專利名稱：用于管理盤缺陷的方法和設備及其盤的制作方法
技術領域：
本發明涉及盤缺陷管理，更具體地講，涉及一種具有其中記錄有驅動器和盤信息的臨時缺陷管理區域的盤、和一種盤缺陷管理方法及其設備。
背景技術：
盤缺陷管理是將存儲在其中存在缺陷的盤的用戶數據區中的數據重寫到盤的數據區的新部分的處理，從而補償由缺陷引起的數據丟失。通常，使用線性替換方法或滑動替換方法來執行盤缺陷管理。在線性替換方法中，其中存在缺陷的用戶數據區被沒有缺陷的備用數據區替換。在滑動替換方法中，具有缺陷的用戶數據區被滑動，并且沒有缺陷的下一用戶數據區被使用。
然而，線性替換方法和滑動替換方法二者都僅能應用于諸如可將數據重復地記錄在其上并且可使用隨機訪問方法來執行記錄的DVD-RAM/RW的盤。換言之，傳統線性和滑動替換方法不能被應用于其上僅允許記錄一次的一次寫入盤。特別是，通常通過將數據記錄在盤上并且確定是否已將數據正確地記錄在盤上來檢測盤中缺陷的存在。然而，一旦數據被記錄在一次寫入盤上，則覆寫新數據并管理其中的缺陷是不可能的。
在一次寫入盤壓縮盤(CD)-R和數字通用盤(DVD)-R的開發之后，具有數十GB的記錄容量的高密度一次寫入盤已被引入。由于其不昂貴并且允許能夠快速讀取操作的隨機訪問，所以此類盤可被用作備用盤。然而，盤缺陷管理不能用于一次寫入盤。因此，當在備份操作期間檢測到缺陷區(即，存在缺陷的區)時，備份操作可被終止。而且，當系統管理員不操作系統時，當系統未被頻繁使用時(例如，夜間)執行備份操作。在此情況下，更有可能的是因為檢測到一次寫入盤的缺陷區所以備份操作將被終止。
同時，當另外的數據將被不記錄在可記錄盤上時(即，當將僅允許數據再現時)，寫保護信息被記錄在盤上以放置記錄在盤上的數據被誤擦除。然而，一旦寫保護信息被記錄，則不再允許記錄，并且因此，不能管理可能的盤缺陷。即，由于在記錄寫保護信息之后在盤的數據區中不允許記錄，所以也不能執行盤缺陷管理。
發明內容
本發明的一方面提供一種一次寫入盤、和一種盤缺陷管理方法及其設備。
本發明的一方面還提供一種一次寫入盤和一種即使在記錄操作期間當檢測到盤缺陷時也可管理盤缺陷，允許執行記錄操作而無中斷的盤缺陷管理方法及設備。
本發明的一方面還提供一種其上可改變已記錄的寫保護信息的盤、和一種盤缺陷管理方法及其設備。
本發明的一方面還提供一種其上即使在記錄寫保護信息之后也允許盤缺陷管理的盤、和一種盤缺陷管理方法及其設備。
本發明的一方面還提供一種盤、和一種可增加存儲在盤上的可靠性的盤缺陷管理方法及設備。
本發明的其它方面和/或優點將在下面被部分地闡述，并且將從描述中部分地變得清楚，或可通過本發明的實踐而被理解。
根據本發明的一方面，一種一次寫入盤，包括單記錄層，順序地具有導入區、數據區和導出區；在導入區和導出區的至少一個中的缺陷管理區；在導入區和導出區的至少一個中的臨時缺陷管理區；以及在導入區和導出區的至少一個中的驅動器和盤信息區，其中，關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在驅動器和盤信息區中，臨時缺陷信息和包括驅動器和盤信息的臨時缺陷管理信息被記錄在臨時缺陷管理區，并且在盤的完成期間最后記錄在臨時缺陷管理區中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區。
根據本發明的另一方面，一種一次寫入盤，具有順序地具有導入區、數據區和導出區的第一記錄層；順序地具有外部區、數據區和導出區的第二記錄層；在導入區、導出區和外部區的至少一個中的缺陷管理區；在導入區、導出區和外部區的至少一個中的臨時缺陷管理區；以及在導入區、導出區和外部區的至少一個中的驅動器和盤信息區，其中，臨時缺陷信息和包括驅動器和盤信息的臨時缺陷管理信息被記錄在臨時缺陷管理區，為了盤的完成，最后記錄在臨時缺陷管理區中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區，并且關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在驅動器和盤信息區中。
根據本發明的一方面，寫保護信息還被記錄在驅動器和盤信息區并且針對每一記錄操作而被記錄。
根據本發明的一方面，驅動器和盤信息包括寫保護信息和測試位置信息的至少一個。
根據本發明的另一方面，一種管理盤缺陷的方法，包括將關于根據第i記錄操作記錄在盤的數據區中的數據中的缺陷的信息作為第i臨時缺陷信息幾次記錄在盤的臨時缺陷管理區中；將用于管理第i臨時缺陷信息的信息作為第i臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中；將關于第i臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅動器和盤信息區中；在增加給到記錄操作、臨時缺陷信息、和臨時缺陷管理信息的指數時，至少一次重復對第i臨時缺陷信息的記錄、對第i臨時缺陷管理信息的記錄、和對關于位置的信息的記錄；以及為了盤的完成，將最后記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的一個記錄在盤的缺陷管理器中。
根據本發明的一方面，該方法還包括將寫保護信息被記錄在驅動器和盤信息區。
在記錄第一臨時缺陷管理信息期間，該第i臨時缺陷管理信息被記錄以包括測試位置信息和寫保護信息的至少一個。
根據本發明的另一方面，一種記錄和/或再現設備，包括記錄/讀單元，由于將數據記錄在盤上或從盤讀取數據；以及控制器，用于控制記錄/讀單元將關于記錄在數據區中的數據中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息記錄在盤的臨時缺陷管理區中；將用于管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，該管理信息還包括驅動器和盤信息；將關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅動器和盤信息區中；以及在盤完成期間將最后記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息記錄在盤的缺陷管理區中。
根據本發明的一方面，控制器控制記錄/讀單元以還將寫保護信息記錄在驅動器和盤信息中，控制記錄/讀單元以針對每一記錄操作記錄臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，以及控制記錄/讀單元來針對每一記錄操作記錄臨時缺陷管理信息以包括測試位置信息和寫保護信息。
通過下面結合附圖進行對其實施例進行詳細的描述，本發明的上述和/或其他方面和優點將會變得更加清楚并更易被理解，其中圖1是根據本發明實施例的記錄和/或再現設備的方框圖；圖2A至2D示出根據本發明實施例的盤的結構；圖3A示出根據本發明實施例的在圖2A至2D中示出的盤的數據結構；圖3B示出具有如圖3A所示的驅動器和盤信息區、臨時缺陷管理區(TDMA)和缺陷管理區(DMA)的盤的數據結構；圖4A至4D示出根據本發明實施例的其中已經執行盤缺陷管理的TDMA的數據結構；圖5A和5B示出根據本發明實施例的其中未執行盤缺陷管理的TDMA的數據結構；圖6A和6B示出根據本發明實施例的臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構；圖7示出根據本發明實施例的臨時缺陷信息TDFL#i的數據結構；圖8A和8B示出根據本發明實施例的驅動器和盤信息區的數據結構；圖9示出根據本發明實施例的用于解釋在用戶數據區A和備用區B中的數據的記錄的圖；圖10是示出根據本發明實施例的數據區的有效使用的圖；圖11示出根據本發明實施例的臨時缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數據結構；圖12示出根據本發明實施例的關于缺陷#i的信息的數據結構；圖13A和13B顯示根據本發明實施例的盤缺陷管理方法的流程圖；以及圖14A和14B顯示根據本發明另一實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。
具體實施例方式
以下，將參照附圖來更詳細說明本發明的實施例，其中，相同的標號始終指的是同一元件。以下通過參照附圖來描述實施例以便解釋本發明。
圖1是根據本發明實施例的記錄和/或再現設備的方框圖。參照圖1，該記錄和/或再現設備包括記錄/讀單元1、控制器2和存儲器3。該記錄/讀單元1將數據記錄在盤100上，盤100是根據本發明實施例的信息存儲介質，記錄/讀單元1還從盤100讀回數據以校驗記錄的數據的準確性。控制器2執行根據本發明實施例的盤缺陷管理，并且控制記錄/讀單元1將寫保護信息記錄在盤100上。在此實施例中，控制器2使用寫后校驗方法，在該方法中，以預定數據的單位將數據記錄在盤100上，并且記錄的數據的準確性被校驗以檢測盤100的區是否具有缺陷。
具體是，控制器2將用戶數據以記錄操作為單位記錄在盤100上，并且校驗記錄的用戶數據以檢測其中存在缺陷的盤100的區。其后，控制器2生成表示具有缺陷的區的位置的信息，并且將生成的表示具有缺陷的區的位置的信息存儲在存儲器3中。當存儲的信息達到預定的量時，控制器2將存儲的信息作為臨時缺陷信息記錄到盤100上。如果用戶不執行盤缺陷管理，則控制器2僅將臨時缺陷管理信息(將在下面解釋)記錄到盤100上。
通常，記錄操作是根據用戶的意圖確定的操作單位，或是將被執行的記錄工作。根據所示實施例，記錄操作表示其中盤100被裝入記錄和/或再現設備、數據被記錄在盤100上、并且盤100被從記錄和/或再現設備中取出的過程。在記錄操作期間，數據被記錄并且至少校驗一次通常，數據被記錄并且校驗幾次。使用寫后校驗方法獲得的缺陷信息作為臨時缺陷信息被臨時存儲在存儲器3中。然而，應該理解，在本發明的全部方面，記錄操作可被另外限定，并且/或者數據不需要被校驗幾次。
當用戶按下記錄和/或再現設備的彈出鍵(未示出)以便在記錄數據之后移動盤100時，或當記錄操作被另外終止時，控制器2期望記錄操作終止。接下來，控制器2從存儲器3讀取信息，將讀取的信息提供到記錄/讀單元1，并且控制記錄/讀單元1將讀取的信息記錄在盤100上。而且，如將在下面解釋的，關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的信息和寫保護信息被記錄在盤100的驅動器和盤信息區。
當完成數據的記錄時(即，另外的數據將不被記錄在盤100上，并且盤100需要被完成)，控制器2控制記錄/讀單元1將記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息作為缺陷管理信息記錄在盤100的缺陷管理區(DMA)中。
在再現期間，控制器2控制記錄/讀單元1從盤100的臨時缺陷管理區(TDMA)讀取關于記錄在數據區中的數據中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息。控制器2進一步控制記錄/讀單元1從盤100的TDMA讀取用于管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息。讀取的管理信息包括驅動器和盤信息。控制器2控制記錄/讀單元1從盤100的盤和驅動器信息區讀取關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息。而且，在盤100被完成的情況下，控制器2控制記錄/讀單元1從盤100的缺陷管理區(DMA)中讀取最后記錄的臨時缺陷信息和最后記錄的臨時缺陷管理信息。控制器2還控制記錄/讀單元1從驅動器和盤信息中讀取寫保護信息和測試位置信息。
圖2A至2D示出根據本發明實施例的圖1中的盤100的結構。圖2A詳細示出具有記錄層L0的盤100(單記錄層盤)。盤100包括導入區、數據區、和導出區。導入區位于盤100的內側部分，并且導出區位于盤100的外側部分。數據區在導入區和導出區之間，并且被分為用戶數據區和備用區。用戶數據區是其中記錄用戶數據的區。備用區是用于具有缺陷的用戶數據區的替換區，并且用于補償由于缺陷導致的記錄區中的丟失。即，備用區被用于根據本發明一方面的盤缺陷管理，從而，當缺陷存在于在用戶數據區中記錄的數據中時，則該數據被再次記錄在備用區中。
除了數據區包括兩個備用區之外，圖2B中示出的盤100的數據結構與圖2A中示出的盤100的數據結構相同。因此，將省略圖2B中示出的每一區的描述。在圖2B中，備用區位于用戶數據區的邊上。在示出的實施例中，在導入區和用戶數據區之間的備用區將被稱作內側備用區，并且用戶數據區和導出區之間的備用區將被稱作外側備用區。然而，應該理解其它備用區可被使用，并且/或者安排在除用戶數據區的內側和外側區之外的區中。
圖2C示出具有第一和第二記錄層L0和L1的盤100(雙記錄層盤)。第一記錄層L0具有從第一記錄層L0的內側部分到外側部分順序地形成的導入區、數據區和外側區。而且，第二記錄層L1具有從第二記錄層L1的外側部分到內側部分順序地形成的外側區、數據區和導出區。不同于圖2A和2B中示出的單記錄層盤，導出區存在于圖2B中的盤100的內側部分。即，圖2B的盤100具有逆光道路徑(OTP)，其中數據被從第一記錄層L0的導入區開始向著其外側區，并且繼續從第二記錄層L0的外側區到其導出區來記錄。備用區被分配給記錄層L0和L1的每一個。
除了第一記錄層L0和第二記錄層L1每一個還包括另一備用區從而盤100包括四個備用區之外，圖2D中示出的盤100數據結構與圖2C中的盤100的數據結構相同。因此，在此將省略每一備用區的描述。備用區形成在第一和第二記錄層L0和L1的用戶數據區的邊上。在此公開中，與盤100的內側部分相鄰的備用區將被稱作內側備用區，并且與盤100的外側部分相鄰的備用區將被稱作外側備用區。如果需要，用戶數據區的一部分可被用作另一備用區。備用區的位置和數量不限于以上描述。
圖3A示出根據本發明實施例的在圖2A至2D中示出的盤100的結構。參照圖3A，如果盤100是圖2A和2B中示出的單記錄層盤100，則驅動器和盤信息區、DMA、和臨時DMA(TDMA)存在于盤100的導入區和導出區的至少一個中。如果盤100是圖2C和2D中示出的雙記錄層盤100，則驅動器和盤信息區、DMA、和TDMA存在于導入區、導出區和外側區的至少一個中，并且分別優選地位于盤100的內側部分的導入區和導出區中。然而，應該理解，驅動器和盤信息區可另外位于本發明其它方面。
在驅動器和盤信息區中，存在關于用于寫和/或讀操作的驅動器的記錄的信息、關于盤的信息(例如，該盤是單記錄層盤還是雙記錄層盤)、和關于其中記錄條件被測試的測試區的位置的信息。尤其是，盤信息規定根據本發明一方面的盤缺陷管理。例如，盤信息可包括關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置信息、和寫保護信息。然而，應該理解，驅動器和盤信息區可包括與驅動器和盤信息相關的另外的信息。
通常，DMA包括與管理盤100中的盤缺陷相關的信息。這種信息包括用于盤缺陷管理的盤100的結構、缺陷信息的記錄位置、缺陷管理是否執行、和備用區的位置和大小。在TDMA中，在盤完成之前記錄關于盤缺陷的信息。關于盤缺陷的信息包括驅動器和盤信息(即，關于測試區的位置的信息和寫保護信息)。
通常，當盤100被裝入諸如圖1中所示的設備的記錄/讀設備時，該設備從盤100的導入區和導出區讀取數據，以確定如何管理盤100和將數據記錄在盤100上，或從盤100中讀取數據。然而，如果記錄在導入區和/或導出區中的數據量增加，則在裝入盤100之后較長的時間被花費在準備數據的記錄或再現上。為了解決此問題，本發明的一方面使用將被記錄在TDMA中的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息。TDMA被分配給與DMA分離的盤的導入區和/或導出區。即，當不將另外的數據記錄在盤上(即，需要盤完成)時，僅最后記錄的缺陷信息和缺陷管理信息被記錄在DMA中，因此使得記錄/讀設備能夠僅從DMA讀取僅最后記錄的缺陷管理信息。因此，可加速盤初始化。而且，由于缺陷管理信息被記錄在多個區中，所以可增加信息的可靠性。
根據本發明的一方面，缺陷管理信息、關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置信息、和寫保護信息被記錄在驅動器和盤信息區中。因此，記錄/讀設備從驅動器和盤信息區讀取位置信息，并且因此能夠基于讀取的位置信息更快速地訪問DMA。即，可基于該位置信息可更有效地執行盤缺陷管理。
而且，該驅動器和盤信息(包括關于測試區的位置信息和寫保護信息)被記錄在臨時缺陷管理信息中。因此，即使盤驅動器不訪問驅動器和盤信息區，也可從臨時缺陷管理區中獲得關于測試區的位置信息和寫保護信息。臨時缺陷管理信息中包括測試位置信息使得能夠快速尋找到針對測試位置信息的指針。
在所示實施例中，由于使用線性替換方法執行盤缺陷管理，所以臨時缺陷信息包括表示具有缺陷的盤100的區的位置的信息和表示作為具有缺陷的區的替換盤100的區的位置的信息。更優選地是，臨時缺陷信息還包括表示缺陷是出現在單一的缺陷塊中還是連續的缺陷塊中的信息。臨時缺陷管理信息被用于管理臨時缺陷信息，并且包括表示其中記錄了臨時缺陷信息的盤100的位置的信息。更優選地是，臨時缺陷管理信息還包括關于測試區的位置信息和寫保護信息。下面將解釋臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的詳細數據結構。
在所示實施例中，每次當記錄操作結束時，臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被記錄。在TDMA中，因此，關于出現在在記錄操作#0期間記錄的數據中的缺陷的信息和關于替換區的信息被記錄為臨時缺陷信息#0。關于出現在在記錄操作#1期間記錄的數據中的缺陷的信息和關于替換區的信息被記錄為臨時缺陷信息#1。而且，用于管理臨時缺陷信息#0、#1...的信息作為臨時缺陷管理信息#0、#1...被記錄在TDMA中。當另外的數據不能被記錄在數據區中時或當用戶不希望將另外的數據記錄在其中(即，數據不需要被完成)時，記錄在臨時缺陷信息區中的臨時缺陷信息和記錄在臨時缺陷管理信息區中的臨時缺陷管理信息被重寫到DMA中。
在所示實施例中，包含在之前記錄的臨時缺陷信息#0、#1、#2...、#i-1中的全部缺陷信息還被包含在臨時缺陷信息#i中。因此，僅通過讀取包含在最后記錄的臨時缺陷信息#i中的缺陷信息并且將讀取的臨時缺陷信息#i重寫到DMA中來完成盤100是容易的。然而，應該理解，在本發明全部方面，臨時缺陷信息#i不需要包括之前的缺陷信息。
在諸如藍光盤或高級光盤(AOD)的具有幾十GB記錄容量的高密度盤100的情況下，可期望一個簇被分配到臨時缺陷管理信息#i被記錄到其中的區并且四到八個簇被分配到臨時缺陷信息#i被記錄到其中的區。這是因為，雖然臨時缺陷信息#i的量僅幾KB時，但是當記錄的最小物理單位為簇時以簇為單位記錄新信息以更新信息是優選的。當在全部方面不需要時，在盤中允許的缺陷的總量優選地為大約盤記錄容量的5％。例如，考慮到關于缺陷的信息是大約8字節長并且簇的大小為64KB，對于記錄臨時缺陷信息#i需要大約四到八簇。然而，應該理解，在本發明全部方面中，根據需要可使用盤記錄容量的附加百分比，并且新信息不需要被記錄在簇中。
還可對臨時缺陷信息#i和臨時缺陷管理信息#i執行寫后校驗方法。當缺陷被檢測到時，記錄在具有缺陷的盤100的區中的信息可使用線性替換方法而被記錄在備用區中，或使用滑動替換方法而被記錄到與TDMA相鄰的區中。
在所示實施例中，驅動器和盤信息區和TDMA是分離的區。然而，應該理解，該區可被形成為單一區。在下面的情況下，需要被更新的一部分驅動器和盤信息(例如，關于測試區的位置信息和寫保護信息)被更新并與臨時缺陷管理信息一起記錄。
圖3B示出具有如圖3A中所示的驅動器和盤信息區、TDMA、和DMA的盤100的數據結構。參照圖3B，兩個DMA，DMA1和DMA2被形成以增加缺陷管理信息、缺陷信息和寫保護信息的牢固性。圖3B顯示臨時缺陷管理區TDMA、其中測定數據的記錄條件的測試區Test、和其中記錄有驅動器和盤信息并且位于在DMA DMA1旁邊的緩沖區緩沖2旁邊的驅動器和盤區驅動器和盤信息。緩沖1、緩沖2和緩沖3是作為表示各個區的邊界的緩沖的區。根據本發明實施例的盤100可包括多個驅動器和盤信息區。
圖4A至4D示出其中根據本發明實施例的其中已經執行盤缺陷管理的TDMA的數據結構。參照圖4A，TDMA被邏輯地分為臨時缺陷信息區和臨時缺陷管理信息區。在臨時缺陷信息區中，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...從該區的開始向著結束而被順序地記錄，從而臨時缺陷信息的物理或邏輯地址增加。臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...被重復記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4A示出P次記錄臨時缺陷信息TDFL#0。在臨時缺陷管理信息區中，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2、...被從區的開始順序地記錄。臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2、...分別相應于臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...。
參照圖4B，與圖4A比較，TDMA也被邏輯的分為臨時缺陷信息區和臨時缺陷管理信息區。然而，記錄信息的順序不同。更具體地說，在臨時缺陷信息區中，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...從該區的結束向著開始而被記錄，從而臨時缺陷信息的物理或邏輯地址減少。類似地，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...被重復記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4B示出P次記錄臨時缺陷信息TDFL#0。在臨時缺陷管理信息區中，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2、...被從區的結束順序地記錄。臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2、...分別相應于臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...。
參照圖4C，相應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息作為信息對記錄在TDMA中。更具體地說，臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1、...。被從TDMA的開始順序地記錄，從而臨時管理信息的物理或邏輯地址增加。臨時管理信息TDMA#0包含一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#0和臨時缺陷信息TDFL#0，并且臨時管理信息TDMA#1包含一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#1和臨時缺陷信息TDFL#1。臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...被重復記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4C示出P次記錄臨時缺陷信息TDFL#0。
參照圖4D，與圖4C的TDMA相比較，相應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息作為信息對記錄在TDMA中。然而，記錄信息的順序不同。更具體地說，在TDMA中，臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1、...從TDMA的結束開始而被順序地記錄，從而臨時管理信息的物理或邏輯地址減少。臨時管理信息TDMA#0包含一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#0和臨時缺陷信息TDFL#0，并且臨時管理信息TDMA#1包含一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#1和臨時缺陷信息TDFL#1。類似地，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、...被重復記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4D示出P次記錄臨時缺陷信息TDFL#0。
圖5A和5B示出根據本發明實施例的其中未執行盤缺陷管理的TDMA的數據結構。參照圖5A，當用戶決定不執行盤缺陷管理時，臨時缺陷管理信息以記錄操作單位被記錄到TDMA中。更具體地說，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、...從TDMA的開始而被記錄，從而臨時缺陷管理信息的物理或邏輯地址增加。
參照圖5B，當用戶決定不執行盤缺陷管理時，臨時缺陷管理信息以記錄操作為單位被記錄到TDMA中。然而，不同于圖5A，從TDDS#0、TDDS#1、...開始的臨時缺陷管理信息從TDMA的結束開始而被記錄，從而臨時缺陷管理信息的物理或邏輯地址減少。
圖6A和6B示出臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構。詳細地說，圖6A示出記錄在諸如圖2A和2B中所示的單記錄層盤100上的臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構。臨時缺陷管理信息TDDS#i包含用于臨時缺陷管理信息TDDS#i的標識符和關于與臨時缺陷信息TDFL#i相應的位置的信息。如之前參照圖4A至4D所解釋，根據本發明一方面的臨時缺陷信息TDFL#i被重復記錄幾次。因此，關于臨時缺陷信息TDFL#i的位置的信息包括與臨時缺陷信息TDFL#i相應的指針，并且每一指針相應于每一臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置。圖5A中所示的臨時缺陷管理信息TDDS#i包括相應于P次記錄的臨時缺陷信息TDFL#i的P個指針。
而且，記錄在單記錄層盤100上的臨時缺陷管理信息TDDS#i描述最后記錄在記錄層L0的用戶數據區中的用戶數據的地址、和作為最后記錄在記錄層L0的備用區中的替換區的地址。因此，僅參照最后記錄的用戶數據區和替換區，用戶可容易地利用盤100。
臨時缺陷管理信息TDDS#i還包括測試位置信息#i和寫保護信息#i。因此，即使盤驅動器不訪問驅動器和盤信息區或不執行盤缺陷管理，也可在掃描其中測試記錄條件的測試區時不檢測可測試的區而直接訪問可測試的區。而且，可避免在不期望的區中記錄。
現在將更詳細地描述將測試位置信息包括在臨時缺陷管理信息中的原因。如上所述，臨時管理信息包含臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息，并且還包含圖中未示出的記錄管理信息。根據一方面，記錄管理信息是空位圖(SBM)。SBM表示是否使用比特值基于記錄塊將數據記錄在記錄介質的區中。臨時管理信息被記錄在臨時缺陷管理信息區(TDMA)中。
為了TDMA的有效使用，當需要更新一部分臨時管理信息時，僅在TDMA中更新該部分。當臨時缺陷信息需要被更新而SBM不需要被更新時，在TDMA的下一可用區中僅更新臨時缺陷信息。在此情況下，最后記錄的臨時缺陷信息的記錄位置改變。因此，臨時缺陷管理信息需要被更新。類似地，當需要更新SBM而不需要更新臨時缺陷信息時，在TDMA的下一可用區中僅更新SBM。在此情況下，由于最后記錄的SBM的記錄位置改變，所以也需要更新臨時缺陷管理信息。
如上所述，由于臨時缺陷管理信息必須規定關于更新的部分的位置信息，所以當僅更新一部分記錄在TDMA中的臨時管理信息時，臨時缺陷管理信息也必須被更新。換句話說，當盤100被裝入驅動系統中時，對驅動系統來說檢測最后記錄的臨時管理信息是困難的。為了解決此問題，關于包含在臨時管理信息中的各個信息的位置信息被包括在臨時缺陷管理信息中，并且臨時缺陷管理信息被記錄在TDMA的末端。因此，通過從臨時缺陷管理信息中讀取關于最后記錄的臨時管理信息的位置信息，驅動系統可容易地檢測最后記錄的臨時管理信息。在這方面，臨時缺陷管理信息被順序地記錄在TDMA中。
驅動系統能夠區分在臨時缺陷管理信息中包含數據的區和不包含數據的區，并且檢測最后記錄的數據塊。可通過從盤100讀取射頻(RF)信號來確定盤的區是否包含數據。因此，當測試位置信息包括在臨時管理信息中時，最好將測試位置信息記錄在臨時缺陷管理信息中。
因為，當盤100被裝入驅動系統時，驅動系統通過訪問在TDMA中最后記錄的數據塊、從數據塊檢測臨時缺陷管理信息、并從臨時缺陷管理信息中檢測最后記錄的臨時管理信息來讀取最后記錄在盤100上的臨時管理信息，所以，測試位置信息被記錄在臨時缺陷管理信息中。驅動系統基于最后記錄的臨時缺陷管理信息來執行寫/讀操作。為此，測試位置信息被包含在盤驅動器必須首先檢測其以便將數據記錄在盤100上或從盤100上讀取數據的最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i中，因此允許容易地立刻檢測關于臨時缺陷信息TDFL#i的位置信息和測試位置信息。
不考慮另一臨時管理信息是否被更新，包括測試位置信息在臨時缺陷管理信息TDDS#i中允許基于最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i的地址從TDMA中容易地檢測到測試位置信息。如果測試位置信息被記錄在除最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i以外的區中，則最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i還必須包括對于此用于測試位置信息的檢測的區的指針。在此情況下，為了測試位置信息的檢測，最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i被檢測以獲得對應于包含測試位置信息的區的指針，并且使用該指針來檢測包含測試位置信息的區，因此導致開銷。
圖6B示出記錄在諸如在圖2C和2D中所示的盤的雙記錄層盤100上的臨時缺陷管理信息TDDS#i的數據結構。臨時缺陷管理信息TDDS#i包含用于臨時缺陷管理信息TDDS#i的標識符、和關于相應的臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息。如之前參照圖4A至4D所述，根據本發明實施例的臨時缺陷信息TDFL#i被重復記錄幾次。因此，關于臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息包含相應于各個臨時缺陷信息TDFL#i的記錄位置的指針。尤其是，圖5B中所示的臨時缺陷管理信息TDDS#i包括P個指針，對于每一臨時缺陷管理信息TDDS#i的每一指針被重復記錄P次。
而且，在雙記錄層盤100上記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i描述最后記錄在第一記錄層L0的用戶數據區中的用戶數據的地址、最后記錄在第一記錄層L0的備用區中的替換的地址、最后記錄在第二記錄層L1的用戶數據區中的用戶數據的地址、和最后記錄在第二記錄層L1的備用區中的替換的地址。因此，僅通過參照最后記錄的用戶數據和替換，用戶可容易地利用盤100。
與單記錄層盤100類似，臨時缺陷管理信息TDDS#i還包括測試位置信息#i和寫保護信息#i。因此，即使盤驅動器不訪問驅動器和盤信息區或不執行盤缺陷管理，也可在掃描其中記錄條件被測試的測試區時不檢測可測試的區而直接訪問可測試的區。而且，可避免在不期望的區中記錄。
圖7示出臨時缺陷信息TDFL#i的數據結構。參照圖7，臨時缺陷信息TDFL#i包含用于臨時缺陷信息TDFL#i的標識符、和關于缺陷#1、#2、...、#k的信息。關于缺陷#1、#2、...、#k的信息是表示缺陷和替換的位置、和缺陷區是包括單一缺陷塊還是包括連續缺陷塊的狀態信息。
圖8A和8B示出根據本發明實施例的驅動器和盤信息區的數據結構。參照圖8A，當臨時缺陷信息TDFL#i和臨時缺陷管理信息TDDS#i被分別記錄在如圖4A或4B所示的TDMA中時，寫保護信息#i、對臨時缺陷信息TDFL#i的位置的指針、和對臨時缺陷管理信息TDDS#i的位置的指針被以記錄操作單位記錄在驅動器和盤信息區中。參照圖8B，當臨時缺陷信息TDFL#i和臨時缺陷管理信息TDDS#i被記錄以包括在如圖4C或4D所示的TDMA中的臨時管理信息區TDMA#i中時，寫保護信息#i和對臨時管理信息區TDMA#i的位置的指針被以記錄操作單位記錄在驅動器和盤信息區中。
根據本發明實施例，寫保護信息(其記錄在驅動器和盤信息區和臨時缺陷管理信息TDDS#i中)不允許另外的數據記錄在盤100上。寫保護信息可包括表示在整個盤100上寫保護啟用或未啟用的標志信息、和表示即使寫保護啟用還是可記錄的區的信息。例如，寫保護信息的第一比特被設置為表示寫保護啟用或未啟用的標志信息，并且每一其它比特被設置以表示至少一個預定區是可記錄的或不是可記錄的。如果寫保護啟用，則寫保護信息的第二比特可表示驅動器和盤信息區是可記錄的或不是可記錄的。另外，第二比特可表示驅動器和盤信息區是可記錄的或不是可記錄的，并且第三比特可表示DMA是可記錄的或不是可記錄的。第三和第四比特可表示DMA和備用區是可記錄的或不是可記錄的。
根據本發明的方面，當寫保護信息被記錄時，下面的區可能是可記錄的。
在一個區中，即使寫保護信息被記錄在盤100上并且不能再記錄另外的數據，在驅動器和盤信息區中也允許數據記錄。換句話說，驅動器和盤信息區不被記錄以啟用寫保護的寫保護信息影響。因此，可改變寫保護信息。
在另一個區中，即使寫保護信息被記錄以啟用寫保護，為寫保護信息分配的一部分驅動器和盤信息區也不被寫保護影響。換句話說，在一部分馬驅動器和盤信息區中允許數據記錄。因此，寫保護信息可被改變。
在另一個區中，即使寫保護信息被記錄以啟用寫保護，臨時缺陷管理區(TDMA)、驅動器和盤信息區、和備用區不被寫保護影響(即，在這些區中允許數據記錄)。因此，寫保護信息可被改變。而且，即使在寫保護信息的記錄之后，也可執行盤缺陷管理。
如果當再現存儲在用戶數據區中的數據時用戶數據區的數據塊中的糾錯率低于預定參考值，則可執行盤缺陷管理，從而數據塊被看作產生錯誤的可能性更高的區，在數據的再現之前存儲在數據塊中的數據被寫到備用區中，并且數據塊被確定為缺陷區。
根據本發明的一方面，如果盤100包括超過一個區，則至少備用區的一個區被確定為可記錄的區。
其中即使寫保護信息被記錄也允許數據記錄的區不限于以上描述。即，如果需要，可調整區的數量和類型。
圖9是詳細地根據本發明實施例的在用戶數據區A和備用區B中記錄數據的參考圖。數據可以扇區或簇為單位而被處理。一個扇區表示在計算機的文件系統中或在應用程序中可管理的數據的最小單位。一個簇表示一次可在盤上物理記錄的數據的最小單位。通常，一個或多個扇區構成一個簇。
有兩類扇區物理扇區和邏輯扇區。物理扇區是其中數據的扇區將被記錄的盤上的區。用于檢測物理扇區的地址被稱作物理扇區號(PSN)。邏輯扇區是在文件系統中或在應用程序中可管理的數據的單位。用于檢測邏輯扇區的地址被稱作邏輯扇區號(LSN)。盤記錄/讀設備使用PSN檢測盤上的數據的記錄位置。在計算機或數據應用程序中，以LSN為單位管理整體數據，并且使用LSN來檢測數據的位置。基于盤是否包含缺陷和記錄數據的初始位置，由記錄/讀設備的控制器改變LSN和PSN之間的關系。
參照圖9，A表示用戶數據區，并且B表示其中PSN被順序地分配到多個扇區(未示出)的備用區。通常，每一LSN與至少一個PSN相應。然而，由于LSN被分配給包括備用區中記錄的替換的非缺陷區，所以當盤100具有缺陷區時PSN和LSN之間的對應不被保持。即使物理扇區的大小與邏輯扇區的大小相同，這也是真實的。
在用戶數據區A中，用戶數據被以連續記錄模式或以隨機記錄模式記錄。在連續記錄模式中，用戶數據被順序地并且連續地記錄。在隨機記錄模式中，用戶數據被隨機記錄。在數據區A中，扇區1001至1007表示其中執行寫后校驗方法的數據的預定單元。記錄和/或再現設備將用戶數據記錄在扇區1001中，返回扇區1001的開始，并且檢查用戶數據是否被正確記錄或扇區1001中是否存在缺陷。如果在扇區1001中檢測到缺陷，則該部分被指明為缺陷#1。記錄在缺陷#1中的用戶數據也被記錄在一部分備用區B上。在此，在缺陷#1中記錄數據的備用區B的該部分被稱作替換#1。接下來，記錄和/或再現設備將用戶數據記錄在扇區1002中，返回扇區1002的開始，并且檢驗數據是被正確地記錄還是在扇區1002的一部分中存在缺陷。如果在扇區1002中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#2。另外，在備用區B中形成與缺陷#2相應的替換#2。而且，在用戶數據區A的扇區1003和備用區B中分別指明缺陷#3和替換#3。在扇區1004中，未出現缺陷，并且缺陷區未被指明。
在將數據記錄到扇區1004并且校驗數據之后(即，當用戶按下記錄和/或再現設備的彈出鍵，或完成在記錄操作中分配的用戶數據的記錄時)，當期望結束記錄操作#0時，記錄和/或再現設備將關于在扇區1001至1004中出現的缺陷#1、#2和#3的信息作為臨時缺陷信息TDFL#0記錄在TDMA中。而且，用于管理臨時缺陷信息TDFL#0的管理信息作為臨時缺陷管理信息TDDS#0被記錄在TDMA中。
當記錄操作#1開始時，數據被記錄在扇區1005至1007中，并且如在扇區1001至1004中所解釋，分別在用戶數據區A和備用區B中形成缺陷#4和#5以及替換#4和#5。在單一塊中出現缺陷#1、#2、#3和#4，而缺陷#5在連續的缺陷塊中出現。作為用于缺陷#5的替換的替換#5被記錄在連續的替換塊中。在此，塊指的是物理的或邏輯的記錄單元，單元塊的范圍未被限定。如果期望結束第二記錄操作，則記錄和/或再現設備記錄關于缺陷#4和#5的信息作為臨時缺陷信息TDFL#1，并且再次記錄包含在缺陷信息DFL#1中的信息。其后，用于管理臨時缺陷信息TDFL#1的管理信息作為臨時缺陷管理信息#1被記錄在TDMA中。
為了盤完成，最后記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被分別作為缺陷信息和缺陷管理信息記錄在缺陷管理區(DMA)中。而且，關于最后記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的信息和上述寫保護信息還被記錄在TDMA中。
圖10是示出根據本發明實施例的用戶數據區的有效使用的圖。圖10顯示用戶數據區的可用部分可通過最后記錄在用戶數據區中的用戶數據的地址和最后記錄在備用區中的替換的地址而被容易地檢測。尤其是，當用戶數據分別被從用戶數據區的內側部分/外側部分向其外側部分/內側部分記錄，并且作為用于缺陷的替換的數據被從備用區的外側部分/內側部分向內側部分/外側部分記錄時，該可用部分可被更容易地檢測。換句話說，優選地以相反的記錄方向記錄用戶數據和用于替換的數據。
當用戶數據的物理地址從記錄層L0的內側部分向外側部分增加，并且從記錄層L1的外側部分向內側部分增加，最后記錄在記錄層L0和L1的用戶數據區中的數據的物理地址具有最大號碼。而且，當替換的物理地址被從記錄層L0的備用區中的外側部分向內側部分降低并且從記錄層L1的備用區中的內側部分向外側部分增加時，最后記錄的替換具有最小號碼的物理地址。因此，如果最后記錄的數據和替換區的地址被包括在如圖6A和6B中所示的臨時缺陷管理信息TDDS#i中，則可檢測將被重新記錄的數據和替換的位置，而不用徹底讀取臨時缺陷信息TDFL#i并估計缺陷和替換的位置。而且，用戶數據區和備用區的可用部分被連續設置，因此允許對用戶區的有效使用。為此，即使在盤完成期間記錄寫保護信息之后也可記錄或改變另外的數據，并且可更有效地執行盤缺陷管理。
圖11示出臨時缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數據結構。參照圖11，臨時缺陷信息TDFL#0包含關于缺陷#1、#2和#3的信息。關于缺陷#1的信息表示其中存在由缺陷#1的區的位置和其中記錄有替換#1的區的位置。根據本發明的一方面，關于缺陷#1的信息還可包括表示在連續的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現缺陷#1的信息。同樣地，關于缺陷#2的信息表示是否在連續的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現缺陷#2、缺陷#2存在于其中的區的位置、和其中記錄有替換#2的區的位置。關于缺陷#3的信息表示在連續的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現缺陷#3、缺陷#3存在于其中的區的位置、和其中記錄有替換#3的區的位置。
在所示實施例中，臨時缺陷信息TDFL#1還包含處理包含在臨時缺陷信息TDFL#0中的信息之外的關于缺陷#4和#5的信息。更具體地說，臨時缺陷信息TDFL#1包括關于缺陷#1的信息、關于缺陷#2的信息、關于缺陷#3的信息、關于缺陷#4的信息、和關于缺陷#5的信息。然而，在本發明的全部方面中不需要這樣累計的記錄。
圖12示出關于缺陷#i的信息的數據結構。參照圖12，關于缺陷#i的信息包括表示在連續的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現缺陷#i的狀態信息、對缺陷#i的指針、和對替換#i的指針。當缺陷#i被確定出現在連續的缺陷塊中時，狀態信息還表示對缺陷#i的指針指向連續的缺陷塊的開始或結束并且用于替換#i的指針指出替換缺陷#i的替換塊的開始或結束。當狀態信息表示用于缺陷#i的指針作為連續的缺陷塊的開始并且用于替換#i的指針作為替換塊的開始時，用于缺陷#i的指針表示連續的缺陷塊的起始物理扇區號并且用于替換#i的指針表示替換#i的起始物理扇區號。與此相反，當狀態信息表示用于缺陷#i的指針作為連續的缺陷塊的結束并且用于替換#i的指針作為替換塊的結束時，用于缺陷#i的指針表示連續的缺陷塊的結束物理扇區號并且用于替換#i的指針表示替換#i的結束物理扇區號。即使關于缺陷的信息未被以塊為單位記錄，使用狀態信息連續的缺陷塊的限定也允許信息的有效記錄并且節省記錄空間。
用于缺陷#i的指針規定缺陷#i的起始和/或結束點。根據本發明的一方面，用于缺陷#i的指針可包括缺陷#i的起始PSN。用于替換#i的指針規定替換#i的起始和/或結束點。用于替換#i的指針還可包括替換#i的起始PSN。
下面，將參照圖13A和13B中所示的流程圖來描述根據本發明實施例的盤缺陷管理方法。參照圖13A和13B，諸如圖1中所示的記錄和/或再現設備將關于根據第一記錄操作記錄的數據的缺陷信息作為第一臨時缺陷管理信息記錄在盤100的TDMA中(操作1301)。記錄和/或再現設備的控制器1控制記錄/讀單元2將用于管理定義臨時缺陷信息的管理信息作為第一臨時缺陷管理信息記錄在TDMA中(操作1302)。如上所述，根據本發明一方面，第一臨時缺陷管理信息包括驅動器和盤信息(即，測試位置信息或寫保護信息)。接下來，關于第一臨時缺陷信息和第一臨時缺陷管理信息的位置的信息被記錄在驅動器和盤信息區中(操作1303)。其后，寫保護信息也被記錄在驅動器和盤信息區(操作1304)。
接下來，檢查是否需要盤完成(操作1305)。如果在操作1305中確定不需要盤完成，則在將給到記錄操作、臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的指數i增加1時重復操作1301至1304(操作1306)。然而，如果在操作1305中確定需要盤完成，則最后記錄的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被記錄在DMA中(操作1307)。即，在DMA中，最后記錄的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被分別記錄為最終缺陷管理信息和缺陷信息。該最終缺陷信息和缺陷管理信息可被重復記錄以增加數據檢測的可靠性。
而且，當在本發明的所有方面中不需要時，可對最終缺陷管理信息和缺陷信息執行寫后校驗方法。如果從最終缺陷管理信息中檢測到缺陷，則具有缺陷的盤100的區和接下來的包含數據的區可被認為是不可用的(即，他們被指定為缺陷區)，并且最終臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被再次記錄在缺陷區之后。另外，根據本發明的另一方面，在驅動器和盤信息區中記錄的或在最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i中包括的寫保護信息還可被記錄在DMA中。
圖14A和14B顯示根據本發明另一實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。參照圖14A和14B，諸如圖1中所示的記錄和/或再現設備以數據單位將用戶數據記錄在盤的數據區中以方便寫后校驗方法(操作1401)。在操作1201中記錄的數據被校驗以檢測具有缺陷的盤100的區(操作1402)。圖1的控制器2指明具有缺陷的區作為缺陷區，控制記錄/讀單元1將在缺陷區中記錄的數據重寫到備用區中，從而生成替換區。控制器2還控制記錄/讀單元1生成規定缺陷區是包括單一缺陷塊還是連續缺陷塊的狀態信息、和指出缺陷區和替換區的位置的指針信息(操作1403)。狀態信息和指針信息作為第一臨時缺陷信息被存儲在存儲器中(操作1404)。檢查是否期望第一記錄操作結束(操作1405)。
如果在操作1405中確定不期望第一記錄操作結束，則操作1401至1404重復。如果在操作1405中確定期望第一記錄操作結束(即，當由用戶輸入或根據單一記錄操作來完成用戶數據的記錄時)，則存儲的臨時缺陷信息被讀取并且作為第一臨時缺陷信息TDFL#0幾次記錄在TDMA中重復(操作1406)。接下來，用于管理第一臨時缺陷信息TDFL#0的管理信息在TDMA中被記錄為第一臨時缺陷管理信息TDDS#0(操作1407)。該第一臨時缺陷管理信息TDDS#0還包括測試位置信息和寫保護信息。其后，對于第一臨時缺陷信息TDFL#0的位置的指針、對于第一臨時缺陷管理信息TDDS#0的位置的指針、和寫保護信息被記錄在盤100的驅動器和盤信息區中(操作1408和1409)。
另外，除臨時缺陷信息TDFL#i和臨時缺陷管理信息TDDS#i之外，用于臨時管理信息TDMA#i的指針可在操作1408中記錄。
接下來，檢查是否需要完成數據(操作1410)。如果在操作1410中確定不需要完成盤100，則重復操作1401至1409。每當重復操作1401至1409時，給到每一記錄操作、臨時缺陷信息TDFL和臨時缺陷管理信息TDDS的指數i增加1(操作1411)。如果在操作1410中確定需要完成盤100時，最后記錄的臨時缺陷信息TDFL#i和最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i作為最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS記錄在DMA中被(操作1412)。最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS可被記錄幾次以增加數據檢測的可靠性。類似地，可對最終記錄的缺陷信息和缺陷管理信息執行寫后校驗方法。如果在此信息中檢測到缺陷，則具有缺陷的100的區和接著的包含數據的區可被認為是不可用的(即，該區總體被指明為缺陷區)，并且最終臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息可被再次記錄在缺陷區之后。另外，存儲在驅動器和盤信息區中或包括在最后記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i中的寫保護信息還可被記錄在DMA中。盡管如描述增加1時，應該理解，圖13A至14B中所示的方法中的指數可基于其它號而被替代。
上述缺陷管理可被實施為可由可為通用或專用計算機的計算機運行的計算機程序。因此，應該理解，控制器2可為這種計算機。構成計算機程序的代碼和代碼片斷可由本領域中的計算機程序容易地得出。該程序存儲在計算機可讀的計算機可讀介質中。當由計算機讀取并運行該程序時，執行缺陷管理。在此，計算機可讀介質可為磁記錄介質、光學記錄介質、載波、固件或其它可記錄介質。
在再現期間，記錄和/或再現設備利用在缺陷管理區和/或臨時缺陷管理區中的缺陷信息和缺陷管理信息，以便訪問記錄的用戶數據。盡管根據如圖1中所示的記錄和/或再現設備描述，但應該理解，該設備可為單獨的記錄或再現設備或記錄和再現設備。
盡管根據使用一次寫入盤描述，應該理解，本發明可使用包括可重寫記錄介質的其它可寫的盤。
如上所述，本發明的一方面提供一種適于使用一次寫入盤的盤缺陷管理方法。根據本發明的一方面，在盤的導入區或導出區中至少存在一個臨時缺陷信息區，從而關于在盤中存在的缺陷的信息可被累計地記錄。而且，通過僅從臨時缺陷信息區讀取最后記錄的臨時缺陷信息并且將讀取的信息記錄在缺陷管理區來完成盤是容易的，因此允許有效使用DMA。因此，當執行盤缺陷管理時，用戶數據可被記錄在盤上(即使在一次寫入盤上)，因此，允許在不中斷的情況下執行備份操作。而且，即使在將寫保護信息記錄在盤上之后，也可改變寫保護信息或執行盤缺陷管理。而且，即使盤驅動器不訪問驅動器和盤信息區并且未獲得測試位置信息或寫保護信息，臨時缺陷管理信息還包括測試位置信息和寫保護信息。因此，可直接訪問測試區并防止數據被記錄在不正確區中。另外，即使用戶不期望執行盤缺陷管理，也可通過將測試位置信息和寫保護信息記錄為臨時缺陷管理信息來增加系統的可靠性。
盡管本發明被特別示出并且參照其實施例進行描述，但是本領域技術人員應該理解，在不脫離由所附權利要求及其等同物所限定的本發明的精神和范圍的情況下，可在其中進行形式上的或細節的各種改變。
權利要求
1.一種與記錄和/或再現設備一起使用的記錄介質，所述記錄介質包括記錄層，包括導入區、數據區和導出區；缺陷管理區，在所述導入區和導出區的至少一個中；和臨時缺陷管理區，在所述導入區和導出區的至少一個中，并且包括臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，所述臨時缺陷管理信息包括數據區中用戶數據的最后記錄的單元的地址。
2.一種與記錄和/或再現設備一起使用的記錄介質，該記錄介質包括第一記錄層，包括導入區、數據區和第一外部區；第二記錄層，包括第二外部區、數據區和導出區；缺陷管理區，在所述導入區、第一外部區、第二外部區和導出區的至少一個中；和臨時缺陷管理區，在導入區、第一外部區、第二外部區和導出區的至少一個中，并且包括在執行缺陷管理時由記錄和/或再現設備使用的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，所述臨時缺陷管理信息包括數據區中用戶數據的最后記錄的單元的地址、所述記錄介質的寫保護信息和所述記錄介質的測試區的位置信息的至少一個。
3.如權利要求1所述的記錄介質，其中，所述臨時缺陷管理信息還包括所述記錄介質的寫保護信息和/或所述記錄介質的測試區的位置信息。
4.如權利要求3所述的記錄介質，其中在不連續的記錄操作中將數據寫到數據區中，和寫保護信息針對每一記錄操作而被記錄。
5.如權利要求1所述的記錄介質，還包括驅動器和盤信息區，在導入區和導出區的至少一個中，并且包括在執行缺陷管理時由所述記錄和/或再現設備使用的關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息。
6.如權利要求1所述的記錄介質，其中，在每一將數據記錄到數據區中的記錄操作中記錄臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。
7.如權利要求1所述的記錄介質，其中，所述記錄介質包括多個缺陷管理區和臨時缺陷管理區的至少一個。
8.如權利要求1所述的記錄介質，其中，用戶數據的最后記錄的單元的地址包括與用戶數據一起記錄的數據區中最后的物理扇區的物理扇區號。
9.如權利要求1所述的記錄介質，其中，所述臨時缺陷管理信息還包括記錄在所述存儲介質的備用區中以替換所述記錄介質的缺陷區的替換數據的最后記錄的單元的地址。
10.如權利要求1所述的記錄介質，其中，所述記錄介質是一次寫入盤。
11.如權利要求1所述的記錄介質，其中，所述臨時缺陷管理信息還包括接下來將被記錄的記錄介質的備用區中的替換區的位置信息。
12.如權利要求11所述的記錄介質，其中，所述替換區的位置信息包括備用區中接下來可用的備用簇的物理扇區號。
13.如權利要求1所述的記錄介質，其中，為了所述記錄介質的完成，最后被記錄在臨時缺陷管理區中的所述最后記錄的臨時缺陷信息和最后記錄的臨時缺陷管理信息被記錄在所述缺陷管理區中。
14.如權利要求2所述的記錄介質，其中，為了所述記錄介質的完成，最后被記錄在臨時缺陷管理區中的最后記錄的臨時缺陷信息和最后記錄的臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區中。
15.一種與記錄和/或再現設備一起使用的記錄介質，所述記錄介質包括記錄層，包括導入區、數據區和導出區；缺陷管理區，在所述導入區和導出區的至少一個中；和臨時缺陷管理區，在所述導入區和導出區的至少一個中，并且包括臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，所述臨時缺陷管理信息包括所述記錄介質的測試區的位置信息。
16.如權利要求15所述的記錄介質，其中，為了記錄介質的完成，最后被記錄在臨時缺陷管理區中的最后記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區中。
17.如權利要求15所述的記錄介質，其中，所述測試區是記錄條件被測試的可測試區。
18.一種與記錄和/或再現設備一起使用的記錄介質，所述記錄介質包括記錄層，包括導入區、數據區和導出區；缺陷管理區，在所述導入區和導出區的至少一個中；和臨時缺陷管理區，在所述導入區和導出區的至少一個中，并且包括臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，所述臨時缺陷管理信息包括所述記錄介質的寫保護信息。
19.一種管理記錄介質的缺陷的方法，所述方法包括將關于根據第i記錄操作的所述記錄介質的數據區中的缺陷的信息作為第i臨時缺陷信息至少一次記錄在記錄介質的臨時缺陷管理區中，其中i是指數；和將用于管理第i臨時缺陷信息的信息作為第i臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，其中，所述第i臨時缺陷管理信息被記錄以包括數據區中的用戶數據的最后記錄的單元的地址。
20.如權利要求19所述的方法，還包括將關于第i臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在所述記錄介質的驅動器和盤信息區中。
21.如權利要求19所述的方法，其中，在記錄第i臨時缺陷管理信息期間，該第i臨時缺陷管理信息被記錄以還包括所述記錄介質的測試區的位置信息和/或所述記錄介質的寫保護信息。
22.如權利要求20所述的方法，還包括在增加給予記錄操作、臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的指數時，至少一次重復記錄第i臨時缺陷信息、記錄第i臨時缺陷管理信息和記錄關于所述位置的信息。
23.如權利要求19所述的方法，其中，用戶數據的最后記錄的單元的地址包括與用戶數據一起記錄的數據區中的最后的物理扇區的物理扇區號。
24.如權利要求19所述的方法，其中，所述記錄介質是一次寫入盤。
25.如權利要求19所述的方法，還包括為了所述記錄介質的完成，將最后記錄在臨時缺陷管理區中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息中最后記錄的信息記錄在所述記錄介質的缺陷管理區中。
26.如權利要求19所述的方法，其中，所述第i臨時缺陷管理信息被記錄以還包括記錄在所述記錄介質的備用區中以替換所述記錄介質的缺陷區的替換數據的最后記錄的單元的地址。
27.如權利要求19所述的方法，其中，所述第i臨時缺陷管理信息被記錄以還包括接下來將被記錄的所述記錄介質的備用區中的替換區的位置信息。
28.如權利要求27所述的方法，其中，所述替換區的位置信息包括在所述備用區中接下來可用的備用簇的物理扇區號。
29.如權利要求19所述的方法，其中，所述記錄第i臨時缺陷信息包括以預定單位記錄數據；校驗記錄的數據以檢測其中存在有缺陷的記錄介質的缺陷區；將指出缺陷區的信息和指出用于缺陷區的替換區的信息作為第一臨時缺陷信息存儲在存儲器中；和讀取存儲在存儲器中的信息并將讀取的信息作為第i臨時缺陷信息至少一次記錄在臨時缺陷管理區中。
30.一種管理記錄介質的缺陷的方法，所述方法包括將關于所述記錄介質的數據區中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息記錄在所述記錄介質的臨時缺陷管理區中；和將用于管理臨時缺陷信息的信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，其中，所述臨時缺陷管理信息被記錄以包括所述記錄介質的測試區的位置信息。
31.一種管理記錄介質的缺陷的方法，所述方法包括將關于所述記錄介質的數據區中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息記錄在所述記錄介質的臨時缺陷管理區中；和將用于管理臨時缺陷信息的信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，其中，所述臨時缺陷管理信息被記錄以包括所述記錄介質的寫保護信息。
32.一種與記錄介質一起使用的記錄和/或再現設備，所述設備包括記錄/讀單元，對于所述記錄介質，記錄數據和/或讀數據；和控制器，用于控制記錄/讀單元來將關于記錄介質的數據區中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息記錄在所述記錄介質的臨時缺陷管理區中；和將用于管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，該管理信息包括數據區中用戶數據的最后記錄的單元的地址。
33.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器控制記錄/讀單元記錄管理信息以還包括所述記錄介質的寫保護信息和/或所述記錄介質的測試區的位置信息。
34.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器控制記錄/讀單元在不連續的記錄操作中將數據記錄在數據區中，并且對每一記錄操作記錄臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。
35.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，控制器控制記錄/讀單元在分離的記錄操作中將數據記錄在數據區中，并且針對每一記錄操作記錄臨時缺陷管理信息以包括測試位置信息和寫保護信息。
36.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，所述控制器控制所述記錄/讀單元以將關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在所述記錄介質的驅動器和盤信息區中。
37.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，用戶數據的最后記錄的單元的地址包括與用戶數據一起記錄的數據區中的最后的物理扇區的物理扇區號。
38.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，所述記錄介質是一次寫入盤。
39.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，所述控制器控制記錄/讀單元來記錄管理信息以還包括在所述記錄介質的備用區中記錄的以替換所述記錄介質的缺陷區的替換數據的最后記錄的單元的地址。
40.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，所述控制器控制記錄/讀單元記錄管理信息以還包括接下來將被記錄的在記錄介質的備用區中的替換數據的位置信息。
41.如權利要求40所述的記錄和/或再現設備，其中，所述替換區的位置信息包括備用區中接下來可用的備用簇的物理扇區號。
42.如權利要求32所述的記錄和/或再現設備，其中，在所述記錄介質的完成期間，所述控制器控制記錄/讀單元將最后記錄在臨時缺陷管理區中的最后記錄的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息記錄在所述記錄介質的缺陷管理區中。
43.一種與記錄介質一起使用的記錄和/或再現設備，所述設備包括記錄/讀單元，在所述記錄介質上記錄數據和/或對于所述記錄介質讀數據；和控制器，用于控制記錄/讀單元來將關于記錄介質的數據區中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息記錄在記錄介質的臨時缺陷管理區中；和將用于管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，該管理信息包括所述記錄介質的測試區的位置信息。
44.一種與記錄介質一起使用的記錄和/或再現設備，所述設備包括記錄/讀單元，在所述記錄介質上記錄數據和/或對于所述記錄介質讀數據；和控制器，用于控制記錄/讀單元來將關于記錄介質的數據區中的缺陷的信息作為臨時缺陷信息記錄在記錄介質的臨時缺陷管理區中；和將用于管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區中，該管理信息包括所述記錄介質的寫保護信息。
45.一種與記錄和/或再現設備一起使用的記錄介質，該記錄介質包括導入區；導出區；數據區，位于導入區和導出區之間，并且數據被記錄在其中和/或數據從其再現；和臨時缺陷管理區，在導入區和導出區的至少一個中，并且為了所述記錄介質的缺陷管理，所述臨時缺陷管理區包括由記錄和/或再現設備使用的臨時缺陷管理信息，其中，所述臨時缺陷管理信息包括數據區中用戶數據的最后記錄的單元的地址。
46.如權利要求45所述的記錄介質，其中，所述臨時缺陷管理區還包括在執行缺陷管理時由臨時缺陷管理信息管理并且由記錄和/或再現設備使用的臨時缺陷信息。
47.如權利要求46所述的記錄介質，其中數據被記錄在相應的記錄單元中，和每一記錄單元具有用于至少關于該記錄單元執行缺陷管理的相應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息對。
48.如權利要求45所述的記錄介質，還包括驅動器和盤信息區，在導入區和導出區的至少一個中，并且包括關于臨時缺陷管理信息的位置的信息。
49.如權利要求48所述的記錄介質，其中，所述驅動器和盤信息區包括關于數據區中記錄的數據的寫保護信息和可記錄的區，從而，如果寫保護信息表示記錄介質被寫保護，則附加的寫保護信息可寫到可記錄的區，從而記錄和/或再現設備可改變記錄介質的寫保護狀態以再次允許在數據區中記錄。
50.如權利要求49所述的記錄介質，其中，驅動器和盤信息區還包括關于驅動器的類型的信息和關于記錄介質的類型的信息。
51.如權利要求45所述的記錄介質，還包括其中數據未被記錄并且其中記錄和/或再現設備對記錄介質執行測試的測試區。
52.如權利要求45所述的記錄介質，其中，所述臨時缺陷管理信息還包括關于在數據區中記錄的數據的寫保護信息。
53.如權利要求45所述的記錄介質，其中，所述臨時缺陷管理信息還包括關于驅動器的類型的信息和關于所述記錄介質的類型的信息。
54.如權利要求45所述的記錄介質，還包括其中數據未被記錄并且其被保留用于記錄和/或再現設備對記錄介質執行測試的測試區，其中，臨時缺陷管理信息還包括關于測試區的信息。
55.如權利要求45所述的記錄介質，還包括其中記錄有由記錄和/或再現設備使用以替換其中檢測到缺陷的一部分數據區的替換數據的備用區，其中，臨時缺陷管理信息還包括在備用區中記錄的替換數據的最后記錄的單元的地址。
56.如權利要求45所述的記錄介質，還包括其中記錄有由所述記錄和/或再現設備使用以替換其中檢測到缺陷的一部分數據區的替換數據的備用區，其中，所述臨時缺陷管理信息還包括接下來被記錄的備用區中的替換區的位置信息。
57.如權利要求56所述的記錄介質，其中，所述替換區的位置信息包括備用區中接下來可用的備用簇的物理扇區號。
58.如權利要求45所述的記錄介質，其中，用戶數據的最后記錄的單元的地址包括與用戶數據一起記錄的數據區中最后的物理扇區的物理扇區號。
59.如權利要求45所述的記錄介質，其中，所述記錄介質是一次寫入盤。
60.一種使用用于由計算機執行的實現權利要求19中的方法的處理指令而編碼的計算機可讀介質。
61.一種使用用于由計算機執行的實現權利要求30中的方法的處理指令而編碼的計算機可讀介質。
62.一種使用用于由計算機執行的實現權利要求31中的方法的處理指令而編碼的計算機可讀介質。
全文摘要
一種一次寫入盤包括存在于導入區和導出區的至少一個中的缺陷管理區；存在于導入區和導出區的至少一個中的臨時缺陷管理區；以及存在于導入區和導出區的至少一個中的驅動器和盤信息區。關于臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息的位置的信息記錄在驅動器和盤信息區中，臨時缺陷信息和包括驅動器和盤信息的臨時缺陷管理信息被記錄在臨時缺陷管理區中，并且為了盤完成，最后記錄在臨時缺陷管理區中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區中。
文檔編號G11B7/007GK1855244SQ20061008019
公開日2006年11月1日 申請日期2004年2月27日 優先權日2003年3月17日
發明者李坰根, 高禎完, 黃盛凞 申請人:三星電子株式會社