用于信息記錄和再現的裝置和方法,及光學信息記錄介質的制作方法

專利名稱：用于信息記錄和再現的裝置和方法,及光學信息記錄介質的制作方法
技術領域：
本發明涉及信息記錄裝置、信息再現裝置、信息記錄方法、信息再現 方法和光學信息記錄介質。
背景技術：
過去，碟狀光盤被廣泛的用作光學信息記錄介質，大體上，正在被使用的有CD (緊湊型盤)、DVD (數字通用型盤)、藍光盤(注冊商標， 下文中稱為BD)等。在與這種光盤對應的光盤裝置中，在光盤上記錄了各種信息，所述信 息例如各種內容或用于計算機的各種數據等，所述各種內容例如各種音樂 內容、圖片內容等。近年來，尤其是伴隨著由于更高分辨率的圖片、更高 音質的音樂等，以及對一張光盤上要記錄的內容量的增加的需求，需要更 大容量的光盤。已經提出了一種方法增加光盤容量的方法，在該方法中，通過使兩個 系統的光束干涉并在記錄介質中形成微觀全息圖來記錄信息(參見，例如 日本專利申請公開No.2006-78834)。作為另外一種增加光盤容量的方法，正在開發通過將有關技術的光盤 堆疊成多個層以增強記錄密度的方法(參見，例如I. Ichimura et al, Technical Digest of ISOM，04, pp. 52, Oct. 11-15, Jeju Korea)。發明內容但是，在日本專利申請公開No.2006-78834描述的方法中，在旋轉和 振動的光盤上執行一種高級控制，該控制在期望記錄信息的位置處將兩種 類型光束的聚焦位置同時對準，因此使用相關方法的光盤裝置的構造會很 復雜，穩定地記錄或再現信息變得很困難。當使用上述Technical Digest描述的方法將全息圖形成于光盤中時，與 為了形成全息圖而照射的光的焦點附近不同的區域也容易變質(alter)， 而且這種變質的區域在再現全息圖時引起串擾噪聲，使得難以以滿意的信 噪比檢測信號。考慮到上述問題，期望提供一種新穎和改進的信息記錄裝置、信息再 現裝置、信息記錄方法、信息再現方法和光學信息記錄介質，所述信息記 錄裝置能穩定地記錄或再現信息并能夠獲得滿意的信噪比。根據本發明的實施例，提供了一種信息記錄裝置，用于在由記錄材料 組成的多層光學信息記錄介質上記錄信息，所述記錄材料根據照射光的光 強而改變性質，所述多層光學信息記錄介質包括以多個層的形式交替存在 的已變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料己經變質，在所 述未變質層中所述記錄材料尚未變質；所述信息記錄裝置包括光源，用 于發射具有相干性的預定波長的記錄光；光路分支單元，用于將從所述光 源發射的記錄光的光路分支為第一光路和第二光路；聚焦位置控制單元， 分別安排在所述光路分束單元的后級，用于控制所述第一光路和所述第二 光路中所述記錄光的聚焦位置；物鏡，分別安排在所述聚焦位置控制單元 的后級，用于將所述第一光路和所述第二光路中的記錄光收集在所述光學 信息記錄介質上；其中，所述第一光路中的記錄光從所述光學信息記錄介 質一側的表面垂直進入所述光學信息記錄介質；所述第二光路中的記錄光 從所述光學信息記錄介質另一側的表面垂直進入所述光學信息記錄介質； 全息圖被記錄作為記錄標記，所述全息圖對應于由所述第一光路中的記錄 光與所述第二光路中的記錄光干涉所產生的駐波。根據這種結構，光源發射具有相干性的預定波長記錄光，光路分束單 元將由光源發射的記錄光的光路分支為第一光路和第二光路，聚焦位置控 制單元分別控制第一光路中的記錄光和第二光路中的記錄光的聚焦位置， 物鏡分別將第一光路中的記錄光和第二光路中的記錄光收集在光學信息記 錄介質上。第一光路中的記錄光和第二光路中的記錄光在光學信息記錄介 質中干涉并產生駐波，因而記錄材料根據駐波改變性質，全息圖被記錄。 根據本發明的光學信息記錄介質具有以多個層的形式交替存在的已變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述未變質層 中所述記錄材料尚未變質，因此要記錄的全息圖能夠受到局限，并能夠記 錄具有優異信噪比的信息。聚焦位置控制單元可以分別控制第一光路中的記錄光和第二光路中的 記錄光的聚焦位置，使第一光路中的記錄光和第二光路中的記錄光有相同 聚焦位置。第一光路中的記錄光和第二光路中的記錄光的聚焦深度可以等于己變 質層和/或未變質層的厚度。聚焦位置控制單元可以分別將第一光路中的記錄光和第二光路中的記 錄光的聚焦位置控制在未變質層所在的位置。聚焦位置控制單元可以分別將第一光路中的記錄光和第二光路中的記 錄光的聚焦位置控制在已變質層所在的位置。聚焦位置控制單元可以由一個或多個光學元件構成；通過改變這一個 或多個光學元件的位置，可以控制第一光路中的記錄光和第二光路中的記 錄光的聚焦位置。聚焦位置控制單元可以由中繼透鏡或準直器透鏡構成。根據本發明的另一實施例，提供了一種信息再現裝置，用于從由記錄 材料組成的光學信息記錄介質讀取并再現被記錄的全息圖，所述記錄材料 根據照射光的光強度而改變性質，所述光學信息記錄介質具有以多個層的 形式交替存在的已變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已 經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質，所述光學信息記錄介質還具有在所述已變質層或所述未變質層中以全息圖的形式記錄的信息； 所述信息再現裝置包括光源，用于發射具有預定波長的讀取光；聚焦位 置控制單元，用于控制從所述光源發射的讀取光的聚焦位置；物鏡，被安 排在所述聚焦位置控制單元的后級，用于收集所述讀取光；光檢測器，用 于檢測來自所述全息圖的與讀取光對應的返回光。根據有關結構，光源發射預定波長的讀取光，聚焦位置控制單元控制 從光源發射的讀取光的聚焦位置，物鏡將讀取光收集在光學信息記錄介質 上，光檢測器檢測來自記錄在光學信息記錄介質內的全息圖的返回光。根據本發明的光學信息記錄介質具有以多個層的形式交替存在的己變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質，局限的全息圖存儲于其中，因而能夠再現具有滿意信造比的信號。讀取光的聚焦深度可以等于已變質層和/或未變質層的厚度。讀取光的波長可以與用于記錄全息圖的記錄光的波長相等。聚焦位置控制單元可以將讀取光的聚焦位置控制在未變質層所在的位置；光檢測器可以檢測來自未變質層的全息圖的返回光。聚焦位置控制單元可以將讀取光的聚焦位置控制在已變質層所在的位置；光檢測器可以檢測來自已變質層的全息圖的返回光。聚焦位置控制單元可以由一個或多個光學元件構成；通過改變這一個或多個光學元件的位置，可以控制讀取光的聚焦位置。聚焦位置控制單元可以由中繼透鏡或準直器透鏡構成。 光學信息記錄介質可以由兩個初始化光束初始化；兩個初始化光束中的一者可以從光學信息記錄介質一側的表面進入光學信息記錄介質；兩個初始化光束中的另一者可以從光學信息記錄介質另一側的表面進入光學信息記錄介質。兩個初始化光束相對于光學信息記錄介質表面的入射角大小可以是相 等的。可以使用波長為X[nm]的初始化光束執行初始化過程，使已變質層和 未變質層的厚度為AD[nm];兩個初始化光束的入射角e的值可以由等式1 得出。光學信息記錄介質可以由對于記錄材料具有光學敏感性的波長的初始 化光束進行初始化。初始化光束可以是平行光束。初始化光束的光束直徑可以具有對記錄材料的整個表面進行照射的尺寸。根據本發明的另一實施例，提供了一種信息記錄方法，用于在由記錄材料組成的多層光學信息記錄介質上以全息圖的形式記錄信息，所述記錄 材料根據照射光的光強度而改變性質，所述多層光學信息記錄介質具有以 多個層的形式交替存在的己變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記 錄材料己經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質；所述信息記 錄方法包括以下步驟使由光源發射的、具有相干性的、預定波長的記錄 光的光路分支為第一光路和第二光路；使所述第一光路中的記錄光從所述 光學信息記錄介質一側的表面垂直入射，并使所述第二光路中的記錄光從 所述光學信息記錄介質另一側的表面垂直入射；以及記錄全息圖作為記錄 標記，所述全息圖由所述第一光路中的記錄光與所述第二光路中的記錄光 干涉而產生。根據有關結構，從光源發射的、具有相干性的、預定波長的記錄光在 對記錄光的光路進行分支的步驟中被分支為第一光路和第二光路；在使記 錄光進入光學信息記錄介質的步驟中，第一光路中的記錄光從光學信息記 錄介質一側的表面垂直入射，第二光路中的記錄光從光學信息記錄介質另 一側的表面垂直入射；在記錄全息圖的步驟中，由第一光路中的記錄光與 第二光路中的記錄光干涉產生的駐波使記錄材料變質，記錄全息圖作為記 錄標記。根據本發明的光學信息記錄介質具有以多個層的形式交替存在的 已變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述 未變質層中所述記錄材料尚未變質，從而能夠以局限的方式記錄全息圖， 能夠記錄具有優異信噪比的信號。根據本發明的另一實施例，提供了一種信息再現方法，用于從由記錄 材料組成的光學信息記錄介質讀取并再現被記錄的全息圖，所述記錄材料 根據照射光的光強度而改變性質，所述光學信息記錄介質具有以多個層的 形式交替存在的己變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料己 經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質，所述光學信息記錄介 質還具有在所述已變質層或所述未變質層中以全息圖的形式記錄的信息； 所述信息再現方法包括以下步驟對于由光源發射的具有預定波長的讀取 光，控制所述讀取光的聚焦位置，并將所述讀取光照射在所述光學信息記 錄介質的預定層中的駐波上；檢測來自所述駐波的所述讀取光的返回光；基于所檢測到的返回光來產生信息的再現信號。根據有關結構，在照射讀取光的步驟中，在對于從光源發射的具有預 定頻率的讀取光進行聚焦位置控制之后，將讀取光照射在記錄于光學信息 記錄介質中預定層的全息圖上；在檢測返回光的步驟中，檢測與照射在全 息圖上的讀取光對應的返回光；在產生再現信號的步驟中，基于所檢測到的返回光而產生信息的再現信號。在根據本發明的信息再現方法中，來自 局限在光學信息記錄介質中的全息圖的返回光被檢測，由此具有滿意信噪 比的信號能夠被再現。根據本發明的另一實施例，提供了一種由記錄材料組成的多層光學信 息記錄介質，所述記錄材料根據照射光的光強度而改變性質，其中，己變 質層和未變質層以多個層的形式交替存在，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質；信息以全息圖的 形式記錄在所述已變質層或所述未變質層中；記錄在所述已變質層或所述 未變質層中的全息圖接觸與記錄有所述全息圖的已變質層或未變質層相鄰 的未變質層或已變質層。根據上文所述的本發明的實施例，穩定光學信息記錄和再現被執行， 并能獲得滿意的信噪比。


圖1的示意圖描述了根據本發明一個實施例的光學信息記錄介質；圖2的示意圖描述了根據本實施例的光學信息記錄介質；圖3的示意圖描述了根據本實施例的信息記錄裝置；圖4的示意圖描述了根據本實施例的聚焦位置控制單元的一種示例；圖5的示意圖描述了根據本實施例的信息記錄方法；圖6的示意圖描述了根據本實施例的信息記錄方法；圖7的示意圖描述了根據本實施例的信息再現裝置；圖8的示意圖描述了根據本實施例的信息記錄和再現裝置。
具體實施方式
下面，將結合附圖詳細描述本發明的優選實施例。注意，在說明書和 附圖中，具有大體上相同結構和功能的結構元件以相同的標號表示，并省 略了關于這些結構元件的重復解釋。 (第一實施例) (關于光學信息記錄介質IO)首先將參考附圖1和2詳細描述根據第一實施例的用于信息記錄裝置和 信息再現裝置的光學信息記錄介質。附圖1和2的示意圖用于說明根據本實施例的光學信息記錄介質io。根據本實施例的光學信息記錄介質10包括記錄材料101，其能夠根 據被照射的光的光強度而改變性質；設置在記錄材料101兩側的覆蓋層 (未示出)。光學信息記錄介質10可形成為正方形片狀或矩形片狀，也可 以形成為盤狀，如光盤。記錄材料101是由預定波長的光引起性質改變的化合物。記錄材料101 通過光能量造成的加熱或者由于光能量本身引起的各種改變而發生變質。 發生在記錄材料101中的改變包括物理改變，如記錄材料101等的硬度改 變，以及記錄材料101從結晶態到無定形態或從無定形態到結晶態的相改變；化學改變，包括記錄材料101改變為新的化合物，或者新產生的化合 物的沉淀物或聚合體(aggregation)，如單體到低聚物或聚合物的改變， 和記錄材料101中聚合物由于光化學反應的交聯；等等。可能發生上述改變的記錄材料101使用熱塑性塑料(例如熱固化樹 脂)；光敏聚合物(例如光聚合的光敏聚合物和光交聯的光敏聚合物)； 使用鐵電材料晶體和順電(paradectric)材料的光折射晶體；全息記錄材 料等。記錄材料101包含有機金屬化合物或無機金屬化合物，這樣的有機 金屬化合物或無機金屬化合物可以是根據溫度改變而沉淀的記錄材料。根 據本實施例的記錄材料不限于上述材料，而可以使用任意的材料，只要它 是隨光照射而改變性質的物質。下面描述的初始化過程和信號記錄過程所 需的時間取決于記錄材料101的光敏感性等，通過使用具有令人滿意的光 敏性的記錄材料，初始化所需的時間和記錄時的轉移速率(transfer rate) 可以被增強。覆蓋層是用對于初始化光束的波長具有足夠透射率的材料形成的層 (換句話說，不吸收初始化光束的波長的光的材料)，覆蓋層的厚度被適 當地調整，以獲得初始化光束所需的透射率。覆蓋層可以用玻璃基板、聚 碳酸酯制成的塑料樹脂基板等形成。如果由單獨的記錄材料101即可實現光信息記錄介質10所需的性能和耐用性能，則可以不在記錄材料101的兩個表面設置覆蓋層。如圖1所示，上述光學信息記錄介質10的記錄材料101被預定的初始化 過程初始化，使得記錄材料101尚未變質(alter)的層(未變質層)103和 層(己變質層)105交替地以多層形式存在。未變質層103和已變質層105 以多層形式交替存在，使得光學信息記錄介質10用作具有所謂"閾值特 性"的信息記錄介質。如圖2所示，光學信息記錄介質10的初始化過程使用兩個初始化光束 (初始化光束1和初始化光束2)執行。具有相干性并對于記錄材料101具 有光敏性的波長的平行光束被用于相應的初始化光束。如圖2所示，初始 化光束1從光學信息記錄介質10—側的表面進入，初始化光束2從光學信息 記錄介質10另一側的表面進入。在此情況下，調整每個初始化光束的光 路，以使初始化光束1相對于光學信息記錄介質10的入射角大小和初始化 光束2相對于光學信息記錄介質10的入射角大小相等。初始化光束相對于光學信息記錄介質的入射角定義為由初始化光的光軸與平行于光學信息記 錄介質10表面的基準軸12形成的角。初始化光束1和初始化光束2優選地具 有能夠對光學信息記錄介質10的整個表面進行照射的光束直徑。當具有相干性的初始化光束1和初始化光束2進入光學信息記錄介質10 時，這些初始化光束在光學信息記錄介質10中干涉，從而在記錄材料IOI 中產生駐波。光學信息記錄介質10的記錄材料101由于駐波的強度分布而 以物理和/或化學的方式改變性質。結果，如附圖1所示的未變質層103和已 變質層105交替地形成在光學信息記錄介質10內部。換句話說，初始化過 程也可以被看成將預定波長的光照射在光學信息記錄介質10上并在整個光 學信息記錄介質10上記錄了大全息圖的過程。當初始化光束l和初始化光 束2的入射角相對于基準軸12為土e時(即，當初始化光束1和初始化光束2的入射角關于基準軸12對稱時)，未變質層103和已變質層105之間的分界 面與基準軸12平行。光學信息記錄介質10的記錄材料101中形成的未變質層103和已變質層 105的厚度AD[nm]取決于光學信息記錄介質10中產生的駐波。當進入光學 信息記錄介質10的初始化光束的波長為X[nm]、初始化光束以入射角e進入 光學信息記錄介質10時，層的厚度AD可以由下面的等式101表示。初始化光束的波長X固定為對于光學信息記錄介質10的記錄材料101具 有光敏性的波長，由此，未變質層103和已變質層105的厚度能夠被控制為任意數值，并可以通過控制相對于光學信息記錄介質io的入射角e來控制所形成的未變質層103和己變質層105的數量。換句話說，通過執行控制使得初始化光束相對于光學信息記錄介質IO 的入射角e成為由下面的等式102計算出的值，能夠使未變質層103和已變 質層105的厚度成為期望的厚度。光學信息記錄介質10的記錄材料101中形成的未變質層103或已變質層 105作為記錄層，其上記錄了各種信息。在這種情況下，根據記錄材料IOI 中發生的變質，能夠適當地選擇使用未變質層103作為記錄層還是使用已 變質層105作為記錄層。通過在記錄材料101中交替地形成未變質層103和已變質層105，執行 過初始化的光學信息記錄介質10被明確地分割為能夠記錄信息的層(記錄 層)和不能記錄信息的層。因此，執行過初始化的光學信息記錄介質10具 有所謂的閾值特性。未變質層103和已變質層105的厚度AD優選為小于或等 于下文描述的記錄光學系統的聚焦深度。圖1中圖示了兩個未變質層103和兩個已變質層105，但光學信息記錄 介質10的記錄材料101中要形成的未變質層103和已變質層105的數目不限 于此例，可以形成包括任意層數的多層結構。如果在使用光聚合的光敏聚合物等作為記錄材料101的光學信息記錄 介質10上執行初始化，則光聚合反應根據產生于光學信息記錄介質10中的駐波的強度分布而發展，形成記錄材料101的單體以單體形式存在的層(未變質層103)和記錄材料101中的單體聚合成聚合物的層(已變質層105)。在已變質層105中，除了光聚合反映外，還可能發展光交聯反應。 (關于信息記錄裝置20)現在將參考圖3和圖4，詳細描述根據本實施例的信息記錄裝置20。圖 3是描述根據本實施例的信息記錄裝置20的示意圖，附圖4是描述根據本實 施例的聚焦位置控制單元一種示例的示意圖。根據本實施例的信息記錄裝置20被配置為通過記錄裝置控制單元(未 示出)對整個主體進行綜合控制，所述記錄裝置控制單元包括CPU (中央 處理單元)、ROM (只讀存儲器)、RAM (隨機存取存儲器)等，并能 夠通過讀出各種程序(例如儲存在未示出的ROM、存儲單元等中的基本程 序和信息記錄程序)以及在RAM (未示出)中發展這些程序等，而在光學 信息記錄介質上執行信息記錄過程。如圖3所示，根據本實施例的信息記錄裝置20包括光源201、用作光路 分支單元的分束器203、聚焦位置控制單元205、 206、物鏡211、 212以及 反射鏡213、 215、 217。光源201發射具有相干性的預定波長光束。要發射的光束的波長、光 功率等根據記錄標記的尺寸等而取任意值，其中記錄標記作為光學信息記 錄介質10上的信息而被記錄。可以使用約405nm至780nm的可見光束，也 可以使用可見光束或小于405nm的紫外光作為由光源201發射的光束的波 長。要發射的光束的光功率是用于確定使光學信息記錄介質10的記錄材料 IOI變質所需時間的一個因素，并可以根據信息記錄裝置20的規格、光學 信息記錄介質10的材料等而取任意值。固體激光器，半導體激光器等能夠用作光源201的一種示例。根據本實施例的信息記錄裝置20使用從有關的光源201發出的光束 (光通量)作為記錄光，用于在光學信息記錄介質10上記錄信息。分束器203作為光路分支單元的一個例子，將由光源201發射的記錄光 的光路分為兩個光路。在圖3所示的示例中，記錄光被分支為兩束光，即 經過第一光路的光通量A，和經過第二光路的光通量B。聚焦位置控制單元205與下文所述的物鏡211—起使用，并控制由分束 器203分支的光通量A或記錄光的聚焦位置。通常，光通量A的聚焦位置是 由信息記錄裝置20中所用的物鏡211的聚焦長度等確定為基準的位置，但 根據本實施例的聚焦位置控制單元205能夠用一個或多個光學元件來改變 光通量A的聚焦位置。聚焦位置控制單元206與下文所述的物鏡212—起使用，并控制由分束 器203分支的光通量B或記錄光的聚焦位置。通常，光通量B的聚焦位置是 由信息記錄裝置20中所用的物鏡212的聚焦長度等確定為基準的位置，但 根據本實施例的聚焦位置控制單元206能夠用一個或多個光學元件來改變 光通量B的聚焦位置。聚焦位置控制單元205、 206將在下面詳細描述。物鏡211設置在聚焦位置控制單元205的后級，在物鏡211的聚焦長度 的位置處收集由分束器203分支的光通量A或者記錄光。物鏡212設置在聚 焦位置控制單元206的后級，在物鏡212的聚焦長度的位置處收集由分束器 203分支的光通量B或者記錄光。這里，物鏡211和物鏡212具有的透鏡性質 (例如聚焦長度和聚焦深度)被確定以聚焦在光學信息記錄介質10的相同 位置。通過適當選擇物鏡211、 212的數值孔徑(NA)，能夠控制光通量A和 光通量B的光斑直徑。可以選擇具有0.45至0.85之間數值孔徑的物鏡作為物 鏡211、 212。圖3和圖4中圖示了一個雙凸透鏡作為物鏡211、 212，但根據 本發明的物鏡211、 212不限于此，也可以是非球面透鏡，或者包括多個透 鏡的物鏡。反射鏡213、 215和217改變由分束器203分支的光通量B或者記錄光的 光路，并引導光通量B到聚焦位置控制單元206。反射鏡213、 215和217可 以是任意類型，只要能夠反射光通量B即可。可以在反射鏡213， 215和217 中設置反射鏡角度調整單元(未示出)以調整各個反射鏡的角度。圖3中描述了用分束器203把由一個光源201發射的光束分支為兩個光 路并將所述光束用作記錄光的情況，但也可以使用多個光源，并可以用從 多個光源發射的光束作為記錄光。 (關于聚焦位置控制單元205， 206)諸如中繼透鏡(relay lens)或準直器透鏡的光學元件可被用作聚焦位 置控制單元205、 206。在下面的描述中，將詳細說明使用包括可動透鏡 207和固定透鏡209的中繼透鏡的情況，即圖4中所示的一種示例，但根據 本實施例的聚焦位置控制單元205、 206不限于此，而可以使用任意的類 型，只要能夠控制光學系統的聚焦位置即可。聚焦位置控制單元206具有 與聚焦位置控制單元205相同的功能并表現出類似的效果，因此將略去其 描述。聚焦位置控制單元205設置在物鏡211的前級，并通過用驅動裝置(未 示出)等改變可動透鏡207的位置來改變由物鏡211收集的光通量A的聚焦 位置。當可動透鏡207處于預定的基準位置時，中繼透鏡將光通量A收集在成 為物鏡211的基準(基準聚焦位置)的聚焦位置處。當可動透鏡207朝向基 準位置的前側移動并遠離固定透鏡209 (即朝向光源201那側移動可動透鏡 207)時，光通量A聚焦在基準聚焦位置的前面。相反，當可動透鏡207朝 向基準位置的遠側移動并靠近固定透鏡209 (即朝向物鏡211那側移動可動 透鏡207)時，光通量A聚焦在基準聚焦位置的后面。通過使用這樣的方 法，光通量A聚焦的位置能夠被控制，光通量A能夠被收集在信息將被記 錄到光學信息記錄介質10中的位置。相應的中繼透鏡只是聚焦位置控制單元205的一個例子，根據本發明 的信息記錄裝置20中的聚焦位置控制單元205不限于此，也可以使用與 用于改變透鏡位置的驅動裝置相連的準直器透鏡等。 (關于信息記錄方法)下面將參考圖5和圖6詳細說明在多層光學信息記錄介質IO中以全息 圖的方式記錄信息的方法，所述記錄介質10具有所謂的"閾值特性"。 圖5和圖6是用于描述根據本實施例的信息記錄方法的示意圖。根據本實施例的信息記錄裝置20在光學信息記錄介質10上通過下述 方式記錄信息當二進制信息具有"1"的值時，全息圖被記錄；當二進 制信息具有"0"的值時，全息圖不被記錄。在根據本實施例的信息記錄裝置20中，如圖5所示，光通量A經過物鏡211并從光學信息記錄介質10 —側的表面垂直進入光學信息記錄介質10，光通量B經過物鏡212并從光學信息記錄介質10另一側的表面垂 直進入光學信息記錄介質10。光通量A和光通量B都由聚焦位置控制單 元205、 206和物鏡212、 213控制，從而被收集到光學信息記錄介質10的 未變質層103或己變質層105。由于光通量A和光通量B是具有相干性的光束，所以收集在同一位置 的光通量A和光通量B發生干涉而產生駐波。結果，位于光收集位置的記 錄材料101根據所產生的駐波而改變性質，微觀全息圖被記錄。也就是 說，根據本實施例的信息記錄裝置20可以看作一種用于在光學信息記錄 介質10的記錄材料101上記錄所謂^-全息圖(微全息圖)的裝置。在根據本實施例的信息記錄裝置20使用的光學信息記錄介質10中， 通過上述初始化過程使未變質層103和己變質層105的層厚等于信息記錄 裝置20的聚焦深度。由此，如圖6所示，未變質層103的記錄材料發生變 質，在光通量A和光通量B的焦點附近記錄了全息圖，但是難以在與要執 行記錄的未變質層103相鄰的已變質層105中記錄全息圖，因為不存在未 變質的記錄材料。因此，在根據本實施例的信息記錄裝置20中，能夠在光學信息記錄 介質10中記錄被局限于沿記錄光的光軸方向的全息圖，來在具有所謂閾 值特性的光學信息記錄介質10上執行記錄。此外，由于未變質層103和 已變質層105彼此相鄰地存在，所以全息圖端部清晰。因此能夠減小全息 圖再現時的串擾噪音，并能獲得滿意的信噪比。 (記錄標記的具體示例)下面通過記錄材料101的具體示例來說明全息圖或記錄標記。例如， 在將光聚合的光敏聚合物用于記錄材料101時，與未變質層103對應的單 體層和與已變質層105對應的聚合物層通過初始化過程而被交替地形成。 當光通量A和光通量B被收集于未變質層103的相同位置處時，位于光收 集位置的單體變成聚合體，產生了局部的微觀全息圖(微全息圖)。 (關于信息再現裝置30)下面將參考圖7詳細說明根據本實施例的信息再現裝置30。圖7是用于描述根據本實施例的信息再現裝置30的示意圖。根據本實施例的信息再現裝置30被配置為通過再現裝置控制單元 (未示出)對整個主體進行綜合控制，所述再現裝置控制單元包括CPU (中央處理單元)、ROM (只讀存儲器)、RAM (隨機存取存儲器) 等，并能夠通過讀出各種程序(例如儲存在未示出的ROM、存儲單元等 中的基本程序和信息再現程序)以及在RAM (未示出)中發展這些程序 等，而從光學信息記錄介質讀取和再現信息。如圖7所示，根據本實施例的信息再現裝置30包括光源301、作為光 束分支單元的分束器303、聚焦位置控制單元305、物鏡307、光收集透鏡 309和光檢測器311，信息再現裝置30對執行了初始化過程的光學信息記 錄介質10上記錄的信息(全息圖)進行讀出和再現。光源301發射具有預定波長的光束。要發射的光束的波長、光功率等 根據記錄標記的尺寸等而取任意值，所述記錄標記作為信息被記錄在光學 信息記錄介質10上。可以使用約405nm到780nm的可見光束，也可以使 用可見光束或者小于405nm的紫外光用于光源301發射的光束的波長。要 發射的光束的光功率優選地小于記錄光的光功率，以免使光學信息記錄介 質10的記錄材料101變質。由光源301發射的光束的波長可以是與記錄光 相同的波長。固體激光器，半導體激光器等能夠用作光源301的一種示例。根據本實施例的信息再現裝置30使用從有關光源301發射的光束 (光通量)作為讀取光，用于從光學信息記錄介質IO讀出信息。作為光束分支單元的分束器303使從光源301發射的讀取光向光學信 息記錄介質10那側透射，使從記錄在光學信息記錄介質10上的全息圖返 回的光分支并將其導向下文所述光檢測器311那側。聚焦位置控制單元305與下文所述物鏡307 —起使用，并控制從光源 301發射的光通量A或讀取光的聚焦位置。通常，光通量A的聚焦位置具 有由信息再現裝置30中所用的物鏡307的聚焦長度等確定為基準的位 置，但根據本實施例的聚焦位置控制單元305能夠用一個或多個光學元件 來改變光通量A的聚焦位置。聚焦位置控制單元305具有與根據本實施例的聚焦位置控制單元203相同的功能并展示出相同的效果，因而其具體說明將被省略。物鏡307設置在聚焦位置控制單元305的后級，并將從光源301發射 的光通量A或讀取光收集在物鏡307的聚焦長度位置處。光通量A的光斑 直徑能夠通過適當選擇物鏡307的數值孔徑來控制。可以選擇具有0.45到 0.85之間的數值孔徑的物鏡用于物鏡307。圖7中圖示了一個雙凸透鏡作 為物鏡307，但是根據本實施例的物鏡307不限于此，也可以是非球面透 鏡或包括多個透鏡的物鏡。光收集透鏡309設置成收集由分束器303分支的光束，并將來自光學 信息記錄介質10的返回光收集在光檢測器311上，所述光檢測器311設置 在光收集透鏡309的后級。圖7中圖示了一個雙凸透鏡作為收集透鏡 309，但是根據本實施例的光收集透鏡309不限于此，也可以是非球面透 鏡或包括多個透鏡的物鏡。光檢測器311檢測由光收集透鏡309收集的從光學信息記錄介質10返 回的光。可以用光接收元件例如CCD (電荷耦合器件)或PIN光電二極管 作為光檢測器311。在光檢測器311中，基于檢測到的光量差異，來確定 返回光是否存在。例如，如果由光檢測器311檢測到的光量大于或等于預 定光量，則判定為返回光存在；如果由光檢測器311檢測到的光量小于預 定光量，則判定為返回光不存在。這樣，在光檢測器311中，能夠通過檢 測光量差異而確定返回光是否存在，即作為記錄標記的全息圖是否存在。 (關于信息再現方法)現在將參考圖6和圖7詳細說明根據本實施例的一種信息再現方法。根據本實施例的信息再現裝置30在由光檢測器311觀察到了返回光 時判定為存在全息圖，而在沒有觀察到返回光時判定為不存在全息圖。在 觀察到全息圖時，二進制信息具有"1"的值，而在沒有觀察到全息圖 時，二進制信息具有"0"的值，通過這種對應關系，能夠從光學信息記 錄介質IO讀取信息。以上述方式檢測到的二進制信息行(line)被作為再現信號呈現，并 由再現裝置控制單元的CPU等(未示出)執行，以再現記錄在光學信息記錄介質IO上的信息。如圖6所示，由聚焦位置控制單元305和物鏡307控制以被收集在預 定聚焦位置的光通量A (讀取光)被收集在光學信息記錄介質10的預定 的未變質層103處。讀取光的光功率優選為低于記錄光的光功率以免使未 變質層103變質。如果讀取光被收集的位置是被信息記錄裝置20進行了 信號記錄的位置(即存在全息圖的位置)，則全息圖被再現，并產生了反 射光(即返回光)。如果讀取光被收集的位置是未被信息記錄裝置20進 行了信號記錄的位置(即不存在全息圖的位置)，則不會再現全息圖，不 產生反射光(即返回光)。返回光經過物鏡307后被轉換為平行光，由分束器303分支的返回光 被光收集透鏡309收集并進入光檢測器311，從而被光檢測器311檢測。根據本實施例的光學信息記錄介質10通過上述初始化過程在未變質 層103與已變質層105之間具有清楚的界面，此外，還在被形成為與相鄰 已變質層105接觸的未變質層103上具有全息圖。因此根據本實施例，即 使在由信息再現裝置30再現全息圖時，存在全息圖的部分與不存在全息 圖的部分之間的界面也是清楚的，能夠降低由于界面處的雜散光導致的讀 取錯誤。因此，根據本實施例的信息再現裝置30能以滿意的信噪比 (SNR)再現信息。 (關于信息記錄和再現裝置40)下面將參考圖8具體描述根據本實施例的信息記錄和再現裝置40。圖8是對根據本實施例的信息記錄和再現裝置進行說明的示意圖。根據本實施例的信息記錄和再現裝置40被配置為通過記錄和再現裝 置控制單元(未示出)而一體控制的主體，包括CPU (中央處理單元)， ROM (只讀存儲器)，RAM (隨機存取存儲器)等，信息記錄和再現裝 置40能夠通過讀出存儲在未示出的ROM和存儲單元等中的各種程序(例 如基本程序、信息記錄程序和信息再現程序)并在RAM (未圖示)等中 發展這些程序，而在光學信息記錄介質上寫入信息，或從光學信息記錄介質讀取并再現信息。如圖8所示，根據本實施例的信息記錄和再現裝置40包括光源401、作為光束分支單元一種示例的分束器403、 405、聚焦位置控制單元407、 408、物鏡409、 410、反射鏡411、 415、 417、快門413、光收集透鏡419和 光檢測器421。光源401發射具有相干性的預定波長光束。要發射的光束波長可以根 據作為信息被記錄在光學信息記錄介質10上的全息圖的尺寸等而選取任 意值。可以使用約405nm到780nm的可見光束，也可以使用可見光束或 者小于405nm的紫外光用于光源401發射的光束波長。光源401能夠針對 記錄信息的時候以及再現信息的時候改變所發射的光束的光功率作為光源401的一個例子，可以使用固體激光器、半導體激光器等。根據本實施例的信息記錄和再現裝置40使用從有關光源401發射的 光束(光通量)，作為用于在光學信息記錄介質10上記錄信息的記錄 光，或作為從光學信息記錄介質10讀出信息的讀取光。作為光束分支單元一個示例的分束器403將從光源401發射的光束分 支為兩個光路。在圖8的示例中，從光源401發射的光束被分支為兩束 光，即經過第一光路的光通量A和經過第二光路的光通量B。分束器405安排在第一光路上，并使光通量A向聚焦位置控制單元 407透射，以及使從光學信息記錄介質10返回的光向下述光收集透鏡419 那側分支。聚焦位置控制單元407與下文所述物鏡409 —起使用，并控制從光源 401發射的光通量A或讀取光的聚焦位置。通常，光通量A的聚焦位置是 由在信息記錄和再現裝置40中使用的物鏡409的焦距等所確定的基準的 所在位置，但是根據本實施例的聚焦位置控制單元407能通過一個或多個 光學元件改變光通量A的聚焦位置。聚焦位置控制單元408與下文所述物鏡410 —起使用，并控制由分束 器403分支的光通量B或記錄光的聚焦位置。通常，光通量B的聚焦位置 是由在信息記錄和再現裝置40中使用的物鏡410的焦距等所確定的基準 的所在位置，但是根據本實施例的聚焦位置控制單元408能通過一個或多 個光學元件改變光通量B的聚焦位置。根據本實施例，聚焦位置控制單元 407、 408具有與信息記錄裝置20中的聚焦位置控制單元203相同的功能并表現出相同的效果，因而將略去其具體描述。物鏡409安排在聚焦位置控制單元407的后級，并將由分束器403分 支的光通量A或光束收集在物鏡409的聚焦位置處。物鏡410安排在聚焦 位置控制單元407的后級，并將由分束器403分支的光通量B或光束收集 在物鏡410的聚焦位置處。光通量A和光通量B的光斑直徑可以通過適當地選擇物鏡409、 410 的數值孔徑(NA)來控制。可以選擇具有0.45到0.85之間數值孔徑的物 鏡用于物鏡409， 410。圖8中圖示了一個雙凸透鏡作為物鏡409、 410， 但是根據本實施例的物鏡409、 410不限于此，也可以是非球面透鏡或包 括多個透鏡的物鏡組。反射鏡411、 415和417使被分束器403分支的光通量B或記錄光的光路 改變，并將光通量B導向聚焦位置控制單元408。反射鏡411、 415和417可 以是任意類型的，只要其能反射光通量B即可。反射鏡411、 415和417中可 以設置反射鏡角度調整單元(未示出)，用于調整各個反射鏡的角度。快門413設置在第二光路上，并通過其自身的打開或關閉來透射或阻 擋光通量B。用于控制快門打開/關閉時間的快門控制裝置(未示出)連接 到快門413，并能通過快門控制裝置來控制快門413的打開/關閉。在用根據 本實施例的信息記錄和再現裝置40記錄全息圖時，能夠通過打開快門413 并將光通量B照射到信息記錄介質10上，記錄全息圖。在用根據本實施例 的信息記錄和再現裝置40再現全息圖時，能夠通過關閉快門413使光通量B 不被照射到信息記錄介質10上而再現全息圖。光收集透鏡419被設置來收集由分束器405分支的光束，并將來自光 學信息記錄介質10的返回光收集在光檢測器421上，光檢測器421被安排 在光收集透鏡419的后級。圖8中圖示了一個雙凸透鏡作為光收集透鏡 419，但是根據本實施例的光收集透鏡419不限于此，也可以是非球面透 鏡或包括多個透鏡的物鏡組。光檢測器421檢測由光收集透鏡419收集的來自光學信息記錄介質10 的返回光。可以使用諸如CCD (電荷耦合器件)或PIN光電二極管的光接 收元件作為光檢測器421。在光檢測器421中，基于檢測到的光量差異來判定返回光是否存在。例如，如果光檢測器421檢測到的光量大于或等于預定的光量，則可以判定為返回光存在，如果光檢測器421檢測到的光量 小于預定的光量，則可以判定為返回光不存在。因此，在光檢測器421 中，可以通過檢測光量的差異來判定返回光是否存在，即全息圖或記錄標 記是否存在。圖8描述了用分束器403將從光源401發射的光束分支成兩個光路并具 有作為記錄光的光束的情況，但是也可以使用多個光源，并可以用從多個 光源發射的光束作為記錄光。 (關于信息記錄和再現方法)根據本實施例的信息記錄和再現裝置40在光學信息記錄介質10上通 過下述對應關系記錄信息當二進制信息具有"1"的值時，全息圖被記 錄；當二進制信息具有"0"的值時，全息圖不被記錄。根據本實施例的 信息記錄和再現裝置40在由光檢測器421觀察到了返回光時判定為存在 全息圖，而在沒有觀察到返回光時判定為不存在全息圖。在觀察到全息圖 時，二進制信息具有"1"的值，而在沒有觀察到全息圖時，二進制信息 具有"0"的值，通過這種對應關系，能夠從光學信息記錄介質10讀取信 息。信息記錄方法和信息再現方法的細節與上述信息記錄裝置20中的記錄 方法和信息再現裝置30中的再現方法相似，因而將略去具體描述。如上所述，根據本實施例的信息記錄裝置20以及信息記錄和再現裝置 40是用于在光學信息記錄介質上記錄所謂微全息圖的所謂光子模式記錄裝 置，所述光學信息記錄介質中預先以多個層的形式交替地形成有未變質層 103和已變質層105。根據本實施例的信息再現裝置30以及信息記錄和再現 裝置40從光學信息記錄介質讀取并再現微全息圖，所述光學記錄信息介質 中預先以多個層的形式交替地形成有未變質層103和已變質層105并記錄了 微全息圖。與現有技術中不執行初始化的記錄微全息圖的方法相比，根據本實施 例的信息記錄方法能夠記錄更局域化的全息圖。根據本實施例的信息再現 方法能再現具有滿意信噪比的信號。根據本實施例的光學信息記錄介質10沒有復雜的工藝，而且形成層結 構的過程能夠只使用兩平行光的照射來實現。應當明白，本領域的技術人員根據設計需要和其他因素進行的不同修 改、組合、子組合和變換均包含于所附權利要求或等同的范圍中。在上述實施例中，描述了在未變質層中以全息圖的形式記錄信息的一 個示例，但是信息也可以以全息圖的形式記錄在己變質層中。相關申請的交叉引用本申請包含與2007年6月26日向日本專利局提交的日本專利申請 JP2007-167271有關的內容，該申請的全部內容通過引用而結合于此。
權利要求
1.一種信息記錄裝置，用于在由記錄材料組成的多層光學信息記錄介質上記錄信息，所述記錄材料根據照射光的光強而改變性質，所述多層光學信息記錄介質包括以多個層的形式交替存在的已變質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質；所述信息記錄裝置包括光源，用于發射具有相干性的預定波長的記錄光；光路分支單元，用于將從所述光源發射的記錄光的光路分支為第一光路和第二光路；聚焦位置控制單元，分別安排在所述光路分束單元的后級，用于控制所述第一光路中的所述記錄光和所述第二光路中的所述記錄光的聚焦位置；以及物鏡，分別安排在所述聚焦位置控制單元的后級，用于將所述第一光路中的記錄光和所述第二光路中的記錄光收集在所述光學信息記錄介質上；其中，所述第一光路中的記錄光從所述光學信息記錄介質一側的表面垂直進入所述光學信息記錄介質；所述第二光路中的記錄光從所述光學信息記錄介質另一側的表面垂直進入所述光學信息記錄介質；并且全息圖被記錄作為記錄標記，所述全息圖對應于由所述第一光路中的記錄光與所述第二光路中的記錄光干涉所產生的駐波。
2. 根據權利要求1所述的信息記錄裝置，其中，所述聚焦位置控制單 元分別控制所述第一光路中的記錄光和所述第二光路中的記錄光，使所述 第一光路中的記錄光和所述第二光路中的記錄光有相同聚焦位置。
3. 根據權利要求1所述的信息記錄裝置，其中，所述第一光路中的記 錄光和所述第二光路中的記錄光的聚焦深度等于所述已變質層和/或所述非 變質層的厚度。
4. 根據權利要求2所述的信息記錄裝置，其中，所述聚焦位置控制單元將所述第一光路中的記錄光和所述第二光路中的記錄光的聚焦位置分別 控制于所述未變質層所在的位置。
5. 根據權利要求2所述的信息記錄裝置，其中，所述聚焦位置控制單 元將所述第一光路中的記錄光和所述第二光路中的記錄光的聚焦位置分別 控制于所述已變質層所在的位置。
6. 根據權利要求1所述的信息記錄裝置，其中， 所述聚焦位置控制單元由一個或多個光學元件構成；并且 通過改變所述一個或多個光學元件的位置，來控制所述第一光路中的記錄光和所述第二光路中的記錄光的聚焦位置。
7. 根據權利要求6所述的信息記錄裝置，其中，所述聚焦位置控制單 元由中繼透鏡或準直器透鏡構成。
8. 根據權利要求1所述的信息記錄裝置，其中， 所述光學信息記錄介質由兩個初始化光束初始化； 所述兩個初始化光束中的一者從所述光學信息記錄介質一側的表面上進入所述光學信息記錄介質；并且所述兩個初始化光束中的另一者從所述光學信息記錄介質的另一側的 表面進入所述光學信息記錄介質。
9. 根據權利要求8所述的信息記錄裝置，其中，所述兩個初始化光束 相對于所述光學信息記錄介質的表面的入射角大小相等。
10. 根據權利要求9所述的信息記錄裝置，其中，所述初始化過程用波長為X[nm]的初始化光束來執行，使所述已變質 層和所述未變質層的厚度為AD[nm];并且所述兩個初始化光束的入射角e的值由等式1得出廣；i 、 "sin-1丄、2AD」(等式l)。
11. 根據權利要求1所述的信息記錄裝置，其中，所述光學信息記錄 介質由對于所述記錄材料具有光敏感性的波長的初始化光束進行初始化。
12. 根據權利要求11所述的信息記錄裝置，其中，所述初始化光束是平行光束。
13. 根據權利要求11所述的信息記錄裝置，其中，所述初始化光束的光束直徑具有對所述記錄材料的整個表面進行照射的尺寸。
14. 一種信息再現裝置，用于從由記錄材料組成的光學信息記錄介質 讀取并再現被記錄的全息圖，所述記錄材料根據照射光的光強度而改變性 質，所述光學信息記錄介質具有以多個層的形式交替存在的已變質層和未 變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述未變質層中所 述記錄材料尚未變質，所述光學信息記錄介質還具有在所述己變質層或所 述未變質層中以全息圖的形式記錄的信息；所述信息再現裝置包括光源，用于發射具有預定波長的讀取光；聚焦位置控制單元，用于控制從所述光源發射的讀取光的聚焦位置； 物鏡，被安排在所述聚焦位置控制單元的后級，用于收集所述讀取 光；和光檢測器，用于檢測來自所述全息圖的與讀取光對應的返回光。
15. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中，所述讀取光的聚焦 深度等于所述已變質層和/或所述未變質層的厚度。
16. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中，所述讀取光的波長 與用于記錄所述全息圖的記錄光的波長相等。
17. 根據權利要求15所述的信息再現裝置，其中， 所述聚焦位置控制單元將所述讀取光的聚焦位置控制于所述未變質層所在的位置；并且所述光檢測器檢測來自所述未變質層的全息圖的返回光。
18. 根據權利要求15所述的信息再現裝置，其中，所述聚焦位置控制單元將所述讀取光的聚焦位置控制于所述已變質層 所在的位置；并且所述光檢測器檢測來自所述已變質層的全息圖的返回光。
19. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中，所述聚焦位置控制單元由一個或多個光學元件構成；并且 通過改變所述一個或多個光學元件的位置，來控制所述讀取光的聚焦 位置。
20. 根據權利要求19所述的信息再現裝置，其中，所述聚焦位置控制單元由中繼透鏡或準直器透鏡構成。
21. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中， 所述光學信息記錄介質由兩個初始化光束進行初始化； 所述兩個初始化光束中的一者從所述光學信息記錄介質一側的表面進入所述光學信息記錄介質；并且所述兩個初始化光束中的另一者從所述光學信息記錄介質另一側的表 面進入所述光學信息記錄介質。
22. 根據權利要求21所述的信息再現裝置，其中，所述兩個初始化光束相對于所述光學信息記錄介質的表面的入射角大小是相等的。
23. 根據權利要求22所述的信息再現裝置，其中，使用波長為X[nm]的初始化光束執行所述初始化過程，使得所述已變 質層和所述未變質層的厚度為AD[nm];并且，所述兩個初始化光束的入射角e的值由等式1得出<formula>formula see original document page 5</formula>
24. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中，所述光學信息記錄 介質由對于所述記錄材料具有光學敏感性的波長的初始化光束進行初始 化。
25. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中，所述初始化光束是 平行光束。
26. 根據權利要求14所述的信息再現裝置，其中，所述初始化光束的 光束直徑具有對所述記錄材料整個表面進行照射的尺寸。
27. —種信息記錄方法，用于在由記錄材料組成的多層光學信息記錄 介質上以全息圖的形式記錄信息，所述記錄材料根據照射光的光強度而改 變性質，所述多層光學信息記錄介質具有以多個層的形式交替存在的已變 質層和未變質層，在所述已變質層中所述記錄材料已經變質，在所述未變 質層中所述記錄材料尚未變質；所述信息記錄方法包括以下步驟使由光源發射的、具有相干性的、預定波長的記錄光的光路分支為第 一光路和第二光路；使所述第一光路中的記錄光從所述光學信息記錄介質一側的表面垂直入射，并使所述第二光路中的記錄光從所述光學信息記錄介質另一側的表 面垂直入射；以及記錄全息圖作為記錄標記，所述全息圖由所述第一光路中的記錄光與 所述第二光路中的記錄光干涉而產生。
28. —種信息再現方法，用于從由記錄材料組成的光學信息記錄介質 讀取并再現被記錄的全息圖，所述記錄材料根據照射光的光強度而改變性 質，所述光學信息記錄介質具有以多個層的形式交替存在的已變質層和未 變質層，在所述己變質層中所述記錄材料己經變質，在所述未變質層中所 述記錄材料尚未變質，所述光學信息記錄介質還具有在所述已變質層或所 述未變質層中以全息圖的形式記錄的信息；所述信息再現方法包括以下步 驟對于由光源發射的具有預定波長的讀取光，控制所述讀取光的聚焦位 置，并將所述讀取光照射在所述光學信息記錄介質的預定層中的駐波上； 檢測來自所述駐波的所述讀取光的返回光；以及 基于所檢測到的返回光來產生信息的再現信號。
29. —種由記錄材料組成的多層光學信息記錄介質，所述記錄材料根 據照射光的光強度而改變性質，其中，己變質層和未變質層以多個層的形式交替存在，在所述己變質層中所 述記錄材料已經變質，在所述未變質層中所述記錄材料尚未變質； 信息以全息圖的形式記錄在所述已變質層或所述未變質層中； 記錄在所述已變質層或所述未變質層中的全息圖接觸與記錄有所述全 息圖的已變質層或未變質層相鄰的未變質層或已變質層。
全文摘要
本發明公開了用于信息記錄和再現的裝置和方法以及光學信息記錄介質。一種用于在由記錄材料組成的多層光學信息記錄介質上記錄信息的信息記錄裝置，所述記錄材料根據照射光的光強而改變性質，所述多層光學信息記錄介質包括以多個層的形式交替存在的已變質層和未變質層，在已變質層中記錄材料已經變質，在未變質層中記錄材料尚未變質。所述信息記錄裝置包括光源，用于發射具有相干性的記錄光；光路分支單元，用于將光的光路分支為第一光路和第二光路；聚焦位置控制單元，用于控制第一光路和第二光路中記錄光的聚焦位置；以及物鏡，用于將第一光路和第二光路中的記錄光收集在光學信息記錄介質上。
文檔編號G11B7/135GK101335020SQ20081011148
公開日2008年12月31日 申請日期2008年6月26日 優先權日2007年6月26日
發明者田部典宏 申請人:索尼株式會社