專利名稱：光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及控制電機或致動器等的光盤裝置。
背景技術(shù)：
光盤裝置中具備的致動器等裝置，通過增大驅(qū)動電流，能夠提高 驅(qū)動的速度。另一方面，過度增大驅(qū)動電流時，故障的可能性也會增 大。
另外，作為相關(guān)技術(shù)，日本特開平8-265960號公報中記載了"對 從驅(qū)動器供給的致動器的驅(qū)動電流和根據(jù)溫度切換的限制電流進行比 較，檢測出致動器的驅(qū)動電流超過限制電流，因此檢測出與溫度相對 應(yīng)的過電流。"
發(fā)明內(nèi)容
光盤的傳送速度在持續(xù)高倍速化，與此同時，旋轉(zhuǎn)速度也在高速 化。結(jié)果，用于驅(qū)動主軸電機的電流量增大。另外，因為必須使移動 使激光會聚的光拾取器的物鏡的致動器對應(yīng)更快的運動，所以使伺服 控制頻率帶寬確保為較大也關(guān)系到電流量的增大。
另外，光盤品質(zhì)低下的情況下，來自光盤的反射光中會產(chǎn)生各種 噪聲。結(jié)果，因為致動器的驅(qū)動信號中也反映噪聲，所以電流量也增 加。特別是，越是確保伺服控制頻率帶寬較大，因噪聲增大的電流量 越是增大。
日本特開平8-265960號中記載的具備過電流檢測部的光盤裝置， 在檢測出過電流的情況下暫時停止電流。但是，該情況下，也必須暫 時停止光盤的記錄和再現(xiàn)。另外，即使暫時停止，在產(chǎn)生噪聲等的狀 態(tài)下再次記錄或再現(xiàn)時，有時也會立刻檢測出過電流而停止。特別是， 光盤品質(zhì)低下，驅(qū)動電流較大的狀態(tài)持續(xù)的情況下，有可能與檢測出 的溫度無關(guān)而無法繼續(xù)再現(xiàn)。
5本發(fā)明中，以抑制因驅(qū)動電流增大導(dǎo)致的致動器故障的可能性的 同時繼續(xù)再現(xiàn)為課題。
上述課題，例如通過權(quán)利要求中記載的發(fā)明得以解決。另外，其 手段的一個例子如下所述。
光盤裝置根據(jù)為了移動致動器而從控制單元輸出的聚焦驅(qū)動信號 和/或跟蹤驅(qū)動信號的變動量，變更伺服控制特性。由此抑制致動器驅(qū) 動信號的變動幅度的增大。另外，也可以不僅基于驅(qū)動信號，也基于 根據(jù)反射光生成的信號變更伺服控制特性。
另外，光盤裝置與主軸電機驅(qū)動信號的變動量相應(yīng)地變更主軸驅(qū) 動信號的輸出特性。
圖1是光盤裝置。
圖2是通常盤片和品質(zhì)低下盤片的信號波形圖。
圖3是聚焦驅(qū)動信號的變動量與驅(qū)動電流量的關(guān)系圖。
圖4是伺服控制特性圖。
圖5是流程圖。
圖6是主軸電機驅(qū)動信號的變動量與驅(qū)動電流量的說明圖。
具體實施例方式
以下對本發(fā)明的實施方式進行說明，但實施方式可以在不違背本 發(fā)明的主旨的情況下進行各種變更。因此，本發(fā)明并不限于以下說明， 包括權(quán)利要求的范圍內(nèi)的各種變更。
圖1是表示光盤裝置的結(jié)構(gòu)的方框圖。
對于光盤100，利用來自光拾取器110的激光照射進行信息的讀取、 消除、寫入，同時利用主軸電機101旋轉(zhuǎn)，該主軸電機101由接收來 自系統(tǒng)控制單元120的主軸電機驅(qū)動信號(SDS)的主軸電機驅(qū)動單元 121驅(qū)動。
由激光源111發(fā)出的激光，由利用致動器112移動的物鏡113在光 盤100的信息記錄面上聚光為光點。聚光為光點的激光，在光盤100
6的信息記錄面上反射，并由光檢測器114檢測。根據(jù)由光檢測器114 檢測的信號利用信號生成單元122生成聚焦誤差信號(FES)和跟蹤誤 差信號(TES)。
在輸入到系統(tǒng)控制單元120的信號中，讀取聚焦誤差信號作為表 示光點與信息記錄面的誤差量的信號。另外，在輸入到系統(tǒng)控制單元 120的信號中，讀取跟蹤誤差信號作為表示在光盤信息記錄膜上以螺旋 狀連續(xù)的坑和軌道與光點在半徑方向上的誤差量的信號。
致動器112，利用接收從系統(tǒng)控制單元120輸出的用于向聚焦方向 移動致動器的聚焦驅(qū)動信號(FDS)、和用于向半徑方向移動致動器的 跟蹤驅(qū)動信號(TDS)的致動器驅(qū)動單元123進行驅(qū)動。該致動器112 使物鏡113在光盤100的半徑方向和聚焦方向上移動。系統(tǒng)控制單元 120內(nèi)置有測定各驅(qū)動信號的變動量的信號變動量測量單元124。
圖2是表示在再現(xiàn)光盤時，由通常的光盤和在反射光中產(chǎn)生噪聲 的品質(zhì)低下光盤所生成的聚焦誤差信號和聚焦驅(qū)動信號的變動的圖。
與通常盤片比較，品質(zhì)低下盤片因反射光的噪聲而聚焦誤差信號 的變動量變大，結(jié)果，對于上述聚焦誤差信號通過濾波器生成的聚焦 驅(qū)動信號的變動量也變大。因為該聚焦驅(qū)動信號增大，流過致動器112 的電流量也增加，所以致動器損壞的危險性提高。
圖3表示對于聚焦伺服控制系統(tǒng)，使光盤100旋轉(zhuǎn)數(shù)周時的信號 變動量測量單元124的測定量與流過致動器113的電流量的關(guān)系。圖3 中的各點，是對于光盤100的信息記錄面調(diào)整聚焦伺服控制系統(tǒng)和跟 蹤伺服控制系統(tǒng)的特性調(diào)整完成，由各伺服控制系統(tǒng)施加控制的狀態(tài) 下取得的值。另外，圖3表示對于多種的光盤進行多次設(shè)置和取出、 多次進行設(shè)置(setup)處理等初始動作之后的結(jié)果。
流過致動器112的電流量增加時，變動量測定值也增加。盤片A 的電流量比較小，變動量測定值也小。盤片B和C電流量較大，存在 致動器損壞的危險。因此，對于盤片B和C變更伺服控制特性，實現(xiàn) 對電流量的抑制。用于分別A與B、 C的基準(zhǔn)設(shè)為FHO。盤片D雖然 有超過FH0的情況和不超過FHO的情況，但是沒有超過致動器損壞危 險電流量的結(jié)果。如此，優(yōu)選設(shè)定為FHO對于危險電流量具有余量。
對于上述變動量測定值在FH0以上的光盤所進行的伺服控制特性的變更是指，例如對聚焦驅(qū)動信號或者跟蹤驅(qū)動信號等致動器驅(qū)動信 號的變動量抑制一類的變更。圖4中，表示伺服控制特性的變更例。 對于原本的伺服控制系統(tǒng)開路(bop)增益特性，能夠通過整體降低增 益電平而抑制致動器驅(qū)動信號的變動量。
圖5中表示本實施例的流程圖。
首先，光盤裝置中設(shè)置有光盤的情況下，或者起動設(shè)定了光盤的
光盤裝置的情況下，進行所謂設(shè)置(setup)處理和裝載(loading)處 理等初始動作。
在該設(shè)置處理等中，系統(tǒng)控制單元120將伺服控制特性調(diào)整為所 要求的伺服控制頻率帶寬(步驟5-l)。
接著，系統(tǒng)控制單元120進行致動器驅(qū)動信號變動量測定(步驟 5-2)。接著，系統(tǒng)控制單元120，判別聚焦驅(qū)動信號的變動量測定結(jié)果 FH是否小于聚焦伺服控制系統(tǒng)的基準(zhǔn)FHO (步驟5-3)。步驟5-3中為 Yes的情況下，系統(tǒng)控制單元120判別跟蹤驅(qū)動信號的變動測定結(jié)果 TH是否小于跟蹤伺服控制系統(tǒng)的基準(zhǔn)TH0 (步驟5-4)。步驟5-4中為 Yes的情況下，系統(tǒng)控制單元120以步驟5-1中調(diào)整后的伺服控制特性 結(jié)束處理。步驟5-3和步驟5-4中為No的情況下，系統(tǒng)控制單元120 變更伺服控制特性，實現(xiàn)電流量的減少(步驟5-5)，并結(jié)束處理。
該情況下，在步驟5-5中，系統(tǒng)控制單元120使聚焦伺服控制系統(tǒng) 和跟蹤伺服控制系統(tǒng)兩者的伺服控制特性變更。
此處，對步驟5-2中的變動量的算出方法的一個例子進行說明。例 如，以固定的時鐘(clock)取得驅(qū)動信號電平，求出與基準(zhǔn)電平的差 值。然后，將通過順次對該差的絕對值的和、平方和進行加法運算或 積分等方法求出的值作為變動量。另外，例如通過對驅(qū)動信號的振幅 的最大值與最小值的差順次進行加法計算或積分求出來求得變動量。 另外，例如通過對于使盤片裝置旋轉(zhuǎn)數(shù)周的期間得到的驅(qū)動信號應(yīng)用 上述算出方法而求出變動量。例如，在算出變動量時，可以是盤片旋 轉(zhuǎn)l周的驅(qū)動信號，也可以是2周的驅(qū)動信號，但是對此并沒有限定。 另外，也可以構(gòu)成為基于一定時間得到的驅(qū)動信號算出該測定量。
另外，步驟5-5中，對于聚焦伺服控制系統(tǒng)和跟蹤伺服控制系統(tǒng)的 特性變更，也有僅變更變動量超過基準(zhǔn)值的一方的方法。即，能夠是如果聚焦驅(qū)動信號的變動量超過基準(zhǔn)值，則變更聚焦伺服控制系統(tǒng)的 特性量，如果跟蹤驅(qū)動信號的變動量超過基準(zhǔn)值，則變更跟蹤伺服控 制系統(tǒng)的特性量。該情況下，為了不成為單方面的處理優(yōu)選為，在步
驟5-3中，不管聚焦驅(qū)動信號的變動量FH是否超過基準(zhǔn)值FH0的結(jié) 果如何，都前進到步驟5-4的判別跟蹤驅(qū)動信號的變動量TH是否超過 基準(zhǔn)值TH0的處理。
另外，本流程圖中，分別對聚焦驅(qū)動信號的變動量和跟蹤致動器 的驅(qū)動信號的變動量進行了判定，但是也可以將這2個變動量測定結(jié) 果的絕對值的和，或平方和等作為判斷是否變更特性的要素。該情況 下，將步驟5-3和5-4統(tǒng)一為1個步驟。
另外，也可以是不基于致動器驅(qū)動信號的變動量，而是基于聚焦 誤差信號和跟蹤誤差信號的變動量變更伺服特性的結(jié)構(gòu)。
另外，如圖4所示，為了使電流量減少而降低伺服控制系統(tǒng)開路 增益特性的增益電平時，也會導(dǎo)致對于高速旋轉(zhuǎn)的伺服控制性能降低。 因此，可以是在降低上述增益電平的同時降低光盤100的旋轉(zhuǎn)速度， 而應(yīng)對伺服控制性能降低的結(jié)構(gòu)。但是，該情況下，信息的傳送速率 會降低。
另外，光盤100的偏心量大的情況下，驅(qū)動信號的變動量也會變 大，但是有吋對于這樣的光盤最好不進行伺服控制性能的變更。因此， 存在光盤100的偏心量大于一定量的情況下，不進行伺服控制性能的 變更，而在偏心量在一定量以下時進行伺服控制性能的變更的方法。 該方法能夠通過進行判別處理，使得在步驟5-1之前進行基于偏心量的 判別，當(dāng)偏心量在一定量以下時進行本實施例的處理得以實現(xiàn)。
另外，本實施例將致動器驅(qū)動信號的變動量作為判定要素，但是 在能夠直接測定電流量的情況下，也可以直接使用電流量。
另外，本實施例中，對在變動量大的情況下降低伺服控制系統(tǒng)開 路增益特性的增益電平的處理進行了說明，但是也可以是在變動量小 的情況下提高伺服控制系統(tǒng)開路增益特性的增益電平的處理。
本實施例的光盤裝置與實施例1中使用的圖1所示的方框圖為相 同的結(jié)構(gòu)。利用接受了從系統(tǒng)控制單元120輸出的主軸電機驅(qū)動信號(SDS) 的主軸電機驅(qū)動單元121驅(qū)動主軸電機101,并利用主軸電機101旋轉(zhuǎn)。
圖6中，表示利用主軸電機驅(qū)動信號的變動量使主軸電機驅(qū)動電 流不超過規(guī)格的方法。為了提高主軸電機的旋轉(zhuǎn)速度而增大主軸電機 驅(qū)動信號輸出時，電流量也會增加，隨之主軸電機驅(qū)動信號的變動量 也增大。將主軸電機驅(qū)動電流變?yōu)槁缘陀诨谝?guī)格的界限值時的變動 量設(shè)為基準(zhǔn)SHO。主軸電機驅(qū)動信號的變動量達到該SHO時，不繼續(xù) 增大主軸電機驅(qū)動信號，而是以該驅(qū)動電流產(chǎn)生的扭力達到所要求的 旋轉(zhuǎn)速度。
根據(jù)以上說明的各實施例的光盤裝置，在將光盤插入光盤裝置后 的設(shè)置處理中，通過確保取得光盤旋轉(zhuǎn)數(shù)周的驅(qū)動信號的時間，能夠 抑制電流過多導(dǎo)致的致動器損壞的可能性，所以在設(shè)置處理后的記錄 或再現(xiàn)開始后，能夠抑制因電流過多導(dǎo)致的動作停止的可能性。另外， 在主軸電機中，能夠抑制因電流過多導(dǎo)致的旋轉(zhuǎn)停止發(fā)生的可能性。
根據(jù)本發(fā)明，能夠在抑制因驅(qū)動電流增大引起的致動器故障的可 能性，而使再現(xiàn)繼續(xù)進行。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，其使用激光從光盤再現(xiàn)信息或向光盤記錄信息，其特征在于，包括物鏡，其使激光會聚；致動器，其驅(qū)動所述物鏡；檢測器，其檢測來自光盤的反射光；聚焦誤差信號生成部，其根據(jù)用所述檢測器檢測出的反射光生成聚焦誤差信號；跟蹤誤差信號生成部，其根據(jù)用所述檢測器檢測出的反射光生成跟蹤誤差信號；控制部，其為了進行所述致動器的控制，用所述聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號進行聚焦驅(qū)動信號和跟蹤驅(qū)動信號的生成和輸出；和信號變動量測量部，其測量所述聚焦驅(qū)動信號和跟蹤驅(qū)動信號的變動量，其中，所述控制部進行控制，以根據(jù)使所述光盤旋轉(zhuǎn)了所希望的轉(zhuǎn)數(shù)時的聚焦驅(qū)動信號和/或跟蹤驅(qū)動信號的變動量，來變更聚焦伺服控制系統(tǒng)和/或跟蹤伺服控制系統(tǒng)的特性。
2. 如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于 所述控制部進行控制，以使在將所述聚焦伺服控制系統(tǒng)和/或跟蹤伺服控制系統(tǒng)暫且調(diào)整為規(guī)定的伺服控制頻率帶寬之后進行所述特性 的變更。
3. 如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于 所述控制部進行控制，以使在將光盤插入光盤裝置后的設(shè)置處理中進行所述特性的變更。
4. 如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于-所述控制部進行控制，以使在所述光盤的偏心量為規(guī)定量以下時，進行所述特性的變更，在所述偏心量大于所述規(guī)定量時，不進行所述特性的變更。
5. 如權(quán)利要求l所述的光盤裝置，其特征在于-所述控制部進行控制，以使通過減少聚焦驅(qū)動信號和/或跟蹤驅(qū)動 信號的增益進行所述特性的變更。
6. —種光盤裝置，其使用激光從光盤再現(xiàn)信息或向光盤記錄信息，其特征在于，包括物鏡，其使激光會聚； 致動器，其驅(qū)動所述物鏡； 檢測器，其檢測來自光盤的反射光；聚焦誤差信號生成部，其根據(jù)用所述檢測器檢測出的反射光生成 聚焦誤差信號；跟蹤誤差信號生成部，其根據(jù)用所述檢測器檢測出的反射光生成 跟蹤誤差信號；控制部，其為了進行所述致動器的控制，用所述聚焦誤差信號和 跟蹤誤差信號進行聚焦驅(qū)動信號和跟蹤驅(qū)動信號的生成和輸出；和信號變動量測量部，其測量所述聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的 變動量，其中，所述控制部進行控制，以根據(jù)所述聚焦誤差信號和/或跟蹤誤差信 號的變動量，來變更聚焦伺服控制系統(tǒng)和域跟蹤伺服控制系統(tǒng)的特性。
7. —種光盤裝置，其使用激光從光盤再現(xiàn)信息或向光盤記錄信息， 其特征在于，包括-主軸電機，其使所述光盤旋轉(zhuǎn)；控制部，其進行用于進行所述主軸電機的旋轉(zhuǎn)控制的主軸電機驅(qū) 動信號的輸出；和信號變動量測量部，其測量所述主軸電機驅(qū)動信號的變動量，其中，所述控制部根據(jù)所述主軸電機驅(qū)動信號的變動量，來變更主軸電 機驅(qū)動信號的輸出特性。
8. —種光盤裝置，其使用激光從光盤再現(xiàn)信息，向光盤記錄信息， 或進行再現(xiàn)和記錄，其特征在于，包括物鏡，其使激光會聚； 致動器，其驅(qū)動所述物鏡； 檢測器，其檢測來自光盤的反射光；聚焦誤差信號生成部，其根據(jù)用所述檢測器檢測出的反射光生成 聚焦誤差信號；控制部，其根據(jù)所述聚焦誤差信號，生成致動器驅(qū)動信號，該致 動器驅(qū)動信號是用于進行所述致動器的控制的信號；和信號變動量測量部，其測量所述致動器驅(qū)動信號的變動量，其中， 所述控制部進行控制，以使在所述致動器驅(qū)動信號的變動量為規(guī) 定量以上時，減少所述驅(qū)動信號的增益。
9. 一種光盤裝置，其使用激光從光盤再現(xiàn)信息，向光盤記錄信息， 或進行再現(xiàn)和記錄，其特征在于，包括物鏡，其使激光會聚； 致動器，其驅(qū)動所述物鏡； 檢測器，其檢測來自光盤的反射光；跟蹤誤差信號生成部，其根據(jù)用所述檢測器檢測出的反射光生成 跟蹤誤差信號；控制部，其根據(jù)所述跟蹤誤差信號，生成致動器驅(qū)動信號，該致 動器驅(qū)動信號是用于進行所述致動器的控制的信號；和信號變動量測量部，其測量所述致動器驅(qū)動信號的變動量，其中， 所述控制部進行控制，以使在所述致動器驅(qū)動信號的變動量為規(guī) 定量以上時，減少所述驅(qū)動信號的增益。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤裝置，對致動器和主軸電機的驅(qū)動信號的變動量進行測量，因為其變動量與電流有關(guān)聯(lián)，所以根據(jù)變動量測定結(jié)果，通過變更伺服控制系統(tǒng)的特性、或?qū)︱?qū)動信號電平設(shè)置限制等措施，使得不大于其規(guī)格。
文檔編號G11B19/20GK101515462SQ20081017765
公開日2009年8月26日 申請日期2008年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2008年2月20日
發(fā)明者今川制時, 片岡丈祥, 米澤宗弘 申請人:株式會社日立制作所;日立樂金資料儲存股份有限公司