專利名稱:光盤判別方法
技術領域:
本發明有關一種光盤判別方法,尤其是關于光盤驅動器讀寫光盤時,用 以判別產生晃動光盤規格的方法。
背景技術:
為了增加光盤的存儲容量,光盤驅動器將激光光波長由紅外線光780nm, 紅光650nm,縮小至藍光405nm,使光束投射至光盤上的聚焦光點縮小,以讀 寫光盤上快速縮小的數據記號,讓光盤的存儲容量,由650M CD, 4. 7GDVD, 大幅提高至50GBD。同時各規格光盤的數據層位置也跟著改變。且因光盤驅 動器需向下相容舊規格的光盤,光盤驅動器讀寫數據前,需先判別出光盤的 規格,才能利用適當的聚焦光點正確讀寫光盤上的數據。
如圖1所示,為公知光盤的判別方法。公知判別光盤時,通過脈沖電壓 V的大小,驅動讀取頭H中的物鏡1上下移動,控制物鏡1將激光光束投射 在光盤W上。再由光盤W將光束反射回讀取頭H,穿過讀取頭H投射光能轉 換器2。光能轉換器2中包含等分為A、 B、 C及D等四個光接收部,分別接 收反射光束不同的區域反射光通量,并依四個光接收部A+C+B+D總接收反射 光通量強度,經由信號處理裝置3轉換處理成代表數據記號的RF(射頻)信號。
一般光盤W的透明層Y位于底部,光盤W的上表面為標簽層,具有反射 作用的數據層L,則位于透明層Y與標簽層之間。各規格光盤W的數據層L 距離透明層Y表面S分別為CD 1.2mm、 DVD 0.6 mm及BD 0.1 mm。當利用 預定速度驅動物鏡l往上移動,使投射光束穿透透明層Y時,因透明層Y對 光不產生反射作用,僅在透明層Y表面S部份反射投射光束,形成較低電平 基準的RF信號(如圖1中El信號),而其余的RF信號接近零。當投射光束繼 續上升,焦點投射到數據層L時,數據層L反射最強,形成另一較高電平基 準的RF信號(如圖1中E2信號)。接收到E1信號及E2信號間有一時間差AT。 由于物鏡l以預定速度移動,將預定速度乘以時間差AT,可算出透明層Y表 面S與數據層L之間隔距離,再對比各種規格光盤數據層L的標準,就能輕易判別光盤規格。
然而,光盤高速轉動時,難以避免或多或少上下晃動,尤其是光盤因制 造、輸運或收藏過程中材料變化、受熱不均、冷卻不足、涂敷不勻或受壓不 平等因素,導致光盤重量不平衡、不平整或翹曲等損傷情況,形成不正常的 光盤,更會造成高速轉動時劇烈晃動。當光盤晃動時,投射光束的焦點穿越
透明層表面S或數據層L的擺幅期間,將一再投射在表面S或數據層L,形 成連續RF信號振蕩行程,而難以確認El信號及E2信號基準點,正確獲得時 間差AT,極容易造成判別錯誤,導致光盤驅動器浪費許多時間在嘗試伺服控 制的循環中,降低光盤驅動器效能。因此,公知的光盤判別方法在光盤不正 常晃動上,仍有問題亟待解決。
發明內容
本發明的目的在提供一種光盤判別方法,通過決定投射光束焦點穿越透 明層表面及數據層所產生RF信號行程的基準點,獲得時間差,以正確判別不 正常晃動光盤。
本發明另一目的在提供一種光盤判別方法,利用定速移動投射光束焦點 穿越透明層表面及數據層,物鏡相對移動的高度,直接確認數據層的距離, 以加速判別不正常晃動光盤。
為了達到前述發明的目的,本發明的光盤判別方法,用以判別晃動光盤 的規格,首先以預先設定的定速移動物鏡進行判別行程,使投射光束穿越光 盤的透明層表面及數據層,記錄檢測到RF信號行程,檢查到達判別行程終點, 假如未到達,繼續定速移動物鏡進行判別行程,假如到達判別行程終點,則 分析記錄的RF信號行程,就光束焦點經過透明層表面及數據層,所分別形成 的信號振蕩行程,決定各信號振蕩行程的時間基準點,計算各信號振蕩行程 基準點的時間差,對比預先存儲各光盤規格特定時間差參數,以判別光盤。
本發明另 一光盤的判別方法,首先以非預先設定的定速移動物鏡進行判 別行程,使投射光束穿越光盤的透明層表面及數據層,記錄檢測到RF信號行 程,檢查到達判別行程終點,假如未到達,繼續定速移動物鏡進行判別行程, 假如到達判別行程終點,則分析記錄的RF信號行程,就光束焦點經過透明層 表面及數據層,所分別形成的信號振蕩行程,決定各信號振蕩行程的時間基 準點,計算各信號振蕩行程基準點的時間差,以非預先設定的定速乘以時間差,計算出物鏡在基準點間所走的高度,作為光盤的數據層與透明層表面距 離,再對比預先存儲各光盤規格數據層與透明層表面特定距離參數,以判別 光盤。
圖1為公知光盤判別方法的示意圖。
圖2為本發明第一實施例光盤判別方法的示意圖。
圖3為本發明第一實施例光盤判別方法的流程圖。
圖4為本發明第二實施例光盤判別方法的示意圖。
圖5為本發明第二實施例光盤判別方法的流程圖。
主要元件符號說明
Pl 開始判別步驟
P2 預定速度移動物鏡步驟
P3 記錄4企測到RF信號行程步驟
P4 檢查行程終點步驟
P5 分析RF信號行程步驟
P6 決定第一信號行程基準點步驟
P7 決定第二信號行程基準點步驟
P8 計算基準點時間步驟
P9 對比標準值步驟
P10判別光盤步驟
51 開始判別步驟
52 定速移動物鏡步驟
53 記錄^r測到RF信號行程步驟
54 4企查行程終點步驟
55 分析RF信號行程步驟
S 6 決定第 一信號行程基準點步驟
57 決定第二信號行程基準點步驟
58 計算基準點時間步驟
S9計算基準點間物鏡高度步驟 S10對比標準值步驟Sll判別光盤步驟
具體實施例方式
有關本發明為達成上述目的,所采用的技術手段及其功效,茲舉較佳實 施例,并配合附圖加以說明如下。
請參考圖2,為本發明第一實施例移動物鏡U投射光束穿越光盤W數據 層L產生信號的過程。光盤W在高速轉動時,物鏡U可從上往下或從下往上 移動,讓投射的光束穿越光盤W數據層L,進行判別光盤的判別行程。本實 施例以從下往上移動物鏡U穿越光盤W數據層L為例說明。當進行判別行程 F時,逐漸增加電壓驅動物鏡U以預先設定的定速度由下往上移動接近光盤W。 在投射光束的焦點未接觸光盤W前,投射光束被漫射,無法產生RF信號。但 當投射光束焦點一接觸光盤W擺幅的最下端,焦點投射在透明層表面S上, 透明層表面S將部份反射投射光線,在時間點Tl開始產生較低準位的RF信 號。由于轉動中的光盤W上下晃動,透明層表面S跟著快速上下晃動,使投 射光束焦點穿越透明層表面S擺幅中,多次投射在透明層表面S上,直到時 間點T2,焦點脫離透明層表面S擺幅的最上端,其間產生連串的RF信號形 成第一信號振蕩行程Gl,然后RF信號才降回為零。
當繼續以預定速度移動物鏡U進行判別行程F時,接著投射光束焦點接 觸數據層L擺幅的最下端,焦點一4殳射在數據層L上,具有反射作用的數據 層L,在時間點T3開始產生較高準位的RF信號,轉動中的光盤W同樣讓數 據層L跟著快速上下晃動,使投射光束焦點穿越數據層L擺幅中,多次才殳射 在數據層L上,直到時間點T4,焦點脫離數據層L擺幅的最上端,其間產生 連串的RF信號形成第二信號振蕩行程G2,然后RF信號降至零,直到完成判 別行程F。
由于數據層L在每一光盤規格中的位置不同,但與透明層表面S均具有 特定距離。高速轉動的光盤D雖然會產生上下晃動的擺幅,但在上下晃動中, 數據層L與透明層表面S仍然維持特定距離,即光盤D晃至擺幅的最下端, 數據層L與透明層表面S也會跟著晃至至其各自擺幅的最下端,且數據層L 與透明層表面S仍然維持在特定距離;同理,光盤D晃至擺幅的最上端,數 據層L與透明層表面S也會跟著晃至至其各自擺幅的最上端,且數據層L與 透明層表面S仍然維持在特定距離,顯然數據層L與透明層表面S在擺幅中,相對的位置均維持在特定距離。
假如取數據層L與透明層表面S在擺幅中的相對基準點,例如兩者擺幅
最下端的位置,由測得透明層表面S最下端RF信號的時間點Tl,與測得數 據層L最下端RF信號的時間點T3,獲得T3 - T1-時間差AT1,就可由預 定速度移動的物鏡U,計算行走各光盤規格所指定數據層L與透明層表面S 特定距離所需的時間,作為各光盤規格特定參數,將時間差與的相互對比以 判別光盤的規格。同理,假如取數據層L與透明層表面S在擺幅中最上端的 位置,作為相對的基準點,由透明層表面S測得最上端RF信號的時間點T2, 與由數據層L測得最上端RF信號的時間點T4,獲得T4 -T2-時間差AT2, 亦能判別光盤的規格。實際上,因量測及計算精度,時間差AT2與時間差A Tl稍有差異,-f旦理論上,時間差AT2應等于時間差AT1。
其中時間差△ Tl,實際上在量測第 一振蕩信號行程Gl始點與第二信號振 蕩行程G2始點的時間差,而時間差AT2,在量測第一信號振蕩行程Gl終點 與第二信號振蕩行程G2終點的時間差。由于信號振蕩行程的始點與終點分別 為RF信號的出現及結束位置,利用前述RF信號的界限作為基準點,容易區 分確認,即可免受信號振蕩行程連串RF信號難以的確認基準點的干擾,輕易 判別光盤。
如圖3所示,為本發明第一實施例光盤判別方法的流程。本發明利用擷 取光盤上下晃動產生信號行程的相對基準點,所構成的時間差,判別光盤的 詳細步驟說明如下步驟Pl開始進行判別光盤;首先在步驟P2以預定速度 移動物鏡進行判別行程,使投射光束的焦點進行穿越透明層及數據層;進入 步驟P3,將檢測到RF信號的行程,加以記錄存儲;接著進入步驟P4,檢查 是否到達判別行程終點?假如未到達判別行程終點,則回至步驟P2,繼續以 預定速度移動物鏡進行判別行程,否則, 一到達判別行程終點,就進入步驟 P5,分析步驟P3記錄存儲RF信號行程,依時間先后劃分RF信號行程為第一 信號振蕩行程及第二信號振蕩行程等;再進入步驟P6,決定第一信號振蕩行 程基準點時間,例如信號振蕩行程始點或終點時間;進入步驟P7,決定第二 信號振蕩行程基準點時間,例如信號振蕩行程始點或終點時間;進入步驟P8, 計算第一信號振蕩行程及第二信號振蕩行程基準點時間差,例如第一信號振 蕩行程及第二信號振蕩行程始點間時間差,或第 一信號振蕩行程及第二信號 振蕩行程終點時間差;進入步驟P9,與預先存儲的各光盤規格特定時間差作對比,找出相同者;最后進入步驟PIO,依據步驟P9對比出相同光盤規格特 定時間差,判別光盤。
經由前述步驟,本發明第一實施例光盤判別方法,即可在投射光束焦點 穿越光盤晃動透明層表面及數據層時,所產生RF信號振蕩行程,通過決定振 蕩行程中易于確認的基準點,獲得時間差,正確判別不正常晃動光盤的規格, 避免對晃動光盤規格的誤判,減少光盤驅動器浪費時間在嘗試伺服控制的循 環中,以提升光盤驅動器效能。
如圖4所示,為本發明第二實施例移動物鏡U投射光束穿越光盤W數據 層L產生信號的過程。本發明第一實施例光盤判別方法雖在獲得基準點時間 差,即以對比方式判別出光盤,加速完成判別程序。然而,光盤驅動器因系 統精密度及環境因素,難以完全控制在預定速度進行光盤判別行程。常造成 實際量測的時間差與以預定速度所計算的時間差有所出入,而導致誤判。因 此,本發明第二實施例光盤判別方法,以非預設的定速移動物鏡U,進行判 別行程F,同第一實施例記錄檢測RF信號行程,以第一信號振蕩行程Gl及 第二信號振蕩行程G2的始點T1、 T3,或終點T2、 T4為相對時間的基準點, 獲得時間差AT1及AT2,再以定速乘以時間差,直接算出物鏡U相對光盤W 的數據層L與透明層表面S間距,行走的高度AK1及AK2 ,作為光盤W的 數據層L與透明層表面S的距離,正確判別出光盤,以避開難以控制正確預 定速度的困擾。
如圖5所示,為本發明第二實施例光盤判別方法的流程。本實施例利用 定速及時間差,直接算出光盤的數據層與透明層表面的距離,判別光盤的詳 細步驟說明如下本實施例由步驟S1開始判別、步驟S2移動物鏡、步驟S3 記錄檢測RF信號行程、步驟S4檢查判別行程終點?步驟S5分析RF信號行 程、步驟S6決定第一信號振蕩行程基準點、步驟S7決定第二信號振蕩行程 基準點時間,至步驟S8計算信號振蕩行程基準點時間差,基本上與第一實施 例相同,其中不同點僅在步驟S2本實施例以非預定的定速移動物鏡。完成步 驟S8后,本實施例即進入步驟S9,利用步驟S8所得的時間差乘以步驟S2 所用的定速,直接計算出物鏡在基準點間所走的高度,作為光盤的數據層與 透明層表面距離;進入步驟PIO,與預先存儲的各光盤規格特定數據層距離 作對比,找出相同者;最后進入步驟Pll,依據步驟P10對比出相同光盤規 格數據層距離,判別光盤。經由前述步驟,本發明第二實施例光盤判別方法,即可利用非預定的定
速,移動投射光束焦點穿越透明層表面及數據層,在兩RF信號行程的相對基 準點,直接計算出物鏡相對移動的高度,作為數據層與透明層的距離,以減 少控制物鏡移動速度至預定速度的誤差,使光盤在晃動時,仍能正確判別光盤。
以上所述僅為本發明的較佳實施例,凡依本發明權利要求所進行的等效 變化與修改,皆應屬本發明的涵蓋范圍。
權利要求
1. 一種光盤判別方法,用以判別晃動光盤的規格,其步驟包含(1)定速移動物鏡進行判別行程,使投射光束穿越光盤的透明層表面及數據層;(2)記錄檢測到RF信號行程;(3)檢查是否到達判別行程終點?假如未到達判別行程終點,則回至步驟(1),假如到達判別行程終點,進入步驟(4);(4)分析記錄的RF信號行程,決定各信號振蕩行程的時間基準點;(5)計算各信號振蕩行程基準點的時間差;以及(6)對比預先存儲各光盤規格特定參數,以判別光盤。
2. 依據權利要求1所述的光盤判別方法,其中該步驟(4)分析記錄的RF 信號行程中,光束焦點經過透明層表面及數據層分別形成一信號振蕩行程。
3. 依據權利要求1所述的光盤判別方法,其中該步驟(4)以各信號振蕩行 程的始點為基準點。
4. 依據權利要求1所述的光盤判別方法,其中該步驟(4)以各信號振蕩行 程的終點為基準點。
5. 依據權利要求1所述的光盤判別方法,其中該步驟(l)以預先設定的 定速移動物鏡。
6. 依據權利要求5所述的光盤判別方法,其中該步驟(6)以步驟(1)預先 設定的定速,計算出各光盤規格數據層L與透明層表面S所需時間,作為預 先存儲的特定參數。
7. 依據權利要求1所述的光盤判別方法,其中該步驟(l)以非預先設定的 定速移動物鏡。
8. 依據權利要求7所述的光盤判別方法,其中該步驟(5)后進一包含步驟(5-1)以非預先設定的定速乘以時間差,計算出物鏡在基準點間所走 的高度,作為光盤的數據層與透明層表面距離。
9. 依據權利要求8所述的光盤判別方法,其中該步驟(6)預先存儲的特定 參數,為各光盤規才各數據層與透明層表面的距離。
全文摘要
一種光盤判別方法,用以判別晃動光盤的規格,首先以預先設定的定速移動物鏡進行判別行程,使投射光束穿越光盤的透明層表面及數據層,記錄檢測到RF信號行程,檢查到達判別行程終點,假如未到達,繼續定速移動物鏡進行判別行程,假如到達判別行程終點,則分析記錄的RF信號行程,就光束焦點經過透明層表面及數據層,所分別形成的信號振蕩行程,決定各信號振蕩行程的時間基準點,計算各信號振蕩行程基準點的時間差,對比預先存儲各光盤規格特定時間差參數,以判別光盤。
文檔編號G11B19/12GK101471111SQ20071030542
公開日2009年7月1日 申請日期2007年12月28日 優先權日2007年12月28日
發明者徐嘉星, 蕭亦隆 申請人:廣明光電股份有限公司