具有3點徑向跟蹤的光學系統的制作方法

專利名稱：具有3點徑向跟蹤的光學系統的制作方法
具有3點徑向跟蹤的光學系統
本發明涉及一種光學系統，用于在相關光學記錄載體上再現和/或 記錄光學可讀效果以及在光學記錄載體上進行穩定的徑向跟蹤(radial tracking)。本發明還涉及一種在相關光學記錄載體上再現和/或記錄光 學可讀效果的方法。
為了滿足增加信息存儲容量的需求，可利用的光介質，也就是壓縮 磁盤(CD)、數字可視磁盤(DVD)和藍射線磁盤(BD)在存儲能量 上展示出了持續的改善。在這些光介質中，再現的分辨率由此很大程度 上體現在再現光的波長？v和光學再現裝置的數值孔徑(NA)。然而， 由于很難縮短再現光的波長或者增加對應透鏡系統的數值孔徑，所以增 加記錄密度的企圖已經預先明顯地集中在改善介質和/或者記錄/再 現方法上。
尤其是，對于適于記錄信息的光介質，已經提議了兩種不同的方 法平陸凹槽格式，其中在軌跡的凹槽以及鄰近這個凹槽處記錄信息， 以及僅僅凹槽形式，其中僅僅在凹槽中記錄信息，例如BD;茲盤格式。 這兩種格式都具有優點和缺點，尤其是相對于徑向跟蹤和內軌跡/符號 交叉寫入/擦除問題。
目前，通過組合240nm的軌跡間距和50nm的溝道位長度獲得的密 度極限已經顯示出BD型磁盤的容量可以使介質上的每個信息層大概從 當前的23 - 25 - 27GB增加到50GB。
然而，在現有磁盤中，存在軌跡間距的進一步尺寸減小與需要穩定 徑向跟蹤和有限交叉寫入/擦除問題之間的內在沖突。具體是，既具有 與穩定徑向跟蹤有關的平陸-凹槽格式的優點又具有與有限交叉寫入/ 擦除問題有關的僅僅凹槽格式的優點的光學存儲方法因此是理想的。
在US2004/0076100中，公開了 一種改善存儲密度的光學磁盤。該 光學磁盤基本上是具有專用預凹坑區域的平陸-凹槽格式，該區域具有設 置在數據記錄區域之間的 一對擺動凹坑，其中數據區域以螺旋形或者圓 形設置在磁盤上。預凹坑區域適于產生徑向跟蹤誤差信號。然而，由于 預凹坑區域的角距導致》茲盤的不均勻，所以制造這種^茲盤4各式4艮麻煩。
另外，預凹坑區域的數量和徑向跟蹤穩定性之間的折衷可能固有地限制 了磁盤的存儲密度。
因此， 一種改進的光學跟蹤方法將是有利的，尤其是， 一種用于在 相關光學記錄載體上再現和/或記錄光學可讀效果的更有效和/或可 靠的光學系統將是有利的。
因此，本發明優選地試圖單獨地或者任意組合地減輕、緩和或者消 除上述的一個或者多個缺點。尤其是，可以看作是本發明的一個目的 是，通過提供一種促使增加光學載體上存儲密度的光學系統，提供一種 解決上述現有技術問題的光學系統。
在本發明的第一方面，通過提供一種用于再現和/或記錄相關光學 記錄載體上的光學可讀效果的光學系統，獲得這個目的和幾個其它的目
的，該系統包括
-光提供裝置，用于提供至少
-主光束，用于讀取作為載體上可讀效果的信息和/或記錄作為載體
上可讀效果的信息，以及
-多個輔助光束，應用于徑向跟蹤，所述多個輔助光束包括第一、第
二和第三輔助光束，
-光檢測裝置，其能夠檢測來自光學記錄載體的反射光， 所述相關光學記錄載體包括，或者適用于記錄，布置在一個或者多
個螺旋中的軌跡中的可讀效果，所述一個或者多個螺旋被一個或者多個
保護帶(guard land)分開，
其中所述光學系統適于通過下述光束的反射光進行徑向跟蹤 第一輔助光束，該第一輔助光束定位在第一保護帶中，以及 第二和第三輔助光束，該第二輔助光束基本上定位在第一軌跡上或
者挨著第一軌跡，以及第三輔助光束，該第三輔助光束基本上定位在第
二軌跡上或者挨著第二軌跡，并相對于第二輔助光束在所述第一保護帶
的相7于側。
根據第一方面，本發明尤其但不僅僅有利于實現一種光學系統，其 能夠記錄/再現具有較低軌跡間距也就是軌跡寬度的載體上的信息。由 于在相關載體的保護帶中進行徑向跟蹤時，較低軌跡間距的可能性并不 危害徑向跟蹤。通常使用的具有單螺旋載體格式的光學存儲系統，在由
軌跡提供的徑向跟蹤信號和最小化軌跡間距的愿望之間存在固有的沖 突，此即本發明的光學系統所解決的沖突。
另夕卜，根據第 一 方面,本發明尤其但是不僅僅有利于實現一種光學系 統，其對于將用于徑向跟蹤的反射光相對于用于檢測所述反射光的光檢 測器裝置精確地對準的小偏離，是穩定的。否則這種不對準可能導致用
于讀/記錄的主要光點的所謂光束著靶(beam landing),也就是主光束可 能相對于軌跡上的預期徑向位置稍微偏離，并且主光束的反射光在相應 的檢測器上偏離。這可能反過來減低了再現/記錄的質量，例如串擾。
可以有利地布置光學系統，使得所述第一、第二和第三輔助光束適 于基本上等距離地定位在該相關光學記錄載體上。這種對稱可以很容易 借助于作為分光裝置的光柵來獲得。然而，本發明不局限于這種對稱。 在一些條件下，它可能有益于使得例如第二輔助光束相對于載體移動方 向向前變換，以及使得第三輔助光束相對于載體移動方向向后變換。對 于當前使用的3點推挽式(push pull)徑向跟蹤，通常是這樣的情況。
有利地是，可以改變所述光學系統，使得第一、第二和第三輔助光 束之間在徑向方向上的間距基本上等于相關光學記錄載體的軌跡間距 (Tp)的整數倍。因此，在光束間距和載體上的軌跡間距之間存在匹配， 優選所述整數等于一，但是還可以使用其它的整數。在一些情形中，例 如，如果以工作循環(或占空比，duty cycle )模式操作所述跟蹤伺服系 統，則在光束間隔和載體之間的匹配可能出現非整數比例。
注意，第二和第三輔助光束不需要精確地在對應軌跡上，而是還可 以在軌跡的鄰近或者鄰近和其上的組合也就是部分地在軌跡上，只要獲 得用于產生徑向跟蹤誤差的足夠推挽(push pull)信號。
有益地，所述第一軌跡可以和所述第一保護帶相鄰，以及所述第二 軌跡可以和所述第一保護帶相鄰。可替換地，可以使用和所述第一和第 二軌跡相鄰的軌跡。甚至更可以替換地，可以將所述第一和第二軌跡定 位在和載體不相鄰的不同可讀效果螺旋上，即被一個或者多個螺旋分隔 開的螺旋。所述不同的螺旋可能在所述第 一 保護帶的相同側或者相對 側。
有利地，相關載體的每個軌跡可能適用于記錄和/或再現光學可讀 效果，例如基本上定位在載體中的凹槽或者凹陷中的凹坑。這種僅僅凹 槽格式應用于一次寫入和可再寫入的光學介質。
優選地，可以根據該推挽(PP)方法進行所述徑向跟蹤，因為該方
法是本領域 >知的，并因此可以#4居本發明的原理容易實現。
有益地，該光學系統對于第一、第二和第三輔助光束的每一個包括 至少兩個相應的光檢測器。通過減法裝置，例如差分電路，所述至少兩 個光檢測器可以適于產生用于每個輔助光束的差分信號。另外，其中通 過將表示對應每個差分信號的所述至少兩個光檢測器上的反射光總強 度的信號求和，所述光學系統適于對每個差分信號進行標準化。這對于 克服反射光中的波動是尤其有利的。當在僅在保護帶的一側上有螺旋的 邊界保護帶中進行跟蹤時，這可能也是有益的。否則，將產生不正確的 跟蹤誤差信號。
在第二方面，本發明涉及一種用于操作光學系統的方法，所述光學 系統適于再現和/或記錄相關光學記錄載體上的光學可讀效果，所述方法
包括下述步驟
-提供光提供裝置，該光提供裝置能夠至少發射
-主光束，用于讀取作為載體上可讀效果的信息和/或記錄作為載體 上可讀效果的信息，以及
-多個輔助光束，應用于徑向跟蹤，所述多個輔助光束包括第一、第 二和第三輔助光束，
-提供光檢測裝置，該光檢測裝置能夠檢測來自光學記錄載體的反射
光，
所述相關光學記錄載體包括，或者適用于記錄，以一個或者多個螺 旋布置在軌跡中的可讀效果，所述一個或者多個螺旋被一個或者多個保 護帶分開，
其中所述光學系統適于通過下述進行徑向跟蹤 檢測所述第一輔助光束的反射光，該第一輔助光束定位在第一保護 帶中，以及
第二和第三輔助光束的反射光，該第二輔助光束基本上定位在第一 軌跡上或者挨著第一軌跡，以及該第三輔助光束基本上定位在第二軌跡 上或者挨著第二軌跡并相對于第二輔助光束在所述第一保護帶的相對側。
在第三方面，本發明涉及一種計算機程序產品，其適于使得一種包 括至少 一個具有與此有關的數據存儲裝置的計算機的計算機系統來控 制 一種根據本發明第二方面的光學系統。
本發明的這個方面特別地但不僅僅地，有利之處在于，本發明可以 通過使得計算機系統執行本發明第二方面的操作的計算機程序產品來 實現。因此，考慮可以通過在控制光學系統的計算機系統上安裝計算機 程序產品，改變某些已知的所述光學系統來按照本發明操作。這樣的計 算機程序產品可以提供在任何種類的計算機可讀介質上，例如基于磁性
或光學的介質，或通過基于計算機的網絡，例如internet。
本發明的第一、第二和第三方面每一個可以分別和任何其它方面組 合。參考下文描述的實施例本發明的這些和其它方案將是明顯的，并將 得到闡述。
現在將參考附圖，僅僅示例地解釋本發明，其中

圖1是根據本發明第一方面的光學系統的示意圖， 圖2是根據本發明第一方面的光檢測裝置的示意圖， 圖3是特別適于用根據本發明第 一方面的光學系統操作的載體格式 的示意圖，
圖4是特別適于用根據本發明第 一方面的光學系統操作的另 一載體 格式的示意圖，
圖5是在根據本發明的相關載體上第一、第二和第三輔助光束的位 置的示意圖，
圖6示出了疊加多個推挽(PP )信號的載體的垂直徑向(vertical radial)
橫截面，
圖7是描述了根據本發明第二方面的方法的流程圖。
圖1示意性地示出了根據本發明的光學系統和相關光學載體100。 該載體IOO通過保持裝置30固定和旋轉。
載體100包括適于借助輻射束52記錄信息的材料。在整個申請中， 術語"輻射束"可以和術語"光束，，相互交換使用。例如，記錄材料可 能是磁光型的、相變型的、染料型的、金屬合金比如Cu/Si的，或者任 何其它適當材料。可以以光學可檢測區域的形式，其對于可再寫入介質 還稱作標記以及對于一次寫入介質稱作凹坑，將信息記錄在載體100 上。然而，可選擇地，載體還可以是只讀存儲器(ROM)格式。
裝置包括光學頭20，有時還稱為光學拾波器(OUP)、光學頭20 是可以通過啟動裝置21例如電力步進電機移動。光學頭20包括光檢測 系統101、輻射源4、分束器6、目鏡7和透鏡移動裝置9。光學頭20 還包括分光裝置22，例如能夠將輻射束51分成至少四個部分52、 A、 B、 C的光柵或者全息圖形，其中A、 B、 C分別表示在零級主束52的左側 上的第一、第二和第三級衍射。然而，為了改變用于在所需軌跡上讀取 /寫入的主束52的徑向位置，需要使得三個輔助光束A、 B和C可以 改變相對于主束52的位置。
為了清楚起見，僅僅示出了通過分束裝置22之后的輻射束52和三 個輔助光束A、 B、 C,但是例如如果分光裝置22是光柵，則通常存在 更多的輔助點。類似地，反射的輻射束8也包括不止一種組成，例如三 個點A、 B、 C的反射和其衍射，但是為了清楚起見在圖1中只示出了 一個光束8。用于發射輻射束52的輻射源4例如可以是具有可變功率的 半導體激光器，可能還具有可變的輻射波長。可替換地，輻射源4可以 包括不止一個激光器。在本發明的上下文中，可以將輻射源4、分光裝 置22和透鏡7認為是光提供裝置。
光檢測系統101的功能是將從載體100反射的輻射8轉換成電信 號。因此，光檢測系統101包括幾個光4企測器，例如光電二極管、充電 耦合裝置(CCD)等等，它們能夠產生傳輸到預處理器11的一個或者 多個電輸出信號。所述光檢測器空間地彼此布置，并具有足夠的時間分 辨率，以便于能夠檢測預處理器11中的焦點誤差(FE)和徑向跟蹤誤 差(RTE)。因此，預處理器11將焦點誤差(FE)和徑向跟蹤誤差(RTE) 信號傳輸給處理器50。該光檢測系統IOI還可以將讀信號或RF信號通 過預處理器11發送到處理器50,該RF信號表示通過主束52從載體100 讀出的信息。可以通過在處理器50中低通濾波所述RF信號將所述讀信 號轉化成中心孔徑(CA)信號。
光學地布置所述光學頭20，使得通過分束器6和目鏡7將輻射束52 引導到光學載體100。另外，在目鏡7之前還可以有準直透鏡(未示出)。 通過目鏡7聚集從載體100反射的輻射8，并且在穿過分束器6后，落 在光檢測系統100上,該光檢測系統將入射輻射8轉化成如上所述的電輸 出信號。
處理器50接收和分析來自預處理器11的輸出信號。處理器50還
可以向啟動裝置21、輻射源4、透鏡移動裝置9、預處理器ll和保持裝 置30輸出控制信號，如圖1所示。類似地，處理器50可以接收數據， 如61表示，并且處理器50可以輸出來自讀出過程的數據,如60所示。
圖2是根據本發明第一方面的光檢測裝置101的示意圖。示出了三 個光檢測器部分IIO、 120、 130。在光檢測器部分IIO、 120、 130的每 一個上面，分別示出了對應的點A、 B和C。在圖2所示的實施例中， 將光檢測器部分IIO、 120、 130分成兩個光檢測器a和b。這是普通的 光學結構，用于通過推挽(PP)方法進行跟蹤，其中兩個檢測器a和b 之間的相對權重(relative weighing)用于產生表示從預期徑向位置和實 際位置之間的誤差或者偏差的徑向誤差信號。為了簡單起見，在光檢測 器110、 120和130上只示出了單個點，但是通常還存在第一級衍射線 (m= ± 1 )。通過標i己為a和b的4全測器之間的相^H又重，只十于每個光沖全 測器部分UO、 120和130通過減法電路121、 122和123獲得三個推挽 信號PPA、 PPb、 PPc。由此，計算該推挽信號PPA、 PPb、 PPc。如圖3 所示，通過加法電^各124將PPb加到PPc上。隨后，通過乘法電3^ 125 中的條件g調節PPB和PPc的總和，g通常等于0.5。
可以通過其它的方法，例如借助于適當的求和電路(未示出)對光 檢測器a和b上的光求和來標準化，可以平均推挽信號PPa、 PPb、 PPc 的組成。最后，通過減法電路127從所述第一輔助光束推挽信號減去調 整并求和的第二及第三輔助光束推挽信號，以及獲得跟蹤誤差信號 (TES)或者徑向誤差(RE)并將其傳輸到所述處理器50。
在圖3和4中，描述了兩種特殊格式的光學載體格式1,其很適合 由根據本發明的光學系統使用。在圖3、 4、 5的實施例中，所述載體格 式是帶有軌跡的格式，其中該軌跡具有凹槽，例如一次寫入和可再寫入 載體。然而，應當強調，本發明的原理不局限于這種格式。
圖3是特別適用于由根據本發明第 一方面的光學系統操作的載體格 式的示意圖。相對于載體上的中心位置3,基本上螺旋地并基本上同中 心地設置多個軌跡2。每個軌跡2適于記錄和/或再現光學可讀效果，其 基本上定位在凹槽也就是凹陷(未示出)中。
在光學記錄載體上的多個軌跡螺旋1中相鄰地布置多個軌跡2，圖3 所示的軌跡數量是8。由于這樣的事實，即保護帶5不包含數據或者保 護帶5中的數據密度低于寬闊螺旋的凹槽中的數據密度，所以通過在射
線伺服系統復雜化和存儲容量減小之間折衷來確定寬闊螺旋1中的軌跡
2的數量。軌跡2的數量還可以是2、 3、 4、 5、 6、 7、 8、 9、 10、 11、 12、 13、 14、 15、 16、 17、 18、 19和20。多軌跡螺-菱1的繞組之間的 跟蹤區(tracking area) 5適于提供來自光學載體100的徑向跟蹤誤差信
圖4是特別適用于由根據本發明第 一 方面的光學系統操作的另 一個 載體格式IO的示意圖。相對于載體上的中心位置13基本上螺旋地和基 本上同心地設置多個軌跡12。每個軌跡12適于記錄和/或再現光學可 讀效果(叩tically readable effects ),其基本上定位在凹槽(未示出)中。 所述多個螺旋10布置在光學記錄載體上同心連續層12中，其中每一層 中具有一個螺旋,類似于洋蔥結構。在圖4中，為了清楚起見只示出了三 個連續螺旋12,但是對于實際的載體100,螺旋12或者"洋蔥層"的數 量可以是2和1， 0000, OO之間的任何數量。螺旋12之間的跟蹤區15 適于提供來自光學記錄載體的徑向跟蹤誤差信號，這將在圖5和6中進 一步解釋。
圖5是根據本發明的一個實施例在相關載體IOO上第一 A、第二B 和第三C輔助光束的位置的示意圖。第 一輔助光束A定位在第 一保護帶 5或者15中。同時，第二輔助光束B基本上定位在第一軌跡I上以及第 三輔助光束基本上定位在第二軌跡1I上。第二B和第三C輔助光束彼此 分別在第一保護帶5或者15的相對側。另外，相鄰于保護帶5或者15 定位所述第二 B和第三C輔助光束。注意，第二B和第三C輔助光束 相對于第一輔助光束C以載體的切線方向(在圖中垂直)變化。優選地 在光檢測裝置101上荻得更好的光學分離。
圖6示出了疊加相應徑向跟蹤誤差信號的載體IOO的垂直徑向橫截 面圖，其中相應徑向跟蹤誤差信號是通過模擬圖5中實施例的推挽徑向 跟蹤誤差信號獲得疊加的。圖的標度是任意的。在圖6中，以水平標度 畫出載體IOO上的徑向位置。在垂直標度上，畫出來自輔助點的反射光 8的推挽徑向跟蹤誤差信號。該圖對應于沿著徑向方向掃描的輔助點 A、 B和C。虛線表示從打算在保護帶5或者15的中心定位的第一輔助 光束A荻得的PPa信號。可以將該單個點用于徑向跟蹤，但是如之前解 釋的，這種單點方法對于光束著靶(beamlanding)是敏感的。實體黑線表 示來自第二 B和第三C輔助光束的信號的總和的0.5 (PPB+PPC)。最
后，虛線表示減法式
TES=PPA-0.5(PPB+PPC) ( 1 )
其中TES表示跟蹤誤差信號。在方程式(1)中，所有的信號都是 標準化的。從三個輔助光束A、 B和C獲得的這種跟蹤誤差TES對于偏 移是不變的，這種偏移將三個輔助光束A、 B和C的反射光8同時地水 平分開在光檢測部分110、 120和130上，如圖2所示。這種移動通常是 透鏡移動、透鏡傾斜、OPU移動、制造容限等等的結果。
在垂直標度上還示出了凹槽的物理結構。振幅1對應于凹槽的底 部，然而，載體表面定位在振幅0。因此，如所看到的，在跟蹤區域5 和15中沒有凹槽。
所述凹槽聚集在載體格式10中具有軌跡2的多個螺旋1或者連續 螺旋12中。兩種都是10個軌跡寬度，和內螺旋間隔，即跟蹤區或保護 帶5或15。由于光點分辨率是有限的，基本上導致溝道響應的低通特 性，所以不能在寬闊組2或者12內捕獲到非常高頻率的軌跡。在所給 的實施例中，使用下述數據數值孔徑(NA) =0.85、光波長-405nm 和軌跡間距220nm，其中工作周期(或占空比，duty circle ) 50 % 。
正如圖6所示的，在多螺旋1的軌跡2內或者連續螺旋12內具有 幾乎為零的推挽信號。然而，在保護帶5或者15上，凹槽結構具有明 顯較低的頻率成分，因為那兒的軌跡間隔較大，并且來自輔助點A、 B 和C的推挽跟蹤信號很強并提供圍保護帶5和15中間的清晰"S曲線"。 這意味著輔助點A、 B和C從獲得的徑向跟蹤信號可以可靠地跟蹤保護 帶5和15的中間，但是多螺旋1的單個軌跡2或者連續螺旋l2不能產 生有用的徑向跟蹤誤差信號。在所給的例子中，保護帶寬度是3 x Tp/2=3 x 120nm = 360nm,同時對于光點信號的所給特性來說，推挽信號僅僅 在低于2 x 120nm = 240nm的空間軌跡間隔處消失。這意味著還可以使 保護帶5和15更窄，低至大約280nm/2 = 140nm。然而由于當前的光一全 測裝置，所以軌跡間距的下限值可能有些難以實現。
圖7是描述了根據本發明第二方面的方法的流程圖，其通過提供用 于操作適于再現和/或記錄相關光學記錄載體IOO上的光學可讀效果的 光學系統的方法，該方法包括下述步驟
Sl提供光提供裝置4、 22和7，其能夠至少發射下述光束
-主光束52,用于讀取作為載體100上可讀效果的信息和/或記錄作為載體IOO上可讀效果的信息，以及
-多個輔助光束A、 B、 C，應用于徑向跟蹤，所述多個輔助光束包 括第一A、第二B和第三C輔助光束，
S2提供光檢測裝置101、 110、 120、 130,其能夠檢測來自光學記 錄載體100的反射光8，
所述相關的光學記錄載體100包括，或者適用于記錄，布置在一個 或者多個螺旋2或者12的軌跡中的可讀效果，所述一個或者多個螺旋 被一個或者多個保護帶5或者15分開，
其中所述光學系統適于通過下述進行徑向跟蹤
S3檢測第一輔助光束A的反射光8,該第一輔助光束定位在第一保 護帶5或者15中，以及
S4檢測第二 B和第三輔助光束C的反射光8，第二 B輔助光束基 本上定位在第一軌跡I上或者挨著第一軌跡I ，以及第三輔助光束C基
本上定位在第二軌跡n上或者挨著第二軌跡n ,并相對于第二輔助光束
B在第一保護帶5或者15的相對側。
盡管結合特定的實施例已經描述了本發明，但是不意味著局限到這 里所陳述的特性形式。相反，本發明的范圍僅僅受到附帶的權利要求的 限制。在權利要求中，術語"包含，，不排除其它元件或者步驟的存在。 另外，盡管在不同的權利要求中包括了單個的特征，但是可以有益地組 合，并且在不同權利要求中的包含不暗示著特征的組合不是可行的和/ 或有利的。而且，單數標記不排除多個。因此，標記"一"、"一個，，、 "第一"、"第二，，等等不排除多個。另外，權利要求中的附圖標記將
不構成對范圍的限制。
權利要求
1.一種用于再現和/或記錄相關光學記錄載體(100)上的光學可讀效果的光學系統，該系統包括-光提供裝置(4、22、7)，用于至少提供-主光束(52)，用于讀取作為載體上可讀效果的信息和/或在記錄作為載體上可讀效果的信息，以及-多個輔助光束，應用于徑向跟蹤，所述多個輔助光束包括第一(A)、第二(B)和第三(C)輔助光束，-光檢測裝置(101、110、120、130)，其能夠檢測來自光學記錄載體(100)的反射光(8)，所述相關光學記錄載體包括，或者適用于記錄，布置在一個或者多個螺旋中的軌跡(2，12)中的可讀效果，所述一個或者多個螺旋被一個或者多個保護帶(5，15)分開，其中所述光學系統適于通過下述光束的反射光進行徑向跟蹤1)第一輔助光束(A)，該第一輔助光束定位在第一保護帶(5，15)中，以及2)第二(B)和第三輔助光束(C)，該第二輔助光束(B)基本上定位在第一軌跡(I)上或者挨著第一軌跡(I)，以及該第三輔助光束基本上定位在第二軌跡(II)上或者挨著第二軌跡(II)，并相對于所述第二輔助光束(B)在所述第一保護帶(5，15)的相對側。
2. 根據權利要求1的光學系統，其中所述第一(A)、第二(B) 和第三輔助光束(C)調整成基本上等距離地定位在所述相關光學記 錄載體上。
3. 根據權利要求2的光學系統，其中所述第一(A)、第二(B) 和第三輔助光束(C)之間在徑向方向上的間距基本上等于相關光學 記錄載體(100)的軌跡間距(Tp)的整數倍。
4. 根據權利要求1的光學系統，其中所述第一軌跡(I )和所 述第一保護帶(5, 15)相鄰，以及所述第二軌跡(II )和所述第一 保護帶(5, 15)相鄰。
5. 根據權利要求1的光學系統，其中相關載體(100)的每個軌 跡適于記錄和/或再現基本上定位在凹槽中的光學可讀效果。
6. 根據權利要求5的光學系統，其中根據推挽(PP)方法進行 所述徑向跟蹤。
7. —種根據權利要求1的光學系統，其對于第一(A)、第二(B) 和第三輔助光束(C)中每一個包括至少兩個相應光檢測器(a， b)， 所述至少兩個光檢測器適于產生用于每個輔助光束(A、 B、 C)的推 挽信號(PPa、 PPb、 PPc)。
8. 根據權利要求7的光學系統，其中所述光學系統適于對應每 個推挽信號(PPa、 PPb、 PPc)，通過對表示所述至少兩個光檢測器 上反射光的總強度的信號求和，將每個推挽信號(PPa、 PPb、 PPc) 進行標準化。
9. 一種用于操作光學系統的方法，該光學系統適用于再現和/ 或記錄相關光學記錄載體(00)上的可讀效果，該方法包括下述步 驟-提供光提供裝置(4、 7、 22)，其能夠至少發射-主光束(52),用于讀取作為載體上可讀效果的信息和/或記 錄作為載體上可讀效果的信息，以及-多個輔助光束，應用于徑向跟蹤，所述多個輔助光束包括第一 (A)、第二 (B)和第三輔助光束(C)，-提供光檢測裝置(101、 110、 120、 130),其能夠檢測來自所 述光學記錄載體的反射光(8),所述相關光學記錄載體包括，或者適用于記錄，布置在一個或者 多個螺旋中的軌跡(2、 12)中的可讀效果，所述一個或者多個螺旋 被一個或者多個保護帶(5、 15)分開，其中所述光學系統適于通過下述步驟進行所述徑向跟蹤檢測所述第一輔助光束(A)的反射光，該第一輔助光束定位在 第一保護帶(5、 l5)中，以及第二(B)和第三輔助光束(C)的反射光，該第二輔助光束(B) 基本上定位在所述第一軌跡(I )上或者挨著第一軌跡(I ),以及 所述第三(C)輔助光束基本上定位在所述第二軌跡(II )上或者挨 著第二軌跡(II ),并相對于所述第二輔助光束(B)在所述第一保護帶(5, 15)的相對側。
10. —種計算機程序產品，其適于能夠使得計算機系統控制根據 權利要求9的光學系統，該計算機系統包括至少 一個具有與之相關的 數據存儲裝置的計算機。
全文摘要
本發明涉及一種光學系統，其用于在光學記錄載體上再現和/或記錄。該系統包括光提供裝置，用于至少提供1)主光束，用于讀取信息，以及2)多個輔助光束，用于徑向跟蹤；第一(A)、第二(B)和第三(C)輔助光束。該光學記錄載體具有布置在一個或者多個螺旋中的軌跡(2，12)中的可讀效果，該螺旋被一個或者多個保護帶(5，15)分開。該光學系統通過下述光束的反射光進行所述徑向跟蹤1)第一輔助光束(A)，該第一輔助光束定位在所述第一保護帶中，以及2)第二(B)和第三輔助光束(C)。該第二輔助光束(B)基本上定位在所述第一軌跡(I)上，以及該第三輔助光束基本上定位在所述第二軌跡(II)上，并相對于第二輔助光束(B)在第一保護帶(5，15)的相對側。該光學系統改善了在上述載體格式上的徑向跟蹤。
文檔編號G11B7/09GK101189671SQ200680020013
公開日2008年5月28日 申請日期2006年6月1日 優先權日2005年6月6日
發明者A·帕迪伊, R·夫盧特斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司