專利名稱：光學記錄媒介、管理其缺陷區的方法、其記錄方法及其記錄/再現裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種管理可以高速記錄的光學記錄媒介的缺陷區的方法，其記錄/再現方法，及其記錄/再現裝置。
背景技術：
最近，期望開發和營銷能存儲大容量高清晰度視頻數據和高聲音品質音頻數據的例如光盤的新高密度光學記錄媒介，例如可重寫藍光盤(BD-RE)。
如圖所示1的BD-RE被劃分以向其分配引入區、數據區和引出區。以及，內備用區(ISA)和外備用區(OSA)分別被分配給數據區的前端和后端。
BD-RE按與預定記錄單元相對應的簇單元在其上記錄數據。由于可重寫光盤的特性，BD-RE能重復地在特定區域中記錄數據。因此在這種情況下，能在記錄數據期間檢測數據區上是否存在如圖1所示的缺陷區。在檢測到缺陷區的情況下，用于缺陷區的位置信息(地址-A，地址-B)和通過將記錄于備用區中的另一位置信息(地址-a，地址-b)替換作為管理信息被記錄并存儲于引入區內的缺陷管理區(DMA)的缺陷列表(DFL)中，并且對把應當記錄于相應缺陷區中的數據執行替換記錄實現在例如內備用區(ISA)的備用區上的一系列替換記錄操作。
當前，高速(至少2x-速度)可記錄BD-RE和高速可記錄BD-WO(藍光單次寫入盤)的標準正在討論中。并且，在盤的RPM、最佳寫入功率、寫入脈沖等方面，高速可記錄盤與1x-速度可記錄盤相當不同。
此外，一般，高速記錄區域產生比低速記錄(例如，1x-速度記錄)更多的缺陷區。這種缺陷區降低了相應盤的整體性能并導致相應系統的超負荷。
在當前討論的高速可記錄BD-RE或BD-WO的情況下，用于缺陷區的有效管理方案嚴重地需要應對高速度。并且，該有效管理方案應提供作為特定信息以確保互易的兼容性。
發明內容
因此，本發明針對一種管理高速可記錄光盤的缺陷區的方法、其記錄/再現方法及其記錄再現裝置，它們基本消除了由于相關技術的限制和缺陷引起的一個或多個問題。
本發明的目的在于提供一種通過應對高速的特定信息管理缺陷區的新方法，通過這種方法有效地記錄和管理用于缺陷區的信息并且通過這種方法通過新缺陷區管理方案有效地進行光盤的記錄/再現。
本發明的另一目的在于提供一種應對記錄速度的新缺陷區管理方案，通過該方案根據特定方法在盤內管理區上進行缺陷區信息的管理以提供盤之間的互易兼容。
本發明的又一目的在于提供一種使用缺陷區管理方案的記錄/再現方法及其裝置。
本發明的其它優點、目的和特點將部分在以下描述中闡述且部分將通過以下內容的審查或者通過本發明的實施而得知對于本領域普通技術人員顯而易見。本發明的目的和其它優點將通過以下描述及其權利要求書以及附圖中特別指出的結構得以實現和獲得。
為了實現這些目的和其它優點且根據本發明的用途，如這里體現和廣泛描述的，在具備用于高速可記錄盤內的缺陷管理的缺陷管理區的光盤中，一種根據本發明的管理光學記錄媒介中的缺陷區的方法，包括以下步驟檢查在第二記錄速度下是否發現缺陷區，在第一記錄速度下是否發現所述缺陷區，所述第二記錄速度低于所述第一記錄速度；以及基于檢查步驟確定是否用替換區替代所述缺陷區。
在本發明的另一方面中，一種管理光學記錄媒介的缺陷區的方法，包括以下步驟記錄第一條目，它包括在第一記錄速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的第一區域的第一位置信息，所述第二速度低于所述第一速度；以及記錄第二條目，它包括在第一速度和第二速度下都被判定為缺陷區的第二區域的第二位置信息。
在本發明的另一方面中，一種管理光學記錄媒介的缺陷區的方法，包括驗證在以可應用的最大速度進行記錄時是否產生缺陷區；如果在所述可應用的最大速度下產生缺陷區，則通過將記錄速度變成低于所述可應用的最大速度的中間速度至少一次，重新驗證相應區域的缺陷是否存在；如果在所述中間速度下產生缺陷區，則通過將所述記錄速度變成最小速度，重新驗證相應區域的缺陷是否存在；以及根據第一到第三步驟中的每一個的結果，在光學記錄媒介的特定區域處記錄被判定為缺陷區的區域的位置信息。
在本發明的另一方面中，一種記錄媒介，包括缺陷管理區，它用于管理缺陷區；以及數據區，其中記錄數據，其中所述缺陷管理區至少包括第一條目以便記錄在第一速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的位置信息，所述第一速度高于所述第二速度。
在本發明的另一方面中，一種用于在光學記錄媒介上記錄數據的方法，包括以下步驟接收用于特定區域的記錄命令；驗證在第一速度下在所述特定區域上是否產生缺陷區；如果在高速下產生缺陷區，則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應區域的缺陷是否存在，所述第二速度低于所述第一速度；作為重新驗證步驟的結果，將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區的第一區域中的數據記錄到替換區中；以及在第一速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的第二區域上以第二速度記錄數據。
在本發明的另一方面中，一種用于在光學記錄媒介上記錄數據的方法，包括以下步驟通過從光學記錄媒介內的缺陷管理區中讀取缺陷區的位置信息和相應缺陷區的記錄速度信息，確定可應用于光學記錄媒介內的特定區域的記錄速度；以及如果接收到用于特定區域的記錄命令，則以確定的記錄速度進行數據的記錄。
在本發明的另一方面中，一種用于在光學記錄媒介上記錄或再現數據的裝置，包括拾取單元，它在光學記錄媒介上記錄或讀取數據；以及控制器，它驗證在第一速度下在特定區域上是否產生缺陷區，如果在第一速度下產生缺陷區則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應區域的缺陷是否存在，控制拾取器將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區的第一區域的數據記錄在替換區中，并控制所述拾取器在第一速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的第二區域上以第二速度記錄數據。
可以理解，本發明的以上一般描述和以下詳細描述是示例性和說明性的，并旨在提供所聲明的本發明的進一步說明。
包含附圖以提供本發明的進一步理解，且附圖被結合并構成本申請的一部分，示出本發明的實施例并與描述一起用于說明本發明的原理。附圖中圖1是可重寫光盤的示意圖。
圖2是用于說明根據本發明的應對記錄速度的缺陷管理方法的光盤的示圖。
圖3是用于說明根據本發明的應對記錄速度的缺陷管理方法的概念性流程。
圖4和5是用于說明根據本發明第一實施例的應對記錄速度的缺陷管理方法的示圖。
圖6和7是用于說明根據本發明第二實施例的應對記錄速度的缺陷管理方法的示圖。
圖8和9是用于說明根據本發明第三實施例的應對記錄速度的缺陷管理方法的示圖。
圖10是可應用于本發明的缺陷列表的示意性結構圖。
圖11是用于說明根據本發明的應對記錄速度的缺陷管理方法的另一概念性流程。以及圖12是可應用于本發明的應對記錄速度的缺陷管理的記錄/再現裝置的框圖。
具體實施例方式
現在將詳細參考本發明的較佳實施例，其示例在附圖中示出。只要可能，相同的標號將貫穿附圖用于表示相同或相似的部分。
將參考以下附圖詳細說明根據本發明的管理可以高速記錄的光盤的缺陷區的方法、其記錄/再現方法及其記錄/再現裝置。
首先，雖然本發明中使用的術語可能選自當前公知的一些，但在某些情況下一些術語由申請人任意選擇以使它們的意思在以下描述中詳細說明。因此，本發明應用申請人選擇的相應術語的預期意思來代替術語本身的簡單名稱或意思來理解。
為便于說明，采用BD系列的藍光盤(BD)作為高速可記錄盤的示例。然而，顯然，本發明的概念可應用于各種高密度的高速可記錄光盤。
本發明的特點在于提出了一種高速可記錄光盤中的新的缺陷區管理方案。較佳地，以下說明在描述中所使用的“缺陷區”和“缺陷區管理”的意思。
首先，本發明中的“缺陷區”表示盤內的一特定區域，由于稍后的特殊原因它很可能發展為無法糾正的區域。在當前步驟中，“缺陷區”意味著其中相應區域的數據被充分保留的區域。“管理缺陷區”意味著以將特定區域指定為缺陷區的方式增強盤內記錄的數據的可靠性的一種管理方案，其中在該特定區域中相應數據被記錄或將被記錄并在變成不可糾正的區域之前將這些數據傳遞到盤內的替換區。特別是，在記錄或再現數據本身明顯有意義(諸如PC數據)的信息的情況下，將高度需要缺陷區管理。
因此，為被判定為“缺陷區”的情況準備一參考是很重要的。通過應用稍許較高的標準可以對“缺陷區”的較低出現作出這種參考，以降低系統設計者設計的系統負荷(為防止頻繁的替換記錄)，或者相反地，通過應用稍許較低的標準來指明更多的“缺陷區”，以確保數據的更高的可靠性，從而將數據安全地傳遞到替換區。
對于用于缺陷區判定的參考，各種盤標準分別提出了不同的參考。并且，記錄單元內出現的錯誤量通常被用作參考。例如，如果發生超出特定數量的錯誤，則被判定為“缺陷區”并進行替換記錄以便將數據記錄于替換區內。如果錯誤未能出現超過該特定數量，則它不被判定為“缺陷區”且相應的錯誤利用ECC(糾錯碼)等進行糾錯。因此，通過考慮最佳系統和數據保護，系統設計者定義將應用于系統的對“記錄單元內的錯誤量總計達特定數量”的參考，從而能判定相應的記錄單元是否被確定為“缺陷區”還是“正常區”。
在判定缺陷區時，本發明旨在提出一種通過采用上述缺陷區判定方法(例如，“記錄單元內錯誤量總計達特定數量”為多少？)附加地應對記錄速度的缺陷區判定方法。這是因為根據記錄速度不同而存在記錄單元內出現的錯誤量不同以影響“缺陷區”的判定。在高速下進行記錄時通常產生更多的“缺陷區”，這是因為由于在高速下整體系統變得不穩定所以在高速下記錄單元內出現的錯誤量增加超過低速下的。
圖2和圖3是用于說明根據本發明的應對記錄速度的缺陷區管理方法概念的光盤結構示意圖和流程圖。
圖2示出了根據本發明的執行光盤上的記錄的流程。
參考圖2，在盤數據區內進行記錄時，優選以可應用的高速在特定部分上進行記錄，隨后驗證是否在相應部分中生成缺陷區。例如，該特定部分被稱作“驗證單元”并且是包括約9個記錄單元的一個驗證單元，如圖2所示。然而，為便于說明而設定記錄單元的數量(9個)，且該數量可以不同地進行設定。
如果缺陷區不能以相應的高速生成，類似于圖2中的驗證單元(1)，則對下一個驗證單元(2)重復以上步驟。如果從驗證單元(2)中生成缺陷區，則以低速降低記錄速度，隨后再次驗證缺陷區的存在或不存在。如果在以低速進行記錄的情況下相應區域被判定為缺陷區，則該相應區域被判定為用于與備用區進行替換記錄的先前缺陷區且隨后在其上執行缺陷區管理。
然而，在驗證單元(n)的情況下，如果盡管在高速下判定一區域為缺陷區但在低速下判定其為非缺陷區，則該相應區域不由備用區替換，在被認作非缺陷的該相應區域上以低速進行記錄，并且相應區域的位置信息和速度信息記錄于缺陷管理區DMA中以便被管理。因此，根據記錄速度變化被判定為非缺陷區的區域作為正常區域處理，但一起管理用于非缺陷區的判定的相應記錄速度信息。因此，相應區域能以相應記錄速度被記錄，從而可以減少由于替換記錄引起的系統負荷并維持數據可靠性。可以按各種方式執行缺陷區驗證方法。如果數據可靠性安全是重要的，則采用“寫入后驗證”。“寫入后驗證”是可任選的系統項。顯然，各種驗證方案都可應用于本發明。
圖3示出了本發明的技術背景。
參考圖3，如果如圖2中所說明地在以高速進行記錄的過程中生成缺陷區，通過將記錄速度降低到較低的速度來重新驗證相應區域中是否存在缺陷。如果以低速被判定為缺陷區，則將缺陷信息(RAD型可重新分配缺陷)作為表示正常替換記錄的信息記錄于缺陷管理區內的缺陷列表DFL中。如果在低速下未被判定為缺陷區，則不執行替換記錄而將與正常替換的缺陷信息類型不同的另一缺陷信息記錄于缺陷管理區內的缺陷列表DFL中(NDR型低記錄速度下非缺陷)。
同時，通過參考圖4到12，以下詳細說明支持本發明技術背景的缺陷區管理方法和缺陷信息記錄方法。
以下首先說明在缺陷列表(DFL)中記錄缺陷管理區內的缺陷區的位置信息的一般方法。
缺陷列表包括一列表，且該列表包括多個條目，其中每一個條目都由其中缺陷區的8個字節的記錄位置信息構成。一個條目包括記錄用于標識缺陷區類型的標識信息的字段狀態1和狀態2，其中通常記錄被判定為數據區內的缺陷區的位置的“缺陷簇第一PSN”字段，以及其中記錄替換缺陷區的區域位置的“替換簇第一PSN”字段。然而，僅為了先前BD-RE的兼容性，字段名使用相同的字段名。因此，相應字段中寫入的內容會與一般情況的哪些不同，這在以下通過本發明的實施例詳細說明。
圖4和5是根據本發明第一實施例的用于記錄以管理缺陷區的位置信息的示圖，其中缺陷區的位置信息按作為最小記錄單元的簇被記錄。
參考圖4，在數據區內存在兩種類型的缺陷區。一種缺陷區類型對應于在高速和低速兩者下都被判定為缺陷區的情況(A，B)，而另一種缺陷區類型對應于在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區的情況(C，D)。
因此，將在簇-A和簇-B中記錄的數據分別通過備用區內區域-a和區域-b中的替換而記錄。對于為此的缺陷區信息，“狀態1＝0000”被記錄作為RAD(可重新分配缺陷)類型條目，它指定缺陷區的信息被正常替換，區域-A和區域-B的位置信息被記錄于“缺陷簇第一PSN”字段，且相應區域-a和區域-b的位置信息被記錄于“替換簇第一PSN”字段中以便被管理。同時，在區域-C和區域-D上不進行替換記錄，它們僅在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為正常區，從而區域-C和區域-D的缺陷信息記錄方法應不同于區域-A和區域-B的。因此，提供“狀態1＝1001”以定義作為NDR(在低記錄速度下非缺陷)的條目，區域-C和區域-D的位置信息被記錄在“缺陷簇第一PSN”字段中，且由于不存在替換區，所以被判定為非缺陷區的情況的記錄速度信息被記錄在“替換簇第一PSN”字段中。當相應光盤稍后被重載時，記錄/再現單元(圖12中的‘10’)引用相應的管理信息并通過引用相應條目中記錄的記錄速度信息在區域-C和區域-D上執行記錄，以便從區域-C和區域-D中不產生缺陷區。因此，能降低缺陷區產生的概率。此外，還可能將所產生的缺陷區的高速信息記錄作為“替換簇第一PSN”字段中記錄的記錄速度信息。由于系統還能由高速信息通知缺陷區按條目中寫入的速度生成，能夠以低于寫入的速度的預定速度進行記錄。
圖5示出了將條目標識為圖4情況下的缺陷信息的表。
參考圖5，如果“狀態1＝0000”，它表示相應區域是正常替換的缺陷區(RAD條目)。如果“狀態1＝1001”，它表示相應區域在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區(NDR條目)并且表示判定非缺陷區情況下的記錄速度信息(即低速的信息)被記錄在相應NDR條目內。
圖6和7是根據本發明第二實施例的用于記錄以管理缺陷區的位置信息的示圖，其中用于缺陷區的位置信息按作為連續最小記錄單元的簇被記錄。
參考圖6，在數據區中存在兩種缺陷區。一種缺陷區類型對應于在高速和低速兩者下被判定為缺陷區的情況(A，B)，而另一種缺陷區類型對應于在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區的情況(C，D)。
因此，要記錄于簇-A和簇-B中的數據分別通過備用區內的區域-a和區域-b中的替換得以記錄。對于為此的缺陷區信息，“狀態1＝0000”被記錄為RAD(可重新分配的缺陷)類型條目，它指明缺陷區的信息被正常替換，區域-A和區域-B的位置信息被記錄于“缺陷簇第一PSN”字段中，并且相應區域-a和區域-b的位置信息被記錄于“替換簇第一PSN”字段中以便被管理。同時，在區域-C和區域-D上不進行替換記錄，它們僅在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為正常區域，從而區域-C和區域-D的缺陷信息記錄方法應不同于區域-A和區域-B的。并且，可以看到區域-C對應于多個簇被判定為相同區域的情況而區域-D是僅對應于一個簇的區域。因此，可以定義提供“狀態1＝1001”來指示NDR(低記錄速度下非缺陷)類型以及表示相應區域的連續記錄單元數的二進制值被寫入“狀態2”字段。例如，4個簇在區域-C中連續，記錄“狀態2＝0100”。區域-D由一個簇構成，記錄“狀態2＝0001”。其余字段類似于本發明的第一實施例進行記錄。作為連續記錄單元的起始簇的區域-C和區域-D的位置信息被記錄在“缺陷簇第一PSN”字段中，且由于不存在替換的區域，被判定為正常區的情況的記錄速度信息記錄于“替換簇第一PSN”字段中。當相應的光盤稍后被重載以便在區域-C和區域-D上進行記錄時，記錄/再現單元(圖12中的10)通過引用相應條目中記錄的記錄速度信息來執行該記錄，以便從缺陷管理信息內的大小信息所指示的連續簇中不產生缺陷區。因此，能降低缺陷區產生的概率。此外，還可能將所產生的缺陷區的高速信息記錄為“替換簇第一PSN”字段中記錄的記錄速度信息。由于系統還能由高速信息通知以條目中寫入的速度生成缺陷區，所以能以低于寫入的速度的預定速度進行記錄。
圖7示出了將條目標識為圖6情況中的缺陷信息的表。
參考圖5，如果“狀態1＝0000”，它表示相應區域是正常替換的缺陷區(RAD條目)。如果“狀態1＝1001”，它表示相應區域在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區(NDR條目)，并表示連續簇的大小信息記錄于NDR條目內的“狀態2“字段中，以及表示判定非缺陷區的情況下的記錄速度信息(即用于低速的信息)記錄于相應NDR條目內的“替換簇第一PSN”字段中。
與根據本發明的第一實施例相比，根據本發明的第二實施例的特點在于能降低條目的數量。
圖8和9是根據本發明第三實施例的用于記錄以管理缺陷區的位置信息的示圖，其中僅在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區的區域的位置信息由其中記錄的一區段指定。
參考圖8，數據區中存在兩種缺陷區區段。一種缺陷區區段類型對應于在高速和低速兩者下都被判定為缺陷區的情況(區段A-C，驗證單元(k))，而另一缺陷區區段類型對應于在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區的情況(區段E-F，驗證單元(n))。
首先，作為重新驗證在高速下被判定為缺陷區的區段A-C的結果，在低速下，區域-A、區域-B和區域-C被判定為缺陷區而區域-D在低速下被判定為非缺陷區。在這種情況下，用于相應區段的缺陷信息在缺陷管理區中單獨地按簇記錄。
然而，作為重新驗證在高速下被判定為缺陷區的區段E-F的結果，在低速下，所有簇都被判定為非缺陷區。在這種情況下，為整體的相應區段(區域-E到區域-F)記錄一個缺陷信息。
因此，簇-A、簇-B和簇-C中要記錄的數據分別在備用區內區域-a、區域-b和區域-c中通過替換而被記錄。對于為此的缺陷區信息，將“狀態1＝0000”記錄作為RAD(可重新分配的缺陷)類型條目，它指明缺陷區信息被正常替換，區域-A、區域-B和區域-C的位置信息被記錄于“缺陷簇第一PSN”字段中，且相應的區域-a、區域-b和區域-c的位置信息被記錄于“替換簇第一PSN”字段中以便被管理。
同時，在區段A-C內，在僅在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為正常區域的區域-D上不進行替換記錄，從而區域-D的缺陷信息記錄方法應與區域-A、區域-B和區域-C的不同。因此，提供“狀態1＝0001”來指示NDR(低記錄速度下非缺陷)類型并設定“狀態2＝0000”來通知相應區域由一個條目記錄作為一個簇。
然而，為了對其進行表示，區段E-F需要一對條目(對條目)。在第一條目中，“狀態2＝0001”通知一對條目的第一個且分別表示同一區段的開始和結束簇的區域-E和區域-F的位置信息分別記錄于“缺陷簇第一PSN”字段和“替換簇第一PSN”字段中。在第二條目中，“狀態2＝0010”通知一對條目的第二個且用于導致無缺陷區的低速的記錄速度信息被重復地記錄于“缺陷簇第一PSN”字段和“替換簇第一PSN”字段中。然而，第二條目的“替換簇第一PSN”字段可被設定為“00h”，代替重復地記錄該記錄速度信息。
此外，還可能將將產生的缺陷區的高速信息記錄為第二條目的“缺陷簇第一PSN”字段中記錄的記錄速度信息。由于系統還能由高速信息通知以條目中寫入的速度從相應區段中產生缺陷區，所以能以低于寫入的速度的預定速度進行記錄。
圖9示出了用于將一條目標識為圖8情況下的缺陷信息的表。
參考圖9，如果“狀態1＝0000”，它表示相應區域是一正常替換的缺陷區(RAD條目)。如果“狀態1＝1001”，它表示相應區域在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區(NDR條目)。如果“狀態2＝0000”，它表示一個應對每個簇的條目。如果“狀態2＝0001”，它表示指示特定區段的一對條目中的第一個條目。如果“狀態2＝0010”，它表示指示特定區段的一對條目中的第二個條目。
本發明的第三實施例不僅能應對每個區段以使系統按簇改變記錄速度還能降低負荷。
圖10是可應用于本發明的缺陷列表的示意性結構示圖。
參考圖10，用于通知在相應DFL中記錄的缺陷條目中存在多少特定類型條目的信息包含在DFL的首部中。因此，通過將RAD-條目和NDR-條目的數量記錄在首部信息中，促進系統優先地從DFL首部信息中識別條目數量。
圖11是用于說明根據本發明的應對記錄速度的缺陷管理方法的另一概念流程圖，其中擴展了圖3的概念流程圖。
參考圖11，接收到記錄命令的記錄/再現裝置(圖12中的10)以盤可用的最大速度Vmax開始記錄并保持以Vmax進行記錄，除非在記錄期間產生缺陷區。如果驗證缺陷區，則記錄/再現裝置以低于最大速度Vmax的低速Vnext重新驗證相應區域的缺陷是否存在(步驟1)。
如果在以Vnext記錄的情況下判定相應區域不是缺陷區，則利用圖4、圖6和圖8中的根據本發明第一到第三實施例的方法之一，相應區域的位置信息以及在Vnext下缺陷區不存在的記錄速度信息被記錄到DFL。這樣，如本發明第一到第三實施例中所說明的，“Vmax”可作為記錄速度信息記錄到DFL，代替Vnext。在以Vnext進行記錄時，如果相應區域類似于以Vmax進行記錄那樣被判定為缺陷區，則以與盤可用的1x速度相對應的Vnom重新驗證該相應區域中是否存在缺陷(步驟2)。
這樣，能設置步驟2中根據系統的與Vnext相對應的多個記錄速度。例如，將“Vmax＝16x速度”，“Vnext1＝8x速度”，“Vnext2＝4x速度”，“Vnext3＝2x速度”設置為記錄速度，且在以“Vnom＝1x速度”的最終記錄速度驗證相應區域之前將步驟2重復若干次。
最后，如果在以Vnom記錄的情況下將相應區域判定為非缺陷區，則利用根據圖4、圖6和圖8中本發明第一到第三實施例的方法之一，將相應區域的位置信息以及Vnom下非缺陷區存在的記錄速度信息被記錄到DFL。這樣，如本發明的第一到第三實施例中所說明的，“Vnext”可以作為記錄速度信息被記錄到DFL，代替Vnom。在以Vnom進行記錄時，如果相應區域類似于以Vnext記錄那樣被判定為非缺陷區，則相應區域的數據被傳遞到替換區用于替換記錄并將缺陷區的位置信息和替換區的位置信息記錄到DFL(步驟3)。
圖12示出了用于可應用于本發明的光盤的記錄/再現裝置。
參考圖12，根據本發明的記錄/再現裝置包括在光盤上進行記錄/再現的記錄器/再現器10以及控制該記錄器/再現器10的控制單元20。控制單元20提供用于特定區域的記錄或再現命令，且記錄器/再現器10根據控制單元20的命令在該特定區域上進行記錄/再現。特別是，記錄器/再現器10包括與外部裝置進行通信的接口單元12、直接將數據記錄到光盤上或再現數據的拾取單元11、從拾取單元11接收再現信號以便恢復成必要的信號值或為傳遞將要記錄的信號調制為光盤上記錄的信號的數據處理器13、從光盤中正確地讀出信號或者控制拾取單元11將信號正確地記錄到光盤上的伺服單元14、臨時存儲包括管理信息和數據的各種信息的存儲器15以及負責控制記錄器/再現器10內的上述元件的微計算機16。以下詳細說明根據本發明的光盤的記錄過程。
工業應用性首先，一旦將光盤載入記錄/再現裝置，盤內的整個盤管理信息被讀出以便臨時存儲在記錄器/再現器10的存儲器15中。并且，各種盤管理信息被用于光盤的記錄/再現。特別是，本發明的缺陷管理區內記錄的缺陷列表(DFL)包含在存儲器15中存儲的管理信息中。因此，將DFL內缺陷區的位置信息和替換區的位置信息讀出以存入存儲器15。在特定缺陷信息(NDR類型)的情況下，將記錄速度信息讀出，也存入存儲器15。如果盤是全新盤，諸如NDR類型條目和RAD類型條目的缺陷信息將不存在于缺陷管理區內的DFL中。
如果意圖在光盤內的特定區域上進行記錄，則控制單元20將該意愿譯成寫入命令隨后將它連同用于記錄目標區的寫入位置信息的數據一起傳遞給記錄器/再現器10。在接收到寫入命令后，微計算機16通過存儲器15中存儲的缺陷管理信息判定相應的記錄速度，該速度將由控制單元應用于光盤內的記錄目標區。特別是，如果將記錄目標區記錄作為缺陷信息(NDR類型)，則相應缺陷信息內記錄的記錄速度信息將被用于判定為用于該相應區域的記錄速度。如果記錄目標區域未被記錄作為缺陷信息(NDR類型)，則將可應用于盤和系統的高速度判定作為記錄速度。
隨后，驗證在以所判定的高速進行記錄時是否產生缺陷區。如果作為驗證結果在高速下產生缺陷區，則將記錄速度變成低速，隨后重新驗證是否從相應區域中產生缺陷區。對于在高速和低速下都被判定為缺陷區的區域，將被寫入相應區域的數據會通過替換而記錄于替換區。對于在高速下判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區的區域，以低速進行記錄。并且，按照圖4、圖6和圖8中示出的本發明的實施例之一的方式，將記錄中產生的缺陷區記錄在缺陷管理區中。然而，如果初始判定的記錄速度是低速，則不采用以上說明的缺陷區管理方案。取而代之，采用在整個缺陷區上進行替換記錄的缺陷區管理方法以應對記錄速度。
因此，本發明提出了一種應對可高速記錄的光盤中的記錄速度的缺陷管理方案，從而提供了缺陷區的精確判定以降低缺陷區產生的頻率。特別是，本發明提供了特定區段的最佳記錄速度信息，因此能減少總體系統負荷。此外，由于最佳記錄速度可應用于特定區段中的重新記錄，所以能確保數據的高可靠性。
本領域的熟練技術人員顯見的是，本發明中可以進行各種修改和變型。因此，本發明旨在覆蓋本發明的修改和變型，只要它們在所附權利要求書及其等效物的范圍內。
權利要求
1.一種管理光學記錄媒介中的缺陷區的方法，包括以下步驟檢查在第二記錄速度下是否發現缺陷區，在第一記錄速度下是否發現所述缺陷區，所述第二記錄速度低于所述第一記錄速度；以及基于所述檢查步驟確定是否用替換區替換所述缺陷區。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，如果在第二記錄速度下發現缺陷區，則將要在缺陷區中記錄的數據記錄于替換區中。
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，還包括記錄管理信息以指示所述缺陷區的位置以及所述替換區的位置。
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括用替換區替換缺陷區的狀態信息。
5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，如果在第二記錄速度下未發現缺陷區，則將要在缺陷區中記錄的數據記錄于相應區域中。
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，還包括記錄管理信息以指示缺陷區的至少一個位置。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括缺陷區未被替換的狀態信息。
8.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括第二速度的速度信息。
9.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括第一速度的速度信息。
10.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息作為一個條目按最小記錄單元進行記錄。
11.如權利要求10所述的方法，其特征在于，所述最小記錄單元是一個簇。
12.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述管理信息作為一個條目按連續的最小記錄單元進行記錄。
13.如權利要求12所述的方法，其特征在于，所述條目包括指明所述連續最小記錄單元數量的信息。
14.如權利要求12所述的方法，其特征在于，所述最小記錄單元是一個簇。
15.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述位置信息包括缺陷區的起始位置和缺陷區的終止位置。
16.如權利要求15所述的方法，其特征在于，所述管理信息還包括第一記錄速度或第二記錄速度的速度信息。
17.如權利要求16所述的方法，其特征在于，所述缺陷區的起始位置和終止位置以及所述速度信息通過多個條目被記錄。
18.如權利要求17所述的方法，其特征在于，多個條目包括包含所述起始位置和終止位置的第一條目以及包括相應區域的速度信息的第二條目。
19.如權利要求18所述的方法，其特征在于，用于標識第一和第二條目的標識信息被記錄在相應的條目內。
20.一種管理光學記錄媒介的缺陷區的方法，包括以下步驟記錄第一條目，它包括在第一記錄速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的第一區域的第一位置信息，所述第二速度低于所述第一速度；以及記錄第二條目，它包括在第一速度和第二速度下都被判定為缺陷區的第二區域的第二位置信息。
21.如權利要求20所述的方法，其特征在于，還包括記錄標識第一和第二條目的每一個中的相應條目的標識信息。
22.如權利要求21所述的方法，其特征在于，所述第一條目還包括被判定為非缺陷區的第一區域的記錄速度信息。
23.如權利要求21所述的方法，其特征在于，所述第二條目還包括用于替換區的位置信息，通知要在缺陷區中記錄的數據被記錄于替換區內。
24.一種管理光學記錄媒介的缺陷區的方法，包括驗證在以可應用的最大速度進行記錄時是否產生缺陷區；如果在所述可應用的最大速度下產生缺陷區，則通過將記錄速度變成低于所述可應用的最大速度的中間速度至少一次，重新驗證相應區域的缺陷是否存在；如果在所述中間速度下產生缺陷區，則通過將所述記錄速度變成最小速度，重新驗證相應區域的缺陷是否存在；以及根據第一到第三步驟中的每一個的結果，在光學記錄媒介的特定區域處記錄被判定為缺陷區的區域的位置信息。
25.如權利要求24所述的方法，其特征在于，對于在第一步驟處被判定為缺陷區而在第二步驟處被判定為非缺陷區的區域，相應區域的位置信息被記錄在特定區域處。
26.如權利要求25所述的方法，其特征在于，應用于第二步驟的記錄速度信息被進一步記錄在所述特定區域處。
27.如權利要求25所述的方法，其特征在于，應用于第一步驟的記錄速度信息被進一步記錄在所述特定區域處。
28.如權利要求24所述的方法，其特征在于，對于在第一和第二步驟處被判定為缺陷區而在第二步驟處被判定為非缺陷區的區域，將相應區域的位置信息記錄于特定區域處。
29.如權利要求28所述的方法，其特征在于，應用于第三步驟的記錄速度信息被進一步記錄于所述特定區域。
30.如權利要求28所述的方法，其特征在于，應用于第二步驟的記錄速度信息被進一步記錄于所述特定區域。
31.如權利要求24所述的方法，其特征在于，對于在第一到第三步驟處都被判定為缺陷區的區域，將相應區域的位置信息記錄于所述特定區域。
32.如權利要求31所述的方法，其特征在于，進一步將用于缺陷區的替換區的另一位置信息記錄于所述特定區域。
33.一種記錄媒介，包括缺陷管理區，它用于管理缺陷區；以及數據區，其中記錄數據，其中所述缺陷管理區至少包括第一條目以便記錄在第一速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的位置信息，所述第一速度高于所述第二速度。
34.如權利要求33所述的記錄媒介，其特征在于，所述第一條目還包括第一或第二記錄速度的速度信息。
35.如權利要求34所述的記錄媒介，其特征在于，所述第一條目還包括缺陷區未被替換的狀態信息。
36.如權利要求33所述的記錄媒介，其特征在于，還包括缺陷管理區內提供的第二條目，以便記錄在第一和第二速度下都被判定為缺陷區的另一位置信息。
37.如權利要求36所述的記錄媒介，其特征在于，所述第二條目還包括第一或第二記錄速度的速度信息。
38.如權利要求36所述的記錄媒介，其特征在于，所述第二條目還包括用于缺陷區的替換區的位置信息。
39.如權利要求36所述的記錄媒介，其特征在于，所述第二條目還包括用替換區替換缺陷區的狀態信息。
40.一種用于在光學記錄媒介上記錄數據的方法，包括以下步驟接收用于特定區域的記錄命令；驗證在第一速度下在所述特定區域上是否產生缺陷區；如果在高速下產生缺陷區，則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應區域的缺陷是否存在，所述第二速度低于所述第一速度；作為重新驗證步驟的結果，將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區的第一區域中的數據記錄到替換區中；以及在第一速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的第二區域上以第二速度記錄數據。
41.一種用于在光學記錄媒介上記錄數據的方法，包括以下步驟通過從光學記錄媒介內的缺陷管理區中讀取缺陷區的位置信息和相應缺陷區的記錄速度信息，確定可應用于光學記錄媒介內的特定區域的記錄速度；以及如果接收到用于特定區域的記錄命令，則以確定的記錄速度進行數據的記錄。
42.一種用于在光學記錄媒介上記錄或再現數據的裝置，包括拾取單元，它在光學記錄媒介上記錄或讀取數據；以及控制器，它驗證在第一速度下在特定區域上是否產生缺陷區，如果在第一速度下產生缺陷區則通過將記錄速度變成第二速度來重新驗證相應區域的缺陷是否存在，控制拾取器將要記錄于在第一和第二速度下都被判定為缺陷區的第一區域的數據記錄在替換區中，并控制所述拾取器在第一速度下被判定為缺陷區而在第二速度下被判定為非缺陷區的第二區域上以第二速度記錄數據。
全文摘要
本發明提供了一種管理可高速記錄的光盤的缺陷區的方法、其記錄/再現方法及其記錄/再現裝置，通過它們提供缺陷區的精確判定。此外，最佳記錄速度可應用于特定區域中的重新記錄，從而能確保數據的高可靠性。在具備用于高速可記錄光盤內的缺陷管理的缺陷管理區的光盤中，本發明包括驗證在以高速進行記錄時是否產生缺陷區，如果在高速下產生缺陷區則通過將記錄速度變成低速來重新驗證相應區域的缺陷的是否存在，并在缺陷管理區中記錄以管理在高速下被判定為缺陷區而在低速下被判定為非缺陷區的區域的位置信息。
文檔編號G11B7/007GK1823372SQ200480020123
公開日2006年8月23日 申請日期2004年7月15日 優先權日2003年7月15日
發明者金進鏞, 徐相運 申請人:Lg電子株式會社