光盤記錄設備及方法、光盤、光盤再現設備及方法

專利名稱：光盤記錄設備及方法、光盤、光盤再現設備及方法
技術領域：
本發明涉及用于制造光盤如CD(緊湊盤)的設備。
背景技術：
緊湊盤具有以凹坑序列形式記錄的主信息如音樂信息，其中，所述凹坑具有范圍從3T到11T的長度，T代表主信息的數據序列的基本周期，通過把主信息轉換為數字信號，根據糾錯編碼過程處理該信號，根據EFM(8-14調制)過程調制該信號，并用經過EFM調制的信號控制光束而燒制所述凹坑。
緊湊盤在它們的內圓周區域具有用于記錄稱作TOC(目錄)的管理數據的導入區。基于TOC數據，用戶可選擇和播放記錄在緊湊盤上的所希望的一個音樂片段。
緊湊盤還具有從導入區向內鐫刻的代碼，所述代碼表示制造商、制造廠、盤號等，供用戶在視覺上確認緊湊盤的記錄。
由于用戶可在視覺上從緊湊盤上的鐫刻代碼確認緊湊盤的記錄，因此，用戶可基于緊湊盤是否具有鐫刻代碼而識別緊湊盤是否為非法拷貝。然而，由于鐫刻代碼主要是用于向用戶提供視覺確認，因此，一些緊湊盤播放器的光學拾波器難以再現鐫刻代碼。從而，為了基于鐫刻代碼而識別非法拷貝，必需使用專用的再現機構來再現鐫刻代碼。
如果可在緊湊盤上記錄可由用于再現音頻數據的光學拾波器再現的輔助信息，并且不影響從緊湊盤上的凹坑序列再現音頻數據，那么，不需用于再現鐫刻代碼的專用再現功能就可使用輔助信息來拒絕非法拷貝。
如日本專利No.3292295所公開的，本申請人先前已經提出一種在緊湊盤上記錄輔助信息的設備，所述設備基于輔助信息的數據序列，通過在光盤上所形成的全部凹坑或標記中改變具有預定長度或更長的一部分凹坑或標記的寬度，而在緊湊盤上記錄輔助信息。
根據日本專利No.3292295公開的設備記錄用于識別光盤的標識數據或用于對記錄在光盤上的加密主信息進行解密的密鑰信息，作為輔助信息。公開的設備利用以M-序列隨機數為代表的偽隨機數序列來記錄輔助信息，以防止記錄的輔助信息易于閱讀，從而防止非法拷貝。

發明內容
然而，由于通常使用線性反饋移位寄存器(LFSR)來產生偽隨機數序列，如M-序列隨機數，因此，通過觀察線性反饋移位寄存器的幾十個輸出信號或幾十個重復的輸出信號周期，容易估計偽隨機數序列的結構。
結果，未授權人可分析此偽隨機數序列，并容易利用分析結果來制造其上記錄輔助信息的光盤。
本發明已經考慮到以上問題，并且，本發明的目的是提供一種光盤記錄設備，其中，所述設備即使使用偽隨機數序列來記錄輔助信息，但通過使得難以估計偽隨機數序列的結構，而使任何試圖制作光盤非法拷貝的人難以制造非法拷貝的光盤。本發明還提供一種由所述設備制造的光盤、以及一種用于再現所述光盤的光盤再現設備。
根據本發明，提供一種光盤記錄設備，所述設備基于主信息而產生調制信號，其中，所述調制信號的信號電平在為基本周期整數倍的周期上切換，并且，所述設備基于調制信號而控制作用到光盤上的光束，以在光盤上連續地形成凹坑和平面或標記和空白，其中，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用與基本周期相應的基本長度的整數倍來表示。基于輔助信息的數據序列通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制，并且，根據調制的數據序列而改變凹坑或標記的記錄軌跡，由此在光盤上記錄輔助信息。
利用以上布置，基于輔助信息的數據序列通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制，并且，根據調制的數據序列而改變凹坑或標記的記錄軌跡，由此在光盤上記錄輔助信息。
從以下結合附圖的描述中，本發明以上的和其它的目的、特征和優點將變得顯而易見，其中，附圖借助實例示出本發明的優選實施例。


圖1為根據本發明第一實施例的光盤記錄設備的框圖；圖2為示出圖1所示光盤記錄設備的操作的時間圖；圖3為圖1所示光盤記錄設備中第二調制電路的框圖；圖4為示出圖3所示第二調制電路的操作的時間圖；圖5為圖3所示第二調制電路中7T或更多T檢測電路的框圖；圖6為示出由根據本發明第一實施例的光盤記錄設備制造的光盤的凹坑形狀的平面圖；圖7為用于再現根據本發明第一實施例的光盤記錄設備所制造的光盤的光盤再現設備的框圖；圖8為圖7所示光盤再現設備中的盤ID碼再現電路的框圖；圖9為示出圖8所示盤ID碼再現電路的操作的時間圖；圖10為示出根據本發明另一實施例的光盤的凹坑形狀的平面圖；圖11為根據本發明第二實施例的光盤記錄設備的框圖；圖12為圖11所示光盤記錄設備中密鑰調制電路的框圖；圖13為示出圖12所示密鑰調制電路的操作的時間圖；圖14為用于再現根據本發明第二實施例的光盤記錄設備所制造的光盤的光盤再現設備的框圖；以及圖15為圖14所示光盤再現設備中的加密密鑰檢測電路的框圖。
具體實施例方式
第一實施例<光盤記錄設備的布置>
圖1以框圖形式示出根據本發明第一實施例的光盤記錄設備。圖1所示光盤記錄設備是用于制造緊湊盤的光盤記錄設備1A。光盤記錄設備在緊湊盤上記錄作為主信息的數字音頻信號和作為輔助信息的盤標識(ID)碼。
以與常規緊湊盤相同的方式制造作為本發明光盤的緊湊盤，不同的是從圖1所示光盤記錄設備1A制造的原版盤2生產本發明緊湊盤。
具體地，從光盤記錄設備1A制造的原版盤2生產壓模，并且，在用壓模制造的圓盤形基片上連續形成反射膜、保護膜等，由此生產緊湊盤。按如下所示地從光盤記錄設備1A制造的原版盤2生產壓模對光盤記錄設備1A制造的原版盤2顯影，并接著電鑄成母盤。隨后使用母盤生產壓模。
原版盤2例如包括涂敷光敏劑的扁平玻璃基片。借助主軸電機3，原版盤2繞著自己的軸旋轉，其中，主軸電機3的旋轉由主軸伺服電路4控制。
主軸電機3的旋轉軸共軸耦合到未示出的頻率信號發生器(頻率發生器)，其中，頻率信號發生器向主軸伺服電路4提供頻率信號FG，其中，頻率信號FG的頻率取決于主軸電機3的轉速。主軸伺服電路4控制主軸電機3，使得頻率信號FG的頻率等于預定頻率，由此控制原版盤2以恒定線速度旋轉。
記錄激光器5包括用于發射具有預定光量的激光束L的氣體激光器等。包括電聲光學裝置等的光學調制器6根據從第二調制電路7提供的調制信號S3而對從記錄激光器5發射的激光束L進行調制，即開啟和關斷，其中，第二調制電路7在后面描述。
經過光學調制器6調制的激光束L應用于鏡子8，鏡子8反射激光束L，以使激光束L穿過物鏡9到達原版盤2的表面。
物鏡9把反射的激光束L聚焦到原版盤2的記錄表面上。鏡子8和物鏡9被支撐在滑橇機構上，其中，滑橇機構與原版盤2的旋轉同步地在原版盤2的徑向上運動。從而，激光束L在原版盤2上的聚焦光點例如可在原版盤2上沿著徑向向外逐漸移動，以螺旋圖案掃描原版盤2的記錄表面，以根據調制信號S3在所述記錄表面上形成螺旋軌道，其中，所述螺旋軌道包括凹坑序列。
數字音頻帶記錄器10輸出數字音頻信號D1，其中，數字音頻信號D1包括將要記錄在原版盤2上的數據的時間序列。從數字音頻帶記錄器10輸出的數字音頻信號D1提供給第一調制電路11。
第一調制電路11對數字音頻信號D1和從子碼發生器(未示出)提供的子碼數據執行用于緊湊盤的預定數據處理操作，產生EFM(8-14調制)信號S2。具體地，第一調制電路11利用CIRC(交叉交插里德-索羅蒙碼)對數字音頻信號D1和子碼數據執行糾錯編碼處理，并接著根據EFM過程而調制數字音頻信號D1和子碼數據，由此產生EFM信號S2。
對于常規光盤記錄設備，因此產生的EFM信號S2直接提供給光學調制器6，光學調制器6根據EFM信號S2而開啟和關斷激光束L，即調制激光束L，并且把經過調制的激光束L作用到原版盤2上。
對于根據本發明的光盤記錄設備1A，在與原版盤2的導入區相應的周期中，盤標識(ID)碼產生電路12產生作為輔助信息的盤ID碼SC1，并且，第二調制電路7利用盤ID碼SC1對第一調制電路11的EFM信號S2進行調制，以產生調制信號S3，并且，把調制信號S3提供給光學調制器6。
盤ID碼SC1包括原版盤2固有的信息、與制造廠有關的信息、與生產日期有關的信息、用于控制盤是否可拷貝的信息等。除盤ID碼SC1以外，盤ID碼產生電路12還依次輸出代表盤ID碼SC1開始的同步信號以及用于盤ID碼SC1的糾錯碼。
盤ID碼產生電路12包括模N計數器121和盤ID碼表格電路122。模N計數器121包括環形計數器，其中，環形計數器對從第二調制電路7輸出的EFM信號S2計算幀時鐘脈沖FCK，并輸出計數值CT1。
如圖2(A)-2(E)所示，EFM信號S2(參見圖2(A)和2(B))具有每個都包括588個通道時鐘脈沖CK(參見圖2(C))和幀同步信號(參見圖2(A)和2(B))的幀，其中，幀同步信號由第一調制電路11插入，并且，具有與22個通道時鐘脈沖CK相應的周期。
幀時鐘脈沖FCK(參見圖2(D))在時間上與幀同步信號的開始相關地產生，并且，在一個通道時鐘脈沖周期內具有高信號電平。模N計數器121計算幀時鐘脈沖FCK，以計算連續的幀，并輸出計數值CT1。
盤ID碼表格電路122包括例如用于保存盤ID碼SC1的位信息的ROM(只讀存儲器)。盤ID碼表格電路122從模N計數器121接收計數值CT1，作為ROM的地址信號，并且輸出ROM儲存的數據。從而，盤ID碼表格電路122輸出盤ID碼SC1(參見圖2(E))，作為每幀一位數據。
第二調制電路7用盤ID碼SC1對來自第一調制電路11的EFM信號S2進行調制，由此產生作為雙重調制信號的調制信號S3。
圖3以框圖形式示出第二調制電路7的細節。圖4為示出圖3所示第二調制電路7中輸出信號波形的時間圖。以下結合圖3和4詳細描述第二調制電路7。
第二調制電路7具有同步檢測電路21，其中，同步檢測電路21用于從第一調制電路11提供的EFM信號S2(參見圖4(A))中檢測幀同步信號，并且輸出幀時鐘脈沖FCK。
時鐘再現電路22具有PLL電路，并且從EFM信號S2再現通道時鐘脈沖CK(參見圖4(B))。時鐘再現電路22向偽隨機數產生電路23、計數器24、和7T或更多T檢測電路28提供再現的通道時鐘脈沖CK。
在本實施例中，偽隨機數產生電路23包括線性反饋移位寄存器(LFSR)，其中，LFSR用于產生作為M序列的偽隨機數序列。具體地，偽隨機數產生電路23包括多個串聯的觸發器和“異或”電路(XOR)。偽隨機數產生電路23基于幀時鐘脈沖FCK而在觸發器中設定初始值，隨后，與時鐘再現電路22的通道時鐘脈沖CK同步地連續發送設定值。進一步地，偽隨機數產生電路23通過給定級之間的反饋而產生M-序列隨機數數據MS(參見圖4(D))，在這，邏輯電平1和邏輯電平0以相同的概率出現。
M-序列隨機數數據MS描述代表在588個通道時鐘脈沖的周期(一個幀的周期)內重復相同圖案的隨機數序列。M-序列隨機數數據MS提供給“異或”電路25。
在本實施例中，計數器24包括用于計算從PLL電路22輸出的通道時鐘脈沖CK的4位計數器。計數器24由同步檢測電路21輸出的幀時鐘脈沖FCK清零。計數器24向“異或”電路25提供計數器值的最高有效位，作為觸發信號TGL(參見圖4(E))。
為響應盤ID碼產生電路12的盤ID碼SC1、偽隨機數產生電路23的M-序列偽隨機數數據MS以及計數器24的觸發信號TGL，“異或”電路25輸出“異或”信號MS1(參見圖4(F))。
具體地，當觸發信號TGL為電平“0”時，如果盤ID碼SC1為邏輯電平“0”，那么，“異或”電路25就輸出“異或”信號MS1，其中，“異或”信號MS1用M-序列隨機數數據MS的邏輯電平表示。相反，如果盤ID碼SC1為邏輯電平“1”，那么，“異或”電路25就輸出“異或”信號MS1，其中，“異或”信號MS1用M-序列隨機數數據MS的邏輯電平的反相表示。從而，“異或”電路25用M-序列隨機數數據MS和觸發信號TGL對盤ID碼SC1進行調制。“異或”電路25的“異或”信號MS1提供給D觸發器26的D端子。
D觸發器26具有被提供EFM信號S2(參見圖4(A))的時鐘端子。從而，D觸發器26產生閂鎖輸出信號MSH(參見圖4(G))，信號MSH表示“異或”信號MS1的電平在EFM信號S2的各個正向邊被閂鎖。
在本實施例中，從第二調制電路7輸出的調制信號S3具有與EFM信號S2的各個正向邊相應的正向邊。在調制信號S3具有高電平的周期中，在原版盤2上形成凹坑。D觸發器26在與每個凹坑的前緣同步的時間對“異或”信號MS1的邏輯電平進行采樣，并且，保存采樣的邏輯電平，直到與下一凹坑的前緣同步的時間為止。
D觸發器26的閂鎖輸出信號MSH通過延遲電路27提供給AND(“與”)電路29。延遲電路27使閂鎖輸出信號MSH延遲預定時間，并且，輸出延遲信號MSHD(參見圖4(H))。延遲電路27使閂鎖輸出信號MSH延遲的周期是7T或更多T檢測電路28執行其處理所要求的時間周期，并且，代表大約5個通道時鐘脈沖CK的時間周期。
7T或更多T檢測電路28檢測EFM信號S2的脈沖持續時間，并且，如果檢測的EFM信號S2的脈沖持續時間為7T或更多T，就輸出其持續時間等于一個通道時鐘脈沖的檢測脈沖SP(參見圖4(I))。
圖5以框圖形式示出7T或更多T檢測電路28。如圖5中所示，7T或更多T檢測電路28包括8個閂鎖電路281A、281B、281C、281D、281E、281F、281G、281H、AND電路282、以及D觸發器283。8個閂鎖電路281A-281H中每一個都閂鎖EFM信號S2，并且，與通道時鐘脈沖CK同步地把閂鎖信號傳遞到下一閂鎖。
8個閂鎖電路281A-281H中各個的閂鎖輸出信號提供給AND電路282。最后一個閂鎖電路281H的閂鎖輸出信號的邏輯電平被反相，并接著提供給AND電路282。AND電路282輸出通過對并行提供的閂鎖信號求“與”而產生的“與”信號。當按照具有連續七個邏輯電平“1”的通道時鐘脈沖CK的周期觀察EFM信號S2時，即，當將要形成其長度與7T或更多T相應的凹坑時，AND電路282輸出具有邏輯電平“1”的AND信號，其中，T代表EFM信號S2的基本周期。
D觸發器283用通道時鐘脈沖CK對AND電路282的輸出信號進行閂鎖，并且輸出檢測脈沖SP(參見圖4(I))。如圖3所示，檢測脈沖SP提供給AND電路29。
AND電路29對檢測脈沖SP和延遲電路27的延遲信號MSHD求“與”，并且，向單穩多諧振蕩器30輸出“與”信號。
單穩多諧振蕩器30由AND電路29的輸出信號觸發，以輸出其持續時間比一個通道時鐘脈沖CK周期更短的調制脈沖MMP(參見圖4(J))。
調制脈沖MMP的持續時間按如下設定當作用到原版盤2上的激光束L由調制脈沖MMP暫時中止時，在從原版盤2生產的緊湊盤上，因激光束L作用暫時中止而導致的凹坑寬度縮小大約是平均凹坑寬度的10％。
調制脈沖MMP提供給“異或”電路32。EFM信號S2被延遲電路31延遲預定時間，并接著提供給“異或”電路32。
延遲電路31使EFM信號S2延遲大約五個時鐘脈沖的時間。“異或”電路32對延遲電路31輸出的延遲EFM信號S2D(參見圖4(C))和調制脈沖MMP進行“異或”運算，并且輸出通過用盤ID碼SC1調制EFM信號S2而產生的調制信號S3(參見圖4(K))。
對于其長度與7T或更多T相應的凹坑，延遲電路31使EFM信號S2延遲的時間按如下選擇在再現時，調制信號S3的邏輯電平因調制脈沖MMP的切換不影響EFM信號S2的邊緣計時。
具體地，延遲電路31使EFM信號S2延遲的時間按如下設定在距EFM信號S2的正向邊計時預定周期的時間，發生調制信號S3的邏輯電平因調制脈沖MMP的切換。在此實施例中，延遲電路31使EFM信號S2延遲大約五個時鐘脈沖，從而，調制脈沖MMP的正向邊比EFM信號S2D的相應正向邊落后大約3T或更多T。
圖6(A)和6(B)以平面圖示出由原版盤2生產的緊湊盤和常規緊湊盤的凹坑形狀。如圖6(A)所示，常規緊湊盤具有重復形成的凹坑和平面，根據被記錄的音頻數據，所述凹坑和平面具有由一個通道時鐘脈沖CK的周期T(基本周期)的整數倍代表的長度。
如圖6(B)所示，由原版盤2生產的緊湊盤具有以與常規緊湊盤相同方式而重復形成的凹坑和平面。然而，如圖6(B)中箭頭a所示，凹坑包括其長度等于或大于7T周期的凹坑，并且，所述凹坑在從凹坑邊緣開始間隔預定距離L的位置上具有根據盤ID碼SC1而局部縮小的凹坑寬度。盤ID碼SC1被記錄為凹坑寬度的變化或縮小。
<光盤再現設備的布置>
圖7以框圖形式示出用于再現由根據本發明第一實施例的光盤記錄設備1A制造的緊湊盤41A的緊湊盤播放器40A。如圖7中所示，緊湊盤播放器40A具有主軸電機42，其中，主軸電機42在伺服電路43的控制下以恒定線速度旋轉緊湊盤41A。
光學拾波器44對緊湊盤41A作用激光束，并且檢測從緊湊盤41A返回的激光束。光學拾波器44輸出其信號電平隨著返回激光束的光量而改變的再現信號RF。再現信號RF的信號電平根據記錄在緊湊盤41A上的凹坑而改變。
由于在緊湊盤41A上一些凹坑的凹坑寬度局部縮小大約平均凹坑寬度的10％，因此，再現信號RF的信號電平根據凹坑寬度而改變。然而，由于凹坑寬度局部縮小的位置距每個凹坑邊緣有預定距離以便不影響邊緣的計時，因此，在與沒有縮小凹坑寬度的其它凹坑的再現信號RF相同的時間，前述凹坑的再現信號RF與用于二進制值識別的基準電平交叉。再現信號RF提供給二進制轉換器45和盤ID碼再現電路51。
二進制轉換器45基于預定的基準電平而把再現信號RF轉換為二進制信號BD。因為在緊湊盤41A上一些凹坑的凹坑寬度局部縮小為約10％，所以二進制信號BD不反映凹坑寬度的局部縮小。二進制信號BD提供給時鐘再現電路46、EFM解調電路47、以及盤ID碼再現電路51。
時鐘再現電路46具有PLL電路，并且基于二進制轉換器45的二進制信號BD而再現所述再現信號RF的通道時鐘脈沖CCK。
EFM解調電路47基于通道時鐘脈沖CCK對二進制信號BD連續進行閂鎖，由此再現與EFM信號S2相應的數據。EFM解調電路47對再現的數據進行解調，并接著基于幀同步信號而把解調數據劃分為8位信號，對8位信號解交織，并向ECC(糾錯碼)解碼電路48輸出解交織信號。
ECC解碼電路48基于增加到其上的糾錯碼而對從EFM解調電路47輸出的數據進行糾錯，由此再現音頻數據D1并輸出給數字-模擬轉換器49。
數字-模擬轉換器49把從ECC電路48輸出的音頻數據D1轉換為模擬數據，并且輸出模擬數據，作為模擬音頻信號S4。如果緊湊盤41A被系統控制電路50判斷為非法拷貝，那么，數字-模擬轉換器49就受系統控制電路50控制，停止輸出模擬音頻信號S4。
系統控制電路50包括控制緊湊盤播放器40A操作的計算機。當訪問緊湊盤41A的導入區時，系統控制電路50基于盤ID碼再現電路51輸出的盤ID碼SC1而確定緊湊盤41A是否為非法拷貝。當系統控制電路50判斷緊湊盤41A為非法拷貝時，系統控制電路50就停止從數字-模擬轉換器49輸出模擬音頻信號S4。
盤ID碼再現電路51把再現信號RF解碼為盤ID碼SC1，并且輸出盤ID碼SC1。
圖8以框圖示出盤ID碼再現電路51的細節。圖9(A)-9(E)為示出盤ID碼再現電路51中輸出信號波形的時間圖。
盤ID碼再現電路51具有同步圖案檢測電路53，其中，同步圖案檢測電路53用時鐘再現電路46的通道時鐘脈沖CCK(參見圖9(C))對二進制轉換器45的二進制信號BD(參見圖9(A)和9(B))連續進行閂鎖，并且確定二進制信號BD的連續邏輯電平，以檢測幀同步信號。
基于檢測的幀同步信號，同步圖案檢測電路53在每個幀開始時輸出在一個通道時鐘脈沖CCK周期內信號電平為高的設定脈沖FSET(參見圖9(E))，并且在設定脈沖FSET之后輸出在一個通道時鐘脈沖CCK周期內信號電平為高的清零脈沖FCLR(參見圖9(D))。
凹坑檢測電路54是與光盤記錄設備1A的7T或更多T檢測電路28相同的結構。凹坑檢測電路54基于通道時鐘脈沖CCK而連續傳送二進制信號BD，以檢測與長度等于或大于周期7T的凹坑相應的二進制信號BD的計時。凹坑檢測電路54產生并輸出其信號電平與被檢測凹坑的開始同步變高的高電平信號PT。
凹坑檢測電路54還輸出其信號電平在高電平信號PT之后預定時間的時刻變高的門信號CT。門信號CT與第二調制電路7中的調制脈沖MMP相對應，但在以下方面不同在長度等于或大于周期7T的每個凹坑上，門信號CT的電平變高。
在偽隨機數產生電路55中具有ROM，該電路55用同步圖案檢測電路53的清零脈沖FCLR對地址初始化。接著，電路55基于通道時鐘脈沖CCK而對地址步進，以訪問ROM，由此產生與光盤記錄設備1A產生的M-序列隨機數數據MS相對應的M-序列隨機數數據。
偽隨機數產生電路55還用凹坑檢測電路54的高電平信號PT對M-序列隨機數數據進行閂鎖，由此在長度等于或大于周期7T的凹坑的開始計時對M-序列隨機數數據進行閂鎖，并隨后輸出M-序列閂鎖信號MZ，其中，信號MZ的閂鎖邏輯電平一直持續到下一長度等于或大于周期7T的凹坑的開始為止。
模擬-數字轉換器57基于通道時鐘脈沖CCK而把再現信號RF轉換為8位數字再現信號。數字再現信號直接提供給選擇器59。數字再現信號的極性也由極性反相電路58反相，并接著提供給選擇器59。
計數器60包括對通道時鐘脈沖CCK計數的4位計數器。計數器60由從同步圖案檢測電路53輸出的清零脈沖FCLR清零。計數器60輸出計數器值的最高有效位，作為觸發信號TT。觸發信號TT與在光盤記錄設備1A中產生的觸發信號TGL相對應。觸發信號TT提供給“異或”電路61。
“異或”電路61通過對偽隨機數產生電路55的M-序列閂鎖信號MZ和計數器60的觸發信號TT進行“異或”而產生“異或”信號MCZ，并且把產生的“異或”信號MCZ提供給選擇器59。
根據“異或”電路61的“異或”信號MCZ的邏輯電平，選擇器59從模擬-數字轉換器57直接提供的數字再現信號和極性反相電路58的極性反相數字再現信號中選擇任一個，并輸出其。
具體地，當“異或”信號MCZ為邏輯電平“1”時，選擇器59選擇并輸出從模擬-數字轉換器57直接提供的數字再現信號，并且，當“異或”信號MCZ為邏輯電平“0”時，選擇器59選擇并輸出極性反相數字再現信號。從而，選擇器59把借助M-序列信號MS調制的盤ID碼SC1的邏輯電平以及觸發信號TGL再現為多值數據，并向加法器62輸出多值數據，作為再現數據RX。
加法器62包括16位數字加法器，加法器62把再現數據RX與累加器63的輸出數據AX相加，并輸出和數據，其中，累加器63對加法器62的輸出數據進行累加。累加器63包括16位存儲器，其中，16位存儲器用于保存加法器62的輸出數據，并向加法器62反饋累加數據。加法器62和累加器63聯合用作累加加法器。
具體地，在累加器63用同步圖案檢測電路53的清零脈沖FCLR清除其累加數據之后，累加器63在凹坑檢測電路54輸出門信號CT時讀取加法器62的輸出數據。加法器62在連續幀中把選擇器59的再現數據RX的邏輯值進行累加。累加器63向除法器65輸出累加值AX。
凹坑計數器64用同步圖案檢測電路53的清零脈沖FCLR對它的計數清零，接著計算凹坑檢測電路54的門信號CT，以計算累加器63累加的凹坑，并且向除法器65輸出計數值NX。
除法器65把累加器63的累加值AX除以凹坑計數器64的計數值NX，由此對選擇器59的再現數據RX的邏輯值取平均，并把平均輸出信號BX提供給二進制轉換器66。
二進制轉換器66在同步圖案檢測電路53的設定脈沖FSET的正向邊的計時，利用預定基準值把除法器65的平均輸出信號BX轉換為二進制信號，并且，輸出二進制信號作為再現盤ID碼SC1。也就是說，由選擇器59再現的盤ID碼SC1的再現數據RX轉換為二進制盤ID碼SC1，并輸出給ECC解碼電路67。
ECC解碼電路67基于增加到其上的糾錯碼而對盤ID碼SC1糾錯，并且，輸出經過糾錯的盤ID碼SC1。
<第一實施例的操作>
在制造根據第一實施例的緊湊盤41A的過程中，原版盤2暴露在記錄激光束下，產生母盤，其中，記錄激光束基于從圖1所示光盤記錄設備1A中的數字錄音帶記錄器10輸出的數字音頻信號D1。從因此形成的母盤生產根據第一實施例的緊湊盤41A。
在使原版盤2暴露在記錄激光束下時，數字音頻信號D1由第一調制電路11轉換為EFM信號S2，其中，EFM信號S2的信號電平在為基本周期T整數倍的周期上切換，其中，基本周期T由一個通道時鐘脈沖CK的周期T表示。在導入區中，TOC數據，而不是數字音頻信號D1，相似地轉換為EFM信號S2。
EFM信號S2接著由第二調制電路7轉換為調制信號S3，調制信號S3通過光學調制器6記錄在原版盤2上。從而，數字音頻信號D1和TOC數據記錄在原版盤2上，作為凹坑和平面的重復序列，其中，所述凹坑和平面的長度是與一個通道時鐘脈沖CK的周期相應的基本長度的整數倍。
為了在原版盤2的除導入區之外的區域中記錄調制信號S3，根據EFM信號S2的信號電平產生調制信號S3。為了在原版盤2的導入區中記錄調制信號S3，通過局部切換EFM信號S2的信號電平，在原版盤2上的凹坑序列中產生寬度局部縮小的凹坑，而產生調制信號S3。也就是說，調整一些凹坑的凹坑寬度，以便在原版盤2上記錄盤ID碼SC1。
在盤ID碼產生電路12中，模N計數器121對幀時鐘脈沖FCK計數，并輸出計數值CT1。基于計數值CT1而訪問盤ID碼表格電路122，以產生向一幀分配一位的低頻二進制數，由此產生盤ID碼SC1及其糾錯碼。
在第二調制電路7中，偽隨機數產生電路23與通道時鐘脈沖CK同步地產生逐幀重復的M-序列隨機數數據MS。“異或”電路25對M-序列隨機數數據MS、計數器24的觸發信號TGL、以及盤ID碼SC1進行“異或”運算。因而，用隨機數數據MS和觸發信號TGL對盤ID碼SC1調制。
具體地，由于在M-序列隨機數數據MS中邏輯電平“1”和邏輯電平“0”以相同的概率出現，并且在觸發信號TGL中邏輯電平“1”和邏輯電平“0”以相同的概率出現，因此，盤ID碼SC1被調制為邏輯電平“1”和邏輯電平“0”以相同概率出現的“異或”信號MS1。
D觸發器26用EFM信號S2的正向邊對“異或”信號MS1閂鎖，其中，所述正向邊與每個凹坑的邊緣相對應。7T或更多T檢測電路28檢測EFM信號S2的信號電平的正向邊，所述正向邊對應于其長度與7T或更多T相應的凹坑，其中，T代表基本周期T。AND電路29與7T或更多T檢測電路28檢測的信號電平的正向邊同步地選擇D觸發器26的閂鎖信號。AND電路29的輸出信號觸發單穩多諧振蕩器30，單穩多諧振蕩器30把其輸出信號或調制脈沖MMP作用到“異或”電路32上，其中，“異或”電路32局部切換EFM信號S2的信號電平。
由于長度等于或大于周期7T的凹坑的凹坑寬度局部縮小，因此在原版盤2上記錄盤ID碼SC1。具體地，在原版盤2上連續產生凹坑的同時，當通過對M-序列隨機數數據MS、觸發信號TGL、以及盤ID碼SC1求“異或”而產生的“異或”信號MS1為邏輯電平“1”并且凹坑長度為7T或更長時，凹坑寬度局部縮小。
在切換EFM信號S2的邏輯電平以產生調制信號S3，從而產生具有局部縮小寬度的凹坑時，延遲電路31使EFM信號S2相對于從單穩多諧振蕩器30輸出的調制脈沖MMP延遲，并且向“異或”電路32提供延遲EFM信號S2D。從而，調制信號S3的邏輯電平的切換不影響EFM信號S2的邊緣計時。
具體地，如果對于長度等于或大于周期7T的凹坑縮小凹坑寬度，那么，調制脈沖MMP的正向邊就比EFM信號S2D的相應正向邊落后大約3T或更多T，從而，在距EFM信號S2D的正向邊計時間隔預定時間(如圖6(B)所示，與距凹坑邊緣的距離L相對應)時，發生與調制脈沖MMP相應的調制信號S2的邏輯電平的切換。
以此方式，盤ID碼SC1被記錄為輔助信息的實例，并且不影響每個凹坑的邊緣信息，其中，所述邊緣信息作為用于再現數字音頻信號和TOC數據的基準。
從單穩多諧振蕩器30輸出的調制脈沖MMP的脈沖持續時間被設定為比一個通道時鐘脈沖CK周期更短的值，由此產生具有局部縮小寬度的凹坑，其中，所述局部縮小寬度比平均凹坑寬度小10％。此凹坑寬度縮小對于防止再現信號RF因記錄的盤ID碼SC1而被錯誤識別為二進制電平是有效的。
通過局部縮小凹坑寬度10％來記錄盤ID碼SC1，而且通過用邏輯電平“1”和邏輯電平“0”以相同概率出現的M-序列隨機數數據MS調制盤ID碼SC1，再現信號RF中因凹坑寬度改變而引起的變化被觀察為增加到再現信號RF上的噪聲，這使得難以觀察和發現盤ID碼SC1，并且難以拷貝盤ID碼SC1。
另外，由于向一個幀分配一位盤ID碼SC1，因此，即使再現信號因噪音等而改變，也能可靠地再現盤ID碼SC1。
從因此產生的原版盤2制造的緊湊盤41A接著由圖7所示緊湊盤播放器40A再現。在緊湊盤播放器40A中，光學拾波器44對緊湊盤41A作用激光束，并且檢測從緊湊盤41A返回的激光束。光學拾波器44輸出其信號電平隨著返回激光束的光量而改變的再現信號RF。再現信號RF的信號電平根據記錄在緊湊盤41A上的凹坑寬度而改變。光學拾波器44的再現信號RF由二進制轉換器45轉換為二進制信號BD，并由EFM解調電路47解調和解交織，其中，二進制信號BD被識別為二進制電平。EFM解調電路47的輸出信號由ECC解碼電路48糾錯，由此再現數字音頻信號D1。
在緊湊盤41A上，長度等于或大于7T周期的凹坑包括在距凹坑邊緣(前緣和后緣兩者中的每一個)至少與3T周期相應距離的位置上局部縮小寬度的凹坑。激光束的光束點在不同的時間掃描這些凹坑的邊緣以及凹坑寬度局部縮小的位置。相應地，再現信號RF沒有因這些凹坑的凹坑寬度局部縮小而導致的不利效果。
由于防止在凹坑邊緣附近從凹坑檢測的信號電平因凹坑寬度局部縮小而改變，因此，可在普通緊湊盤播放器上正常地再現具有盤ID碼SC1的緊湊盤41A，其中，盤ID碼SC1在緊湊盤41A上被記錄為輔助信息。
為了從緊湊盤41A再現數字音頻信號D1，事先再現在緊湊盤41A的導入區中被記錄為縮小凹坑寬度的盤ID碼SC1。如果不能正確地再現盤ID碼SC1，那么，系統控制電路50就判斷緊湊盤41A是非法拷貝，并且，系統控制電路50控制數字-模擬轉換器49停止數字-模擬轉換處理。
具體地，當從緊湊盤41A的導入區再現盤ID碼SC1時，圖8所示同步圖案檢測電路53檢測幀同步信號，并且，偽隨機數序列產生電路55基于檢測的幀同步信號而產生與所記錄M-序列隨機數數據MS相對應的M-序列隨機數數據MZ。
模擬-數字轉換器57把再現信號RF轉換為數字再現信號(EFM信號)。選擇器59基于“異或”信號MCZ而選擇數字再現信號(EFM信號)或極性反相數字再現信號，由此產生再現數據RX，其中，“異或”信號MCZ通過對M-序列隨機數數據MZ和觸發信號TT進行“異或”運算而產生，再現數據RX包括代表盤ID碼SC1的邏輯電平的多值數據。
在一個實例中，由于凹坑寬度只縮小10％，因此，再現數據RX具有非常差的SN比。累加器63和加法器62逐幀地累加再現數據RX，并且，除法器65除累加值，以產生平均值，因而提高SN比。
除法器65的輸出數據BX由二進制轉換器66轉換為代表盤ID碼SC1的二進制數據。隨后，盤ID碼SC1由ECC解碼電路67糾錯，并接著輸出給系統控制電路50。
對于以上布置，由于周期性地對從線性反饋移位寄存器產生的偽隨機數數據序列(M-序列隨機數數據MS)進行反相，因此，由此產生的偽隨機數數據不能由任何線性反饋移位寄存器產生。使用偽隨機數數據序列，有可能使得難以分析從緊湊盤41A再現的盤ID碼SC1，因而，基于盤ID碼SC1而拒絕非法拷貝。
通過用EFM信號S2的正向邊對線性反饋移位寄存器產生的偽隨機數數據序列MS和周期性變化的觸發信號TGL的組合進行閂鎖，而產生盤ID碼SC1。任何試圖制造非法拷貝的人都必須準確地再現偽隨機數數據、觸發信號周期和閂鎖位置，并且發現難以記錄盤ID碼SC1。與偽隨機數數據序列MS組合的觸發信號TGL代表邏輯電平“1”和“0”的重復圖案。由于用于調制盤ID碼SC1的信號具有以相同概率發生的邏輯電平“1”和“0”，因此，盤ID碼SC1能以與噪音不容易區分的方式記錄。結果，難以發現和分析盤ID碼SC1。進而，當再現緊湊盤41A時，可不受噪音不利影響地再現盤ID碼SC1。
由于通過組合偽隨機數數據序列MS和周期性變化的觸發信號TGL產生的信號具有以相同概率發生的邏輯電平“1”和“0”，因此，即使盤ID碼SC1應用于長度等于或大于7T周期并且在一個幀中隨機出現的凹坑，也能可靠地再現盤ID碼SC1。
為了再現盤ID碼SC1，選擇器59基于“異或”信號MCZ而選擇數字再現信號，其中，“異或”信號MCZ是基于M-序列隨機數數據MZ和觸發信號TT而產生的。從而，能可靠地再現以不容易發現和分析的方式記錄的盤ID碼SC1。
第一實施例的修改在上述第一實施例中，改變長度等于或大于7T周期的凹坑的凹坑寬度，以記錄盤ID碼。然而，根據本發明，如果再現系統具有用于再現信號抖動的足夠裕量，就可改變長度等于或大于6T周期的凹坑的凹坑寬度，以記錄盤ID碼。
在上述第一實施例中，在距凹坑邊緣預定距離的位置上縮小凹坑寬度。然而，如圖10(A)所示，具有一定長度或更長的凹坑的凹坑寬度可在凹坑的中央縮小，或者如圖10(B)所示，可在凹坑的中央增加具有一定長度或更長的凹坑的凹坑寬度，或者如圖10(C)所示，通過局部增加和縮小凹坑寬度而以三個值記錄盤ID碼。
可替換地，如圖10(D)所示，可在比與一個通道時鐘脈沖周期相應的長度更大的長度上改變凹坑的凹坑寬度。
在上述第一實施例中，記錄由每個幀一位表示的盤ID碼。然而，可向預定數量的凹坑分配由一位表示的盤ID碼，其中，所述每一個凹坑都具有預定的或更大的長度；或者，向凹坑周期性地連續分配由多位表示的盤ID碼，其中，所述每一個凹坑都具有用于預定周期的預定的或更大的長度。
如果向預定數量的凹坑分配由一位表示的盤ID碼，就可省去再現系統中的凹坑計數器64和除法器65。
第二實施例根據上述第一實施例，用輔助信息局部調制凹坑寬度。根據以下描述的本發明第二實施例，用輔助信息調制凹坑的記錄位置，即，所述位置在與激光束掃描凹坑方向正交的方向上擺動，其中，所述掃描方向即為與軌道橫交的方向。
在第一實施例中，盤ID碼被記錄為變化的凹坑寬度。在第二實施例中，用凹坑和平面記錄加密的數字音頻信號，并且，對加密數字音頻信號進行解密所需的密鑰信息被記錄為輔助信息。
圖11以框圖形式示出根據第二實施例的光盤記錄設備1B。光盤記錄設備1B中與圖1所示根據第一實施例的光盤記錄設備1A相同的那些部件用相同的參考符號表示，并且在以下不詳細描述。
在第二實施例中，數字音頻帶記錄器10的數字音頻信號D1提供給加密電路61，其中，加密電路61基于加密密鑰信息KY而對數字音頻信號D1加密。加密數字音頻信號S1提供給第一調制電路11。
第一調制電路11基于加密數字音頻信號S1和子碼發生器62提供的子碼數據而對緊湊盤執行預定的數據處理操作，并產生EFM信號S2。
第一調制電路11的EFM信號S2提供給光學調制器6，其中，光學調制器6用EFM信號S2對記錄激光器5的激光束L1進行調制。調制激光束L1通過光學偏轉器64作用到原版盤2上，原版盤2暴露在調制激光束L1下。
密鑰調制電路63從加密密鑰信息KY產生密鑰調制信號KS。光學偏轉器64基于密鑰調制電路63的密鑰調制信號KS而使激光束L2偏轉，使激光束L2在原版盤2上的掃描位置在原版盤2的徑向方向上位移，由此使原版盤2上的凹坑位置在徑向方向上位移，即，在與激光束L2掃描原版盤2的方向正交的方向上位移。
圖12以框圖形式示出密鑰調制電路63的細節。如圖12所示，密鑰調制電路63包括同步檢測電路21、時鐘再現電路22、偽隨機數序列產生電路23、計數器24、“異或”電路25、以及D觸發器26，其中，這些部件與根據第一實施例的第二調制電路7中的部件相同。
根據第二實施例，子碼檢測電路71從EFM信號S2檢測子碼，并對子碼進行解碼。子碼檢測電路71監視在被解碼的子碼中包含的時間信息，并且，輸出一秒鐘檢測脈沖SECP，其中，每次時間信息改變一秒鐘時，脈沖SECP的信號電平變高。根據緊湊盤格式，由于對一秒鐘分配98幀，因此，子碼檢測電路71輸出信號電平在98個幀時鐘脈沖FCK周期中變高的一秒鐘檢測脈沖SECP。
一秒鐘檢測脈沖SECP提供給計數器72的重置端。計數器72從同步檢測電路21計算時鐘脈沖FCK。當一秒鐘檢測脈沖SECP變高時，計數器72重置其計數輸出CT。從而，計數器72作為計數值CT在一秒鐘周期內循環的環形計數器，并且，計數值CT與幀時鐘脈沖FCK同步地改變。
從計數器72輸出的計數值CT提供給數據選擇器73。數據選擇器73輸出保存的數據，其中，所述數據由計數器72的計數值CT尋址。
由于從計數器72輸出的計數值CT與同步圖案同步地、以與一秒鐘內的幀數(98幀)一樣多的次數周期性地連續改變，因此，通過計數值CT尋址數據選擇器73，與同步圖案同步地連續輸出98種數據段。
由于從計數器72輸出的計數值CT借助一秒鐘檢測脈沖SECP而在每一秒鐘內循環，因此，數據選擇器73在連續的秒鐘周期內重復輸出98種數據段。
數據選擇器73與同步圖案同步地在連續的秒鐘周期內重復輸出98種數據段，其中，所述每個數據段都包括1位數據。向98位數據的一些數據分配54位的加密密鑰信息KY，并且，向98位數據的剩余44位分配無意義數據位。在本實施例中，固有值數據KZ被分配為無意義數據。
數據選擇器73向“異或”電路25提供輸出數據KD。
“異或”電路25對M-序列隨機數數據MS(參見圖13(C))、計數器24的觸發信號TGL(參見圖13(D))和數據選擇器73的輸出數據KD求“異或”，并且，輸出“異或”信號MS1b(參見圖13(E))。
具體地，當觸發信號TGL為電平“0”時，如果數據選擇器73的輸出數據KD為邏輯電平“0”，“異或”電路25就輸出“異或”信號MS1b，其中，“異或”信號MS1b由M-序列隨機數數據MS的邏輯電平表示。相反，如果數據選擇器73的輸出數據KD為邏輯電平“1”，“異或”電路25就輸出“異或”信號MS1b，其中，“異或”信號MS1b由M-序列隨機數數據MS的邏輯電平的反相表示。從而，“異或”電路25用M-序列隨機數數據MS和觸發信號TGL對加密密鑰信息KY進行調制，其中，加密密鑰信息KY用數據選擇器73的輸出數據KD代表。“異或”電路25的“異或”信號MS1b提供給D觸發器26的D端子。
D觸發器26具有被提供EFM信號S2(參見圖13(A))的時鐘端子。從而，D觸發器26產生閂鎖輸出信號MSHb(參見圖13(F))，信號MSHb表示“異或”信號MS1b的電平在EFM信號S2的各個正向邊被閂鎖。
在本實施例中，從原版盤2制造的光盤包含其掃描開始邊與EFM信號S2的正向邊相應的凹坑，其中，原版盤2暴露在通過EFM信號S2的信號電平調制的激光束下。
在“異或”電路25以通道時鐘脈沖CK(參見圖13(B))的周期連續輸出的輸出數據MS1b中，D觸發器26對在開始形成每個凹坑時產生的輸出數據MS1b進行閂鎖，并且保存閂鎖輸出數據MS1b的邏輯電平，直到完全形成至少一個凹坑為止，其中，所述周期作為用于形成凹坑的基準周期。
D觸發器26通過放大器74輸出輸出信號MSHb，作為密鑰調制電路63的輸出信號KS。放大器74是用于激勵光學偏轉器64的激勵放大器。對于整個凹坑，放大器74的輸出信號KS改變激光束點在原版盤2的徑向方向上的位置。
放大器74的增益設定得使激光束點在原版盤2上的位置最大位移軌道間距的1/50，由此防止損壞由光盤記錄設備1B記錄成凹坑序列的數據。
根據第二實施例，對光盤記錄設備1B制造的原版盤2進行顯影，并接著電鑄成母盤。接著，用母盤制造壓模。隨后，以與普通緊湊盤制造過程相同的方式，從壓模制造光盤41B。
根據第二實施例，光盤41B包含被記錄為凹坑序列的加密音頻數據D1和被記錄為徑向位移凹坑的加密密鑰信息KY。
在普通的緊湊盤上，根據EFM信號S2，在軌道中央上連續形成凹坑，根據凹坑長度和凹坑間隔而記錄音頻數據(參見圖13(G))。在根據第二實施例的光盤41B上，根據凹坑長度和凹坑間隔而記錄加密音頻數據，并且，用于對加密音頻數據解密的密鑰信息KY被記錄為徑向位移的凹坑(參見圖13(H))。
以下描述被因此記錄成輔助信息的密鑰信息KY的再現過程。圖14以框圖形式示出用于再現如上所述制造的光盤41B的光盤再現設備40B。光盤再現設備40B中與圖7所示光盤播放器40A相同的那些部件用相同的參考符號表示，并且在以下不詳細描述。
在圖14所示的光盤再現設備40B中，由于對ECC解碼電路48的輸出信號加密，因此，解密電路81用密鑰信息KY對ECC解碼電路48的加密輸出信號解密，其中，密鑰信息KY是由加密密鑰檢測電路80從光盤41B上的記錄信號檢測到的。
光學拾波器44對光盤41B作用激光束，并且用光電檢測器檢測從光盤41B返回的激光束。光學拾波器44輸出再現信號RF，其中，再現信號RF的信號電平隨著光電檢測器檢測表面上返回激光束的光量而改變。再現信號RF的信號電平根據記錄在光盤41B上的凹坑而改變。
光學拾波器44根據推挽方法對從光盤41B返回的激光束進行處理，產生推挽信號PP，其中，推挽信號PP的信號電平隨著凹坑相對于光盤41B上激光束點的位置而改變。光學拾波器44還產生和輸出其信號電平隨著聚焦誤差量而改變的聚焦誤差信號。
伺服電路43限制光學拾波器44的推挽信號PP的頻帶，以產生跟蹤誤差信號，其中，跟蹤誤差信號的電平隨著激光束點相對于軌道中心的離軌量(脫軌量)而改變。伺服電路43基于跟蹤誤差信號而對光學拾波器44執行跟蹤控制，以調節激光束點在光盤41B上的位置。伺服電路43還基于聚焦誤差信號而對光學拾波器44執行聚焦控制，以使激光束點在光盤41B上聚焦。
根據第二實施例，光學拾波器44的推挽信號PP提供給高通濾波器82。高通濾波器82從推挽信號PP除去激光束點相對于軌道中心的離軌量，并且，輸出位移檢測信號HPP，其中，推挽信號PP的信號電平隨著凹坑相對于光盤41B上的激光束點的位置而改變，位移檢測信號HPP的信號電平隨著凹坑相對于軌道中心的位置而改變。
向加密密鑰檢測電路80提供來自時鐘再現電路46的通道時鐘脈沖CCK、來自二進制轉換器45的二進制信號BD以及來自高通濾波器82的位移檢測信號HPP，并且，加密密鑰檢測電路80從位移檢測信號HPP檢測密鑰信息KY。
圖15以框圖形式示出加密密鑰檢測電路80的細節。
如圖15所示，子碼檢測電路801基于時鐘再現電路46的通道時鐘脈沖CCK(參見圖9(C))而監視二進制信號BD(參見圖9(A)和9(B))，并且對二進制信號BD的子碼信息進行解碼。子碼檢測電路801監視被解碼的子碼信息的時間信息，并且輸出一秒鐘檢測脈沖SECP，其中，每次時間信息改變一秒鐘時，脈沖SECP的信號電平變高。
同步圖案檢測電路802基于時鐘再現電路46的通道時鐘脈沖CCK而對二進制轉換器45的二進制信號BD連續閂鎖，并且確定二進制信號BD的連續邏輯電平，以檢測幀同步信號。基于檢測的幀同步信號，同步圖案檢測電路802在每個幀開始時輸出在一個通道時鐘脈沖CCK周期內信號電平為高的設定脈沖FSET(參見圖9(E))，并且在設定脈沖FSET之后輸出在一個通道時鐘脈沖CCK周期內信號電平為高的清零脈沖FCLR(參見圖9(D))。
二進制信號BD具有在588個通道時鐘脈沖的周期內每秒鐘重復98次的同步圖案。從而，同步圖案檢測電路802與同步圖案同步地輸出清零脈沖FCLR和設定脈沖FSET。
凹坑檢測電路803基于通道時鐘脈沖CCK而對二進制信號BD連續閂鎖，并且比較兩個連續的閂鎖數據，從二進制信號BD檢測凹坑前緣的時間。根據檢測的時間，凹坑檢測電路803在凹坑前緣的計時輸出邊緣檢測信號PT。相似地，凹坑檢測電路803檢測凹坑后緣的時間，并且，基本上在每個凹坑的凹坑前緣計時與凹坑后緣計時的中間輸出中間檢測信號CTP。
在偽隨機數序列產生電路804中具有ROM，電路804用同步圖案檢測電路802的清零脈沖FCLR對地址初始化。接著，電路804基于通道時鐘脈沖CCK而對地址步進，以訪問ROM，由此產生與光盤記錄設備1B產生的M-序列隨機數數據MS相對應的M-序列隨機數數據MX。
閂鎖電路805用凹坑檢測電路803的邊緣檢測信號PT對偽隨機數序列產生電路804的M-序列隨機數數據MX進行閂鎖，并且輸出經過閂鎖的M-序列隨機數數據MZb。也就是說，閂鎖電路805在與密鑰調制電路63中“異或”電路25的處理操作相關的時間，即在開始形成每個凹坑時，對M-序列隨機數數據MX進行閂鎖，并且，輸出M-序列隨機數數據MZb，其中，M-序列隨機數數據MZb保存經過閂鎖的M-序列隨機數數據MX，直到一個凹坑結束為止。
計數器806包括對通道時鐘脈沖CCK計數的4位計數器。計數器806由從同步圖案檢測電路802輸出的清零脈沖FCLR清零。計數器806提供計數器值的最高有效位，作為觸發信號TT。觸發信號TT與在光盤記錄設備1B中產生的觸發信號TGL相對應。觸發信號TT提供給“異或”電路807。
“異或”電路807通過對從閂鎖電路805輸出的M-序列閂鎖信號MZb和從計數器806輸出的觸發信號TT進行“異或”而產生“異或”信號MCZb，并且把產生的“異或”信號MCZb作為選擇控制信號而提供給選擇器808。
模擬-數字轉換器809基于通道時鐘脈沖CCK而把高通濾波器82的位移檢測信號HPP轉換為8位數字信號。數字信號直接提供給選擇器808。數字信號的極性還由極性反相電路810反相，并接著提供給選擇器808。
根據“異或”電路807的“異或”信號MCZb的邏輯電平，選擇器808從模擬-數字轉換器809直接提供的數字信號和極性反相電路810的極性反相數字再現信號中選擇任一個，并輸出其。
具體地，當“異或”信號MCZb為邏輯電平“1”時，選擇器808選擇并輸出從模擬-數字轉換器809直接提供的數字信號，并且，當“異或”信號MCZb為邏輯電平“0”時，選擇器808選擇并輸出極性反相數字再現信號。從而，選擇器808把借助M-序列信號MS調制的加密密鑰信息KY的邏輯電平與觸發信號TGL再現為多值數據，并向加法器811輸出多值數據，作為再現數據RX。
加法器811包括16位數字加法器，加法器811把再現數據RXb與累加器812的輸出數據AXb相加，并輸出和數據，其中，累加器812對加法器811的輸出數據進行累加。累加器812包括16位存儲器，其中，16位存儲器用于保存加法器811的輸出數據，并向加法器811反饋累加數據。加法器811和累加器812聯合用作累加加法器。
具體地，在累加器812用同步圖案檢測電路802的清零脈沖FCLR清除其累加數據之后，累加器812與凹坑檢測電路803的信號CTP同步地累加加法器811的輸出數據。累加器812向二進制轉換器813輸出累加值AXb。
二進制轉換器813基于預定基準值而把累加器812的累加值AXb轉換為二進制數據，并且輸出二進制數據。具體地，二進制轉換器813把選擇器808的密鑰信息KY(KD)的多值再現數據RXb轉換為二進制數據，并且向移位寄存器814輸出二進制數據。
移位寄存器814包括98位移位寄存器，移位寄存器814在設定脈沖FSET的正向邊的計時連續地讀取和輸出二進制轉換器813的二進制數據。移位寄存器814向閂鎖觸發器815傳遞輸出數據。
觸發器815在與一秒鐘檢測脈沖SECP相關的時間讀取和保存移位寄存器814的輸出數據，作為并行數據。從而，觸發器815保存包括密鑰信息KY和固有值數據KZ的數據KD。加密密鑰檢測電路80從觸發器815有選擇性地輸出位，向解密電路81提供密鑰信息KY，以對加密數字音頻信號進行解密。
在第二實施例中，盡管從每個凹坑獲得的位移檢測信號HPP代表小的位移，但是，如上所述，即使SN比極差，也在一個幀上累加位移檢測信號HPP，并且，在高SN時，位移檢測信號HPP被識別為二進制電平，以再現密鑰信息KY。因而可靠地再現難以發現的密鑰信息KY。
在加密密鑰檢測電路80中，當累加器812累加位移檢測信號HPP的信號電平時，累加器812在與每個凹坑中心相應的時間讀取和累加加法器811的和。從而，加密密鑰檢測電路80可在信號電平足夠穩定時，累加位移檢測信號HPP的信號電平，因而進一步提高檢測密鑰信息的準確度。
第二實施例的修改在上述第二實施例中，向一個幀分配一位密鑰信息。然而，可向一個幀分配多位密鑰信息，或者，向多個幀分配一位密鑰信息。可替換地，不是向被記錄為凹坑序列的一幀或多幀音頻數據分配一位或多位密鑰信息，而是基于凹坑數量而分配一位密鑰信息。
在上述第二實施例中，向一個幀分配一位密鑰信息，由此在50或更多的凹坑上分配和記錄一位密鑰信息。然而，如果需要，被分配一位密鑰信息的凹坑數量可設定為各種值。
在上述第二實施例中，在密鑰信息上增加無意義數據位，并一起記錄。然而，可在密鑰信息上增加糾錯碼，并一起記錄。也可在密鑰信息上增加版權數據，并一起記錄。
在上述第二實施例中，把加密音頻數據解密所需的密鑰信息被記錄為輔助信息。然而，通過改變凹坑的記錄位置，可記錄對加密音頻數據解密所需的各種數據，如對密鑰信息進行選擇和解碼所需的數據，作為輔助信息。
第二實施例也可應用于把根據第一實施例的盤ID碼記錄為輔助信息。
其它實施例根據本發明，改變凹坑或標記的記錄軌跡的過程不局限于以上描述的第一實施例和第二實施例。
根據替代實施例，可通過用偽隨機數數據序列和觸發信號對輔助信息調制而產生的信號，調制EFM信號S2的正向邊或負向邊的時間，由此控制凹坑或標記的長度(凹坑或標記沿著軌道掃描方向的長度)，從而，凹坑或標記的前緣或后緣的位置將在基本周期T的10％內位移，因而，改變記錄軌跡(參見日本專利特開平No.11-126426)。
在此實例中，可通過與根據第一實施例的光盤再現設備40的盤ID碼再現電路相似的電路，對輔助信息進行解調。
可替換地，基于通過用偽隨機數數據序列和觸發信號對輔助信息調制而產生的信號，可在距凹坑或標記的邊緣預定距離的位置上，局部改變信息記錄表面的反射率，由此改變凹坑或標記的記錄軌跡，以記錄輔助信息(參見日本專利特開平No.11-191218)。
在以上實例中使用的光盤的反射記錄表面是與CD-R(可記錄緊湊盤寫一次光盤)的信息記錄表面相同的膜結構。此光盤構造為當光量等于或大于預定電平的激光束作用到光盤上時，反射記錄表面在被作用激光束的位置上的反射率不可逆轉地改變，并且，反射率的變化可被檢測為返回光量的變化。
通過精加工設備在主信息被記錄為凹坑或標記的光盤上追加記錄輔助信息。具體地，根據基于輔助信息的數據序列，在距凹坑或標記的邊緣預定距離的位置上，局部改變光盤的信息記錄表面的反射率，其中，所述輔助信息由通過組合偽隨機數數據序列和給定周期信號而產生信號調制。
由于輔助信息追加記錄所導致的反射率變化，來自光盤的再現信號RF具有局部改變的信號電平，其中，在所述光盤上追加記錄輔助信息。可基于再現信號RF的信號電平中的變化而再現輔助信息。
進一步地，可替換地，基于用偽隨機數數據序列和觸發信號調制輔助信息而產生的信號，在激光束跨過凹坑或標記時，通過局部改變光盤的反射率，可在光盤上記錄輔助信息(參見日本專利特開平No.11-163750)。
在以上實施例中，計數器24和計數器60中的每一個都包括4位計數器。然而，在它們輸出信號中以相同概率出現邏輯電平“1”和邏輯電平“0”的情況下，可以使用其它位長的計數器。
在以上實施例中，計數器24和計數器60或計數器806中的每一個都是用于以相同間隔輸出邏輯電平“1”和邏輯電平“0”的簡單布置。然而，可組合多個計數器，以產生代表邏輯電平重復序列的周期信號，如，在7個通道時鐘脈沖內為邏輯電平“1”、在接下來的9個通道時鐘脈沖內為邏輯電平“0”、在接下來的9個通道時鐘脈沖內為邏輯電平“1”、以及在接下來的7個通道時鐘脈沖內為邏輯電平“0”。如果在信號的每個重復周期中邏輯電平“1”的數量和邏輯電平“0”的數量相同，該信號就可用作周期性觸發信號TGL或TT。
在以上實施例中，計數器24和計數器60或計數器806中的每一個都包括寄存器，其中一個寄存器產生輸出信號。然而，可設置儲存相同數量邏輯電平“1”和邏輯電平“0”的表格，并且，通過計數器的計數值尋址，可查詢所述表格，以產生代表從所述表格讀取的邏輯電平序列的周期信號。
在第一實施例中，代表偽隨機數序列(M-序列隨機數)與周期性觸發信號(TGL，TT)組合的信號用于記錄和再現輔助信息，如盤ID信號SC1或密鑰信息KY。然而，可在表格中記錄代表偽隨機數序列與周期性觸發信號組合的信號，并且，可查詢該表格來取代隨機數產生電路23、55、804以及計數器24、60、806。
在以上實施例中，對導入區中凹坑的凹坑寬度進行調制，以便在以凹坑和平面記錄代表主信息的數據序列之外，記錄代表輔助信息的數據序列。進而，根據本發明，可改變凹坑或標記的記錄軌跡，以在各種區域，如用戶區中記錄代表輔助信息的數據序列。例如，改變凹坑或標記的記錄軌跡，以在沒有輔助信息的區域中記錄代表輔助信息的數據序列，使得難以發現其中記錄代表輔助信息的數據的區域。
在以上實施例中，諸如數字音頻信號的主信息和諸如盤ID碼的輔助信息轉換為二進制信號，并且被再現。本發明還可應用于任何各種識別處理，如維特比解碼處理。
在以上實施例中，對數字音頻信號進行EFM調制并進行記錄。然而，本發明還可應用于通過任何各種調制處理，如1-7調制處理、8-16調制處理和2-7調制處理，調制的數字音頻信號。
在以上實施例中，所希望的數據被記錄為凹坑和平面。然而，本發明還可應用于把希望的數據記錄成標記和空白。
在以上實施例中，本發明應用于記錄音頻信號的緊湊盤及其外圍裝置。然而，本發明也可應用于諸如視頻盤的各種光盤及其外圍裝置。
工業應用根據本發明，由于通過預定的周期信號對偽隨機數進行調制，因此，即使(在幾十個重復周期中)觀察幾十個偽隨機數，也難以估計偽隨機數序列的結構。從而，任何試圖制造非法拷貝的人發現難以分析和復制其上記錄輔助信息的光盤。
權利要求
1.一種光盤記錄設備，所述設備根據主信息而產生調制信號，其中，所述調制信號的信號電平在為基本周期整數倍的周期上切換，并且，所述設備基于所述調制信號而控制作用到光盤上的光束，以在所述光盤上連續地形成凹坑和平面或標記和空白，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用與所述基本周期相應的基本長度的整數倍來表示，其中，基于輔助信息的數據序列通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制，并且，根據調制的數據序列而改變所述凹坑或所述標記的記錄軌跡，由此在所述光盤上記錄所述輔助信息。
2.如權利要求1所述的光盤記錄設備，包括第一調制信號產生單元，所述第一調制信號產生單元根據所述主信息而產生第一調制信號，其中，第一調制信號的信號電平在為基本周期整數倍的周期上切換；第二調制信號產生單元，所述第二調制信號產生單元用基于所述輔助信息的數據序列的信號來調制所述第一調制信號；記錄光束調制單元，所述記錄光束調制單元用從所述第二調制信號產生單元輸出的信號對所述光束進行調制；以及向所述光盤作用所述光束的光學系統；所述第二調制信號產生單元包括用于產生偽隨機數的偽隨機數產生單元；用于產生所述預定周期信號的周期信號產生單元；輔助信息調制單元，所述輔助信息調制單元利用由來自所述偽隨機數產生單元的隨機數與來自所述周期信號產生單元的預定周期信號的組合代表的信號而對基于所述輔助信息的數據序列進行調制；以及調制信號處理單元，所述調制信號處理單元基于來自所述輔助信息調制單元的調制數據序列，對所述第一調制信號進行調制，以稍微改變所述凹坑或所述標記的記錄軌跡。
3.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，所述周期信號包括以至少為所述基本周期兩倍的周期反相的信號。
4.如權利要求2所述的光盤記錄設備，其中，所述周期信號產生單元包括計數器。
5.如權利要求2所述的光盤記錄設備，其中，所述周期信號產生單元包括組合多個信號而產生所述周期信號的單元，所述多個信號以至少為所述基本周期兩倍的周期反相。
6.如權利要求2所述的光盤記錄設備，其中，所述偽隨機數產生單元包括線性反饋移位寄存器。
7.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，在與所述凹坑或所述標記的中心相對應的時間上，在與基本相同擴展的周期相對應的位置上改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡。
8.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，基于所述輔助信息的所述數據序列包括用于識別所述光盤的標識數據序列。
9.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，所述主信息被加密，并記錄在所述光盤上，并且，基于所述輔助信息的所述數據序列包括對加密主信息解密所需的數據序列。
10.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，在距與所述凹坑或所述標記的邊緣相應的時間預定間隔的時間上，通過改變所述凹坑或所述標記的寬度而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，所述凹坑或所述標記具有等于或大于預定長度的長度。
11.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，根據基于所述輔助信息的數據序列，通過使所述光束作用于所述光盤上的位置在所述光盤的徑向方向上位移，而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，通過由偽隨機數序列與預定周期信號的組合代表的信號而對所述輔助信息進行調制。
12.如權利要求1所述的光盤記錄設備，其中，根據基于所述輔助信息的數據序列，通過改變所述凹坑或所述標記的長度而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，通過由偽隨機數序列與預定周期信號的組合代表的信號而對所述輔助信息進行調制。
13.一種光盤記錄設備，所述設備根據主信息而產生調制信號，其中，所述調制信號的信號電平在為基本周期整數倍的周期上切換，并且，所述設備基于所述調制信號而控制作用到光盤上的光束，以在所述光盤上連續地形成凹坑和平面或標記和空白，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用與所述基本周期相應的基本長度的整數倍來表示，其中，基于輔助信息的數據序列通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制，并且，根據調制的數據序列而局部改變所述光盤的信息記錄表面的反射率，由此在所述光盤上記錄所述輔助信息。
14.一種在光盤上記錄信息的方法，所述方法通過在所述光盤上連續形成凹坑和平面或標記和空白而在所述光盤上記錄主信息，其中，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用預定基本長度的整數倍來表示，所述方法包括以下步驟利用由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制基于輔助信息的數據序列；以及根據調制的數據序列而改變所述凹坑或所述標記的記錄軌跡，由此在所述光盤上記錄所述輔助信息。
15.如權利要求14所述的方法，其中，在距與所述凹坑或所述標記的邊緣相應的時間預定間隔的時間上，通過改變所述凹坑或所述標記的寬度而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，所述凹坑或所述標記具有等于或大于預定長度的長度。
16.如權利要求14所述的方法，其中，根據基于所述輔助信息的數據序列，通過使所述光束作用于所述光盤上的位置在所述光盤的徑向方向上位移，而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，通過由偽隨機數序列與預定周期信號的組合代表的信號而對所述輔助信息進行調制。
17.如權利要求14所述的方法，其中，根據基于所述輔助信息的數據序列，通過改變所述凹坑或所述標記的長度而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，通過由偽隨機數序列與預定周期信號的組合代表的信號而對所述輔助信息進行調制。
18.一種在光盤上記錄信息的方法，所述方法根據主信息而產生調制信號，其中，所述調制信號的信號電平在為基本周期整數倍的周期上切換，并且，所述方法基于所述調制信號而控制作用到光盤上的光束，以在所述光盤上連續地形成凹坑和平面或標記和空白，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用與所述基本周期相應的基本長度的整數倍來表示，所述方法包括以下步驟通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制基于輔助信息的數據序列；以及根據調制的數據序列而局部改變所述光盤的信息記錄表面的反射率，由此在所述光盤上記錄所述輔助信息。
19.一種光盤，所述光盤具有連續形成的凹坑和平面或標記和空白，以便在所述光盤上記錄主信息，其中，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用預定基本長度的整數倍來表示，其中，基于輔助信息的數據序列通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制，并且，根據調制的數據序列而改變所述凹坑或所述標記的記錄軌跡，由此在所述光盤上記錄所述輔助信息。
20.如權利要求19所述的光盤，其中，在距與所述凹坑或所述標記的邊緣相應的時間預定間隔的時間上，通過改變所述凹坑或所述標記的寬度而改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡，其中，所述凹坑或所述標記具有等于或大于預定長度的長度。
21.如權利要求20所述的光盤，其中，在與所述凹坑或所述標記的中心相對應的時間上，在與基本相同擴展的周期相對應的位置上改變所述凹坑或所述標記的所述記錄軌跡。
22.如權利要求20所述的光盤，其中，根據調制的數據序列，所述凹坑或所述標記的寬度至多改變所述凹坑或所述標記的平均寬度的10％。
23.如權利要求19所述的光盤，其中，基于所述輔助信息的所述數據序列包括用于識別所述光盤的標識數據序列。
24.如權利要求19所述的光盤，其中，所述主信息被加密，并記錄在所述光盤上，并且，基于所述輔助信息的所述數據序列包括對加密主信息解密所需的數據序列。
25.如權利要求19所述的光盤，其中，所述凹坑或所述標記具有根據基于所述輔助信息的數據序列而在所述光盤的徑向上位移的位置，其中，通過由偽隨機數序列與預定周期信號的組合代表的信號而對所述輔助信息進行調制。
26.如權利要求19所述的光盤，其中，所述凹坑或所述標記具有根據基于所述輔助信息的數據序列而位移的長度，其中，通過由偽隨機數序列與預定周期信號的組合代表的信號而對所述輔助信息進行調制。
27.一種光盤，所述光盤具有連續形成的凹坑和平面或標記和空白，以便在所述光盤上記錄主信息，其中，所述凹坑和平面或標記和空白的長度用預定基本長度的整數倍來表示，其中，基于輔助信息的數據序列通過由偽隨機數序列和預定周期信號的組合代表的信號來調制，并且，根據調制的數據序列而局部改變所述光盤的信息記錄表面的反射率，由此在所述光盤上記錄所述輔助信息。
28.一種光盤再現設備，所述光盤再現設備在向光盤作用光束時檢測從光盤產生的返回光束，并且處理其信號電平隨著所述返回光束而改變的再現信號，從而再現記錄在所述光盤上的數據序列，所述光盤再現設備包括時鐘再現單元，所述時鐘再現單元再現基于所述再現信號的時鐘信號；第一再現單元，所述第一再現單元基于所述時鐘信號而識別用于二進制電平的所述再現信號，由此再現記錄在所述光盤上的代表主信息的數據序列；以及第二再現單元，所述第二再現單元基于所述時鐘信號而處理所述再現信號中與所述光盤上凹坑或標記的記錄軌跡中的變化相應的一部分，由此再現記錄在所述光盤上的代表輔助信息的數據序列；所述第二再現單元包括用于輸出所述再現信號的檢測信號電平的信號電平檢測單元；用于產生偽隨機數的偽隨機數產生單元；用于產生預定周期信號的周期信號產生單元；選擇單元，所述選擇單元用于改變和選擇來自所述偽隨機數產生單元的所述偽隨機數和來自所述周期信號產生單元的所述預定周期信號的所述信號電平的極性；平均單元，所述平均單元用于檢測和輸出所述選擇單元的選擇結果的平均值；以及用于識別來自所述信號電平檢測單元的檢測信號電平的平均值的單元，以便再現代表所述輔助信息的數據序列。
29.如權利要求28所述的光盤再現設備，其中，所述周期信號產生單元包括計數器。
30.如權利要求28所述的光盤再現設備，其中，所述偽隨機數產生單元包括線性反饋移位寄存器。
31.如權利要求28所述的光盤再現設備，其中，所述選擇單元包括以下單元，所述單元根據代表來自所述偽隨機數產生單元的所述偽隨機數與來自所述周期信號產生單元的所述預定周期信號的組合的信號，選擇和輸出所述信號電平檢測單元的檢測信號電平或代表所述檢測信號電平的反相的信號。
32.如權利要求28所述的光盤再現設備，其中，所述平均單元包括積分單元，所述積分單元對所述選擇單元的選擇結果進行積分，并輸出積分值；計數單元，所述計數單元計算所述選擇單元的選擇結果被積分的次數，并且輸出計數值；以及除法單元，所述除法單元用所述計數值除積分值，并輸出平均值。
33.如權利要求28所述的光盤再現設備，其中，所述第一再現單元基于表示所述輔助信息的數據序列而停止再現表示所述主信息的數據序列。
34.如權利要求28所述的光盤再現設備，其中，所述第一再現單元基于表示所述輔助信息的數據序列而對表示所述主信息的加密數據序列進行解密。
35.一種光盤再現方法，所述方法在向光盤作用光束時檢測從光盤產生的返回光束，并且處理其信號電平隨著所述返回光束而改變的再現信號，從而再現記錄在所述光盤上的數據序列，所述方法包括以下步驟a)再現基于所述再現信號的時鐘信號；b)基于所述時鐘信號而識別用于二進制電平的所述再現信號，由此再現記錄在所述光盤上的代表主信息的數據序列；以及c)基于所述時鐘信號而處理所述再現信號中與所述光盤上凹坑或標記的記錄軌跡中的變化相應的一部分，由此再現記錄在所述光盤上的代表輔助信息的數據序列；所述步驟c)包括以下步驟d)輸出所述再現信號的檢測信號電平；e)改變和選擇偽隨機數和預定周期信號的所述信號電平的極性；f)檢測和輸出所述步驟e)的選擇結果的平均值；以及g)識別所述步驟d)的檢測信號電平的平均值，以便再現代表所述輔助信息的數據序列。
全文摘要
本發明涉及光盤記錄設備及方法、光盤、光盤再現設備及方法，在光盤記錄設備中，根據主信息而產生第一調制信號，第一調制信號的信號電平在為基本周期整數倍的周期上切換，接著，基于第一調制信號而控制照射到光盤上的光束，接著在光盤上連續地形成凹坑和平面或標記和空白，所述凹坑和平面或標記和空白的長度是與基本周期相應的基本長度的整數倍。基于子信息的數據序列通過使用使偽隨機數序列和預定周期信號相乘而得到的信號來調制，并且，根據此調制的結果而改變凹坑或標記的記錄軌跡，由此在光盤上記錄子信息。以此方式，即使在使用偽隨機數序列記錄子信息的情況下，也不容易確定結構，從而，對于試圖進行非法拷貝的人而言，難以制作非法拷貝的盤。
文檔編號G11B7/0045GK1764979SQ20058000010
公開日2006年4月26日 申請日期2005年1月21日 優先權日2004年1月29日
發明者藤木敏宏 申請人:索尼株式會社