專利名稱：：在多波束光掃描系統中測量前向多激光束的激光功率的方法
技術領域：
：本發明總的涉及用于測量由包括至少兩個激光二極管的激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率的方法。本申請還涉及一種用于對由激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率進行自動功率控制的方法和一種記錄方法，該激光二極管陣列包括至少兩個激光二極管。本申請還涉及一種光拾取單元和一種多波束光掃描設備。
背景技術：
：光掃描設備藉助于掃描輻射波束一一通常是由激光二極管生成的激光束一一來掃描光盤，掃描輻射波束被聚焦到光盤上的一個小點。掃描光盤被理解為從光盤的信息層讀出和/或寫入到光盤的信息層。當前，數據被讀出和/或寫入的最大速率最終受光盤的伺服控制和機械穩定性限制。為了進一步提高數據速率，可以使用多個光輻射波束在多個軌道上同時讀出和寫入數據。光輻射波束的數目給出數據速率的額外的倍增。掃描輻射波束的數目的增加可以通過增加光掃描設備的頭的數目而達到。然而，在使用多個頭中引發了一些與復雜的控制、尺寸和制造成本的增加有關的嚴重問題。一個解決方案是使用包括多個可個體控制的激光二極管的半導體激光器，其能夠生成多個掃描輻射波束，其中可獲得對每個掃描輻射波束的分開的控制。可重寫的光盤通常利用相變材料作為信息層，其中所述層具有非結晶或結晶狀態，其取決于當記錄時施加到光盤的熱量。為了記錄到這樣的利用相變材料的光盤上，必要的是對于掃描輻射波束的功率具有良好的控制，以便能夠精確地將數據記錄到光盤上。眾所周知，在激光二極管的情形下，在驅動電流與輸出輻射功率之間的關系例如依賴于環境溫度且隨著自從光掃描設備激活以來的時間消逝而變化。因此，當必須有精確的功率調節時-正如在記錄包括相變材料的光盤的情形下，使用單個掃描輻射波束的光掃描設備配備有自動功率控制環(APC)來保持輸出輻射功率為恒定。然而，使用包括多個可個體地控制的激光二極管的半導體激光器具有的缺點在于在這些激光二極管之間存在(熱)串擾，導致輸出功率的偏移(offset)。例如，當多二極管半導體激光器的一個激光器以用于寫入的高激光輸出功率運行而多二極管半導體激光器的另一個激光器^皮接通時，則第一激光二極管的輸出功率發生改變。在記錄期間這個功率改變是不想要的，因為它例如經由通過影響標記的長度而增加抖動，來影響記錄的質量。因此，希望具有可以與多波束光掃描系統的使用相兼容的自動功率控制。日本專利申請No.03-309105公開了一種用于執行對多波束激光器的自動功率控制的方法，其中每個激光器發射前向波束和后向波束，聚光透鏡被提供在后向波束的路徑中，用于把后向波束成像在相應的光檢測器的陣列上。
發明內容本發明的目的是提供一種用于測量由包括至少兩個激光二極管的激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率的方法。這個目的是通過其特征為權利要求l中陳述的按照本發明的方法達到的。當記錄到利用相變材料的可(重)寫的光盤上時，需要高的激光功率。因此，激光二極管的背面的反射率接近于l，而激光二極管的正面的反射率低得多，通常是在10-50%左右，這樣，輸出的激光功率大多數是在前向波束中。部分前向波束將被光學器件或光盤向后反射，且因為激光二極管本身對于光是透明的，所以它可以耦合到空腔，或從激光器背面出射。后向傳播波束將包括后向波束和-故反射的部分前向波束，且因此不再能^^f吏用來精確地校準激光功率，因為它將取決于聚焦條件而波動。因此，在日本專利申請No.03-309105中所公開的方法不能被使用于測量前向多波束的激光功率。當測量前向多波束的激光功率時，由于多波束在傳統的光路徑上幾乎總是重疊的事實引起一個問題，所以，獨立地測量每個激光器的輸出功率并不簡單明了。按照本發明的、用于測量由包括至少兩個激光二極管的激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率的方法包括以下步驟生成前向多波束；把至少部分的前向多波束分離成個體的波束，個體波束的數目等于激光二極管陣列中的激光二極管的數目，該安排是使得每個個體波束包括源自于單個激光二極管的光；以及測量每個個體波束的激光功率的步驟。通過把前向多波束分離成單獨的波束，有可能測量個體波束的激光功率。在本方法的一個實施例中，分離步驟包括在空間上分離個體的波束。在有利的實施例中，本方法還包括使前向多波束傳送通過準直器透鏡，準直器透鏡被放置成使得激光二極管陣列基本上處在準直器透鏡的焦點；以及藉助于光檢測器來測量每個個體波束的激光功率，其中所述光檢測器被放置在準直器透鏡后的漸暈(vignetting)區域的前向多波束的邊緣處，這里所述個體的波束不重疊，從而每個光檢測器接收來自單個激光二極管的光。所述實施例帶來的優點在于比起已知的設計，在按照本發明的光拾取單元中不需要另外的光學元件，因此保持低的生產成本。在本方法的一個實施例中，分離步驟之前是波束分割步驟，包括把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，測量步驟包括藉助于^U欠置在漸暈區域的次前向多波束的邊緣處的光檢測器來測量每個個體波束的激光功率。在本方法的替換實施例中，分離步驟包括把成像透鏡放置在準直器透鏡和光檢測器陣列之后的前向多波束中，以使得相應的光檢測器被放置在來自激光二極管陣列的每個激光二極管的像點，測量步驟包括藉助于相應的光檢測器來測量每個個體波束的激光功率。所述替換實施例非常適合于操控包括兩個以上的個體波束的多波束。在本方法的一個實施例中，分離步驟包括在時間上分離個體的波束。在有利的實施例中，測量步驟包括藉助于祐J改置在前向多波束的路徑上的檢測系統來測量個體波束的激光功率，該檢測系統包括光檢測器，用于測量激光功率；和開關裝置，被安排成使得光檢測器只在當來自二極管激光器陣列的單個二極管激光器正發射的時間段內才測量。對來自激光器陣列的激光二極管的測量激光功率可以有利地相應于在一時間段上的平均。這樣的實施例帶來的優點在于光學上的光路徑未修改；所以生產成本是低的，因為不需要附加的光學元件。在本方法的一個實施例中，測量步驟還包括以預定的時間間隔采樣平均激光功率和關于來自激光二極管陣列的、發射光的激光二極管的信息，以及從采樣的激光功率和采樣的信息中提取由每個激光二極管生成的個體波束的平均激光功率。本發明還涉及一種用于對由激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率進行自動功率控制的方法，其中根據按照本發明的用于測量激光功率的方法執行對來自激光二極管陣列的每個激光二極管的個體激光功率的測量。本發明還涉及一種用于記錄光盤的方法，其中在記錄期間的自動功率控制是根據按照本發明的方法來執行的。本發明還涉及一種光拾取單元，和一種引入了按照本發明的光拾取單元的、用于掃描光盤的光掃描設備。從下文描述的實施例中將明白本發明的這些和其它方面，并將參照這些實施例來進行說明。通過參照以下附圖將明白本發明的特征和優點，其中圖1示意地圖解在其中可以實踐本發明的光掃描設備；圖2示意地圖解在光掃描設備的光拾取單元中的光路徑；圖3示意地圖解按照本發明第一實施例的光拾取單元的元件；圖4示意地圖解按照本發明第二實施例的光拾取單元的元件；圖5a和5b示意地圖解按照本發明的兩個實施例的、光檢測器相對于個體的激光束的安置；圖6示意地圖解按照本發明第三實施例的自動功率控制環(APC);圖7示意地圖解按照本發明的實施例的、測量每個波束的激光功率的方法；圖8圖解按照本發明的、執行自動功率校準的方法。優選實施例的詳細說明圖1顯示了在其中可以實踐本發明的光掃描設備的框圖。被放置在轉臺(9)上的光盤(1)由轉臺電動機(9a)旋轉。轉臺電動機(9a)的旋轉速度由控制器(8)控制。編碼的信息藉助于光拾取單元(OPU)(2)從光盤(1)讀出或被記錄到光盤(1)上。光拾取單元(2)生成電磁波束(3)和把電磁波束(3)聚焦到光盤上，并且它接收由光盤(l)上的數據結構所調制的反射的電磁波束。光拾取單元(OPU)(2)除了其它部件外尤其包括用于生成電磁波束(3)的裝置(4);用于把波束聚焦到盤上的透鏡系統(5);和主檢測系統(6)，包括幾個光電二極管，用于把接收的反射電磁波束變換成電信號。電磁波束的輸出功率由激光控制器(7)控制，激光控制器(7)按序又由通常也包括數字信號處理器(DSP)的一般控制器(8)控制。由主檢測系統(6)生成的電信號由信號預處理單元(9)進一步處理。預處理的信號被傳送到編碼器-譯碼器單元，通過利用已知的調制方案和糾錯算法，把信號編碼/譯碼成數字數據信號。透鏡系統(5)的沿軸向和徑向的精細位移以及整個光拾取單元(0PU)(2)相對于光盤(1)的粗略位移，由伺服單元(10)控制。祠服單元(IO)接收來自信號預處理單元(9)的經預處理的伺服信號，并由控制器(8)控制。將參照圖2討論光拾取單元(OPU)(2)的進一步的細節。在所有的圖上，當同一個功能單元出現在幾個圖上時，使用相同的參考標號，以便簡化理解。此后描述的透鏡系統(5)的實施例類似于被使用于藍光(BD)光盤驅動的透鏡系統。例如相應于比如CD和DVD光盤驅動的其它替換實施例在本領域是已知的。用于生成電磁波束(3)的裝置(4)例如相應于包括激光二極管陣列的半導體激光器，每個激光器是可獨立地控制的，并且生成個體的激光束。為了簡明起見，圖2上僅僅圖解一個波束。由激光二極管陣列(4)生成的發散的多波束(3)被準直器透鏡(51)準直。該波束也可以傳送通過波束成形器或預準直器(圖上未示出)，此二者的任一項或準直器透鏡也充當第一場闌(fieldstop)。該波束接著傳送通過極化波束分割器(52)。而且，該多波束傳送通過用于去除球面像差的光學元件(5"、用于改變極化狀態的四分之一波長OwM)元件(54)、和用于把多波束聚焦到光盤(1)的信息層的多個點上的物鏡(55)。反射的多波束傳送通過物鏡(55)、四分之一波長(入/4)元件(54)、和用于去除球面像差(53)的光學元件(53)。反射的多波束(3a)被極化波束分割器(52)向主檢測系統(6)反射。透鏡(56)把多波束聚焦到主檢測系統(6)。在已知的光掃描設備中，存在有單個前向傳感二極管(12)，用于收集部分的被反射的多波束(3a)和測量平均激光功率。由前向傳感二極管(12)測量的激光功率被激光控制器(7)用作為反饋信號，以生成自動功率控制環(APC),用來控制用于生成電磁波束(3)的裝置(4)。然而，當使用包括多個可個體地控制的激光二極管的半導體激光器時，由于在激光二極管之間存在熱串擾，導致激光二極管的輸出功率中的偏移，所以這個解決方案并不合適。例如，當多二極管半導體激光器的一個激光器以用于寫入的高激光輸出功率運行而多二極管半導體激光器的另一個激光器被接通時，則第一個激光二極管的輸出功率改變。在記錄期間這個功率改變是不想要的，因為它例如經由通過影響標記的長度而增加抖動，來影響記錄的質量，。圖3示意地圖解按照本發明第一實施例的光拾取單元的元件。這個實施例是基于如下思想，即分開檢測來自多激光束的每個波束的激光功率可以通過空間濾波而完成。生成個體波束的激光二極管41和42在半導體激光器管芯(die)上互相間隔開一個lOOiiim數量級或更小的距離，意味著個體的波束在光路徑上將顯著地重疊。而且，熱串擾的量與在個體激光二極管之間的間隔成反比地縮;故。在本發明的一個實施例中，成像透鏡(13)#:放置在波束分割器(52)之后，這樣，每個激光二極管(41，42)被成像在相應的前向傳感二極管(121，122)上。在一個實施例中，成像透鏡(13)可被集成到折疊式反射鏡或波束分割器中。前向傳感二極管(121，122)被放置在成像透鏡(13)的焦平面中。個體激光束的聚焦點被很好地分開，并可以由前向傳感二極管(121，122)獨立地檢測。為了簡明起見，在圖3上示意地圖解只包括兩個激光束的光路徑，但藉助于光學元件的恰當縮放和合適地放置相應的前向傳感二極管(121,122)，本思想也可應用于包括兩個以上的激光二極管的系統。圖4示意地圖解按照本發明第二實施例的光拾取單元的元件。這個實施例也是基于空間濾波的思想，因為它將個體波束的漸暈用于空間分離。在第一場闌(57)前面，由激光二極管(41,42)生成的個體波束完全重疊。在光拾取單元(OPU)中，第一場闌的尺寸可以取決于實際的設計來由波束成形器或預準直器(圖上未示出)、而不是準直透鏡確定。在傳播期間在這個場闌之后，個體波束將由于傳播角度的差別而偏離中心。然后可以在其中波束不再重疊的漸暈區域中，通過收集來自單獨波束的邊緣的光而檢測激光功率。前向傳感二極管可以放置在波束分割器(52)的后面，如在圖4上由前向傳感二極管121和122所表示的，或替換地，放置在前向光路徑中，如在圖4上由前向傳感二極管123和124所表示的。圖5a和5b示意地圖解按照本發明的兩個實施例的、光檢測器相對于個體的激光束的安置。圖5a示意地示出包括兩個個體波束(31，32)的多波束的截面。被使用于檢測的前向傳感二極管(121,122)被放置在兩個個體波束(31，32)的邊緣。實際被使用于掃描的波束的直徑是較小的，即，在物鏡處的場闌小于第一場闌。因此，在第一場闌后的漸暈區域中前向傳感二極管121和122的安置不影響其余部分的光路徑，所以不影響光盤的讀出和/或記錄。通過改變檢測器配置以便分開地檢測所有的激光束，有可能擴展到多個波束。作為例子，圖5b圖解了諸如擴展到四個獨立波束(300,301,302，303)和四個前向傳感二極管(125,126,127，128)。圖5b的安排可容易地擴展到任意數目的個體波束。圖6示意地圖解按照本發明第三實施例的自動功率控制環(APC)。第三實施例l基于如下思想，即通過在時域中的濾波，可以達到把多波束分離成個體的波束以使得可以獨立地測量每個波束的激光功率。為了把信息記錄到光盤上，使用由編碼器/譯碼器電子裝置(12)生成的一系列比特流。個體波束的生成經由一般控制器(8)和激光控制器(71，72)被控制，其中激光控制器(71,72)用于來自多激光器陣列(4)的每個個體的激光二極管。因此，有關哪個激光二極管是否是現用的信息在每個時刻都可得到。按照本發明，單個檢測器12，例如前向傳感二極管，在其中個體波束重疊的區域中被放置在光學系統(5)的光路徑中。來自單個檢測器12的數據信號以預定的時間間隔:帔采樣，該時間間隔優選地相應于單個比特的時間長度。邏輯電路(15)僅僅在其中一個激光二極管工作時才允許采樣數據。表1給出對于二激光二極管系統的可能的激光二極管接通/關斷組合的概觀。<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table>表l:"O，，代表激光器關斷，"l"代表激光器接通。僅僅當其中一個激光器被接通時，功率檢觀'J器的測量才被使用于校準激光功率。將參照圖7給出邏輯電路(15)的功能的進一步的細節。這里把兩個比特流描繪成時間的函數，當這兩個比特流被編碼器譯碼器單元生成時用來控制兩個激光器Ll和L2。散列的(hashed)區域18和19分別表示當僅僅其中一個激光器(對于區域19的Ll，或對于區域l8的L2)在工作時的時間段。回到圖6,在這些時間段18和19的每一個中，檢測器12的輸出分別被發送到相應的功率監視電路16和17。功率監視電路可以對于預定的時間段來平均所測量的激光功率。在多激光器系統中，在某個時刻僅僅一個激光器被接通的機會取決于激光器的數目N，如N/2"。對于較大數目的激光器，這個機會變得更小，減小了每個激光器在給定的時間間隔內的測量次數。然而，需要被校正的、由于在個體激光二極管之間的熱串擾造成的功率波動是較慢的(特征時間是毫秒量級)，而相應于要被記錄的最短標記的"單個激光器接通，，發生的頻率則高得多(特征時間是納秒量級)。因此，本發明的這個實施例也可應用于包括大量的個體波束的系統。邏輯電路也可以要么以硬件方式被實施，例如藉助于針對輸入數據的邏輯X0R(異或)門來生成僅僅一個激光器接通的邏輯信號。在替換實施例中，邏輯電路可以藉助于適當的固件被集成到通常包括數字信號處理器的控制器8中。本發明的第三實施例的優點在于，只需要一個檢測器，你也可以使用傳統的、簡單的光學器件，如集成塑料透鏡等等。在本發明的第四實施例中，由檢測器12生成的信號對于預定的時間段被平均，該時間段相應于在個體的比特流LSI和LS2中的幾個數據比特。在每個個體流中的比特例如藉助于加法器電路被相加。平均的信號輸出和對于每個比特流(LS1，LS2)的計數值作為一個項被存儲在緩沖器內。該處理過程對多個預定的時間段重復進行，在每個時間段內一個新的項被存儲在緩沖器內。對于在緩沖器中的項N，由檢測器12生成的平均信號(Ave-Signal)按照以下方程式與激光器1的輸出功率(Power-LSl)、比特流LSI中的計數值(Count—LSI)、激光器2的輸出功率(Power—LS2)、和比特流LS2中的計數值(Count—LS2)相聯系Ave—Signal[entry—N]=Power—LSI*Count—LSI[entry-N]+Power—LS2*Count—LS2[entry-N]通過使用適當的算法，例如最小平方算法，每個激光器的功率輸出(Power-LSI,Power-LS2)可以^皮計算出來。優選地，^皮使用來進行平均的比特數目小于DC控制奇偶校驗比特的距離，否則該方程式將不能很好地定義。另外，平均的時間應當充分小于熱起伏的時間，以便^底設Power—LSI和Power—LS2是恒定的。在替換實施例中，在預定的時間段上求平均可以用采樣來替代。關于實現，本發明可以藉助于已知的電子裝置(計數器、加法器、存儲緩沖器、邏輯電路)或運行在數字信號處理器中的適當的固件而被實施。雖然已經對于二波束系統描述，但本發明的第四實施例可應用于包括任意數目的個體波束的多波束系統。與第三實施例中相同的優點是適用的，也就是只需要一個前向傳感二極管，以及可以使用簡單的光學器件。而且，這個實施例的優點在于，由于檢測器不需要測量相應于分開的比特的功率，所以對于電子裝置的速度要求被減小。按照本發明的替換實施例，可以創建功率校準陣列，其中該陣列的每個元素把測量輸出功率作為個體比特流中的每個比特的個體值的函數列出。在個體二極管激光器之間的串擾被合并到這個功率校準陣列中。因此，它可被使用于獨立地校準每個激光二極管的輸出功率，這樣，由于另一個激光器的輸出功率的改變引起的一個激光器的輸出功率的改變可被補償。圖8圖解了按照本發明的、執行自動功率校準的方法。來自包括激光器陣列4的半導體激光器的每個個體激光二極管41被提供以獨立的激光控制器(73),它例如可以控制通過激光二極管的激勵電流。按照本發明，藉助于包括用于分離個體波束的分離裝置的光學系統5和用于測量個體激光二極管41的輸出功率的功率檢測系統14來檢測個體激光二極管的輸出功率。由功率檢測系統14生成的信號可以由前端電子裝置進一步處理，例如通過放大該信號。該信號然后被用作為反饋信號，經由控制器和獨立的激光控制器(73)來調節輸出功率。輸出功率的調節藉助于反饋環被連續地執行。單獨的反饋環被提供用于來自包括激光二極管陣列的半導體激光器的個體激光二極管。在按照本發明的、用于記錄光盤的方法中，對于生成的多波束的自動功率控制包括保持用于每個個體激光器的自動功率控制反饋環。應當指出，上述的實施例是打算舉例說明而不是限制本發明。以及本領域技術人員將能夠設計出許多替換實施例，而不背離所附權利要求的范圍。在權利要求中，被放置在括號之間的任何參考標號不應看作為限制權利要求。動詞"包括，，和"包含"及其變形的使用不排除除了權利要求中闡述的那些單元或步驟以外的單元或步驟的存在。在單元前面的冠詞"一"或"一個，，不排除多個這樣的單元的存在。本發明可以藉助于包括幾個不同單元的硬件和/或藉助于適當的固件而被實施。在枚舉幾個裝置的系統/器件/設備權利要求中，這些裝置中的幾個可以由同一項硬件或軟件來體現。某些措施在互相不同的從屬權利要求中被陳述的這一純粹的事實，不表示這些措施的組合不能被使用來獲益。權利要求1.一種用于測量由包括至少兩個激光二極管的激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率的方法，該方法包括-生成步驟，包括生成前向多波束，該方法的特征在于，-分離步驟，包括把至少部分的前向多波束分離成個體波束，個體波束的數目等于在激光二極管陣列中的激光二極管的數目，該安排是使得每個個體波束包括源自于單個激光二極管的光；-測量步驟，包括測量每個個體波束的激光功率。2.按照權利要求1的方法，其特征在于，所述分離步驟包括在空間上分離個體波束。3.按照權利要求2的方法，其特征在于還包括-在生成步驟之后的波束成形步驟，包括使前向多波束傳送通過產生第一場闌的光學元件；該測量步驟包括藉助于光檢測器來測量每個個體波束的激光功率，所述光檢測器被放置在第一場闌后的漸暈區域的前向多波束的邊緣，這里所述個體波束不重疊，從而每個光檢測器接收來自單個激光二極管的光。4.按照權利要求3的方法，其特征在于還包括-在波束成形步驟之后的波束分割步驟，包括把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，該測量步驟包括藉助于光檢測器來測量每個個體波束的激光功率，所述光檢測器^皮放置在波束分割器后的漸暈區域的次前向多波束的邊緣，這里所述個體波束不重疊，從而每個光檢測器接收來自單個激光二極管的光。5.按照權利要求2的方法，其特征在于還包括-在生成步驟之后的準直步驟，包括使前向多波束傳送通過準直器透鏡，準直器透鏡被放置成使得激光二極管陣列基本上處在準直器透鏡的焦點；-成像步驟，包括把成像透鏡放置在準直器透鏡和光檢測器陣列之后的前向多波束中，以使得相應的光檢測器^皮放置在來自激光二極管陣列的每個激光二極管的像點，該測量步驟包括藉助于相應的光檢測器來測量每個個體波束的激光功率。6.按照權利要求5的方法，其特征在于還包括-跟隨在準直步驟之后且在成像步驟之前的波束分割步驟，包括把前向多波束分割成主多前向波束和次多前向波束，所述成像透鏡被放置在次多前向波束的路徑中。7.按照權利要求1的方法，其特征在于，所述分離步驟包括在時間上分離個體的波束。8.按照權利要求7的方法，其特征在于，測量步驟包括藉助于纟支放置在前向多波束的路徑上的檢測系統來測量個體波束的激光功率，所述檢測系統包括光檢測器，用于測量激光功率；和開關裝置，被安排成使得光檢測器只在來自二極管激光器陣列的單個二極管激光器進行發射時的時間段內才測量。9.按照權利要求7的方法，其特征還在于，在預定的時間段上對所測量的來自激光器陣列的激光二極管的激光功率求平均。10.按照權利要求7的方法，其特征在于，測量步驟還包括的、發射光的激光二極管的信息；-從釆樣的激光功率和采樣的信息中提取由每個激光二極管生成的個體波束的平均激光功率。11.按照權利要求7的方法，其特征在于，-跟隨在生成步驟之后的準直步驟，包括使前向多波束傳送通過準直器透鏡，該準直器透鏡被放置成使得激光二極管陣列處在準直器透鏡的焦點；-跟隨在準直步驟之后的波束分割步驟，包括把前向多波束分割成主多前向波束和次多前向波束，所述檢測系統^皮放置在次多前向波束的路徑中。12.—種用于由激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率的自動功率控制的方法，該激光二極管陣列包括至少兩個激光二極管，該方法包括-為來自激光二極管陣列的預先選擇的激光二極管設置想要的輸出的激光功率；-測量預先選擇的激光二極管的激光功率；-根據想要的輸出的激光功率和所測量的個體的激光功率，藉助于反饋控制環來控制預先選擇的激光二極管的個體的激光功率；該方法的特征在于，根據按照前述權利要求的任一項的、用于測量激光功率的方法來測量個體的激光功率。13.—種用于記錄光盤的方法，包括對于由激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率執行自動功率控制，該激光二極管陣列包括至少兩個激光二極管，該方法的特征在于，按照權利要求12的方法來執行自動功率控制。14.一種光拾取單元(OPU)，包括-激光二極管陣列，包括至少兩個激光二極管，用于生成多激光束；-功率檢測系統，用于測量激光功率；該光拾取單元(OPU)的特征在于，它還包括-分離裝置，用于把至少部分的前向多波束分離成個體的波束，個體波束的數目等于在激光二極管陣列中的激光二極管的數目，該分離裝置被適配成使得每個個體波束包括源自于單個激光二極管的光；所述功率檢測系統適合于測量每個個體波束的激光功率。15.按照權利要求14的光拾取單元(OPU)，其特征在于，所述分離裝置適合于在空間上分離個體的波束。16.按照權利要求15的光拾取單元(OPU),其特征在于，它還包括用于創建第一場闌的裝置，該第一場闌在光學光路徑上位于分離裝置之前；功率檢測系統，包括至少兩個光檢測器，被放置在第一場闌后的漸暈區域的前向多波束的邊緣，這里所述個體的波束不重疊，從而每個光檢測器接收來自單個激光二極管的光。17.按照權利要求16的光拾取單元(OPU),其特征在于，它還包括-波束分割器，用于把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，光檢測器，被放置在波束分割器后的漸暈區域的次前向多波束的邊緣，這里所述個體的波束不重疊，從而每個光檢測器接收來自單個激光二極管的光。18.按照權利要求15的光拾取單元(OPU)，其特征在于，它還包括-準直器透鏡，被放置成使得激光二極管陣列基本上處在準直器透鏡的焦點；-成像透鏡，被放置在準直器透鏡之后的前向多波束的路徑中；-功率檢測系統，包括光檢測器陣列，以使得用于激光功率的相應的光檢測器被放置在來自激光二極管陣列的每個激光二極管的像點。19.按照權利要求15的光拾取單元(OPU)，其特征在于，它還包括-波束分割器，用于把前向多波束分割成主前向多波束和次前向多波束，該成像透鏡被放置在次多前向波束的路徑中。20.按照權利要求13的光拾取單元(OPU),其特征在于，所述分離裝置適合于在時間上分離個體的波束。21.按照權利要求20的光拾取單元(OPU),其特征在于所述功率檢測系統包括光檢測器，用于測量激光功率；和開關裝置，被安排成使得光檢測器只在來自二極管激光器陣列的單個二極管激光器進行發射時的時間段內才被使能以進行測量。22.按照權利要求21的光拾取單元(OPU)，其特征在于，所述功率檢測系統被使能在預定的時間段上對所測量的來自激光器陣列的激光二極管的激光功率求平均。23.按照權利要求22的光拾取單元(OPU),其特征在于，所述功率檢測系統還被使能以預定的時間間隔測量平均的激光功率，以及該光拾取單元(OPU)還包括-用于當檢測系統進行測量時，生成有關對于預定的時間間隔生成光的、來自激光二極管陣列的激光二極管的相應信息的裝置；-用于從采樣的激光功率和所生成的信息中提取由每個激光二極管生成的個體波束的平均激光功率的裝置。24.按照權利要求21的光拾取單元(OPU)，其特征在于，它還包括-準直器透鏡，被放置成使得激光二極管陣列處在準直器透鏡的焦點；-波束分割器，用于把前向多波束分割成主多前向波束和次多前向波束，所述功率檢測系統凈皮放置在次多前向波束的路徑中。25.—種包括按照權利要求13到24的任一項的光拾取單元的光掃描設備。全文摘要一種用于測量由包括至少兩個激光二極管的激光二極管陣列生成的前向多波束的激光功率的方法，該方法包括生成步驟，包括生成前向多波束；分離步驟，包括把至少部分的前向多波束分離成個體的波束(31，32，300，301，302，303)，個體波束的數目等于在激光二極管陣列中的激光二極管的數目，該安排使得每個個體波束包括源自于單個激光二極管的光；以及測量步驟，包括藉助于光檢測器(121，122，125，126，127，128)來測量每個個體波束的激光功率。所述分離可以在空間上藉助于成像透鏡或者利用準直器透鏡的漸暈被執行，或者在時間上被執行。文檔編號G11B7/135GK101341382SQ200680048362公開日2009年1月7日申請日期2006年12月12日優先權日2005年12月21日發明者A·M·范德李,F·M·H·克羅姆普沃茨申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司