散，通 過入射到光檢測器IO而檢測由像散方式形成的聚焦誤差信號。在光檢 測器10上，形成例如如圖3所示的多個受光部，對各個受光部照射由 衍射光柵11所分割的光束。而且，.對應于照射到受光部的光量，從光 檢測器10輸出電信號，對這些輸出進行計算，生成再現信號的RF信 號、聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號。
在這樣的結構中，例如在衍射光柵11是如專利文獻1的衍射光柵 的模式的情況下，會發生以下的問題。
首先，對專利文獻1的跟蹤誤差信號的檢測方法進行說明。通過 .檢測由光盤上的軌道反射時的0次衍射光與士l次衍射光的干涉區域 (以下稱為跟蹤區域)，并進行差值計算而生成跟蹤成分。圖—4表示專 利文獻l中衍射光柵與光束的關系。圖4的(a)表示物鏡未發生移動 的情況，(b)表示物鏡發生了移位的情況。圖中的實線表示衍射光柵 的分割線，二點連線表示衍射光柵上的光束，斜線部表示跟蹤區域。
這里，由衍射光柵區域dl、 d2、 d3、 d4、 d5、 d6所衍射的光束， 分別入射到圖3所示的光檢測器的受光面kl、 k2、 k3、 k4、 k5、 k6。 另外，透過衍射光柵的光束，入射到受光面M1、 M2、 M3、 M4。如果 從該受光面kl、 k2、 k3、 k4、 k5、 k6、 Ml、 M2、 M3、 M4所得到的 電信號為D1、 D2、 D3、 D4、 D5、 D6、 A、 B、 C、 D，則聚焦誤差信 號、跟蹤誤差信號、RF信號可由下式表示。
式l '
F￡S= (M1+M3〉 一 (M2+M4) RF=M1+M2+M3十M4
式中，kt是物鏡發生移位時不會在跟蹤誤差信號中發生DC成分的系 數。跟蹤成分是從跟蹤區域生成的D1、 D2的差動信號成為跟蹤信號。 但是，在為了使盤上的光點追從軌道而使物鏡在光拾取器裝置的驅動 方向上移動的情況下，如圖4(b)所示，為了使衍射光柵上光束移動， 在D1、 D2的差動信號中發生DC偏移量。為了抑制該DC偏移量，使 用D3、 D4、 D5、 D6的信號。主要由于D3、 D4、 D5、 D6的信號不包 含跟蹤成分，所以僅通過(D3-D4)十(D5-D6)的計算就能夠檢測出DC偏 移量。因此，通過進行上述it算，就能夠得到不發生DC偏移量的穩 定跟蹤誤差信號。
在圖2所示的本發明的結構中，由于物鏡2在光拾取器裝置方向 的直線上沒有盤旋轉的中心，所以光盤100上的軌道角度如圖5所示， 在內位置、外周位置上變化。因此，原封不動得使用專利文獻1的結 構，會因盤半徑位置使跟蹤誤差信號振幅如圖6所示而變動。對該變 動進行以下的說明。
如上所述，跟蹤區域是由光盤上的軌道反射時的0次衍射光與士l 次衍射光的干涉區域。因此，伴隨著盤上軌道的旋轉，跟蹤區域也旋 轉。圖7是表示內周位置、外周位置上的衍射光柵的模式與光束的關 系的圖，因此(a)—是表^^內周位置，(b)是表示外周位置的情況。圖 中的實線表示衍射光柵的分割線，二點連線表示衍射光柵上的光束， 斜線部表示跟蹤區域。這樣，跟蹤區域旋轉時，電信號D4、 D6中會 發生跟蹤成分。因此，在進行跟蹤誤差計算時會使振幅惡化。由此， 如圖6所示，跟蹤誤差信號會在內周位置、外周位置上變動。該變動 是導致跟蹤控制的增益惡化，使跟蹤控制不穩定的主要原因。
對于此，日本專利特幵2006-31913號公報(專利文獻2)中，如 圖8所示，對專利文獻1的衍射光柵的分割進行旋轉，如圖9所示， 由此對從內周位置到外周位置的跟蹤誤差信號的變動進行控審U。但是， 在衍射光柵傾斜的情況下也會發生同樣的問題，以下對此進行說明。
圖10是表示專利文獻2的結構中，內周、中部、外周位置的光束 與衍射光柵的關系。圖10 (a)、 (b)、 (c)分別表示圖9的a點、b點、 c點的情況下的光點與衍射光柵的關系。這里，圖10 (a)、 (c)中，由 于對衍射光柵區域d3、 d4、'd5、 d6入射跟蹤區域，所以，對于圖9的 b點通過向a點、c點移動，.跟蹤誤差信號振幅變動。但是，與專利文獻1相比，由于帶有角度，所以跟蹤誤差信號振幅的變動量降低。然
而，為了使盤上的光點追從軌道，物鏡2在光拾取器裝置驅動方向(圖 10箭頭)上移位時，對衍射光柵區域d3、 d4、 d5、 d6入射跟蹤區域(圖 10中ol00部分)。結果是，電信號的D3、 D4、 D5、 D6進一步發生跟 蹤成分，跟蹤誤差信號的振幅會發生變動。由此，成為導致跟蹤控制 的增益惡化，使跟蹤控制不穩定的主要原因。
對于這一課題，在本實施方式中，作為一例采用圖ll所示的衍射 光柵。在這里所示的衍射光柵中，由衍射光柵區域dl (第一區域)、d2 (第二區域)、d3 (第三區域)、d4 (第四區域)、d5 (第五區域)、d6 (第六區域)等6個區域構成。對于衍射光柵中心600， dl與d2呈中 心對稱，d3與d5呈中心對稱，d4與d6呈中心對稱。而且，該衍射光 柵，并非如專利文獻2所示單純地旋轉衍射光柵的區域，其特征在于， 使衍射光柵區域dl與d2的中心相對于光拾取器裝置驅動方向，在垂 直方向上偏離距離d。通過使衍射光柵形成如上構成，在盤內周位置到 外周位置上，如圖12所示，能夠抑制跟蹤誤差信號振幅的變動。進而， 本發明的衍射光柵與專利文獻2相比，特征之一在于應對透鏡的移位 的性能強。
圖13表示本發明的結構中內周、中部、外周位置上的光束與衍射 光柵的關系。圖13 (a)、 (b)、 (c)分別表示圖12的a點、b點、c點 的情況下的光點與衍射光柵的關系。這里，在圖13 (a)、 (c)中，由 于是對衍射光柵區域d3、 d4、: d5、 d6入射跟蹤區域，所以，對于圖12 的的b點，通過向a點、c點移動，使跟蹤誤差信號振幅變動。但是， 與專利文獻l相比，衍射光柵區域dl、 d2的位置相對于光拾取器裝置 驅動方向在垂直方向上偏差，由此可降低跟蹤誤差振幅的變動量。
這里，在專利文獻2中，相當于圖13的o200的部分伴隨著物鏡 的移動而入射到衍射光柵d3、 d4、 d5、 d6。與此相比，在本發明的情 況下，盤上的光點為了追隨軌道，即使是物鏡在光拾取器驅動方向(圖 ll箭頭)移動，入射到衍射光柵d3、 d4、 d5、 d6的跟蹤區域也不發生 變化。這是由于衍射光柵的區域是平行于物鏡移動方向而配置的。由 此，即使是在物鏡移位的情況下，也能夠檢測出穩定的跟蹤誤差信號。這里對于衍射光柵的距離d，可以由圖5所示的ei、 e2及衍射光柵上 的光束有效徑d，按下式所表示。
式2
如果該距離d處于與基于ei傾斜的跟蹤區域的物鏡移位方向相垂
直的方向上的變化量(Dxsinei)，和與基于02傾斜的跟蹤區域物鏡移 位方向相垂直的方向上的變化量(Dxsin02)之間，則能夠得到效果。
如上所述，通過使衍射光柵區域dl與d2在與光拾取器裝置驅動 方向垂直的方向上偏離距離d，就能夠將內周、外周位置處的跟蹤誤差 信號的振幅變化及由物鏡的移動所引起的跟蹤誤差信號的振幅變化抑 制到最小限。還有，這里利用如圖11的形狀進行的說明，但是，如果 用于對跟蹤區域進行衍射、檢測的衍射光柵區域在跟蹤區域方向上偏 差，也能夠得到同樣的效果，所以，例如衍射光柵的形狀也可以是如 圖14所示，具有衍射光柵區域d7 (第七區域)的形狀。
而且，雖然在本實施方式中是對像散方式的聚焦誤差信號進行的 說明，但是，即使是使用刀口 (knife edge)方式及光點尺寸(spotsize) 方式等其他的方式，當然也能夠取得同樣的效果，與檢測方式及檢測 器無關。進而，雖然在本實施方式中衍射光柵11是偏光衍射光柵，但 是，例如，即使是在分束器52與檢測透鏡12之間配置普通的衍射光 柵，當然也能夠得到同樣的效果。 (實施例2)
圖15是表示本發明的實施例2中光拾取器裝置的光學系統。還有， 由于DVD/CD光學系統與實施例1同樣，所以其說明予以省略，僅對 結構不同的BD光學系統進行說明。
從半導體激光器50作為發散光射出波長約為405nm的光束。從半 導體激光器50射出的光束，透過分束器52及偏光衍射光柵11 (以下 稱為衍射光柵)，由分束器53反射。
由分束器53所反射的光束由準直透鏡51變換為大致平行的光。 透過準直透鏡51的光束入射到光束擴展器54。光束擴展器54通過改 變光束的發散/收斂狀態，用于補償由光盤100的覆蓋層的厚度誤差所引起的球面像散。從光束擴展器54射出的光束透過豎起反射鏡45，由 豎起反射鏡55反射并透過1/4波長板56后，搭載在致動器5上的物鏡 3，聚光于光盤100。
由光盤100所反射的光束，經過物鏡2、 1/4波長板56、豎起反射 鏡55、豎起反射鏡45、光束擴展器54、準直透鏡51、分束器53，入 射到衍射光柵ll。由衍射光柵ll將光束分割為多個區域的光束，向各 自不同的方向行進，入射到光檢測器IO。在光檢測器10上，形成多個 受光部，對各個受光部照射由衍射光柵ll分割的光束，根據照射到受 光部的光量，從光檢測器10輸出電信號，對這些輸出進行計算，生成 再現信號的RF信號、聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號。
在這樣的光學系統結構中，圖16表示衍射光柵11，圖17表示光 檢測器IO。衍射光柵10是由da與db (第一區域)、dc與dd (第二區 域)、de (第四區域)、df (第五區域)、dg (第六區域)、dh (第三區域)、 di與dj與dk與dl (第七區域)等7個區域構成，相對于衍射光柵中心 600， da、 db與dc、 dd呈中心對稱，de與dg呈中心對稱，df與dh呈 中心對稱。其中衍射光柵區域da、 db、 dc、 dd、 de、 df、 dg、 dh所衍 射的+l次光分別入射到圖17的受光面al、 bl、 cl、 dl、 el、 fl、 gl、 hl。而且，由衍射光柵區域di、 dk衍射的+l次光入射到圖17中的受 光面ikl，由dj、 dl衍射的+l次光入射到圖17中的受光面j11。而且， 衍射光柵區域da、 db、 dc、 dd的-1次光入射到r、 s、 t、 u，衍射光柵 區域de、 df、 dg、 dh的-1次光分別入射到受光面e2、 f2、 g2、 h2。而 且，衍射光柵區域il、 jl、 kl、 ll激發化，僅發生+l次光。
這里，設從受光面al、 bl、 cl、 dl、 el、 fl、 gl、 hl、 ikl、 jll、 r、 s、 t、 u、 e2、 f2、 g2、 h2得到的電信號為Al、 Bl、 Cl、 Dl、 El、 Fl、 Gl、 Hl、 IK1、 JL1、 R、 S、 T、 U、 E2、 F2、 G2、 H2，聚焦誤差信號、 跟蹤誤差信號、RF信號可由下式表示。
式3
FES= (R+U) — (S + T)
TES=(A1+B1 — (C1+D7+G1+H1)
產A " t x {(E2 + F2》一<G2 + H2n RF=A1+B1+ci+D1+E1+Fl+G1+Hl+i1式中，kt是物鏡發生移位時不會由跟蹤誤差信號發生DC成分的 系數。
可知，該式的跟蹤誤差信號的檢測方法僅是分割實施例1所示的 圖ll的衍射光柵而檢測，是同樣的檢測方法。就是說，即使物鏡2在 光拾取器裝置驅動方向的直線上不具有盤旋轉中心，通過使用圖16的 衍射光柵，也可以對內周位置、外周位置檢測出穩定的跟蹤誤差信號。 此時對于距離d，如圖16的粗線所示，利用衍射光柵上包含跟蹤區域 的衍射光柵區域所判斷。而且，衍射光柵也可以是圖14所示的形狀。 (實施例3) '
在實施例3中，對搭載了光拾取器裝置1的光學再現裝置進行說 明。圖18是光學再現裝置的概略圖。光拾取器裝置1設置有能夠沿著 光盤100的半徑方向驅動的驅動結構，根據來自訪問(access)控制電 路172的訪問控制信號而進行位置控制。
從激光器點亮電路177向光拾取器裝置1內的半導體激光器供給 規定的激光驅動電流，從半導體激光器對應于再現而射出規定光量的 激光。而且，激光器點亮—電路177也可以組裝于光拾取器裝置1內。
從光拾取器裝置1內的光檢測器輸出的信號，發送到伺服信號生 成電路174及信息信號再現電路175。由伺服信號生成電路174，基于 來自上述光檢測器的信號，生成聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號及傾斜 (tilt)控制信號等伺服信號，基于此，經由致動器驅動電路173驅動 光拾取器裝置l內的致動器，進行物鏡的位置控制。
在上述信息信號再現電路175中，基于來自上述光檢測器的信號 再現記錄于光盤100的信息信號。'
由上述伺服信號生成電路174及信息信號再現電路175得到的信 號的一部分發送到控制電路176。該控制電路176連接有主軸馬達控制 電路171、訪問控制電路172、伺服信號生成電路174、激光器點亮電 路177、球面像散修正元件驅動電路179等，進行旋轉光盤100的主軸 馬達180的旋轉控制，訪問方向及位置的控制，物鏡的伺服控制，光 拾取器裝置1內半導體激光器發光光量的控制，因盤襯底厚度不同引 起的球面像散的修正等。 (實施例4)在實施例4中，對搭載了光拾取器裝置1的光學記錄再現裝置進 行說明。圖19是光學記錄再現裝置的概略圖。該裝置與上述圖19中 說明的光學記錄再現裝置的不同點在于，附加有在控制電路176與激 光器點亮電路177之間設置有信息信號記錄裝置178，基于來自信息信 號記錄裝置178的記錄控制信號，進行激光器點亮電路177的點亮控 制，對光盤100寫入所希望的信息的功能。
以上，對本發明的光拾取器及光盤裝置的實施方式進行了說明， 但本實施方式并不限于此，在不脫離本發明的要旨的范圍內，能夠進 行各種改良與變形。
權利要求
1.一種光拾取器裝置，其特征在于具有一個以上半導體激光器，其射出激光；第一物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚光于第一光盤；第二物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚光于第二光盤；衍射光柵，其對從第二光盤反射的光束進行分支；光檢測器，其具有接受由所述衍射光柵分支后的光束的多個受光面；和驅動機構，其在所述第一光盤及第二光盤的半徑方向上進行驅動，所述第一物鏡和所述第二物鏡被排列搭載在與所述驅動方向大致垂直的方向上，且，所述第一物鏡的透鏡中心配置在從所述第一光盤的中心在驅動方向延伸的軸上，所述衍射光柵具有第一區域、第二區域、第三區域、第四區域、第五區域、第六區域這六個區域，所述衍射光柵的第一區域、第二區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第三區域、第五區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第四區域、第六區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第一區域夾在第四區域和第五區域之間；所述衍射光柵的第二區域夾在第三區域和第六區域之間；所述衍射光柵的第一區域和第二區域的中心部在與所述驅動方向垂直的方向上以距離d的間隔而配置。
2.根據權利要求1所述的光拾取器裝置，其特征在于權利要求書第2/6頁使用有效徑d，在最內周處的所述光盤上的軌道角度ei，在最外周處的所述光盤上的軌道角度62時，所述距離d滿足式| D x sin叫^ d^|D x sin 62|。
3. 根據權利要求l所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述衍射光柵的第一區域和第二區域，被通過所述衍射光柵的中心并在所述驅動方向上延伸的直線分割。
4. 一種光拾取器裝置，其特征在于 具有一個以上半導體激光器，其射出激光；第一物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚光于第 一光盤；第二物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚光于第二光盤； .衍射光柵，其對從第二光盤反射的光束進行分支；光檢測器，其具有接受由所述衍射光柵分支后的光束的多個受光面；和驅動機構，其在所述第一光盤及第二光盤的半徑方向上進行驅動， 所述第一物鏡和所述第二物鏡被排列搭載在與所述驅動方向大致 垂直的方向上，且，所述第一物鏡的透鏡中心配置在從所述第一光盤的中心在驅 動方向延伸的軸上，所述衍射光柵具有第一區域、第二區域、第三區域、第四區域、 第五區域、第六區域、第七區域這七個區域，所述衍射光柵的第一區域、第二區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第三區域、第五區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第四區域、第六區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱； '所述衍射光柵的第一區域夾在第四區域和第五區域之間； 所述衍射光柵的第二區域夾在第三區域和第六區域之間； 所述衍射光柵的第一區域和第二區域的中心部在與所述驅動方向 垂直的方向上以距離d的間隔而配置。
5. 根據權利要求4所述的光拾取器裝置，其特征在于使用有效徑d，在最內周處的所述光盤上的軌道角度ei，在最外周處的所述光盤上的軌道角度02時，所述距離d滿足式| D x sin 01| 2 c^|D x sin 02|。
6. 根據權利要求4所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述衍射光柵的第一區域和第二區域，被通過所述衍射光柵的中心并在所述驅動方向上延伸的i:線分割。
7. —種光盤裝置，其特征在于具有如權利要求4所述的光拾取器裝置；和使用從所述光拾取器裝置輸出的信號生成跟蹤誤差信號的伺服信 號生成電路，利用入射到所述衍射光柵的第一區域并由所述檢測器檢測的信號Dl，入射到所述衍射光柵的第二區域并由所述檢測器檢測的信號D2， 入射到所述衍射光柵的第三區域并由所述檢測器檢測的信號D3， 入射到所述衍射光柵的第四區域并由所述檢測器檢測的信號D4， 入射到所述衍射光柵的第五區域并由所述檢測器檢測的信號D5， 入射到所述衍射光柵的第六區域并由所述檢測器檢測的信號D6，和對由所述D1、 D2、 D3、 D4、 D5、 D6檢測的信號強度進行修正的 系數k， 通過式(Dl-D2)-kx((D4-D3)+(D5-D6))生成跟蹤誤差信號。
8. —種光盤裝置，其特征在于，搭載有光拾取器裝置，其具有一個以上半導體激光器，其射出激光；第一物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚 光于第一光盤；第二物鏡，其對從所述半導體激光器射出的光束聚光并聚 光于第二光盤；衍射光柵，其對從第二光盤反射的光束進行分支；光檢測器，其具有接受由所述衍射光柵分支后的光束的多 個受光面；和驅動機構，其在所述第一光盤及第二光盤的半徑方向上進 行驅動，所述第一物鏡和所述第二物鏡被排列搭載在與所述驅動 方向大致垂直的方向上，且，所述第一物鏡的透鏡中心配置在從所述第一光盤的中 心在驅動方向延伸的軸上，所述衍射光柵具有第一區域、第二區域、第三區域、第四 —區域、第五區域、第六區域這六個區域，所述衍射光柵的第一區域、第二區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第三區域、第五區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第四區域、第六區域相對于所述衍射光柵 的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第一區域夾在第四區域和第五區域之間； 所述衍射光柵的第二區域夾在第三區域和第六區域之間； 在與所述驅動方向垂直的方向上，所述衍射光柵的第一區 域和第二區域的中心部以距離d的間隔而配置； 激光器點亮電路，其對配置在所述光拾取器裝置中的所述半導體 激光器進行驅動；伺服信號生成電路，其使用由所述光拾取器裝置內的所述光檢測 器檢測的信號，生成聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號；以及信息信號生成電路，其對記錄在光盤中的信息信號進行再現。
9. 一種衍射光柵，其使光束分支為多束，其特征在于 所述衍射光柵具有第一區域、第二區域、第三區域、第四區域、第五區域、第六區域這六個區域，所述衍射光柵的第一區域、第二區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第三區域、第五區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第四區域、第六區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第一區域夾在第四區域和第五區域之間； 所述衍射光柵的第二區域夾在第三區域和第六區域之間； 所述衍射光柵的第一區域和第二區域的中心部在與第一區域和第 三區域相接的軸垂直的方向上以距離d的間隔而配置。
10. 根據權利要求9所述的衍射光柵，其特征在于 所述衍射光柵的第一區域和第二區域，被通過所述中心并與在第一區域和第三區域相接的軸平行的方向上延伸的直線分割。
11. 根據權利要求9所述的衍射光柵，其特征在于使用有效徑d，在最內周處的所述光盤上的軌道角度ei，在最外 周處的所述光盤上的軌道角度e2時，所述距離d滿足式| D x sin ei| 2d2|Dxsine2|。
12. —種衍射光柵，其使光束分支為多束，其特征在于 所述衍射光柵具有第一區域、第二區域、第三區域、第四區域、第五區域、第六區域、第七區域這七個區域，所述衍射光柵的第一區域、第二區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第三區域、第五區域相對于所述衍射光柵的中心呈中心對稱；所述衍射光柵的第四區域、第六區域相對于所述衍射光柵的中心 呈中心對稱；所述衍射光柵的第一區域夾在第四區域和第五區域之間； 所述衍射光柵的第二區域夾在第三區域和第六區域之間； 所述衍射光柵的第一區域和第二區域的中心部在與第一區域和第 三區域相接的軸垂直的方向上以距離d的間隔而配置。
13. 根據權利要求12所述的衍射光柵，其特征在于 所述衍射光柵的第一區域和第二區域，被通過所述中心并與在第一區域和第三區域相接的軸平行的方向上延伸的直線分割。
14. 根據權利要求12所述的衍射光柵，其特征在于使用有效徑d，在最內周處的所述光盤上的軌道角度ei，在最外周處的所述光盤上的軌道角度92時，所述距離d滿足式| D x sin叫2 論ID x sin92|。
全文摘要
本發明涉及衍射光柵、光拾取器裝置及光盤裝置，其中本發明的光拾取器裝置，對從光盤反射的光束，利用衍射光柵對其進行分割并檢測。在衍射光柵中具有第一～第六區域，第一區域與第二區域、第三區域與第五區域、第四區域與第六區域，相對于上述衍射光柵的中心呈中心對稱。另外，第一區域夾在第四區域與第五區域之間；第二區域夾在第三區域與第六區域之間。進而，第一區域與第二區域的中心，在垂直于上述驅動方向的方向上以距離d的間隔而進行配置。即使物鏡在光拾取器裝置驅動方向直線上不具有盤旋轉中心的情況下，也能夠得到穩定的伺服信號。
文檔編號G11B7/135GK101494065SQ200810180760
公開日2009年7月29日 申請日期2008年12月2日 優先權日2008年1月21日
發明者山崎和良 申請人:日立視聽媒介電子股份有限公司