專利名稱：數據存儲裝置的測試設備和數據存儲裝置的測試方法
技術領域：
本發明涉及數據存儲裝置的測試設備和測試方法，更特別地，涉及在數 據存儲裝置的測試中到數據存儲裝置的電源。
背景技術：
配備有存儲數據的存儲器(如半導體存儲器、磁存儲器、光存儲器等)
的數據存儲裝置已經在本領域內公知。特別地，硬盤驅動器(HDD)已經廣泛 地用作計算機的存儲裝置，并且已經成為當前計算機系統的不可缺少的外部 存儲裝置之一。此外，HDD由于其出色的特性，已經發現了除了應用于計算 機之外，還廣泛地應用于運動圖像記錄/再現設備、汽車導航系統、便攜式電 話等。
用在HDD中的磁盤具有多個同心數據道和伺服道。每一個數據道均包括 包含在其上記錄的用戶數據的多個數據扇區。每一個伺服道均包含地址信息。 伺服道由以圓周方向離散排列的多個伺服數據組成。在伺服數據之間記錄一 個或多個數據扇區。磁頭滑動器(head slider)根據伺服數據中的地址信息 存取所期望的數據扇區，以將數據寫入數據扇區以及從數據扇區取回 (retrieve )數據。
在制造HDD時，對連接到測試計算機的HDD執行操作測試、以及參數的 設置和調整(例如，參照以下所列的專利文檔1 )。要在HDD的測試中使用的 室包括多個單元(空間)，并且HDD放置在單元中。在每一個單元中，HDD連 接到電路中測試計算機的處理器卡；處理器卡測試HDD。
圖7是示意性地圖解根據現有技術的HDD的測試設備以及連接到測試設 備的HDD的局部配置的框圖。將用于HDD 71的測試的程序從外部計算機下載 到處理器卡72,并且處理器卡72管理HDD 71的測試。處理器卡72包括基 板721、安裝在所述基板上的處理器722、 RAM 725和用于產生要提供到HDD 71 的電源電壓的兩個電源邏輯723和724。
處理器卡72連接到接口卡7 3。接口卡73包括基板7 31、安裝在基板7 31上的接口控制器732。接口控制器732執行HDD 71與處理器722之間的接口 處理。適配器卡74位于接口卡73與HDD 71之間，并且連接到所述接口卡 73和HDD71二者。適配器卡74包括基板741;只有布線和無源電3各(未示 出)被排列在基板741上。適配器卡74僅用作連接器轉換器。
HDD 71根據其尺寸要求不同的電源電壓。3. 5英寸HDD要求12 V和5 V 的電源電壓；2. 5英寸HDD要求5 V的電源電壓。處理器卡72中的HDD 5-V 邏輯723和HDD 12-V邏輯724分別產生5 V和12 V的電源電壓。它們在處 理器722的控制下將電源電壓提供到HDD 71。將由兩個電源電路723和724 產生的電源電壓通過接口卡73和適配器卡74提供到HDD 71。接口卡73和 適配器卡74將包括命令和數據的測試信號在處理器722與HDD 71之間傳送。日本待審查專利申請公開No. 2004-32430
發明內容
在HDD71的使用環境中，電源電壓不是恒定的，而是變化的。因此，在 HDD 71的測試中，存在這樣的測試在特定的范圍內變化到HDD H的電源 電壓，并確定HDD 71在變化的電源電壓中是否正常工作。為了HDD H的高 效測試，最好能夠控制每一個HDD71的電源電壓。在這點上，必須為每一個 HDD 71準備電源電路。
處理器722的多任務功能和性能的改進已經使單個處理器722能夠同時 測試多個HDD 71。然而，在HDD的以上傳統測試設備中，在處理器卡72中 實施為HDD 71提供必要的功率的電源電路723和724。由于在室中的有限空 間中放置處理器卡72,因此顯然限制了基板的尺寸。除此之外，由于電源電 路具有確定的尺寸，因此能夠安裝在處理器卡72上的電源電路的數量是有限 的。因此，為了給每一個HDD 71準備電源電路，必須為每一個HDD 71準備 處理器卡72;對于一個HDD 71來說要求一個處理器卡72。
除此之外，HDD 71根據規格具有不同要求的電源電壓和電源容量。在上 述傳統HDD測試設備中，如果已經改變了 HDD要求的電源條件，那么必須針 對所述條件改變處理器卡72。期望在HDD的測試設備中，單個處理器卡72 可以支持具有不同規格的HDD的測試。根據本發明的一方面的用于數據存儲裝置的測試設備包括室，其包括 用于容納測試對象的數據存儲裝置的空間；處理器卡，其包括用于測試所述 數據存儲裝置的處理器，以及安裝所述處理器的第一基板；以及適配器卡， 其包括位于處理器卡與數據存儲裝置之間的、用于在處理器卡與數據存儲裝 置之間傳送測試信號的第二基板，以及安裝在第二基板上、用于為^:據存儲 裝置提供操作電源電壓的電源電路。安裝在適配器上的電源電路允許單個處 理支持具有不同規格的數據存儲裝置。
優選地，連接器被固定到適配器卡的第二基板，所述連接器被直接連接 到數據存儲裝置的連接器。優選地，所述適配器卡進一步包括用于控制所述 電源電路的電源控制電路。這實現了數據存儲裝置和適配器卡的高效連接。
最好測試設備進一 步包括接口卡，其包括位于處理器卡與適配器卡之間 的、用于在處理器卡與數據存儲裝置之間傳送測試信號的第三基板，以及安 裝在第三基板上的、用于在處理器卡與數據存儲裝置之間執行接口處理的接 口控制器。這允許單個處理器支持具有不同規格的數據存儲裝置。
優選地，多個適配器卡連接到所述處理器卡；以及所述處理器卡同時測 試連接到所述多個適配器卡的多個數據存儲裝置。這實現了高效的測試。此 外，最好處理器卡單獨控制多個適配器卡上的電源電路。這實現了靈活且高 效的測試。
最好測試設備進一步包括接口卡，其包括位于處理器卡與多個適配器 卡之間的、用于在處理器卡與多個數據存儲裝置之間傳送測試信號的第四基 板，以及安裝在第四基板上的、用于在處理器卡與所述多個數據存儲裝置之 間執行接口處理的接口控制器。這實現了高效的測試。最好接口卡經由信號 傳輸線連接到所述多個適配器卡的每一個。這實現了卡的尺寸和排列的廣泛 選擇。
根據本發明的另一個方面的是用于多個數據存儲裝置的測試方法。該方 法準備處理器卡，所述處理器卡包括第一基板和安裝在第一基板上的處理器。 它將多個數據存儲裝置連接到多個適配器卡的基板，用于在處理器卡與多個 數據存儲裝置之間傳送測試信號。它由安裝在適配器卡上的電源電路提供多 個數據存儲裝置中的每一個中均不同的操作電源電壓。它由處理器對在不同 操作電源電壓處工作的多個數據存儲裝置進行測試。該方法實現了關于多個 數據存儲裝置的高效且靈活的測試。優選地，所述方法由單個接口控制器在處理器與多個數據存儲裝置之間 執行測試信號的接口處理。這實現了關于多個數據存儲裝置的更高效的測試。 除此之外，最好多個數據存儲裝置的每一個連接器均直接連接到多個適配器 卡的每一個連接器。這使適配器卡能夠高效地連接到數據存儲裝置。
根據本發明，在用于數據存儲裝置的測試設備中，處理器可以支持具有 不同規格的數據存儲裝置。
圖1是示意性地描繪根據本實施例的測試對象裝置的HDD的內部配置的 平面一見圖2是示意性地描繪根據本實施例的測試設備的室的透視圖； 圖3是示意性地描繪在本實施例中的圖2中的虛線A所包圍的室的一部 分的配置的透視圖4是示意性地圖解放置在本實施例中的室的單元中的裝置的橫截面視
圖5是示意性地圖解在本實施例中的HDD、適配器卡、接口卡和處理器 卡的電路配置的框圖6是示意性地圖解根據本實施例的適配器卡的電路配置的框圖；和 圖7是示意性地圖解傳統技術中HDD的測試設備的電路配置的框圖。
1: HDD;
4:接口卡；
6:處理器卡；
12:底座；
15:磁頭滑動器；
17:旋轉軸；
19a, 19b:連接器；
31a， 31b:連接器；
33a, 33b: 5-V電源電路;
3a, 3b:適配器卡;5a， 5b:信號傳輸線11磁盤；
13主軸電機；
16致動器；
18音圈電才幾；
21室；
32a, 32b:基板；34a, 34b: 12-V電源電路;35a, 35b:電源控制電路;
41基板；
43接口控制器;
61基板；
63連接器；
72處理器卡；
74適配器卡；
162:臂；
213a至213d:門；
215a, 215b:樹脂構件；
341b: 5-V DC/DC轉換器;
721:基板；
723: 5-V電源邏輯；
7 31:基板；
741:基板
36a， 36b:連接器； 42:連接器； 44a， 44b:連4妻器； 62:處理器； 71: HDD; 73:接口卡； 161:懸架； 211a, 212a:單元； 214:壁；
341a: 12-V DC/DC轉換器; 342a, 342b:運算放大器； 722:處理器； 724: 12-V電源邏輯； 732:接口控制器；
具體實施例方式
在下文中，將描述本發明的優選實施例。為了說明清楚，以下描述和附 圖包含適當的省略和簡化。在所有附圖中，相同的組件由相同的附圖標記表 示，并且如果不是說明清楚所必需的，則省略其重復描述。在本實施例中， 將給出作為測試對象數據存儲裝置的示例的硬盤驅動器(HDD)的描述。根據 本實施例的數據存儲裝置的測試設備的特征是其中的電路配置。
本實施例的測試設備包括具有安裝在其基板上的處理器的處理器卡，以 及支持具有不同規格的各種HDD的適配器卡。適配器卡位于電路配置中的處 理器卡與HDD之間，并且連接到HDD。本實施例的適配器卡進一步包括電源 電路，用以產生要提供到HDD的電源電壓。在本說明書中，適配器卡是位于 電路中HDD與處理器卡之間、并且包括滿足HDD的規格的電路組件的卡。
在適配器卡中實施的電源電路允許為每一個HDD準備合適的電源電路， 以便僅取代適配器卡就允許具有各種電源規格的HDD的測試。結果，由于單 個處理器卡可以支持具有不同電源規格的HDD的測試，因此無需在處理器卡 中實施多個電源電路，并且可以靈活地支持具有各種規格的HDD。除此之外，在適配器卡中實施電源電路消除了在處理器卡中實施多個電源電路以便使用
單個處理器卡同時測試多個HDD的必要，使得處理器卡的尺寸減小。
首先，將參照圖1描述要由本實施例的測試設備測試的HDD的配置。HDD 1包括作為通過磁化磁層來記錄數據的非易失性存儲器的磁盤11。底座12容 納(house) HDD 1的組件。將底座12使用插入在蓋(cover)(未示出)與 所述底座之間的一墊圏(gasket)固定于所述蓋上，用于封閉其頂部開口以 形成密封(enclosure )。 ^t頭滑動器15包括用于關于從主機(未示出)輸入 和/或向主機輸出的數據、向磁盤11寫和/或從磁盤11讀的磁頭元件部分， 以及在其上形成磁頭元件部分的滑動表面。磁頭元件部分包括用于將電信號 轉換為磁場的記錄元件，和/或用于將來自磁盤11的磁場轉換為電信號的再 現元件。
致動器16包括用于支撐磁頭滑動器15的懸架(suspension) 161,以及 固定懸架161的臂162。致動器16關于軸17旋轉，并且通過音圈電機18驅 動。固定到底座12的主軸電機(SPM) 13以特定速度旋轉磁盤11。致動器 16在旋轉磁盤11上的數據區之上移動磁頭滑動器15，用于從磁盤11取回數 據/向磁盤ll寫數據。滑塊的氣墊面(air bearing surface, ABS )與旋轉 磁盤11之間的空氣粘度的壓力平衡了由懸架161向磁盤11施加的壓力，以 便磁頭滑動器15懸浮于磁盤11上確定間距。由安裝在固定于底座12外部的 基板上的控制電路(未示出)執行HDD 1的操作控制。
HDD 1的一般制造首先制造磁頭滑動器15。除磁頭滑動器15以外，它制 造懸架161。它將磁頭滑動器15連接(bond)到懸架161，以制造磁頭懸架 組件(head gimbal assembly, HGA )。然后，它將臂162和VCM線圈固定到 HGA，以制造作為致動器16和磁頭滑動器15的集合的磁頭臂組件(head stack assembly, HSA )。除了在底座12內制造的HSA之外，它還安裝SPM 13、磁 盤11等，并且使用頂蓋封閉底座12內部的空間以完成磁頭磁盤組件(head disk assembly, HDA )。它在HDA上安裝具有在其上安裝的控制電3各的電路板 (未示出)以完成HDD 1。
在制造時，將以這種方式裝配的HDD l轉移到測試步驟。將HDD l放置 在組成測試設備的室的分區空間之內，并且將HDD l連接到測試計算機的處 理器卡。HDD 1的測試管理諸如磁盤11的設置參數、操作測試和缺陷檢測測 試之類的多種測試。圖2是示意性地描繪測試設備的室(chamber) 21的透視圖。室21包括多個分區空間(單元)211;每一個單元211均容納HDD 1。 一般地，將多個HDD 1放置在單元211中。盡管在圖中沒有示出，但是一般 的室21包括用于封閉所有單元211的大門(large door)或者封閉各個單元 211的門(door );在HDD 1的測試中封閉門。
圖3是示意性地描繪由圖2中的虛線A包圍的室21的一部分的配置的透 視圖。圖3示出室21的四個單元；四個單元的一個單元211a以及在其之后 的212a的內部以虛線表示。將HDD l放置于單元211a中。在四個單元的前 面上提供門213a至213d;當將HDD 1放入和放出單元時它們是打開的，而 在測試期間是封閉的。在用于容納HDD 1的單元211a之后的單元212a中， 放置用于測試HDD 1的處理器卡。
圖4的截面圖示意性地圖解了單元211a、單元211a之后的單元212a、 以及放置在這些單元中的裝置。單元211a容納兩個HDD la和lb。 HDD la和 lb分別物理地連接到適配器卡3a和3b。適配器卡3a和3b穿透在壁214中 提供的孔，壁214用于將單元211a與單元212a隔開；適配器卡3a和3b的 部分暴露于單元211a中，并且其部分暴露于單元212a中。具體地說，在壁 214中的孔中填滿樹脂構件215a和215b，并且適配器卡3a和3b分別穿透樹 脂構件215a和215b。
適配器卡3a和3b連接到單元212a中的接口卡4。信號傳輸線5a和5b 分別連接適配器卡3a和3b與接口卡4。盡管適配器卡3a和3b的基板上的 連接器可以直接連接到接口卡4的基板上的連接器，但是通過線5a和5b連 接這些允許適配器卡3a和3b以及接口卡4的排列及其尺寸的任意選擇。接 口卡4連接到單元212a中的處理器卡6。在處理器卡6的基板61上，安裝 處理器的處理器62和RAM 65。處理器62 #4居測試程序以多任務才喿作，以同 時管理兩個HDD la和lb上的測試。
圖5是示意性地圖解HDD la和lb、適配器卡3a和3b、接口卡4以及處 理器卡6的電路配置的框圖。將連接器63固定到處理器卡6的基板61上。 將連接器63連接到固定于接口卡4的基板41的連接器42。在接口卡4的基 板41上，安裝接口控制器43。將連接器44a和44b固定于與連接器42相反 端的基板41。
連接器44a是用于連接到適配器卡3a的連接器，而連接器44b是用于連 接到適配器卡3b的連接器。連接器44a經由線5a連接到適配器卡3a的連接線5b連接到適配器卡3b的連接器31b。
適配器卡3a包括用于產生5 V電源電壓的邏輯電3各33a、用于產生12 V 電源電壓的邏輯電路34a、以及用于控制適配器卡3a的基板32a上的兩個電 源電路33a和34a的邏輯電路35a。這些是適配器卡3a僅有的有源電路；除 了這些之外，諸如布線、連接器和電容器之類的無源電路僅出現在基板32a 上。類似地，在適配器卡3b的基板32b上，安裝用于產生5 V電源電壓的邏 輯電路33b、用于產生12 V電源電壓的邏輯電路34b、以及用于控制該兩個 電源電路33b和34b的邏輯電路35b。除了這些之外，諸如布線、連接器和 電容器之類的無源電路僅出現在基板32a上。
在適配器卡3a的基板32a上，安裝用于連接到HDD la的連接器36a; 連接器36a連接到HDD la的連接器19a。以相同的方式，適配器卡3b具有 用于連接到HDD lb的連接器36b;連接器36b連接到HDD lb的連接器19b。
在圖5的配置中，電路之間的信號和電源電壓通過HDD la和lb的基板、 適配器卡3a和3b、接口卡4和處理器卡6上的布線以及將它們進行互連的 連接器進行傳送。將具體描述每一個電路組件的操作和處理。從外部計算機 將HDD la和lb的測試程序下載到處理器卡6,并將其存儲在RAM 65中。處 理器62根據在RAM 65中存儲的程序，關于HDD la和lb控制并執行測試。 處理器62執行多任務，以使得能夠同時關于HDD la和lb進行測試。
接口控制器43在處理器62與HDD la和lb之間連接(interface)包括 命令和數據的測試信號。作為用于HDD la和lb的接口 ，存在諸如并行ATA、 串行ATA、 SUS和SCSI之類的多種不同類型的接口。每一種類型的接口均具 有在信號傳輸速度方面的不同規格。
接口控制器43是在這些不同的接口之中，與用于要測試的HDD la和lb 的接口對應的電路。 一般地，另一個接口控制器43用于同種類型但具有不同 傳輸速度的另一個接口。接口控制器43具有多個端口，以能夠獨立地與連接 到所述端口的HDD la和lb進4亍通信。
除了在處理器62與HDD la和lb之間的測試信號之外，接口控制器43 還傳送用于控制電源控制電路35a和35b的信號。電源控制電路35a和35b 根據來自處理器62的、通過接口控制器43傳送的控制信號進行操作。電源 控制電路35a和35b可以控制電源電路33a、 34a、 33b和34b的輸出電壓以 及它們的ON/OFF。圖6是示意性地圖解適配器卡3a的電路配置的框圖。5-V電源電路33a 包括5-V DC/DC轉換器341b和運算放大器342b。12-V電源電路34a包括12-V DC/DC轉換器341a和運算放大器342a。 5-V DC/DC轉換器341b和12-V DC/DC 轉換器341a接收15-V的電源電壓，并且可以從所述電源電壓分別產生5 V 和12 V的電源電壓。可以通過接口卡4和處理器卡6從外部電源提供15 V 的電源電壓。
運算放大器342b和342a配置反饋電路，并且可以通過調整運算放大器 342b和342a的輸出值來改變5-V DC/DC轉換器341b和12-V DC/DC轉換器 341a的輸出電壓。電源控制電路35a在處理器62的控制之下對運算放大器 342b和342a進行控制，以調整5-V電源電路33a和12-V電源電路34a的輸 出電壓。適配器卡3b具有與圖6的一個相同的配置。
優選地，處理器62獨立地測試HDD la和lb。 一^:而言，HDD la和lb 的測試包括在變化電源電壓的情況下的"l喿作測試。本實施例的測試設備對于 HDD la和lb分別具有獨立的電源電路33a和34a以及電源電3各33b和34b。 此外，它對于電源電路33a和34a以及電源電路33b和34b分別具有電源控 制電路35a和35b。因此，處理器62獨立地控制電源控制電路35a和35b， 以單獨控制要提供到HDD la和lb的電源電壓。這完成了對于HDD la和lb
的高效且靈活的測試。
在本實施例中，在與相應HDD對應的適配器3a和3b中實施用于向HDD la 和lb提供電源電壓的電源電路。如上所述，許多協議作為用于HDD的接口出 現；連接器的形狀根據接口而不同。處理器62的操作通過改變測試程序可以 支持任意規格。因此，不論HDD的接口的規格是怎樣的，均可以使用相同的 處理器卡6。然而，必須根據HDD la和lb的接口規格來改變要連接到HDD la 和lb的連接器，這可以通過替換適配器卡3a和3b來處理(cover )。
以這種方式，期望根據要連接的HDD la和lb的規格來替換適配器卡3a 和3b。在適配器卡3a和3b中實施電源電路導致針對于HDD la和lb的規格 和設計的電源電路的準備，消除了替換處理器卡6或接口卡4的必要，或者 消除了在處理器卡6或接口卡4中實施支持所有規格的電源電路的必要。在 適配器卡3a和3b中實施電源電路實現了各種規格HDD的靈活支持，并且在 減少測試設備中組件的數量方面是最高效的。此外，在適配器卡3a和3b中 實施電源電路的控制電路實現了在每一個HDD中獨立的電源控制。在以上示例中，兩個適配器卡3a和3b具有相同的電路配置。針對于測 試對象的HDD準備適配器卡，以便針對要連接的HDD可以容易地替換它們的 電路配置。例如，根據要連接的HDD可以改變電源電路的性能，同時產生相 同的電源電壓。除此之外，在每一個適配器卡中實施不同的電源電路使不同 操作電源電壓的HDD能夠在測試設備(室)中同時被測試。
以上示例將兩個HDD la和lb連接到單個接口控制器43,但是根據接口 控制器43的端口的數量以及處理器62的處理能力可以選擇合適的數量作為 HDD連接的數量。 一般而言，接口控制器43用于一種規格。因此，通過將多 個接口卡連接到處理器卡6,可以實現使用單個處理器卡6測試不同接口規 格的HDD。如果接口控制器43可以執行不同規格的HDD的接口處理，那么通 過使用單個接口卡4能夠測試不同規格的HDD。
如以上闡明的那樣，本實施例的測試設備包括用于適配器卡上的對應 HDD的電源電路，以便處理器卡能夠靈活地支持具有各種電源規格的HDD的 測試。除此之外，使用處理器卡可以容易地同時測試多個HDD。
如上所述，最好適配器卡具有直接連接到HDD的連接器的連接器，這在 測試中，使連接HDD到適配器卡的處理高效。然而，即使HDD經由線連接到 適配器卡，具有實施的電源電路的本實施例的適配器卡也是有用的。
最好測試設備包括處理器卡、接口卡和適配器卡。這是因為替換接口卡 允許在不替換處理器卡的情況下支持具有不同接口的HDD。然而，可以在處
理器卡或適配器卡中實施接口控制器。
如上所述，從測試中效率的角度來看，最好將多個適配器卡連接到單個 處理器卡，以同時測試多個HDD。然而，即使通過連接單個適配器卡到處理 器卡僅要測試一個HDD,本實施例的具有在其中實施的電源電路的適配器卡 也是有用的。
如以上闡明的那樣，通過優選實施例的方式描述了本發明，但是本發明 不限于以上實施例，并且在本發明的實質的范圍內當然可以以各種方式修改。 例如，在適配器卡、接口卡和處理器卡之間，可以插入另一基板。
權利要求
1、一種用于數據存儲裝置的測試設備，包括室，其包括用于容納測試對象的數據存儲裝置的空間；處理器卡，其包括用于測試所述數據存儲裝置的處理器，以及安裝所述處理器的第一基板；以及適配器卡，其包括位于處理器卡與數據存儲裝置之間的、用于在處理器卡與數據存儲裝置之間傳送測試信號的第二基板，以及安裝在第二基板上、用于為數據存儲裝置提供操作電源電壓的電源電路。
2、 根據權利要求1所述的測試設備，其中 連接器被固定到適配器卡的第二基板；以及 所述連接器被直接連接到數據存儲裝置的連接器。
3、 根據權利要求1所述的測試設備，其中 所述適配器卡進一步包括用于控制所述電源電路的電源控制電路。
4、 根據權利要求1所述的測試設備，進一步包括接口卡，其包括位于處理器卡與適配器卡之間的、用于在處理器卡與數 據存儲裝置之間傳送測試信號的第三基板，以及安裝在第三基板上的、用于 在處理器卡與數據存儲裝置之間執行接口處理的接口控制器。
5、 根據權利要求1所述的測試設備，其中 多個適配器卡連接到所述處理器卡；以及所述處理器卡同時測試連接到所述多個適配器卡的多個數據存儲裝置。
6、 根據權利要求5所述的測試設備，進一步包括接口卡，其包括位于處理器卡與多個適配器卡之間的、用于在處理器卡 與多個數據存儲裝置之間傳送測試信號的第四基板，以及安裝在第四基板上 的、用于在處理器卡與多個數據存儲裝置之間執行接口處理的接口控制器。
7、 根據權利要求6所述的測試設備，其中 所述接口卡經由信號傳輸線連接到所述多個適配器卡的每一個。
8、 根據權利要求5所述的測試設備，其中 所述處理器卡單獨控制所述多個適配器卡上的電源電路。
9、 一種用于多個凄t據存儲裝置的測試方法，包括 準備處理器卡，所述處理器卡包括第一基板和安裝在第一基板上的處理器；將多個數據存儲裝置連接到多個適配器卡的基板，所述適配器用于在處理器卡與多個數據存儲裝置之間傳送測試信號；由安裝在適配器卡上的電源電路提供多個數據存儲裝置中的每一個中均 不同的操作電源電壓；以及由處理器對在不同操作電源電壓處工作的多個數據存儲裝置進行測試。
10、 根據權利要求9所述的方法，進一步包括由單個接口控制器在處理器與所述多個數據存儲裝置之間執行測試信號 的接口處理。
11、 根據權利要求9所述的方法，其中所述多個數據存儲裝置的每一個連接器均直接連接到所述多個適配器卡 的每一個連接器。
全文摘要
本發明要解決的問題是在數據存儲裝置的測試設備中，使用單個處理器來支持具有不同規格的數據存儲裝置。本發明的實施例的測試設備包括處理器卡(6)和適配器卡(3a)和(3b)。適配器卡(3a)和(3b)包括用于產生要提供到HDD(1a)和(1b)的電源電壓的電源電路(33a)、(33b)、(34a)和(34b)。在適配器卡中實施電源電路實現了通過單個處理器卡對具有各種規格的HDD的靈活支持。除此之外，由于使用單個處理器卡同時測試多個HDD，因此無需在處理器卡上安裝多個電源電路，使得可以減小處理器卡的尺寸。
文檔編號G11B20/18GK101452724SQ20081017801
公開日2009年6月10日 申請日期2008年12月8日 優先權日2007年12月7日
發明者桑嶌正樹, 武田信雄, 津山雅史, 高橋賢 申請人:日立環球儲存科技荷蘭有限公司