專利名稱：閃速存儲器的內置自測試的制作方法
技術領域：
本發明涉及存儲器領域，更具體地，涉及存儲器一一例如閃速存儲器
(flash memory )--的內置自頂寸試。
背景技術：
移動終端(例如，移動電話)通常包括閃速存儲器，用于存儲用來控 制移動終端的操作和功能的程序。由于閃速存儲器設備變得越來越復雜，
于2002年8月8日提交并于2004年2月U日公布的歐洲專利申請 EP 1 388 788 Al公開了一種用于集成電路的內置自測試(BIST)電路。該 文件描述了一種適合于嵌入到集成電路中的BIST電路，用以測試尤其是 包括可尋址單元集合一一例如，半導體存儲器一一的集成電路。具體地， 該BIST電路被嵌入到設想為包括閃速存儲器的集成電路。該BIST電路包 括通用數據處理器，其可編程來執行對集成電路進行測試的測試程序。該 BIST電路還包括與通用數據處理器協同工作的加速器電路，用于按照測試 程序自主地對集成電路進行測試操作。該加速器電路包括適合于被裝入配 置參數的配置裝置，用于使加速器電路適配于特定類型的集成電路和特定 類型的測試程序。
到今天為止，要進行的測試種類必然隨閃速存儲器而變化。在現有技 術中已經建議由存儲器廠商(即存儲器制造者)在把存儲器交付(shipto) 給它們的消費者之前完成閃速存儲器的測試。例如，于2006年1月23日 提交并于2006年8月3日公布的國際PCT申請WO2006/081168 Al描述 了一種用于內置自測試的自動測試。在該文件中，討論了一種用于為閃速 存儲器設備的內置自測試電路提供可編程測試條件的方法。所述方法包 括提供適于調整在BIST電路中使用的測試條件的BIST接口；提供閃速 存儲器設備的存儲單元；以及提供適于測試閃速存儲器的BIST電路。所 述方法還包括與BIST接口進行一個或多個與測試條件相關聯的全局變 量的通信；基于由該全局變量所代表的值來調整由BIST電路使用的測試 條件；按照調整后的測試條件對閃速存儲器執行一個或多個測試操作；以及報告存儲器測試操作的結果。然而，該文件中所描述的方法的缺點在于， 其主要計劃用于在把存儲器交付給所述閃速存儲器的消費者之前的存儲 器的生產測試。
盡管上述現有技術文件的方法和裝置確實包含一些優點，zf旦看來仍然 需要可替換的、用于測試閃速存儲器的方法和/或裝置，其允許一旦閃速存 儲器設備已經被交付給閃速存儲器的消費者，由消費者對閃速存儲器設備
執行快速、簡便的芯片生產后測試(post-chip-productiontest)。例如，這 些閃速存儲器設備的消費者(例如，移動電話制造商，諸如Sony Ericsson Mobile Communication )將受益于查明所交付的閃速存儲器是正常地工 作還是已損壞-例如，包含硬件錯誤-的快速、簡便的方式。正是出于這 些及其它方面的考慮，產生了本發明。因此，本發明總的目的是提供一種 可替換的、用于閃速存儲器測試的方法和裝置，其允許進行閃速存儲器是 否損壞的簡便、快速的生產后(post-production)檢查。
發明概述
按照本發明的一個實施例，提供了 一種測試閃速存儲器設備的方法。 該閃速存儲器設備包括含有多個數據塊的閃速存儲器；數據塊存儲器， 用于臨時存儲所述數據塊中的一個數據塊；CPU;以及測試存儲器，其包 括存儲的、可由CPU執行的測試程序。所述方法包括下列步驟
a) 從閃速存儲器的所述多個數據塊的第一數椐塊中讀取(fetch)數據；
b) 將讀取的數椐臨時存儲到數據塊存儲器中；
c) 從測試存儲器中讀取測試模式(test pattern),
d) 將所述測試模式寫入到第 一數據塊；
e) 將寫入到第 一數據塊的測試模式讀回；
f) 通過比較在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中 讀回的測試模式，從而執行數據塊測試以查看第一數椐塊是否損壞；
g) 報告在步驟f)中執行的數椐塊測試的結果；以及
h) 通過把所述讀取的數椐從數據塊存儲器中寫回到第一數椐塊中，從 而還原第一數據塊。
在一個實施例中，以從步驟a)到h)的連續順序執行所述方法步驟。 在一個實施例中，執行數據塊測試的步驟f)包括對在步驟d)中寫 入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中讀回的測試模式進行逐位200780051778.3
(bit勿-bit)比較。
在一個實施例中，執行數據塊測試的步驟f)包括當在步驟d)中寫 入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中讀回的測試模式不相同時，確 定第一數據塊損壞。
在一個實施例中，從測試存儲器中讀取測試數據的步驟c)包括從 測試模式存儲器中讀取測試模式，其中該測試存儲器被合并到閃速存儲器 設備中。
在一個實施例中，報告數據塊測試結果的步驟g)包括把數椐塊測 試的結果裝入并存儲到專用的測試結果存儲器中。
在一個實施例中，該閃速存儲器包括復數N個數據塊，并且所述方法 還包括對該復數N個數據塊中的每一個數據塊執行在上述任一實施例中 所列舉的步驟，直到對全部的N個數據塊都完成數據塊測試。
按照本發明的另一個實施例，提供了一種計算機程序產品。該計算機 程序產品包括計算機程序代碼裝置，其用于當借助于具有計算機能力的電 子設備執行所述計算機程序代碼裝置時，完成按照上述任一 實施例的方 法。
按照本發明的又一個實施例，提供了一種數據處理設備。該數據處理 設備包括閃速存儲器設備，所述閃速存儲器設備包括具有多個數椐塊的 閃速存儲器；數據塊存儲器，其與所述閃速存儲器互連，以便數據塊從該 閃速存儲器轉移和存儲到該數據塊存儲器；以及CPU，其與所述閃速存儲 器和所述數據塊存儲器互連，并且被進一步配置成讀取、裝入和執行存儲 在所述存儲器中的程序代碼；其中所述閃速存儲器設備還包括帶有存儲的 測試程序的測試存儲器，該測試程序包括程序代碼裝置，當其^ 皮裝入所述 CPU時，使得該CPU執行用來實現從該測試存儲器裝入所述測試程序到 該CPU中的步驟的過程，并且響應于此而實現遵循下列步驟的過程
a) 從閃速存儲器的所述多個數椐塊的第 一數據塊中讀取數椐；
b) 將讀取的數據臨時存儲到數據塊存儲器中；
c) 從測試存儲器中讀取測試模式，
d) 將所述測試模式寫入到第 一數據塊；
e) 將寫入到第 一數據塊的測試模式讀回；
f) 通過比較在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中 讀回的測試模式，從而執行數據塊測試以查看第一數椐塊是否損壞；
6g) 報告數據塊測試的結果；以及
h) 通過把所述讀取的數據從數據塊存儲器中寫回到第一數據塊中，/人 而還原第一數據塊。
在一個實施例中，該數據處理設備還被設計成帶有程序代碼裝置，當 其被裝入所述CPU時，使得該CPU執行用來實現按照上述任一實施例的 方法步驟的過程。
在一個實施例中，該數據處理設備被使用于移動終端。
在一個實施例中，所述移動終端是移動電話。
在一個實施例中，所述移動終端是來自以下組中的終端，所述的組包 括移動無線電終端、蜂窩電話、尋呼機、通信裝置、智能電話、個人數 字助理(PDA)、電子組織器、計算機、數字音頻播放器或數碼相機。
本發明的某些實施例提供了 一種允許簡便、快速地生產后檢測閃速存 儲器是否損壞的方法和/或裝置。本發明的某些實施例具有的優點在于當 對閃速存儲器的數據塊執行內置自測試時，來自該數據塊的數據可以被臨 時保存在數據塊存儲器中。這樣,.有可能在不存在丟失或破壞閃速存儲器 中程序代碼的風險的情況下，執行閃速存儲器的按位(bitwise)的內置自 測試。換言之，本發明的某些實施例提供了如下的好處，即使得能在不 破壞存儲于閃速存儲器設備中的內容的情況下，對閃速存儲器設備執行測 試。
附圖簡述
通過下面的對本發明實施例的詳細描述，本發明進一步的目的、特征 和優點將會顯現出來，其中將參照附圖對本發明的實施例進行更詳細的描 述，在附圖中
圖1圖示了在其中可以實現本發明實施例的移動終端、以及在其中這
樣的移動終端可以運行的移動電信網絡；
圖2是按照本發明實施例的閃速存儲器設備的功能框圖；以及
圖3是按照本發明實施例的、對圖2中的閃速存儲器設備進行測試的
方法的流程圖。
實施例詳細說明
下文中，將參照示出本發明實施例的附圖，對本發明的實施例進行更 充分地描述。然而，本發明可以以許多不同的形式來體現，且不應被解釋為限于此處闡述的實施例。相反，提供這些實施例以使得本公開內容將是 全面的和完整的，并將向本領域技術人員充分地傳達本發明的范圍。同樣 的數字始終指的是同樣的單元。為了說明的目的，在下面的描述中將闡述 一些具體的細節，以便提供對本發明的一個或多個方面的透徹理解。然而， 對于本領域技術人員而言，很明顯的是，可以較少程度地用這些具體細節
來實踐本發明的一個或多個方面。在另外的實例中，為了便于描述本發明 的一個或多個方面，以框圖的形式示出了眾所周知的結構和設備。
按照本發明的實施例，可以使用自測試協議來執4亍閃速存儲器的內置 自測試。本發明實施例的自測試協議被適當地預先裝入到閃速存儲器設備 中，以使得閃速存儲器設備本身合并"內置自測試"。換言之，按照本發 明實施例的閃速存儲器設備預先裝入了要被用于測試合并到閃速存儲器 設備中的閃速存儲器的自測試協議。因此，該閃速存儲器設備本身包括關 于測試、以及用于測試閃速存儲器設備的閃速存儲器的方法的任何有用的 或必需的信息。應該意識到，該自測試協議通常是廠商特定的，并由廠商 具體地選擇以便與待測試的閃速存儲器相匹配。將自測試協議預先裝入到 閃速存儲器設備本身中所具有的優于已知現有技術解決方案的好處在于， 這使得該閃速存儲器設備的消費者在已被交付閃速存儲器設備時，能夠自 己對該閃速存儲器設備的閃速存儲器執行快速、簡便的測試。
在按照本發明實施例的閃速存儲器設備中，存儲的測試程序被預先裝 入到測試存儲器中。該測試程序包括上面描述的自測試協議——即關于測 試，以及用于測試閃速存儲器設備的閃速存儲器的方法的任何必要的信 息。例如，所存儲的測試程序例如可包括對于要為閃速存儲器設備的閃速 存儲器執行的內置自測試有用的和/或必要的任何測試模式、測試變量和/ 或測試向量。用于測試閃速存儲器的測試模式、測試變量和/或測試向量的
使用和操作對本領域的技術人員而言是已知的，例如從WO2006/081168 Al中已知，因此這里不再進一步說明。此外，應當強調的是，測試程序 可以是對廠商特定的，并且在把閃速存儲器設備交付給所述閃速存儲器設 備的消費者之前，可以由存儲器廠商把測試程序預先裝入到閃速存儲器設 備中。測試程序可被傳送到閃速存儲器的CPU。測試程序的程序代碼裝置 在被裝入到所述CPU中時，使得該CPU執行用來實現按照本發明實施例 的方法的過程。下面將更詳細地描述按照本發明實施例的方法。
現在參照圖1,其圖示了一個圖解移動終端100主要功能塊的框圖。移動終端IOO以移動電話的形式被圖示為在其中可以實現本發明實施例的
一個例示的數據處理設備。圖1還示出了在其中移動終端ioo可以運行的
可能的環境。移動終端IOO典型地包括天線(未示出)。話筒101、揚聲 器102、小鍵盤103以及顯示器104提供了用于操作移動終端100的人-機界面。移動終端100在運行時可以經由無線電鏈路130連接到移動通信 網絡120的無線電站110 (基站)，所述移動通信網絡120例如象GSM、 UMTS、 PCS、和/或DCS網絡。如圖1所示的移動電話的結構和操作對本 領域的技術人員而言是眾所周知的，因此這里將不做進一步的說明。另夕卜， 本發明的實施例可被實施到各種各樣的電子設備中。所述電子設備例如可 以是移動無線電終端、尋呼機、通信裝置、智能電話、個人數字助理(PDA )、 電子組織器、計算機、數字音頻播放器(諸如MP3播放器)、數碼相機， 等等。不過，下面將參考移動終端100，這僅僅是為了舉例說明的目的， 而不應被認為是對這里闡述的本發明實施例的限制。
圖2圖示了按照本發明實施例的閃速存儲器設備200的頂視圖。閃速 存儲器設備200被合并到數據處理設備中，諸如是圖1中的移動終端100。 閃速存儲器設備200包括CPU或控制器210 (例如，以常規ARM體系結 構實現的處理器)、以及閃速存儲器220。閃速存儲器220可以是任意類 型的閃速存儲器。例如，閃速存儲器220可以被實現為NOR閃速存儲器 或被實現為NAND閃速存儲器。閃速存儲器220被劃分為多個數椐塊(即 O號數據塊，1號數據塊，2號數據塊，…，N號數據塊)，每個數據塊具 有固定的數椐塊大小，以便在所述CPU中有效執行。例如，每個數椐塊 可以具有64、 128、 256或512kB的大小。除了所提到的那些大小之外的 其它塊大小當然也在本發明實施例的范圍之內。
閃速存儲器設備200與已知現有技術的區別在于，它還包括數據塊存 儲器230，其功能和操作將在下面更詳細地描述。這個數據塊存儲器230 可以是易失性存儲器，例如RAM、 DRAM、 eDRAM、 SRAM等等。閃速 存儲器設備200與已知現有技術的區別還在于，它另外包括內部測試存儲 器240。也就是，測試存儲器240被集成到閃速存儲器設備本身中。測試 存儲器240可以是非易失性存儲器的形式，例如ROM、 PROM、 EPROM 或EEPROM等等。如前所述，按照本發明實施例的測試存儲器包括存儲 的測試程序。雖然在圖2中測試存儲器被圖示為一單個單元，但應該意識 到測試存儲器240可以被實現為例如兩個分開的存儲器單元，其中一個存儲器單元包括測試變量，而另一個存儲器包括用于對閃速存儲器220執行 測試的測試模式。另外，如圖2所示，閃速存儲器設備200還可以包括BIST 結果存儲器250，用于存儲所執行的內置自測試(BIST)的結果。BIST結 果存儲器250例如可以是閃速存儲器類型。而且，閃速存儲器設備200典 型地包括輸入/輸出電路260和編程電路，該編程電路用于選擇性地尋址閃 速存儲器200的一個個數據塊。該編程電路部分地由一個或多個解碼器代 表，且包括一個或多個解碼器(例如，存儲器地址解碼器270和存儲器數 據記錄器280)，所述解碼器與I/O電路260合作以便選擇性地將閃速存
或阻抗，以便實現對相應存儲單元的指定的操作(例如，編程，讀出，擦 除，以及得到必要的電壓以實現這樣的操作)。如圖2中的箭頭所示，閃 速存儲器設備200的各種部件或單元通過總線互連。該總線是常規的控制 總線、數據總線和地址總線，它們使得CPU能夠以常規方式從存儲器中 讀取數據或向存儲器存儲數據。
現在參照圖3描述用于實現和使用本發明實施例的總體方法。諸如移 動終端100的數據處理設備包括圖2中所示的閃速存儲器設備200。閃速 存儲器設備200包括具有多個數據塊(即0號數椐塊，1號數據塊…N 號數椐塊)的閃速存儲器220;數據塊存儲器230,其與閃速存儲器220 互連，以便數據塊從該閃速存儲器220轉移和存儲到數據塊存儲器230; 以及CPU 210,其與閃速存儲器220和數據塊存儲器230互連，并且被進 一步配置成讀取、裝入和執行存儲在所述存儲器中的程序代碼。閃速存儲 器設備200還包括帶有存儲的測試程序的測試存儲器240,該測試程序包 括程序代碼裝置，當其被裝入到CPU210中時，使得CPU210執行用來實 現將測試程序從測試存儲器240裝入到所述CPU的步驟的過程。響應于 此，實現一個過程，該過程遵循依照于按照本發明實施例的總體方法的三 個主要方法步驟，即i)把來自閃速存儲器200的數據塊的數據臨時保存 到數椐塊存儲器230中；ii)當所保存的數據被臨時存儲在數據塊存儲器 230中時，對閃速存儲器220的所述數據塊執行測試，以查看該數據塊是 否損壞；以及iii) 一旦步驟ii)中的測試完成，就通過把所述讀取的數據 從數據塊存儲器230中寫回到正被討論的數據塊中，從而還原該數據塊。 方法步驟i)到iii)的過程可被重復用于閃速存儲器220中多個數據塊的 全部數據塊。這樣，按照本發明的實施例，可以完成對閃速存儲器220的
10按塊(block-wise )的測試。通過在對數椐塊執行測試時將來自該數據塊中 的數據臨時保存到數椐塊存儲器230中，使得有可能在不存在丟失或破壞 閃速存儲器220中程序代碼的風險的情況下，對閃速存儲器220執行內置
自測試。因此，該總體方法允許在不損害存儲于閃速存儲器設備200中的 內容的情況下對閃速存儲器設備200執行測試。
在步驟301,從閃速存儲器200的多個數據塊的第一數據塊中讀取數 據。在步驟302,把讀取的這個數椐裝入并存儲到可以臨時存儲所讀取的 數據的數椐塊存儲器230中。 一但所讀取的數據已被裝入并存儲到數據塊 存儲器230中，就可以對閃速存儲器200的該第一數據塊執行測試。在本 實施例中，該測試牽涉到四個步驟，即步驟303-306。在步驟303,從測試 存儲器240中讀取測試模式。然后，在步驟304,將讀取的這個測試模式 寫入到所述第一數據塊中。隨后，在步驟305,將寫入到第一數據塊中的 測試模式讀回。在步驟306,執行數據塊測試以查看第一數據塊是否損壞。 這個步驟牽涉到比較在步驟304中寫入到第一數椐塊的測試模式與在步驟 305中讀回的測試^=莫式。例如，該步驟可包括對在步驟304中寫入到第 一數據塊的測試模式與在步驟305中讀回的測試模式進行逐位比較。如果 這兩個測試模式彼此相同，則斷定第一數據塊工作正常。否則，如果這兩 個測試模式互不相同，則斷定第一數據塊在某方面被損壞。例如，第一數 據塊可能因為硬件錯誤而被損壞。步驟306之后，可在步驟307報告測試 的結果。這一步驟可牽涉到針對所測試的第一數據塊將結果報告為簡單的
"合格(passed)"和"不合格(failed)"結果。在某些實施例中，報告 的結果包括關于第一數據塊哪些部分"合格"或"不合格"的信息，例如， 哪些位損壞而哪些沒有。在某些實施例中，可將數據塊測試的結果裝入并 存儲到單獨的測試結果存儲器250中，以使得在測試以后這些結果是可提 供的。最后，在步驟308，通過把在步驟301中讀取的數據從數據塊存儲 器230中寫回到閃速存儲器220的第一數據塊中，從而還原第一數據塊。 在某些實施例中，以從步驟301到308的連續順序執行上述的方法步驟。 然而，圖3中的方法步驟不是必須按照圖3所示的精確順序來實行。實際 上，在本發明的某些實施例中，方法步驟的順序可以是不同的，例如，在 某些實施例中，步驟308可以先于步驟307執行。在優選實施例中，以相 應的方式針對閃速存儲器220的所有數據塊重復上述的方法步驟，直到對 于每一個數據塊都完成數據塊測試。優選地，但不是必需地，這是以連續的順序完成，即開始是對于0號數據塊的數據塊測試，接著是對于1號數 據塊的數據塊測試，接著是對于2號數據塊的數據塊測試，如此等等，直 到完成對于N號數據塊的最后的數據塊測試。在現有技術中，存儲器廠商正關注并專注(preoccupied)于改進他們 自身的存儲器設備的制造過程。從歷史的觀點上看，這典型地還牽涉到改 進對于要被交付給消費者的存儲器設備的存儲器廠商自我測試和測試方 法。盡管有存儲器設備的這種生產測試，但還是可能發生已交付的存儲器 設備確實損壞的情況，例如，包括一個或多個硬件錯誤。然而，到目前為 止，還沒有任何簡便、快速的芯片生產后的解決方案，用于由已經交付的 存儲器設備的消費者來檢測這些存儲器設備是否損壞。因為本發明的某些 實施例提供了用于測試閃速存儲器的方法和/或裝置，其允許進行閃速存儲 器是否損壞的簡便、快速的芯片生產后檢查，所以本發明的這些實施例滿 足了存儲器設備消費者中長久以來的需求。本發明的某些實施例的優點在 于它們允許一種簡便、快速的檢驗及測試閃速存儲器的方式，這種方式 不但可以由閃速存儲器廠商自己來執行，還可以在閃速存儲器交付之后由 它們的消費者來執行。因此，閃速存儲器的消費者可以自己簡便、快速地 檢查已安裝到其產品中的閃速存儲器設備是否損壞。以上參照特定的實施例對本發明進行了描述。然而，在所描述的那些 實施例之外的其它實施例也可能在本發明的范圍之內，例如，盡管上面的 實施例主要是相對于閃速存儲器進行討論的，但看來有可能將這些實施例 的基本原理也應用到其它類型的非易失性存儲器。在本發明的范圍之內， 可以提供用于由硬件或軟件或軟硬件的組合來執行所述方法的、與上述那 些方法步驟不同的方法步驟。本發明的不同的特征和方法步驟可被組合成 不同于所描迷的那些組合的其它組合。本發明僅受所附權利要求的限制。1權利要求
1.一種測試閃速存儲器設備的方法，該閃速存儲器設備具有包括多個數據塊的閃速存儲器；數據塊存儲器，用于臨時存儲所述數據塊中的一個數據塊；CPU；以及測試存儲器，其包括存儲的、可由CPU執行的測試程序；所述方法包括下列步驟a)從閃速存儲器的所述多個數據塊的第一數據塊中讀取數據；b)將讀取的數據臨時存儲到數據塊存儲器中；c)從測試存儲器中讀取測試模式，d)將所述測試模式寫入到第一數據塊；e)將寫入到第一數據塊的測試模式讀回；f)通過比較在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中讀回的測試模式，從而執行數據塊測試以查看第一數據塊是否損壞；g)報告在步驟f)中執行的數據塊測試的結果；以及h)通過把所述讀取的數據從數據塊存儲器中寫回到第一數據塊中，從而還原第一數據塊。
2. 按照權利要求1的方法，其中以從步驟a)到h)的連續順序執行 所述的方法步驟。
3. 按照權利要求l的方法，其中所述的執行數據塊測試的步驟f)包 括對在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中讀回的 測試模式進行逐位比較。
4. 按照權利要求3的方法，其中所述的執行數據塊測試的步驟f)包 括當在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中讀回的 測試模式不相同時，確定第一數據塊是損壞的。
5. 按照權利要求1的方法，其中所述的從測試存儲器中讀取測試數 據的步驟c)包括從測試模式存儲器中讀取測試模式，其中所述測試存 儲器被合并到所述閃速存儲器設備中。
6. 按照權利要求1的方法，其中所述的報告數據塊測試結果的步驟g) 包括把數據塊測試的結果裝入并存儲到專用的測試結果存儲器中。
7. 按照前迷權利要求1到6中任一項的方法，其中所述閃速存儲器 包括復數N個數據塊，并且所述方法還包括對該復數N個數據塊中的每 一個數據塊執行在權利要求1到6的任一項中所列舉的步驟，直到對全部的N個數據塊都完成數據塊測試。
8. —種計算機程序產品，該產品包括計算機程序代碼裝置，其當借 助于具有計算機能力的電子設備執行所述的計算機程序代碼裝置時，完成 按照權利要求1到7中任一項的方法。
9. 一種包括閃速存儲器設備的數據處理設備，所述閃速存儲器設備 包括具有多個數據塊的閃速存儲器；數據塊存儲器，其與所述閃速存儲以及CPU，其與所述閃速存儲器和所述數據塊存儲器互連，并且被進一步 配置成讀取、裝入和執行存儲在所述存儲器中的程序代碼；其中所述閃速 存儲器設備還包括帶有存儲的測試程序的測試存儲器，該測試程序包括程 序代碼裝置，當其被裝入所述CPU時，使得該CPU執行用來實現從該測 試存儲器裝入所述測試程序到該CPU中的步驟的過程，并且響應于此而 實現遵循下列步驟的過程a) 從閃速存儲器的所述多個數椐塊的第 一數據塊中讀取數據；b) 將讀取的數據臨時存儲到數據塊存儲器中；c) 從測試存儲器中讀取測試模式，d) 將所迷測試模式寫入到笫一數據塊；e) 將寫入到第一數據塊的測試模式讀回；f) 通過比較在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e) 中讀回的測試模式，從而執行數據塊測試以查看第 一數據塊是否 損壞；g) 報告數據塊測試的結果；以及h) 通過把所述讀取的數據從數據塊存儲器中寫回到第一數據塊中， 從而還原第一數據塊。
10. 按照權利要求9的數據處理設備，所述數據處理設備還被設計成 帶有程序代碼裝置，當其被裝入所述CPU時，使得該CPU執行用來實現 按照權利要求2-7中任一項的方法步驟的過程。
11. 按照權利要求9或10的數據處理設備，其中所述數據處理設備 被使用于移動終端。
12. 按照權利要求11的數據處理設備，其中所述移動終端是來自以 下組中的終端，所述的組包括移動無線電終端、移動電話、蜂窩電話、 尋呼機、通信裝置、智能電話、個人數字助理(PDA)、電子組織器、計 算機、數字音頻播放器或數碼相機。
全文摘要
本發明涉及在數據處理設備——尤其是移動終端——中的閃速存儲器設備(200)的內置自測試，該閃速存儲器設備包括具有多個數據塊的閃速存儲器(220)；數據塊存儲器(230)，用于臨時存儲所述數據塊中的一個數據塊；CPU(210)；以及測試存儲器(240)，其包括存儲的、可由CPU(210)執行的測試程序；其中所述方法包括a)從閃速存儲器(220)的所述多個數據塊的第一數據塊中讀取數據；b)將讀取的數據臨時存儲到數據塊存儲器(230)中；c)從測試存儲器(240)中讀取測試模式；d)將所述測試模式寫入到第一數據塊；e)將寫入到第一數據塊的測試模式讀回；f)通過比較在步驟d)中寫入到第一數據塊的測試模式與在步驟e)中讀回的測試模式，從而執行數據塊測試以查看第一數據塊是否損壞；g)報告在步驟f)中執行的數據塊測試的結果；以及h)通過把所述讀取的數據從數據塊存儲器(230)中寫回到第一數據塊中，從而還原第一存儲器塊。
文檔編號G11C29/56GK101632131SQ200780051778
公開日2010年1月20日 申請日期2007年8月3日 優先權日2007年2月26日
發明者D·弗林克, H·布林克, O·瓊森 申請人:索尼愛立信移動通訊股份有限公司