專利名稱：光盤設備的記錄方法
技術領域：
本發明涉及一種用于光盤設備的記錄方法，尤其涉及允許從諸如沒有跟蹤導向信號的LightScribe(光刻)盤的光盤上的記錄失敗位置恢復記錄過程的一種記錄方法。
背景技術：
LightScribe盤是一種不僅數據可記錄在數據表面上，而且具有所需設計的標簽可印制在標簽表面上的光盤。LightScribe盤的標簽表面的布局如圖1所示。如圖1所示，標簽表面包括標簽區、控制特性區、緊固/徽標區和中心孔。
現在參看圖2，它示出位于LightScribe盤的控制特性區中的控制特性外圈(CFOR)區域。在圖2中，標示CFOR區域的索引標記和諸如介質ID的介質信息記錄在CFOR區域中。如圖所示，介質ID分別記錄在離散排列于CFOR區域內的三個區中。
此外，當將LightScribe盤插入能夠印制標簽的光盤設備時，光盤設備將根據索引標記來定位盤中的CFOR區域、從CFOR區域中讀取介質信息、然后對盤的標簽表面執行所請求的記錄操作(即標簽印制)。
另外，對于盤的數據一側，盤上形成的抖動(wobble)岸臺/溝槽用來在數據記錄過程期間執行跟蹤伺服控制過程，且記錄在抖動岸臺/溝槽中的預制溝槽絕對時間(ATIP)信息用來檢測當前的位置。光盤設備使用從岸臺/溝槽中產生的推挽信號用反饋方式來執行跟蹤伺服控制過程、定位當前位置、并得以基于ATIP信息訪問期望位置。
然而，因為在盤的標簽一側并未形成抖動岸臺/溝槽，所以不可能執行跟蹤伺服控制過程，也不可能隨機地訪問該盤的一部分。因而，只可能以前饋方式按序從內圓周部分向外圓周部分將標簽記錄在盤上。
因此，當標簽表面上的記錄或印制過程因為不穩定的伺服控制、盤介質問題、緩沖器低運行等而失敗時，會無法定位記錄失敗位置從而標簽記錄過程也會失敗。
發明內容
因此，本發明的一個目的是解決上述和其它問題。
本發明的另一個目的是提供一種光盤記錄方法，它檢測盤上標簽記錄過程失敗的位置，并在記錄失敗位置上恢復記錄過程。
為了實現這些和其它優點、并根據本發明的目的，如在此包含和概述的，本發明根據一方面提供一種光盤記錄方法，包括確定在光盤的標簽表面上記錄信息的記錄過程是否已失敗，當確定步驟確定記錄過程已失敗時檢測記錄過程失敗的位置，并從檢測到的記錄失敗位置中恢復記錄過程。
根據另一方面，本發明在至少一個計算機可讀介質上提供被配置成執行計算機指令的計算機程序產品，所述指令包括第一計算機代碼，被配置成確定在光盤的標簽表面上記錄信息的記錄過程是否已失敗；第二計算機代碼，被配置成在第一計算機代碼確定記錄過程已失敗時檢測記錄過程失敗的記錄失敗位置；以及第三計算機代碼，被配置成從檢測到的記錄失敗位置中恢復該記錄過程。
從以下詳細說明書中，本發明的其它可應用范圍將變得顯而易見。然而，應當理解，盡管示出了本發明的較佳實施例，詳細說明書和各特定示例僅用作說明，因為從本詳細說明書中，在本發明精神和范圍內的各種改變和更改對本領域技術人員而言將變得顯而易見。
從以下結合附圖進行的詳細說明中，本發明的以上和其它目的、特征和其它優點將得到更清楚的理解，在附圖中圖1是LightScribe盤的標簽表面的布局；圖2是位于LightScribe盤的控制特性區中的CFOR區域的概觀；圖3是其中實現根據本發明的記錄方法的光盤設備(ODD)的一個實施例的框圖；圖4是根據本發明的用于光盤設備的記錄方法的一個實施例的流程圖；圖5是示出LightScribe盤的控制特性區和索引標記圖的詳細配置的概觀；圖6是示出記錄功率和前端光電檢測器輸出(FPDO)信號之間關系的示圖；以及圖7示出前端監視器二極管(FMD)信號中因記錄過程失敗引起的變化。
具體實施例方式
根據本發明的用于光盤設備的記錄方法的較佳實施例現在將參照附圖詳細描述。
圖3是其中實現根據本發明的記錄方法的光盤設備(ODD)的一個實施例的框圖。如圖所示，ODD包括光學拾波器20、數字記錄信號處理器30a、數字回放信號處理器30b、信道比特編碼器40、光學驅動器41、R/F單元50、伺服單元60、驅動單元61、計數器12、輻條(spoke)檢測器13、存儲器71、以及微處理器70。還包括主軸馬達11和循軌(Sled)馬達21。
數字記錄信號處理器30a將糾錯碼(ECC)等添加到輸入數字數據中，以將該數據轉換成記錄格式。然后通道比特編碼器40將該數據轉換成比特流。此外，光學驅動器41根據從信道比特編碼器40中接收的信號輸出一驅動信號，且光學拾波器20根據光盤10上的驅動信號來記錄數據，并從光盤10的記錄表面中讀取數據。
此外，R/F單元50對從光學拾波器20輸出的信號執行濾波和整波過程，從而輸出二進制信號。驅動單元61驅動循軌馬達21來移動光學拾波器20，并驅動主軸馬達11來旋轉光盤10。另外，計數器12對主軸馬達11旋轉時所產生的FG脈沖計數，且輻條檢測器13檢測在光盤10上形成的輻條。
伺服單元60基于光盤10的旋轉速度和從R/F單元50輸出的伺服信號來控制盤單元61的操作。此外，數字回放信號處理器30b使用與從R/F單元50接收的二進制信號同相的內部時鐘來從二進制信號恢復原始數據。另外，存儲器71存儲各種控制數據和介質信息，且微處理器70應用根據本發明的記錄方法，來在載入的光盤10上執行記錄過程。
此外，循軌馬達21還可以是諸如craw-pole(履帶桿式)步進馬達的步進馬達。該類步進馬達用兩相勵磁電路操作，并根據各個相位電壓的極性組合旋轉預期步長。例如，一個步長對應于1/20圈(即旋轉18°)，并且如果設置了間距為3毫米的導螺桿，則以上一個步長對應于150μm的直線移動。另外，上述步進馬達最好每個步長(＝1Kick突跳)移動150μm的預定距離(例如90個軌道)。
此外，光學拾波器20遍歷盤上的各個軌道。此外，為了提供更大的靈敏度，包括在拾波器20中的物鏡也通過驅動器在拾波器20內移動。例如，光學單元20可以用更大增量移動，然后在每個更大的增量或步長內，驅動器使物鏡以較小增量移動。因而，微處理器70根據循軌馬達21的驅動值確定光學拾波器20的軌道移動量“Xs”，并根據驅動器的驅動值確定物鏡的軌道移動量“Xa”。微處理器70還根據兩個軌道移動量Xs和Xa確定激光束在光盤10的徑向上的位置(即軌道位置＝Xs+Xa)。
另外，微處理器70在存儲器71中存儲每個步長(即每個突跳脈沖)光學拾波器20的軌道移動量、以及包括在拾波器20中的物鏡對應于驅動器的特定驅動值的移動量。因而，使用這些存儲值，微處理器可檢測光盤10上記錄過程失敗(以及記錄過程要從該處恢復)的徑向位置。
現在參看圖4，它是根據本發明的用于光盤設備的一記錄方法實施例的流程圖。在描述中也引用圖3中的各個元件。
此外，在該實施例中，所插入的光盤10假設為包括標簽表面的LightScribe盤，其軌道因為未產生跟蹤引導信號而難以在記錄期間跟蹤。然而，也可使用其它盤。
如圖4所示，當光盤10就位時(S10中為是)，微處理器70確定光盤10的就位表面是否是標簽表面。如果微處理器70確定就位表面是標簽表面(S20中為是)，則微處理器70通過經由伺服單元60和驅動單元61分別向光學拾波器20的驅動器和循軌馬達21施加適當驅動值，來將物鏡移到光盤10的控制特性區。
例如，圖5示出LightScribe盤的控制特性區和索引標記圖。如圖5所示，該控制特性區包括速度控制特性區域、控制特性外圈區域和鏡像區域。提供在CFOR區域中形成的索引標記是為了使定位CFOR區域和同步第一輻條(輻條0)簡便。此外，第一輻條(輻條0)在索引標記的結束位置開始，該結束位置是盤上圓周方向上的基準位置。
再參看圖4，微處理器70根據CFOR區域的索引標記圖來檢測索引標記、基于該檢測同步輻條0、然后從輻條0讀取CFOR區域的介質信息(S21)。微處理器70還將所讀取的信息存儲在存儲器71中、并將所讀取的信息傳送給主機。
輻條檢測器13還在光盤10旋轉時檢測在光盤10上形成的輻條，且微處理器70對檢測到的輻條計數。微處理器70還同步輻條0、從該位置起對輻條計數、并在每次輻條檢測器13檢測到一輻條時使輻條計數值增1(S22)。在一示例中，在光盤10上沿圓周方向形成了400個輻條(輻條0到輻條399)。
另外，在索引標記的結束位置(或在輻條0開始處)，微處理器70控制計數器12對主軸馬達11旋轉時產生的FG脈沖計數(S22)。在一示例中，光盤10旋轉1次，就產生20個FG脈沖。微處理器70還通過該計數值檢測光盤10上的圓周方向位置。
此外，輻條計數值比FG脈沖計數值更準確。因而，微處理器70可根據該FG脈沖計數值大致地檢測光盤10上的圓周方向位置，然后根據輻條計數值準確地檢測光盤10上的圓周方向位置。
另外，微處理器70通過參照索引標記結束位置獲得的該計數值(即輻條計數值和/或FG脈沖計數值)持續跟蹤光盤10上的圓周方向位置。當需要標簽印制過程時(S30中為是)，微處理器70設置適當的記錄功率，并將從主機傳送的數據記錄在光盤10的標簽表面的標簽區上，同時通過向步進馬達和驅動器施加適當的驅動值來適當地移動光學拾波器20和目鏡(S31)。
微處理器70還從記錄過程的初始位置(例如控制特性外圈區域)開始，連續地存儲步進馬達和驅動器的驅動值(或根據驅動值得到的步進馬達和驅動器的移動量)(S31)。當記錄過程失敗時，步進馬達和驅動器的存儲驅動值被用來檢測光盤10的徑向上記錄過程失敗的位置(例如軌道位置)。
此外，當光盤10在記錄過程期間旋轉時，微處理器70基于參照索引標記的結束位置獲得的計數值，連續地跟蹤光盤10上的圓周方向位置。因而，在記錄過程期間，微處理器60連續地檢查記錄過程是否已失敗(S32)。
另外，光學拾波器20包括激光二極管，輸出對應于記錄功率電壓的激光束；以及前端光電檢測器(FPD)，檢測從激光二極管輸出的激光束并輸出對應于檢測到的激光束的前端光電檢測器輸出(FPDO)信號。微處理器70還在記錄過程期間連續監視FPDO信號，以檢查該記錄過程是否已結束。
接著參看圖6，它是示出記錄功率和FPDO信號之間關系的示圖。如圖所示，FPDO信號在未輸出激光束時在預定基準電平上。因而，在該實例中，微處理器70在FPDO信號被檢測為在基準電平上時確定該記錄過程已失敗。
另一種確定記錄過程何時失敗的方法是使用前端監視器二極管(FMD)信號。FMD信號對應于當輸出具有所設定記錄功率的激光束時在光學拾波器20中提供的光電二極管的比如單元A、B、C和D的輸出電壓(即FMD電壓)。如圖7所示，當記錄過程失敗時，FMD信號偏移為基準電平。因而，在本實例中，微處理器70確定在FMD信號被檢測為在基準電平上時確定該記錄過程已失敗。
再參看圖4，當微處理器70確定記錄過程已失敗時(S40中為是)，微處理器70檢測記錄失敗位置。即，微處理器70檢測盤上記錄過程失敗的徑向和圓周方向的位置。該過程用以下方式執行。
微處理器70確定從拾波器20的初始位置到記錄過程失敗時施加到步進馬達的驅動值數量(尤其是步進或突跳脈沖的累計數量)，并確定在記錄過程失敗時施加到驅動器的驅動值。基于存儲在存儲器71中的步進馬達的每個步長或每個突跳脈沖光學拾波器20的軌道移動量、以及物鏡對應于驅動器的特定驅動值的軌道移動量，微處理器70計算光學拾波器20的移動量(Xs)和物鏡的移動量(Xa)。然后微處理器70檢測盤上記錄過程失敗的徑向位置(例如軌道位置＝Xs+Xa)(S41)。
一旦檢測到徑向位置，因為光盤10上的徑向位置取決于傾斜量可具有a+1或-1軌道的邊際誤差，微處理器70可確定光盤10是否傾斜。微處理器70還通過檢測和比較相對于檢測到的徑向位置的+1和-1軌道的信號電平，來確定是否準確地檢測到了記錄過程失敗的徑向位置。該確定基于這樣的事實如果檢測到的徑向位置準確，則已印制-1軌道而未印制+1軌道，所以-1和+1軌道的信號電平在不同電平上檢測到。
如果微處理器70確定未準確檢測到記錄過程失敗的徑向位置，則微處理器70移到離檢測到的徑向位置-1和+1軌道的位置，并比較相對于移到位置的+1和-1軌道的信號電平，以確定移到位置是否是記錄過程失敗的徑向位置。微處理器70重復該過程，直到徑向位置被準確定位。
此外，如圖4所示，微處理器70還基于在光盤10旋轉時參照索引標記的結束位置計數的FG脈沖和/或輻條的數量，檢測光盤上記錄過程失敗的圓周方向位置(S41)。在上述示例中，當光盤10旋轉一次時，輻條計數達400個且FG脈沖計數達20個。
因而，在該示例中，當FG脈沖值為10而輻條計數值為200時，微處理器70檢測到記錄過程失敗的圓周位置是旋轉方向中對應于離索引標記結束位置180°的位置。當FG脈沖計數值為15而輻條計數值為300時，微處理器70檢測到記錄過程失敗的圓周位置是旋轉方向中對應于離索引標記結束位置270°的位置(即索引標記的結束位置)。然后，微處理器70從檢測到的記錄過程失敗的記錄失敗位置(例如從徑向圓周位置)恢復記錄過程(S42)。
以上實施例可使用另一種用于檢測光盤10上徑向位置的方法，其中FG脈沖的產生速率(即頻率)用來檢測徑向位置。更詳細地，LightScribe盤的標簽印制以恒定線性速度(CLV)模式執行。在CLV模式中，離光盤10的中心越遠，旋轉速度或角速度越低，且FG脈沖的產生速率越低。因此，微處理器70根據FG脈沖的產生速率或頻率檢測光盤10的徑向位置。類似地，輻條的檢測速率也可用來檢測徑向位置。
微處理器70還可根據FG脈沖計數值從所產生FG脈沖數量中檢測光盤10上的徑向位置。類似地，微處理器70可根據輻條計數值從所檢測到的輻條數量中檢測光盤10上的徑向位置。
如從以上描述中顯而易見的，根據本發明的用于光盤的記錄方法使得即使光盤未提供跟蹤引導信號也能準確檢測到光盤標簽表面上記錄過程失敗的位置成為可能。因而，記錄過程可從檢測到的記錄失敗位置中恢復，從而實現穩定的標簽印制過程。
如對計算機領域中技術人員顯而易見的，本發明可使用根據本說明書所授內容編程的常規通用數字計算機或微處理器來方便地實現。如對計算機領域中技術人員顯而易見的，適當的軟件代碼可基于本說明書所授內容由熟練的編程人員簡便地準備。如對計算機領域中技術人員顯而易見的，本發明也可通過準備應用程序專用集成電路來實現，從而互連常規計算機電路的適當網絡。
本發明的在通用數字計算機或微處理器上實現的任一部分包括計算機程序產品，它是包括可用于將計算機編程為執行本發明的過程的存儲介質。該存儲介質可包括，但不限于，包括軟盤、光盤、CD-ROM、和磁性光盤的任何類型的盤、ROM、RAM、EPROM、EEPROM、磁卡或光卡、或適于存儲電子指令的任何類型的介質。
因為本發明可用若干形式實現而不背離其精神或基本特征，也應當理解，所述實施例并不限于任何前述細節(除非另外指定)，而應在其精神和所附權利要求限定的范圍內廣泛解釋，因此落于權利要求的邊界和范圍、或這些邊界和范圍的等效體內的所有改變和更改旨在由所附權利要求所包括。
權利要求
1.一種光盤記錄方法，包括確定在光盤的標簽表面上記錄信息的記錄過程是否已失敗；當確定步驟確定記錄過程已失敗時檢測記錄過程失敗的記錄失敗位置；以及從檢測到的記錄失敗位置恢復所述記錄過程。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定步驟基于前端光電檢測器輸出(FPDO)信號和前端監視器二極管(FMD)信號的至少之一確定所述記錄過程是否已失敗。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述光盤是包括獨立的數據和標簽表面的LightScribe盤。
4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測步驟基于從所述記錄過程的初始位置起直到記錄過程失敗所測量和存儲的光學拾波器的位置和物鏡的位置，來檢測記錄失敗位置的徑向位置。
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述徑向位置對應于所述光學拾波器的位置和所述物鏡的位置之和。
6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測步驟基于所述記錄過程的初始位置之后驅動器和循軌馬達的存儲驅動值，來計算所述記錄失敗位置的徑向位置。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述循軌馬達的驅動值是所述記錄過程的初始位置之后直到記錄過程失敗施加給循軌馬達的驅動值的累加，且所述驅動器的驅動值是在記錄過程失敗的位置上施加在驅動器上的驅動信號的值。
8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測步驟至少基于在光盤旋轉時產生FG脈沖的速率、以及在光盤旋轉時檢測到輻條的速率，來確定記錄失敗位置的徑向位置。
9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測步驟基于直到記錄過程失敗時所產生FG脈沖的數量、以及檢測到輻條的數量中的至少一個，來確定記錄失敗位置的徑向位置。
10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測步驟基于從光盤索引標記的結束位置起計數的FG脈沖的數量、以及輻條的數量中的至少一個，來確定記錄失敗位置的圓周位置。
11.如權利要求1所述的方法，其特征在于還包括向內和向外地將拾波單元移到離所檢測到的記錄失敗位置的徑向位置特定數量軌道遠的位置上，并確認遠離所述徑向位置的特定軌道位置的信號電平；以及基于所述已確認信號電平，再次檢測所述記錄失敗位置的徑向位置。
12.如權利要求11所述的方法，其特征在于，所述特定數量的軌道為一個軌道。
13.至少一個計算機可讀介質上的一種被配置成執行計算機指令的計算機程序產品，包括第一計算機代碼，被配置成確定在光盤的標簽表面上記錄信息的記錄過程是否已失敗；第二計算機代碼，被配置成當第一計算機代碼確定記錄過程已失敗時檢測記錄過程失敗的記錄失敗位置；以及第三計算機代碼，被配置成從檢測到的記錄失敗位置恢復所述記錄過程。
14.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述第一計算機代碼基于前端光電檢測器輸出(FPDO)信號和前端監視器二極管(FMD)信號的至少之一確定所述記錄過程是否已失敗。
15.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述光盤是包括獨立的數據和標簽表面的LightScribe盤。
16.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述第二計算機代碼基于從所述記錄過程的初始位置起直到記錄過程失敗所測量和存儲的光學拾波器的位置和物鏡的位置，來檢測記錄失敗位置的徑向位置。
17.如權利要求16所述的計算機程序產品，其特征在于，所述徑向位置對應于所述光學拾波器的位置和所述物鏡的位置之和。
18.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述第二計算機代碼基于所述記錄過程的初始位置之后驅動器和循軌馬達的存儲驅動值，來計算所述記錄失敗位置的徑向位置。
19.如權利要求18所述的計算機程序產品，其特征在于，所述循軌馬達的驅動值是所述記錄過程的初始位置之后直到記錄過程失敗施加給循軌馬達的驅動值的累加，且所述驅動器的驅動值是在記錄過程失敗的位置上施加在驅動器上的驅動信號的值。
20.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述第二計算機代碼至少基于在光盤旋轉時產生FG脈沖的速率、以及在光盤旋轉時檢測到輻條的速率，來確定記錄失敗位置的徑向位置。
21.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述第二計算機代碼基于直到記錄過程失敗時所產生FG脈沖的數量、以及檢測到輻條的數量中的至少一個，來確定記錄失敗位置的徑向位置。
22.如權利要求13所述的計算機程序產品，其特征在于，所述第二計算機代碼基于從光盤索引標記的結束位置起計數的FG脈沖的數量、以及輻條的數量中的至少一個，來確定記錄失敗位置的圓周位置。
23.如權利要求13所述的計算機程序產品，還包括第四計算機代碼，被配置成向內和向外地將拾波單元移到離所檢測到的記錄失敗位置的徑向位置特定數量軌道遠的位置上，并確認遠離所述徑向位置的特定軌道位置的信號電平，其中，所述第二計算機代碼基于所述已確認信號電平，再次檢測所述記錄失敗位置的徑向位置。
24.如權利要求23所述的計算機程序產品，其特征在于，所述特定數量的軌道為一個軌道。
全文摘要
一種光盤設備記錄方法，它包括確定在光盤的標簽表面上記錄信息的記錄過程是否已失敗，當確定步驟確定記錄過程已失敗時檢測記錄過程失敗的記錄失敗位置、并從檢測到的記錄失敗位置恢復該記錄過程。
文檔編號G11B7/004GK1862669SQ200610077660
公開日2006年11月15日 申請日期2006年4月25日 優先權日2005年4月26日
發明者韓鐵慶 申請人:日立-Lg數據存儲韓國公司