校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的方法和存儲介質(zhì)的制作方法

專利名稱：校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的方法和存儲介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的方法、 一種從全息存儲介質(zhì)讀取和/ 或向全息存儲介質(zhì)寫入的裝置、以及一種適用于該方法的全息存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)：
在全息數(shù)據(jù)存儲中，通過記錄由兩個(gè)相干激光束的重疊產(chǎn)生的干涉圖案來存儲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，其中， 一個(gè)光束(所謂的"物光束")被空間光調(diào)制器調(diào)制， 并且攜帶要記錄的信息。第二光束充當(dāng)參考光束。干涉圖案導(dǎo)致存儲材料的特性的修改，該修改取決于干涉圖案的局部亮度(local intensity)。通過利用 參考光束照亮全息圖來執(zhí)行所記錄的全息圖的讀取，所述參考光束使用與記 錄期間相同的條件。這造成所記錄的物光束的重建。全息數(shù)據(jù)存儲的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是增加的數(shù)據(jù)容量。與傳統(tǒng)的光學(xué)存儲介質(zhì)不 同，使用全息存儲介質(zhì)的體積(volume)而不僅僅是少量的層來存儲信息。 全息數(shù)據(jù)存儲的另一優(yōu)點(diǎn)是可以在同一體積中存儲多個(gè)數(shù)據(jù)，例如，通過改 變兩個(gè)光束之間的角度或者通過使用移位復(fù)用等等。此外，代替存儲單個(gè)比 特，可以將數(shù)據(jù)存儲為數(shù)據(jù)頁。典型地，數(shù)據(jù)頁包括明暗圖案 (light-dark-pattem )的矩陣，即，兩維二進(jìn)制陣列或灰度值的陣列，其編碼 了多個(gè)比特。除了增加的存儲密度之外，這允許實(shí)現(xiàn)增加的數(shù)據(jù)速率。數(shù)據(jù) 頁被空間光調(diào)制器(SLM)印制到物光束上，并且被利用檢測器陣列進(jìn)行檢 測。對于任何全息數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)而言，重要的是對讀取過程和寫入過程期間 的不希望的系統(tǒng)參數(shù)的變化魯棒(robust)。這種變化是例如溫度變化或者所 使用的不同系統(tǒng)組件的不同的屬性的結(jié)果。具體地，為了建立良好的工作系 統(tǒng)，需要控制在典型地為激光二極管、空間光調(diào)制器和檢測器的光源的建立 中的變化，并將該變化最小化。例如，即使是讀出參考光束相比于記錄參考 光束的波長的小的改變(也已知為波長失酉己(wavelength mismatch ))導(dǎo)致讀 出數(shù)據(jù)頁的顯著失真。由于該變化，對于檢測器的每個(gè)像素，檢測器像素值對SLM像素值的依賴性(dependency)可能具有不同的特性。因此，檢測器 圖像在圖像對比度和亮度方面可能是不均衡的(non-uniform )。該降低的圖像 質(zhì)量可能繼而增加碼元誤差率。需要考慮的另一方面是可交換性(interchangeability)，即，使用利用不 同全息數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)的全息存儲介質(zhì)。必須確保可交換性以便市場接受全息 數(shù)據(jù)存儲。應(yīng)該由全息數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)來補(bǔ)償全息存儲介質(zhì)的微小的和可能不 可預(yù)見的屬性差別。為了應(yīng)付上面的問題，需要一種全息存儲系統(tǒng)的校準(zhǔn)。例如，在制造過 程期間，可以確定固定校準(zhǔn)?？商鎿Q地，可以使用具有可忽略容限(negligible tolerance)的高級組件。在EP 0 201 274中描述了一種全息存儲系統(tǒng)，其中實(shí)施了讀出校準(zhǔn)。在 記錄期間，將具有預(yù)定灰度值的校準(zhǔn)像素記錄在全息存儲介質(zhì)上。在讀出期 間，估計(jì)這些參考圖案以標(biāo)準(zhǔn)化像素亮度。提供校準(zhǔn)像素以補(bǔ)償由在存儲介 質(zhì)上疊加的額外全息圖引起的變化，并將該校準(zhǔn)像素記錄在每頁數(shù)據(jù)頁中。文獻(xiàn)US5920536公開了 一種在讀出期間使用頁標(biāo)記來獲得質(zhì)量度量的全 息存儲系統(tǒng)。基于該質(zhì)量度量來改變幾何參數(shù)或光學(xué)參數(shù)。所產(chǎn)生的質(zhì)量被 測量為校準(zhǔn)反饋。文獻(xiàn)WO2005/103842公開了 一種具有校準(zhǔn)特征的全息存儲介質(zhì)。在存儲 介質(zhì)上的特定位置處提供特殊的指示符。這些指示符提供關(guān)于存儲介質(zhì)的、 用于將全息存儲系統(tǒng)調(diào)整為該存儲介質(zhì)的信息。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的一個(gè)目標(biāo)是提出 一種改進(jìn)的校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的方法。 根據(jù)本發(fā)明，通過具有以下步驟的校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的方法來實(shí)現(xiàn)該目標(biāo)-通過全息存儲系統(tǒng)的至少 一部分傳出 一組測試數(shù)據(jù)頁； -利用檢測器接收一組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁；-將那組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁與那組傳出的測試數(shù)據(jù)頁進(jìn)行比較；以及 -基于該比較步驟的結(jié)果，校正全息存儲系統(tǒng)的參數(shù)變化。 本發(fā)明使得能夠自動(dòng)地校準(zhǔn)不希望的系統(tǒng)參數(shù)的變化。為此目的，通過 整個(gè)系統(tǒng)或者通過該系統(tǒng)的讀取路徑傳出一組測試數(shù)據(jù)頁。利用檢測器分析發(fā)送的那組數(shù)據(jù)頁。在此分析期間，將所傳出的數(shù)據(jù)頁與所獲取的數(shù)據(jù)頁進(jìn) 行比較以確定全息存儲系統(tǒng)的特性。利用該方法，可以校準(zhǔn)全息數(shù)據(jù)存儲系 統(tǒng)以抵抗由溫度差異、不同的全息介質(zhì)或者依逐個(gè)存儲系統(tǒng)而變化的所使用 的組件的機(jī)械、電子或光學(xué)屬性引起的亮度變化。在校準(zhǔn)例程中，校準(zhǔn)全息 存儲系統(tǒng)。在后面，該校準(zhǔn)被用于降低或消除由所述變化引起的誤差。本發(fā) 明的優(yōu)點(diǎn)在于使用單獨(dú)系統(tǒng)組件本身來校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的不可避免的變 化。這導(dǎo)致單獨(dú)的和特定于系統(tǒng)的校準(zhǔn)。另外，有可能無法預(yù)見不同的全息 存儲介質(zhì)樣本之間的變化。在制造過程期間，這些差異不能被校準(zhǔn)。根據(jù)本 發(fā)明的校準(zhǔn)方法包括存儲介質(zhì)。有利地，在全息存儲系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)以及/或者在讀取和/或?qū)懭氩僮髦皥?zhí)行 該方法。通過在任何讀取或?qū)懭脒^程之前單獨(dú)地沖交準(zhǔn)每個(gè)系統(tǒng)，可以處理系 統(tǒng)組件的更高容限。然而，為了允許更快地訪問所記錄的數(shù)據(jù)并減少寫入操 作開始之前的時(shí)間，同樣可以僅在系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)自動(dòng)地執(zhí)行該校準(zhǔn)。另一替代 方案是以有規(guī)則的時(shí)間間隔或者在系統(tǒng)空閑的任何時(shí)候執(zhí)行該校準(zhǔn)。有利地，在比較步驟中，為檢測器的每個(gè)像素確定特性曲線。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)參數(shù)變化對數(shù)據(jù)頁的不同部分具有不同的影響。因此，在單獨(dú)地校準(zhǔn)每 個(gè)檢測器像素時(shí)進(jìn)一 步改進(jìn)了該校準(zhǔn)方法。優(yōu)選地，由空間光調(diào)制器通過全息存儲系統(tǒng)傳出那組測試數(shù)據(jù)頁。被用 來記錄數(shù)據(jù)頁的該空間光調(diào)制器優(yōu)選地用于此目的。該解決方案尤其適用于 能夠記錄的全息存儲系統(tǒng)。通過利用空間光調(diào)制器通過全息存儲系統(tǒng)傳出那 組測試數(shù)據(jù)頁，校準(zhǔn)了整個(gè)全息存儲系統(tǒng)。當(dāng)空間光調(diào)制器被用于校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)時(shí)，在傳出步驟期間，優(yōu)選地照亮全息存儲介質(zhì)的沒有存儲數(shù)據(jù)的空部分(neutral part )。這具有校準(zhǔn)不受 在全息存儲介質(zhì)上記錄的任何數(shù)據(jù)的影響的優(yōu)點(diǎn)?？商鎿Q地，也可以在全息 存儲介質(zhì)不位于全息存儲系統(tǒng)中的情況下執(zhí)行該校準(zhǔn)。然而，在此情況下， 沒有校正全息存儲介質(zhì)對系統(tǒng)參數(shù)的影響?？商鎿Q地，通過利用參考光束照亮在全息存儲介質(zhì)上記錄的測試數(shù)據(jù)頁 來通過全息存儲系統(tǒng)傳出那組測試數(shù)據(jù)頁。盡管該方法尤其適用于只讀全息 存儲系統(tǒng)，但是其同樣有利地用于能夠記錄的全息存儲系統(tǒng)。根據(jù)該方法， 測試頁位于全息存儲介質(zhì)上。當(dāng)這些測試頁被參考光束照亮?xí)r，通過全息存 儲系統(tǒng)的讀取路徑發(fā)送重建后的測試頁。因此，在此情況下，只校準(zhǔn)讀取路徑。如果僅執(zhí)行讀取時(shí)，這無論如何都是足夠的。有利地，那組測試數(shù)據(jù)頁包括每頁具有單個(gè)灰度值的多頁測試數(shù)據(jù)頁， 該單個(gè)灰度值逐頁地變化。這允許確定每個(gè)像素的特性靈敏度曲線，即，檢測器像素值對SLM像素值的依賴性或者對數(shù)據(jù)頁的像素值的依賴性。可替換地或者附加地，那組測試數(shù)據(jù)頁包括具有用于檢測被用于記錄的 光束和被用于讀取的光束之間的波長失配的像素圖案的至少 一 頁測試數(shù)據(jù) 頁。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)讀出期間的波長失配導(dǎo)致所記錄的數(shù)據(jù)頁的每個(gè)像素的圖像 在檢測器陣列的多個(gè)像素上的模糊(smearing )。該模糊取決于波長失配量并 且可以因此被考慮為波長失配的度量。當(dāng)使該模糊最小化時(shí)，實(shí)現(xiàn)對該波長 失配的最優(yōu)補(bǔ)償。盡管在上面的描述中參考全息存儲系統(tǒng)來描述本發(fā)明，但是該方法可應(yīng) 用于1"壬^f可面向頁的存4諸系統(tǒng)(page oriented storage system )。


為了更好的理解，現(xiàn)在將參考附圖在下面的說明中更詳細(xì)地解釋本發(fā)明。 應(yīng)該理解本發(fā)明不限于該示例實(shí)施例，并且在不偏離本發(fā)明的范圍的情況 下，也可以便利地組合和/或修改特定的特征。在附圖中圖1示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的全息存儲系統(tǒng)；圖2示出了根據(jù)本發(fā)明的全息存儲系統(tǒng)的兩種操作模式；圖3圖示了根據(jù)本發(fā)明的校準(zhǔn)例程；圖4示出了一個(gè)單個(gè)像素的特性曲線；圖5描述了未校正的檢測器圖像和校正后的檢測器圖像的比較；以及 圖6圖示了適用于波長失配確定的兩頁不同的數(shù)據(jù)頁。
具體實(shí)施方式
在全息數(shù)據(jù)存儲中，通過記錄由兩個(gè)相干激光束的疊加而產(chǎn)生的干涉圖 案來存儲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。在圖1中示出了根據(jù)本發(fā)明的示例全息存儲系統(tǒng)1。相 干光源(例如，激光二極管2 )發(fā)出光束3,其被準(zhǔn)直透鏡(collimating lens ) 4準(zhǔn)直。然后，光束3被分割為兩個(gè)分離的光束7、 8。在該例子中，使用第 一分束器5來實(shí)現(xiàn)光束3的分割。然而，同樣可以使用其它光學(xué)組件用于此 目的。空間光調(diào)制器(SLM) 6調(diào)制這兩個(gè)光束中的一個(gè)光束(所謂的"物光束"7),以印制2維數(shù)據(jù)圖案。通過物鏡9將物光束7和另一光束(所謂 的"參考光束"8),聚焦到全息存儲介質(zhì)10、例如全息盤或卡中。在物光束 7和參考光束8的交匯部分出現(xiàn)干涉圖案，其被記錄在全息存儲介質(zhì)10的光 敏層中。通過僅利用參考光束8照亮所記錄的全息圖來從全息存儲介質(zhì)10檢索所 存儲的數(shù)據(jù)。參考光束8被全息圖結(jié)構(gòu)衍射并產(chǎn)生原始物光束7的副本-重 建后的物光束ll。該重建后的物光束11被物鏡9準(zhǔn)直并被第二分束器12導(dǎo) 向到2維陣列檢測器13 (例如CCD陣列)。該陣列檢測器13允許重建所記 錄的數(shù)據(jù)。校準(zhǔn)系統(tǒng)14分析由陣列檢測器獲得的圖像，以便校正全息存儲系 統(tǒng)1的參數(shù)變化。如上所述，全息數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)1通常使用空間光調(diào)制器6來產(chǎn)生數(shù)據(jù)頁， 該數(shù)據(jù)頁經(jīng)由物光束7和參考光束8的干涉而被存儲在全息存儲介質(zhì)10中。 在讀取期間，參考光束8照亮所記錄的全息圖，并重建數(shù)據(jù)頁，該數(shù)據(jù)頁被 經(jīng)由矩陣斗企測器13 4企測到。除此之外，光學(xué)系統(tǒng)由透鏡4、 9，鏡子(mirror) 或分束器5、 12，以及孔徑(aperture)組成。所有這些組件都示出特定的公 差。另外，這些屬性依賴于外部參數(shù)(例如溫度)的影響。這意味著即使 兩個(gè)全息存儲系統(tǒng)由相同組件組成，它們也不是完全相等的。換句話說，它 們的數(shù)據(jù)通道是不同的。這意味著在重建后的數(shù)據(jù)頁中可能出現(xiàn)需要補(bǔ)償 的亮度變化。為了補(bǔ)償上面的數(shù)據(jù)通道中的差異，根據(jù)本發(fā)明的全息存儲系統(tǒng)1具有 至少兩種操作模式20、 21。在圖2和圖3中示意性地示出了這些操作模式。 第一操作模式20是校準(zhǔn)模式，其中執(zhí)行校準(zhǔn)例程，而第二操作模式21是讀 取或?qū)懭肽Ｊ健Ｔ谌⒋鎯ο到y(tǒng)1啟動(dòng)時(shí)以及/或者在讀取或?qū)懭氩僮髦埃?由SLM6通過全息存儲系統(tǒng)1或者更具體地通過其數(shù)據(jù)通道16傳出22 —組 14測試數(shù)據(jù)頁15。換句話說，SLM6利用一組14測試數(shù)據(jù)頁15照亮全息存 儲介質(zhì)10,在反射型全息系統(tǒng)1的情況下，由全息存儲介質(zhì)10向檢測器13 反射該組測試數(shù)據(jù)頁，或者在透射型全息系統(tǒng)1的情況下，由全息存儲介質(zhì) 10向檢測器13透射該組測試數(shù)據(jù)頁。由檢測器13接收所傳出的那組14測 試數(shù)據(jù)頁15。隨后，確定24所傳出的那組14測試數(shù)據(jù)頁15與所接收的那 組14測試數(shù)據(jù)頁15之間的相關(guān)性(correlation )。在讀取或?qū)懭氩拍?1中， 使用25該相關(guān)性校正或降低由于不希望的系統(tǒng)參數(shù)變化產(chǎn)生的誤差。有利地，那組14測試數(shù)據(jù)頁15由每頁具有單個(gè)灰度值的頁15組成，如 圖3中示意性地示出的。貫穿那組14測試數(shù)據(jù)頁15,灰度值從黑(即SLM 像素值'0，)變化到最大亮度(即SLM像素值T )。這樣的組14允許確定 整個(gè)系統(tǒng)16的特性曲線。特性曲線呈現(xiàn)檢測器像素值對SLM像素值的依賴 性。作為一個(gè)例子，在圖4中圖示了一個(gè)單個(gè)像素的特性曲線。與最優(yōu)特性 曲線、即檢測器像素值與SLM像素值之間呈線性關(guān)系相比，實(shí)際的特性曲線 受到SLM 6、檢測器13和光學(xué)路徑的特性曲線的影響。在操作模式21中考 慮了該曲線。這通過經(jīng)由數(shù)值計(jì)算校正所檢測的圖像來實(shí)現(xiàn)?？商鎿Q地，可 以控制該裝置(setup)的光學(xué)參數(shù)和電子參數(shù)。例如，尤其當(dāng)使用CMOS檢 測器時(shí)，在檢測器13的偏置和增益方面出現(xiàn)顯著差異。同樣，SLM6和/或 光束輪廓(beam profile )可能不是完美統(tǒng)一的。在變化的操作條件下，可以 單獨(dú)地為每個(gè)全息數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)校準(zhǔn)這些差異。當(dāng)然，同樣可以組合兩種校 正，例如通過數(shù)值地校正那些不能通過控制光學(xué)參數(shù)和電子參數(shù)而被完全校 正的偏差。在圖5中示出了未校正的檢測器圖像和校正后的檢測器圖像的比較。圖 5b)中的每個(gè)像素是通過經(jīng)由使用校準(zhǔn)的線性回歸(linear regression )來校正 圖5a)中的原始檢測器圖像的對應(yīng)像素而獲得的。優(yōu)選地，在校準(zhǔn)例程期間，使用全息介質(zhì)IO的空部分，即沒有存儲數(shù)據(jù) 的區(qū)域?？商鎿Q地，在全息存儲介質(zhì)10沒有位于全息存儲系統(tǒng)1中的情況下， 執(zhí)行校準(zhǔn)例程。該后一方案僅對于透射型全息存儲系統(tǒng)1是可行的。另一解 決方案是使用在全息存儲介質(zhì)10上包括的特定測試數(shù)據(jù)頁15。通過利用參 考光束8照亮全息存儲介質(zhì)10來檢索這些測試數(shù)據(jù)頁。在圖6中，示出了在全息存儲介質(zhì)上提供的兩個(gè)示例測試數(shù)據(jù)頁15。這 些測試數(shù)據(jù)頁尤其適用于檢測被用于記錄的光束7、 8和被用于讀取的光束8 之間的波長失配。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)在讀出期間的波長失配導(dǎo)致所記錄的數(shù)據(jù)頁的 每個(gè)像素的圖像在檢測器陣列13的多個(gè)像素上的模糊(smearing )。該模糊取 決于波長失配的量，并且因此是波長失配的度量。當(dāng)使該模糊最小化時(shí)，實(shí) 現(xiàn)對該波長失配的最優(yōu)補(bǔ)償。然而，由于常規(guī)數(shù)據(jù)頁的數(shù)據(jù)圖案是不規(guī)則的， 所以使用重建后的常規(guī)數(shù)據(jù)頁的檢測器圖像來分析該模糊是相當(dāng)困難的(如 果該分析不是不可能的)。為了應(yīng)付該問題，在每個(gè)記錄區(qū)間(recording session)期間或者至少以規(guī)則的或不規(guī)則的時(shí)間間隔，將預(yù)定義的數(shù)據(jù)頁15記錄在全息存儲介質(zhì)10上。由于該數(shù)據(jù)頁15的數(shù)據(jù)圖案是已知的，所以其 可以被用來分析波長失配。除了所圖示的例子外，可以使用其它的數(shù)據(jù)圖案， 例如，圓、多個(gè)相等地或不同間隔的元素、多個(gè)條帶等等。由于已知陣列抬r 測器13上的哪些像素應(yīng)該是亮的以及哪些像素應(yīng)該是暗的，所以在讀出期 間，可以改變波長失配補(bǔ)償直到所讀出的數(shù)據(jù)圖案最佳地適合所期望的數(shù)據(jù) 圖案為止?？商鎿Q地，將多個(gè)通過試驗(yàn)預(yù)先確定的模糊的數(shù)據(jù)圖案與潛在的 (underlying)波長失配一起存儲在全息存儲系統(tǒng)1的存儲器中。通過將所檢 測的數(shù)據(jù)頁與所存儲的數(shù)據(jù)頁進(jìn)行比較，同樣可以確定并校正該波長失配。盡管在圖6中，將完整的數(shù)據(jù)頁15用于校準(zhǔn)，同樣可以保留常規(guī)數(shù)據(jù)頁 的特定區(qū)域用于校準(zhǔn)圖案，該校準(zhǔn)圖案類似于被用于將陣列檢測器13與所讀 出的數(shù)據(jù)頁對準(zhǔn)的已知的對準(zhǔn)圖案。
權(quán)利要求
1.一種校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)(1)的方法，具有以下步驟通過所述全息存儲系統(tǒng)(1)的至少一部分傳出(22)一組(14)測試數(shù)據(jù)頁(15)；利用檢測器(13)接收(23)一組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁(15)；將那組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁(15)與那組(14)傳出的測試數(shù)據(jù)頁(15)進(jìn)行比較(24)；以及基于該比較步驟(24)的結(jié)果，校正(25)所述全息存儲系統(tǒng)(1)的參數(shù)變化，其中，在所述傳出步驟(22)期間，沒有全息存儲介質(zhì)(10)位于所述全息存儲系統(tǒng)(1)中，或者僅利用物光束(7)照亮全息存儲介質(zhì)(10)的沒有存儲數(shù)據(jù)的空部分。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在所述全息存儲系統(tǒng)(1)啟動(dòng)時(shí) 以及/或者在讀取和/或?qū)懭氩僮髦皥?zhí)行該方法。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，在所述比較步驟(24)中，為 所述檢測器(13)的每個(gè)像素確定特性曲線。
4. 如權(quán)利要求1至3之一所述的方法，其中，由空間光調(diào)制器(6)通 過所述全息存儲系統(tǒng)(1 )傳出(22 )那組(14 )測試數(shù)據(jù)頁(15 )。
5. 如權(quán)利要求1至3之一所述的方法，還具有以下步驟 在所述全息存儲系統(tǒng)(1)的參考光束(8)的光束路徑中定位在全息存儲介質(zhì)(10)上布置的另一組(14)測試數(shù)據(jù)頁(15);以及通過利用所述參考光束(8)照亮在全息存儲介質(zhì)(10)上記錄的測試數(shù) 據(jù)頁(15)來通過所述全息存儲系統(tǒng)(1 )傳出所述另一組(14)測試數(shù)據(jù)頁 (15)。
6. 如前述權(quán)利要求之一所述的方法，其中，那組(14 )測試數(shù)據(jù)頁(15 ) 包括每頁具有單個(gè)灰度值的多頁測試數(shù)據(jù)頁(15)。
7. 如權(quán)利要求5所述的方法，其中，那組(14)測試數(shù)據(jù)頁(15)包括 具有用于檢測被用于記錄的光束(7、 8)和被用于讀取的光束(8)之間的波 長失配的像素圖案的至少一頁測試數(shù)據(jù)頁(15)。
8. 如權(quán)利要求7所述的方法，其中，所述將那組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁(15)與那組(14)傳出的測試數(shù)據(jù)頁(15)進(jìn)行比較(24)的步驟包括在所述檢 測器(13)上檢測所述測試數(shù)據(jù)頁(15)的模糊。
9. 一種用于從全息存儲介質(zhì)(10)讀取和/或向全息存儲介質(zhì)(10)寫 入的裝置(1 ),其特征在于其被適配為執(zhí)行如權(quán)利要求1至IO之一所述的 方法。
10. —種全息存儲介質(zhì)(10)，其特征在于包括用于校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng) (1 )的至少一組(14 )測試數(shù)據(jù)頁(15 )。
11. 如權(quán)利要求10所述的全息存儲介質(zhì)(10)，其中，那組(14)測試 數(shù)據(jù)頁(15 )包括每頁具有單個(gè)灰度值的多頁測試數(shù)據(jù)頁(15 )。
12. 如權(quán)利要求IO所述的全息存儲介質(zhì)(10),其中，那組(14)測試 數(shù)據(jù)頁(15)包括具有用于檢測被用于記錄的光束(7、 8)和被用于讀取的 光束(8)之間的波長失配的像素圖案的至少一頁測試數(shù)據(jù)頁(15)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種校準(zhǔn)全息存儲系統(tǒng)的方法、一種從全息存儲介質(zhì)讀取和/或向全息存儲介質(zhì)寫入的裝置、以及一種適用于該方法的全息存儲介質(zhì)。根據(jù)本發(fā)明，該方法具有以下步驟通過所述全息存儲系統(tǒng)的至少一部分傳出(22)一組測試數(shù)據(jù)頁；利用檢測器接收(23)一組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁；將那組發(fā)送的測試數(shù)據(jù)頁與那組傳出的測試數(shù)據(jù)頁進(jìn)行比較(24)；以及基于該比較步驟(24)的結(jié)果，校正(25)所述全息存儲系統(tǒng)的參數(shù)變化。
文檔編號G11B7/24GK101266804SQ200810082999
公開日2008年9月17日 申請日期2008年3月17日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月15日
發(fā)明者奧利弗·馬爾基, 弗蘭克·普日戈達(dá), 托馬斯·施密特-烏利格 申請人:湯姆森特許公司