再現裝置制造方法、記錄介質以及計算機產品的制作方法

專利名稱：再現裝置制造方法、記錄介質以及計算機產品的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種檢查有缺陷的用于從記錄介質讀取數據的再現裝置的技術。
背景技術：
諸如CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW或者DVD-RAM的可記錄光盤介質作為壓縮數據記錄和播放介質已經很普及。有時使用同一裝置來記錄和播放數據。有時使用不同的裝置來記錄數據和播放數據。一個重要的要求是可以無錯誤地讀取數據。
然而，記錄條件(即，在記錄介質中記錄數據時的條件)會變化。由于記錄裝置內的溫度或濕度的波動，從一個記錄裝置到另一個記錄裝置或者從一個記錄介質到另一個記錄介質的記錄條件會改變。這種記錄條件的變化會引起一些問題或缺點(下文中稱為“缺陷”)，如再現波形的失真或者抖動增加。在最差的情況下，會發生錯誤而使得無法再現數據。
比較普遍的是使用檢查盤來檢查記錄介質中是否存在由于記錄條件的改變而引起的任何分隔錯誤(sever error)。將其中在最佳條件下記錄了數據的記錄介質或者具有由于某些原因而出現的再現故障的記錄介質作為這種檢查盤。
日本專利第3674545號、日本專利申請特開平10-233040、特開平10-83506、特開2000-322782、特開2002-334481和特開平9-274741公開了制造檢查盤的方法。
在傳統的再現檢查中，使用這樣的記錄介質作為再現裝置的再現檢查盤，該記錄介質不受與記錄相關的各種波動因子的影響并且該記錄介質中的數據是在最佳條件下記錄的。另選地，市場上使用由于與記錄相關的原因而具有再現故障的實際記錄介質進行檢查，并且研究了改進方法。
在實際的市場中，記錄介質中的記錄條件由于各種原因而波動。在各種條件下記錄了數據的記錄介質必須被無錯誤地播放。然而，即使使用在接近理想條件的條件下(不考慮如上所述的在記錄時的各種波動)記錄了數據的記錄介質來執行再現裝置的檢查，也無法預測與在市場的各種記錄條件下記錄了數據的記錄介質的播放相關的缺陷。
在使用市場中具有缺陷的記錄介質用于檢查或評估的方法中，因為記錄條件的波動的原因未知，所以檢查很可能是片面的。還有以下問題不能獲得提高再現質量的策略。
在專利文檔1至5中公開了制造再現檢查盤的方法。然而，這些方法是使基板(substrate)形狀(如記錄介質的記錄表面的凹凸和基板翹曲(substrate wrap))變形的方法。無法再現由于記錄介質(諸如CD-R、CD-RW、DVD-R和DVD-RW)中的記錄條件的波動而引起的再現波形的不規則性。即使使用在專利文檔6中公開的制造用于檢查再現盤的方法，也無法再現由于上述記錄條件的波動而引起的再現波形的不規則性。
實際上運送到市場的盤的變化的因子不僅是基板形狀(諸如基板的翹曲和記錄表面的凹凸)的變形，還包括記錄條件的變化的一般變化。因此，發生了諸如再現錯誤的嚴重質量問題。

發明內容
本發明的目的至少是部分地解決傳統技術中的問題。
根據本發明的一方面，一種對記錄在記錄介質中的信號進行再現的再現裝置的制造方法，包括以下步驟從其中根據設定值記錄了信號的記錄介質中再現信號，所述設定值是使再現信號的質量劣化的指標的值，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小；以及基于再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
根據本發明的另一方面，一種記錄有代表數據的信號的記錄介質，其中信號是根據指標的設定值記錄的，所述設定值用于使再現信號的質量劣化，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小。
根據本發明的又一方面，一種存儲有使計算機執行以上方法的計算機程序的計算機可讀記錄介質。
通過結合附圖，閱讀以下對本發明的當前優選實施例的詳細描述，將會更好地理解本發明的以上和其他目的、特征、優點以及技術和工業重要性。


圖1是記錄波形的示意圖；圖2是解釋在根據本發明實施例的記錄介質上形成的標記的示意圖；圖3是圖2所示的標記的再現波形的示意圖；圖4是解釋熱累積的再現波形的示意圖；圖5是解釋尋軌伺服偏離的示意圖；圖6是解釋聚焦伺服偏離的示意圖；圖7是解釋在相鄰軌道中的記錄的功率過高(power-over)的立體圖；圖8是解釋當保持整個波形的形狀并且改變整個波形的功率時調制度的改變的圖；圖9是解釋記錄波形的脈沖寬度和對稱性之間的關系的圖；圖10是解釋記錄波形的脈沖寬度和熱累積之間的關系的圖；圖11是根據該實施例的正交陣列的示例的表；圖12是根據該實施例的檢查系統的示意圖；圖13是圖12所示的檢查裝置的詳細功能框圖；圖14是由圖12所示的原因確定單元計算的貢獻比的示例的表；圖15是由圖13所示的檢查裝置執行的處理過程的流程圖；圖16是根據另一實施例的記錄介質的立體圖；以及圖17是實現根據以上實施例的過程、方法、步驟的計算機的硬件結構。
具體實施例方式
下面參照附圖詳細解釋本發明的示例性實施例。
首先，解釋本發明的實施例的概要和特征。在這些實施例中，在制造再現裝置的工序中，從記錄介質中再現信號，在該記錄介質中，根據指標(index)的設定值記錄信號，通過將該設定值從最佳值移離(shift)而劣化再現信號的質量；在本發明中，設定值是有意地從最佳值移離的，而所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小，這些原因例如，調制度、對稱性、熱累積、尋軌偏離、散焦、和由于相鄰軌道中的記錄的功率過高(power-over)而引起的串擾。基于再現信號確定再現裝置中是否存在缺陷。
當再現裝置中存在缺陷時，基于各個原因的設定值和來自記錄介質的再現信號，確定缺陷的原因。操作員基于確定結果重新調整再現裝置。當再現裝置中沒有缺陷時，制造工序直接轉移到下一制造工序。
這樣，從根據指標(該指標表示導致在信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小)的設定值記錄了信號的記錄介質中再現信號，。基于再現信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。這使得可以量化地再現市場中與記錄相關的多個波動原因，并可提高市場中的記錄介質的再現兼容性的質量。
在本發明中，除了上述再現裝置的檢查方法之外，該制造方法與再現裝置的傳統制造方法相同。因此，在下面的實施例中，著重解釋再現裝置的檢查方法，而省略其他解釋。
按順序解釋導致信號再現時質量劣化的原因。首先，使用圖1解釋用于在記錄介質(諸如CD-R、DVD-R或DVD-RW之類的熱記錄信息記錄介質，下文中稱為“記錄介質”)中記錄信號的記錄波形的示例。圖1是根據本發明實施例的在記錄介質中記錄的信號的記錄波形的示意圖。在記錄時，通過改變圖1所示的脈沖數，在記錄介質上形成具有不同長度的標記。圖2是解釋在記錄介質上形成的標記的圖。如圖2所示，通過改變圖1所示的脈沖數，在記錄介質上形成具有不同長度的標記。通過用不同的脈沖數改變將激光束照射到記錄介質上的時間，可以形成標記。
例如，當脈沖數為二(P1和P2)時，在記錄介質上形成標記3T。當脈沖數為三(P1、P2和P3)時，在記錄介質上形成標記4T。當脈沖數為四(P1、P2、P3和P4)時，在記錄介質上形成標記5T。通常，可以形成九種標記，3T至11T。換言之，3T是最短的標記，而11T是最長的標記。
最優地將圖1中的記錄波形設置為使驅動器裝置的設計階段抖動或錯誤最少。然而，在市場中，會發生諸如環境溫度改變和劣化的各種問題。即使存在記錄標記的不規則性，但如果由用于記錄的驅動器裝置來播放記錄介質，則記錄標記的不規則性不太可能導致錯誤。這是因為信號是根據驅動器裝置的驗證操作在與驅動器裝置的再現特征相匹配的條件下進行記錄的。
然而，當由不同于記錄用的驅動器裝置的驅動器裝置播放該記錄介質時，可能有這樣的問題如果記錄的標記(信號)不理想并且在再現波形中出現了不規則性，則無法播放記錄介質。例如，當由家用記錄裝置將音樂、電影等記錄在CD-R或DVD-R中并且用安裝在車輛上的CD或DVD播放裝置播放該記錄介質時，可能發生由于在記錄時條件的這種波動而引起的再現錯誤。
為了防止在市場中發生這種再現故障的問題，使用適當地再現市場中的缺陷的介質來進行評估或檢查，并且對再現轉置的設計或運輸檢查進行優化就足夠了。
圖3是圖2所示的標記的再現波形的示意圖。在該圖中，Itop指的是所有再現波形的最大值和基準軸之間的距離。I11H指的是在記錄介質中記錄的最長標記(11T)的再現波形的最大值與基準軸之間的距離。I3H指的是在記錄介質中記錄的最短標記(3T)的再現波形的最大值與基準軸之間的距離。
I11L指的是最長標記(11T)的再現波形的最小值與基準軸之間的距離。I3L指的是最短標記(3T)的再現波形的最小值與基準軸之間的距離。I11和I3分別是通過從I3H中減去I3L而獲得的值和從I11H中減去I11L而獲得的值。
使用圖3解釋導致再現信號的質量劣化的調制度和對稱性。調制度由I11/Itop定義。當該調制度由于記錄條件的波動而降低時，信號再現時的抖動增加，易于發生再現錯誤。
對稱性是指示最長標記(11T)的振幅中心和最短標記(3T)的振幅中心之間的偏離量的值。對稱性由((I3H+I3L)-(I11H+I11L))/2×I11H定義。當該對稱性由于記錄條件的波動而降低時，信號再現時的抖動增加，易于發生再現錯誤。
使用圖4解釋導致再現信號的質量劣化的熱累積。圖4是解釋熱累積的再現波形的示意圖。熱累積由d/b定義。在d/b中，b是指示從再現波形的最大值到最小值的距離的值，d是指示從再現波形的最小值到與原始再現波形(由熱累積的影響而引起的)不同的波形的平坦部分(或該波形的最大值等)的距離。當d/b增加時，抖動增加，易于發生讀取錯誤。
作為影響記錄時的再現質量的原因，存在與記錄波形相關的波動之外的與伺服相關的波動。圖5是解釋尋軌伺服偏離的示意圖。記錄可能是在由于記錄用的裝置的光學頭的傾斜、透鏡偏差(aberration)等的影響而使激光束光點偏離軌道中心的狀態下執行的。當用激光束光點位于中心的再現裝置來再現記錄在偏離了軌道中心的光點位置處的標記時，抖動增加，易于發生錯誤。
圖6是解釋聚焦伺服偏離的示意圖。如圖6所示，由于驅動裝置的光學頭中使用的諸如透鏡的光學部件的偏差，可能出現光束形狀的不規則性，從而增大了光束直徑。當再現以大光束直徑記錄的標記時，抖動增加，易于發生錯誤。
圖7是解釋相鄰軌道中記錄的功率過高的立體圖。如圖7所示，當以過高功率在相鄰軌道中記錄標記時，漏出到再現軌道的信號增加(這是因為漏出的信號受相鄰軌道中功率過高的記錄引起的串擾的影響)，抖動增加。
在市場下會復合地同時發生以上描述所表示的與記錄相關的多個波動因子。下面解釋這樣一種方法，該方法創建量化地再現同時發生這些波動因子的狀態的記錄介質并檢查和評估該記錄介質。
在下面的說明中，將CD-R介質作為示例解釋。然而，本發明并不限于應用于CD-R。還可以將本發明應用于其他熱記錄介質，諸如CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM和藍光盤(blu-ray disk)。還可以用ROM介質實現相同的再現波形，而不用執行記錄介質中的記錄。通過使用ROM介質再現作為相位坑(phase pits)的多種記錄波動，可以穩定地以高的可再現性設置各種特征的水平。
為了減小調制度，僅僅需要減小圖1中整個波形的功率。首先，調整圖1中的再現波形的功率和脈沖寬度以使抖動最小化。圖1所示的波形是使抖動最小化的記錄波形。參照圖8解釋在將該最佳記錄波形的功率、脈沖寬度等的設定設置為1、保持整個波形的形狀、改變整個波形的功率時，調制度的變化。圖8是解釋在保持整個波形的形狀并且改變整個波形的功率時，調制度的變化的圖。如圖8所示，通過保持記錄波形的形狀并且改變整個波形的功率，可以調整調制度I11/Itop。
圖9是解釋記錄波形的脈沖寬度和對稱性之間的關系的圖。如該圖所示，通過調整用于在記錄介質中形成最短標記(3T)的脈沖寬度(圖1所示的T1和T2)，可以改變對稱性。
圖10是解釋記錄波形的脈沖寬度和熱累積之間的關系的圖。如該圖所示，通過調整記錄波形的脈沖寬度(T3到T11)，可以改變熱累積。
根據上述方法，通過在以下范圍內設置調制度、對稱性、和熱累積，可以創建反映市場中的實際波動的記錄介質。
調制度0.6＜I11/Itop＜0.8對稱性-0.15＜((I3H+I3L)-(I11H+I11L))/2×I11H＜-0.05熱累積0.1＜d/b＜0.3在以上解釋中，討論了三個因子，即，調制度、對稱性和熱累積，作為與記錄相關的波動的原因。然而，影響再現時的質量的因子不限于這三個因子，可以增加其他因子。調整用于再現波動因子的記錄波形的方法不限于上述方法。
通過在以下范圍內設置與記錄時的伺服相關的波動，實現了更好地反映市場中的波動的記錄介質(用于檢查的盤)。可以在接近于市場中的實際環境的環境中有效且量化地實現檢查。
散焦 -0.8至0.8微米尋軌偏離 -0.2至0.2微米相鄰軌道中進行記錄的功率 0至+15％根據正交陣列的水平來設置上述各個原因(調制度、對稱性、熱累積、散焦、尋軌偏離、相鄰軌道中的記錄的功率)的水平，從而可以進行再現了市場中的實際波動的合理評估。圖11是根據該實施例的正交陣列的示例的表。與正交陣列的No.1至No.18行相對應的設定值(1)至(3)分別對應于正交陣列的水平(1)至(3)。例如，位于“No.1”行和“C”列的交叉點處的設定值(1)是調制度的水平(1)“0.8”。
當使用圖11所示的正交陣列L18時，在記錄介質中記錄條件以總共十八種組合進行改變，并且基于十八個數據執行對再現裝置的檢查。例如，在十八行的每行中測量抖動y1至y18，以根據下面的計算方法執行總體確定。這里描述使用抖動來執行對再現裝置的檢查的示例。然而，本發明不限于此。例如，可以使用再現時的錯誤率來執行對再現裝置的檢查。
如下定義對再現裝置執行總體確定的公式ST=y12+y22+...+y182]]>VT＝ST/18η＝10LOG(1/VT) (db)將基準值設置為通過此公式計算的η。當η的值等于或大于基準值時，判斷出再現裝置中沒有缺陷。當η的值小于基準值時，判斷出存在缺陷，并且停止再現裝置的出貨。對于具有缺陷的再現裝置，可以識別出這六個因子之中對該缺陷作用最大的因子，并通過對分配到正交陣列的這些因子進行分析而找到調整的策略。
使用正交陣列L18來解釋該評估。然而，可以使用其他正交陣列L9、L8、L12等來設置這些因子的水平。可以不使用正交陣列，而將所有這六個因子的水平設置為三個水平，如最佳水平、中間水平和最差水平。在此情況下，為了根據上述公式執行總體確定，僅需從三個介質測量三個抖動。
通過使用具有三個水平的正交陣列，也可以設置這三個水平的檢查條件。以正交陣列L18為示例，在圖11中解釋使用正交陣列來創建三個水平(即最佳水平、中間水平和最差水平)的方法。在八個列A至H中，右側六列(C至H)的水平就1、2和3來說是相同的。
通過將上述六種錯誤因子分配到具有同樣水平設定的六列，并且將這六個因子的水平設置為最佳水平、中間水平和最差水平，可以創建條件N1、N2和N3。通過按此方式分配因子，在進行缺陷的確定的檢查時，可以通過僅使用三種記錄介質(N1至N3)來減少檢查時間來實現效率。當分析具有缺陷的再現裝置的引起缺陷的原因來檢查校正方法時，還可以通過測量其他十五個記錄介質來檢查是這六個因子中的哪一個引起該缺陷。
在此示例中，參照正交陣列L18作為示例解釋了使用正交陣列創建三個水平的方法。在對該示例的解釋中，未將因子分配給圖11所示的正交陣列中的A列和B列。然而，因為這兩列的水平是固定的，所以可以將其他波動因子分配給這些列作為因子。可以將與基板和膜相關的波動因子(如基板表面變化(翹曲)、基板厚度波動和反射系數波動)分配給這兩列。另選地，可以將上述六個因子之外的與記錄相關的因子分配給這兩列。
下面解釋根據此示例的檢查方法。圖12是根據該實施例的檢查系統的示意圖。記錄介質N1、N2和N3是為待檢查的再現裝置10制備的。將各個記錄介質放入再現裝置10中，再現波形被輸入到測量抖動的抖動儀20。檢查裝置100控制再現裝置10的測量徑向位置，并從抖動儀20獲取抖動，以對再現裝置10執行缺陷確定。
下面解釋圖12所示的檢查裝置100的結構。圖13是檢查裝置100的詳細功能框圖。檢查裝置100包括輸入單元110、輸出單元120、輸入/輸出控制接口單元130、通信控制接口單元140、存儲單元150、和控制單元160。
在這些單元之中，輸入單元110用于輸入各種信息并且包括鍵盤、鼠標和麥克風。例如，用戶使用輸入單元110輸入存儲在正交陣列(見圖11)中的各種信息。稍后描述的監視器(輸出單元120)與鼠標一起還實現了指示裝置的功能。
輸出單元120是用于輸出各種信息的輸出裝置并且包括監視器(或顯示器或觸摸面板)和揚聲器。例如，輸出單元120輸出存儲在正交陣列中的各種信息以及關于與再現裝置10相關的缺陷等的信息。輸入/輸出控制接口單元130是用于控制經由輸入單元110和輸出單元120的數據的輸入和輸出的裝置。通信控制接口單元140是用于控制再現裝置10和抖動儀20之間的通信的裝置。
存儲單元150是用于存儲由控制單元160進行各種處理所必需的數據和程序的存儲裝置。具體地，存儲單元150包括如圖13所示的正交陣列150a，作為與本發明緊密相關的正交陣列。如上所述，正交陣列150a是用于存儲記錄介質中的記錄信號的各個原因的設定值(見圖11)的存儲裝置。
控制單元160是控制裝置，其具有用于存儲定義各種處理過程的程序和控制數據的內部存儲器，并且根據該程序和控制數據執行各種處理。具體地，如圖13所示，控制單元160包括徑向位置控制單元160a、正交陣列管理單元160b、缺陷確定單元160c、和原因確定單元160d，作為與本發明緊密相關的單元。
徑向位置控制單元160a是控制再現裝置10使其控制在記錄介質上的測量徑向位置的處理單元。正交陣列管理單元160b是管理正交陣列150a的處理單元。正交陣列管理單元160b獲取用于識別記錄介質(No.1至No.18或者N1至N3等)的信息以及來自抖動儀20的關于抖動測量結果的信息，并基于獲取的信息登記并更新正交陣列150a的抖動測量結果y1至y18的值。例如，當從輸入單元110接收到對正交陣列150a的設定值的改變請求時，正交陣列管理單元160b改變正交陣列150a的設定值。
缺陷確定單元160c是用于確定在再現裝置10中是否存在缺陷的處理單元。具體地，缺陷確定單元160c基于記錄在正交陣列150a中的各個抖動測量結果y1至y18來計算評估值(用于計算評估值的具體公式與上述用于計算η的公式相同)，并且確定所計算的評估值是否等于或大于預先設置的基準值。
當該評估值等于或大于基準值時，缺陷確定單元160c確定再現裝置10中沒有缺陷，并將確定結果輸出到監視器(輸出單元120)。另一方面，當該評估值小于基準值時，缺陷確定單元160c確定再現裝置10中存在缺陷，并將確定結果輸出到監視器(輸出單元120)。
缺陷確定單元160c通過僅使用抖動測量結果y1至y3(或者使用記錄介質N1至N3)來執行缺陷確定，可以提高制造再現裝置的效率。
原因確定單元160d是當缺陷確定單元160c確定了再現裝置10中存在缺陷時，確定很可能對該缺陷影響最大的原因的處理單元。
原因確定單元160d使用統計方法，根據設置在正交陣列的各個原因(調制度、對稱性、熱累積、尋軌偏離、散焦、相鄰軌道的記錄的功率等)中的設定值(在各個記錄介質No.1至No.18中設置的設定值)以及從各個記錄介質測量的抖動測量結果y1至y18，計算貢獻比(contributionratio)。原因確定單元160d將貢獻比最高的原因確定為很可能對再現裝置10的缺陷影響最大的原因。
圖14是由原因確定單元160d計算的貢獻比的示例的表。在該圖所示的示例中，因為熱累積的貢獻比最大，所以熱累積對再現裝置10的缺陷影響最大。原因確定單元160d輸出關于確定結果的信息或者關于計算出的貢獻比的信息。操作員通過參照原因確定單元160d的確定結果，可以精確調整再現裝置10并消除缺陷。
下面解釋根據此示例的檢查裝置100的處理。圖15是由檢查裝置100執行的處理過程的流程圖。在圖15所示的流程圖中，使用記錄介質N1至N3來確定缺陷。如該圖所示，檢查裝置100獲取與記錄介質N1至N3相關的抖動的測量值(步驟S101)。在步驟S101，將記錄介質N1至N3按順序插入到檢查裝置100中。抖動儀20將各記錄介質的抖動測量結果按順序輸出到檢查裝置100。
隨后，缺陷確定單元160c基于各個抖動測量結果計算評估值(步驟S102)，將評估值與一基準值進行比較(步驟S103)，并且判定評估值是否等于或大于基準值(步驟S104)。
當評估值等于或大于基準值時(在步驟S104為“是”)，效率確定單元160c向監視器(輸出單元120)輸出待檢查的再現裝置正常的指示(步驟S105)。
另一方面，當評估值小于基準值時(在步驟S104為“否”)，缺陷確定單元160c輸出需要調整待檢查的再現裝置的指示(步驟S106)。檢查裝置100獲取記錄介質No.1至No.18的抖動的測量值(步驟S107)。在步驟S107，將記錄介質No.1至No.18按順序插入到再現裝置10中。抖動儀20將各個記錄介質的抖動測量結果按順序輸出到檢查裝置100。
原因確定單元160d基于正交陣列150a計算貢獻比(步驟S108)，確定具有最大貢獻比的元素(步驟S109)，并輸出確定結果(步驟S110)。
通過按此方式使用檢查裝置100，使用這樣的記錄介質執行再現裝置10的檢查，該記錄介質利用根據正交陣列的設定值量化地再現了再現波形的不規則性。因此，可以制造提高了再現兼容性質量的再現裝置。
已經解釋了為波動的每個原因創建一個記錄介質來制造再現裝置的方法。然而，當為每個條件制備一個記錄介質時，檢查工作很復雜。就工作效率而言這不是優選的。圖16是根據另一實施例的記錄介質的立體圖。如圖16所示，可以對十八種復雜的原因進行劃分并將其記錄在一個介質上。
如果將十八個條件各自的記錄區域的徑向位置信息記錄在TOC區域中，則檢查裝置100可以控制再現目標位置。簡單地通過將一個記錄介質插入到再現裝置10中，就可以對再現裝置自動執行缺陷和原因確定。除了與記錄相關的原因之外，可以添加與基板和膜相關的波動因子，諸如基板表面變化、基板厚度和反射系數。
如上所述，在制造再現裝置的處理中，檢查裝置100從這樣的記錄介質中再現信號，在該記錄介質中，信號是根據指標的設定值記錄的，通過將設定值從最佳值移離而劣化再現信號的質量，設定值是有意地從最佳值移離的，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量的劣化的原因的大小，這些原因例如，調制度、對稱性、熱累積、尋軌偏離、散焦、和由于相鄰軌道中的記錄的功率過高而引起的串擾。檢查裝置100基于再現信號確定再現裝置中是否存在缺陷。這使得可以量化地再現與市場中的記錄相關的多個波動因子，并可提高市場中的記錄介質的再現兼容性的質量。
檢查裝置100基于各個原因的設定值和抖動的測量結果，計算貢獻因子，并確定哪個因子是導致再現裝置10的缺陷的因子。因此，操作員可以有效地調整再現裝置。操作員不需要指明缺陷的原因。因此，大大降低了操作員的負擔。
通過用計算機執行預先準備的程序可以實現在該示例中解釋的各種處理。因此，在下面的解釋中，使用圖17來解釋執行用來實現所述各種處理的程序的計算機的示例。
圖17是實現根據以上實施例的過程、方法、步驟的計算機的硬件結構。該計算機通過由總線38連接以下部件而構成從用戶接收數據輸入的輸入裝置30、監視器31、隨機存取存儲器(RAM)32、只讀存儲器(ROM)33、從記錄有各種程序的記錄介質讀取程序的介質讀取裝置34、通過網絡與其他計算機交換數據的網絡接口35、中央處理單元(CPU)36、和硬盤驅動器(HDD)37。
在HDD 37中存儲有各種程序37b，程序37b表現出與上述檢查裝置100相同的功能。CPU 36從HDD 37讀出計算機程序37b并執行這些程序。結果，用于實現上述檢查裝置100的功能單元的功能的各種處理36a開始。
在HDD 37中存儲有與存儲在上述檢查裝置100的存儲單元150中的數據相對應各種數據37a。CPU 36將數據37a存儲在HDD 37中，從HDD 37讀出數據37a并將數據37a存儲在RAM 32中，并且基于存儲在RAM 32中的各種數據32a執行數據處理。
計算機程序37b不總是從一開始就必須存儲在HDD 37中。例如，可以將計算機程序37b存儲在以下介質中插入到計算機中的“便攜式物理介質”，諸如軟盤(F)、CD-ROM、DVD盤、磁光盤或IC卡；“固定式物理介質”，諸如設置在計算機內部或外部的硬盤驅動器(HDD)；“其他計算機(或服務器)”，其通過公共線、互聯網、LAN、WAN等與所述計算機相連接。計算機可以從這些介質中讀出計算機程序37b并執行計算機程序37b。
已解釋了本發明的示例。然而，在除了上述示例之外，可以在權利要求中描述的技術思想的范圍內以各種不同的實施例執行本發明。
在所述示例中解釋的各種處理之中，被解釋為自動執行的所有或部分種類的處理可以手動執行。被解釋為手動執行的所有或部分種類的處理可以按照公知的方法自動地執行。
此外，除非另外具體指明，否則可以任意改變在該說明書中解釋的以及在附圖中示出的包括處理過程、控制過程、具體名稱和各種數據和參數的信息。
圖中示出的各個裝置的各個部件是功能概念上的，并且不總是需要按照圖中所示物理地構成。換言之，各個裝置的部件的分布與整合的具體形式不限于圖中示出的形式。根據各種負載、使用狀態等，可以將所有或部分部件構成為在功能上或物理上分布和整合于任意單元中。
此外，在各個裝置中執行的各個處理功能的全部或任意部分可以由CPU以及CPU分析和執行的程序實現，或者可以被實現為根據布線邏輯的硬件。
根據一個方面，從其中根據使再現信號的質量劣化的指標的設定值而記錄了信號的記錄介質中再現信號，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小。基于該再現信號，確定在再現裝置中是否存在缺陷。這可以解決由于再現波形的不規則性而導致的再現裝置的再現故障問題。
根據另一方面，當確定再現裝置中存在缺陷時，基于預先設置的設定值以及從記錄介質再現的信號，確定關于再現裝置的缺陷的原因。這使得可以對其中出現了缺陷的再現裝置進行精確的調整。
根據另一方面，從其中根據不同的設定值而記錄了信號的多個記錄介質對再現信號進行再現。基于從各個記錄介質再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。這使得可以恰當地執行對再現裝置的檢查并提高再現裝置的性能。
根據另一方面，從記錄介質的一部分再現信號。基于從記錄介質的該部分再現的信號，確定再現裝置中是否存儲缺陷。這使得可以高效地制造再現裝置。
根據另一方面，將記錄在記錄介質中的信號的設定值設置為由正交陣列指示的水平。這使得可以使用能夠量化地再現市場中可能發生的再現波形的不規則性的記錄介質，來恰當地執行對再現裝置的檢查。
根據另一方面，將記錄在記錄介質中的信號的設定值設置為由具有三個水平的正交陣列所指示的水平。再現其中根據與具有三個水平的正交陣列相對應的三種設定值而記錄了信號的記錄介質的信號。基于再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。這使得可以高效地制造再現裝置。
根據另一方面，記錄介質分別在多個區域中劃分并存儲根據不同的設定值記錄的信號。再現記錄在該記錄介質的各個區域中的信號。基于從各個區域再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。這使得可以不必更換記錄介質并且可以迅速地執行對再現裝置的檢查。
根據另一方面，使用其中根據使再現信號的質量劣化的指標的設定值而記錄了信號的記錄介質，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小。這使得可以解決由再現波形的不規則性引起的再現裝置的再現故障問題。
根據另一方面，使用將根據不同的設定值而記錄的多個信號劃分并記錄在多個區域中的記錄介質。這使得不必更換記錄介質從而減少了操作員的負擔。
雖然為了完整和清楚的公開已參照具體實施例描述了本發明，但是所附權利要求并不因此受到限制，而是應被解釋為包括本領域的技術人員可以做出的落入在此闡述的基本教導內的所有修改和另選結構。
權利要求
1.一種再現裝置的制造方法，所述再現裝置對記錄在記錄介質中的信號進行再現，所述方法包括以下步驟再現步驟從其中根據設定值記錄了信號的記錄介質中再現信號，所述設定值是使再現信號的質量劣化的指標的值，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量的劣化的原因的大小；以及確定步驟基于再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
2.根據權利要求1所述的方法，其中所述確定步驟包括以下步驟當確定了再現裝置中存在缺陷時，基于所述設定值和所述再現信號，確定所述再現裝置中的缺陷的原因。
3.根據權利要求1所述的方法，其中所述再現步驟包括以下步驟從其中根據對應的設定值而記錄了信號的多個記錄介質中再現信號，以及所述確定步驟包括以下步驟基于從各個記錄介質再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
4.根據權利要求3所述的方法，其中所述再現步驟包括以下步驟從所述多個記錄介質中的某些記錄介質中再現信號，以及所述確定步驟包括以下步驟基于從所述多個記錄介質再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
5.根據權利要求1所述的方法，其中，所述記錄介質是根據激光束所引起的介質熱改變來記錄信號的記錄介質。
6.根據權利要求3所述的方法，其中，將記錄在記錄介質中的信號的設定值設置為由正交陣列指示的水平。
7.根據權利要求4所述的方法，其中將記錄在記錄介質中的信號的設定值設置為由具有三個水平的正交陣列所指示的水平，所述再現步驟包括以下步驟再現其中根據與具有三個水平的正交陣列相對應的三種設定值而記錄了信號的記錄介質的信號，以及所述確定步驟包括以下步驟基于在再現時再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
8.根據權利要求1所述的方法，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因是調制度。
9.根據權利要求1所述的方法，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因是對稱性。
10.根據權利要求1所述的方法，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因是熱累積。
11.根據權利要求1所述的方法，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因是尋軌偏離。
12.根據權利要求1所述的方法，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因是散焦。
13.根據權利要求1所述的方法，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因是由于相鄰軌道中的記錄的功率過高而引起的串擾。
14.根據權利要求1所述的方法，其中所述記錄介質具有多個區域，所述設定值是對應于各區域設置的，所述再現步驟包括以下步驟再現記錄在各個區域中的信號，以及所述確定步驟包括以下步驟基于從記錄介質的各個區域中再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
15.一種記錄介質，記錄有代表數據的信號，其中所述信號是根據使再現信號的質量劣化的指標的設定值而記錄的，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小。
16.根據權利要求15所述的記錄介質，其中在記錄介質的對應區域中記錄有具有不同設定值的多個信號。
17.根據權利要求16所述的記錄介質，其中使信號再現時再現信號的質量劣化的原因包括以下原因中的至少一個調制度、對稱性、熱累積、尋軌偏離、散焦、由于相鄰軌道中的記錄的功率過高而引起的串擾、基板的翹曲、以及基板厚度的偏差。
18.一種計算機可讀記錄介質，其中存儲有計算機程序，該計算機程序使計算機實現對記錄在記錄介質中的信號進行再現的再現裝置的制造，該計算機程序使計算機執行以下步驟從其中根據設定值記錄了信號的記錄介質中再現信號，所述設定值是使再現信號的質量劣化的指標的值，所述指標表示導致信號再現時再現信號的質量劣化的原因的大小；以及基于再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
19.根據權利要求18所述的計算機可讀記錄介質，其中所述確定步驟包括以下步驟當確定了再現裝置中存在缺陷時，基于所述設定值和所述再現的信號，確定所述導致再現裝置中的缺陷的原因。
20.根據權利要求18所述的計算機可讀記錄介質，其中所述再現步驟包括以下步驟從其中根據對應的設定值而記錄了信號的多個記錄介質中再現信號，以及所述確定步驟包括以下步驟基于從各個記錄介質再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
21.根據權利要求20所述的計算機可讀記錄介質，其中所述再現步驟包括以下步驟從所述多個記錄介質中的某些記錄介質中再現信號，以及所述確定步驟包括以下步驟基于從所述多個記錄介質再現的信號，確定再現裝置中是否存在缺陷。
22.根據權利要求18所述的計算機可讀記錄介質，其中所述記錄介質是根據由激光束引起的介質熱改變來記錄信號的記錄介質。
全文摘要
本發明公開了再現裝置制造方法、記錄介質以及計算機產品。將已知的錯誤信號記錄在測試用記錄介質中。當制造再現裝置時，使用該測試用記錄介質來檢查再現裝置中是否存在缺陷。
文檔編號G11B7/004GK101064161SQ20061011065
公開日2007年10月31日 申請日期2006年8月4日 優先權日2006年4月28日
發明者細川哲夫 申請人:富士通株式會社