專利名稱：：用于多層記錄載體的多光斑檢測器裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及用于諸如雙層光盤的多層記錄載體的檢測器裝置、光學(xué)拾取設(shè)備以及驅(qū)動設(shè)備。可光學(xué)記錄的記錄載體或者信息載體已廣為人知并且用在借助諸如激光束的輻射光束而在信息載體上記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置中。該輻射光束聚焦在信息載體的記錄層上。在輻射光束強度或者輻射功率足夠的情況下，處于焦斑位置的記錄層的光學(xué)性質(zhì)將發(fā)生變化，其結(jié)果是在記錄層中產(chǎn)生標(biāo)記。通過改變輻射光束的強度，可以在該記錄層中形成標(biāo)記的圖案。所記錄的圖案包括要以編碼形式記錄的數(shù)據(jù)。這種可光學(xué)記錄的信息載體的例子是CD-R(CompactDiscRecordable可記錄的緊致盤)或者CD-RW(CompactDiscRewritable可重寫的緊致盤)或者DVD-R(DigitalVersatileDiscRecordable可記錄的數(shù)字通用盤)或者相關(guān)的DVD+R。為了擴展可光學(xué)記錄的信息載體的存儲容量，已經(jīng)采用包括多個疊加信息或者記錄層的信息載體。這種多層信息載體的記錄層可以是只讀的和/或可記錄的(即，一次寫入)和/或可重寫的類型。多層可光學(xué)記錄的信息載體的每個記錄層都可以通過將輻射光束聚焦在相關(guān)記錄層上而分別進行刻錄。記錄裝置使用大數(shù)值孔徑(NA)。由于這種大NA，在位于輻射光束源(例如，激光源)和要刻錄的記錄層之間的記錄層(中間層)位置處的輻射光束的直徑比較大。因此，中間層位置處的激光束的強度將不足以在這些層中產(chǎn)生標(biāo)記，但能夠在要被刻錄的記錄層中產(chǎn)生標(biāo)記。并且，在和輻射源之間的距離大于要被刻錄的記錄層和輻射源之間的距離的每個記錄層的位置處，由于輻射光束的直徑比較大，該輻射光束的強度不足以在這些層中產(chǎn)生標(biāo)記。在例如雙層光盤的情況下，將激光束聚焦在一層上并將到達另一層的間隔(spacer)距離選擇得足夠大以確?？煽康刈x出每個獨立的層。然而，盡管中間層不能被刻錄，但是它們?nèi)匀粚椛涔馐杏绊?。一部分輻射光束將被中間層反射、漫射和吸收。其余輻射光束將由中間層透射，由透射系數(shù)確定所述其余輻射光束的數(shù)量。透射部分的量值取決于中間層的光學(xué)性質(zhì)。上述影響所引起的干擾效應(yīng)是相干串?dāng)_。從焦點未對準(zhǔn)層(一層或多層)反射的光與從焦點對準(zhǔn)層反射的光發(fā)生干涉。這導(dǎo)致反射光中的條紋圖案(fringepattern)。該條紋圖案的相位是光學(xué)間隔厚度和激光波長的函數(shù)，并導(dǎo)致在檢測器處的低頻而且高于伺服系統(tǒng)帶寬的頻率的振幅變化。在實際的光學(xué)記錄系統(tǒng)中，由相干串?dāng)_引起的條紋圖案在推挽(PP)輻射跟蹤信號和聚焦跟蹤信號中產(chǎn)生噪聲，特別是在檢測器上的光斑沒有精確對準(zhǔn)的情況下，并且在HF信號的包絡(luò)(envelop)變化中，其可能導(dǎo)致跳動增大。由于相干串?dāng)_而在PP輻射和聚焦跟蹤信號中產(chǎn)生的噪聲會導(dǎo)致致動器中的損耗增加、在寫和讀的過程中的聚焦誤差以及在寫和讀的過程中的徑向誤差。需要注意的是，由于波長作為溫度的函數(shù)而變化或者在寫和讀操作之間變化，徑向誤差的局部量值和極性可能在記錄載體的一個驅(qū)動器(或者兩個驅(qū)動器之間)變化。盡管可以通過使用發(fā)射寬頻譜的激光器來減少相干串?dāng)_，例如通過在讀取過程中的激光器的HF調(diào)制，仍然可以看到非常清晰的相干串?dāng)_效應(yīng)。此外，已經(jīng)認(rèn)識到，當(dāng)與DVD-ROM技術(shù)進行比較時，在DVD+R技術(shù)的雙層盤中更容易看到相干串?dāng)_效應(yīng)。這是由DVD+R媒體上的較小調(diào)制值以及在寫入系統(tǒng)中必須使用PP跟蹤替代微分相位檢測(DPD)跟蹤而引起的。在讀取過程中，通過切換到DPD跟蹤減少了徑向跟蹤信號中的噪聲。在PP跟蹤中，減去從徑向檢測器的一半部分所獲得的信號，而在DPD跟蹤中，對角象限段成對的相加并且將最終得到的對角信號的相位進行比較。US5,923,632公開了一種用于多層記錄媒體的光學(xué)拾取設(shè)備，其包括具有主光束接收件以及第一和第二副光束接收件的3光斑檢測器系統(tǒng)，第一和第二副光束接收件與該主光束接收件相隔給定距離而布置，并且定位在不會與多層光盤中未聚焦的信息信號存儲層所反射的主光束發(fā)生干涉的位置。該光學(xué)拾取設(shè)備進一步具有衍射光柵，以將從光源發(fā)射的光束分為由主光束以及第一和第二副光束所組成的三個獨立的光束。根據(jù)來自主光束接收件的檢測結(jié)果來檢測聚焦誤差，并根據(jù)來自第一和第二副光束接收件的檢測結(jié)果來檢測跟蹤誤差。本發(fā)明的目的在于提供改進的檢測器結(jié)構(gòu)，借助于該檢測器結(jié)構(gòu)可以抑制相干串?dāng)_的有害影響。該目的通過如權(quán)利要求1中所要求的檢測器裝置、如權(quán)利要求4中所要求的拾取設(shè)備以及如權(quán)利要求6中所要求的驅(qū)動設(shè)備來實現(xiàn)。因此，提出一種檢測器結(jié)構(gòu)，其通過使用至少兩個三光斑系統(tǒng)來抑制相干串?dāng)_的干擾影響，其中一個三光斑系統(tǒng)可以用于聚焦誤差信號，另一個可以用于跟蹤誤差信號。除了減少聚焦和跟蹤誤差以外，所提出的檢測器結(jié)構(gòu)還可以減小多層記錄載體的信息層之間的間隔層厚度。該第二副光束檢測器裝置可以包括用于獲得聚焦誤差信號的四象限檢測器元件，其中第二預(yù)定距離大于第一預(yù)定距離。因此，也可以從第二副光束檢測器裝置獲得聚焦誤差信號，從而可以消除聚焦誤差信號中的相干串?dāng)_效應(yīng)。此外，第一副光束檢測器裝置可以包括兩個一半的檢測器元件以獲得推挽跟蹤誤差信號。因此，跟蹤誤差檢測系統(tǒng)可以適用于最佳的串?dāng)_抑制。分束器裝置可以包括衍射光柵。衍射光柵可以將輻射光束精確地分離成主光束和具有小的間隔要求的四個副光束中的前兩個。在驅(qū)動設(shè)備中，分束器裝置可以適于產(chǎn)生相對于主光束成第一預(yù)定角的第一對副光束，并產(chǎn)生相對于主光束成第二預(yù)定角的第二對副光束。這允許分別控制跟蹤系統(tǒng)和聚焦系統(tǒng)的串?dāng)_。由此，第一預(yù)定角可以選擇為使第一對副光束和主光束之間的光程差基本上為零或者基本上為輻射光源的輻射波長的整數(shù)倍，并且第二預(yù)定角可以選擇為使第二對副光束和主光束之間的光程差基本上為輻射波長的一半或者基本上是輻射波長的一半的奇數(shù)倍。這確保在跟蹤誤差檢測系統(tǒng)中，主光束上相干串?dāng)_的振幅效應(yīng)與第一對副光束的振幅效應(yīng)同相。此外，在聚焦誤差檢測系統(tǒng)中，主光束上的振幅效應(yīng)與第二對副光束的振幅效應(yīng)反相。在這兩種情況下，都可以有效地抑制相干串?dāng)_。優(yōu)選地，分束器裝置可以適合于按照能使第一對副光束照射在多層記錄載體的目標(biāo)信息層的凹槽之間的方式來產(chǎn)生第一對副光束，并按照能使第二對副光束照射在多層記錄載體的各組目標(biāo)信息層上的方式來產(chǎn)生第二對副光束。此外，可以提供聚焦誤差確定裝置，用以通過將從主檢測器裝置獲得的聚焦誤差信號的值與從這一對第二副光束檢測器裝置獲得的聚焦誤差信號之和得到的值相加來計算聚焦誤差，并且可以提供跟蹤誤差確定裝置，用以通過將從主檢測器裝置獲得的跟蹤誤差信號的值與這一對第一副光束檢測器裝置獲得的跟蹤誤差信號之和而得到的值相減來計算跟蹤誤差。因此，通過使用主光束檢測器裝置和兩對副光束檢測器裝置可以建立兩個三光斑系統(tǒng)。另外，可以提供計算裝置，用以通過將從主檢測器裝置獲得的輸出信號的值與從這一對第二副光束檢測器裝置獲得的輸出信號之和得到的值相減來計算串?dāng)_值。因此，可以獲得在輸出HF信號上的相干串?dāng)_的量值測量。此外，可以提供調(diào)整裝置，用以根據(jù)獲得的串?dāng)_值和驅(qū)動設(shè)備的讀出信號的包絡(luò)進行調(diào)整。從而，可以校正或補償輸出HF信號中的包絡(luò)變化?，F(xiàn)在將根據(jù)優(yōu)選實施方式并參考附圖對本發(fā)明進行描述，在附圖中圖1示出根據(jù)優(yōu)選實施方式的拾取單元的示意性方框圖；圖2示出表示光程差和在雙層光盤中得到的條紋(fringe)的示意圖；以及圖3示出根據(jù)優(yōu)選實施方式的檢測器結(jié)構(gòu)。在下文中，將結(jié)合用于雙層光盤的驅(qū)動設(shè)備來描述優(yōu)選實施方式，如DVD(數(shù)字通用盤(DigitalVerstileDisc))雙層盤。圖1示出用于提供對雙層光盤的上部第一信息層L0和下部第二信息層L1的訪問的拾取系統(tǒng)的示意性方框圖。根據(jù)該優(yōu)選實施方式的光學(xué)拾取設(shè)備包括例如半導(dǎo)體激光器的光源30，其用作輻射光源以用于發(fā)射光束。在光束方向上，光源30后面是準(zhǔn)直透鏡，從而使光束的光軸彼此對準(zhǔn)。此外，提供用作分束器的衍射光柵40用以產(chǎn)生主光束和副光束，并隨后提供偏振光分束器10，從而將雙層光盤反射的光發(fā)送到接收反射光束的光電檢測器20上。在偏振光分束器10和雙層光盤之間提供四分之一波片50和物鏡，從而將光束聚焦到上部和下部信息層L0和L1中的一個上。此外，反射光束由聚光透鏡聚集并隨后在偏振光分束器10和光電檢測器20之間提供柱面透鏡，從而使其光軸彼此對準(zhǔn)。特別是，由光源30發(fā)射的漫射激光束由準(zhǔn)直透鏡準(zhǔn)直并由衍射光柵40分離成作為主光束的0級光和作為輔助或者副光束的+/-1級光。根據(jù)優(yōu)選實施方式，兩對副光束以不同角度產(chǎn)生。這可以通過兩個集成或者獨立的衍射光柵來實現(xiàn)。分離成主和副光束的激光穿過分束器10并由光學(xué)透鏡會聚，從而向著雙層光盤的第一或者第二信息層L0、L1的軌道輻射。該反射激光束穿過物鏡并在由偏振光分束器分離和反射后進入聚光透鏡和柱面透鏡，且照射到光電檢測器20上，光電檢測器具有幾個檢測器元件，這將在后面解釋。由光源30產(chǎn)生的光束或者激光可以在寫操作期間由輸入數(shù)據(jù)流DI進行調(diào)制。圖2示出代表在下部信息層L1進行讀出或者寫入操作期間由激光束在上部信息層L0處的反射獲得的條紋圖案和光程長度差的圖。對于在上部信息層L0和下部信息層L1反射的光束分量分別示出光程長度S0和S1。如在上部的圖中所表示的，反射光束分量的疊加導(dǎo)致物鏡上的條紋圖案。這些條紋導(dǎo)致在檢測器20輸出端的HF信號和聚焦/跟蹤信號上的振幅變化或者脈動(beat)。在雙層光盤的零傾斜的情況下，條紋圍繞物鏡的中心對稱排列。相干串?dāng)_主要由圖2上部圖的中部的中央條紋和圖2上部圖的左右兩側(cè)的外部條紋來決定。該相干串?dāng)_顯示出對兩個信息層L0和L1之間的間隔厚度有很強的依賴性。可以看出，光學(xué)系統(tǒng)的大間隔厚度和大數(shù)值孔徑(NA)是有益的，因為它們導(dǎo)致具有相對較小串?dāng)_效應(yīng)的更多條紋。在傾斜光盤的情況中，條紋的數(shù)量在左部分和右部分有所不同，從而有更多條紋促成在HF和跟蹤信號中的串?dāng)_。此外，檢測器20的檢測器元件上的光束入射位置對跟蹤和聚焦信號有很大影響。在光束入射誤差的情況下，各個檢測器元件的檢測器圖案的對稱性消失，并且在HF跟蹤和聚焦信號中產(chǎn)生振幅變化或脈動。相干串?dāng)_對跟蹤系統(tǒng)的影響受光束入射的控制而不是受傾斜的控制。在三光斑PP跟蹤系統(tǒng)或者微分相位跟蹤系統(tǒng)的情況下，相干串?dāng)_的損害較小，其中在兩個信息層L0和L1之間的厚的間隔層對于進一步減少相干串?dāng)_是有益的。根據(jù)該優(yōu)選實施方式，通過增加相對于檢測器20上的主光束檢測器元件對稱設(shè)置的兩個附加的副光束檢測器元件可以為聚焦誤差信號引入第二個三光斑系統(tǒng)。圖3示出根據(jù)該優(yōu)選實施方式的檢測器結(jié)構(gòu)，該檢測器結(jié)構(gòu)具有檢測器20和用于產(chǎn)生聚焦誤差信號FE、推挽跟蹤信號PP以及相干串?dāng)_信號CC的處理電路。任選的是，相干串?dāng)_信號CC可以用于控制拾取設(shè)備的HF輸出信號的包絡(luò)或者振幅。由于使用了兩個附加的副光束檢測器，因此必須在分束器40處產(chǎn)生兩個副光束對(即，四個副光束)，這可以通過至少一個衍射光柵來實現(xiàn)。因此，獲得了五光斑系統(tǒng)。舉例來說，可以根據(jù)各個衍射光柵的第一級或者第二級光來產(chǎn)生這對附加的副光束。由這兩對副光束產(chǎn)生的附屬(satellite)光斑相對于主光斑的光程差可以通過為附屬光斑選擇適當(dāng)?shù)慕嵌冗M行控制。按照這種方式，附屬光斑可以具有所希望的條紋圖案，其可以與主光束的條紋圖案或者是同相或者是反相。在由主光斑和兩個內(nèi)部附屬光斑所獲得的三光斑PP跟蹤系統(tǒng)中，附屬光斑置于下部信息層L1的表面上的凹槽之間，并且該附屬光斑的推挽信號PPa和PPb與主光束的推挽信號PPc是反相的。在這種情況下，可以通過從中心光斑的推挽信號PPc中減去附屬光斑的推挽信號PPa與PPb的和來得到最終的跟蹤誤差信號PP，這可以表示為下式PP＝PPc-γ(PPa+PPb)(1)其中γ表示特定的校正參數(shù)，該系數(shù)可以根據(jù)實驗結(jié)果而獲得。為了有效地消除相干串?dāng)_，主光束上的相干串?dāng)_的振幅效應(yīng)應(yīng)當(dāng)與附屬光束上的振幅效應(yīng)同相。因此，附屬光束的光程差優(yōu)選應(yīng)當(dāng)是0或者是λ，其中λ表示激光束的波長。當(dāng)然，也可以使用波長λ的任何整數(shù)倍。然而，0相位差通常是最實用的選擇。這意味著在實際中，附屬光斑應(yīng)當(dāng)優(yōu)選地接近主光斑的位置而設(shè)置。為了消除對聚焦通道或者聚焦系統(tǒng)的作用，提出附加的三光斑聚焦系統(tǒng)。根據(jù)圖3，檢測器20的結(jié)構(gòu)包括四個附屬或者副光束檢測器20-2a、20-2b、20-3a和20-3b以及中央或者主光束檢測器20-1。兩個內(nèi)部副光束檢測器20-2a和20-2b分別用于產(chǎn)生推挽信號PPa和PPb，而兩個外部副光束檢測器20-3a和20-3b分別用于產(chǎn)生聚焦誤差信號FEa和FEb。與主光束檢測器20-1相似，聚焦副光束檢測器20-3a和20-3b包括四象限或者象限檢測器元件A、B、C和D，根據(jù)這些元件的檢測輸出產(chǎn)生聚焦誤差信號FEa和FEb。跟蹤副光束檢測器20-2a和20-2b適合于產(chǎn)生兩個一半的檢測器元件A和B的信號，盡管它們也可以包括象限檢測器元件，將兩個象限檢測器元件相結(jié)合以獲得一半的檢測器元件?？蛇x擇的是，它們實際上可以僅包括兩個一半的檢測器元件。如圖3中所示，光束入射位置(由檢測器元件20-1、20-2a、20-2b、20-3a和20-3b上的環(huán)形光斑顯示)不是處于中心，從而由于光束入射誤差而破壞了檢測器輸出信號的對稱性。然而，通過提出的五光斑系統(tǒng)顯著地減少了最后得到的相干串?dāng)_效果。聚焦系統(tǒng)的四象限檢測器元件的輸出信號可以根據(jù)下列方程獲得FE＝(A+C)-(B+D)(2)其中A、B、C和D代表由四象限檢測器元件產(chǎn)生的檢測輸出。聚焦誤差信號FE表示輻射到雙層光盤的內(nèi)部信息層L1的表面上的光的散焦程度。由三光斑聚焦誤差系統(tǒng)獲得的總的聚焦誤差信號現(xiàn)在可以根據(jù)下列方程獲得FE＝FEc+γ(FEa+FEb)(3)當(dāng)主光束的振幅效應(yīng)與副光束的振幅效應(yīng)反相時，相干串?dāng)_被消除。因此，副光束的光程差優(yōu)選應(yīng)當(dāng)為λ/2或者其奇數(shù)倍。在副光束的附屬光斑置于凹槽上的情況下，當(dāng)間隔層是55μm而折射率m＝1.5且波長λ為655nm時，盤上從附屬光斑到主光斑的光程差應(yīng)當(dāng)是163μm。當(dāng)附屬光斑定位在凹槽之間時，出于適當(dāng)選擇副光束的角度的原因而應(yīng)當(dāng)考慮λ/8的典型單光路光程差。在跟蹤通道中消除相干串?dāng)_的要求可以表示如下2ns(1-cos(α))-2Δ＝kλ(4)其中s表示上部和下部信息層L0和L1之間的間隔層的厚度，n表示折射率，Δ表示當(dāng)附屬光斑定位在凹槽之間時要考慮的光程差，α表示副光束相對于主光束的角度。類似地，在聚焦誤差系統(tǒng)和HF系統(tǒng)中消除相干串?dāng)_的要求可以表示如下2ns(1-cos(α))-2Δ＝(2k-1)λ/2(5)關(guān)于上述消除串?dāng)_的條件，應(yīng)該注意不一定必須精確滿足為主光束和各對副光束之間的光程差而提出的上述依賴于波長的值。盡管實際上，在提出的優(yōu)選值附近將產(chǎn)生變動，仍可以在很大程度上抑制串?dāng)_。因此，如果能基本上滿足這些條件就足夠了。由于具有該附加的三光斑聚焦檢測器結(jié)構(gòu)，HF信號上的相干串?dāng)_CC的量值也可以根據(jù)如下表達式來獲得CC＝CAc-γ(CAa+CAb)(6)其中CAa和CAb分別表示外部副光束檢測器20-3a和20-3b各自的HF輸出信號的值，而CAc表示主檢測器20-1的HF輸出信號。這些HF信號作為象限檢測器元件的直接輸出信號獲得而不經(jīng)過任何中間處理，例如，如方程(2)所示。該相干串?dāng)_信號CC可以任選地用于修正由于相干串?dāng)_所引起的HF信號的包絡(luò)變化。對于該相干串?dāng)_信號CC，如同在主光束的情況中的那樣，下部信息層L1的凹槽內(nèi)的那一對外部副光束的附屬光斑的位置是優(yōu)選的。由方程(1)、(3)和(6)表達的處理可以通過由相應(yīng)軟件程序控制的各個處理或者計算元件來獲得，或者根據(jù)數(shù)字信號處理電路來獲得。圖3中，這些系統(tǒng)或電路由方框22、24、26來表示，其適合于執(zhí)行在方程(1)、(3)和(6)中所表達的處理。當(dāng)然，這三個處理方框22、24、26可以作為單個處理器或者計算元件或者單個信號處理器來實現(xiàn)。產(chǎn)生相干串?dāng)_信號CC的處理元件26的輸出信號可以用于控制振幅變化電路28，其可以是具有自動增益控制(AGC)函數(shù)的放大器，從而修正或者補償拾取設(shè)備的HF輸出信號上的包絡(luò)變化，并產(chǎn)生修正的HF輸出信號HFcorr。總之，已經(jīng)描述了用于多層記錄載體的盤驅(qū)動設(shè)備的拾取設(shè)備的檢測器結(jié)構(gòu)，其中為了抑制串?dāng)_效應(yīng)而提供主光束檢測器裝置和布置在主光束檢測器裝置相對側(cè)的兩對副光束檢測器裝置。舉例來說，獲得的兩個三光斑系統(tǒng)可以用于聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號，其中可以對附屬光斑進行控制以具有與主光束同相或反相的所希望的條紋圖案。除了減少聚焦和跟蹤誤差之外，上述測量還能夠減少間隔層的厚度。應(yīng)該注意，根據(jù)優(yōu)選實施方式的驅(qū)動設(shè)備、拾取設(shè)備和檢測器結(jié)構(gòu)對任何類型的光盤都適用，從而防止串?dāng)_效應(yīng)。此外，分束器40可以由任何類型的分束元件來實現(xiàn)，借助于該分束器可以按照上述預(yù)定角來產(chǎn)生中央主光束和附加的副光束。舉例來說，任何類型的衍射、折射或者鏡像效應(yīng)都可以用在分束元件中。此外，檢測器20上的檢測器元件可以具有其它排列以檢測補償串?dāng)_效應(yīng)所需要的副光束和主光束。還應(yīng)該注意，可以提供附加的副光束檢測器元件以增強在優(yōu)選實施方式中描述的效果。還應(yīng)該注意的是，上面提及的實施方式是說明性的而不是限制本發(fā)明，并且本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在不背離由附加權(quán)利要求限定的本發(fā)明的范圍的情況下能夠設(shè)計出許多替換實施方式。在權(quán)利要求中，置于括號中的任何附圖標(biāo)記不應(yīng)當(dāng)解釋為對權(quán)利要求的限制。詞語“包括”或者“包含”等等并不排除在任何權(quán)利要求或者說明書整體中所列的那些元件或者步驟之外還存在的元件或步驟。元件的單數(shù)引用并不排除這種元件的復(fù)數(shù)引用，反之亦然。事實上，在彼此不同的從屬權(quán)利要求中敘述的某些方案并不表示不能有效地使用這些方案的結(jié)合。權(quán)利要求1.一種用于檢測由主光束和多個副光束在多層記錄載體上的反射而產(chǎn)生的輻射圖案的檢測器裝置，所述檢測器裝置包括主光束檢測器裝置(20-1)，其用于檢測從所述多層記錄載體反射的所述主光束；一對第一副光束檢測器裝置(20-2a、20-2b)，其布置在所述主光束檢測器裝置(20-1)的相對側(cè)，并與所述主光束檢測器裝置(20-1)相隔第一預(yù)定距離，并設(shè)置為用于檢測所述多個副光束的各自的第一對副光束；以及一對第二副光束檢測器裝置(20-3a、20-3b)，其布置在所述主光束檢測器裝置(20-1)的相對側(cè)，并與所述主光束檢測器裝置(20-1)相隔第二預(yù)定距離，并設(shè)置為用于檢測所述多個副光束的各自的第二對副光束。2.如權(quán)利要求1所述的檢測器裝置，其中所述第二副光束檢測器裝置每個都包括用于獲得聚焦誤差信號的四象限檢測器元件(A、B、C、D)，并且其中所述第二預(yù)定距離大于所述第一預(yù)定距離。3.如權(quán)利要求1或2所述的檢測器裝置，其中所述第一副光束檢測器裝置每個都包括兩個一半的檢測器元件(A、B)以獲得推挽跟蹤誤差信號。4.一種用于多層記錄載體的拾取設(shè)備，包括根據(jù)權(quán)利要求1到3中任意一個的檢測器裝置，用于向所述多層記錄載體發(fā)射輻射光束的輻射源(30)，以及用于將所述輻射源(30)發(fā)射的輻射光束分成所述主光束和所述多個副光束并將所述主光束和所述副光束輻射到所述多層記錄載體的分束裝置(40)。5.如權(quán)利要求4所述的設(shè)備，其中所述分束裝置(20)包括衍射光柵。6.一種用于提供對多層記錄載體的訪問的驅(qū)動設(shè)備，所述驅(qū)動設(shè)備包括如權(quán)利要求4或5所述的拾取設(shè)備。7.如權(quán)利要求6所述的設(shè)備，其中所述分束裝置(20)適合于產(chǎn)生與所述主光束成第一預(yù)定角度的所述第一對副光束，并產(chǎn)生與所述主光束成第二預(yù)定角度的所述第二對副光束。8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其中將所述第一預(yù)定角度選擇成使所述第一對副光束與所述主光束之間的光程差基本為零或者基本為所述輻射源(30)的輻射波長的整數(shù)倍，并且其中將所述第二預(yù)定角度選擇成使所述第二對副光束與所述主光束之間的光程差基本為所述輻射波長的一半或者基本為所述輻射波長的一半的奇數(shù)倍。9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其中所述分束裝置(20)適合于按照使所述第一對副光束照射到所述多層記錄載體的目標(biāo)信息層(L1)的凹槽之間的方式來產(chǎn)生所述第一對副光束，并且按照使所述第二對副光束照射到所述多層記錄載體的目標(biāo)信息層(L1)的各個凹槽上的方式來產(chǎn)生所述第二對副光束。10.如權(quán)利要求4至9中任意一個所述的設(shè)備，進一步包括聚焦誤差確定裝置(22)和跟蹤誤差確定裝置(24)，所述聚焦誤差確定裝置用于通過將從所述主檢測器裝置(20-1)獲得的聚焦誤差信號(FEc)的值與從所述第二對副光束檢測器裝置(20-3a、20-3b)獲得的聚焦誤差信號(FEa，F(xiàn)Eb)之和得到的值相加來計算聚焦誤差(FE)，所述跟蹤誤差確定裝置用于通過從所述主檢測器裝置(20-1)獲得的跟蹤誤差信號(PPc)的值中減去從所述第一對副光束檢測器裝置(20-2a、20-2b)獲得的跟蹤誤差信號(PPa、PPb)之和得到的值來計算跟蹤誤差(PP)。11.如權(quán)利要求4至9中任意一個所述的設(shè)備，進一步包括計算裝置(26)，其用于通過從所述主檢測器裝置(20-1)獲得的輸出信號的值中減去從所述第二對副光束檢測器裝置(20-3a、20-3b)獲得的輸出信號之和得到的值來計算串?dāng)_值(CC)。12.如權(quán)利要求10所述的設(shè)備，進一步包括調(diào)整裝置(28)，其用于根據(jù)所述串?dāng)_值(CC)對所述驅(qū)動設(shè)備的讀出信號的包絡(luò)進行調(diào)整。全文摘要本發(fā)明涉及用于多層記錄載體的檢測器裝置、拾取設(shè)備以及驅(qū)動設(shè)備，其中為了抑制串?dāng)_效應(yīng)提供主光束檢測器裝置和布置在主光束檢測器裝置相對側(cè)的兩對副光束檢測器裝置。舉例來說，獲得的兩個三光斑系統(tǒng)可以分別用于聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號，其中可以對附屬光斑進行控制以具有與主光束同相或者反相的所希望的條紋圖案。除了減少聚焦或者跟蹤誤差之外，上述方案還允許減少間隔層的厚度。文檔編號G11B7/13GK101084542SQ200580043829公開日2007年12月5日申請日期2005年12月13日優(yōu)先權(quán)日2004年12月20日發(fā)明者J·H·M·斯普魯特,H·C·F·馬滕斯,S·斯塔林加,P·H·沃爾利申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司