半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制作方法
                            
            
                            
            文檔序號(hào)：6779531閱讀：167來(lái)源：國(guó)知局
            
                            
                        
            
                        
            
                        
            
                            專利名稱：半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置的制作方法
            
技術(shù)領(lǐng)域：
            本發(fā)明涉及包含多個(gè)不同種存儲(chǔ)器的復(fù)合型存儲(chǔ)器半導(dǎo)體裝置， 并涉及其組合、其控制方法、還涉及多芯片模塊的安裝構(gòu)造。
            
技術(shù)背景本說(shuō)明書中參照到的文獻(xiàn)的列表如下，文獻(xiàn)的參照以文獻(xiàn)號(hào)碼為 準(zhǔn)。文獻(xiàn)1LRS1337 Stacked Chip 32M Flash Memory and 4M SRAM Data Sheet([2000年4月21日檢索、因特網(wǎng)〈 URL:http:〃www.sharpsma.com/index.html >)文獻(xiàn)2特開(kāi)平 5-299616號(hào)公報(bào)(對(duì)應(yīng)歐洲專利公開(kāi)公報(bào)566， 306號(hào)、1993年10月 20日)、[文獻(xiàn)3]:特開(kāi)平7-146820號(hào)公報(bào)、[文獻(xiàn)4特開(kāi)2001-5723 號(hào)公報(bào)。[文獻(xiàn)1揭示一種復(fù)合型半導(dǎo)體存儲(chǔ)器，其閃存器(flash memory) (32M bit容量)及SRAM(4M bit容量)通過(guò)堆棧芯片被一體密封在 FBGA型封裝體中。閃存器及SRAM對(duì)在FBGA型封裝體的輸入輸 出電極其地址輸入端子及數(shù)據(jù)輸入輸出端子共通化。但各控制端子各 自獨(dú)立。[文獻(xiàn)2的圖17揭示一種復(fù)合型半導(dǎo)體存儲(chǔ)器，其中閃存器芯片 及DRAM芯片一體密封在引線框型封裝體中。又，圖1中，其閃存 器及DRAM對(duì)在封裝體的輸入輸出電極的地址輸入端子、數(shù)據(jù)輸入 輸出端子及控制端子被共通化而輸入輸出。[文獻(xiàn)3]的圖1顯示一種統(tǒng)，其由作為主存儲(chǔ)裝置的閃存器、 快取存儲(chǔ)器、控制器及CPU所構(gòu)成。[文獻(xiàn)4]的圖2顯示為一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器，其由閃存器、DRAM 及傳送控制電路所構(gòu)成。本發(fā)明人等在本發(fā)明之前曾對(duì)移動(dòng)電話及其所使用的閃存器及 SRAM的1封裝體中所安裝的存儲(chǔ)模塊進(jìn)行研究。移動(dòng)電話所處理的應(yīng)用程序、數(shù)據(jù)、工作區(qū)隨著移動(dòng)電話的附加 功能(音樂(lè)或游戲等配送等)的增加而增大，可預(yù)見(jiàn)將需要存儲(chǔ)容量更 大的閃存器或SRAM。再者，最近移動(dòng)電話的高功能化非常普遍，大 容量存儲(chǔ)器的需求因而提高。目前，移動(dòng)電話所用的閃存器采用稱為NOR方式的存儲(chǔ)器陣列 方式的NOR型閃存器。NOR方式降低存儲(chǔ)單元陣列的寄生電阻的陣 列方式，其對(duì)并聯(lián)連接的存儲(chǔ)單元以2個(gè)中1個(gè)的比例設(shè)置金屬位線 接點(diǎn)，以求低電阻化。因此讀取時(shí)間約80ns，與大容量中速SRAM的 讀取時(shí)間大致相同。但是，相反地，由于必須對(duì)每2個(gè)存儲(chǔ)單元設(shè)置 l個(gè)接點(diǎn)，故接觸部占芯片面積的比例高，每l位的存儲(chǔ)單元的面積 大，無(wú)法應(yīng)付大容量化的要求。代表性大容量閃存器中有存儲(chǔ)器陣列使用AND方式的AND型閃 存器及4吏用NAND方式的NAND型閃存器。這種閃存器對(duì)16 ~ 128 個(gè)存儲(chǔ)單元設(shè)置1個(gè)位線接點(diǎn)，故可實(shí)現(xiàn)高密度的存儲(chǔ)器陣列。因此， 每1位元的每一存儲(chǔ)單元的面積可小在NOR型FLASH,可符合大容 量化的需求。但是，相反地，輸出最初的數(shù)據(jù)為止的讀取時(shí)間約25fis 到50jis ，較慢，難以與SRAM取得匹配性。閃存器即使在電源切斷時(shí)也可保持?jǐn)?shù)據(jù)，但SRAM為了在移動(dòng)電 話電源切斷之時(shí)也可保持?jǐn)?shù)據(jù)而連接到電源。為了長(zhǎng)期保持?jǐn)?shù)據(jù)， SRAM的數(shù)據(jù)保持電流越小越好。但是，大容量SRAM有存儲(chǔ)器容量 越大數(shù)據(jù)保存電流越大的問(wèn)題，且柵極漏電流增大會(huì)造成數(shù)據(jù)保持電 流增加等問(wèn)題。這是由于為了得到大容量SRAM，使用細(xì)微加工將 MOS電晶體的氧化絕緣膜薄膜化，使得隧道電流從柵極流到基板，導(dǎo) 致數(shù)據(jù)保持電流增加的緣故。如此可得知，在SRAM的大容量化的同 時(shí)要降低數(shù)據(jù)保持電流，越來(lái)越困難
            發(fā)明內(nèi)容
            
因此，本發(fā)明的目的之一即為得到存儲(chǔ)容量大且可高速讀取、寫入的ROM及存儲(chǔ)容量大且數(shù)據(jù)保持電流少的RAM。本發(fā)明的代表性手段的一例下所示。即， 一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置， 特征在于包含非易失性存儲(chǔ)器，其具有第l讀取時(shí)間；隨機(jī)存取存 儲(chǔ)器，其具有第2讀取時(shí)間，其讀取時(shí)間較所述第1讀取時(shí)間短100 倍以上；控制電路，其與所述非易失性存儲(chǔ)器及所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器 連接，并用于控制對(duì)所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器及所述非易失性存儲(chǔ)器的存 ??；及多個(gè)輸入輸出端子，與所述控制電路連接，其中，所述控制電 路按照從所述多個(gè)輸入輸出端子輸入的信號(hào)，控制非易失性存儲(chǔ)器和 所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器之間的數(shù)據(jù)傳送。此時(shí)，控制電路只要進(jìn)行控制，事先將閃存器的數(shù)據(jù)的至少一部 分從非易失性存儲(chǔ)器傳送到DRAM即可。對(duì)非易失性存儲(chǔ)器的寫入， 在先寫入RAM后，在從半導(dǎo)體裝置外收到存取要求時(shí)，再將RAM 的數(shù)據(jù)寫入非易失性存儲(chǔ)器即可。再者，控制電路也可進(jìn)行控制，以 從半導(dǎo)體裝置外隱藏RAM為DRAM時(shí)的更新。如上所述，本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊沿用SDRAM接口方式，在DRAM 中預(yù)設(shè)一個(gè)可復(fù)制FLASH的一部分?jǐn)?shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)的區(qū)域，并預(yù)先 將數(shù)據(jù)從FLASH傳送到DRAM,因而可以與DRAM同等的速度讀 出FLASH的數(shù)據(jù).對(duì)FLASH寫入時(shí)，可以先將數(shù)據(jù)寫入DRAM, 再視需要寫回FLASH,故數(shù)據(jù)的寫入速度也與DRAM相當(dāng)。在存儲(chǔ) 模塊的內(nèi)部，從FLASH讀取時(shí)，進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)，在寫入時(shí)，對(duì)在未 正確寫入的不良地址進(jìn)行替代處理，故可高速處理，且可保持可靠度。 再者，由于使用大容量DRAM，除了可復(fù)制FLASH的數(shù)據(jù)的區(qū)域夕卜， 也可確保大容量的工作區(qū)域，而符合移動(dòng)電話的高功能化的需求。數(shù)據(jù)更新管理電路CPB所保持的DRAM的地址信息中，將對(duì) FLASH的寫入結(jié)束時(shí)的地址信息清除，并將對(duì)應(yīng)于所保持的地址的數(shù) 據(jù)全部寫入FLASH,則數(shù)據(jù)更新管理電路CPB的地址信息全部被清 除。所有的數(shù)據(jù)從DRAM傳送到FLASH后，切斷DRAM的電源。 通過(guò)切斷電源，可節(jié)約電力。
            

            

            
圖l所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的構(gòu)成圖。圖2所示為顯示圖1的CHIP2的一例的區(qū)塊圖。圖3所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的地址映像的一例的說(shuō)明圖。圖4所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的地址映像的一例的說(shuō)明圖。圖5所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊在電源投入時(shí)的動(dòng)作的一例 的圖。圖6所示為從本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊內(nèi)的FLASH對(duì)DRAM傳送數(shù)據(jù)的動(dòng)作的流程的流程圖。圖7所示為從本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊內(nèi)的DRAM對(duì)FLASH傳送數(shù)據(jù)的動(dòng)作的流程的流程圖。圖8A-B所示為對(duì)本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊內(nèi)的DRAM進(jìn)行讀取動(dòng)作及寫入動(dòng)作的流程的流程圖。圖9所示為圖2所示的數(shù)據(jù)更新管理電路CPB的動(dòng)作的一例的圖。 圖IO所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊在斷電時(shí)的動(dòng)作的流程的流程圖。 圖11所示為來(lái)自存儲(chǔ)模塊外部的載入命令造成的DRAM的動(dòng)作的一例的圖。圖12所示為來(lái)自存儲(chǔ)模塊外部的儲(chǔ)存命令造成的DRAM的動(dòng)作 的一例的圖。圖13A-B所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊內(nèi)對(duì)DRAM的的讀取動(dòng)作及寫入動(dòng)作的一例的圖。圖14所示為儲(chǔ)存命令造成的對(duì)DRAM的讀取動(dòng)作進(jìn)行時(shí)，從外部對(duì)DRAM產(chǎn)生讀取動(dòng)作時(shí)從DRAM的讀取動(dòng)作的一例的圖。 圖15所示為圖l所示的FLASH的一構(gòu)成例的區(qū)塊圖。 圖16所示為從圖15所示的FLAH讀取數(shù)據(jù)時(shí)時(shí)時(shí)序圖的一例。 圖17所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的一構(gòu)成例的圖。 圖18所示為圖17所示的FLASH的一構(gòu)成例的區(qū)塊圖。 圖19所示為從圖18所示的FLAH讀取數(shù)據(jù)的時(shí)序圖的一例。
            
圖20所示為DRAM的一構(gòu)成例的區(qū)塊圖。圖21所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的構(gòu)成圖。圖22所示為圖22的CHIP2的一例的區(qū)塊圖。圖23所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的地址映像的一例的說(shuō)明圖。圖24所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的地址映像的一例的說(shuō)明圖。圖25所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊在電源投入時(shí)的動(dòng)作的一 例的圖。圖26為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊在電源投入時(shí)的動(dòng)作的一例的圖。圖27A-C所示為對(duì)本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊存取的優(yōu)先順序及動(dòng)作的一 例的圖。圖28A-B所示為來(lái)自存儲(chǔ)模塊外部的載入命令及儲(chǔ)存命令所造成的DRAM的動(dòng)作的一例的圖。圖29A-B所示為栽入命令及儲(chǔ)存命令對(duì)DRAM進(jìn)行存取時(shí)，從外部對(duì)DRAM產(chǎn)生存取時(shí)DRAM的動(dòng)作的一例的圖。 圖30所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的時(shí)序圖一例。 圖31所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的時(shí)序圖的一例。 圖32所示為SRAM的一構(gòu)成例的區(qū)塊圖。 圖33A-B所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的安裝形態(tài)的一例。 圖34A-B所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的安裝形態(tài)的一例。 圖35所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的構(gòu)成圖。 圖36所示為圖35的CHIP2的一例的區(qū)塊圖。 圖37所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的地址映像的一例的說(shuō)明圖。圖38A-C所示為從外部同時(shí)對(duì)DRAM進(jìn)行存取及更新的情形的 說(shuō)明圖。
            
圖39A-C所示為同時(shí)從外部存取DRAM及從內(nèi)部存取DRAM存取的情形的說(shuō)明圖。圖40A-B所示為DRAM的更新方式的一例的圖。圖41A-B所示為WORK期間、REF.期間的切換時(shí)接手存取的情形的說(shuō)明圖。圖42所示為使用了本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的時(shí)序圖的一例，圖43A-B所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的安裝形態(tài)的一例。圖44A-B所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的安裝形態(tài)的一例。圖45所示為利用本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的移動(dòng)電話的構(gòu)成例的圖。
            
具體實(shí)施方式
            
以下，使用附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施例。構(gòu)成實(shí)施例的各區(qū)塊 的電路元件并不特別受限，可通過(guò)已知的CMOS(互補(bǔ)型MOS電晶體) 等集成電路技術(shù)在單晶硅等1個(gè)半導(dǎo)體基板上形成。<實(shí)施例1>圖1所示為存儲(chǔ)模塊的第一實(shí)施例，其為使用本發(fā)明的半導(dǎo)體集 成電路裝置的一例。本存儲(chǔ)模塊由3個(gè)芯片所構(gòu)成。以下說(shuō)明各芯片。首先，CHIP1(FLASH)為非易失性存儲(chǔ)器。非易失性存儲(chǔ)器可用 ROM(只讀存儲(chǔ)器)、EEPROM(電可擦可編程ROM)、閃存器等。本 實(shí)施例中所用的CHIP1的非易失性存儲(chǔ)器的典型例如為廣義的 NAND型閃存器，通常具有約256Mb的存儲(chǔ)容量，其讀取時(shí)間(從讀 取要求開(kāi)始到輸出數(shù)據(jù)為止之時(shí)間)約25jis到50fis，比較慢。相對(duì)在 此，CHIP3通常使用SDRAM，其具有256Mb左右的存儲(chǔ)容量，讀取 時(shí)間約35ns。即，CHIP3的讀取時(shí)間與CHIP1相比至少短100倍以 上。對(duì)照在此，NOR型閃存器的讀取時(shí)間約80ns，與DRAM具有相 同次元的讀取時(shí)間。本發(fā)明提供一解決方式，以對(duì)讀取時(shí)間的差異大 的存儲(chǔ)器效率地進(jìn)行存取。又，DRAM依其內(nèi)部構(gòu)成或接口的差異有 EDO、 SDRAM、 DDR-SDRAM等各種種類。本存儲(chǔ)模塊可利用各種 DRAM，在本實(shí)施例以時(shí)鐘同步型DRAM的典型例的SDRAM為例 說(shuō)明。CHIP2(CTL—LOGIC)中裝栽對(duì)CHIP1及CHIP3進(jìn)行控制的控 制電路。對(duì)本存儲(chǔ)模塊輸入地址(AO ~ A15)、時(shí)鐘信號(hào)(CLK)及指令信號(hào) (CKE， /CS， /RAS, /CAS， /WE, DQMU/DQML )。電源通過(guò)S誦VCC， S-VSS， L-VCC，L腸VSS，F(xiàn)國(guó)VCC， F國(guó)VSS， D1畫VCC， D1畫VSS供給，數(shù)據(jù)的 輸入輸出使用DQ0~DQ15。本存儲(chǔ)模塊通過(guò)所謂SDRAM接口而動(dòng) 作。CHIP2供給CHIP1， CHIP3的動(dòng)作上需要的信號(hào)。CHIP2對(duì) CHIP1供給串列時(shí)鐘(F - SC)、地址及FLASH用數(shù)據(jù)(1/00 ~ 1/07)、 指令(F-CE， F-/OE, F畫/WE， F-/RES, F-CDE， F-RDY/BUSY)。再者， CHIP2對(duì)CHIP3供給時(shí)鐘(D1-CLK)、地址(D1-A0 ~ Dl-A14)、指令 (D1-CKE， DWCS， D1國(guó)/RAS， D1畫/CAS， D1-/WE， D1-DQMU/DQML)、 DRAM用數(shù)據(jù)(D1-DQ0 ~ D1-DQ15)。在此簡(jiǎn)單說(shuō)明各指令信號(hào)。輸入到CHIP2的CLK為時(shí)鐘信號(hào)、 CKE為時(shí)鐘啟動(dòng)信號(hào)、/CS為芯片選擇信號(hào)、/RAS為行地址選通信 號(hào)、/CAS為列地址選通信號(hào)、/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)、DQMU/DQML 為輸入輸出屏蔽信號(hào)。CHIP3中輸入的D1-CLK為時(shí)鐘信號(hào)、D1-CKE 為時(shí)鐘啟動(dòng)信號(hào)、01-/08為芯片選擇信號(hào)、D1-/RAS為行地址選通信 號(hào)、D1-/CAS為列地址選通信號(hào)、D1-/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)、 D1-DQMU/DQML為輸入輸出屏蔽信號(hào)。CHIP1中輸入的F-/CE為 芯片啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-/OE為輸出啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-SC 為串列時(shí)鐘信號(hào)，F(xiàn)-ZRES為重置信號(hào)，F(xiàn)-CDE為指令數(shù)據(jù)啟動(dòng)信號(hào)， F-RDY/BUSY為待命/忙碌信號(hào)，I/O0~I/O7為輸入輸出信號(hào)，用于 地址的輸入或數(shù)據(jù)的輸入輸出。CHIP2的控制電路(CTL一LOGIC)根據(jù)從外部輸入的地址的值， 選擇CHIP2的控制電路(CTL一LOGIC)中設(shè)置的指令寄存器，或是 CHIP3的DRAM，或是CHIP1的FLASH。通過(guò)在控制電路 (CTL一LOGIC)中設(shè)置的控制寄存器中設(shè)定數(shù)值，可區(qū)別外部的存取對(duì)
            
指令寄存器的存取、對(duì)DRAM的存取、或是對(duì)FLASH的存取。所有 存取均以SDRAM接口方式進(jìn)行。DRAM分為工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，工作區(qū)域作為程 序執(zhí)行時(shí)的工作存儲(chǔ)器用，F(xiàn)LASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域作為從FLASH復(fù)制 數(shù)據(jù)用的存儲(chǔ)器使用。存取控制電路(CTLJLOGIC)內(nèi)的指令寄存器以寫入栽入命令或 儲(chǔ)存命令碼，可將FLASH的數(shù)據(jù)復(fù)制(栽入)到DRAM的FLASH數(shù) 據(jù)復(fù)制區(qū)域，也可將DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域的數(shù)據(jù)寫回(儲(chǔ) 存)到FLASH 。在從地址信號(hào)(A0 ~ A15)輸入存取指令寄存器用的地址、從指令信 號(hào)(CKE，/CS，/RAS，/CAS，/WE，DQMU/DQML)輸入寫入命令、從輸入輸 出數(shù)據(jù)信號(hào)(D1-DQ0 ~ D1-DQ15)輸入載入命令碼，之后輸入選擇 FLASH的地址的范圍內(nèi)的栽入開(kāi)始地址、栽入結(jié)束地址之后，在指令 寄存器中寫入載入命令碼及栽入開(kāi)始地址及栽入結(jié)束地址。其后，從FLASH的載入開(kāi)始地址讀載入結(jié)束地址間的數(shù)據(jù)，傳送到DRAM的 FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域。由此，將FLASH的數(shù)據(jù)保持在DRAM。在指令寄存器中儲(chǔ)存命令碼與選擇FLASH的地址上寫入儲(chǔ)存開(kāi) 始地址及儲(chǔ)存結(jié)束地址后，將DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域的數(shù)據(jù) 寫入FLASH的儲(chǔ)存開(kāi)始地址到儲(chǔ)存結(jié)束地址間的地址。可通過(guò)設(shè)定控制電路(CTI^LOGIC)中所設(shè)置的控制寄存器的值， 而決定FLASH的那一地址范圍對(duì)應(yīng)于DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū) 域的那一地址范圍?？刂齐娐?CTL_LOGIC)從   FLASH   讀出數(shù)據(jù)時(shí)， CHIP2(CTL—LOGIC)檢測(cè)并修正讀取數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤并傳送到DRAM。在將數(shù)據(jù)寫入FLASH時(shí)，CHIP2(CTL—LOGIC)檢查是否正確地 寫入，在沒(méi)有正確地寫入時(shí)，則寫入與現(xiàn)在的地址不同的地址。即進(jìn) 行所謂替代處理。并進(jìn)列地址管理，以管理不良地址及對(duì)不良地址以 那一地址進(jìn)行了替代處理。
            
存取DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域時(shí)，從地址信號(hào)(AO ~ A15) 輸入選擇 FLASH 的地址及從指令信號(hào) (CKE，/CS，/RAS，/CAS，/WE，DQMU/DQML)輸入讀取命令后，CHIP2 的控制電路存取DRAM,從對(duì)應(yīng)于FLASH的地址的DRAM的FLASH 數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域內(nèi)地址讀出數(shù)據(jù)。由此，保持在DRAM中的FLASH區(qū) 域的數(shù)據(jù)的讀取時(shí)間可與DRAM相當(dāng)。存取DRAM的工作區(qū)域時(shí)，輸入存取DRAM的工作區(qū)域時(shí)所要 的地址信號(hào)或指令信號(hào)類?？刂齐娐?CTL一LOGIC)產(chǎn)生DRAM的工 作區(qū)域的地址，進(jìn)行對(duì)DRAM的存取。讀取存取時(shí)來(lái)自DRAM的讀 取數(shù)據(jù)通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)I/O(Dl-DQ0 ~D1-DQ15)，輸出到數(shù)據(jù)輸入 輸出線(1/00~1/015)。寫入存取之時(shí)，從存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出線 (I/O0 ~ 1/015)輸入寫入數(shù)據(jù)，其后通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)I/O(Dl-DQ0 ~ D1畫DQ15)輸入DRAM。如上所述，本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊沿用SDRAM接口方式，在DRAM 中預(yù)設(shè)一個(gè)可復(fù)制FLASH的一部分?jǐn)?shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)的區(qū)域，并預(yù)先 將數(shù)據(jù)從FLASH傳送到DRAM,因而可以與DRAM同等的速度讀 出FLASH的數(shù)據(jù)。對(duì)FLASH寫入時(shí)，可以先將數(shù)據(jù)寫入DRAM， 再視需要寫回FLASH,故數(shù)據(jù)的寫入速度也與DRAM相當(dāng)。在存儲(chǔ) 模塊的內(nèi)部，從FLASH讀取時(shí)，進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)，在寫入時(shí)，對(duì)在未 正確寫入的不良地址進(jìn)行替代處理，故可高速處理，且可保持可靠度。 再者，由于使用大容量DRAM，除了可復(fù)制FLASH的數(shù)據(jù)的區(qū)域外， 也可確保大容量的工作區(qū)域，而符合移動(dòng)電話的高功能化的需求。圖2為CHIP2(CTL一LOGIC)的構(gòu)成圖。CHIP2(CTL一LOGIC)為 從外部以SDRAM接口動(dòng)作并控制CHIP3(DRAM1)及CHIP1(FLASH) 的控制電路。以下說(shuō)明各電路區(qū)塊的動(dòng)作。初始化電路INT在對(duì)DRAM開(kāi)始供給電源時(shí)進(jìn)行存儲(chǔ)器管理單 元MMU內(nèi)的控制寄存器的初始化及DRAM的初始化。存儲(chǔ)器管理 單元MMU根據(jù)內(nèi)建的控制寄存器中所設(shè)定的值變換自外部輸入的地 址，選擇指令寄存器RE或DRAM的工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)
            
域、FLASH,進(jìn)行存取?？刂萍拇嫫鞯闹翟陔姽┙o時(shí)被初始化電路 INIT初始設(shè)定，其后，當(dāng)指令寄存器REG輸入存儲(chǔ)器管理MMU變 更命令時(shí)被變更。數(shù)據(jù)更新地址管理電路CPB保持?jǐn)?shù)據(jù)寫入DRAM 的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域時(shí)的地址信息。在指令寄存器REG中寫入并 保持載入命令、儲(chǔ)存命令、存儲(chǔ)器管理單元MMU變更命令等命令碼 或載入開(kāi)始地址、栽入結(jié)束地址、儲(chǔ)存開(kāi)始地址、儲(chǔ)存結(jié)束地址等地 址。數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER暫時(shí)保持DRAM的讀取數(shù)據(jù)、寫入數(shù) 據(jù)或FLASH的讀取數(shù)據(jù)、寫入數(shù)據(jù)。時(shí)鐘緩沖器CLKBUF將時(shí)鐘信 號(hào)供給到DRAM及快閃控制電路FCON。指令產(chǎn)生器COM—GEN產(chǎn) 生DRAM存取的必要指令。存取控制器A一CONT產(chǎn)生用于進(jìn)行 CHIP2的全體控制及DRAM存取的地址。電力模塊(PM)進(jìn)行對(duì) DRAM的電源供給及電源的控制。快閃控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN則進(jìn) 行FLASH數(shù)據(jù)的讀取、寫入的控制。錯(cuò)誤修正電路ECC檢查自 FLASH讀取的數(shù)據(jù)是否有錯(cuò)誤，如果有錯(cuò)誤則進(jìn)行修正。替代處理電 路REP檢查對(duì)FLASH的寫入是否正確進(jìn)行，如果未正確進(jìn)行則對(duì)在 FLASH中預(yù)先準(zhǔn)備的替代用新地址進(jìn)行寫入。其次說(shuō)明本存儲(chǔ)模塊的動(dòng)作。初始化電路INT在開(kāi)始對(duì)DRAM 供給電源時(shí)進(jìn)行存儲(chǔ)器管理單元MMU內(nèi)的控制寄存器的初始化及 DRAM的初始;ft。指令寄存器REG被選擇且栽入命令被寫入指令寄 存器REG后，開(kāi)始從FLASH將數(shù)據(jù)傳送到DRAM。 一開(kāi)始時(shí)快閃 控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN對(duì)FLASH進(jìn)行讀取動(dòng)作。從FLASH讀出 的數(shù)據(jù)若無(wú)錯(cuò)誤，則直接將數(shù)據(jù)傳送到數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER，若 有錯(cuò)誤，則用錯(cuò)誤修正電路ECC修正，再傳送到數(shù)據(jù)緩沖器 R/WBUFFER。其次，將來(lái)自指令產(chǎn)生電路COM一GEN的寫入命令、 來(lái)自存取控制器A—CONT的地址信號(hào)、由數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER 從FLASH讀取的數(shù)據(jù)輸入到DRAM，進(jìn)行對(duì)DRAM的FLASH數(shù)據(jù) 復(fù)制區(qū)域的寫入。 數(shù)據(jù)更新管理電路CPB在數(shù)據(jù)被寫入DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù) 制區(qū)域時(shí)，保持寫入地址的信息。指令寄存器REG被選擇而儲(chǔ)存命 令被寫入指令寄存器后，開(kāi)始將數(shù)據(jù)從DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū) 域內(nèi)數(shù)據(jù)傳送到FLASH。開(kāi)始時(shí)，將來(lái)自指令產(chǎn)生電路COM_GEN的讀取命令及來(lái)自存取 控制器A_CONT的地址信號(hào)送到DRAM并讀出數(shù)據(jù)。從DRAM讀 出的數(shù)據(jù)通過(guò)數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER傳送到快閃控制器FCON，快 閃控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN對(duì)FLASH進(jìn)行寫入。地址替代處理電路 REP檢查寫入是否成功，若成功則結(jié)束處理。寫入失敗時(shí)則對(duì)FLASH 中預(yù)先準(zhǔn)備好的替代用新地址進(jìn)行寫入。進(jìn)行替代處理時(shí)，管理不良 地址并保持對(duì)不良地址以那一地址進(jìn)行了替代處理的地址信息。數(shù)據(jù) 更新管理電路CPB所保持的DRAM的地址信息的中，清除掉對(duì) FLASH的寫入結(jié)束時(shí)的地址信息。如此、數(shù)據(jù)更新管理電路CPB可 隨時(shí)管理最新的數(shù)據(jù)被更新的地址。選擇DRAM的工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，若為讀取命令， 則從指令產(chǎn)生電路COM_GEN將讀取命令信號(hào)及從存取控制器 A—CONT將地址信號(hào)傳送到DRAM,而讀出數(shù)據(jù)。選擇DRAM的工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，若為寫入命令， 則從指令產(chǎn)生電路COM—GEN將寫入命令信號(hào)、從地址產(chǎn)生電路 A一CONT將地址信號(hào)、及從數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER將數(shù)據(jù)傳送到 DRAM,而寫入數(shù)據(jù)。通過(guò)信號(hào)PS輸入DRAM的斷電命令后，將對(duì)應(yīng)于數(shù)據(jù)更新管理 電路CPB所保持的地址仁的DRAM數(shù)據(jù)傳送到FLASH。開(kāi)始時(shí)，從指令產(chǎn)生電路COM_GEN將讀取命令并從存取控制器 A_CONT將地址信號(hào)傳送到DRAM,而讀出數(shù)據(jù)。從DRAM讀出的 數(shù)據(jù)則通過(guò)數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER傳送到快閃控制器FCON，通過(guò) 快閃控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN寫入FLASH。數(shù)據(jù)更新管理電路CPB所保持的DRAM的地址信息中，將對(duì) FLASH的寫入結(jié)束時(shí)的地址信息清除，并將對(duì)應(yīng)于所保持的地址的數(shù)
            
據(jù)全部寫入FLASH,則數(shù)據(jù)更新管理電路CPB的地址信息全部被清 除。所有的數(shù)據(jù)從DRAM傳送到FLASH后，切斷DRAM的電源。 通過(guò)切斷電源，可節(jié)約電力。先暫時(shí)停止供給DRAM的電源之后，為了再度使DRAM動(dòng)作， 通過(guò)PS信號(hào)輸入電源投入命令。通過(guò)電源投入命令，重新對(duì)DRAM 供給電源，初始化電路INT將初始化順序指示給存取控制器 (A_CONT)，而執(zhí)行初始化。圖3、 4所示為存儲(chǔ)器管理單元MMU所變換的存儲(chǔ)映像的一例。 這種存儲(chǔ)映像均可根據(jù)MMU內(nèi)部的控制寄存器中所設(shè)定的值而選擇 的。雖不特別受限，在本實(shí)施例中以非易失性存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)區(qū)域?yàn)?56 + 8Mb、 DRAM的存儲(chǔ)區(qū)域?yàn)?56Mb、指令寄存器有8kb的存儲(chǔ)模 塊為例說(shuō)明代表性存儲(chǔ)映像。圖3所示為一存儲(chǔ)映像，其以通過(guò)地址信號(hào)AO ~ A15輸入的行地 址(A0 A15)及列地址(A0 A9)為基礎(chǔ)，存儲(chǔ)器管理單元MMU在指 令寄存器REG(8kb)、DRAM的工作區(qū)域(128Mbit)、DRAM的FLASH 復(fù)制區(qū)域(128Mbit)、 FLASH(256Mbit + 8Mb)中變換地址。雖無(wú)特定 限制，從存儲(chǔ)映像的地址空間的下部開(kāi)始映射指令寄存器REG、 DRAM、 FLASH 。在CHIP2(CTL—LOGIC)內(nèi)部存在的指令寄存器REG中，從外部 寫入載入命令、儲(chǔ)存命令、MMU寄存器變更命令、斷電命令等命令 碼、栽入命令或儲(chǔ)存命令時(shí)的開(kāi)始地址或結(jié)束地址。DRAM分為工作區(qū)域(128Mbit)及FLASH復(fù)制區(qū)域(128Mbit)。 工作區(qū)域作為程序執(zhí)行時(shí)的工作存儲(chǔ)器使用，F(xiàn)LASH復(fù)制區(qū)域用于復(fù) 制并保持FLASH區(qū)域的數(shù)據(jù)的一部分。為了將FLASH區(qū)域的數(shù)據(jù) 的一部分復(fù)制到FLASH復(fù)制區(qū)域，存儲(chǔ)器管理單元MMU根據(jù)內(nèi)部 寄存器的設(shè)定值決定FLASH的那一個(gè)地址的數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)于FLASH復(fù) 制區(qū)域內(nèi)的那一個(gè)地址。在圖3中，F(xiàn)LASH區(qū)域內(nèi)的Al區(qū)域(64Mbit) 及CI區(qū)域(64Mbit)的數(shù)據(jù)各為可復(fù)制到DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域 內(nèi)的Al區(qū)域(64Mbit)及l(fā)區(qū)域(64Mbit)的地址對(duì)應(yīng)的一例。通過(guò)變更
            
存儲(chǔ)器管理單元MMU的內(nèi)部控制寄存器的值，可將FLASH區(qū)域內(nèi) 的Bl區(qū)域(64Mbit)及Dl區(qū)域(56Mbit)的數(shù)據(jù)各變更為可復(fù)制到 DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域的地址對(duì)應(yīng)。MMU內(nèi)部寄存器的值可通 過(guò)從外部將MMU寄存器變更命令碼及寄存器值寫入指令寄存器中而 變更。FLASH(256M + 8Mbit)并不特別受限，分為主數(shù)據(jù)區(qū)域 MD-Area(Al， A2，B1，B2， Cl， C2，D1， D2: 255.75Mbit)及替代區(qū)域 Rep-Area(El、 E2: 8.25Mbit)。主數(shù)據(jù)區(qū)域MD-Area再分為數(shù)據(jù)區(qū)域(A1，B1，C1，D1)及冗余區(qū)域 (A2， B2, C2， D2)。數(shù)據(jù)區(qū)域存放程序及數(shù)據(jù)，冗余區(qū)域存儲(chǔ)用于檢 測(cè)錯(cuò)誤并修正所需要的ECC極性(parity)數(shù)據(jù)等。FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域 內(nèi)的數(shù)據(jù)被傳送到DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域，或是DRAM的 FLASH復(fù)制區(qū)域的數(shù)據(jù)被傳送到FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域。FLASH很少會(huì)發(fā)生因?yàn)橹馗哺露档涂煽慷?，及在寫入時(shí)寫入 的數(shù)據(jù)在讀取時(shí)成為不同的數(shù)據(jù)，或是在更新時(shí)數(shù)據(jù)未寫入。替代區(qū) 域設(shè)置的目的為將不良區(qū)域(Fail Area B、 Fail Area C)的數(shù)據(jù)取置換 成新的區(qū)域。替代區(qū)域的大小并不特別受限，只要能確保FLASH所 保證的可靠性而決定即可。說(shuō)明從FLASH到DRAM的數(shù)據(jù)傳送。為了將FLASH的Al區(qū)域的數(shù)據(jù)傳送到DRAM的FLASH復(fù)制 區(qū)域A1區(qū)域，在指令寄存器中寫入栽入命令及FLASH區(qū)域內(nèi)Al區(qū) 域的傳送開(kāi)始地址SAD及傳送結(jié)束地址EAD。如此，控制電路 (CTL一LOGIC)讀取FLASH的Al區(qū)域內(nèi)的傳送開(kāi)始地址FSAD及傳 送結(jié)束地址FEAD所示的地址范圍的數(shù)據(jù)，并傳送到經(jīng)存儲(chǔ)器管理單 元MMU而對(duì)應(yīng)的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域A1區(qū)域內(nèi)的地址DS AD 及DEAD的地址范圍。從FLASH讀出數(shù)據(jù)時(shí)，讀出FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域A1中的數(shù)據(jù) 及冗余區(qū)域A2中的ECC極性數(shù)據(jù)，通過(guò)錯(cuò)誤修正電路ECC，若有 錯(cuò)誤則進(jìn)行修正。只將修正后的數(shù)據(jù)傳送給DRAM。說(shuō)明從DRAM到FLASH的數(shù)據(jù)傳送。為了將DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al的數(shù)據(jù)傳送到FLASH的 Al區(qū)域，在指令寄存器中寫入儲(chǔ)存命令及FLASH的Al區(qū)域的傳送 開(kāi)始地址SAD及傳送結(jié)束地址EAD。如此，控制電路(CTL—LOGIC) 讀取經(jīng)存儲(chǔ)器管理單元MMU而對(duì)應(yīng)的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域 Al區(qū)域內(nèi)的地址DSAD及DEAD的地址范圍的數(shù)據(jù)，并寫入FLASH 的Al區(qū)域內(nèi)的傳送開(kāi)始地址FSAD及傳送結(jié)束地址FEAD的地址范 圍數(shù)據(jù)。將數(shù)據(jù)寫入FLASH時(shí)，錯(cuò)誤修正電路ECC產(chǎn)生ECC極性數(shù)據(jù)。 通過(guò)快閃控制電路FGEN, 從DRAM讀出的數(shù)據(jù)被寫入FLASH的 數(shù)據(jù)區(qū)域A1，所產(chǎn)生的ECC極性數(shù)據(jù)被寫入冗余區(qū)域A2。地址替代處理電路REP檢查寫入是否成功，若成功則結(jié)束處理。 寫入失敗時(shí)則選擇FLASH的替代區(qū)域內(nèi)的地址，將DRAM讀出的數(shù) 據(jù)寫入替代區(qū)域內(nèi)的替代數(shù)據(jù)El，將所產(chǎn)生的ECC極性數(shù)據(jù)寫入替 ^冗余區(qū)域E2。其次說(shuō)明DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al的數(shù)據(jù)的讀取。從外部輸入FLASH的Al區(qū)域內(nèi)地址FADO及讀取命令后，MMU 進(jìn)列地址變換，變換成對(duì)應(yīng)于地址FADO的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū) 域A1的地址DAD0。由此，DRAM被選擇，可讀出復(fù)制在DRAM中 的FLASH的數(shù)據(jù)。即，可以與DRAM相同的速度讀出FLASH的數(shù) 據(jù)。其次說(shuō)明DRAM的工作區(qū)域的數(shù)據(jù)的讀取。從外部輸入工作區(qū)域內(nèi)地址WADO及讀取命令后，MMU將地址 WADO輸出到地址產(chǎn)生電路A_COUNT。由此，可讀出DRAM的工 作區(qū)域內(nèi)地址WADO的數(shù)據(jù)。其次說(shuō)明對(duì)DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al的數(shù)據(jù)寫入。 從外部輸入FLASH的A區(qū)域內(nèi)地址FADO及寫入命令、寫入數(shù) 據(jù)后，MMU地址變換成對(duì)應(yīng)于地址FADO的DRAM的FLASH復(fù)制 區(qū)域內(nèi)的地址DADO。由此，DRAM被選擇，F(xiàn)LASH復(fù)制區(qū)域Al
            
中寫入數(shù)據(jù)。通過(guò)寫入與FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域Al對(duì)應(yīng)的DRAM的 FLASH復(fù)制區(qū)域Al,可以以與SRAM相同速度寫入FLASH的數(shù)據(jù)。 其次說(shuō)明DRAM的工作區(qū)的讀取。從外部輸入工作區(qū)域內(nèi)地址WADO及讀取命令后，MMU將地址 WADO輸出到存取控制器A—COUNT。由此，可讀出DRAM的工作 區(qū)域內(nèi)地址WADO的數(shù)據(jù)。其次說(shuō)明DRAM的工作區(qū)域的數(shù)據(jù)的寫入。從外部輸入工作區(qū)域內(nèi)地址WADO及寫入命令、輸入數(shù)據(jù)后，存 取控制器A_COUNT將地址WADO輸出到DRAM。由此，可寫入 DRAM的工作區(qū)域內(nèi)地址WADO的數(shù)據(jù)。圖4所示存儲(chǔ)映像與圖3相比較，其所確保的DRAM的FLASH 復(fù)制區(qū)域?yàn)檩^大的192Mbit的區(qū)域。根據(jù)通過(guò)地址信號(hào)A0~A15而輸入的行地址(A0 A15)及列地址 (AO ~ A9)，存儲(chǔ)器管理單元MMU在REGISTER區(qū)域、DRAM內(nèi)工 作區(qū)域(64Mbit)、 DRAM內(nèi)FLASH復(fù)制區(qū)域(192Mbit)、 FLASH區(qū) 域(256Mbit)中進(jìn)列地址變換。存儲(chǔ)映像通過(guò)變更MMU內(nèi)部的控制寄存器的值，可由使用者根 據(jù)系統(tǒng)而自由選擇。MMU內(nèi)部控制寄存器的值可通過(guò)從外部將MMU 寄存器變更命令碼及想變更的寄存器值寫入指令寄存器而變更。圖5所示為電源投入時(shí)控制電路(CTLJLOGIC)所進(jìn)行的初始化 動(dòng)作。在T1的期間中投人電源后，在T2的重置期間內(nèi)進(jìn)行控制電路 (CTL—LOGIC)的初始化。存儲(chǔ)器管理單元MMU內(nèi)部的控制寄存器的 值在T2的期間被初始設(shè)定。在T3的期間，初始化電路INT同時(shí)進(jìn) 行DRAM的初始化動(dòng)作及FLASH的初始化動(dòng)作。初始化動(dòng)作結(jié)束后， 存儲(chǔ)模塊成為閑置(idle)狀態(tài)，可從接受來(lái)自外部的存取。圖6所示為從FLASH到DRAM的數(shù)據(jù)傳送的流程圖。存儲(chǔ)模塊 在閑置狀態(tài)下等待來(lái)自外部的命令(STEP1)時(shí)，若輸入栽入命令及選 擇FLASH的地址(STEP2)，則從FLASH讀出對(duì)應(yīng)于輸入地址的數(shù)據(jù) 及ECC極性數(shù)據(jù)(STEP3)。檢查所讀取的數(shù)據(jù)中有無(wú)錯(cuò)誤(STEP4)，
            
若有錯(cuò)誤則修正錯(cuò)誤(STEP5)，寫入緩沖器中(STEP6)。若無(wú)錯(cuò)誤則直 接寫入緩沖器R/W - BUFFER(STEP6)。將寫入緩沖器R/W-BUFFER中的數(shù)據(jù)寫入DRAM時(shí)，檢查是否對(duì)DRAM有產(chǎn)生更新要 求(STEP7)，若有更新要求，則進(jìn)行更新動(dòng)作(STEP8)，其后將數(shù)據(jù)寫 入DRAM(STEP9)。 若無(wú)更新要求，則立即將數(shù)據(jù)寫入 DRAM(STEP9)。圖7所示為從DRAM到FLASH的數(shù)據(jù)傳送的流程圖。存儲(chǔ)模塊 在閑置狀態(tài)下等待來(lái)自外部的命令(STEP1)時(shí)，若輸入儲(chǔ)存命令及選 擇FLASH的地址(STEP2)，則開(kāi)始從DRAM讀取數(shù)據(jù)。此時(shí)，檢查 對(duì)DRAM是否有產(chǎn)生更新要求(STEP3)，若有更新要求，則進(jìn)行更新 動(dòng)作(STEP4)，其后從DRAM讀出數(shù)據(jù)(STEP5)。若無(wú)更新要求，則 立即從DRAM讀出數(shù)據(jù)(STEP5)。讀出的數(shù)據(jù)被傳送到緩沖器R/W — BUFFER(STEP6)，寫入FLASH(STEP7)。在寫入FLASH(STEP7)時(shí)， 將自DRAM讀出的數(shù)據(jù)及錯(cuò)誤修正電路ECC所產(chǎn)生的ECC極性數(shù) 據(jù)寫入FLASH。檢查FLASH的寫入是否成功(STEP8)，若成功則結(jié) 束處理(STEPIO)。寫入失敗時(shí)，則選擇替代用的其他地址(STEP9)， 再度寫入FLASH(STEP7)，進(jìn)行寫入成功檢查(STEPll)，若成功則結(jié) 束處理(STEPIO)。圖8(A)所示為從存儲(chǔ)模塊內(nèi)的DRAM讀出數(shù)據(jù)時(shí)的來(lái)自外部的 命令流程。圖8(B)所示為將數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)模塊內(nèi)DRAM時(shí)的來(lái)自外 部的命令流程。命令從外部以SDRAM接口輸入到存儲(chǔ)模塊。說(shuō)明圖8(A)。存儲(chǔ)模塊在閑置狀態(tài)下等待外部來(lái)的命令(STEP1)。 輸入外部來(lái)的ACTIVE命令及行地址(STEP2)后，輸入READ命令及 列地址(STEP3),則讀出被行地址及列地址所選擇的DRAM的存儲(chǔ)單 元中所保持的數(shù)據(jù)，通過(guò)輸入輸出數(shù)據(jù)信號(hào)(DQ0 — DQ15)輸出到存儲(chǔ) 模塊外。若輸入PRICHARGE命令(STEP4)則存儲(chǔ)模塊進(jìn)入閑置狀態(tài)。說(shuō)明圖8(B)。存儲(chǔ)模塊在閑置狀態(tài)下等待外部來(lái)的命令(STEP1)。 輸入外部來(lái)的ACTIVE命令及行地址(STEP2)后，輸入WRITE命令 及列地址(STEP3)，則對(duì)被行地址及列地址所選擇的DRAM的存儲(chǔ)單
            
元寫入從輸入輸出數(shù)據(jù)信號(hào)(DQO - DQ15)輸入的數(shù)據(jù)。若輸入 PRICHARGE命令(STEP4)則存儲(chǔ)模塊進(jìn)入閑置狀態(tài)。圖9所示為數(shù)據(jù)更新管理電路CPB進(jìn)列地址保持及地址清除的流 程。通過(guò)外部來(lái)的寫入命令，數(shù)據(jù)被寫入DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制 區(qū)域(STEP1)，再將與寫入地址對(duì)應(yīng)的標(biāo)記信號(hào)寫入數(shù)據(jù)更新管理電 路CPB內(nèi)的標(biāo)記寄存器(STEP2)。從外部輸入儲(chǔ)存命令及地址后，開(kāi) 始從DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域?qū)LASH傳送數(shù)據(jù)(STEP3)。 檢查傳送是否結(jié)束(STEP4)，若已結(jié)束則清除標(biāo)記寄存器內(nèi)的傳送結(jié) 束的地址的標(biāo)記。圖10所示為將DRAM的斷電命令輸入存儲(chǔ)模塊時(shí)的存儲(chǔ)模塊的 動(dòng)作流程。斷電命令輸入到指令寄存器后，寫入DRAM內(nèi)FLASH復(fù)制區(qū)域 中的數(shù)據(jù)中未寫回FLASH的數(shù)據(jù)全部傳送到FLASH,輸入斷電命令(STEP1)后，為了檢索寫入DRAM內(nèi)FLASH復(fù)制 區(qū)域的數(shù)據(jù)中未寫回FLASH的數(shù)據(jù)的地址，首先將檢索地址設(shè)定在 檢索開(kāi)始地址(STEP2)。若發(fā)現(xiàn)在檢索地址的數(shù)據(jù)更新管理電路CPB 內(nèi)的標(biāo)記寄存器中寫入標(biāo)記(STEP3)，則對(duì)應(yīng)檢索地址的DRAM的數(shù) 據(jù)傳送FLASH。傳送結(jié)束后清除該標(biāo)記(STEP5)。判斷現(xiàn)在的檢索地 址是否為檢索最終地址(STEP6),若非檢索最終地址，則對(duì)現(xiàn)在的檢 索地址加l，以所得到的地址作為下一檢索地址(STEP7),其后，重覆 STEP3、 STEP4、 STEP5、 STEP6。若現(xiàn)在的檢索地址是檢索最終地 址，則結(jié)束處理，切斷DRAM的電源(STEP8)。圖ll所示為對(duì)指令寄存器輸入載入命令時(shí)，數(shù)據(jù)從FLASH傳送 到DRAM時(shí)的模塊所進(jìn)行的SDRAM的動(dòng)作。從存儲(chǔ)模塊的外部以SDRAM接口輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址R， 其后從寫入命令W、列地址C、及輸入輸出信號(hào)100~1015輸入栽入 命令碼Ld。接著從輸入輸出信號(hào)IO0~IO15輸入FLASH區(qū)域內(nèi)的 數(shù)據(jù)中想復(fù)制到DRAM的數(shù)據(jù)的開(kāi)始地址Sa及結(jié)束地址Ea。通過(guò)行 地址R及列地址C選擇指令寄存器，將載入命令碼Ld及開(kāi)始地址Sa 及結(jié)束地址Ea寫入指令寄存器。控制電路將對(duì)應(yīng)于開(kāi)始地址Sa及結(jié)束地址Ea的范圍的數(shù)據(jù)從 FLASH保持在讀取緩沖器，其后開(kāi)始對(duì)SDRAM1進(jìn)行寫入動(dòng)作。寫入DRAM1用的地址通過(guò)存儲(chǔ)器管理單元MMU將數(shù)據(jù)的開(kāi)始 地址Sa變換成FLASH復(fù)制區(qū)域的DRAM的行地址R0及列地址CO， 同樣地將結(jié)束地址Ea變換成行地址RO及列地址CF。對(duì)DRAM1的寫入從Dl誦COM輸入主動(dòng)命令A(yù)，從Dl-AO ~ D1-A15輸入行地址RO，其后從Dl-COM輸入寫入命令W，從Dl-AO ~ D1-A15輸入列地址CO,從輸入輸出信號(hào)D1-IO0 ~ D1-I015輸入數(shù)據(jù) 而寫入。寫入動(dòng)作持續(xù)到列地址的最終地址CF，通過(guò)預(yù)充電 (pre-charge)命令P而結(jié)束寫入。開(kāi)始對(duì)DRAM寫入數(shù)據(jù)起到結(jié)束為 止的期間內(nèi)，輸出WAIT信號(hào)為High,通知正在傳送數(shù)據(jù)給DRAM。圖12所示為對(duì)指令寄存器輸入儲(chǔ)存命令時(shí)從SDRAM將數(shù)據(jù)傳送 到FLASH時(shí)的存儲(chǔ)模塊中所進(jìn)行的SDRAM的動(dòng)作。從存儲(chǔ)模塊的從外部以SDRAM接口輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址 R，其后從寫入命令W及列地址C及輸入輸出信號(hào)IO0 ~ 1015輸入 儲(chǔ)存命令碼St。接著從輸入輸出信號(hào)IO0 ~ 1015輸入FLASH區(qū)域內(nèi) 的數(shù)據(jù)中想從DRAM復(fù)制回到FLASH的數(shù)據(jù)的開(kāi)始地址Sa及結(jié)束 地址Ea。通過(guò)行地址R及列地址C選擇指令寄存器，將儲(chǔ)存命令碼 St及開(kāi)始地址Sa及結(jié)束地址Ea寫入指令寄存器。控制電路自SDRAM讀取對(duì)應(yīng)于開(kāi)始地址Sa及結(jié)束地址Ea的范 圍的數(shù)據(jù)，并寫入FLASH。自SDRAM1讀出用的地址通過(guò)存儲(chǔ)器管理單元MMU將數(shù)據(jù)的 開(kāi)始地址Sa變換成FLASH復(fù)制區(qū)域的SDRAM的行地址RO及列地 址CO,同樣將結(jié)束地址Ea變換成行地址RO及列地址CF。自SDRAM1讀取時(shí)，從Dl-COM輸入主動(dòng)命令A(yù)，從Dl-AO ~ D1-A15輸入行地址R0，其后從Dl-COM輸入讀取命令R并從 Dl-AO D1-A15輸入列地址CO而讀出。讀取動(dòng)作持續(xù)到列地址的最
            
終地址CF為止，通過(guò)預(yù)先充電(pre-charge)命令P結(jié)束讀取。從 SDRAM讀取數(shù)據(jù)開(kāi)始到結(jié)束為止的期間內(nèi)，輸出WAIT信號(hào)為High, 通知正在從SDRAM傳送數(shù)據(jù)。圖13(a)所示為對(duì)SDRAM的工作區(qū)域存取時(shí)的SDRAM的動(dòng)作， 圖13(b)所示為對(duì)SDRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域存取時(shí)的SDRAM的動(dòng) 作。說(shuō)明圖13(a)的讀取動(dòng)作。從存儲(chǔ)模塊的外部以SDRAM接口輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址R0 ， 其后輸入讀取命令R及列地址C0。制御電路對(duì)SDRAMl輸入主動(dòng)命 令A(yù)及行地址RO，其后輸入讀取命令R及列地址C0之后，從輸入 輸出信號(hào)Dl-IO0 Dl-IO15輸出數(shù)據(jù)，通過(guò)輸入輸出信號(hào)IO0~IO15 輸出到外部。說(shuō)明圖13(a)的寫入動(dòng)作。從存儲(chǔ)模塊的外部通過(guò)SDRAM接口輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址 R0，其后、從寫入命令W及列地址CO及輸入輸出信號(hào)IO0~IO15 輸入數(shù)據(jù)In。控制電路對(duì)SDRAMl輸入主動(dòng)命令A(yù)及列地址R0，其 后從寫入命令W及列地址CO及輸入輸出信號(hào)D1-IO0-D1-IO15輸 入數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)寫入SDRAM 。說(shuō)明圖13(b)的讀取動(dòng)作。從存儲(chǔ)模塊的外部以SDRAM接口輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址RD ， 其后輸入讀取命令R及列地址CD。通過(guò)存儲(chǔ)器管理單元MMU， FLASH區(qū)域的行地址RD變換成FLASH復(fù)制區(qū)域的行地址RT，同 樣地FLASH區(qū)域的列地址CD變換成FLASH復(fù)制區(qū)域的列地址CT。 對(duì)SDRAMl輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址RT,其后輸入讀取命令R及 列地址CT，從輸入輸出信號(hào)Dl-IO0 Dl-IO15輸入數(shù)據(jù)，通過(guò)輸入 輸出信號(hào)100~1015輸出到外部。說(shuō)明圖13(b)的寫入動(dòng)作。從存儲(chǔ)模塊的外部以SDRAM接口輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址RF, 其后從寫入命令W及列地址CF及輸入輸出信號(hào)IO0 ~ 1015輸入數(shù) 據(jù)In。通過(guò)存儲(chǔ)器管理單元MMU， FLASH區(qū)域的行地址RF變換成 FLASH復(fù)制區(qū)域的行地址RU，同樣地FLASH區(qū)域的列地址CF變 換成FLASH復(fù)制區(qū)域的列地址CU。對(duì)SDRAMl輸入主動(dòng)命令A(yù)及 行地址RU，其后輸入寫入命令W及列地址CT，從輸入輸出信號(hào) Dl畫IO0-Dl-IO15輸入數(shù)據(jù)，寫入SDRAM。圖14所示為通過(guò)從外部將儲(chǔ)存命令寫入指令寄存器而從DRAM 讀取數(shù)據(jù)時(shí)，從外部輸入讀取命令時(shí)的SDRAM的動(dòng)作。通過(guò)儲(chǔ)存命令，WAIT信號(hào)變成High,對(duì)FLASH傳送用的數(shù)據(jù) Os從DRAM讀出時(shí)，若從外部輸入主動(dòng)命令A(yù)及行地址R0，則控 制電路對(duì)DRAMl發(fā)出預(yù)先充電(pre-charge)命令Ps,暫時(shí)停止從 DRAM讀取對(duì)FLASH傳送用的數(shù)據(jù)Os。其后，對(duì)DRAMl發(fā)出主 動(dòng)命令A(yù)及行地址R0。其次，若從外部輸入讀取命令R及列地址C0， 則對(duì)DRAMl發(fā)出讀取命令R及列命令CO,讀出數(shù)據(jù)O ，從IO0 ~ 1015 輸出。若從外部輸入預(yù)先充電命令P及庫(kù)地址B0，則對(duì)DRAMl發(fā) 出預(yù)先充電命令P及庫(kù)地址BO，結(jié)束數(shù)據(jù)的讀取。其后，控制電路重 新開(kāi)始讀取從DRAM對(duì)FLASH傳送用的數(shù)據(jù)Os,故對(duì)DRAMl發(fā) 出主動(dòng)命令A(yù)S及行地址R4、讀取命令Rs及列指令C4、讀取命令 RS及列指令C8。圖15為本實(shí)施例中的CHIP1(FLASH)的構(gòu)成例。其由控制器信 號(hào)緩沖器C-BUF、指令控制器CTL、多工器MUX、數(shù)據(jù)輸入緩沖器 DI-BUF、輸入數(shù)據(jù)控制器DC、扇區(qū)地址緩沖器SA-BUF、 X解碼器 X-DEC、存儲(chǔ)器陣列MA(FLASH)、 Y地址計(jì)數(shù)器Y-CT、 Y解碼器 Y-DEC、 Y柵極&檢測(cè)放大電路YGATE/SENSE-AMP、數(shù)據(jù)寄存器 DATA-REG、數(shù)據(jù)輸出緩沖器DO-BUF所構(gòu)成。CHIP1的動(dòng)作與習(xí) 知常用的AND型FLASH存儲(chǔ)器相同。又，AND型FLASH存儲(chǔ)器 意指大容量閃存器，有時(shí)會(huì)被分類為廣義的NAND型閃存器，本案中 提到NAND型閃存器時(shí)也包含AND型FLASH存儲(chǔ)器。通過(guò)該 CHIP1(FLASH)可構(gòu)成本實(shí)施例的存儲(chǔ)模塊。
            
圖16所示為從可構(gòu)成CHIP1的AND型FLASH存儲(chǔ)器讀取數(shù)據(jù) 的動(dòng)作。芯片啟動(dòng)信號(hào)F-ZCE為L(zhǎng)OW,指令數(shù)據(jù)啟動(dòng)信號(hào)F-CDE為 LOW,寫入啟動(dòng)信號(hào)F-AVE起動(dòng)時(shí)，從輸入輸出信號(hào)1/00~1/07輸 入讀取命令的命令碼Rcode。第二及第三個(gè)寫入啟動(dòng)信號(hào)F-/WE起動(dòng) 時(shí)從輸入輸出信號(hào)I/O0 ~ 1/07輸入扇區(qū)地址。送到數(shù)據(jù)寄存器DATA-REG.數(shù)據(jù)從存儲(chǔ)器陣列MA傳送到數(shù)據(jù)寄 存器DATA-REG的期間內(nèi)，F(xiàn)LASH成為忙碌狀態(tài)，F(xiàn)-RDY/BUSY 使待命(ready)/忙碌(busy)信號(hào)成為L(zhǎng)ow。數(shù)據(jù)傳送結(jié)束后，與串列時(shí) 鐘信號(hào)F-SC的起動(dòng)同步，以8位元為單位依序讀出數(shù)據(jù)寄存器DATA 一REG內(nèi)的數(shù)據(jù)，從輸人輸出信號(hào)1/00~1/07輸出。圖17為以另一種NAND型閃存器構(gòu)成本存儲(chǔ)模塊的 CHIP1(FLASH)的例子。輸入CHIP1的F-/CE為芯片啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-CLE為指令閂鎖啟動(dòng) 信號(hào)，F(xiàn)-ALE為地址閂鎖啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-/RE 為讀取啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-AVP為寫入保護(hù)信號(hào)，F(xiàn)-R/B為待命/忙碌信號(hào)， I/O0 ~ 1/07為輸入輸出信號(hào)，使用于地址的輸入或數(shù)據(jù)的輸入輸出。 也可用此種NAND型閃存器構(gòu)成本存儲(chǔ)模塊。圖18所示為本存儲(chǔ)模塊所用的NAND型存儲(chǔ)器的區(qū)塊圖。由動(dòng) 作邏輯控制器L-CONT、控制電路CTL、輸入輸出控制器電路 1/OCONT、狀態(tài)寄存器STREG、地址寄存器ADREG、指令寄存器 COMREG、待命忙碌電路R-B、高電壓產(chǎn)生電路VL-GEN、行地址 緩沖器ROW-BUF、行地址解碼器ROW-DEC、列緩沖器COL — BUF、 列解碼器COL-DEC、數(shù)據(jù)寄存器DATA-REG、檢測(cè)放大器 SENSE-AMP、存儲(chǔ)器陣列MA所構(gòu)成。CHIP1的動(dòng)作跟先前一般使用的NAND型FLASH存儲(chǔ)器相同。 可用本CHIPl(FLASH)構(gòu)成本實(shí)施例的存儲(chǔ)模塊。圖19所示為從構(gòu)成CHIP1的NAND型FLASH存儲(chǔ)器讀取數(shù)據(jù) 的動(dòng)作。 芯片啟動(dòng)信號(hào)F一CE為L(zhǎng)OW，指令閂鎖啟動(dòng)信號(hào)F-CLE為High, 寫入啟動(dòng)信號(hào)F-/WE起動(dòng)時(shí)，從輸入輸出信號(hào)I/O0~I/O7輸入讀取 命令的命令碼Rcode。其后地址閂鎖啟動(dòng)F-ALE成為High,第2個(gè) 及第3個(gè)及第4個(gè)寫入啟動(dòng)信號(hào)F-/WE起動(dòng)時(shí)從輸入輸出信號(hào)I/O0 ~ 1/07輸入頁(yè)面地址。與輸入的與頁(yè)面4kbit(4224bit)地址對(duì)應(yīng)的4kbit(4224bit)的數(shù)據(jù) 從存儲(chǔ)器陣列MA傳送到數(shù)據(jù)寄存器DATA-REG。數(shù)據(jù)從存儲(chǔ)器陣 列MA傳送到數(shù)據(jù)寄存器DATA-REG的期間內(nèi)，F(xiàn)LASH成為忙碌， F-R/B使待命/忙碌信號(hào)成為L(zhǎng)ow。數(shù)據(jù)傳送結(jié)束后，與讀取啟動(dòng)信號(hào) F-/RE下降同步，將數(shù)據(jù)寄存器DATA — REG內(nèi)的數(shù)據(jù)以8位元為單 位依序讀出，從輸入輸出信號(hào)1/00~1/07輸出。圖20為本實(shí)施例的DRAM的構(gòu)成例。由X地址緩沖器X-ADB，更 新計(jì)數(shù)器REF. COUNTER, X解碼器X-DEC，存儲(chǔ)器陣列MA， Y地 址緩沖Y-ADB， Y地址計(jì)數(shù)器Y-AD COUNTER, Y解碼器Y-DEC，檢 測(cè)放大電路&Y柵極(列開(kāi)關(guān))SENS AMP.& I/O BUS,輸入數(shù)據(jù)緩沖 電路INPUT BUFFER,輸出數(shù)據(jù)緩沖電路OUTPUT BUFFER，控制電 路&時(shí)序產(chǎn)生電路CONTROL LOGIC &及TG所構(gòu)成。DRAM為 過(guò)去使用的通用SDRAM。即包含4個(gè)可獨(dú)立動(dòng)作的存儲(chǔ)器庫(kù)，其對(duì) 應(yīng)的地址輸入端子及數(shù)據(jù)輸入輸出端子被共通化，在每一分時(shí)時(shí)段使 用于各庫(kù)。本DRAM可構(gòu)成本實(shí)施例的存儲(chǔ)模塊。如上所述，本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊中，沿用SDRAM接口方式，在 DRAM內(nèi)確保可復(fù)制FLASH的一部分?jǐn)?shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)的區(qū)域，預(yù)先 從FLASH將數(shù)據(jù)傳送到DRAM,可以與DRAM相當(dāng)?shù)乃俣茸x出 FLASH的數(shù)據(jù)。對(duì)FLASH寫入數(shù)據(jù)時(shí)，先將數(shù)據(jù)寫入DRAM，再 視需要寫回FLASH,故數(shù)據(jù)的寫入速度也與DRAM相當(dāng)。在存儲(chǔ)模塊的內(nèi)部，從FLASH讀取時(shí)，進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)及修正， 寫入時(shí)，對(duì)在未正寫入的不良地址進(jìn)行替代處理，故可高速處理，且 可保持可靠度。
            
由于使用大容量DRAM，故在可復(fù)制FLASH的數(shù)據(jù)的區(qū)域之外， 也可確保大容量的工作區(qū)域，可符合移動(dòng)電話的高功能化的需求。DRAM中所確保的工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域的大小或管 理單位可從外部程序化，使用者可根據(jù)系統(tǒng)而自由選擇。<實(shí)施例2>圖21所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的另一實(shí)施例。本存儲(chǔ)模塊由3個(gè) 芯片所構(gòu)成。以下說(shuō)明各芯片。首先，CHIP1(FLASH)為非易失性存 儲(chǔ)器。非易失性存儲(chǔ)器可用ROM(只讀存儲(chǔ)器)、EEPROM(電可擦除 可編程ROM)、閃存器等。本實(shí)施例中以閃存器為例說(shuō)明。 CHIP2(SRAM+CTL_LOGIC)中集成有靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM) 及控制電路(CTLJLOGIC)?？刂齐娐穼?duì)CHIP2中所集成的SRAM的 CHIP3進(jìn)行控制.CHIP3(DRAM1)為動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)。 DRAM因內(nèi)部構(gòu)成或接口的差異有EDO、 SDRAM、 DDR等各種種 類。本存儲(chǔ)模塊可用任一種DRAM，本實(shí)施例中以SDRAM為例說(shuō)明。對(duì)本存儲(chǔ)模塊從外部輸入地址(AO ~ A24)和指令信號(hào)(S-/CE1, S-CE2， S-/OE, S-/WE, S畫/LB， S國(guó)/UB， LS - EN， F-EN)。電源通過(guò) S畫VCC， S-VSS， LF-VCC， LF畫VSS， LD-VCC, LD-VSS供給，數(shù)據(jù)的輸 入輸出利用S-I/O0~S-I/O15。本存儲(chǔ)模塊以所謂SRAM接口方式動(dòng) 作。CHIP2供給CHIP1， CHIP3的動(dòng)作上必要的信號(hào)。CHIP2對(duì) CHIP1供給串列時(shí)鐘(F - SC)、地址及FLASH用數(shù)據(jù)(1/00 ~ 1/07)、 指令(F-CE， F誦/OE， F國(guó)/WE， F-/RES, F-CDE， F陽(yáng)RDY/BUSY)、電源 (F-VCC, F-VSS)。再者，CHIP2對(duì)CHIP3供給時(shí)鐘(D1-CLK)、地址 (D1-A0 ~ D1A14)、指令(D1-CKE， D1-/CS, D1醫(yī)/RAS， D1-/CAS, D1-/WE, D1-DQMU/DQML)、 DRAM用數(shù)據(jù)(D1-DQ0 ~ D1-DQ15)、 電源(D1-VCC， D1-VSS， D1-VCCQ， D1-VSSQ)。在此簡(jiǎn)單說(shuō)明各指令信號(hào)。輸入CHIP2的S-/CE1, S-CE2為芯片 啟動(dòng)信號(hào)、S-ZOE為輸出啟動(dòng)信號(hào)、S-AVE為寫入啟動(dòng)信號(hào)、S-/LB 為低位元組選擇信號(hào)、S-/UB (i高位元組選擇信號(hào)。
            
輸入CHIP1的F-ZCE為芯片啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-ZOE為輸出啟動(dòng)信號(hào)， F-/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-SC為串列時(shí)鐘信號(hào)，F(xiàn)-/RES為重置信號(hào)， F-CDE為指令數(shù)據(jù)啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-RDY/BUSY為待命/忙碌信號(hào)，I/O0 ~ 1/07為輸入輸出信號(hào)，用于地址的輸入或數(shù)據(jù)的輸入輸出。CHIP2的控制電路(CTL—LOGIC)根據(jù)地址的值選擇控制電路內(nèi) (CTL—LOGIC)設(shè)置的指令寄存器REG、 CHIP2內(nèi)的SRAM、 CHIP3 的DRAM、 CHIP1的FLASH的任一種。通過(guò)對(duì)控制電路(CTL一LOGIC)內(nèi)的控制寄存器設(shè)定預(yù)設(shè)值，可區(qū) 分各區(qū)域。對(duì)任一種的存取均以所謂SRAM接口方式進(jìn)行。DRAM分為工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，工作區(qū)域作為程 序執(zhí)行時(shí)的工作存儲(chǔ)器使用，F(xiàn)LASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域作為用于復(fù)制來(lái)自 FLASH的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器使用。存取SRAM時(shí)，將選擇SRAM的地址信號(hào)或指令信號(hào)類輸入控 制電路(CTL—LOGIC)后，對(duì)CHIP2內(nèi)部的SRAM進(jìn)行存取。讀取存 取之時(shí)從SRAM讀取數(shù)據(jù)，輸出到存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出線(1/00 ~ 1/015)。寫入存取之時(shí)從存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出線(1/00 ~ 1/015)輸 入寫入數(shù)據(jù)，并寫入SRAM中。通過(guò)存取控制電路(CTL—LOGIC)內(nèi)的指令寄存器REG而寫入載 入命令或儲(chǔ)存命令碼，可將FLASH的數(shù)據(jù)復(fù)制(載入)到DRAM內(nèi)的 FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域或?qū)RAM內(nèi)的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域的數(shù)據(jù) 寫回(儲(chǔ)存)到FLASH 。從地址信號(hào)(AO ~ A24)輸入指令寄存器REG存取用的地址，從指 令信號(hào)(8-/€￡1，8《￡2,8-/0￡, 8-/\￥￡,8-1^，8-/118)輸入寫入命令，從輸 入輸出數(shù)據(jù)信號(hào)(I/O0 I/O15)輸入載入命令碼，之后從FLASH區(qū)域 內(nèi)的地址輸入栽入開(kāi)始地址、載入結(jié)束地址后，在指令寄存器中寫入 載入命令碼及栽入開(kāi)始地址及載入結(jié)束地址。如此，讀出從FLASH 的載入開(kāi)始地址到栽入結(jié)束地址之間的數(shù)據(jù)傳送到DRAM內(nèi)的 FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域。由此、FLASH的數(shù)據(jù)被保持在DRAM。
            
在指令寄存器中寫入儲(chǔ)存命令碼并在選擇FLASH的地址上寫入 儲(chǔ)存開(kāi)始地址及儲(chǔ)存結(jié)束地址后，DRAM內(nèi)的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域 的數(shù)據(jù)被寫回從FLASH的儲(chǔ)存開(kāi)始地址起到儲(chǔ)存結(jié)束地址之間的地 址。FLASH的哪個(gè)地址范圍對(duì)應(yīng)于DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域 的哪個(gè)地址范圍可通過(guò)在控制電路(CTLJ^OGIC)中的控制寄存器設(shè) 定值而決定。FLASH很少會(huì)發(fā)生因?yàn)橹馗哺露档涂煽慷取⒓霸趯懭霑r(shí)寫入 的數(shù)據(jù)與讀取時(shí)的數(shù)據(jù)不同，或是在更新時(shí)數(shù)據(jù)未寫入。從FLASH讀出數(shù)據(jù)時(shí)，CHIP2(CTL—LOGIC)檢測(cè)并修正讀取數(shù) 據(jù)的錯(cuò)誤再傳送到DRAM,對(duì)FLASH寫入數(shù)據(jù)時(shí)，CHIP2(CTLJ^OGIC)檢查是否已正確寫 入，未正確寫入時(shí)，以與現(xiàn)在的地址不同的地址進(jìn)行寫入。進(jìn)行所謂 替代處理。也進(jìn)列地址管理，以管理不良地址及以哪個(gè)地址進(jìn)行了替 代處理。存取DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域時(shí)，從地址信號(hào)(AO ~ A24) 輸入FLASH區(qū)域的地址及、指令信號(hào)(S-ZCE1， S-CE2， S-/OE, S-/WE, S-/LB, S-/UB),指令信號(hào)為讀取命令之時(shí)，CHIP2的控制電路存取 DRA，從對(duì)應(yīng)于FLASH區(qū)域內(nèi)的地址的DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制 區(qū)域內(nèi)地址讀出數(shù)據(jù)。寫入命令時(shí)寫入數(shù)據(jù)從存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸 出線(1/00~1/015)輸入，其后通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)I/O(Dl-DQ0~ D1-DQ15)輸入到DRAM。由此，F(xiàn)LASH的數(shù)據(jù)的讀取及寫入時(shí)間與 SRAM相當(dāng)。存取DRAM的工作區(qū)域時(shí)，輸入存取DRAM內(nèi)工作區(qū)域上必要 的地址信號(hào)或指令信號(hào)?？刂齐娐?CTL一LOGIC)產(chǎn)生DRAM內(nèi)工作 區(qū)域的地址，對(duì)DRAM進(jìn)行存取。讀取存取之時(shí)來(lái)自DRAM的讀取 數(shù)據(jù)通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)1/0(D1-DQ0 D1-DQ15)輸出到數(shù)據(jù)輸入輸 出線(1/00 ~ 1/015)。寫入存取之時(shí)從存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出線
            
(I/O0 ~ 1/015)輸入寫入數(shù)據(jù)，其后通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)I/O(Dl-DQ0 ~ D1國(guó)DQ15)輸入到DRAM。CHIP3(DRAM)的電源從LD-VCC、 LD-VSS供給，通過(guò)控制電路 (CTL—LOGIC)連接到D1國(guó)VCC，D1糧VSS，D1-VCCQ，D1畫VSSQ， FLASH 的電源從LF-VCC、 LF-VSS供給，通過(guò)控制電路(CTLJLOGIC)連接 到F-VCC，F(xiàn)-VSS。對(duì)DRAM及FLASH的電源供給由指令信號(hào)PS所 控制，必要時(shí)可切斷。DRAM斷電時(shí)，控制電路(CTL—LOGIC)只將必須從DRAM寫回 FLASH的數(shù)據(jù)自動(dòng)寫回，數(shù)據(jù)的寫回結(jié)束后切斷DRAM的電源。將已切斷的DRAM的電源再投入時(shí)需要進(jìn)行DRAM的初始化。 DRAM及FLASH的初始化所要的信號(hào)生成或時(shí)序控制由控制電路 (CTL—LOGIC)進(jìn)行。又、進(jìn)行DRAM的更新時(shí)，控制電路(CTL—LOGIC)可定期投入 庫(kù)主動(dòng)指令(bank active command)而進(jìn)行。 一般而言，DRAM的更新 特性在高溫時(shí)會(huì)惡化，可在控制電路(CTL—LOGIC)中設(shè)置溫度計(jì)，在 高溫時(shí)縮小庫(kù)主動(dòng)指令的投入間隔而使DRAM可在更廣的溫度范圍 內(nèi)使用。如上說(shuō)明的實(shí)施例沿用SRAM接口方式而得到一種存儲(chǔ)模塊，其 使用便宜的通用SDRAM及FLASH,容量大，且存取速度與SRAM 相當(dāng)。本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊在DRAM內(nèi)確保一可復(fù)制FLASH的一部分?jǐn)?shù) 據(jù)或全部數(shù)據(jù)的區(qū)域，并預(yù)先將數(shù)據(jù)從FLASH傳送到DRAM，而可 以與SRAM相當(dāng)?shù)乃俣茸x出FLASH的數(shù)據(jù)。對(duì)FLASH寫入數(shù)據(jù)時(shí)， 可先暫時(shí)將數(shù)據(jù)寫入DRAM,必要時(shí)再寫回FLASH,故數(shù)據(jù)的寫入 速度也可與SRAM相當(dāng)。使用大容量SDRAM,在SDRAM中除了可復(fù)制FLASH的數(shù)據(jù) 的區(qū)域外，也可確保大容量的工作區(qū)域。從FLASH讀取時(shí)、進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)及修正，寫入時(shí)，對(duì)未正確寫 入的不良地址進(jìn)行替代處理，故可高速處理，保持可靠度。由于使用大容量SDRAM，在SDRAM中除了可復(fù)制FLASH的 數(shù)據(jù)的區(qū)域外，也可確保大容量的工作區(qū)域。用溫度改變模塊內(nèi)部所執(zhí)行的更新間隔，可擴(kuò)大DRAM的使用溫 度范圍，得到使用溫度范圍大的大容量存儲(chǔ)模塊。本發(fā)明的另 一 目的為得到數(shù)據(jù)保持電流少的存儲(chǔ)模塊。為了達(dá)到 本目的，特別是在低溫時(shí)延長(zhǎng)模塊內(nèi)部所執(zhí)行的更新間隔，可減少數(shù) 據(jù)保持電流。再者，為了減少數(shù)據(jù)保持電流，切斷DRAM的電源供給，只保持 SRAM中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)即可。由此，可用最低限度的數(shù)據(jù)保持電流只保 持必要的數(shù)據(jù)。圖 22 所 示 為 CHIP2(SRAM+CTL一LOGIC)。 CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)由SRAM及控制電路(CTL—LOGIC)構(gòu) 成，被集成的SRAM為先前一般使用的非同步SRAM.控制電路 (CTL—LOGIC)是CHIP2的SRAM以外的部分，如圖18中以虛線包 圍的區(qū)域所示，由AS、 MMU、 ATD、 DTD、 R/W BUFFER, CPB、 A_CONT、 REG、 INT  TMP、 RC、 PM、 CLK_GEN、 COM一GEN 構(gòu)成。以下說(shuō)明各電路區(qū)塊的動(dòng)作。初始化電路INT在電源開(kāi)始供給時(shí)進(jìn)行存儲(chǔ)器管理單元MMU內(nèi) 的控制寄存器的初始化及DRAM的初始化。存儲(chǔ)器管理單元MMU根據(jù)內(nèi)建的控制寄存器的設(shè)定值變換從外 部輸入的地址，選擇REGISTER區(qū)域內(nèi)的指令寄存器REG或DRAM 內(nèi)的工作區(qū)域、DRAM內(nèi)的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域、FLASH區(qū)域， 進(jìn)行存取。控制寄存器的值在電源供給時(shí)被初始化電路INT初始設(shè)定。 想變更控制寄存器的值時(shí)，在指令寄存器REG中輸入存儲(chǔ)器管理 MMU變更命令，SRAM被選擇時(shí)通過(guò)存取開(kāi)關(guān)(AS)將地址信號(hào)及指 令信號(hào)送給SRAM，對(duì)SRAM進(jìn)行存取。地址轉(zhuǎn)換檢測(cè)器電路(ATD)檢測(cè)地址信號(hào)及指令信號(hào)的變化而輸 出脈沖。又，指令轉(zhuǎn)換檢測(cè)器電路(CTD)檢測(cè)指令信號(hào)的變化而y輸出 脈沖。這種檢測(cè)電路檢測(cè)信號(hào)的變化，由此開(kāi)始對(duì)存儲(chǔ)器存取。
            
數(shù)據(jù)更新地址管理電路CPB保持在DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制 區(qū)域中寫入數(shù)據(jù)時(shí)的地址信息。指令寄存器REG被寫入并保持栽入命令、儲(chǔ)存命令、存儲(chǔ)器管 理單元MMU變更命令、斷電命令等命令碼，及栽入開(kāi)始地址、載入 結(jié)束地址、儲(chǔ)存開(kāi)始地址、儲(chǔ)存結(jié)束地址等地址。數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER暫時(shí)保持DRAM的讀取數(shù)據(jù)、寫入數(shù) 據(jù)或FLASH的讀取數(shù)據(jù)、寫入數(shù)據(jù)。指令產(chǎn)生器COM—GEN產(chǎn)生DRAM的存取所必要的指令。存取控制器A_CONT產(chǎn)生用于進(jìn)行CHIP2的全體控制及對(duì) DRAM存取的地址。快閃控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN進(jìn)行FLASH的數(shù)據(jù)的讀取、寫入 的制御。錯(cuò)誤修正電路ECC檢查自FLASH讀取的數(shù)據(jù)是否有錯(cuò)誤，若有 錯(cuò)誤則進(jìn)行修正。替代處理電路REP檢查對(duì)FLASH的寫入是否正確， 未正確進(jìn)行時(shí)，對(duì)FLASH中預(yù)先準(zhǔn)備好的替代用新地址進(jìn)行寫入。溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)測(cè)量溫度，并將對(duì)應(yīng)于所測(cè)得的溫度的信號(hào) 輸出到RC及A一CONT。 RC為更新計(jì)數(shù)器，配合DRAM的更新間隔 產(chǎn)生進(jìn)行更新的地址。又，通過(guò)溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)的輸出信號(hào)進(jìn)行 對(duì)應(yīng)于溫度的更新間隔的變更。電力模塊(PM)進(jìn)行CHIP2的控制電路(CTL—LOGIC)及DRAM 的電源供給及電源控制。時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生器(CLK一GEN)產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)， 供給到DRAM及控制電路(CTI^LOGIC)。指令產(chǎn)生器(COM—GEN) 產(chǎn)生DRAM的存取所要的指令。存取控制器(A—CONT)產(chǎn)生CHIP2 (SRAM+CTL—LOGIC)全體動(dòng)作的控制及DRAM的存取所要的地址?？扉W控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN進(jìn)行FLASH的數(shù)據(jù)的讀取、寫入 的制御。錯(cuò)誤修正電路ECC檢查自FLASH讀取的數(shù)據(jù)是否有錯(cuò)誤，若有 錯(cuò)誤則進(jìn)行修正。替代處理電路REP檢查對(duì)FLASH的寫入是否正確， 未正確進(jìn)行時(shí)，對(duì)FLASH中預(yù)先準(zhǔn)備的替代用新地址進(jìn)行寫入。
            
其次說(shuō)明本存儲(chǔ)模塊的動(dòng)作。為了對(duì)CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)進(jìn)行存儲(chǔ)器存取，以以往一 般使用的非同步SRAM方式做接口 。若地址信號(hào)(A0 A24)或指令信號(hào)(S-ZLB， S-/UB, S-/WE, S-/CE1, S-CE2， S-ZOE)有變化，則ATD檢測(cè)出該變化，開(kāi)始存取指令寄存器 REG、 SRAM、 DRAM或FLASH。從外部輸入的地址信號(hào)(A0 A24)的值首先用存儲(chǔ)器管理單元 MMU變換。根據(jù)變換后的地址，決定存取對(duì)象是指令寄存器REG、 SRAM、 DRAM、或是FLASH。地址的變換形成由存儲(chǔ)器管理單元MMU內(nèi)部的控制寄存器的值 決定。選擇指令寄存器REG并將載入命令碼寫入指令寄存器REG后， 開(kāi)始從FLASH傳送數(shù)據(jù)給DRAM。開(kāi)始時(shí)，快閃控制器FCON內(nèi)部 的快閃控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN對(duì)FLASH進(jìn)行讀取動(dòng)作。從FLASH 讀出的數(shù)據(jù)若無(wú)錯(cuò)誤，則直接將數(shù)據(jù)傳送到數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER ， 若有錯(cuò)誤，則用錯(cuò)誤修正電路ECC修正，傳送到數(shù)據(jù)緩沖器 R/WBUFFER。其次，從指令產(chǎn)生電路COM—GEN輸入寫入命令，從 存取控制器A_CONT輸入地址信號(hào)，通過(guò)數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER 將從FLASH讀取的數(shù)據(jù)輸入DRAM，進(jìn)行向DRAM的FLASH數(shù)據(jù) 復(fù)制區(qū)域的寫入。數(shù)據(jù)更新管理電路CPB在數(shù)據(jù)被寫入DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù) 制區(qū)域時(shí)保持寫入地址信息。選擇指令寄存器REG并將儲(chǔ)存命令寫入指令寄存器后，開(kāi)始將 DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域內(nèi)數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)傳送到FLASH。開(kāi)始時(shí)，從指令產(chǎn)生電路COM一GEN將讀取命令并從存取控制器 A—CONT將地址信號(hào)傳送到DRAM而讀出數(shù)據(jù)。從DRAM讀出的數(shù) 據(jù)通過(guò)數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER傳送到快閃控制器FCON，快閃控制 信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN對(duì)FLASH進(jìn)行寫入。地址替代處理電路REP 檢查寫入是否成功，若成功則結(jié)束處理。寫入失敗時(shí)，對(duì)FLASH中 預(yù)先準(zhǔn)備的替代用新地址進(jìn)行寫入。進(jìn)行替代處理時(shí)，管理不良地址 并保持對(duì)不良地址以那一地址進(jìn)行了替代處理的地址信息。在數(shù)據(jù)更新管理電路CPB所保持的DRAM的地址信息中，清除FLASH寫入 結(jié)束的地址信息。如此，數(shù)據(jù)更新管理電路CPB可經(jīng)常管理最新的數(shù) 據(jù)被更新的地址。選擇DRAM的工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，為讀取命令時(shí)， 從指令產(chǎn)生電路COM_GEN將讀取命令信號(hào)并從存取控制器 A—CONT將地址信號(hào)傳送給DRAM，讀出數(shù)據(jù)。選擇DRAM的工作區(qū)域及FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，為寫入命令時(shí)， 從指令產(chǎn)生電路COM—GEN將寫入命令信號(hào)、從地址產(chǎn)生電路 A_CONT將地址信號(hào)、并從數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER將數(shù)據(jù)傳送給 DRAM,寫入數(shù)據(jù)。選擇指令寄存器REG,斷電命令寫入指令寄存器后，將對(duì)應(yīng)于數(shù) 據(jù)更新管理電路CPB所保持的地址的DRAM數(shù)據(jù)傳送到FLASH。 開(kāi)始時(shí)，從指令產(chǎn)生電路COM一GEN將讀取命令并從存取控制器 A一CONT將地址信號(hào)傳送到DRAM讀出數(shù)據(jù)。從DRAM讀出的數(shù)據(jù) 通過(guò)數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER傳送到快閃控制器FCON，通過(guò)快閃控 制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN寫入FLASH。數(shù)據(jù)更新管理電路CPB所保持的DRAM的地址信息中，清除 FLASH寫入結(jié)束的地址信息，對(duì)應(yīng)于所保持的地址的數(shù)據(jù)全部寫入 FLASH后，數(shù)據(jù)更新管理電路CPB的地址信息全部被清除。在高溫下使用存儲(chǔ)模塊時(shí)，只要縮短DRAM的更新間隔，頻繁地 更新即可。本存儲(chǔ)模塊中溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)測(cè)量溫度，通知更新計(jì) 數(shù)器及存取控制器。若達(dá)到高溫，則縮短更新計(jì)數(shù)器的更新間隔，輸 出更新用地址。又，相反地低溫時(shí)，則拉長(zhǎng)DRAM的更新間隔，即 可減少數(shù)據(jù)保持電流。此時(shí)溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)可測(cè)量溫度，通知更 新計(jì)數(shù)器及存取控制器。低溫時(shí)則更新計(jì)數(shù)器拉長(zhǎng)更新間隔，輸出更 新用地址。
            
安裝有存儲(chǔ)模塊的機(jī)器有時(shí)想根據(jù)動(dòng)作狀態(tài)減少耗電。因此說(shuō)明 電力模塊改變存儲(chǔ)器的動(dòng)作狀態(tài)而減少耗電的方法。首先，最簡(jiǎn)單的方式是電力模塊依照指令信號(hào)PS信止更新計(jì)數(shù) 器所進(jìn)行的更新。由此，DRAM中所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)會(huì)被破壞，但可減少 更新時(shí)所要的電力。想要進(jìn)一步減少耗電時(shí)，可在存儲(chǔ)模塊內(nèi)部切斷對(duì)DRAM供給的 電源。此時(shí)，電力模塊根據(jù)機(jī)器輸出的指令信號(hào)PS停止對(duì)供電給 DRAM的D1-VCC的電力供給。此外，想要更進(jìn)一步減少耗電時(shí)，電力模塊根據(jù)指令信號(hào)PS停 止對(duì)CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)中與DRAM的存儲(chǔ)器存取相關(guān)的 部分供給電源即可。該狀態(tài)下可例如在CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC) 中除了 SRAM外只對(duì)MMU及AS連接電源而進(jìn)入動(dòng)作狀態(tài)，而成為 只執(zhí)行對(duì)SRAM的存取的模式。再者，也可以指令PS形成只進(jìn)行SRAM的數(shù)據(jù)保持的動(dòng)作狀態(tài)。 此時(shí)，切斷連接到SRAM電源(S-VCC，S-VSS)以外的電源，禁止存儲(chǔ) 器的存取。在本狀態(tài)下，存儲(chǔ)模塊進(jìn)行存儲(chǔ)在SRAM內(nèi)的數(shù)據(jù)的保持。為了暫時(shí)停止對(duì)DRAM供給電源并在動(dòng)作停止后使DRAM再度 動(dòng)作，除了重新開(kāi)始供給電源外，必須進(jìn)行DRAM的初始化。初始 化方法為一般的方法，在本存儲(chǔ)模塊中，初始化電路(INT)對(duì)存取控制 器(A一CONT)指示初始化的順序而執(zhí)行初始化。又，為了在停止DRAM的更新時(shí)再度使DRAM動(dòng)作，必須進(jìn)行 DRAM的初始化，同樣地初始化電路(INT)對(duì)存取控制器(Aj:ONT) 指示初始化的順序而執(zhí)行初始化。圖23，24，25，26所示為以存儲(chǔ)器管理單元MMU變換的存儲(chǔ)映像的 一例。這種存儲(chǔ)映像均可根據(jù)MMU內(nèi)部的控制寄存器的設(shè)定值而選 擇。本實(shí)施例中并不特別受限，以下以FLASH的存儲(chǔ)容量為256 + 8Mb、保持?jǐn)?shù)據(jù)用SRAM為2Mb、 DRAM為256Mb的存儲(chǔ)模塊為例 說(shuō)明代表性存儲(chǔ)映像。 圖23所示的存儲(chǔ)映像以通過(guò)地址信號(hào)A0~A24所輸入的地址為 基礎(chǔ)，存儲(chǔ)器管理單元MMU對(duì)指令寄存器REG(16kbit)、 SRAM形 成的數(shù)據(jù)保持區(qū)域(2Mbit)、 DRAM內(nèi)工作區(qū)域(128Mbit)、 DRAM內(nèi) FLASH復(fù)制區(qū)域(128Mbit)、 FLASH(256+8 Mbit)變換地址。雖不特別受限，從存儲(chǔ)映像的地址空間的下部起，指令寄存器 REG，SRAM、 DRAM、 FLASH1被映像。指令寄存器REG從外部寫入栽入命令、儲(chǔ)存命令、MMU寄存器 變更命令等命令碼及載入命令、儲(chǔ)存命令時(shí)的開(kāi)始地址或結(jié)束地址。DRAM分為工作區(qū)域(128Mbit)及FLASH復(fù)制區(qū)(128Mbit)。工 作區(qū)域作為程序執(zhí)行時(shí)的工作存儲(chǔ)器使用，F(xiàn)LASH復(fù)制領(lǐng)域用于復(fù)制 FLASH區(qū)域的數(shù)據(jù)的一部分并進(jìn)行保持。SRAM構(gòu)成的2Mbit的數(shù)據(jù)保持區(qū)域設(shè)定成集中在地址空間的下 部。本區(qū)域與DRAM重復(fù)映像在存儲(chǔ)器空間，但不進(jìn)行對(duì)DRAM的 存取，只進(jìn)行對(duì)SRAM的存取?？刂拼鎯?chǔ)模塊的電源只保持并使用SRAM的數(shù)據(jù)時(shí)，可集中管理 SRAM的區(qū)域。未存取的DRAM的區(qū)域(SHADOW)可用于救濟(jì)DRAM的存儲(chǔ)單 元。本存儲(chǔ)模塊中為了在低溫時(shí)延長(zhǎng)更新間隔而減少耗電而有各種設(shè) 計(jì)，此時(shí)會(huì)產(chǎn)生難以保持?jǐn)?shù)據(jù)的存儲(chǔ)單元(Fail bit)。因此，可使用成 為本SHADOW的DRAM進(jìn)行Fail bit的替代。圖23中，DRAM中 有Fail bit A， Fail bit B，其地址事前已登錄好，對(duì)Fail bit進(jìn)行存取 時(shí)，則存取SHADOW替代之。通過(guò)SHADOW的替代可救濟(jì)Fail bit， 在低溫時(shí)延長(zhǎng)更新間隔，而得到耗電少的存儲(chǔ)模塊。為了將FLASH區(qū)域的數(shù)據(jù)的一部分復(fù)制到FLASH復(fù)制區(qū)域，存 儲(chǔ)器管理單元MMU根據(jù)內(nèi)部寄存器的設(shè)定值決定FLASH區(qū)域內(nèi)的 哪個(gè)地址的數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)FLASH復(fù)制區(qū)域內(nèi)的哪個(gè)地址。圖23中， FLASH區(qū)域內(nèi)的Al區(qū)域(64Mbit)及Cl區(qū)域(64Mbit)的數(shù)據(jù)各為可復(fù) 制到DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域內(nèi)的Al區(qū)域(64Mbit)及1區(qū)域 (64Mbit)的地址對(duì)應(yīng)的1例。通過(guò)變更存儲(chǔ)器管
            
控制寄存器的值，可將FLASH區(qū)域內(nèi)的Bl區(qū)域(64Mbit)及Dl區(qū)域 (56Mbit)的數(shù)據(jù)各變更為可復(fù)制到DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域的地址 對(duì)應(yīng)。FLASH(256M + 8Mbit)雖不特別受限，可分為主數(shù)據(jù)區(qū)域 MD-Area(Al， A2，B1，B2， Cl， C2，D1， D2: 255.75Mbit)及替代區(qū)域 Rep-Area(El、 E2: 8.25Mbit)。主數(shù)據(jù)區(qū)域可再分為數(shù)據(jù)區(qū)域(A1,B1,C1，D1)及冗余區(qū)域(A2， B2， C2， D2)。數(shù)據(jù)區(qū)域存放程序及數(shù)據(jù)，冗余區(qū)域存放檢測(cè)并修正錯(cuò)誤 用的ECC極性數(shù)據(jù)等。FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域內(nèi)的數(shù)據(jù)被傳送到DRAM 的FLASH復(fù)制區(qū)域，或是DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域的數(shù)據(jù)被傳送 到FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域。FL ASH很少會(huì)發(fā)生因?yàn)橹馗哺露档涂煽慷?、及在寫入時(shí)寫入 的數(shù)據(jù)與讀取時(shí)的數(shù)據(jù)不同，或是在更新時(shí)數(shù)據(jù)未寫入。替代區(qū)域?yàn)?了將不良的區(qū)域(Fail Area C、 Fail Area D)的數(shù)據(jù)置換到新的區(qū)域而 設(shè)。替代區(qū)域的大小并不特別受限，只要能確保FLASH所保證的可 靠度即可。說(shuō)明從FLASH到DRAM的數(shù)據(jù)傳送。為了將FLASH的Al區(qū)域的數(shù)據(jù)傳送到DRAM的FLASH復(fù)制 區(qū)域A1區(qū)域，在指令寄存器中寫入載入命令及FLASH區(qū)域內(nèi)Al區(qū) 域的傳送開(kāi)始地址SAD及傳送結(jié)束地址EAD。如此，控制電路 (CTL—LOGIC)讀取FLASH的Al區(qū)域內(nèi)的傳送開(kāi)始地址FSAD及傳 送結(jié)束地址FEAD所示的地址范圍的數(shù)據(jù)，并傳送到到存儲(chǔ)器管理單 元MMU產(chǎn)生對(duì)應(yīng)關(guān)的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al區(qū)域內(nèi)的地址 DSAD及DEAD的地址范圍。從FLASH讀出數(shù)據(jù)時(shí)，以數(shù)據(jù)的管理單位(在此為8kbit)讀取 FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域A1中的數(shù)據(jù)及冗余區(qū)域A2中的ECC極性數(shù)據(jù)， 若有錯(cuò)誤則以錯(cuò)誤修正電路ECC修正的。只將修正后的數(shù)據(jù)傳送到 DRAM。說(shuō)明從DRAM到FLASH的數(shù)據(jù)傳送。
            
為了對(duì)FLASH的Al區(qū)域傳送DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al 的數(shù)據(jù)，在指令寄存器中寫入儲(chǔ)存命令及FLASH的A1區(qū)域的傳送開(kāi) 始地址SAD及傳送結(jié)束地址EAD。如此，控制電路(CTLJ^OGIC) 讀取由存儲(chǔ)器管理單元MMU產(chǎn)生對(duì)應(yīng)關(guān)的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū) 域Al區(qū)域內(nèi)的地址DSAD及DEAD的地址范圍的數(shù)據(jù)，并寫入 FLASH的Al區(qū)域內(nèi)的傳送開(kāi)始地址FSAD及傳送結(jié)束地址FEAD的 地址范圍數(shù)據(jù)。對(duì)FLASH寫入數(shù)據(jù)時(shí)，錯(cuò)誤修正電路ECC以數(shù)據(jù)的管理單位(在 此為8kbit)產(chǎn)生ECC極性數(shù)據(jù)。通過(guò)快閃控制電路FGEN，自DRAM 讀出的數(shù)據(jù)被寫入FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域Al，所產(chǎn)生的ECC極性數(shù)據(jù) 被寫入冗余區(qū)域A2。地址替代處理電路REP檢查寫入是否成功，若 成功則結(jié)束處理。寫入失敗時(shí)，選擇FLASH的替代區(qū)域內(nèi)的地址， 自DRAM讀出的數(shù)據(jù)寫入替代區(qū)域內(nèi)的替代數(shù)據(jù)E1，所產(chǎn)生的ECC 極性數(shù)據(jù)寫入替代冗余區(qū)域E2。其次說(shuō)明DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al的數(shù)據(jù)的讀取。從外部輸入FLASH的Al區(qū)域內(nèi)地址FADO及讀取命令后，MMU 對(duì)對(duì)應(yīng)于地址FADO的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al的地址DADO 進(jìn)列地址變換。由此，DRAM可讀出被復(fù)制到所選擇的DRAM中的 FLASH的讀出數(shù)據(jù)。換言之，可與以DRAM相同的速度讀出讀出 FLASH的數(shù)據(jù)。其次說(shuō)明DRAM的工作區(qū)域的數(shù)據(jù)的讀取。從外部輸入工作區(qū)域內(nèi)地址WADO及讀取命令后，MMU將地址 WADO輸出到地址產(chǎn)生電路A_COUNT。由此，可讀出DRAM的工 作領(lǐng)域內(nèi)地址WADO的數(shù)據(jù)。其次說(shuō)明對(duì)DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域Al的數(shù)據(jù)寫入。 從外部輸入FLASH的Al區(qū)域內(nèi)地址FADO及寫入命令、寫入數(shù) 據(jù)后，MMU對(duì)對(duì)應(yīng)于地址FADO的DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域內(nèi)的 地址DADO進(jìn)列地址變換。由此，DRAM被選擇，數(shù)據(jù)被寫入FLASH
            
復(fù)制區(qū)域。通過(guò)對(duì)應(yīng)于FLASH的數(shù)據(jù)區(qū)域Al的DRAM的FLASH 復(fù)制區(qū)域A1的寫入，可以與SRAM相同的速度寫入FLASH的數(shù)據(jù)。 其次說(shuō)明DRAM的工作區(qū)域的數(shù)據(jù)的讀取。從外部輸入工作區(qū)域內(nèi)地址WADO及讀取命令后，MMU將地址 WADO輸入存取控制器A一COUNT。由此，可讀出DRAM的工作區(qū) 域內(nèi)地址WADO的數(shù)據(jù)。其次說(shuō)明DRAM的工作區(qū)域的數(shù)據(jù)的寫入。從外部輸入工作區(qū)域內(nèi)地址WADO及寫入命令、輸入數(shù)據(jù)后，地 址產(chǎn)生電路A—COUNT將地址WADO輸出到DRAM。由此，可寫入 DRAM的工作區(qū)域內(nèi)地址WADO的數(shù)據(jù)。圖24所示的存儲(chǔ)映像的例中，設(shè)定有分散在多個(gè)地址空間的 SRAM區(qū)域。SRAM的地址空間仍然與DRAM的地址空間重疊，對(duì) 重疊的地址空間的存取對(duì)SRAM進(jìn)行的。多個(gè)SHADOW用于多個(gè) Fail bit的救濟(jì)。在本例中，SRAM區(qū)域設(shè)定成2Kbyte為單位，此種 設(shè)計(jì)的目的是為了配合FLASH存儲(chǔ)器的寫入消去單位，使地址空間 的管理單位與FLASH存儲(chǔ)器一致，由此簡(jiǎn)化OS或程序的存儲(chǔ)器空 間的處理。又，控制存儲(chǔ)模塊的電源，只保持SRAM的數(shù)據(jù)而使用時(shí)，可將 SRAM的區(qū)域分散配置在存儲(chǔ)器空間內(nèi)。圖25所示的存儲(chǔ)映像的例中，SRAM及DRAM映像在另 一地址 空間，而沒(méi)有因重復(fù)而產(chǎn)生的SHADOW,因此，地址空間為合計(jì) DRAM的256Mb及SRAM的2Mb之后的258Mb,可得到較大的地 址空間。圖26所示的存儲(chǔ)映像為將圖22的SRAM區(qū)域128分割而配置的 例。其可具有與圖25所示的例同樣大的地址空間。又、與圖22所示 的例相同地，在存儲(chǔ)模塊的電源只保持SRAM的數(shù)據(jù)而使用時(shí)，可將 SRAM的區(qū)域分散配置在存儲(chǔ)器空間內(nèi)。如此，MMU可在指定的地址空間中分配SRAM區(qū)域及DRAM 區(qū)域。其分配方法可通過(guò)變更MMU中所設(shè)定的寄存器的而輕易變更。
            
當(dāng)想盡量減少數(shù)據(jù)保持電流時(shí)，將存放想保持的數(shù)據(jù)的地址空間分配到SRAM區(qū)域，再停止對(duì)DRAM供給電源即可。本方法可得到 數(shù)據(jù)保持電流少的存儲(chǔ)模塊。圖27(A)所示為外部存取及更新存取及栽入命令或儲(chǔ)存命令時(shí)對(duì) DRAM存取的優(yōu)先順序。更新存取為第l優(yōu)先，外部存取為第2優(yōu)先，載入或儲(chǔ)存命令中 的存取為第3優(yōu)先。圖27(B)所示為外部對(duì)DRAM產(chǎn)生讀取存取(READ)及更新存取 (REF)時(shí)的動(dòng)作。圖27(C)所示為對(duì)DRAM產(chǎn)生寫入存取(WRITE)及更新存取 (REF)時(shí)的動(dòng)作。未產(chǎn)生更新存取(REF)而產(chǎn)生外部存取(READ、 WRITE)時(shí)，外部 存取直接對(duì)DRAM進(jìn)行，而進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀取及寫入。產(chǎn)生更新存取(REF)及外部存取時(shí)，首先，以優(yōu)先順序高的更新 存取進(jìn)行更新動(dòng)作，其次，執(zhí)行外部存取動(dòng)作。更新動(dòng)作中，WAIT 信號(hào)成為High,表示已經(jīng)進(jìn)行了對(duì)DRAM的動(dòng)作。圖28(A)所示為對(duì)指令寄存器寫入栽入命令時(shí)及從FLASH對(duì) DRAM傳送數(shù)據(jù)時(shí)對(duì)DRAM的動(dòng)作。從FLASH讀取數(shù)據(jù)，暫時(shí)保時(shí)在數(shù)據(jù)緩沖器R/WBUFFER中， 其后存取DRAM并寫入數(shù)據(jù)。對(duì)DRAM的寫入存取開(kāi)始起到寫入結(jié) 束為止的期間內(nèi)，WAIT信號(hào)成為High,表示已經(jīng)進(jìn)行對(duì)DRAM的 存取。圖28(B)所示為對(duì)指令寄存器寫入儲(chǔ)存命令時(shí)及從DRAM對(duì) FLASH傳送數(shù)據(jù)時(shí)對(duì)DRAM的動(dòng)作。從DRAM讀取數(shù)據(jù)，暫時(shí)保持在數(shù)據(jù)緩沖器中，其后，存取 FLASH而寫入數(shù)據(jù)。從對(duì)DRAM的讀取存取開(kāi)始到寫入結(jié)束為止的 期間內(nèi)，WAIT信號(hào)成為High,表示已經(jīng)對(duì)DRAM進(jìn)行存取。
            
圖29(A)所示為載入命令時(shí)對(duì)DRAM寫入存取中，從外部產(chǎn)生讀 取存取時(shí)的DRAM的動(dòng)作。外部存取的種類并不特別受限，在此以 讀取存取為1例。產(chǎn)生外部存取時(shí)，載入命令時(shí)的DRAM的寫入存取暫時(shí)停止，優(yōu) 先處理外部存取。外部存取的處理結(jié)束后，重新開(kāi)始載入命令時(shí)的 DRAM的寫入存取。
            
圖29 ( B )所示為儲(chǔ)存命令時(shí)對(duì)DRAM的讀取存取中，從外部產(chǎn) 生寫入讀取存取時(shí)的DRAM的動(dòng)作。外部存取的種類并不特別受限， 在此以寫入存取為1例。
            
產(chǎn)生外部存取時(shí)，暫時(shí)停止儲(chǔ)存命令時(shí)的DRAM的讀取存取，優(yōu) 先處理外部存取。外部存取的處理結(jié)束后，重新開(kāi)始儲(chǔ)存命令時(shí)的 DRAM的讀取存取。
            
圖30所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的動(dòng)作波形的一例。A0~A20， S國(guó)/CE1， S-CE2， S-/LB, S-/UB, S-/OE, S-/WE為輸入存儲(chǔ)模塊的信號(hào)， 為所謂非同步SRAM的接口信號(hào)。數(shù)據(jù)輸入輸出信號(hào)I/O0~I/O15分 為數(shù)據(jù)的輸入及輸出，各以DIN、 DOUT表示。MMU，ATD,CTD各 代表MMU電路、ATD電路、CTD電路的輸出信號(hào)。Dl-CLK為供 給給DRAM的時(shí)鐘信號(hào)，Dl-COM為供給給DRAM的指令信號(hào)的總 稱，D1-A0~D1-A15為DRAM的地址線，D1-DQ0 ~ D1-DQ15為 DRAM的I/O線。
            
首先，說(shuō)明開(kāi)始時(shí)進(jìn)行的讀取存取。輸入地址A0 A24后，MMU 電路輸出變換后的地址。ATD電路檢測(cè)出地址A0~A24與指令類 (S-/CE1, S-CE2， S-/LB， S-/UB, S-/OE, S-AVE)的變化，地址及指令確定 后，輸出脈沖。以該脈沖為起點(diǎn)，對(duì)DRAMl發(fā)出庫(kù)主動(dòng)指令A(yù)及行 地址Ra，跟著發(fā)出讀取指令R及列地址Co。從DRAMl出的數(shù)據(jù)被 輸出到D-DQ0~D-DQ15，先通過(guò)R/W BUFFER再輸出到I/O0 ~ 1/015。在下一個(gè)周期所示為寫入存取的執(zhí)行例。寫入存取之時(shí)也與讀取 存取相同地以ATD信號(hào)的下降為起點(diǎn)發(fā)出庫(kù)主動(dòng)指令A(yù)及行地址Ra。其后，CTD電路檢測(cè)指令類(S-ZCE1， S-CE2， S-/LB， S-/UB, S-/OE, S-/WE)的變化，辨識(shí)其為寫入動(dòng)作，輸出脈沖。以該脈沖為起點(diǎn)，發(fā) 出寫入指令W及列指令C而執(zhí)行寫入。圖31所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的動(dòng)作波形的一例，顯示進(jìn)行更新 動(dòng)作時(shí)，從外部讀取存取時(shí)產(chǎn)生的動(dòng)作波形。為了進(jìn)行更新，對(duì)DRAM1發(fā)出庫(kù)主動(dòng)指令A(yù)及行地址Ra,其 后發(fā)出預(yù)備充電指令P及庫(kù)地址Ba。本更新動(dòng)作期間中，更新計(jì)數(shù)器 輸出信號(hào)RC，表示其在更新期間中。說(shuō)明更新期間中產(chǎn)生的來(lái)自外 部的讀取存取。輸入地址A0 A24后，MMU電路輸出變換后的地址。 ATD電路檢測(cè)地址AO ~ A24及指令類(S-ZCE1， S-CE2， S-/LB, S-/UB, S-/OE，S-AVE)的變化，地址及指令確定后，輸出脈沖。根據(jù)該脈沖， 閂鎖地址及指令。以更新期間結(jié)束為起點(diǎn)，對(duì)DRAM1發(fā)出庫(kù)主動(dòng)指 令A(yù)及行地址Ra,接著發(fā)出讀取指令R及列地址Co。自DRAM1讀 出的數(shù)據(jù)被輸出到D-DQ0 ~ D-DQ15,先通過(guò)R/W BUFFER再輸出到 I/O0~I/O15。圖32所示為本實(shí)施例的SRAM的構(gòu)成例。其由X解碼器(X-DEC)， 存儲(chǔ)器陣列MA(SRAM)， Y柵極(Y-GATE)， Y解碼器(Y-DEC)，輸入 數(shù)據(jù)控制電路(D—CTL)，控制電路(CONTROL LOGIC)及各信號(hào)線的 輸入輸出緩沖器所構(gòu)成。該SRAM為一般所謂的非同步SRAM。可用 該本SRAM構(gòu)成本實(shí)施例的存儲(chǔ)模塊。如上說(shuō)明的實(shí)施例，可沿用SRAM接口方式而得到使用便宜的通 用DRAM的大容量存儲(chǔ)模塊。本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊中，在DRAM內(nèi)確保一可復(fù)制FLASH的一部 分?jǐn)?shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)的區(qū)域，預(yù)先從FLASH將數(shù)據(jù)傳送到DRAM,以 與SRAM相當(dāng)?shù)乃俣茸x出FLASH的數(shù)據(jù)。由于對(duì)FLASH寫入數(shù)據(jù) 時(shí)，先將數(shù)據(jù)寫入DRAM，必要時(shí)再寫回FLASH,故數(shù)據(jù)的寫入速 度與SRAM相當(dāng)。從FLASH讀取時(shí)，進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)及修正，寫入時(shí)， 由于對(duì)未正確寫入的不良地址進(jìn)行替代處理，故可高速處理，保持可 靠度。
            
存儲(chǔ)器管理單元MMU可自由設(shè)定SRAM所構(gòu)成的數(shù)據(jù)保持區(qū) 域、DRAM的FLASH復(fù)制區(qū)域及工作區(qū)域，故可對(duì)應(yīng)各種機(jī)器廣泛 地應(yīng)用。本發(fā)明的控制電路(CTL一LOGIC)中使用DRAM,但由于DRAM 所需要的更新由控制電路(CTL一LOGIC)所執(zhí)行，故可與SRAM同樣 地不考慮更新而使用。再者，通過(guò)縮小DRAM的更新間隔，在高溫時(shí)也可^吏DRAM動(dòng) 作，可得到使用溫度范圍廣的存儲(chǔ)模塊。另一方面，通過(guò)在低溫時(shí)增 加DRAM的更新間隔，可減少數(shù)據(jù)保持所需要的電力，而得到數(shù)據(jù) 保持電力少的存儲(chǔ)模塊。在電力模塊PM的作用下，也可停止供給DRAM的一部分或全部 的電源，而限定存儲(chǔ)區(qū)域，減少數(shù)據(jù)保持所需要的電力。再者，也可 通過(guò)停止控制電路的電源供給，得到數(shù)據(jù)保持電力少的存儲(chǔ)模塊。<實(shí)施例3 >圖33所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的第3實(shí)施例。圖33(A)所示為俯視圖，圖33(B)所示為剖面圖。本存儲(chǔ)模塊在通 過(guò)球狀格子陣列(Ball Grid Array, BGA)安裝在裝置上的基板(例如玻 璃環(huán)氧基板所制成的印刷電路板PCB)上，安裝實(shí)施例1所示的 CHIPl(FLASH)、 CHIP2(CTL_LOGIC)、 CHIP3(DRAM)，或?qū)嵤├?2 所示的 CHIP1(FLASH) 、 CHIP2(SRAM+CTL一LOGIC)、 CHIP3(DRAM)。雖不特別受限，CHIP1中使用在芯片的一端排列一排信號(hào)及電源 焊墊列的通用DRAM的棵芯片(《7f'7 7) ， CHIP3中使用在芯 片的中央排列1列信號(hào)及電源焊墊列的通用DRAM的棵芯片。CHIP1及基板上的接合墊(bonding pad)以接合線(PATH2)連接， CHIP2及基板上的接合墊以接合線(PATH3)連接。CHIP3及CHIP2 以接合線(PATH1)連接。CHIP1及CHIP2以接合線(PATH4)被連接。搭栽有芯片的基板上面進(jìn)行樹(shù)脂模塑，以保護(hù)各芯片及連接配線。 又，也可另外在其上加上金屬、陶瓷或樹(shù)脂的蓋子(COVER)。
            
本發(fā)明的實(shí)施例中由于在印刷電路板PCB上直接搭載棵芯片，故 可形成安裝面積小的存儲(chǔ)模塊。又，由于可近接配置各芯片，故可縮 短芯片間配線長(zhǎng)度。通過(guò)將芯片間的配線及各芯片與基板間的配線統(tǒng) 一成接合線方式，可用較少的步驟數(shù)制造存儲(chǔ)模塊。再者，通過(guò)以接 合線對(duì)芯片間直接配線，可減少基板上的接合墊數(shù)及接合線的條數(shù)， 以較少的步驟數(shù)制造存儲(chǔ)模塊。由于可使用大量量產(chǎn)的通用DRAM的 棵芯片，故可便宜且安定地供給存儲(chǔ)模塊。使用樹(shù)脂蓋時(shí)，可形成更 強(qiáng)韌的存儲(chǔ)模塊。使用陶瓷或金屬蓋時(shí)，除了強(qiáng)度外，更可形成放熱 性或遮蔽效果優(yōu)良的存儲(chǔ)模塊。圖34所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的圖34的變形例。圖34(A)所示為 俯視圖，34(B)所示為剖面圖。本例中，CHIP3(DRAM)、 CHIP2(CTL—LOGIC或SRAM+CTL—LOGIC)的安裝及配線上使用球 形格子陣列(BGA)。 CHIP1與基板上的接合墊用接合線(PATH2)連接。通過(guò)本安裝方法，CHIP2(CTL一LOGIC或SRAM+CTL一LOGIC) 與CHIP3(DRAM)及CHIP2(CTL—LOGIC)與基板間之間不必接合線， 可減少接合配線的條數(shù)，故除了可減少組裝步驟數(shù)之外，可得到可靠 度更高的存儲(chǔ)模塊。<實(shí)施例4>圖35所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊中的另一實(shí)施例。本存儲(chǔ)模塊由4 個(gè)芯片所構(gòu)成。以下說(shuō)明各種芯片。首先，CHIP1(FLASH)為非易失 性存儲(chǔ)器。非易失性存儲(chǔ)器中可使用ROM(只讀存儲(chǔ)器)、EEPROM(電 子式可擦除可編程ROM)、閃存器等。本實(shí)施例中為閃存器為例說(shuō)明。 CHIP2(SRAM+CTLJLOGIC)中集成靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)及 控制電路(CTLJLOGIC)?？刂齐娐穼?duì)集成在CHIP2中的SRAM及 CHIP3及CHIP4進(jìn)行控制。CHIP3(DRAM1)、 CHIP4(DRAM2)為動(dòng) 態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)。 DRAM依內(nèi)部構(gòu)成或接口的差異有 EDO、 SDRAM、 DDR等各種種類。本存儲(chǔ)模塊可使用任一種DRAM, 本實(shí)施例以SDRAM為例說(shuō)明。
            
對(duì)本存儲(chǔ)模塊從外部輸入地址(AO ~ A24)及指令信號(hào)(S-ZCE1， S-CE2， S畫/OE， S-/WE, S誦/LB， S畫/UB， LS — EN, F誦EN)。電源通過(guò) S-VCC， S-VSS， F-VCC， F-VSS， L曙VCC， L隱VSS供給，數(shù)據(jù)的輸入輸出 使用S-I/O0 ~ S-I/015。該存儲(chǔ)模塊通過(guò)所謂SRAM接口而動(dòng)作。CHIP2供給CHIP1， CHIP3及CHIP4的動(dòng)作所需要的信號(hào)。 CHIP2對(duì)CHIP1供給串列時(shí)鐘信號(hào)(F - SC)、地址及FLASH用數(shù)據(jù) (I/O0 ~ 1/07)、   指令(F-CE，   F-/OE,  F-/WE,   F畫/RES， F誦CDE， F-RDY/BUSY)、  DRAM用數(shù)據(jù)(D1-DQ0 ~ D1國(guó)DQ15， D2-DQ0 ~ D2-DQ15)。再者，CHIP2對(duì)CHIP3及CHIP4供給時(shí)鐘信號(hào)(D1-CLK， D2誦CLK)、地址(D1誦A0 ~ Dl-A14， D2-A0 ~ D2-A14)、指令(D1國(guó)CKE，D2國(guó)CKE, D1-/CS， D2誦/CS， D1-/RAS， D2國(guó)/RAS， D1-/CAS, D2-/CAS， D1誦/WE， D2-/WE, D1-DQMU/DQML， D2-DQMU/DQML)、 DRAM用 數(shù)據(jù)(D1-DQ0 ~ D1-DQ15, D2誦DQ0 ~ D2國(guó)DQ15)、 電源(D1-VCC， D2-VCC， D1-VSS， D2-VSS， D1國(guó)VCCQ, D2-VCCQ， D1誦VSSQ， D2-VSSQ)。在此簡(jiǎn)單說(shuō)明各指令信號(hào)。輸入CHIP2中的S-/CE1, S-CE2為芯 片啟動(dòng)信號(hào)，S-/OE為輸出啟動(dòng)信號(hào)，S-/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)，S-/LB 為低位元組選擇信號(hào)，S-ZUB為高位元組選擇信號(hào)。輸入CHIP1中的F-/CE為芯片啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-/OE為輸出啟動(dòng)信號(hào)， F-/WE為寫入啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-SC為串列時(shí)鐘信號(hào)，F(xiàn)-/RES為重置信號(hào)， F-CDE為(i指令數(shù)據(jù)啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-RDY/BUSY為待命/忙碌信號(hào)， 1/00~1/07為數(shù)據(jù)輸入輸出信號(hào)，用于閃存器的控制。CHIP2的控制電路(CTI^LOGIC)根據(jù)從外部輸入的地址的選擇 CHIP2的控制電路(CTL—LOGIC)中設(shè)置的指令寄存器、或是CHIP2 內(nèi)部的SRAM、或是CHIP3及CHIP4的DRAM、或是CHIP1的 FLASH 。可通過(guò)在設(shè)置在控制電路(CTL一LOGIC)中的控制寄存器中設(shè)定 預(yù)設(shè)值加以區(qū)別。其存取均以所謂SRAM接口方式進(jìn)行。
            
存取SRAM區(qū)域時(shí)，將SRAM區(qū)域內(nèi)的地址信號(hào)及指令信號(hào)類 輸入控制電路(CTL—LOGIC)后，進(jìn)行CHIP2內(nèi)部的SRAM的存取。 讀取存取之時(shí)，從SRAM讀取數(shù)據(jù)，輸出到存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出 線(S-I/O0 S-I/015)。寫入存取之時(shí)，從存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出線 (S-I/O0 S-I/O15)輸入寫入數(shù)據(jù)，寫入SRAM。通過(guò)存取控制電路(CTI^LOGIC)內(nèi)的指令寄存器而寫入載入命 令及儲(chǔ)存命令碼，可將FLASH區(qū)域的數(shù)據(jù)復(fù)制(栽入)DRAM內(nèi)的 FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域，或?qū)RAM內(nèi)的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域的數(shù) 據(jù)寫回(儲(chǔ)存)FLASH區(qū)域。從地址信號(hào)(A0 ~ A24)輸入存取指令寄存器用的地址，從指令信號(hào) (S-/CEl，S-CE2，S-/OE， S畫/WE，S-LB，S國(guó)/UB)輸入寫入命令，從輸入輸出 數(shù)據(jù)信號(hào)(I/O0 I/O15)輸入載入命令碼，接著在FLASH區(qū)域內(nèi)的地 址輸入載入開(kāi)始地址、載入結(jié)束地址之后，在指令寄存器中寫入載入 命令碼及載入開(kāi)始地址及栽入結(jié)束地址。如此，讀出FLASH區(qū)域內(nèi) 的栽入開(kāi)始地址到栽入結(jié)束地址之間的數(shù)據(jù)，傳送到DRAM1及 DRAM2的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域。由此，F(xiàn)LASH的數(shù)據(jù)被保持在 DRAM。在指令寄存器中以儲(chǔ)存命令碼及FLASH區(qū)域內(nèi)的地址寫入儲(chǔ)存 開(kāi)始地址及儲(chǔ)存結(jié)束地址之后，將DRAM1或DRAM2的FLASH數(shù) 據(jù)復(fù)制區(qū)域的數(shù)據(jù)寫回FLASH區(qū)域內(nèi)的儲(chǔ)存開(kāi)始地址起到儲(chǔ)存結(jié)束 地址之間的地址。通過(guò)設(shè)定設(shè)置在控制電路(CTL一LOGIC)中的控制寄存器的值，可 決定FLASH區(qū)域的哪個(gè)地址范圍對(duì)應(yīng)于DRAM1及DRAM2的 FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域的哪個(gè)地址范圍。FLASH很少會(huì)發(fā)生因?yàn)橹馗哺露档涂煽慷?、及在寫入時(shí)寫入 的數(shù)據(jù)與讀取時(shí)的數(shù)據(jù)不同、或是在更新時(shí)數(shù)據(jù)未寫入。從FLASH讀出數(shù)據(jù)時(shí)，CHIP2(CTL—LOGIC)檢測(cè)并修正讀取數(shù) 據(jù)的錯(cuò)誤，而傳送給DRAM1及DRAM2。
            
對(duì)FLASH寫入數(shù)據(jù)時(shí)，CHIP2(CTL—LOGIC)檢查是否已正確寫 入，未正確寫入時(shí)，以與現(xiàn)在的地址不同的地址進(jìn)行寫入。進(jìn)行所謂 替代處理。也進(jìn)列地址管理，以管理不良地址及對(duì)哪個(gè)地址進(jìn)行了替 代處理。DRAM存取FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域時(shí)，從地址信號(hào)(A0 ~ A24)輸 入FLASH區(qū)域的地址及指令信號(hào)(S-ZCE1， S-CE2， S-/OE， S-/WE, S-/LB, S-/UB),指令信號(hào)為讀取命令之時(shí)，CHIP2的制御電路存取 DRAM，從對(duì)應(yīng)于FLASH區(qū)域內(nèi)的地址的DRAM的FLASH數(shù)據(jù)復(fù) 制區(qū)域內(nèi)地址通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)I/O(Dl-DQ0 ~ D1-DQ15或 D2-DQ0 ~ D2-DQ15)讀出數(shù)據(jù)。寫入命令之時(shí)從存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入 輸出線(S-I/O0 S-I/O15)輸入寫入數(shù)據(jù)，其后通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù) I/O(Dl-DQ0 ~ D1-DQ15及D2國(guó)DQ0 ~ D2-DQ15)輸入到DRAM.由此， FLASH區(qū)域的數(shù)據(jù)的讀取及寫入時(shí)間與SRAM相當(dāng)。存取DRAM的工作區(qū)域時(shí)，輸入DRAM內(nèi)工作區(qū)域的存取所需 要的地址信號(hào)及指令信號(hào)?？刂齐娐?CTL—LOGIC)產(chǎn)生DRAM內(nèi)工 作區(qū)域的地址，對(duì)DRAM進(jìn)行存取。讀取存取時(shí)來(lái)自DRAM的讀取 數(shù)據(jù)通過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)I/O(Dl-DQ0 ~ D1-DQ15或D2-DQ0 ~ D2-DQ15)輸出到數(shù)據(jù)輸入輸出線(S-I/O0 S-I/015)。寫入存取之時(shí)從 存儲(chǔ)模塊的數(shù)據(jù)輸入輸出線(S-I/00 ~ S-I/015)輸入寫入數(shù)據(jù)，其后通 過(guò)DRAM用數(shù)據(jù)1/0(D1畫DQ0 ~ D1-DQ1S及D2誦DQ0 ~ D2-DQ15 )輸 入到DRAM。DRAM1的電源從LD-VCC、 LD-VSS供給，通過(guò)控制電路 (CTLJLOGIC)連接到D1-VCC，D1-VSS，D1-VCCQ及Dl-VSSQ 。 DRAM的電源供給受指令信號(hào)PS控制，必要時(shí)可切斷。DRAM斷電時(shí)，控制電路(CTL—LOGIC)只自動(dòng)寫回必須從 DRAM寫回FLASH的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)的寫回結(jié)束后切斷DRAM的電源。切斷DRAM的電源后要再通電時(shí)，必須進(jìn)行DRAM及FLASH 的初始化。DRAM的初始化所需要的信號(hào)生成及時(shí)序控制由控制電路 (CTL—LOGIC)進(jìn)行。 又，進(jìn)行DRAM的更新時(shí)，控制電路(CTL—LOGIC)可定期投入 庫(kù)主動(dòng)指令而進(jìn)行。 一般而言，DRAM的更新特性在高溫時(shí)會(huì)惡化， 通過(guò)在控制電路(CTL一LOGIC)中設(shè)置溫度計(jì)而在高溫時(shí)縮小庫(kù)主動(dòng) 指令的投入間隔，可在較廣的溫度范圍內(nèi)使用DRAM。再者，通過(guò)2個(gè)DRAM將工作區(qū)域及FLASH區(qū)域二重化，可將 一個(gè)數(shù)據(jù)保持在2個(gè)DRAM外，通過(guò)調(diào)整進(jìn)行更新之時(shí)序，可隱藏 更新，以免從存儲(chǔ)模塊外部因更新動(dòng)作而產(chǎn)生存取上的限制。如上說(shuō)明的實(shí)施例中，可沿用SRAM接口方式而得到使用便宜的 通用SDRAM及FLASH的大容量且存取速度與SRAM相當(dāng)?shù)拇鎯?chǔ)模 塊。本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊在DRAM內(nèi)確?？蓮?fù)制FLASH的一部分?jǐn)?shù) 據(jù)或全部數(shù)據(jù)的區(qū)域，預(yù)可先從FLASH將數(shù)據(jù)傳送到DRAM ，而以 與SRAM相當(dāng)?shù)乃俣茸x出FLASH的數(shù)據(jù)。將數(shù)據(jù)寫入FLASH時(shí)， 可先將數(shù)據(jù)寫入DRAM，必要時(shí)再寫回FLASH,故數(shù)據(jù)的寫入速度 也與SRAM相當(dāng)。通過(guò)使用大容量SDRAM，在SDRAM中除了可復(fù)制FLASH的 數(shù)據(jù)的區(qū)域外，可確保大容量的工作區(qū)域。從FLASH讀取時(shí)，進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)及修正，寫入時(shí)，對(duì)未正確寫 入的不良地址進(jìn)行替代處理，故可高速處理，保持可靠度。由于使用大容量SDRAM，故在SDRAM中除了可復(fù)制FLASH 的數(shù)據(jù)的區(qū)域外，可確保大容量的工作區(qū)域。本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊中使用DRAM，但由于DRAM所需要的更新 在模塊內(nèi)部執(zhí)行，故可與SRAM同樣地不考慮更新而使用。又，通過(guò) 隨著溫度而改變?cè)谀K內(nèi)部執(zhí)行的更新間隔，可擴(kuò)大DRAM的使用 溫度范圍，使用溫度范圍大的大容量存儲(chǔ)模塊。再者，通過(guò)進(jìn)行DRAM中的數(shù)據(jù)保持的二重化及更新時(shí)序的調(diào) 整，可從存儲(chǔ)模塊外部隱藏DRAM的更新，故存取本存儲(chǔ)模塊時(shí)不 必考慮更新而調(diào)整時(shí)序。因此，由于可以與先前只^t用SRAM的存儲(chǔ) 模塊同樣地使用，故可以不變更以前的系統(tǒng)而使用大容量存儲(chǔ)模塊。
            
據(jù)保持電流少的存儲(chǔ)模塊。在本目 的下，特別是在低溫時(shí)可通過(guò)延長(zhǎng)模塊內(nèi)部所執(zhí)行的更新間隔，而減 少數(shù)據(jù)保持電流。再者，要減少數(shù)據(jù)保持電流，可以切斷對(duì)DRAM供給的電源，而 只保持SRAM中所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)即可。只將應(yīng)保持的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在 SRAM，停止對(duì)沒(méi)有保持必要的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器供給電源，可以最低限 度的數(shù)據(jù)保持電流保持必要的數(shù)據(jù)。圖36所示為CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)的電路區(qū)塊圖。 CHIP2(SRAM+CTL一LOGIC)由SRAM及控制電路(CTL一LOGIC)所 構(gòu)成，所集成的SRAM為先前一般使用的非同步SRAM?？刂齐娐?(CTL—LOGIC)為CHIP2的SRAM以外的部分，圖36中以虛線包圍 的區(qū)域表示，由AS、 MMU、 ATD、 CTD、 FIFO、 R/W BUFFER, CACHE 、 A一CONT、 INT、 TMP、 RC、 PM、 CLK—GEN、 COM一GEN 所構(gòu)成。以下說(shuō)明各電路區(qū)塊的動(dòng)作。初始化電路INT在電源供給時(shí)進(jìn)行存儲(chǔ)器管理單元MMU內(nèi)的控 制寄存器的初始化及DRAM的初始化。指令寄存器REG保持從外部輸入的載入命令、儲(chǔ)存命令、MMU 變更命令等命令。存儲(chǔ)器管理單元MMU根據(jù)內(nèi)建的控制寄存器的設(shè)定值，變換從 外部輸入的地址，選擇指令寄存器REG或SRAM、 DRAM內(nèi)的工作 區(qū)域、DRAM內(nèi)的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域、FLASH而進(jìn)行存取?？?制寄存器的值在電源供給時(shí)被初始化電路INT初始設(shè)定?？刂萍拇嫫?的值在MMU變更命令輸入時(shí)變更到指令寄存器REG。。SRAM被選擇時(shí)，通過(guò)存取開(kāi)關(guān)(AS)對(duì)SRAM送出地址信號(hào)及指 令信號(hào)，進(jìn)行SRAM的存取。地址轉(zhuǎn)換檢測(cè)器電路(ATD)檢測(cè)地址信號(hào)及指令信號(hào)的變化而輸 出脈沖。又，指令轉(zhuǎn)換檢測(cè)器電路(CTD)檢測(cè)指令信號(hào)的變化而輸出 脈沖。這種檢測(cè)電路通過(guò)檢測(cè)信號(hào)的變化而開(kāi)始對(duì)存儲(chǔ)器存取。
            
R/W BUFFER暫時(shí)保持DRAM的讀取及寫入用的數(shù)據(jù)。 先進(jìn)先出存儲(chǔ)器(FIFO)用先進(jìn)先出的緩沖電路暫時(shí)保持對(duì)DRAM寫入的數(shù)據(jù)及其地址。CACHE在進(jìn)行更新的DRAM的切換時(shí)或一次的存取長(zhǎng)期進(jìn)行時(shí)，暫時(shí)存儲(chǔ)對(duì)DRAM寫入的數(shù)據(jù)及自DRAM讀取的數(shù)據(jù)。再者，CACHE也暫時(shí)存儲(chǔ)載入命令的對(duì)DRAM寫入的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)更新管理電路CPB則保持DRAM中被分配的FLASH數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域內(nèi)的地址中數(shù)據(jù)被更新的地址或地址范圍(即進(jìn)行寫入的地址或地址范圍)的信息。指令寄存器REG中保持、栽入命令、儲(chǔ)存命令、存儲(chǔ)器管理單元MMU變更命令、斷電命令等命令碼、栽入開(kāi)始地址、載入結(jié)束地址、儲(chǔ)存開(kāi)始地址、儲(chǔ)存結(jié)束地址等地址。指令產(chǎn)生器COM一GEN產(chǎn)生對(duì)DRAM存取所需要的指令。 存取控制器A一CONT產(chǎn)生用于對(duì)CHIP2的全體控制及對(duì)DRAM存取用的地址?？扉W控制信號(hào)產(chǎn)生電路FGEN進(jìn)行FLASH的數(shù)據(jù)的讀取及寫入 的制御。錯(cuò)誤修正電路ECC檢查自FLASH讀取的數(shù)據(jù)是否有錯(cuò)誤，若有 錯(cuò)誤則進(jìn)行修正。替代處理電路REP則檢查對(duì)FLASH的寫入是否正 確，未正確進(jìn)行時(shí)，則對(duì)FLASH中預(yù)先準(zhǔn)備的替代用新地址進(jìn)行寫 入。溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)測(cè)量溫度，將對(duì)應(yīng)于測(cè)得的溫度的信號(hào)輸出 到RC及A—CONT。 RC為更新計(jì)數(shù)器，配合DRAM的更新間隔產(chǎn)生 進(jìn)行更新的地址。又，通過(guò)溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)的輸出信號(hào)進(jìn)行對(duì)應(yīng) 于溫度的更新間隔的變更。電力模塊(PM)進(jìn)行對(duì)CHIP2的控制電路(CTL—LOGIC)及DRAM 的電源供給及電源的控制。時(shí)鐘信號(hào)產(chǎn)生器(CLK GEN)生成時(shí)鐘信號(hào)，供給到DRAM及控制電路(CTL一LOGIC)。指令/生器 (COM—GEN)產(chǎn)生對(duì)DRAM存取時(shí)需要的指令。存取控制器(Aj:ONT)
            
產(chǎn)生對(duì)CHIP2 (SRAM+CTL—LOGIC)全體動(dòng)作的控制及對(duì)DRAM進(jìn) 行存取用的地址。其次說(shuō)明本存儲(chǔ)模塊的動(dòng)作。對(duì)CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)進(jìn)行存儲(chǔ)器存取時(shí)，以以往一般 使用的非同步SRAM方式為接口。地址信號(hào)(A0 A24)或指令信號(hào)(S-ZLB， S-/UB, S-AVE， S-/CE1, S-CE2， S-/OE)變化時(shí)，ATD檢測(cè)該變化，開(kāi)始對(duì)指令寄存器REG、 SRAM、 DRAM存取。從外部輸入的地址信號(hào)(A0 A24)的值首先被MMU所變換。變 換的模式由預(yù)先輸入MMU內(nèi)部的寄存器的值所決定。根據(jù)變換后地 址，決定存取對(duì)象是指令寄存器REG、 SRAM、或是DRAM。對(duì)SRAM進(jìn)行存取時(shí)，MMU將變換后的地址傳送到SRAM的同 時(shí)，對(duì)存取開(kāi)關(guān)(AS)指示指令傳送。存取開(kāi)關(guān)(AS)將指令傳送給 SRAM，開(kāi)始對(duì)SRAM存取。其后的動(dòng)作即對(duì)所謂非同步SRAM進(jìn) 行存取。對(duì)DRAM進(jìn)行讀取存取時(shí)，對(duì)A_CONT送出從外部輸入而被 MMU變換過(guò)的地址及ATD檢測(cè)出的指令。A一CONT根據(jù)收到的地 址及指令判斷對(duì)DRAM進(jìn)行存取后，對(duì)COM一GEN指示對(duì)DRAM 的指令發(fā)出。又，A—CONT將從MMU收到的地址變換成DRAM的 行地址及列地址，將其輸出到2個(gè)DRAM中負(fù)責(zé)存取的DRAM。 COM—GEN與CLK_GEN所產(chǎn)生之時(shí)鐘同步，與地址相同地將指令發(fā) 給負(fù)責(zé)存取的DRAM。收到指令及地址的DRAM輸出數(shù)據(jù)，被輸出 的數(shù)據(jù)通過(guò)R/W BUFFER被傳送到I/O0 ~ 1/015，而結(jié)束讀取存取。對(duì)DRAM進(jìn)行寫入存取時(shí)，對(duì)A_CONT送出從外部輸入而被 MMU變換過(guò)的地址及ATD檢測(cè)出的指令及DTD檢測(cè)到的指令及數(shù) 據(jù)。A—CONT根據(jù)收到的地址及指令判斷對(duì)DRAM進(jìn)行存取后，對(duì) COM—GEN指示對(duì)DRAM的指令發(fā)出。又，A_CONT將從MMU收 到的地址變換成DRAM用地址，將其輸出到2個(gè)DRAM中負(fù)責(zé)存取 的DRAM。 COM_GEN與CLK一GEN所產(chǎn)生之時(shí)鐘同步，與地址相  同地將指令發(fā)給負(fù)責(zé)存取的DRAM。寫入的數(shù)據(jù)被輸入到I/O0~ I/015暫時(shí)保持在R/W BUFFER后，被送到負(fù)責(zé)存取的DRAM中， 進(jìn)行寫入。又，寫入的數(shù)據(jù)及其地址也被暫時(shí)保持在FIFO中，在另 一個(gè)DRAM的更新也結(jié)束后被寫入。在高溫下使用存儲(chǔ)模塊時(shí)，縮短DRAM的更新間隔而頻繁地進(jìn)行 更新即可。因此本存儲(chǔ)模塊中溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)測(cè)量溫度并通知給 更新計(jì)數(shù)器及存取控制器。高溫時(shí)則更新計(jì)數(shù)器縮短更新間隔，輸出 更新用地址。又，相反地低溫時(shí)若拉長(zhǎng)DRAM的更新間隔則可減少 數(shù)據(jù)保持電流。此種情況下溫度計(jì)測(cè)模塊(TMP)也可測(cè)量溫度而通知 更新計(jì)數(shù)器及存取控制器。低溫時(shí)則更新計(jì)數(shù)器拉長(zhǎng)更新間隔而輸出 更新用地址。安裝有存儲(chǔ)模塊的機(jī)器有時(shí)想要根據(jù)動(dòng)作狀態(tài)而減少耗電。因此 說(shuō)明以電力模塊改變存儲(chǔ)器的動(dòng)作狀態(tài)而減少耗電的方法。 電源控制的說(shuō)明。首先，最簡(jiǎn)單的方法是電力模塊根據(jù)指令信號(hào)PS停止更新計(jì)數(shù) 器進(jìn)行更新。由此，DRAM中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)會(huì)被破壞，但可減少更新所 需要的電力。要更進(jìn)一步減少耗電，可在存儲(chǔ)模塊內(nèi)部中切斷對(duì)DRAM供給的 電源。此時(shí)電力模塊根據(jù)機(jī)器輸出的指令信號(hào)PS停止對(duì)DRAM供給 的Dl-VCC, D2-VCC的電力供給。電源切斷對(duì)2個(gè)DRAM進(jìn)行也可， 只切斷一方的DRAM的電源也可。此外，要更進(jìn)一步減少耗電時(shí)，電力模塊也可根據(jù)指令信號(hào)PS 停止對(duì)CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)中與DRAM的存儲(chǔ)器存取相關(guān) 的部分的電源供給即可。本狀態(tài)中可例如在 CHIP2(SRAM+CTLJX)GIC)中除了 SRAM以外，只對(duì)MMU及AS 連接電源而動(dòng)作，成為只執(zhí)行對(duì)SRAM的存取的模式。再者，也可根據(jù)指令PS而成為只保持SRAM的數(shù)據(jù)的動(dòng)作狀態(tài)。 本種情況下，切斷連接SRAM的電源(S-VCC，S-VSS)以外的電源，禁
            
止對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行存取。本狀態(tài)中存儲(chǔ)模塊進(jìn)行SRAM中所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù) 的保持。暫時(shí)停止對(duì)DRAM供給電源而停止動(dòng)作后要使DRA重新動(dòng)作， 除了重新開(kāi)始供給電源之外，必須進(jìn)行DRAM的初始化。初始化方 法為一般的方法，在本存儲(chǔ)模塊中，初始化電路(INT)對(duì)存取控制器 (A一CONT)指示初始化的順序而執(zhí)行初始化。又，停止DRAM的更新后要使DRAM重新動(dòng)作時(shí)，也必須進(jìn)行 DRAM的初始化，初始化電路(INT)仍然要對(duì)存取控制器(A一CONT) 指示初始化的順序而執(zhí)行初始化。圖37所示為經(jīng)MMU變換的存儲(chǔ)映像的一例。這種存儲(chǔ)映像均可 根據(jù)MMU內(nèi)部的寄存器的設(shè)定值而選擇。雖并不特別受限，本實(shí)施 例中以FLASH的存儲(chǔ)區(qū)域?yàn)?56+8Mb、 SRAM的數(shù)據(jù)保持區(qū)域?yàn)?2Mb、 DRAM的存儲(chǔ)區(qū)域?yàn)?56Mb的存儲(chǔ)模塊為例說(shuō)明了代表性存 儲(chǔ)映像。圖37所示的存儲(chǔ)映像以從外部輸入的地址A0~A24為基礎(chǔ)，存 儲(chǔ)器管理單元MMU對(duì)指令寄存器REG、 SRAM、 DRAM內(nèi)工作區(qū) 域、DRAM內(nèi)FLASH復(fù)制區(qū)域、FLASH進(jìn)列地址變換。根據(jù)地址 選擇而存取。對(duì)控制電路(CTL—LOGIC)內(nèi)部存在的指令寄存器REG，從外部 寫入載入命令、儲(chǔ)存命令、MMU寄存器變更命令、斷電命令等命令 碼或載入命令或儲(chǔ)存命令時(shí)的開(kāi)始地址或結(jié)束地址。在指令寄存器REG中寫入載入命令后，控制電路從FLASH對(duì) DRAM傳送資。換言之，對(duì)DRAM。儲(chǔ)存命令寫入后，控制電路將 數(shù)據(jù)從DRAM傳送到FLASH。即對(duì)DRAM進(jìn)行讀取。2個(gè)DRAM(CHIP3及CHIP4)保持映像到同 一地址空間的同 一數(shù) 據(jù)。各個(gè)DRAM交互重覆負(fù)責(zé)存取的期間(WORK期間)及優(yōu)先執(zhí)行 更新的期間(REF.期間)。來(lái)自外部的存儲(chǔ)器存取則對(duì)WORK期間中 的DRAM執(zhí)行。
            
又，本例中2Mb的SRAM區(qū)域設(shè)定成集中在地址空間的下部， 本區(qū)域與DRAM重復(fù)映像在存儲(chǔ)器空間中，但不進(jìn)行DRAM的存取， 只 進(jìn)行SRAM的存取?？刂拼鎯?chǔ)模塊的電源只保持SRAM的數(shù)據(jù)而使用時(shí)，可集中管 理SRAM的區(qū)域。未被存取的DRAM的區(qū)域(SHADOW)可用于救濟(jì)DRAM的存儲(chǔ) 單元。本存儲(chǔ)模塊設(shè)計(jì)成可在低溫時(shí)延更新間隔而減少耗電，此時(shí)會(huì) 產(chǎn)生數(shù)據(jù)保持困難的存儲(chǔ)單元(Fail bit)。因此，可使用該成為 SHADOW的DRAM進(jìn)行Fail bit的替代。圖37中WORK期間中的 DRAM有Fail bit A， REF.期間中的DRAM有Fail bit B，其地址事 前有登錄，對(duì)Fail bit進(jìn)行存取時(shí)，則存取各自的SHADOW以代之。 通過(guò)SHADOW的替代，可救濟(jì)Fail bit,通過(guò)延長(zhǎng)低溫時(shí)的更新間隔， 得到耗電少的存儲(chǔ)模塊。圖38所示為隱藏DRAM的更新的存取控制方式的原理。本發(fā)明 中的DRAM的動(dòng)作可通過(guò)向REF期間中對(duì)庫(kù)(bank)的存取賦與優(yōu)先 順序而執(zhí)行來(lái)說(shuō)明。圖35(A)所示為存取的優(yōu)先順序示意圖。本圖表示DRAM1在 WORK期間中，DRAM2在REF.期間中。又，圖中顯示暫時(shí)代為存 取的CACHE、暫時(shí)保管寫入數(shù)據(jù)的FIFO、從RC產(chǎn)生的更新要求、 載入及儲(chǔ)存命令時(shí)的DRAM存取.WORK期間中的DRAM1中，只進(jìn)行從外部的存取(1)。另一 方面，期間中的DRAM2中則首先最優(yōu)先進(jìn)行更新(2)。其次，執(zhí) 行保持在FIFO中的數(shù)據(jù)的寫入(3)。其次，執(zhí)行CACHE所保持的 載入命令的對(duì)DRAM寫入數(shù)據(jù)的寫回(4)，最后，執(zhí)行栽入命令及 儲(chǔ)存命令對(duì)DRAM存取(5 )。這種動(dòng)作均由存取控制電路(A—CONT) 判斷其優(yōu)先順序而執(zhí)行。又，外部存取(1)執(zhí)行一次存取要80ns，更新(2)及從FIFO 寫回(3)、從CACHE的寫入存取(4)、載入、儲(chǔ)存命令吋的存取 (5)的執(zhí)行要70ns。本存儲(chǔ)模塊利用該時(shí)間差從外部隱藏更新。
            
圖38(B)所示為執(zhí)行讀取存取的情形。顯示DRAM1在WORK期 間中連續(xù)進(jìn)行讀取存取的情形。DRAM1中只有外部存取(3)執(zhí)行 80ns,讀出數(shù)據(jù)后結(jié)束存取。另一方面，DRAM2中更新(2)只執(zhí)行 70ns。圖38(C)所示為進(jìn)行寫入存取的情形。從外部的寫入存取(1)首 先在WORK期間中的DRAM1中執(zhí)行。同時(shí)將寫入數(shù)據(jù)暫時(shí)保存在 FIFO中。REF期間中的DRAM2中首先最優(yōu)先進(jìn)行更新(2)。其次 執(zhí)行保持在FIFO中的數(shù)據(jù)的寫回(3)。在此，WORK期間中的DRAM1 —次的動(dòng)作需要80ns，相對(duì)在 此，REF期間中的DRAM2中一次的動(dòng)作70ns即結(jié)束。因此，即使 DRAM2進(jìn)行更新動(dòng)作，由于寫入動(dòng)作進(jìn)行得比DRAM1快，故可結(jié) 束FIFO中的所有數(shù)據(jù)寫入而追上DRAM1。圖39所示為以栽入及儲(chǔ)存命令對(duì)DRAM寫入或讀取存取隱藏動(dòng)作。圖39(A)所示為以儲(chǔ)存命令對(duì)DRAM執(zhí)行讀取存取時(shí)，從外部產(chǎn) 生讀取存取及寫入存取時(shí)對(duì)DRAM存取的情形。顯示DRAM1在 WORK期間中，DRAM2在REFRESH期間中例。DRAM1中只有從 外部的讀取存取(1)進(jìn)行80ns。另 一方面，DRAM2中以儲(chǔ)存命令對(duì) DRAM只執(zhí)行70ns的的讀取存取(4 )。圖39(B)所示為以栽入命令對(duì)DRAM執(zhí)行寫入存取時(shí)，從外部產(chǎn) 生寫入存取時(shí)對(duì)DRAM存取的情形。DRAM1中從外部的寫入存取(1) 進(jìn)行80ns，同時(shí)將寫入數(shù)據(jù)暫時(shí)保持在FIFO。REF期間中的DRAM2中，以載入命令對(duì)DRAM進(jìn)行寫入存取 (5)，同時(shí)將寫入數(shù)據(jù)保持在CACHE。其次，執(zhí)行保持在FIFO中 的數(shù)據(jù)的寫入(3)。又，保持在CACHE中的數(shù)據(jù)在DRAM1的 REFRESH期間中寫回DRAM1 。在此，WORK期間中的DRAM1—次動(dòng)作需要80ns，相對(duì)在此， REF期間中的DRAM2中一次的動(dòng)作70ns即結(jié)束。因此，即使DRAM2
            
以載入命令進(jìn)行寫入動(dòng)作，由于寫入動(dòng)作進(jìn)行得比DRAM1快，故可 結(jié)束FIFO中的所有數(shù)據(jù)寫入而追上DRAM1。圖39(C)所示為DRAMl換到REFRESH期間、DRAM2換到 WORK期間時(shí)執(zhí)行從CACHE到DRAM的寫入存取時(shí)，從外部產(chǎn)生 寫入存取時(shí)對(duì)DRAM存取的情形。DRAM2中從外部的寫入存取(1) 進(jìn)行80ns，同時(shí)將寫入數(shù)據(jù)暫時(shí)保持在FIFO。REF期間中的DRAMl中，執(zhí)行從CACHE到DRAM的寫入存 取(4),接著執(zhí)行保持在FIFO中的數(shù)據(jù)的寫入(3)。在此，WORK期間中的DRAM2—次動(dòng)作需要80ns，相對(duì)在此， REF期間中的DRAMl中一次的動(dòng)作70ns即結(jié)束。因此，即使DRAMl 進(jìn)行從CACHE的寫入動(dòng)作，由于寫入動(dòng)作進(jìn)行得比DRAM2快，故 可結(jié)束FIFO中的所有數(shù)據(jù)寫入而追上DRAM2。如此，可隱藏栽入命令及儲(chǔ)存命令對(duì)DRAM內(nèi)部的存取，而從外 部執(zhí)行存取。圖40所示為為了隱藏DRAM的更新或栽入命令或儲(chǔ)存命令對(duì) DRAM內(nèi)部的存取，使2個(gè)DRAM分時(shí)動(dòng)作的情形。圖40(A)為通常 4吏用溫度范圍的75'C以下的DRAM的動(dòng)作例。2個(gè)DRAM(DRAM1 及DRAM2)交互重覆WORK期間及REF.期間。在標(biāo)示W(wǎng)ORK的 WORK期間中的DRAM對(duì)外部存取動(dòng)作。最初的DRAM1進(jìn)入 WORK期間，對(duì)應(yīng)來(lái)自外部的存取。另一方面，REF.期間中的DRAM 優(yōu)先進(jìn)行更新動(dòng)作，外部存取在寫入之時(shí)在更新結(jié)束后進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫 入。DRAM的存儲(chǔ)單元通常必須在64ms以內(nèi)進(jìn)行更新，圖示的例中 在該時(shí)間內(nèi)切換WORK期間及REF.期間8次，DRAMl及DRAM2 互相重覆WORK期間及REF.期間各4次。在此，以在一次的REF.期間的8ms間進(jìn)行更新所需要之時(shí)間為 Tl，將在同一期間內(nèi)進(jìn)行寫入存取之后累積在FIFO的數(shù)據(jù)寫回所需 要之時(shí)間為T2，可進(jìn)行栽入命令時(shí)的寫入存取之時(shí)間為T3，說(shuō)明REF. 期間中進(jìn)行的更新、栽入時(shí)寫入存取及寫回。
            
以256Mbit的SDRAM為例，其存儲(chǔ)器構(gòu)成為8192行x512列x16 位元x4庫(kù)，在64ms的期間內(nèi)進(jìn)行32768次(8192行x4庫(kù)分)的更新 即可。因此，圖40(A)的例中對(duì)l個(gè)DRAM在64ms的期間內(nèi)有4次 REF.期間，故一次REF.期間(8ms)內(nèi)進(jìn)行8192次更新。
            
一次的更新需要的時(shí)間70ns，故Tl = 70ns x 8192次=0.574ms。 另一方面，求出在8ms的期間內(nèi)從外部進(jìn)行的寫入存取的最大值，每 次的存取均為寫入的話，則為100000次(8ms/80ns)。將其寫回REF. 期間中的DRAM所需要之時(shí)間Tl為7ms(70ns x 100000次)。若進(jìn)行 載入時(shí)寫入存取4096次，則栽入時(shí)寫入存取所需要之時(shí)間T3=70ns x 4096次=0.287ms。
            
因此，Tl + T2 + T3-7.861ms <8ms，可知在REF.期間中可充分 地執(zhí)行更新及栽入命令的寫入存取及寫回。又，更新也可在REF期間 中的DRAM內(nèi)的多個(gè)庫(kù)同時(shí)執(zhí)行。此時(shí)可減少Tl期間內(nèi)執(zhí)行的更新 的次數(shù)，故可縮短T1期間。若縮短T1期間，則可以減少FIFO的存 儲(chǔ)容量外，也可得到從外部存取之間隔較短的高速存儲(chǔ)器。
            
圖40(B)所示為變更DRAM的更新間隔的情形。 一般而言，DRAM 的更新特性在高溫時(shí)會(huì)惡化。因此例如在75'C以上的高溫下縮短更新 間隔即可保持?jǐn)?shù)據(jù)，可在更大的溫度范圍內(nèi)動(dòng)作。本例中高溫時(shí)的更 新間隔縮短到48ms。 Tl未改變，而T2變?yōu)?.25ms， T3變?yōu)?.144ms 的話，Tl + T2 + T3 = 597ms<6ms，可知在REF.期間中可充分執(zhí)行 更新及栽入時(shí)寫入存取及寫回。
            
另一方面，在低溫時(shí)可縮短更新間隔以減少數(shù)據(jù)保持電流。圖示 的例中低溫時(shí)將更新間隔延長(zhǎng)成2倍，達(dá)到128ms。此時(shí)REF期間為 16ms。 Tl未改變，而T2變?yōu)?4ms， T3變?yōu)?.15ms， Tl + T2 +T3 = 15.8ms < 16ms，得知在REF.期間中可充分執(zhí)行更新及載入時(shí)寫入存 取及寫回。
            
本實(shí)施例中以每一芯片說(shuō)明DRAM的動(dòng)作單位，但也可根據(jù)存儲(chǔ) 模塊的性能或存儲(chǔ)器芯片的構(gòu)成以庫(kù)(bank)為動(dòng)作單位。又，將更新 間隔64ms分割為8個(gè)期間作為WORK期間及REF期間，若再更細(xì)
            
分則可減少保持?jǐn)?shù)據(jù)及地址用的FIFO的存儲(chǔ)容量。相反地分割成較 大單位的話則可減少WORK期間與REF期間的切換次數(shù)，故可簡(jiǎn)化 切換用的控制電路。
            
圖41說(shuō)明CACHE的作用。圖41(A)所示為WORK期間與REF. 期間切換之前從外部進(jìn)行寫入存取的情形。在此在DRAM1的WORK 期間結(jié)束時(shí)進(jìn)行外部存取A。此時(shí)DRAM1的WORK期間到寫入存 取結(jié)束為止延長(zhǎng)dT。另一方面，DRAM2則如預(yù)定的WORK期間， 不寫入寫入數(shù)據(jù)而待命到寫入存取結(jié)束為止。未寫入DRAM2的數(shù)據(jù) 先暫時(shí)保持在CACHE. WORK期間中與保持在CACHE中者相同的 地址產(chǎn)生存取時(shí)，則不對(duì)DRAM2而對(duì)CACHE進(jìn)行讀寫。又，存取 為寫入存取時(shí)，對(duì)REF.期間中的DRAM1與平常相同地經(jīng)由FIFO進(jìn) 行寫入。保持在CACHE中的數(shù)據(jù)則在DRAM2的WORK期間結(jié)束 的下一個(gè)REF.期間內(nèi)被寫回。該寫回結(jié)束后清除CACHE的內(nèi)容。
            
存取為讀取存取時(shí)，到存取結(jié)束為止，將DRAMl的WORK 期間延長(zhǎng)dT。
            
圖41(B)所示為一次的存取進(jìn)行得較WORK期間及REF.期間為 長(zhǎng)的情形，或延長(zhǎng)期間dT無(wú)法完全涵蓋的情形。DRAMl在WORK 期間中開(kāi)始的外部存取B超過(guò)延長(zhǎng)時(shí)間dT,而在其次的REF.期間中 仍然繼續(xù)存取。此時(shí)的存取由CACHE接手，DRAMl進(jìn)入REF.期間。 DRAM2按照預(yù)定進(jìn)行WORK期間，進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)。讀取存取之時(shí)數(shù) 據(jù)從DRAMl給CACHE接手。寫入存取之時(shí)持續(xù)進(jìn)行的存取結(jié)束后， 將寫入CACHE的數(shù)據(jù)寫回DRAMl及DRAM2。寫回在各個(gè)DRAM 進(jìn)入REF.期間后進(jìn)行。二者的寫回結(jié)束后，清除CACHE的內(nèi)容。如 此使用CACHE可處理跨WORK期間及REF.期間的存取或一次或復(fù) 數(shù)次的超過(guò)WORK期間的存取。
            
圖42所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的動(dòng)作波形的一例。A0~A20， S-/CE1， S-CE2， S-/LB, S-/UB, S-/OE, S-/WE為輸出到存儲(chǔ)模塊的信 號(hào)，即所謂非同步SRAM的接口信號(hào)。數(shù)據(jù)輸入輸出信號(hào)I/O0~I/O15 分為數(shù)據(jù)的輸入及輸出，各以DIN、 DOUT表示。MMU，ATD，DTD
            
各表示MMU電路、ATD電路、CTD電路的輸出信號(hào)。D1-CLK為 供給到DRAM1之時(shí)鐘信號(hào)，Dl-COM為供給到DRAM1的指令信號(hào) 的總稱，D1-A0~D1-A15為供給到DRAM的DRAM1的地址信號(hào)， D1-DQ0 ~ D1-DQ15為DRAM的I/O線，為DRAM1的輸入輸出數(shù)據(jù) 信號(hào)。
            
D2-CLK為供給到DRAM2的時(shí)鐘信號(hào)，D2-COM為供給到 DRAM2的指令信號(hào)的總稱，D2-A0~D2-A15為供給到DRAM的 DRAM2的地址信號(hào)，D2-DQ0 ~ D2-DQ15為DRAM的I/O線，為 DRAM2的輸入輸出數(shù)據(jù)信號(hào)。
            
首先，說(shuō)明開(kāi)始時(shí)進(jìn)行的讀取存取。輸入地址A0 A24后，MMU 電路輸出變換后的地址。ATD電路檢測(cè)地址A0 A24及指令類 (S-/CE1, S-CE2, S-/LB, S-/UB, S-/OE, S-AVE)的變化，地址及指令確定 后輸出脈沖。以本脈沖為起點(diǎn)，對(duì)WORK期間中的DRAM1發(fā)出庫(kù) 主動(dòng)指令A(yù)及行地址Ra，其次發(fā)出讀取指令R及列地址Co。從 DRAM1讀出的數(shù)據(jù)輸出到D-DQ0 ~ D-DQ15，先通過(guò)R/W BUFFER 再輸出到I/O0 ~ 1/015。又，對(duì)REF.期間中的DRAM2以庫(kù)主動(dòng)指令 A及預(yù)先充電指令P進(jìn)行更新。
            
再說(shuō)明下一周期中的寫入存取的執(zhí)行例。
            
寫入存取時(shí)也與讀取存取同樣地以ATD信號(hào)的下降為起點(diǎn)對(duì) DRAM1及DRAM2發(fā)出庫(kù)主動(dòng)指令A(yù)及行地址Ra。寫入存取時(shí)未進(jìn) 行更新動(dòng)作，故發(fā)出指令及地址給DRAM1及DRAM2雙方。
            
其后，CTD電路檢測(cè)指令類(S-ZCE1， S-CE2， S-/LB, S-/UB, S-/OE, S-AVE)的變化，識(shí)別其為寫入動(dòng)作，輸出脈沖。以該脈沖為起點(diǎn)對(duì) DRAM1及DRAM2雙方發(fā)出寫入指令W及列指令Co,執(zhí)行寫入。
            
如上說(shuō)明的實(shí)施例中，可沿用SRAM接口方式而使用便宜的通用 DRAM得到大容量存儲(chǔ)模塊。本發(fā)明的控制電路(CTL一LOGIC)中使 用DRAM,但由于DRAM所需的更新由控制電路(CTL—LOGIC)所執(zhí) 行，故與SRAM同樣地可不考慮更新而使用。再者，由于可通過(guò)DRAM 中的數(shù)據(jù)保持的二重化及進(jìn)行更新的時(shí)序及栽入或儲(chǔ)存命令對(duì)
            
DRAM內(nèi)部的存取的調(diào)整，可將DRAM的更新及內(nèi)部存取從存儲(chǔ)模 塊外部隱藏起來(lái)，因此存取本存儲(chǔ)模塊時(shí)不必考慮更新及DRAM的 內(nèi)部存取而調(diào)整時(shí)序。因此可以與先前只使用的SRAM存儲(chǔ)模塊同樣 地使用，故不必變更先前的統(tǒng)即可使用大容量存儲(chǔ)模塊。又，通過(guò)減 少DRAM的更新間隔，在高溫時(shí)也可使DRAM動(dòng)作，可得到使用溫 度范圍大的存儲(chǔ)模塊。另一方面，通過(guò)在低溫時(shí)增加DRAM的更新 間隔，可減少數(shù)據(jù)保持所需要的電力，得到數(shù)據(jù)保持電力少的存儲(chǔ)模 塊。
            
電力模塊PM的作用下，可停止DRAM的 一部分全部的電源供給， 限定存儲(chǔ)區(qū)域，而減少數(shù)據(jù)保持所需要的電力。再者，通過(guò)也停止對(duì) 控制電路供給電源，可得到數(shù)據(jù)保持電力少的存儲(chǔ)模塊。又，此種情 形下可用MMU自由地設(shè)定進(jìn)行數(shù)據(jù)保持的存儲(chǔ)區(qū)域，故可對(duì)應(yīng)于各 種機(jī)器廣泛地使用。
            
<實(shí)施例5>
            
圖43所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的第四實(shí)施例。圖43(A)為俯視圖， 圖43(B)為剖面圖。本存儲(chǔ)模塊在通過(guò)球狀格子陣列(Ball Grid Array, BGA)安裝在裝置上的基板(例如玻璃環(huán)氧基板所制成的印刷電路板 PCB)上，安裝CHIP1(FLASH) 、 CHIP2(SRAM+CTL—LOGIC)、 CHIP3(DRAM1)及CHIP4(DRAM2)。雖不特別受限，CHIP3及CHIP4 中使用在芯片的中央排列1列信號(hào)及電源焊墊列的通用DRAM的棵 芯片。又，雖不特別受限，CHIP1中使用在芯片的一端排列一排信號(hào) 及電源焊墊列的FLASH的通用棵芯片。
            
CHIP1及基板上的接合墊以接合線(PATH2)連接，CHIP2及基板 上的接合墊以接合線(PATH3)連接。CHIP3及CHIP4與CHIP2以接 合線(PATH1)連接。CHIP1及CHIP2以接合線(PATH4)連接。搭載有 芯片的基板上面進(jìn)行樹(shù)脂模塑，以保護(hù)各芯片及連接配線。又，也可 另外在其上加上金屬、陶瓷或樹(shù)脂的蓋子(COVER)。
            
本發(fā)明的實(shí)施例中由于在印刷電路板PCB上直接搭栽棵芯片，故 可形成安裝面積小的存儲(chǔ)模塊。又，由于可接近配置各芯片，故可縮
            
短芯片間配線長(zhǎng)度。通過(guò)將芯片間的配線及各芯片與基板間的配線統(tǒng) 一成接合線方式，可用較少的步驟數(shù)制造存儲(chǔ)模塊。再者，通過(guò)以接 合線對(duì)芯片間直接配線，可減少基板上的接合墊數(shù)及接合線的條數(shù)，
            
以較少的步驟數(shù)制造存儲(chǔ)模塊。由于可使用大量量產(chǎn)的通用DRAM的 棵芯片，故可便宜且安定地供給存儲(chǔ)模塊。使用樹(shù)脂蓋時(shí)，可形成更 強(qiáng)韌的存儲(chǔ)模塊。使用陶瓷或金屬蓋時(shí)，除了強(qiáng)度外，更可形成放熱 性或遮蔽效果優(yōu)良的存儲(chǔ)模塊。
            
圖44所示為本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的圖43的變形例。圖44(A)為俯視 圖，圖44(B)為剖面圖。本例中，CHIP2(SRAM+CTI^LOGIC)安裝在 CHIP3及CHIP4上。對(duì)CHIP2及CHIP3或CHIP4的配線4吏用 PATH5。 CHIP1及基板上的接合墊以接合線(PATH2)連接，CHIP2 及基板上的接合墊以接合線(PATH3)連接。CHIP1及CHIP2以接合 線(PATH4)連接。
            
本安裝方法可減少印刷電路板PCB的面積。
            
又，通過(guò)積層的芯片間的配線PATH1，可縮短配線長(zhǎng)度，故除 了可提高配線的可靠度外，也可降低對(duì)外部的噪聲輻射。
            
<實(shí)施例6>
            
圖45所示為使用本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊的移動(dòng)電話機(jī)的實(shí)施例。 移動(dòng)電話由、天線ANT、無(wú)線區(qū)塊RF、基頻區(qū)塊BB、聲音編 解碼器區(qū)塊SP、揚(yáng)聲器SK、拾音器MK、處理器CPU、液晶顯示部 LCD、鍵盤KEY、本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊MEM所構(gòu)成。 說(shuō)明通話時(shí)的動(dòng)作。
            
通過(guò)天線ANT收到的聲音被無(wú)線區(qū)塊放大，輸出到基頻區(qū)塊BB。 基頻區(qū)塊BB將聲音的模擬信號(hào)變換成數(shù)字信號(hào)，進(jìn)行錯(cuò)誤修正及解 調(diào)處理，輸出到聲音編解碼器區(qū)塊SP。聲音編解碼器區(qū)塊將數(shù)字信號(hào) 變換成模擬信號(hào)，輸出到揚(yáng)聲器SK后，從揚(yáng)聲器可聽(tīng)到對(duì)方的聲音。
            
說(shuō)明從移動(dòng)電話機(jī)存取因特網(wǎng)的網(wǎng)頁(yè)，下載音樂(lè)數(shù)據(jù),播放收聽(tīng)， 最后儲(chǔ)存下栽音樂(lè)數(shù)據(jù)的一連串的作業(yè)的動(dòng)作。
            
存儲(chǔ)模塊MEM中，存放有基本程序、應(yīng)用程序(電子郵件、Web 瀏覽器、音樂(lè)播放、游戲等)。
            
從鍵盤指示起動(dòng)Web瀏覽器后，存放在存儲(chǔ)模塊MEM內(nèi)的 FLASH的Web瀏覽器的程序被傳送到同一存儲(chǔ)模塊內(nèi)的DRAM。對(duì) DRAM的傳送結(jié)束后，處理器CPU執(zhí)行DRAM內(nèi)的Web瀏覽器的 程序，在液晶顯示LCD上顯示W(wǎng)eb瀏覽器。存取所要的網(wǎng)頁(yè)，從鍵 盤指示下栽喜歡的音樂(lè)數(shù)據(jù)后，通過(guò)天線ANT接收音樂(lè)數(shù)據(jù)，以無(wú) 線區(qū)塊放大，輸入到基頻區(qū)塊BB?；l區(qū)塊BB將為模擬信號(hào)的音樂(lè) 數(shù)據(jù)變換成數(shù)字信號(hào)，進(jìn)行錯(cuò)誤修正及解調(diào)處理。最后，將數(shù)字信號(hào) 化的音樂(lè)數(shù)據(jù)先存放到存儲(chǔ)模塊MEM的DRAM中，再傳送到 FLASH 。
            
其次以鍵盤KEY指示音樂(lè)播放程序的起動(dòng)后，存放在存儲(chǔ)模塊 MEM內(nèi)的FLASH中的音樂(lè)播放程序被傳送到同 一存儲(chǔ)模塊內(nèi)的 DRAM。對(duì)DRAM的傳送結(jié)束后，處理器CPU執(zhí)行DRAM內(nèi)的聲 音播放程序，在液晶顯示LCD中顯示音樂(lè)播放程序。
            
從鍵盤下達(dá)聽(tīng)取下載到DRAM中的音樂(lè)數(shù)據(jù)的指示后，處理器 CPU執(zhí)行音樂(lè)播放程序，處理保持在DRAM中的音樂(lè)數(shù)據(jù)，最后從 揚(yáng)聲器SK聽(tīng)到音樂(lè)。
            
此時(shí)，由于本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊使用大容量的DRAM，故Web瀏 覽器及音樂(lè)播放程序被保持在DRAM中，哪一個(gè)程序均被CPU同時(shí) 執(zhí)行.再者，也可同時(shí)啟動(dòng)電子郵件程序，收發(fā)電子郵件。
            
由于Web瀏覽器停止時(shí)也保持在存儲(chǔ)模塊內(nèi)的DRAM中，故要 再起動(dòng)時(shí)可立即起動(dòng)。
            
從鍵盤輸入斷電的指示后，存儲(chǔ)模塊只使SRAM動(dòng)作，進(jìn)行最低 限度的數(shù)據(jù)保持，可使耗電極小。
            
如此，通過(guò)使用本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊，可存放大量的電子郵件、音 樂(lè)播放、應(yīng)用程序、音樂(lè)數(shù)據(jù)、影像數(shù)據(jù)、動(dòng)畫數(shù)據(jù)等，再者，可同 時(shí)執(zhí)行多個(gè)程序。
            
發(fā)明的效果
            
如上所說(shuō)明者，本發(fā)明的較佳實(shí)施例所得到的效果如下。通過(guò)將FLASH的數(shù)據(jù)復(fù)制到DRAM，可使FLASH數(shù)據(jù)的讀取及寫入速度 與SDRAM及SRAM相當(dāng)。 符號(hào)的說(shuō)明CHIP1…非易失性存儲(chǔ)器、CHIP2…控制電路(CTI^LOGIC)或靜 態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)及集成有控制電路(CTL—LOGIC)的半導(dǎo) 體芯片、<:11^ 3...動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(011厶1^)或動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ) 器(DRAM1) 、   CHIP4…動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM2)、 S-VCC...CHIP2的電源、S-VSS...CHIP2的接地、PS...電力控制信號(hào)、 L-VCC...CHIP2的電源、L國(guó)VSS…CHIP2接地、CLK...CHIP2的時(shí) 鐘信號(hào)、CKE…CHIP2的時(shí)鐘啟動(dòng)信號(hào)、/CS…CHIP2的芯片選擇信 號(hào)、/RAS...CHIP2的行地址選通信號(hào)、/CAS...CHIP2的列地址選通 信號(hào)、/WE...CHIP2的寫入啟動(dòng)信號(hào)、DQMU/DQML...CHIP2的輸 入/輸出屏蔽信號(hào)、WAIT…CHIP的等待信號(hào)、AO ~ A15…CHIP2的 地址信號(hào)、D1-CLK…CHIP3的時(shí)鐘信號(hào)、D1-CKE…CHIP3的時(shí)鐘 啟動(dòng)信號(hào)、D1-/CS...CHIP3的芯片選擇信號(hào)、D1-/RAS...CHIP3的行 地址選通信號(hào)、D1-/CAS...CHIP3的列地址選通信號(hào)、 D1-/WE...CHIP3的寫入啟動(dòng)信號(hào)、D1-A0 ~ D1-A15…CHIP3的地址 信號(hào)、D1-DQMU/DQML…CHIP3的輸入/輸出屏蔽信號(hào)、D1-DQ0 ~ D2-DQ15…CHIP3的數(shù)據(jù)輸入輸出、D1-VCC...CHIP3的電源、 D1-VSS…CHIP3的接地、D1-VCCQ...CHIP3的I/O用電源、 D1-VSSQ…CHIP3的I/O用接地、F/CE…CHIP1的芯片啟動(dòng)信號(hào)、 F-/OE...CHIP1的輸出啟動(dòng)信號(hào)、F-/WE...CHIP1的寫入啟動(dòng)信號(hào)、 F-SC…CHIP1的串列時(shí)鐘信號(hào)、F-/RES...CHIP1的重置信號(hào)、 F-CDE…CHIP1的指令數(shù)據(jù)啟動(dòng)信號(hào)、F-RDY/BUSY…CHIP1的待命 /忙碌信號(hào)、I/O0~I/O7...CHIPl的輸入輸出信號(hào)、CO]V^GEN…指令 產(chǎn)生器、INT…初始化電路、MMU…存儲(chǔ)器管理單元、CPB…數(shù)據(jù)更 新地址管理電路、REG…指令寄存器、Aj:ONT存取控制器、PM... 電力管理模塊、R/WBUFFER…讀取/寫入緩沖器、CLKBUF...時(shí)鐘緩
            
沖器、FGEN...快閃制御信號(hào)產(chǎn)生電路、ECC…錯(cuò)誤修正電路、REP... 替代處理電路、FLASHC叩yArea…快閃數(shù)據(jù)復(fù)制區(qū)域、WorkArea... 工作區(qū)域、MD-Area…主數(shù)據(jù)區(qū)域、REP - Area…替代區(qū)域、Fail Area B...不良區(qū)域B、 Fail Area C...不良區(qū)域C、 A、 As…主動(dòng)命令、R、 Rs...讀取命令、W...寫入命令、RR、 RO、 Rl、 RD、 RT、 RU…行地 址、RC、 CO、 Cl、 CD、 CF、 CT、 CU、 CR...列地址、Ld…栽入命 令碼、Sa…開(kāi)始地址、Ea…結(jié)束地址、P、 Ps…預(yù)先充電命令、In… 輸入數(shù)據(jù)、0、 Os…輸出數(shù)據(jù)、St...儲(chǔ)存命令碼、B、 BOs...庫(kù)地址、 C-BUF...控制器信號(hào)緩沖、CTL...指令控制器、MUX...多工器、 DI-BUF...數(shù)據(jù)輸入緩沖、輸入數(shù)據(jù)控制器IDC…輸入數(shù)據(jù)控制器、 SA-BUF...扇區(qū)地址緩沖、X-DEC...X解碼器、MA...存儲(chǔ)器陣列、 Y-CT…Y地址計(jì)數(shù)器、Y-DEC…Y解碼器、YGATE/SENSE-AMP…Y 柵極&檢測(cè)放大電路、DATA-REG...數(shù)據(jù)寄存器、DO-BUF...數(shù)據(jù)輸 出緩沖、Rcode...讀取命令碼、AD1、 AD2、 AD3…地址、F-ZCE...芯 片啟動(dòng)信號(hào)、F-CLE...指令閂鎖啟動(dòng)信號(hào)、F-ALE...地址閂鎖啟動(dòng)信 號(hào)、F-AVE…寫入啟動(dòng)信號(hào)，F(xiàn)-ZRE…讀取啟動(dòng)信號(hào)、F-AVP…寫入保 護(hù)信號(hào)、F-R/B…待命/忙碌信號(hào)，1/00~1/07...用于輸入輸出信號(hào)的 地址的輸入或數(shù)據(jù)的輸入輸出。L-CONT…動(dòng)作邏輯控制器、CTL…控制電路、1/0-CONT…輸 入輸出控制電路、STREG...狀態(tài)寄存器、ADREG...地址寄存器、 COMREG…指令寄存器、R-B…待命/忙碌電路、VL-GEN…高電壓產(chǎn) 生電路、ROW-BUF...行地址緩沖、ROW-DEC...行地址解碼器、COL -BUF…行緩沖器、COL-DEC…列解碼器、DATA - REG...數(shù)據(jù)寄存 器、SENSE-AMP...檢測(cè)放大、MA...存儲(chǔ)器陣列、X-ADB...X地址緩 沖、REF.COUNTER…更新計(jì)數(shù)器，X-DEC…X解碼器、MA…存儲(chǔ)器 陣列，Y-ADB...Y地址緩沖、Y-AD COUNTER...Y地址計(jì)數(shù)器、 Y-DEC…Y解碼器，SENS AMP.& I/O BUS…檢測(cè)放大電路&Y柵極、 INPUT BUFFER...輸入數(shù)據(jù)緩沖電路、OUTPUT BUFFER.，,裔出數(shù)據(jù) 緩沖電路、CONTROL LOGIC & TG…控制電路&時(shí)序產(chǎn)生電路、 說(shuō)明書第61/ S-/CE1,、 S-CE2…芯片啟動(dòng)信號(hào)、S-ZOE…輸出啟動(dòng)信號(hào)、S-/WE... 寫入啟動(dòng)信號(hào)、S-ZLB...低位元組選擇信號(hào)、S-ZUB...高位元組選擇 信號(hào)、AS...存取開(kāi)關(guān)電路、SRAM...靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器、ATD...地 址轉(zhuǎn)換檢測(cè)器、CTD...指令轉(zhuǎn)換檢測(cè)器、TMP...溫度測(cè)定模塊、RC… 更新計(jì)數(shù)器、X-DEC...X解碼器、MA(SRAM)...存儲(chǔ)器陣列、 Y-GATE...Y柵極、Y-DEC...Y解碼器、D—CTL…輸入數(shù)據(jù)控制電路、 CONTROL LOGIC...控制電路、PCB…印刷電路基板、COVER…模 塊的密封蓋、PATH1…連接CHIP1及CHIP3或CHIP4的接合配線、 PATH2…連接PCB及CHIP1的接合配線、PATH3…連接PCB及 CHIP2的接合配線、PATH4…連接CHIP1及CHIP2的接合配線、 PATH5…連接CHIP3或CHIP4及CHIP3及安裝在CHIP4上的CHIP2 的配線，F(xiàn)IFO...先進(jìn)先出(存儲(chǔ)器)、CACHE...快取存儲(chǔ)器、 SHADOW...投影區(qū)域、WORK…工作期間、REF...更新期間、ANT… 天線、RF...無(wú)線區(qū)塊、BB...基頻區(qū)塊、SP...聲音編解碼器區(qū)塊、SK... 揚(yáng)聲器、MK…拾音器、CPU…處理器、LCD…液晶顯示部、KEY… 鍵盤、MEM...本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊。
            
權(quán)利要求
            
1、一種存儲(chǔ)模塊，包括多個(gè)第一端子，用于從所述存儲(chǔ)模塊的外部輸入多個(gè)指令信號(hào)；多個(gè)第二端子，用于從所述存儲(chǔ)模塊的外部輸入地址；多個(gè)第三端子，用于從所述存儲(chǔ)模塊的外部輸入多個(gè)數(shù)據(jù)；非易失性存儲(chǔ)器；隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，用于通過(guò)所述多個(gè)第三端子讀出數(shù)據(jù)到所述存儲(chǔ)模塊的外部；指令寄存器，在所述指令寄存器中寫入載入命令碼，所述載入命令碼通過(guò)所述多個(gè)第三端子從所述存儲(chǔ)模塊的外部被輸入；糾錯(cuò)電路，用于檢查從所述非易失存儲(chǔ)器讀出的數(shù)據(jù)是否包含任何錯(cuò)誤并在檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)糾正所述錯(cuò)誤；其中在所述載入命令碼被寫入所述指令寄存器時(shí)，將存儲(chǔ)在所述非易失存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)通過(guò)所述糾錯(cuò)電路從所述非易失性存儲(chǔ)器傳送到所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器；以及其中當(dāng)所述存儲(chǔ)模塊被訪問(wèn)以讀出數(shù)據(jù)時(shí)，所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器從所述多個(gè)第三端子輸出被所述糾錯(cuò)電路糾錯(cuò)后的數(shù)據(jù)。
            
2、 根據(jù)權(quán)利要求1的存儲(chǔ)模塊，其中所述存儲(chǔ)模塊根據(jù)在寫命令被輸入到所述多個(gè)第一端子時(shí)輸 入到所述多個(gè)第二端子的地址，選擇所述指令寄存器或所述隨機(jī)存取 存儲(chǔ)器。
            
3、 根據(jù)權(quán)利要求2的存儲(chǔ)模塊，還包括控制器，用于生成控制信號(hào)以控制所述非易失存儲(chǔ)器； 其中所述控制器在寫入所述栽入命令到所述指令寄存器時(shí)生成所 述控制信號(hào)。
            
4、 根據(jù)權(quán)利要求1的存儲(chǔ)模塊，其中當(dāng)所述存儲(chǔ)模塊輸入指示所述非易失存儲(chǔ)器的地址到所述多 個(gè)第二端子，并且輸入讀命令到所述多個(gè)第一端子時(shí)，所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器輸出從所述非易失存儲(chǔ)器傳送的數(shù)據(jù)。
            
5、 根據(jù)權(quán)利要求1的存儲(chǔ)模塊，其中所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器是動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器；以及 其中所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的容量等于或大于所述非易失存儲(chǔ) 器的容量。
            
6、 根據(jù)權(quán)利要求5的存儲(chǔ)模塊，其中所述存儲(chǔ)模塊使用SDRAM接口 。
            
7、 根據(jù)權(quán)利要求1的存儲(chǔ)模塊，其中所述存儲(chǔ)模塊使用SRAM接口 。
            
全文摘要
            
本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)容量大且可高速讀取、寫入的ROM及存儲(chǔ)容量大且數(shù)據(jù)保持電流少的RAM。本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)裝置包括非易失性存儲(chǔ)器，其具有第1讀取時(shí)間；隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，其具有讀取時(shí)間較所述第1讀取時(shí)間短100倍以上的第2讀取時(shí)間；控制電路，其與所述非易失性存儲(chǔ)器及所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器連接，用于控制對(duì)所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器及所述非易失性存儲(chǔ)器的存取；及多個(gè)輸入輸出端子，與所述控制電路連接，其中所述控制電路按照從所述多個(gè)輸入輸出端子輸入的信號(hào)，控制所述非易失性存儲(chǔ)器和所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器之間的數(shù)據(jù)傳送。
            
文檔編號(hào)G11C8/00GK101131861SQ20071016243
            
公開(kāi)日2008年2月27日 申請(qǐng)日期2002年6月11日 優(yōu)先權(quán)日2001年6月11日
            
發(fā)明者三浦誓士, 鲇川一重 申請(qǐng)人:株式會(huì)社日立制作所
            
                        
            
                        
            
                        
            
                            
                        
            

                        
                            
                    
            
                    
                    


                     
                        
                        
                    

                
            

                
                
            
                    
            
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