記錄功率決定方法及裝置的制作方法

專利名稱：記錄功率決定方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明，涉及一種決定往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的記錄功率的、記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置。

背景技術(shù)：
作為用來記錄數(shù)據(jù)的信息記錄介質(zhì)，公知有光盤。光盤裝置，往光盤上照射光束，來記錄數(shù)據(jù)，并對光盤中所記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行再生。即使在光盤或光盤裝置同樣制造的情況下，由于光盤或光盤裝置中存在個體差異，因此存在的問題是，有時該個體差異，會導(dǎo)致無法在光盤中適當(dāng)記錄數(shù)據(jù)，另外無法適當(dāng)再生記錄在光盤中的數(shù)據(jù)。
作為用來防止這種問題的一個公知方法，是在裝載光盤時，對各個光盤以及光盤裝置決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 圖16為表示一般的光盤601的示意圖。如圖16所示，光盤601中軌道602形成為螺旋狀。通過對軌道602照射調(diào)制過記錄功率的光束，在軌道602中形成多個標(biāo)記以及多個空白，通過這樣來進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄。光盤601中，設(shè)有用戶記錄數(shù)據(jù)時所使用的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域、以及決定光束的記錄功率時所使用的記錄功率決定區(qū)域。記錄功率決定區(qū)域，設(shè)置在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域以外的區(qū)域(具體而言，為光盤601的最內(nèi)側(cè)區(qū)域或最外圍區(qū)域)中。
圖17為表示以往的光盤裝置700的示意圖。光盤裝置700具有光頭702、再生部704、解調(diào)·ECC(Error Correcting Code)電路706、記錄功率決定部708、記錄功率設(shè)定部710、激光器驅(qū)動電路712、以及記錄數(shù)據(jù)生成部714。
光盤601被裝載到光盤裝置700中之后，光盤601的類型被識別，并旋轉(zhuǎn)光盤601。光頭702具有半導(dǎo)體激光器(未圖示)，在光盤601旋轉(zhuǎn)時，用從光頭702的半導(dǎo)體激光器出射的光束，照射光盤601。
在光盤601中記錄數(shù)據(jù)時，光頭702用具有給定的記錄功率的光束照射光盤601，在光盤601中形成標(biāo)記。這里，通過標(biāo)記邊緣記錄方式，對Run Length Limited(1，7)調(diào)制方式的數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄。這種情況下，光盤601中，對最短2T至最長8T的每一個基準(zhǔn)周期T，形成7種標(biāo)記與空白。
另外，在從光盤601讀出數(shù)據(jù)時，光頭702通過功率比記錄功率小的再生功率的光束照射光盤601，并接收由光盤601反射的光。光頭702通過對所接收到的光進(jìn)行光電變換，生成表示光盤601中所記錄的數(shù)據(jù)的信號。再生部704，測定由光頭702所生成的信號的調(diào)制度，同時將光頭702所生成的信號數(shù)字化。關(guān)于調(diào)制度，將在后面參照圖19進(jìn)行說明。
解調(diào)·ECC電路706，對由再生部704數(shù)字化的信號進(jìn)行解調(diào)，并進(jìn)行錯誤修正。記錄功率決定部708，根據(jù)由再生部704所測定的調(diào)制度，決定記錄數(shù)據(jù)時的記錄功率。記錄功率設(shè)定部710，在激光器驅(qū)動電路712中設(shè)定由記錄功率決定部708所決定的記錄功率。記錄數(shù)據(jù)生成部714生成要往光盤601中記錄的數(shù)據(jù)。激光器驅(qū)動電路712驅(qū)動光頭702，使得光頭702用記錄功率設(shè)定部710所設(shè)定的記錄功率，將記錄數(shù)據(jù)生成部714中所生成的數(shù)據(jù)記錄在光盤601中。
圖18為表示以往的光盤裝置700中的再生部704的示意圖。如圖18所示，再生部704具有前置放大器801、采樣保持電路802、AD變換器803、運算器804、以及二值化數(shù)據(jù)生成部805。
二值化數(shù)據(jù)生成部805，將光頭702所生成的信號數(shù)字化后，生成數(shù)字化了的數(shù)據(jù)(二值化數(shù)據(jù))，將表示二值化數(shù)據(jù)的信號705，輸出給解調(diào)·ECC電路706以及記錄功率決定部708。
前置放大器801，對光頭702所生成的信號進(jìn)行放大。采樣保持電路802對前置放大器801所放大的信號進(jìn)行采樣，并保持信號的峰值以及谷值。AD變換器803，將采樣保持電路802所保持的峰值以及谷值數(shù)字化。運算器804對數(shù)字化了的峰值以及谷值進(jìn)行運算來獲得調(diào)制度。
圖19為表示前置放大器801所輸出的信號波形的示意圖。如圖19所示，如果設(shè)從光頭702的半導(dǎo)體激光器熄滅時的信號電平、或光頭702的半導(dǎo)體激光器雖照射再生功率的光束卻沒有受到光盤601所反射的光的影響時的信號電平起，到與標(biāo)記對應(yīng)的信號的信號電平為止為振幅A，從光頭702的半導(dǎo)體激光器熄滅時的信號電平起，到與空白對應(yīng)的信號的信號電平為止為振幅B，則調(diào)制度通過(A-B)/A來表示。
再次參照圖17，對以往的記錄功率決定方法進(jìn)行說明。
光盤601中，記錄有在決定記錄功率時所使用的常數(shù)參數(shù)。光頭702，生成表示從光盤601讀出的常數(shù)參數(shù)(以下，稱作給定值)的信號703，并將信號703輸出給再生部704。再生部704的二值化數(shù)據(jù)生成部805，生成將表示給定的值的信號703二值化后的信號705，并將信號705輸出給記錄功率決定部708。
記錄功率設(shè)定部710，在激光器驅(qū)動電路712中設(shè)定光束的測試記錄功率。記錄功率設(shè)定部710，設(shè)定不同的8個測試記錄功率A～H。這里，測試記錄功率A是最大的測試記錄功率，按照測試記錄功率B～H的順序，測試記錄功率漸漸變小。
記錄數(shù)據(jù)生成部714，生成測試數(shù)據(jù)，將表示所生成的測試數(shù)據(jù)的信號715，輸出給激光器驅(qū)動電路712。激光器驅(qū)動電路712驅(qū)動光頭702，使得光頭702在光盤601的記錄功率決定區(qū)域中，從給定的位置起連續(xù)軌道的約1周記錄測試數(shù)據(jù)。記錄數(shù)據(jù)生成部714，生成測試數(shù)據(jù)，使得用光頭702在光盤601中連續(xù)形成8T標(biāo)記以及8T空白。光盤601中，在光盤601的約1周上，重復(fù)記錄測試記錄功率A～H。圖20中，在光盤601中，通過A～H來表示與測試記錄功率A～H對應(yīng)的區(qū)域。
測試數(shù)據(jù)的記錄結(jié)束后，光頭702將再生功率的光束照射給光盤601，通過這樣，讀出記錄在軌道中的測試數(shù)據(jù)，并生成表示測試數(shù)據(jù)的信號。光頭702所生成的信號的振幅，根據(jù)光盤601上是否形成有標(biāo)記進(jìn)行變化。光頭702所生成的信號703，被輸入給再生部704。
再次參照圖18。在圖18所示的再生部704中，前置放大器801放大信號703。采樣保持電路802，保持由前置放大器801所放大過的信號的峰值以及谷值。A/D變換部803，將采樣保持電路802所保持的信號的峰值以及谷值數(shù)字化。運算器804運算數(shù)字化了的峰值與谷值，得到信號的調(diào)制度。由于信號703的振幅因測試記錄功率A～H而異，因此調(diào)制度因測試記錄功率A～H而異。運算器804，生成表示信號的調(diào)制度的信號707，并將信號707輸出給記錄功率決定部708。
記錄功率決定部708，根據(jù)對應(yīng)于測試記錄功率A～H的調(diào)制度，通過以下所示的以往的兩個記錄功率決定方法中的任一個方法，來決定記錄功率。
圖21為說明以往的第1記錄功率決定方法的圖，是表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。以往的第1記錄功率決定方法中，記錄功率決定部708，根據(jù)多個測試記錄功率與對應(yīng)多個測試記錄功率的調(diào)制度之間的相關(guān)關(guān)系，選擇調(diào)制度為M0的記錄功率P0。記錄功率決定部708，計算出記錄功率P0與從光盤601讀出的給定值之積，來決定記錄數(shù)據(jù)時的記錄功率。記錄功率決定部708，將表示所計算出的記錄功率的信號709，輸出給記錄功率設(shè)定部710。
圖22為說明以往的第2記錄功率決定方法的圖，是表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率之積)之間的關(guān)系的曲線圖。以往的第2記錄功率決定方法中，記錄功率決定部708，分別計算出對應(yīng)多個測試記錄功率的調(diào)制度與多個測試記錄功率之積，生成表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率之積)的相關(guān)關(guān)系的近似直線，在近似直線中計算出乘積為0的記錄功率Pthr。接下來，記錄功率決定部708，計算出記錄功率Pthr與從光盤601讀出的給定值之積，來決定記錄數(shù)據(jù)時的記錄功率。記錄功率決定部708，將表示計算出的值的信號709，輸出給記錄功率設(shè)定部710。
但是，以往的第1記錄功率決定方法以及以往的第2記錄功率決定方法，均無法決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 記錄功率決定部708，在按照以往的第1記錄功率決定方法決定記錄功率時，例如若光盤601與光頭702之間產(chǎn)生了相對傾斜，便無法決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β?。以下，對照圖23，對產(chǎn)生了傾斜的情況下的記錄功率進(jìn)行說明。
圖23為表示記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。圖23的曲線圖中，將記錄時以及讀出所記錄的數(shù)據(jù)時均沒有發(fā)生傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1101表示，將記錄時產(chǎn)生了傾斜而讀出時未產(chǎn)生傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1102表示，將記錄時以及讀出時均產(chǎn)生了傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1103來表示。產(chǎn)生了傾斜的情況下的調(diào)制度，比沒有產(chǎn)生傾斜的情況下的調(diào)制度小。在讀出時沒有產(chǎn)生傾斜而記錄時產(chǎn)生了傾斜的情況下，8個記錄功率中，記錄功率最低的記錄功率H的調(diào)制度無法測定。同樣，在記錄時以及讀出時均產(chǎn)生了傾斜的情況下，記錄功率H的調(diào)制度也無法測定。
測試數(shù)據(jù)的記錄以及測試數(shù)據(jù)的讀出，在記錄用戶數(shù)據(jù)之前進(jìn)行，在記錄測試數(shù)據(jù)之后立即讀出所記錄的測試數(shù)據(jù)。因此，如果在產(chǎn)生相對傾斜的狀態(tài)下記錄測試數(shù)據(jù)，并讀出測試數(shù)據(jù)，則會得到圖23中通過實線1103所示的結(jié)果。在按照以往的第1記錄功率決定方法，決定記錄功率的情況下，記錄功率決定部708，選擇對應(yīng)調(diào)制度M0的記錄功率P1103。其結(jié)果是，除了測試數(shù)據(jù)記錄時的傾斜的影響，還受到讀出測試數(shù)據(jù)時(以下，稱作測試數(shù)據(jù)讀出時)的傾斜的影響。
然而，雖然在測試數(shù)據(jù)記錄時產(chǎn)生了傾斜的情況下，認(rèn)為記錄用戶數(shù)據(jù)時也產(chǎn)生了傾斜，但讀出該用戶數(shù)據(jù)時不一定會產(chǎn)生傾斜。用戶數(shù)據(jù)，幾本不會在記錄之后馬上讀出，多數(shù)情況下，用戶數(shù)據(jù)，被在其他的光盤裝置或在光盤被再次裝載的光盤裝置中讀出，在讀出用戶數(shù)據(jù)時沒有產(chǎn)生傾斜。因此，在決定記錄功率時，可以不考慮測試數(shù)據(jù)讀出時的傾斜的影響，而只考慮測試數(shù)據(jù)記錄時的傾斜的影響。所以，產(chǎn)生相對傾斜時應(yīng)當(dāng)選擇的記錄功率，不是記錄功率P1103，而是圖23中所示的記錄功率P1102。在按照以往的第1記錄功率決定方法決定記錄功率的情況下，記錄功率決定部708，由于選擇了大于記錄功率P1102的記錄功率P1103，因此光頭702，以不必要大的記錄功率記錄數(shù)據(jù)。所以，以往的第1記錄功率決定方法中，重復(fù)進(jìn)行記錄會使得光盤601很快惡化。
另外，在記錄功率決定部708按照以往的第2記錄功率決定方法決定記錄功率的情況下，如圖24所示，如果選擇8個測試記錄功率中的測試記錄功率較大的4個測試記錄功率，并對這4個測試記錄功率，生成表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率之積)的相關(guān)關(guān)系的近似直線，則在近似直線中乘積為0的記錄功率，為記錄功率Pthr1。另外，如果選擇8個測試記錄功率中的測試記錄功率較小的4個測試記錄功率，并對這4個測試記錄功率，生成表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率之積)的相關(guān)關(guān)系的近似直線，則在近似直線中乘積為0的記錄功率，為記錄功率Pthr2。
從圖24可以得知，因測試記錄功率，近似直線中乘積為0的記錄功率大為不同。也即，在按照以往的第2記錄功率決定方法決定記錄功率的情況下，根據(jù)以哪個測試功率記錄測試數(shù)據(jù)、以及使用哪個測試記錄功率的結(jié)果決定記錄功率，所決定的記錄功率也大為不同。因此，在按照以往的第2記錄功率決定方法的情況下，記錄功率決定部708無法唯一決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β?。另外，在記錄功率決定部708決定了大于適當(dāng)?shù)挠涗浌β实挠涗浌β实那闆r下，光盤很快就會惡化，另外，在記錄功率決定部708決定了小于適當(dāng)?shù)挠涗浌β实挠涗浌β实那闆r下，無法在光盤中適當(dāng)?shù)赜涗洈?shù)據(jù)。


發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是鑒于以上問題提出的，其目的在于提供一種決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β实挠涗浌β蕸Q定方法以及記錄功率決定裝置。
本發(fā)明的記錄功率決定方法，決定往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，包括以多個測試記錄功率在上述信息記錄介質(zhì)中分別記錄測試數(shù)據(jù)的工序；分別讀出以各個測試記錄功率記錄的測試數(shù)據(jù)來生成信號，并分別測定各個測試記錄功率所對應(yīng)的上述信號的調(diào)制度的工序；通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n(冪指數(shù)n為1以外的實數(shù))次方與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來獲得對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積的工序；根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率的工序；以及，根據(jù)上述第1記錄功率，計算上述記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述計算第1記錄功率的工序，包括生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述獲得多個乘積的工序中，上述冪指數(shù)n的值為2。
某個實施方式中，上述記錄功率決定方法，還包括讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的值的工序，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，上述進(jìn)行讀出的工序，包括讀出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值的工序，上述進(jìn)行記錄的工序，包括將上述多個測試記錄功率的范圍設(shè)為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述計算第1記錄功率的工序，包括生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率的工序，上述計算記錄功率的工序，包括計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積的工序。
某個實施方式中，上述記錄功率決定方法，還包括讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的值的工序，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有上述冪指數(shù)n的值，讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的值的工序，包括讀出上述冪指數(shù)n的值的工序，上述獲得多個乘積的工序，包括使用上述所讀出的冪指數(shù)n的值的工序。
某個實施方式中，上述記錄測試數(shù)據(jù)的工序，包括以使上述測定調(diào)制度的工序中所生成的上述信號包含多個單一周期的信號的方式，記錄上述測試數(shù)據(jù)的工序。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，通過調(diào)制過的光束，形成多個標(biāo)記與多個空白，上述記錄測試數(shù)據(jù)的工序，包括以使上述測定調(diào)制度的工序中所生成的上述信號的振幅、與上述信息記錄介質(zhì)中所形成的標(biāo)記中最長的標(biāo)記的振幅大致相同的方式，形成多個標(biāo)記的工序。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，多個軌道形成為同心圓狀或螺旋狀。
某個實施方式中，上述獲得多個乘積的工序，包括上述冪指數(shù)n為多個值，對上述多個值的每一個，分別獲取對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積的工序，上述記錄功率決定方法，還包括通過對多個值的每一個，分別計算上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的直線性，來計算對應(yīng)上述多個值的多個直線性，并決定上述多個值中直線性最高的值的工序，上述計算第1記錄功率的工序，包括使用與上述多個值中直線性最高的值相關(guān)的對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，來計算上述第1記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述多個值包括第1值與第2值，上述第1值為2，上述第2值為3。
某個實施方式中，上述記錄功率決定方法，還包括讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的值的工序，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，上述進(jìn)行讀出的工序，包括讀出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值的工序，上述進(jìn)行記錄的工序，包括將上述多個測試記錄功率的范圍設(shè)為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述計算第1記錄功率的工序，包括生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述計算記錄功率的工序，包括在上述冪指數(shù)n的值為2時的直線性比上述冪指數(shù)n的值為3時的直線性高的情況下，計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積；以及，在上述冪指數(shù)n的值為3時的直線性比上述冪指數(shù)n的值為2時的直線性高的情況下，計算上述第1記錄功率與(3×(κ的值)-2)/(2×(κ的值)-1)以及(ρ的值)的乘積的工序。
某個實施方式中，上述多個值包括第1值與第2值，決定上述多個值中直線性最高的值的工序，包括對上述第1值，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第1測試記錄功率群的工序；根據(jù)上述第1測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第1測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第1直線，并計算上述第1直線的第1斜率的工序；對上述第1值，以與上述第1測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第2測試記錄功率群的工序；根據(jù)上述第2測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第2測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第2直線，并計算上述第2直線的第2斜率的工序；根據(jù)上述第1斜率與上述第2斜率，獲得上述第1值所對應(yīng)的第1比的工序；對上述第2值，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第3測試記錄功率群的工序；根據(jù)上述第3測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第3測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第3直線，并計算上述第3直線的第3斜率的工序；對上述第2值，以與上述第3測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第4測試記錄功率群的工序；根據(jù)上述第4測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第4測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第4直線，并計算上述第4直線的第4斜率的工序；根據(jù)上述第3斜率與上述第4斜率，獲得上述第2值所對應(yīng)的第2比的工序；以及，比較上述第1比與上述第2比的工序。
某個實施方式中，上述設(shè)定第1測試記錄功率群的工序，包括選擇上述多個測試記錄功率中最大的兩個記錄功率的工序，上述設(shè)定第2測試記錄功率群的工序，包括選擇上述多個測試記錄功率中最小的兩個記錄功率的工序，上述設(shè)定第3測試記錄功率群的工序，包括選擇上述多個測試記錄功率中最大的兩個記錄功率的工序，上述設(shè)定第4測試記錄功率群的工序，包括選擇上述多個測試記錄功率中最小的兩個記錄功率的工序。
某個實施方式中，還包括對上述第1值，計算表示上述多個測試記錄功率的全體平均的第1平均功率的工序；以及，對上述第2值，計算表示上述多個測試記錄功率的全體平均的第2平均功率的工序，上述設(shè)定第1測試記錄功率群的工序，包括以使屬于上述第1測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值大于上述第1平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第1測試記錄功率群的測試記錄功率的工序，上述設(shè)定第2測試記錄功率群的工序，包括以使屬于上述第2測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值小于上述第1平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第2測試記錄功率群的測試記錄功率的工序，上述設(shè)定第3測試記錄功率群的工序，包括以使屬于上述第3測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值大于上述第2平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第3測試記錄功率群的測試記錄功率的工序，上述設(shè)定第4測試記錄功率群的工序，包括以使屬于上述第4測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值小于上述第2平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第4測試記錄功率群的測試記錄功率的工序。
某個實施方式中，還包括將上述多個值中上述直線性最高的值，記錄到上述信息記錄介質(zhì)中的工序。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，還記錄有用來識別上述信息記錄介質(zhì)的識別信息，上述記錄功率決定方法，還包括將上述識別信息、和與上述識別信息所對應(yīng)的上述多個值中直線性最高的值，保存到識別信息存儲部中的工序。
某個實施方式中，上述記錄功率決定方法，還包括讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的識別信息的工序，上述獲得多個乘積的工序，包括判斷上述所讀出的識別信息是否與存儲在上述識別信息存儲部中的識別信息相同，在判斷為上述所讀出的識別信息與存儲在上述識別信息存儲部中的識別信息相同的情況下，使用與存儲在上述識別信息存儲部中的上述識別信息相對應(yīng)的值的工序。
某個實施方式中，上述識別信息，包含表示上述信息記錄介質(zhì)的制造者或批次的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的程序，用來在信息記錄裝置中執(zhí)行上述記錄功率決定方法的各個工序。
本發(fā)明的記錄功率決定裝置，決定記錄部往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，具備輸入部，其輸入表示多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個調(diào)制度的信號；計算部，其通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n(冪指數(shù)n為1以外的實數(shù))次方與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來獲得對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，并根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，來計算第1記錄功率，并根據(jù)上述第1記錄功率計算上述記錄功率；以及，輸出部，其將表示上述計算部所計算出的記錄功率的信號，輸出給上述記錄部。
某個實施方式中，上述計算部，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為2。
某個實施方式中，上述輸入部中，被輸入表示Pind的值、ρ的值、κ的值的信號，上述輸出部，將表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范圍內(nèi)的測試記錄功率的信號，輸出給上述記錄部，上述計算部，通過生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率，并計算出上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積，來計算上述記錄功率。
某個實施方式中，上述輸入部中，被輸入表示上述冪指數(shù)n的值的信號，上述計算部，使用上述冪指數(shù)n的值。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n為多個值，上述計算部，對上述多個值的每一個，分別獲取對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，通過對多個值的每一個，分別計算上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的直線性，來計算對應(yīng)上述多個值的多個直線性，決定上述多個值中直線性最高的值，并使用與上述多個直線性中最高的直線性所對應(yīng)的值相關(guān)的、上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積，來計算上述第1記錄功率。
某個實施方式中，上述多個值包括第1值與第2值；上述第1值為2，上述第2值為3。
某個實施方式中，上述輸入部中，被輸入表示Pind的值、ρ的值、及κ的值的信號；上述輸出部，將表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范圍內(nèi)的測試記錄功率的信號，輸出給上述記錄部；上述計算部，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系來生成近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率。
某個實施方式中，上述計算部，在上述冪指數(shù)n的值為2時的直線性比上述冪指數(shù)n的值為3時的直線性高的情況下，計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積；在上述冪指數(shù)n的值為3時的直線性比上述冪指數(shù)n的值為2時的直線性高的情況下，計算上述第1記錄功率與(3×(κ的值)-2)/(2×(κ的值)-1)以及(ρ的值)的乘積。
某個實施方式中，上述多個值，包括第1值與第2值，上述計算部， 對上述第1值，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第1測試記錄功率群；根據(jù)上述第1測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第1測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第1直線，并計算上述第1直線的第1斜率；對上述第1值，以與上述第1測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第2測試記錄功率群；根據(jù)上述第2測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第2測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第2直線，并計算上述第2直線的第2斜率；根據(jù)上述第1斜率與上述第2斜率，獲得上述第1值所對應(yīng)的第1比；對上述第2值，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第3測試記錄功率群；根據(jù)上述第3測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第3測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第3直線，并計算上述第3直線的第3斜率；對上述第2值，以與上述第3測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，選擇上述多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由上述所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第4測試記錄功率群；根據(jù)上述第4測試記錄功率群的所有測試記錄功率，并根據(jù)與上述第4測試記錄功率群的所有測試記錄功率對應(yīng)的乘積，來生成第4直線，并計算上述第4直線的第4斜率；根據(jù)上述第3斜率與上述第4斜率，獲得上述第2值所對應(yīng)的第2比；通過比較上述第1比與上述第2比，決定上述第1值與上述第2值中直線性較高的值。
某個實施方式中，上述計算部，設(shè)定上述第1測試記錄功率群時，選擇上述多個測試記錄功率中最大的兩個記錄功率；設(shè)定上述第2測試記錄功率群時，選擇上述多個測試記錄功率中最小的兩個記錄功率；設(shè)定上述第3測試記錄功率群時，選擇上述多個測試記錄功率中最大的兩個記錄功率；設(shè)定上述第4測試記錄功率群時，選擇上述多個測試記錄功率中最小的兩個記錄功率。
某個實施方式中，上述計算部，對上述第1值，計算表示上述多個測試記錄功率的全體平均的第1平均功率；對上述第2值，計算表示上述多個測試記錄功率的全體平均的第2平均功率；設(shè)定上述第1測試記錄功率群時，以使屬于上述第1測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值大于上述第1平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第1測試記錄功率群的測試記錄功率；設(shè)定上述第2測試記錄功率群時，以使屬于上述第2測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值小于上述第1平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第2測試記錄功率群的測試記錄功率；設(shè)定上述第3測試記錄功率群時，以使屬于上述第3測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值大于上述第2平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第3測試記錄功率群的測試記錄功率；設(shè)定上述第4測試記錄功率群時，以使屬于上述第4測試記錄功率群的測試記錄功率的平均值小于上述第2平均功率的方式，從上述多個測試記錄功率中選擇屬于上述第4測試記錄功率群的測試記錄功率。
某個實施方式中，上述輸出部對上述記錄部輸出信號，使得上述記錄部將上述多個值中上述直線性最高的值，記錄到上述信息記錄介質(zhì)中。
本發(fā)明的信息記錄裝置，具有記錄部，使用光束往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)；讀出部，讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的數(shù)據(jù)；以及，記錄功率決定裝置，決定上述記錄部往上述信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的上述光束的記錄功率，其中，上述記錄部，以多個測試記錄功率在上述信息記錄介質(zhì)中記錄測試數(shù)據(jù)，上述讀出部，分別讀出以各個測試記錄功率在上述信息記錄介質(zhì)中所記錄的測試數(shù)據(jù)，來生成信號，并分別測定對應(yīng)各個測試記錄功率的上述信號的調(diào)制度，上述記錄功率決定裝置，通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n(冪指數(shù)n為1以外的實數(shù))次方與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來獲得對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率，并根據(jù)上述第1記錄功率，計算上述記錄功率。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為2，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值、ρ的值、以及κ的值，上述讀出部，讀出上述Pind的值、上述ρ的值、以及上述κ的值，上述記錄功率決定裝置，將上述多個測試記錄功率的范圍設(shè)為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，上述記錄功率決定裝置，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率，并計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積。
某個實施方式中，上述記錄部，以使由上述讀出部所生成的上述信號包含多個單一周期的信號的方式，記錄上述測試數(shù)據(jù)。
某個實施方式中，上述記錄部，通過調(diào)制過的光束，在上述信息記錄介質(zhì)中形成多個標(biāo)記與多個空白，上述記錄部，以使由上述讀出部所生成的上述信號的振幅、與上述信息記錄介質(zhì)中所形成的標(biāo)記中最長的標(biāo)記的振幅大致相同的方式，形成多個標(biāo)記。
某個實施方式中，上述記錄功率決定裝置，上述冪指數(shù)n為多個值，對上述多個值的每一個，分別獲取對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，通過對多個值的每一個，分別計算上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的直線性，來計算對應(yīng)上述多個值的多個直線性，決定上述多個值中直線性最高的值，上述記錄部，將上述多個值中上述直線性最高的值，記錄在上述信息記錄介質(zhì)中。
某個實施方式中，上述記錄功率決定裝置，具有存儲直線性最高的值的存儲器。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有用來識別上述信息記錄介質(zhì)的識別信息，上述讀出部，讀出上述識別信息，上述存儲器中，設(shè)有用來將上述識別信息、與對應(yīng)上述識別信息的上述多個值中直線性最高的值，保存到識別信息存儲部中的識別信息存儲部，上述識別信息、與對應(yīng)上述識別信息的上述多個值中直線性最高的值，被保存到識別信息存儲部，上述記錄功率決定裝置，讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的識別信息，判斷上述所讀出的識別信息是否與存儲在上述識別信息存儲部中的識別信息相同，在判斷為上述所讀出的識別信息與存儲在上述識別信息存儲部中的識別信息相同的情況下，使用存儲在上述識別信息存儲部中的上述識別信息所對應(yīng)的值。
某個實施方式中，上述識別信息，包含表示上述信息記錄介質(zhì)的制造者或批次的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)，具有用來存放冪指數(shù)n(冪指數(shù)n的值為1以外的實數(shù))的值的區(qū)域，且如下求取，通過對各個測試記錄功率，分別計算多個測試記錄中的各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來獲得對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率與對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，來對冪指數(shù)n的多個值，獲取上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系的直線性，并將上述多個直線性中最高的直線性所對應(yīng)的冪指數(shù)n的值作為結(jié)果。
本發(fā)明的記錄功率決定方法，決定往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Mind的值與ρ的值，包括讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的值的工序，其包括讀出上述Mind的值與上述ρ的值的工序；在以多個測試記錄功率在上述信息記錄介質(zhì)中記錄了測試數(shù)據(jù)之后，分別讀出以各個測試記錄功率所記錄的測試數(shù)據(jù)來生成信號，分別測定對應(yīng)各個測試記錄功率的上述信號的多個調(diào)制度，確認(rèn)上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度大于上述Mind的值，上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度小于上述Mind的值的工序；根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個調(diào)制度計算第1記錄功率的工序；以及，根據(jù)上述第1記錄功率與上述ρ的值，計算上述記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括判斷上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度是否小于上述Mind的值，并在判斷為上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度小于上述Mind的值的情況下，以更大的多個測試記錄功率反復(fù)進(jìn)行記錄，直到測定到大于上述Mind的值的調(diào)制度的工序；以及，判斷上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度是否大于上述Mind的值，并在判斷為上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度大于上述Mind的值的情況下，以更小的多個測試記錄功率反復(fù)進(jìn)行記錄，直到測定到小于上述Mind的值的調(diào)制度的工序。
某個實施方式中，上述計算第1記錄功率的工序，包括通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方(冪指數(shù)n為實數(shù))與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來得到對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積的工序；以及，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述計算第1記錄功率的工序，包括生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率的工序。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為1。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值與κ的值；上述進(jìn)行讀出的工序，包括讀出上述Pind的值與上述κ的值的工序；上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括將上述多個測試記錄功率的范圍設(shè)為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述計算第1記錄功率的工序，包括生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率的工序，上述計算記錄功率的工序，包括計算上述第1記錄功率與(κ的值)以及(ρ的值)的乘積的工序。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為2。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值與κ的值，上述進(jìn)行讀出的工序，包括讀出上述Pind的值與上述κ的值的工序，上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括將上述多個測試記錄功率的范圍設(shè)為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的工序，上述計算第1記錄功率的工序，包括生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率的工序，上述計算記錄功率的工序，包括計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積的工序。
某個實施方式中，上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括計算上述調(diào)制度為上述Mind的值的給定記錄功率的工序；以及，以使上述多個測試記錄功率中最小的測試記錄功率大于上述給定記錄功率的0.9倍的方式，設(shè)定上述多個測試記錄功率的范圍的工序。
某個實施方式中，上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括計算上述調(diào)制度為上述Mind的值的給定記錄功率的工序；以及，以使上述多個測試記錄功率中最大的測試記錄功率小于上述給定記錄功率的1.1倍的方式，設(shè)定上述多個測試記錄功率的范圍的工序。
某個實施方式中，上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括以使上述所生成的信號包含多個單一周期的信號的方式，記錄上述測試數(shù)據(jù)的工序。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，通過調(diào)制過的光束形成有多個標(biāo)記與多個空白，且上述進(jìn)行確認(rèn)的工序，包括以使上述所生成的信號的振幅，與上述信息記錄介質(zhì)中所形成的標(biāo)記中最長的標(biāo)記的振幅大致相同的方式，形成多個標(biāo)記的工序。
某個實施方式中，上述信息記錄介質(zhì)中，多個軌道形成為同心圓狀或螺旋狀。
本發(fā)明的程序，用來在信息記錄裝置中執(zhí)行上述記錄功率決定方法的各個工序。
本發(fā)明的記錄功率決定裝置，決定記錄部往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，包括輸入部，輸入表示對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度、Mind的值、以及ρ的值的信號；計算部，其確認(rèn)上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度大于上述Mind的值，上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度小于上述Mind的值，并根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個調(diào)制度計算第1記錄功率，根據(jù)上述第1記錄功率與上述ρ的值，計算上述記錄功率；以及輸出部，將表示上述計算部所計算出的記錄功率的信號輸出給記錄部。
某個實施方式中，上述計算部，通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方(冪指數(shù)n為實數(shù))與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來得到對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率，并計算上述第1記錄功率與上述ρ的值的乘積。
某個實施方式中，上述計算部，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為1；上述輸入部中，被輸入Pind的值與κ的值；上述輸出部，將表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范圍內(nèi)的測試記錄功率的信號，輸出給上述記錄部，上述計算部，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率，并計算上述第1記錄功率與(κ的值)以及(ρ的值)的乘積。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為2；上述輸入部中，被輸入Pind的值與κ的值，上述輸出部，將表示上述Pind的值的0.9倍至1.1倍的范圍內(nèi)的測試記錄功率的信號，輸出給上述記錄部，上述計算部，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率，并計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積。
某個實施方式中，上述計算部，計算上述調(diào)制度為上述Mind的值的給定記錄功率，并以使上述多個測試記錄功率的最小值大于上述給定記錄功率的0.9倍的方式，設(shè)定上述多個測試記錄功率，上述輸出部，將表示上述所設(shè)定的多個測試記錄功率的信號輸出給上述記錄部。
某個實施方式中，上述計算部，計算上述調(diào)制度為上述Mind的值的給定記錄功率，并以使上述多個測試記錄功率的最大值小于上述給定記錄功率的1.1倍的方式，設(shè)定上述多個測試記錄功率，上述輸出部，將表示上述所設(shè)定的多個測試記錄功率的信號輸出給上述記錄部。
本發(fā)明的信息記錄裝置，具有記錄部，使用光束在信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)；讀出部，讀出記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的數(shù)據(jù)；以及記錄功率決定裝置，決定上述記錄部往上述信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的上述光束的記錄功率，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Mind的值與ρ的值；上述讀出部，讀出上述Mind的值與上述ρ的值，上述記錄部，以多個測試記錄功率在上述信息記錄介質(zhì)中記錄測試數(shù)據(jù)，上述讀出部，分別讀出以各個測試記錄功率在上述信息記錄介質(zhì)中所記錄的測試數(shù)據(jù)來生成信號，并測定分別對應(yīng)上述多個測試記錄功率的上述信號的多個調(diào)制度，上述記錄功率決定裝置，確認(rèn)上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度大于上述Mind的值，上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度小于上述Mind的值，并根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個調(diào)制度計算第1記錄功率，根據(jù)上述第1記錄功率與上述ρ的值，計算上述記錄功率。
某個實施方式中，上述記錄功率決定裝置，判斷上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度是否小于上述Mind的值，并在上述記錄功率決定裝置判斷為上述多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度小于上述Mind的值的情況下，上述記錄功率決定裝置決定更大的多個測試記錄功率，直到上述讀出部測定到大于上述Mind的值的調(diào)制度；上述記錄功率決定裝置，判斷上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度是否大于上述Mind的值，并在上述記錄功率決定裝置判斷為上述多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度大于上述Mind的值的情況下，上述記錄功率決定裝置決定更小的多個測試記錄功率，直到上述讀出部測定到小于上述Mind的值的調(diào)制度 某個實施方式中，上述記錄功率決定裝置，通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方(冪指數(shù)n為實數(shù))與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來得到對應(yīng)上述多個測試記錄功率的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率，并計算上述第1記錄功率與上述ρ的值的乘積。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為1，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值與κ的值，上述讀出部，讀出上述Pind的值與上述κ的值，上述記錄功率決定裝置，將上述多個測試記錄功率的范圍決定為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率，計算上述第1記錄功率與(κ的值)以及(ρ的值)的乘積。
某個實施方式中，上述冪指數(shù)n的值為2，上述信息記錄介質(zhì)中，記錄有Pind的值與κ的值，上述讀出部，讀出上述Pind的值與上述κ的值，上述記錄功率決定裝置，將上述多個測試記錄功率的范圍決定為上述Pind的值的0.9倍至1.1倍，生成表示上述多個測試記錄功率與上述多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算在上述近似直線中上述乘積為0的上述第1記錄功率，計算上述第1記錄功率與(-1/(κ的值)+2)以及(ρ的值)的乘積。
某個實施方式中，上述記錄功率決定裝置，計算上述調(diào)制度為上述Mind的值的給定記錄功率，并以使上述多個測試記錄功率中最小的測試記錄功率大于上述給定的記錄功率的0.9倍的方式，決定上述多個測試記錄功率的范圍。
某個實施方式中，上述記錄功率決定裝置，計算上述調(diào)制度為上述Mind的值的給定記錄功率，并以使上述多個測試記錄功率中最大的測試記錄功率小于上述給定的記錄功率的1.1倍的方式，決定上述多個測試記錄功率的范圍。
某個實施方式中，上述記錄部，以使上述讀出部所生成的上述信號包含有多個單一周期的信號的方式，記錄上述測試數(shù)據(jù)。
某個實施方式中，上述記錄部，在上述信息記錄介質(zhì)中，通過調(diào)制過的光束形成多個標(biāo)記與多個空白，上述記錄部，以使上述讀出部所生成的上述信號的振幅，與上述信息記錄介質(zhì)中所形成的標(biāo)記中最長的標(biāo)記的振幅大致相同的方式，形成多個標(biāo)記。
通過本發(fā)明的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置，能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β?，通過這樣，能夠適當(dāng)?shù)赜涗洈?shù)據(jù)。另外，還能夠防止信息記錄介質(zhì)迅速惡化。
另外，通過本發(fā)明的程序，能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β?，通過這樣，能夠適當(dāng)?shù)赜涗洈?shù)據(jù)。另外，還能夠防止信息記錄介質(zhì)迅速惡化。
另外，通過本發(fā)明的信息記錄裝置，能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β剩ㄟ^這樣，能夠適當(dāng)?shù)赜涗洈?shù)據(jù)。另外，還能夠防止信息記錄介質(zhì)迅速惡化。
另外，通過本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)，通過讀出記錄在信息記錄介質(zhì)中的冪指數(shù)的多個值中直線性最高的值，并使用該值，不需要進(jìn)行直線性的比較，就能夠迅速決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br>


圖1為表示本發(fā)明中的光盤的示意圖。
圖2為表示本發(fā)明的光盤裝置的實施方式的示意圖。
圖3為說明本發(fā)明中二值化信號波形與用來形成標(biāo)記的脈沖波形之間的關(guān)系的示意圖。
圖4為表示本發(fā)明的光盤裝置中的再生部的實施方式的示意圖。
圖5為表示本發(fā)明的光盤裝置中的記錄功率決定裝置的實施方式的示意圖。
圖6為用來說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第1實施方式的流程圖。
圖7為用來說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第1實施方式中在光盤中以多個測試記錄功率記錄測試數(shù)據(jù)的示意圖。
圖8為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第1實施方式的圖，(a)為表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖9為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第1實施方式中的傾斜的影響的圖，(a)為表示記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，(b)為表示記錄功率與(調(diào)制度與記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖10為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第1實施方式的圖，是表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。
圖11為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第1實施方式的圖，是表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖12為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第2實施方式中的傾斜的影響的圖，(a)為表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖，(c)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的三次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖13為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第3實施方式的流程圖。
圖14為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第3實施方式的圖，(a)為表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖15為說明本發(fā)明的記錄功率決定方法的第4實施方式的圖，(a)為表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖16為表示一般的光盤的示意圖。
圖17為表示以往的光盤裝置的示意圖。
圖18為表示以往的光盤裝置中的再生部的示意圖。
圖19為用來說明調(diào)制度的示意圖。
圖20為用來說明在以往的記錄功率決定方法中，在光盤中以多個測試記錄功率記錄測試數(shù)據(jù)的示意圖。
圖21為說明以往的第1記錄功率決定方法的圖，是表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。
圖22為說明以往的第2記錄功率決定方法的圖，是表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖23為說明以往的第1記錄功率決定方法中的傾斜的影響的圖，是表示記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。
圖24為說明以往的第2記錄功率決定方法的圖，是表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
圖中100-光盤裝置，101-光盤，102-光頭，104-再生部，106-解調(diào)·ECC電路，108-記錄功率決定裝置，110-記錄功率設(shè)定部，112-激光器驅(qū)動電路，114-記錄數(shù)據(jù)生成部，210-記錄部，220-讀出部。

具體實施例方式 (實施方式1) 下面，對照圖1～圖11，對本發(fā)明的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置的第1實施方式進(jìn)行說明。
圖1為表示本實施方式中的光盤101的示意圖。光盤101中軌道(track)301形成為螺旋狀，通過對軌道301照射調(diào)制過記錄功率的光束，在軌道301中形成多個標(biāo)記(mark)以及多個空白(space)，通過這樣來進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄。光盤101中，設(shè)有用戶記錄數(shù)據(jù)時所使用的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域、以及決定光束的記錄功率時所使用的記錄功率決定區(qū)域。記錄功率決定區(qū)域，設(shè)置在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域以外的區(qū)域(具體而言，為光盤101的最內(nèi)側(cè)區(qū)域或最外圍區(qū)域)中。
圖2為表示具有本實施方式的記錄功率決定裝置108的光盤裝置100的示意圖。光盤裝置100具有使用光束在光盤101中記錄數(shù)據(jù)的記錄部210、讀出光盤101中所記錄的數(shù)據(jù)的讀出部220、決定記錄部210在光盤101中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率的的記錄功率決定裝置108、以及解調(diào)·ECC(Error Correcting Code)電路106。記錄部210，具有光頭102、記錄功率設(shè)定部110、激光器驅(qū)動電路112、以及記錄數(shù)據(jù)生成部114。讀出部220具有光頭102與再生部104。
光盤101被裝載到光盤裝置100中之后，光盤101的類型被識別，并旋轉(zhuǎn)光盤101。光頭702具有半導(dǎo)體激光器(未圖示)，在光盤101旋轉(zhuǎn)時，通過從光頭102的半導(dǎo)體激光器所出射的光束，照射光盤101。
在光盤101中記錄數(shù)據(jù)時，光頭102通過具有給定的記錄功率的光束照射光盤101，在光盤101中形成標(biāo)記。這里，通過標(biāo)記邊緣記錄方式，對Run Length Limited(1，7)調(diào)制方式的數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄。這種情況下，光盤101中，對最短2T至最長8T的每個基準(zhǔn)周期T，形成7種標(biāo)記與空白。
另外，在從光盤101讀出數(shù)據(jù)時，光頭102，通過功率比記錄功率小的再生功率的光束照射光盤101，并接收由光盤101所反射的光。光頭102通過對所接收到的光進(jìn)行光電變換，生成表示光盤101中所記錄的數(shù)據(jù)的信號。
圖3為用來說明二值化信號波形、與用來形成標(biāo)記的脈沖波形的關(guān)系的示意圖。圖3中表示的是，對應(yīng)2T標(biāo)記的二值化信號波形以及用來形成2T標(biāo)記的脈沖波形、對應(yīng)3T標(biāo)記的二值化信號波形以及用來形成3T標(biāo)記的脈沖波形、以及對應(yīng)4T標(biāo)記的二值化信號波形以及用來形成4T標(biāo)記的脈沖波形。
記錄功率的參數(shù)，是峰值功率(Pp)、偏壓功率(Pe)以及谷值功率(Pbw)。本實施方式中，峰值功率、偏壓功率、谷值功率的比是一定的。如圖3所示，表示Pp的脈沖，在2T標(biāo)記中為1個，在3T標(biāo)記中為2個，隨著標(biāo)記長每增加T而增加1個。
脈沖波形的時間上的參數(shù)，是Ttop、dTtop、Tmp以及dTe。圖3中，Ttop意味著第1個脈沖表示Pp的時間，dTtop表示從二值化信號波形中的上升時刻的1T后起、到第1個脈沖的上升時刻為止的時間，Tmp意味著第1個以外的脈沖表示Pp的時間，dTe表示從二值化信號波形中的下降時刻起、到最后的脈沖從Pbw上升到Pe的時刻為止的時間。
本實施方式中，峰值功率(Pp)、偏壓功率(Pe)、以及谷值功率(Pbw)，對所有標(biāo)記(2T～8T)均相同。另外，Tmp也對所有標(biāo)記相同。Ttop、dTtop、dTe，分為2T、3T、及4T以上這3個種類。
再次參照圖2。圖2中所示的光盤裝置100的再生部104，測定由光頭102所生成的信號的調(diào)制度，同時將光頭102所生成的信號數(shù)字化。解調(diào)·ECC電路106，通過再生部104解調(diào)數(shù)字化了的信號，并進(jìn)行錯誤修正。記錄功率決定裝置108，根據(jù)由再生部104所測定的調(diào)制度，決定記錄數(shù)據(jù)時的記錄功率。記錄功率設(shè)定部110，將記錄功率決定裝置108所決定的記錄功率設(shè)定在激光器驅(qū)動電路112中。記錄數(shù)據(jù)生成部114，生成要在光盤101中記錄的數(shù)據(jù)。激光器驅(qū)動電路112驅(qū)動光頭102，使得光頭102將記錄數(shù)據(jù)生成部114中所生成的數(shù)據(jù)，以記錄功率設(shè)定部110所設(shè)定的記錄功率記錄在光盤101中。
圖4為表示本實施方式的光盤裝置100中的再生部104的示意圖。如圖4所示，再生部104具有前置放大器201、采樣保持電路202、AD變換器203、運算器204、以及二值化數(shù)據(jù)生成部205。
二值化數(shù)據(jù)生成部205，將光頭102所生成的信號數(shù)字化，來生成數(shù)字化了的數(shù)據(jù)(二值化數(shù)據(jù))，將表示二值化數(shù)據(jù)的信號105，輸出給解調(diào)·ECC電路106以及記錄功率決定裝置108。
前置放大器201，對光頭102所生成的信號進(jìn)行放大。采樣保持電路202，對前置放大器201所放大的信號進(jìn)行采樣，并保持信號的峰值以及谷值。AD變換器203，將采樣保持電路202所保持的峰值以及谷值數(shù)字化。運算器204，對數(shù)字化了的峰值以及谷值進(jìn)行運算來獲得調(diào)制度，將表示調(diào)制度的信號107輸出給記錄功率決定裝置108。
圖5為表示本實施方式的記錄功率決定裝置108的示意圖。如圖5所示，記錄功率決定裝置108，具有輸入表示調(diào)制度的信號107的輸入部401；計算記錄部210在光盤101中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率的計算部402；對記錄部210的記錄功率設(shè)定部110進(jìn)行輸出的輸出部403；以及，存儲器404。
下面對照圖6，對本實施方式的記錄功率決定方法進(jìn)行說明。
光盤101中，記錄有決定記錄功率時所使用的常數(shù)參數(shù)。如圖6的S12所示，光頭102生成表示從光盤101讀出的常數(shù)參數(shù)(以下，稱作給定值)的信號103，并將信號103輸出給再生部104。再生部104的二值化數(shù)據(jù)生成部205，生成將表示給定值的信號103二值化后的信號105，將信號105輸出給記錄功率決定裝置108。
如圖6的S14所示，以多個測試記錄功率在光盤101中記錄測試數(shù)據(jù)。此時，記錄功率決定裝置108，將表示預(yù)先決定的8個不同的測試記錄功率A～H的信號109，輸出給記錄功率設(shè)定部110，記錄功率設(shè)定部110，將測試記錄功率A～H設(shè)定在激光器驅(qū)動電路112中。這里，測試記錄功率A是最大的測試記錄功率，按照測試記錄功率B～H的順序，測試記錄功率逐漸減小。
記錄數(shù)據(jù)生成部114，生成測試數(shù)據(jù)，將表示所生成的測試數(shù)據(jù)的信號115，輸出給激光器驅(qū)動電路112。激光器驅(qū)動電路112驅(qū)動光頭102，使得光頭102在光盤101的記錄功率決定區(qū)域中，從給定的位置起在軌道的約1周上連續(xù)記錄測試數(shù)據(jù)。記錄數(shù)據(jù)生成部114生成測試數(shù)據(jù)，使得通過光頭102在光盤101中連續(xù)形成8T標(biāo)記以及8T空白。光盤101中，在光盤101的約1周中，重復(fù)記錄測試記錄功率A～H。圖7中，在光盤101中通過A～H來表示對應(yīng)測試記錄功率A～H的區(qū)域。通過像這樣在光盤101的約1周中多次重復(fù)進(jìn)行記錄，能夠在光盤101的周邊方向上將傾斜偏差的影響消除。
再次參照圖6。測試數(shù)據(jù)的記錄結(jié)束后，如圖6的S16所示，光頭102以再生功率對光盤101照射光束。通過這樣，讀出記錄在光盤101的軌道中的測試數(shù)據(jù)并生成信號。光頭102所生成的信號的振幅，根據(jù)光盤101上是否形成有標(biāo)記而進(jìn)行變化。光頭102所生成的信號103，輸入給再生部104。
如圖3所示，再生部104中，前置放大器201放大信號103。采樣保持電路202，保持由前置放大器201放大過的信號的峰值以及谷值。A/D變換器203，將采樣保持電路202所保持的信號的峰值以及谷值數(shù)字化。運算器204，運算數(shù)字化了的峰值與谷值，來獲得信號的調(diào)制度。由于信號103的振幅因測試記錄功率A～H而異，因此調(diào)制度根據(jù)測試記錄功率A～H而不同。運算器204生成表示信號的調(diào)制度的信號107，并將信號107輸出給記錄功率決定裝置108。
如圖5所示，記錄功率決定裝置108的輸入部401，被從再生部104的運算器204，輸入表示對應(yīng)測試記錄功率A～H的調(diào)制度的信號107。
如圖6的S18所示，記錄功率決定裝置108的計算部402，計算出對應(yīng)測試記錄功率A的調(diào)制度與測試記錄功率A的二次方的乘積。另外，計算部402，對各個測試記錄功率B～H，計算出對應(yīng)測試記錄功率的調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積。通過這樣，計算部402得到對應(yīng)測試記錄功率A～H的多個乘積。
接下來，如圖6的S20所示，計算部402，根據(jù)多個測試記錄功率A～H與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率。具體來說，計算部402生成表示多個測試記錄功率與多個乘積的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并在近似直線中將乘積為0的記錄功率設(shè)為上述的第1記錄功率。以下，對照圖8進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖8(a)為表示測試記錄功率與對應(yīng)測試記錄功率的調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，圖8(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。從圖8(a)與圖8(b)可以得知，測試記錄功率與調(diào)制度的相關(guān)關(guān)系的直線性較低，而與此相對，測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系的直線性較高，圖8(b)的曲線圖中，對應(yīng)測試記錄功率A～H的8個點幾乎排列成直線。
計算部402，計算出在圖8(b)的曲線圖中所示的近似直線中，調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積為0的記錄功率P500。
接下來，如圖6的S22所示，計算部402，根據(jù)記錄功率P500計算記錄功率。具體來說，通過對記錄功率P500與光盤101中所記錄的給定的值進(jìn)行運算，來計算記錄功率。
輸出部403，將表示計算部402所計算出的記錄功率的信號109，輸出給記錄功率設(shè)定部110。
另外，還可以使用程序，使CPU(未圖示)通過上述的步驟控制光盤裝置100的各部來執(zhí)行，另外，該程序可以記錄在未圖示的EEPROM或ROM、RAM、硬盤、磁記錄介質(zhì)等計算機(jī)可讀的記錄介質(zhì)中。
接下來，對照圖9，對光盤101與光頭102之間產(chǎn)生了相對傾斜的情況下的記錄功率與調(diào)制度的關(guān)系進(jìn)行說明。
圖9(a)為表示記錄功率與對應(yīng)記錄功率的調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，是與圖23的曲線圖相同的曲線圖。圖9(a)的曲線圖中，記錄時以及讀出所記錄的數(shù)據(jù)時均沒有產(chǎn)生傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1201A表示，記錄時產(chǎn)生了傾斜而讀出時未產(chǎn)生傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1202A表示，記錄時以及讀出時均產(chǎn)生了傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1203A表示。產(chǎn)生了傾斜的情況下的調(diào)制度，比沒有產(chǎn)生傾斜的情況下的調(diào)制度小。在讀出時沒有產(chǎn)生傾斜而記錄時產(chǎn)生了傾斜的情況下，8個記錄功率中，記錄功率最低的測試記錄功率H的調(diào)制度無法測定。同樣，在記錄時以及讀出時均產(chǎn)生了傾斜的情況下，測試記錄功率H的調(diào)制度也無法測定。
圖9(b)為表示圖9(a)所示的記錄功率與調(diào)制度中，記錄功率與(調(diào)制度與記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。圖9(b)的曲線圖中，記錄時以及讀出時均沒有產(chǎn)生傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1201B表示，記錄時產(chǎn)生了傾斜而讀出時未產(chǎn)生傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1202B表示，記錄時以及讀出時均產(chǎn)生了傾斜的情況下的結(jié)果通過實線1203B表示。
如上所述，測試數(shù)據(jù)的記錄以及測試數(shù)據(jù)的讀出，在記錄用戶數(shù)據(jù)之前進(jìn)行，將測試數(shù)據(jù)記錄之后，立即讀出測試數(shù)據(jù)。因此，如果在產(chǎn)生相對的傾斜的狀態(tài)下記錄測試數(shù)據(jù)，并讀出測試數(shù)據(jù)，便得到如實線1203A以及實線1203B所示的結(jié)果。
根據(jù)本實施方式，記錄功率決定裝置108如圖9(b)的曲線圖所示，計算出(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)為0的記錄功率P1203，根據(jù)記錄功率P1203與記錄在光盤101中的給定的值，計算記錄功率，并將表示所計算出的記錄功率的信號109，輸出給記錄功率設(shè)定部110。
此時，實線1203B中所示的結(jié)果中，除了記錄時的傾斜的影響之外，還受到讀出時的傾斜的影響。如上所述，由于決定記錄功率時，可以只考慮記錄時的傾斜的影響，因此此時應(yīng)當(dāng)選擇的記錄功率本質(zhì)上是記錄功率P1202，但如圖9(b)所示可以確認(rèn)，按照本實施方式的記錄功率決定方法所選擇的記錄功率P1203，與本來應(yīng)當(dāng)選擇的記錄功率P1202實際上幾乎相等。
也即，(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)為0的記錄功率，是在光盤101中形成標(biāo)記所必需的臨界記錄功率，在通過比該記錄功率大的記錄功率進(jìn)行記錄的情況下，由于不管有沒有產(chǎn)生讀出時的傾斜，都可測定出非0的調(diào)制度，因此認(rèn)為(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)為0的記錄功率，不管是否產(chǎn)生了讀出時的傾斜，都相等。
如上所述，通過本實施方式，即使在產(chǎn)生了光盤與光頭之間的相對傾斜的情況下，也能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β?，通過這樣能夠適當(dāng)記錄數(shù)據(jù)。另外，通過本實施方式，能夠防止在重復(fù)進(jìn)行記錄時光盤迅速惡化。
另外，通過本實施方式，并不僅限于傾斜，在產(chǎn)生記錄時的調(diào)制度的惡化以及再生時的調(diào)制度的惡化這兩種惡化的壓力下，也能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 另外，本實施方式，在以為了高密度進(jìn)行記錄而要求以更高精度控制記錄功率的BD(Blu-ray Disc)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤裝置中，特別有效。
另外，制造以BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤的盤片制造商，在光盤出廠之前，預(yù)先決定在光盤中記錄數(shù)據(jù)時推薦的記錄功率Pwo。該記錄功率Pwo被決定為，理想的光盤裝置通過該記錄功率Pwo在理想的光盤中記錄數(shù)據(jù)之后，讀出數(shù)據(jù)后測定適當(dāng)?shù)恼{(diào)制度，但由于光盤以及光盤裝置中存在個體差異，因此即使光盤裝置以記錄功率Pwo記錄數(shù)據(jù)，在讀出時也不一定就能測定適當(dāng)?shù)恼{(diào)制度。
因此，光盤裝置在往光盤中記錄數(shù)據(jù)時，調(diào)查多個測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系，來決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β?。盤片制造商將決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β蕰r所使用的常數(shù)參數(shù)，預(yù)先記錄在光盤中。該常數(shù)參數(shù)是，Pind、ρ、κ、Mind。詳細(xì)內(nèi)容將在后面說明，而用來在光盤中記錄數(shù)據(jù)的適當(dāng)?shù)挠涗浌β?，使用比記錄功率Pwo小的記錄功率Pind以及記錄功率Pind與調(diào)制度Mind之間的關(guān)系來決定。這是由于，如果要直接決定記錄功率Pwo，則(1)由于記錄功率Pwo的附近調(diào)制度飽和，因此如圖9所示，難以檢測到與傾斜等外擾相伴的最佳記錄功率的變化，(2)如果重復(fù)記錄功率的決定，則光盤101會發(fā)生惡化。
下面對照圖10以及圖11，對片盤片制造商所推薦的記錄功率Pwo與Pind、ρ、κ、Mind之間的關(guān)系進(jìn)行說明。
盤片制造商，決定記錄功率Pwo之后，接下來決定記錄功率Pind，并根據(jù)ρ＝(記錄功率Pwo)/(記錄功率Pind)的關(guān)系，決定ρ。
盤片制造商如圖10所示，讀出以形成8T標(biāo)記的方式用記錄功率Pind記錄的數(shù)據(jù)，并將對應(yīng)該數(shù)據(jù)的信號的調(diào)制度，設(shè)為調(diào)制度Mind。
另外，盤片制造商如圖11所示，讀出以形成8T標(biāo)記的方式用從記錄功率Pind的0.9倍至1.1倍的范圍內(nèi)的多個測試記錄功率記錄的測試數(shù)據(jù)，來生成信號，并測定信號的多個調(diào)制度。多個調(diào)制度，分別對應(yīng)多個測試記錄功率。
盤片制造商，對各個測試記錄功率分別計算調(diào)制度與測試記錄功率的乘積，根據(jù)多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算出記錄功率Pthr。具體來說，生成表示多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并將近似直線中乘積為0的記錄功率設(shè)為記錄功率Pthr。接下來，根據(jù)κ＝(記錄功率Pind)/(記錄功率Pthr)的關(guān)系，決定κ。
盤片制造商，預(yù)先將Pind的值與ρ的值、κ的值、Mind的值記錄在光盤101中。
本實施方式中，根據(jù)測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系，計算出與調(diào)制度為0的記錄功率Pthr相當(dāng)?shù)闹担⒏鶕?jù)記錄功率Pthr與κ的值計算出記錄功率(即與Pind相當(dāng)?shù)闹?，根據(jù)該記錄功率與ρ的值，計算出記錄功率Pw。
以下，對光盤以BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的情況下的本實施方式的記錄功率方法進(jìn)行說明。
再生部104讀出記錄在光盤101中的κ的值與ρ的值，再生部104將表示κ的值與ρ的值的信號105，輸出給記錄功率決定裝置108。
光盤裝置100的記錄部210用測試記錄功率A～H記錄測試數(shù)據(jù)之后，再生部104測定對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度。再生部104，將表示對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度的信號107，輸出給記錄功率決定裝置108。
讀出測試數(shù)據(jù)后，獲得如圖8(a)所示的結(jié)果時，記錄功率決定裝置108如圖8(b)所示，計算出調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積為0的記錄功率P500，按照以下所示的(式1)，計算出用于記錄數(shù)據(jù)的記錄功率Pw1。
Pw1＝P500×(-1/κ+2)×ρ…(式1) 記錄功率決定裝置108，將表示所計算出的記錄功率Pw1的信號109，輸出給記錄功率設(shè)定部110。
如上所示，通過本實施方式，由于測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)的相關(guān)關(guān)系的直線性高，因此能夠與測試記錄功率的范圍無關(guān)地決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 另外，雖然以上的說明中，使用(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)，也即使用測試記錄功率的冪指數(shù)n的值為2的情況下的乘積，來計算第1記錄功率(P500)，但本發(fā)明并不僅限于此。因光盤的構(gòu)造或記錄膜的特性差異，有時冪指數(shù)n的值為2以外的值時，測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系的直線性增高。因此，冪指數(shù)n的值并不僅限于2。
但是，如以上對照圖22所述，在冪指數(shù)的值為1的情況下，也即測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系的直線性較低，即圖22的曲線圖中，所標(biāo)繪的點偏離直線。
因此，冪指數(shù)n的值可以是1以外的實數(shù)。在關(guān)于冪指數(shù)n的值，對現(xiàn)有的若干個光盤進(jìn)行實驗時發(fā)現(xiàn)，例如在冪指數(shù)n的值為1.5～2.5時，測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系的直線性增高。但是冪指數(shù)n的值并不僅限于此，冪指數(shù)n的值例如可以是0.5，或0、-1。
根據(jù)本實施方式，由于能夠增加測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積)的相關(guān)關(guān)系的直線性，因此與測試記錄功率無關(guān)，能夠計算出調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積為0的記錄功率。
另外，如圖7所示，還可以不用8個測試記錄功率A～H來實施記錄，例如用4個測試記錄功率A～D來進(jìn)行記錄，或用4個測試記錄功率E～H來進(jìn)行記錄，或用4個測試記錄功率C～F來進(jìn)行記錄，也能夠適當(dāng)獲得記錄功率P500。在使用給定大小的區(qū)域決定記錄功率的情況下，通過減少測試記錄功率的數(shù)目，能夠增加重復(fù)次數(shù)，提高所決定的記錄功率的精度。
另外，優(yōu)選在光盤101中記錄冪指數(shù)n的值。通過在光盤101中記錄冪指數(shù)n的值，能夠提高光盤101的構(gòu)造以及光盤101內(nèi)的記錄膜的設(shè)計的自由度。
本實施方式的記錄功率決定方法，在像以BD規(guī)格為準(zhǔn)的光盤裝置那樣、為了高密度地進(jìn)行記錄要求更高精度地控制記錄功率的光盤裝置中，特別有效。
(實施方式2) 下面對照圖12，對本發(fā)明的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置的第2實施方式進(jìn)行說明。
本實施方式的記錄功率決定裝置108，具有與對照圖5所說明的實施方式1的記錄功率決定裝置相同的構(gòu)成，具有本實施方式的記錄功率決定裝置108的光盤裝置100，也與對照圖2在實施方式1中所說明的光盤裝置具有相同的構(gòu)成。因此，為了避免冗長，本實施方式的記錄功率決定裝置108以及光盤裝置100的記載中，省略了與實施方式1的說明重復(fù)的部分。
本實施方式的記錄功率決定裝置108，與實施方式1中所說明的記錄功率決定裝置的不同點在于，對冪指數(shù)n的多個值的每一個，計算調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積，計算出測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積)的相關(guān)關(guān)系的直線性，使用多個值中直線性最高的值，來決定記錄功率。
下面對照圖2以及圖5，對冪指數(shù)n的值為2以及3的情況下的記錄功率決定方法進(jìn)行說明。
再生部104，將表示對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度的信號107，輸出給記錄功率決定裝置108。記錄功率決定裝置108中，輸入部401中被從再生部104的運算器204，輸入表示對應(yīng)測試記錄功率A～H的調(diào)制度的信號107。
計算部402，計算出對應(yīng)測試記錄功率A的調(diào)制度與測試記錄功率A的二次方的乘積。另外，計算部402，對各個測試記錄功率B～H，計算對應(yīng)測試記錄功率的調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積。這樣，計算部402，得到冪指數(shù)n為2的情況下的對應(yīng)測試記錄功率A～H的多個乘積。
計算部402，還計算出對應(yīng)測試記錄功率A的調(diào)制度與測試記錄功率A的三次方的乘積。另外，計算部402，對各個測試記錄功率B～H，計算對應(yīng)測試記錄功率的調(diào)制度與測試記錄功率的三次方的乘積。這樣，計算部402，得到冪指數(shù)n為3的情況下的對應(yīng)測試記錄功率A～H的多個乘積。
圖12(a)為表示測試記錄功率與對應(yīng)測試記錄功率的調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖，圖12(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖，圖12(c)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的三次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
計算部402，將冪指數(shù)n的值為2的情況下的直線性與冪指數(shù)n的值為3的情況下的直線性進(jìn)行比較，來決定值2與值3中直線性較高的值。關(guān)于直線性的比較將在后面說明。這里，例如若設(shè)值2的直線性比值3的直線性高，則計算部402，使用之前計算的、冪指數(shù)n為2的情況下的對應(yīng)測試記錄功率A～H的多個乘積，根據(jù)多個測試記錄功率A～H與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算記錄功率P500。具體來說，計算部402生成表示多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，計算出在近似直線中乘積為0的記錄功率P500，計算部402，通過對記錄功率P500以及從光盤101讀出的給定的值進(jìn)行運算，來計算記錄功率。輸出部403，將表示所計算出的記錄功率的信號109輸出給記錄功率設(shè)定部110，記錄功率設(shè)定部110，在激光器驅(qū)動電路112中設(shè)定記錄功率。
這里參照圖12(b)以及圖12(c)，對直線性的比較進(jìn)行說明。
計算部402，在冪指數(shù)的值為2的情況下，計算測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系的直線性。計算部402，例如選擇測試記錄功率A～H中最大的兩個(測試記錄功率A和測試記錄功率B)以及測試記錄功率A～H中最小的兩個(測試記錄功率G和測試記錄功率H)。計算部402，生成在圖12(b)的曲線圖中連接對應(yīng)測試記錄功率A的點和對應(yīng)測試記錄功率B的點的直線(以下稱作第1直線)，計算出第1直線的斜率(以下稱作第1斜率)。計算部402，還生成在圖12(b)的曲線圖中連接對應(yīng)測試記錄功率G的點與對應(yīng)測試記錄功率H的點的直線(以下稱作第2直線)，計算出第2直線的斜率(以下稱作第2斜率)。計算部402，計算第1斜率與第2斜率之比(以下稱作第1比)。
計算部402，在冪指數(shù)的值為3的情況下也一樣，計算測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的三次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系的直線性。計算部402，例如選擇測試記錄功率A～H中最大的兩個(測試記錄功率A和測試記錄功率B)以及測試記錄功率A～H中最小的兩個(測試記錄功率G和測試記錄功率H)。計算部402，生成在圖12(c)的曲線圖中連接對應(yīng)測試記錄功率A的點和對應(yīng)測試記錄功率B的點的直線(以下稱作第3直線)，計算出第3直線的斜率(以下稱作第3斜率)。計算部402還生成在圖12(c)的曲線圖中連接對應(yīng)測試記錄功率G的點和對應(yīng)測試記錄功率H的點的直線(以下，稱作第4直線)，計算出第4直線的斜率(以下稱作第4斜率)。計算部402，計算第3斜率與第4斜率之比(以下稱作第2比)。
接下來，計算部402，將第1比與第2比進(jìn)行比較，判斷為第1比與第2比中接近1的那方所對應(yīng)的值的直線性高，計算部402如上所述，根據(jù)直線性高的值所對應(yīng)的相關(guān)關(guān)系，計算記錄功率。這樣，由于計算部402根據(jù)直線性更高的相關(guān)關(guān)系決定記錄功率，因此能夠決定更加適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 但是直線性的比較方法并不僅限于此。雖然以上的說明中，計算部402，將多個測試記錄功率的最大值附近的斜率與最小值附近的斜率進(jìn)行比較，但計算部402也可以使用其他的方法，來對多個測試記錄功率的最大值附近的斜率與最小值附近的斜率進(jìn)行比較。
計算部402，在冪指數(shù)n為2的情況下，計算出表示多個測試記錄功率的全體平均的第1平均功率。接下來，計算部402，以讓多個測試記錄功率中的屬于某個組(以下稱作第1測試記錄功率群)的測試記錄功率的平均，大于第1平均功率的方式，從多個測試記錄功率中選擇屬于第1測試記錄功率群的至少兩個測試記錄功率，生成表示屬于第1測試記錄功率群的測試記錄功率及對應(yīng)這些測試記錄功率的乘積之間的相關(guān)關(guān)系的第1直線，并計算第1直線的第1斜率。計算部402，還以讓多個測試記錄功率中的屬于另一個組(以下稱作第2測試記錄功率群)的測試記錄功率的平均，小于第1平均功率的方式，從多個測試記錄功率中選擇屬于第2測試記錄功率群的至少兩個測試記錄功率，生成表示屬于第2測試記錄功率群的測試記錄功率及對應(yīng)這些測試記錄功率的乘積之間的相關(guān)關(guān)系的第2直線，并計算第2直線的第2斜率。接下來，計算部402，根據(jù)第1斜率與第2斜率計算出第1比。
計算部402，在冪指數(shù)n為3的情況下也一樣，計算出表示多個測試記錄功率的全體平均的第2平均功率。接下來，計算部402，以讓多個測試記錄功率中的屬于某個組(以下稱作第3測試記錄功率群)的測試記錄功率的平均，大于第2平均功率的方式，從多個測試記錄功率中選擇屬于第3測試記錄功率群的至少兩個測試記錄功率，生成表示屬于第3測試記錄功率群的測試記錄功率及對應(yīng)這些測試記錄功率的乘積之間的相關(guān)關(guān)系的第3直線，并計算第3直線的第3斜率。另外，計算部402，還以讓多個測試記錄功率中的屬于另一個組(以下稱作第4測試記錄功率群)的測試記錄功率的平均，小于第2平均功率的方式，從多個測試記錄功率中選擇屬于第4測試記錄功率群的至少兩個測試記錄功率，生成表示屬于第4測試記錄功率群的測試記錄功率及對應(yīng)這些測試記錄功率的乘積之間的相關(guān)關(guān)系的第4直線，并計算第4直線的第4斜率。接下來，計算部402，根據(jù)第3斜率與第4斜率計算出第2比。
接下來，計算部402，判斷為第1比與第2比中比值接近1的那方所對應(yīng)的值的直線性高。
如上所示，選擇冪指數(shù)n的值中直線性高的值。
另外，本實施方式中的直線性的比較方法，并不僅限于此。計算部402，可以對多個值的每一個，設(shè)定由多個測試記錄功率中的至少2個測試記錄功率構(gòu)成的、某個測試記錄功率群，并以與上述某個測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，設(shè)定由從多個測試記錄功率中選擇出的至少2個測試記錄功率構(gòu)成的、另一個測試記錄功率群，并對每個不同的測試記錄功率群形成直線，計算直線的斜率來比較直線性。
更為詳細(xì)的說，計算部402，對值2，選擇多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，設(shè)定由所選擇的至少兩個測試記錄功率所構(gòu)成的第1測試記錄功率群，根據(jù)第1測試記錄功率群的全體測試記錄功率、與第1測試記錄功率群的全體測試記錄功率所對應(yīng)的乘積，生成第1直線，并計算第1直線的第1斜率。另外，計算部402，對值2，以與第1測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，選擇多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由所選擇的至少兩個測試記錄功率所構(gòu)成的第2測試記錄功率群，根據(jù)第2測試記錄功率群的全體測試記錄功率、與第2測試記錄功率群的全體測試記錄功率所對應(yīng)的乘積，生成第2直線，并計算第2直線的第2斜率。接下來，計算部402根據(jù)第1斜率與第2斜率，計算第1比。
計算部402，對值3也一樣，選擇多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，設(shè)定由所選擇的至少兩個測試記錄功率所構(gòu)成的第3測試記錄功率群，根據(jù)第3測試記錄功率群的全體測試記錄功率、與第3測試記錄功率群的全體測試記錄功率所對應(yīng)的乘積，生成第3直線，并計算第3直線的第3斜率。另外，計算部402，對值3，以與第3測試記錄功率群的測試記錄功率不成為完全相同的方式，選擇多個測試記錄功率中的至少兩個測試記錄功率，來設(shè)定由所選擇的至少兩個測試記錄功率構(gòu)成的第4測試記錄功率群，根據(jù)第4測試記錄功率群的全體測試記錄功率、與第4測試記錄功率群的全體測試記錄功率所對應(yīng)的乘積，生成第4直線，并計算第4直線的第4斜率。接下來，計算部402，根據(jù)第3斜率與第4斜率，計算第2比。
計算部402，通過對第1比與第2比進(jìn)行比較，決定第1值與第2值中直線性高的值。
以上說明了多個比較方法，而在任意一個比較方法中，計算部402在一方的比為1以上，另一方的比為1以下的情況下，可計算出為1以上的比的倒數(shù)，在任意一個比均為1以下的狀態(tài)下選擇接近1的那一方?；蛘?，計算部402，在一方的比為1以上、另一方比為1以下的情況下，計算為1以下的比的倒數(shù)，在任意一個比均為1以上的狀態(tài)下，選擇接近1的那一方。
另外，上述多個比較方法，不過是直線性的比較方法的示例，只要能夠比較相關(guān)關(guān)系的直線性，使用任意的方法均可。
另外，與實施方式1中所說明的一樣，在冪指數(shù)n的值為3的情況下，(調(diào)制度與測試記錄功率的三次方的乘積)為0的記錄功率，是在光盤101中形成標(biāo)記所必需的臨界的記錄功率，在用比該記錄功率大的記錄功率進(jìn)行記錄的情況下，不管有沒有產(chǎn)生讀出時的傾斜，都能測定出調(diào)制度，因此認(rèn)為(調(diào)制度與測試記錄功率的三次方的乘積)為0的記錄功率，不管是否產(chǎn)生了讀出時的傾斜都相等。
另外，近年來開發(fā)出了具有多個記錄膜的光盤，但通過本實施方式，能夠?qū)?張光盤的多個記錄膜的每一個，適當(dāng)決定冪指數(shù)n的值。
另外，本實施方式的記錄功率決定裝置108中，輸出部402，以將冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值記錄在光盤101中的方式，向記錄部210輸出信號，記錄部210將冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值記錄在光盤101中。光盤101中，可以預(yù)先設(shè)置用來記錄冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值的區(qū)域，或者冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值，可被記錄在光盤101的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中。像這樣，在光盤101的給定區(qū)域中記錄有冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值的情況下，裝載該光盤101的光盤裝置100，在決定記錄功率時，將光盤101中所記錄的冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值讀出，并通過使用該值，不需要進(jìn)行直線性的比較，就能夠迅速決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 或者，冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值，也可以被記錄在光盤裝置100中。
本實施方式中，光盤101中記錄有用來識別光盤101的識別信息。識別信息，例如是制造光盤101的盤片制造商的相關(guān)信息，或光盤101的批次的相關(guān)信息。
再生部104讀出光盤101中所記錄的識別信息，再生部104將表示識別信息的信號105，輸出給記錄功率決定裝置108。
記錄功率決定裝置108的輸入部401中，被輸入表示識別信息的信號105。記錄功率決定裝置108的存儲器404中，設(shè)有識別信息存儲部。計算部402，決定出光盤101的識別信息所對應(yīng)的冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值之后，將光盤101的識別信息、與該識別信息所對應(yīng)的冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值，保存在存儲器404的識別信息存儲部中。
由于存儲器404中存儲有光盤101的識別信息、與該識別信息所對應(yīng)的冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值，因此光盤101被裝載到光盤裝置100中后，再生部104讀出所裝載的光盤101的識別信息，記錄功率決定裝置108的計算部402，判斷所讀出的識別信息是否與識別信息存儲部中所保存的識別信息相同。在計算部402判斷為所讀出的識別信息與保存在識別信息存儲部中的識別信息相同的情況下，計算部402，將存儲器404中所保存的冪指數(shù)n的多個值中直線性最高的值讀出，通過使用該值，不需要對多個值進(jìn)行直線性的比較，就能夠迅速決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> 另外，本實施方式也與實施方式1相同，在以BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤裝置中特別有效。
如實施方式1中所述，以BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤中，預(yù)先記錄有Pind的值與ρ的值、κ的值、Mind的值，再生部104讀出ρ的值與κ的值。
在計算部402判斷為冪指數(shù)n的值為2時直線性較高的情況下，計算部402，計算如圖12(b)中所示的記錄功率P500，按照以下所示的(式1)計算記錄功率Pw1。
Pw1＝P500×(-1/κ+2)×ρ…(式1) 另外，在計算部402判斷為冪指數(shù)n的值為3時直線性較高的情況下，計算部402，計算如圖12(c)所示的記錄功率P600，并按照以下所示的(式2)計算記錄功率Pw1。
Pw1＝P600×(3κ-2)×(2κ-1)×ρ…(式2) 輸出部403，將表示記錄功率Pw1的信號109，輸出給記錄功率設(shè)定部110。
另外，雖然以上的說明中，冪指數(shù)n的值是2以及3，但因光盤的構(gòu)造或光盤的記錄膜的特性不同，有時為2以及3以外的值時，直線性較高。本實施方式中，冪指數(shù)n的值并不僅限于2以及3，只要冪指數(shù)的值是1以外的實數(shù)，任意的值都可以。在計算記錄功率時，與κ以及ρ相關(guān)的系數(shù)，根據(jù)冪指數(shù)n的值進(jìn)行變化。例如，在冪指數(shù)n的值為0的情況下，計算部402，按照以下所示的(式2’)來計算記錄功率Pw1。
Pw1＝P700×(1/(2-κ))×ρ…(式2’) 這里，P700，是通過在冪指數(shù)n為0的情況下生成表示多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算出近似直線中乘積為0的記錄功率得到的。
為了參考，在冪指數(shù)n的值為1的情況下，如對照圖22所述，記錄功率Pw1，按照以下所示的公式進(jìn)行計算。
Pw1＝Pthr×κ×ρ 這里，Pthr，是在冪指數(shù)n為1的情況下生成表示多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，并計算出近似直線中乘積為0的記錄功率得到的。
另外，雖然以上的說明中，對兩個值比較直線性，但本實施方式并不僅限于此，本實施方式中，還可以對3個以上的值比較直線性。例如，冪指數(shù)的值，可以從2、2.5、3這3個值中決定直線性較高的值。
通過本實施方式，根據(jù)測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的n(n為1以外的實數(shù))次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系，計算出冪指數(shù)n的至少兩個值中直線性較高的值，通過這樣，能夠與測試記錄功率的范圍無關(guān)地，決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> (實施方式3) 下面對照圖14，對本發(fā)明的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置的第3實施方式進(jìn)行說明。
本實施方式的記錄功率決定裝置108，也具有與對照圖5所說明的實施方式1的記錄功率決定裝置相同的構(gòu)成，具有本實施方式的記錄功率決定裝置108的光盤裝置100，也與對照圖2在實施方式1中所說明的光盤裝置具有相同的構(gòu)成。因此，為了避免冗長，本實施方式的記錄功率決定裝置108以及光盤裝置100的記載中，省略了與實施方式1的說明重復(fù)的部分。
下面對照圖13，對本實施方式的記錄功率決定方法進(jìn)行說明。
如上所述，以BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤101的給定區(qū)域中，記錄有Pind的值、ρ的值、κ的值、Mind的值，如圖13的S32所示，再生部104從光盤101讀出Pind的值、ρ的值、κ的值、以及Mind的值。再生部104，將表示Pind的值、ρ的值、κ的值、Mind的值的信號105，輸出給記錄功率決定裝置108。
如圖13的S34所示，確認(rèn)多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度小于(Mind的值)。
此時，記錄功率決定裝置108，在記錄測試數(shù)據(jù)時，決定測試記錄功率A～H，使得相鄰的測試記錄功率之差為Pind的值的至少10％以下。
以測試記錄功率A～H記錄測試數(shù)據(jù)之后，再生部104，測定對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度。再生部104，將表示對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度的信號107，輸出給記錄功率決定裝置108。
記錄功率決定裝置108的計算部402，確認(rèn)多個調(diào)制度中最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，多個調(diào)制度中最小的調(diào)制度小于(Mind的值)。具體來說，計算部402判斷最大的調(diào)制度是否小于(Mind的值)。在計算部402判斷為最大的調(diào)制度小于(Mind的值)的情況下，計算部402，設(shè)定大于之前的測試記錄功率的測試記錄功率，并且輸出部403，將表示新設(shè)定的測試記錄功率的信號109輸出給記錄部210。記錄部210，以新設(shè)定的測試記錄功率記錄測試數(shù)據(jù)。再生部104讀出新記錄的測試數(shù)據(jù)，計算部402再次判斷最大的調(diào)制度是否小于(Mind的值)。計算部402，設(shè)定更大的多個測試記錄功率，直到再生部104測定到大于Mind的值的調(diào)制度。
另外，計算部402，判斷最小的調(diào)制度是否大于(Mind的值)。在計算部402判斷為最小的調(diào)制度大于(Mind的值)的情況下，計算部402設(shè)定小于之前的測試記錄功率的測試記錄功率，輸出部403將表示新設(shè)定的測試記錄功率的信號109，輸出給記錄部210。記錄部210以新設(shè)定的測試記錄功率記錄測試數(shù)據(jù)。再生部104讀出新記錄的測試數(shù)據(jù)，計算部402，再次判斷最小的調(diào)制度是否大于(Mind的值)。計算部402，設(shè)定更小的多個測試記錄功率，直到再生部104測定到小于Mind的值的調(diào)制度。
這樣，計算部402，確認(rèn)最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，最小的調(diào)制度小于(Mind的值)。
圖14(a)為表示測試記錄功率與調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。計算部402如圖14(a)所示，確認(rèn)最小的測試記錄功率H的調(diào)制度為Mind以下，最大的測試記錄功率A的調(diào)制度大于(Mind的值)。
接下來，計算部402確認(rèn)到最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，最小的調(diào)制度小于(Mind的值)之后，計算對應(yīng)多個測試記錄功率的多個調(diào)制度與多個測試記錄功率的二次方的乘積。
圖14(b)為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
接下來，在圖13的S36中，計算部402，如圖14(b)所示，生成表示多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，計算近似直線中乘積為0的記錄功率P500。
接下來，如圖13的S38所示，計算部402根據(jù)記錄功率P500，按照以下所示的(式1)，計算用來記錄用戶數(shù)據(jù)的記錄功率Pw1。
Pw1＝P500×(-1/κ+2)×ρ…(式1) 輸出部403，將表示記錄功率Pw1的信號109，輸出給記錄功率設(shè)定部110。
根據(jù)本實施方式，確認(rèn)調(diào)制度與(Mind的值)之間的關(guān)系，通過確認(rèn)出最小的調(diào)制度小于(Mind的值)，最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，來以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍相接近的記錄功率的范圍實施記錄，從而能夠更加適當(dāng)?shù)厍蟪霰P片制造商所推薦的記錄功率。
另外，雖然以上的說明中，確認(rèn)出最小的調(diào)制度小于(Mind的值)，最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，但可通過添加多個測試記錄功率中最小的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的0.9倍以上這一條件，來以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍更接近的范圍實施記錄，能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
另外，通過添加多個測試記錄功率中最大的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的1.1倍以內(nèi)這一條件，來以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍更接近的測試記錄功率的范圍實施記錄，從而能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
另外，通過令最小的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的0.9倍以上，且最大的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的1.1倍以下，能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
另外，相對調(diào)制度為Mind的記錄功率的前后余量也可以不是10％，只要以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍相接近的范圍的測試記錄功率實施記錄即可。
另外，從圖14(a)的曲線圖可以推斷，隨著記錄功率增大，形成在光盤101中的標(biāo)記的寬度變寬，結(jié)果導(dǎo)致調(diào)制度增加，而記錄功率達(dá)到某個程度以上后，軌道寬度帶來的限制的影響變大，標(biāo)記的寬度飽和，調(diào)制度也隨之飽和。記錄功率與調(diào)制度的關(guān)系中，記錄功率的大小可以分為3個范圍。第1個范圍是，調(diào)制度完全沒有受到軌道的影響地增加的范圍(小于測試記錄功率H的范圍)，第2個范圍是，調(diào)制度在受到軌道的影響的同時增加的范圍(測試記錄功率H到測試記錄功率A的范圍)，第3個范圍是，調(diào)制度受到軌道的影響而飽和的范圍(大于測試記錄功率A的范圍)。
如圖14(b)所示，雖然測試記錄功率A～H的范圍內(nèi)，測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的相關(guān)關(guān)系，顯示出較高的直線性，但大于測試記錄功率A的記錄功率以及小于測試記錄功率H的記錄功率中，決定標(biāo)記寬度的要因不同，因此不一定顯示出高直線性。
再有，從形成標(biāo)記的臨界記錄功率到測試記錄功率H為止的記錄功率的范圍非常狹窄。另外，大于測試記錄功率A的記錄功率中，由于調(diào)制度飽和，因此難以檢測出與外擾相伴的最佳記錄功率的變化。因此，決定記錄功率時所使用的調(diào)制度的范圍，最好是調(diào)制度受到軌道的影響的同時增加的范圍。
在記錄功率處于調(diào)制度完全沒有受到軌道的影響地增加的范圍的情況下，存在光盤101或光頭102上附著有灰塵、或光盤101與光頭102之間產(chǎn)生了相對傾斜或散焦等外擾、或因光頭102的溫度變化從光頭102所出射的光束的強(qiáng)度減少等情況，另外，在記錄功率處于調(diào)制度受到軌道的影響而飽和的范圍的情況下，存在隨光頭102的溫度變化，從光頭102所出射的光束的強(qiáng)度增加的情況。
如上所述，在測試記錄功率H的調(diào)制度大于Mind的值的情況下，再次設(shè)定小于之前的測試記錄功率的測試記錄功率，來再次記錄測試數(shù)據(jù)，同樣，在測試記錄功率A的調(diào)制度小于Mind的值的情況下，再次設(shè)定大于之前的測試記錄功率的測試記錄功率，來再次記錄測試數(shù)據(jù)，但本實施方式并不僅限于此。還可以擴(kuò)大測試記錄功率的范圍，只使用給定調(diào)制度的范圍，決定記錄功率。
但是，為了擴(kuò)大測試記錄功率的范圍，需要增大相鄰的記錄功率之差，或擴(kuò)大決定記錄功率時使用的區(qū)域，但存在的問題是，前者精度較差，后者增加了到?jīng)Q定記錄功率為止的時間、或者決定記錄功率所使用的區(qū)域的消耗加快。特別是，由于追記型的光盤中無法覆蓋，因此不優(yōu)選擴(kuò)大決定記錄功率所使用的區(qū)域這一方式。因此，優(yōu)選將相鄰的測試記錄功率之差設(shè)為Pind的值的10％以下，在1軌道以下的記錄區(qū)域中記錄測試數(shù)據(jù)，以形成8T標(biāo)記，并只在沒有落到給定的調(diào)制度的范圍內(nèi)的情況下，再次設(shè)定測試記錄功率的范圍后記錄測試數(shù)據(jù)。通過這樣，能夠在短時間內(nèi)決定高精度的記錄功率。
如上所述，通過本實施方式的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置，能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省?br> (實施方式4) 以下對照圖15，對本發(fā)明的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置的第4實施方式進(jìn)行說明。
實施方式3中，根據(jù)多個測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的二次方的乘積)之間的關(guān)系，來計算第1記錄功率，但本發(fā)明并不僅限于此。
本實施方式中，對冪指數(shù)為1的情況進(jìn)行說明。
本實施方式的記錄功率決定裝置108，也具有與對照圖5在實施方式1中所說明的記錄功率決定裝置相同的構(gòu)成，具有本實施方式的記錄功率決定裝置108的光盤裝置100，也與對照圖2在實施方式1中所說明的光盤裝置具有相同的構(gòu)成。因此，為了避免冗長，本實施方式的記錄功率決定裝置108以及光盤裝置100的說明中，省略了與實施方式1的說明重復(fù)的部分。
如上所述，以BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤101的給定區(qū)域中，記錄有Pind的值、ρ的值、κ的值、Mind的值。本實施方式的記錄功率決定裝置108，確認(rèn)最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，最小的調(diào)制度小于(Mind的值)，這一點與實施方式3中所說明的記錄功率決定裝置相同，因此省略本實施方式的記錄功率決定裝置108中與實施方式3的說明重復(fù)的部分。
圖15(a)，為表示測試記錄功率與測試記錄功率所對應(yīng)的調(diào)制度之間的關(guān)系的曲線圖。記錄功率決定裝置108的計算部402，如圖15(a)所示，確認(rèn)最小的測試記錄功率H的調(diào)制度小于(Mind的值)，最大的測試記錄功率A的調(diào)制度大于(Mind的值)。
接下來，計算部402，確認(rèn)到最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，最小的調(diào)制度小于(Mind的值)之后，計算多個調(diào)制度與多個測試記錄功率的乘積。
圖15(b)，為表示測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)之間的關(guān)系的曲線圖。
計算部402，如圖15(b)所示，生成表示多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系的近似直線，計算近似直線中乘積為0的記錄功率P 1500。接下來，計算部402按照以下所示的(式3)，計算用來記錄數(shù)據(jù)的記錄功率Pw1。
Pw1＝P1500×κ×ρ…(式3) 根據(jù)本實施方式中，確認(rèn)調(diào)制度與(Mind的值)之間的關(guān)系，通過確認(rèn)出調(diào)制度中最小的調(diào)制度小于(Mind的值)，調(diào)制度中最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，能夠以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍相接近的范圍的測試記錄功率實施記錄，從而能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
另外，以上的說明中，確認(rèn)出最小的調(diào)制度小于(Mind的值)，最大的調(diào)制度大于(Mind的值)，但還可以添加最小的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的0.9倍以上這一條件，通過這樣，能夠以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍更接近的范圍的測試記錄功率實施記錄，從而能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
同樣，通過添加最大的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的1.1倍以下這一條件，能夠以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍更接近的范圍的測試記錄功率實施記錄，從而能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
另外，通過令最小的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的0.9倍以上，且最大的測試記錄功率，為調(diào)制度約為Mind的記錄功率的1.1倍以下，能夠更加準(zhǔn)確地求出盤片制造商所推薦的記錄功率。
另外相對調(diào)制度為Mind的記錄功率的前后余量也可以不是10％，只要以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍接近的測試記錄功率的范圍實施記錄即可。
在冪指數(shù)的值為1的情況下，如圖15(b)所示，測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)的相關(guān)關(guān)系的直線性，有時不如冪指數(shù)的值為2時的相關(guān)關(guān)系的直線性那樣好，由于有時因所設(shè)定的測試記錄功率的范圍，乘積為0的記錄功率Pthr的值稍有變動，因此相比測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的乘積)的相關(guān)關(guān)系的直線性較高的第3實施方式，優(yōu)選以與盤片制造商決定Pind時所使用的測試記錄功率的范圍接近的范圍的測試記錄功率實施記錄。
另外，以上的說明中，在測試記錄功率H的調(diào)制度大于(Mind的值)的情況下，再次設(shè)定比之前的測試記錄功率低的測試記錄功率來再次記錄測試數(shù)據(jù)，同樣，在記錄功率A的調(diào)制度小于Mind的值的情況下，再次設(shè)定比之前記錄時的測試記錄功率大的測試記錄功率，來再次記錄測試數(shù)據(jù)，但也可以擴(kuò)大測試記錄功率的范圍，只使用給定的調(diào)制度的范圍，決定記錄功率。
但是，為了擴(kuò)大測試記錄功率的范圍，需要增大相鄰的測試記錄功率之差、或擴(kuò)大決定記錄功率所使用的區(qū)域，而存在的問題是，前者精度較差，后者增加了到?jīng)Q定記錄功率為止的時間。與第3實施方式同樣，優(yōu)選將測試記錄功率的差設(shè)為Pind的值的10％以下，在1軌道以下的記錄區(qū)域記錄測試數(shù)據(jù)，并只在無法決定記錄功率的情況下，再次設(shè)定測試記錄功率的范圍后記錄測試數(shù)據(jù)。通過這樣，能夠在短時間內(nèi)決定高精度的記錄功率。
另外，以上的實施方式3～4中，對冪指數(shù)的值為1的情況與2的情況進(jìn)行了說明，但冪指數(shù)只要是實數(shù)即可，可以取任意的值。另外，實施方式3～4中，也可以如實施方式2中所述，以使測試記錄功率與(調(diào)制度與測試記錄功率的n次方的乘積)的相關(guān)關(guān)系的直線性增高的方式，選擇冪指數(shù)n的值。這種情況下，由于冪指數(shù)n的值所對應(yīng)的相關(guān)關(guān)系的直線性高，因此即使測試記錄功率的范圍較大，也能夠唯一決定乘積為0的記錄功率，從而能夠在更短的時間內(nèi)決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β省Ａ硗?，這種情況下，也優(yōu)選將所選擇的冪指數(shù)n的值記錄在光盤中。通過將冪指數(shù)n的值記錄在光盤中，能夠擴(kuò)大盤片制造商設(shè)計記錄膜的自由度。
如上所述，通過實施方式3～4，從光盤101中讀出(Mind的值)，參照Mind的值，計算調(diào)制度與記錄功率的n次方的乘積，通過這樣，能夠適當(dāng)決定記錄數(shù)據(jù)時的記錄功率。
另外，雖然上述實施方式1～4的光盤裝置，在光盤中記錄數(shù)據(jù)，并再生記錄在光盤中的數(shù)據(jù)，但本發(fā)明并不僅限于此。本發(fā)明可應(yīng)用于，在記錄數(shù)據(jù)之前，以多個測試記錄功率進(jìn)行記錄的信息記錄裝置。
另外，雖然上述實施方式1～4中，使用光盤作為信息記錄介質(zhì)，但本發(fā)明并不僅限于此。本發(fā)明能夠應(yīng)用于決定記錄功率的任意的信息記錄介質(zhì)。
另外，雖然上述實施方式1～4中，以Run Length Limited(1，7)調(diào)制方式來記錄數(shù)據(jù)，但本發(fā)明并不僅限于此。本發(fā)明還可以使用其他記錄方式。在使用Run Length Limited(1，7)調(diào)制方式以外的調(diào)制方式的情況下，優(yōu)選對包含許多該方式中的最長標(biāo)記與最長空白連續(xù)的信號所對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)實施記錄。另外，本發(fā)明可以使用任意的單一周期的信號。在使用任意的單一周期的信號的情況下，優(yōu)選信號的振幅與最長標(biāo)記和最長空白的信號的振幅為相同程度。
另外，雖然上述實施方式1～4中，峰值功率(Pp)、偏壓功率(Pe)、以及谷值功率(Pbw)對所有的標(biāo)記共通，Tmp對所有的標(biāo)記共通，但本發(fā)明并不僅限于此。作為用來決定記錄功率的參數(shù)，還可以使用其他參數(shù)。
另外，雖然上述實施方式1～4中，將Ttop、dTtop、dTe分為2T、3T、及4T以上這3個種類，但本發(fā)明并不僅限于此。分類也可以使用其他的分類方法。
另外，雖然上述實施方式1～4中，峰值功率、偏壓功率、及谷值功率之比是一定的，但本發(fā)明并不僅限于此。還可以分別獨立決定峰值功率、偏壓功率、以及谷值功率。例如在決定峰值功率時，固定偏壓功率與谷值功率，從而分別決定各個功率。
另外，雖然上述實施方式1～4中，以8個測試記錄功率記錄測試數(shù)據(jù)，但本發(fā)明并不僅限于此。本發(fā)明能夠應(yīng)用于以多個測試記錄功率進(jìn)行記錄的情況。
另外，雖然上述實施方式1～4中，記錄功率決定裝置108預(yù)先決定測試記錄功率A～H，但本發(fā)明并不僅限于此。記錄功率決定裝置108，可以不預(yù)先決定記錄功率A～H，記錄功率設(shè)定部110，可以將表示激光器驅(qū)動電路112中所設(shè)定的測試記錄功率A～H的信號，輸出給記錄功率決定裝置108。
另外，雖然上述實施方式1～4中，記錄功率決定裝置108決定記錄功率，但在記錄功率決定裝置以及周邊的構(gòu)成要素組合在IC中的情況下，也具有相同的效果。
通過本發(fā)明的記錄功率決定方法以及記錄功率決定裝置，能夠決定適當(dāng)?shù)挠涗浌β剩ㄟ^這樣，能夠適當(dāng)?shù)赜涗洈?shù)據(jù)。另外，能夠防止光盤快速惡化。另外，在以為了高密度進(jìn)行記錄而要求高精度控制記錄功率的BD標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)的光盤裝置中，特別有效。
權(quán)利要求
1.一種信息記錄介質(zhì)，具有記錄決定信息的區(qū)域，上述決定信息用于決定技術(shù)數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，其中，
上述測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積的信息為乘積信息，是用于求出與測試記錄功率的相關(guān)關(guān)系的信息，其中冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)，
上述決定信息，是上述乘積信息中的上述n。
2.如權(quán)利要求1所述的信息記錄介質(zhì)，其特征在于，
記錄有冪指數(shù)n的值。
3.一種記錄功率決定裝置，決定記錄部往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，其中，
具有輸入部，輸入表示多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個調(diào)制度的信號；
計算部，通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積，得到上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系，計算第1功率信息，并根據(jù)上述第1功率信息計算上述記錄功率，其中冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)；以及，
輸出部，將表示由上述計算部計算出的記錄功率的信號輸出給上述記錄部。
4.一種記錄功率決定方法，決定往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，其中，
包括輸入表示多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個調(diào)制度的信號的工序；
通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積，得到上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積的工序，其中冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)；
根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系，計算第1功率信息的工序；以及，
根據(jù)上述第1功率信息計算記錄功率的工序。
5.一種記錄功率決定程序，決定往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，其中，
包括輸入表示多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個調(diào)制度的信號的工序；
通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積，得到上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積的工序，其中冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)；
根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系，計算第1功率信息的工序；以及，
根據(jù)上述第1功率信息計算記錄功率的工序。
6.一種信息記錄裝置，具有用光束往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)的記錄部；讀出上述信息記錄介質(zhì)中記錄的數(shù)據(jù)的讀出部；和決定上述記錄部往上述信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的上述光束的記錄功率的記錄功率決定裝置，上述信息記錄裝置中，
上述記錄部，用多個測試記錄功率往上述信息記錄介質(zhì)記錄測試數(shù)據(jù)，
上述讀出部，分別讀出用各個測試記錄功率記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的測試數(shù)據(jù)，生成信號，并分別測定各各個測試記錄功率所對應(yīng)的上述信號的調(diào)制度，
上述記錄功率決定裝置，通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積，得到上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系，計算第1功率信息，并根據(jù)上述第1功率信息計算上述記錄功率，其中冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)。
7.一種信息記錄方法，決定往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，并用上述記錄功率進(jìn)行記錄，包括
用多個測試記錄功率往上述信息記錄介質(zhì)分別記錄測試數(shù)據(jù)的工序；
分別讀出用各個測試記錄功率記錄的測試數(shù)據(jù)，生成信號，并分別測定各個測試記錄功率所對應(yīng)的上述信號的調(diào)制度的工序；
通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積，得到上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積的工序，其中冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)；
根據(jù)上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系，計算第1功率信息的工序；
根據(jù)上述第1功率信息計算上述記錄功率的工序；以及，
用上述記錄功率記錄數(shù)據(jù)的工序。
8.一種記錄功率決定裝置，決定記錄部往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，具有
輸入部，輸入表示多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個調(diào)制度、Mind的值、ρ的值的信號；
計算部，確認(rèn)上述多個調(diào)制度之中最大的調(diào)制度比上述Mind的值更大、且上述多個調(diào)制度之中最小的調(diào)制度比上述Mind的值更小，并根據(jù)上述多個測試記錄功率和上述多個調(diào)制度，計算第1記錄功率，根據(jù)上述第1記錄功率和上述ρ的值計算上述記錄功率；以及，
將表示由上述計算部計算出的記錄功率的信號，輸出給記錄部。
9.一種記錄功率決定方法，決定往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率，上述信息記錄介質(zhì)中記錄有具有Mind的值和ρ的值，該方法包括
讀出上述信息記錄介質(zhì)中所記錄的值的工序，其中包括讀出上述Mind的值和ρ的值的工序；
在用多個測試記錄功率往上述信息記錄介質(zhì)記錄測試數(shù)據(jù)之后，分別讀出用各個測試記錄功率記錄的測試數(shù)據(jù)，生成信號，并分別測定各個測試記錄功率所對應(yīng)的上述信號的多個調(diào)制度，確認(rèn)上述多個調(diào)制度之中最大的調(diào)制度比上述Mind的值更大、且上述多個調(diào)制度之中最小的調(diào)制度比上述Mind的值更小的工序；
根據(jù)上述多個測試記錄功率和上述多個調(diào)制度，計算第1記錄功率的工序；以及，
根據(jù)上述第1記錄功率和上述ρ的值計算上述記錄功率的工序。
10.一種信息記錄裝置，具有用光束往信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)的記錄部；讀出上述信息記錄介質(zhì)中記錄的數(shù)據(jù)的讀出部；和決定上述記錄部往上述信息記錄介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)時的上述光束的記錄功率的記錄功率決定裝置，上述信息記錄裝置中，
上述信息記錄介質(zhì)中記錄有具有Mind的值和ρ的值，
上述讀出部讀出上述Mind的值和上述ρ的值，
上述記錄部，用多個測試記錄功率往上述信息記錄介質(zhì)記錄測試數(shù)據(jù)，
上述讀出部，分別讀出用各個測試記錄功率記錄在上述信息記錄介質(zhì)中的測試數(shù)據(jù)，生成信號，并測定上述多個測試記錄功率各自所對應(yīng)的上述信號的多個調(diào)制度，
上述記錄功率決定裝置，確認(rèn)上述多個調(diào)制度之中最大的調(diào)制度比上述Mind的值更大、且上述多個調(diào)制度之中最小的調(diào)制度比上述Mind的值更小，并根據(jù)上述多個測試記錄功率和上述多個調(diào)制度，計算第1記錄功率，根據(jù)上述第1記錄功率和上述ρ的值計算上述記錄功率。
11.一種信息記錄介質(zhì)，其中，
具有存放相關(guān)關(guān)系的直線性中最高的直線性所對應(yīng)的冪指數(shù)n的值的區(qū)域，
上述相關(guān)關(guān)系的直線性如下求取通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方與對應(yīng)的調(diào)制度的乘積，得到上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積，根據(jù)上述多個測試記錄功率和上述多個測試記錄功率所對應(yīng)的多個乘積，對冪指數(shù)n的多個值取得上述多個測試記錄功率與上述多個乘積的相關(guān)關(guān)系的直線性，其中上述冪指數(shù)n為1以外的實數(shù)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種決定往信息記錄介質(zhì)中記錄數(shù)據(jù)時的光束的記錄功率的記錄功率決定方法，包括以多個測試記錄功率往信息記錄介質(zhì)中分別記錄測試數(shù)據(jù)的工序；分別讀出以各個測試記錄功率記錄的測試數(shù)據(jù)，來生成信號，并分別測定對應(yīng)各個測試記錄功率的信號的調(diào)制度的工序；通過對各個測試記錄功率，分別計算各個測試記錄功率的n次方(冪指數(shù)n為1以外的實數(shù))、與對應(yīng)的調(diào)制度之積，來獲得對應(yīng)多個測試記錄功率的多個乘積的工序；根據(jù)多個測試記錄功率與多個乘積之間的相關(guān)關(guān)系，計算第1記錄功率的工序；以及，根據(jù)第1記錄功率，計算記錄功率的工序。
文檔編號G11B7/1267GK101409081SQ20081017812
公開日2009年4月15日 申請日期2005年1月27日 優(yōu)先權(quán)日2004年1月28日
發(fā)明者東海林衛(wèi), 日野泰守, 佐藤孝廣, 岡田雄 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社