專利名稱：記錄和/或再現臨時缺陷列表的方法、記錄和/或再現設備、以及一次寫入記錄介質的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種一次寫入記錄介質，更具體地講，涉及一種將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質上的方法、一種再現臨時缺陷列表的方法、一種用于記錄和/或再現臨時缺陷列表的設備、和一次寫入記錄介質。
背景技術：
缺陷管理涉及當已經被記錄在記錄介質的產生缺陷的位置上的數據不能被正常再現時將該數據記錄在該記錄介質的另一位置上，從而防止由缺陷的產生引起的數據損失。
傳統地，缺陷管理被分為使用線性替換方法的缺陷管理和使用滑移替換方法的缺陷管理。線性替換方法是用沒有產生缺陷的數據區的備用區來替換產生缺陷的數據區。滑移替換方法不使用產生缺陷的數據區，并且滑移到并使用沒有產生缺陷的下一數據區。
線性替換和滑移替換方法已經主要被應用于如DVD-RAM/RW(數字多用途盤-隨機存取存儲器/可重寫)的盤，在其上數據可被重新記錄并且允許通過隨機存取來記錄。
近來，幾種解決方法已經被考慮以在一次寫入記錄介質中使用數據記錄和/或再現設備執行缺陷管理，在該記錄介質中一旦數據被寫入則該數據不能被消除或擦除。
現在將對使用線性替換的一次寫入記錄介質的缺陷管理進行詳細描述。從主機接收用戶數據記錄命令和用戶數據的數據記錄和/或再現設備以簇為單位記錄用戶數據，簇是數據記錄單位。在數據記錄和/或再現設備執行寫入后檢驗(verify-after-write)操作之后，如果缺陷在記錄用戶數據的用戶數據區的簇中產生，則數據記錄和/或再現設備將用戶數據記錄在包括于數據區中的備用區中。
在當數據正被記錄的預定時間間隔期間，或者在單一數據記錄完成之后，數據記錄和/或再現設備創建包含產生缺陷的用戶數據區的簇的位置信息和記錄在缺陷簇中的用戶數據被重寫在其上的備用區的替換簇的位置信息的臨時缺陷列表(以下稱為TDFL)。然后，數據記錄和/或再現設備將創建的TDFL記錄在臨時盤管理區(以下稱為TDMA)中。另外，在數據記錄和/或再現設備將創建的TDFL記錄在TDMA中之后，其記錄指示記錄TDFL的位置的指針信息。
當一次寫入記錄介質被重新裝入記錄和/或再現設備時，數據記錄和/或再現設備從一次寫入記錄介質中讀出TDFL，并且將讀取的TDFL存儲在存儲器中。當另外的數據被記錄在一次寫入記錄介質中時，如果產生新的缺陷簇，則數據記錄和/或再現設備將記錄在缺陷簇中的數據重寫入備用區的替換簇中。其后，除存儲在存儲器中的TDFL之外，數據記錄和/或再現設備創建包含新產生的缺陷簇的位置信息和相應于新產生的缺陷簇的替換簇的位置信息的更新的TDFL，記錄更新的TDMA，并且記錄指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息。
當為了再現用戶數據，一次寫入記錄介質被裝入數據記錄和/或再現設備時，數據記錄和/或再現設備首先訪問TDMA，獲得指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息，并且獲得更新的TDFL。數據記錄和/或再現設備能夠隨后通過參照更新的TDFL無錯誤地再現用戶數據。
如上所述，由于TDFL是用于用戶數據再現的關鍵信息，所以TDFL應被高可靠性地記錄。因此，在記錄TDFL期間，寫入后檢驗操作以與用戶數據的記錄期間相同的方式來被執行。因此，如果缺陷簇被產生，則記錄在缺陷簇中的數據被重寫入TDMA的另一簇中。
根據現有技術，如果TDFL的大小相應于至少兩個簇并且TDFL被記錄在至少兩個簇中，則寫入后檢驗操作被執行，并且如果缺陷簇被產生，則TDFL被重寫入其他簇中。然而，TDMA小于數據區，并且可被存儲在TDMA中的數據量不大。因此，當根據現有技術對TDFL執行缺陷管理時，TDMA被快速用盡。
發明內容
技術解決方案本發明一方面在于提供一種用于以高可靠性和為記錄TDFL分配的區域的改進利用將TDFL記錄在一次寫入記錄介質中的方法和設備。
本發明一方面在于提供一種用于再現以高可靠性和為記錄TDFL分配的區域的改進利用記錄在一次寫入記錄介質上的TDFL的方法和設備。
本發明一方面在于提供一種以高可靠性和為記錄TDFL分配的區域的改進利用存儲TDFL的一次寫入記錄介質。
有益效果根據本發明，可更有效地使用一次寫入記錄介質的區域并且更可靠地記錄和再現TDFL。具體地講，寫入后檢驗處理在記錄TDFL期間被執行，并且如果產生缺陷簇，則TDFL被重寫入另一簇中。因此，TDFL可被高可靠性地記錄。這里，當缺陷在記錄TDFL期間被產生時，記錄在缺陷簇中的數據被重寫入替換簇，而不是重新記錄整個TDFL，指示TDFL被正常記錄在其中的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDSS被記錄在TDMA中。因此，TDMA的空間不會被快速用盡。
圖1示出根據本發明實施例的一次寫入記錄介質的結構；圖2是根據本發明實施例的數據記錄和/或再現設備的方框圖；圖3是示出根據本發明實施例的記錄TDFL的方法的流程圖；圖4是用于詳細解釋根據寫入后檢驗處理創建TDFL的示圖；圖5示出示例性的TDFL；圖6是用于解釋根據本發明實施例的TDFL記錄后檢驗處理的示圖；圖7是用于解釋根據本發明實施例的TDFL記錄后檢驗處理的示圖；圖8示出根據本發明實施例的指示TDFL的位置的示例性指針信息；和圖9是示出根據本發明實施例的再現TDFL的方法的流程圖。
最佳實施方式根據本發明一方面，提供一種將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質中的方法，該方法包括將當數據被記錄在一次寫入記錄介質上時被創建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷；將記錄在缺陷簇中的數據記錄在另一簇中，并且將指示在其中記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質上。
將在接下來的描述中部分闡述本發明另外的方面和/或優點，還有一部分通過描述將是清楚的，或者可以經過本發明的實施而得知。
根據本發明一方面，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據本發明一方面，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據本發明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。臨時缺陷列表和臨時盤定義結構可被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
根據本發明另一方面，提供一種用于記錄和/或再現數據的設備，該設備包括記錄/讀取單元，用于將數據記錄在一次寫入記錄介質上或從一次寫入記錄介質讀取數據；和控制單元，用于控制記錄/讀取單元將當數據被記錄在一次寫入記錄介質上時被創建的用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的至少一簇中。控制單元還檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷，控制記錄/讀取單元將記錄在缺陷簇中的數據記錄在另一簇中，并且控制記錄/讀取單元將指示在其中記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質上。
根據本發明一方面，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據本發明一方面，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據本發明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。
根據本發明一方面，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
根據本發明另一方面，提供一種讀取記錄在一次寫入記錄介質上的用于缺陷管理的臨時缺陷列表的方法，該方法包括從一次寫入記錄介質獲得指示記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息；和根據指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇并且讀取臨時缺陷列表。
根據本發明一方面，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的至少一簇的位置。
根據本發明一方面，指針信息指示該至少一簇中的每個的位置。
根據本發明一方面，在記錄臨時缺陷列表期間，如果缺陷在至少一簇中被產生并且數據被記錄在另一簇中，則指針信息可包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據本發明一方面，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據本發明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。臨時缺陷列表和臨時盤定義結構可被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
根據本發明另一方面，提供了一種用于再現數據的設備，該設備包括讀取單元，用于讀取記錄在一次寫入記錄介質上的數據；和控制單元；用于控制讀取單元從一次記錄介質讀取指示記錄用于缺陷管理的臨時缺陷列表的位置的指針信息，根據指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇，并且讀取臨時缺陷列表。
根據本發明一方面，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置。指針信息可指示該至少一簇中的每個的位置。
根據本發明一方面，在記錄臨時缺陷列表期間，如果缺陷在至少一簇中被產生并且數據被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
根據本發明一方面，臨時缺陷列表可包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
根據本發明一方面，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。臨時缺陷列表和臨時盤定義結構可被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
根據本發明另一方面，提供了一種一次寫入記錄介質，包括至少一個用戶數據區，用于記錄用戶數據；至少一個備用區，當缺陷在用戶數據區中被產生時用于替換；和至少一個臨時盤管理區，用于記錄用于缺陷管理的臨時缺陷列表和指示在其中記錄臨時缺陷列表的至少一簇的位置的指針信息。
根據本發明一方面，臨時缺陷列表包括產生缺陷的用戶數據區的缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的備用區的替換簇的位置信息。
根據本發明一方面，當臨時缺陷列表被記錄在臨時盤管理區的至少一簇中時，如果缺陷在該至少一簇中被產生并且數據被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。指針信息可被包括在臨時盤定義結構中。
本發明的實施方式現在將詳細描述本發明的實施例，其示例在附圖中表示，其中，相同的標號始終表示相同的部件。以下通過參考附圖描述實施例以解釋本發明。
圖1示出根據本發明實施例的一次寫入記錄介質100的結構。圖1中顯示的一次寫入記錄介質100具有包括導入區、數據區、和導出區的單記錄層。
在導入區中，設置了盤管理區1(DMA1)，盤管理區2(DMA2)、主臨時盤管理區(TDMA)、寫入條件測試區、和驅動器信息區。在數據區中，設置了用于替換在用戶數據區中產生的缺陷簇的備用區1和備用區2、次TDMA、和用戶數據區。在導出區中，設置了盤管理區3(DMA3)和盤管理區4(DMA4)。
TDFL和臨時盤定義結構(以下稱為TDDS)被記錄在主TDMA和次TDMA中。TDDS包括寫條件測試區的可記錄位置信息、寫保護信息、和分配給數據區的備用區1和2的位置和/或大小信息。具體地講，在本實施例的一方面中，TDDS包括指示TDFL的位置的指針信息。TDDS和指示TDFL的位置的指針信息稍后將被詳細描述。
TDFL和TDDS首先被記錄在主TDMA中。在主TDMA被完全耗盡之后，TDFL和TDDS被記錄在次TDMA中。根據用戶命令或來自數據記錄和/或再現設備的命令，包括在數據區中的次TDMA可或不可被分配，以便使用戶或數據記錄和/或再現設備的生產者能夠更有效地使用一次寫入記錄介質。
當一次寫入記錄介質100被裝入如圖2所示數據記錄和/或再現設備中時，數據記錄和/或再現設備執行初始化以使用一次寫入記錄介質100。換句話說，數據記錄和/或再現設備讀取記錄在導入區和/或導出區中的信息，并且確定如何管理一次寫入記錄介質100以及如何將數據記錄在一次寫入記錄介質100上或如何從一次寫入記錄介質100再現數據。當記錄在導入區和/或導出區中的數據量增加時，在一次寫入記錄介質100被裝入之后數據記錄和/或再現設備準備記錄或再現處理所需的時間也增加。為了解決這個和/或其他問題，TDDS和TDFL的概念被引入。
換句話說，在一次寫入記錄介質100被最終確定之前，TDFL和TDDS被更新并且被記錄在TDMA中。在一次寫入記錄介質100被最終確定之后，有意義的更新的TDFL和TDDS作為缺陷列表(DFL)和缺陷定義結構(DDS)被記錄在DMA1至4之一中。另外，通過將有意義的更新的TDFL和TDDS記錄在DMA1至4中，一次寫入記錄介質100可在用于再現可重寫介質100的設備中被再現。
圖2是根據本發明實施例的數據記錄和/或再現設備的方框圖。參照圖2，數據記錄和/或再現設備包括記錄/讀取單元1、控制單元2、和存儲器3。一次寫入記錄介質100具有與具有圖1中顯示的單記錄層的一次寫入記錄介質相同的結構。
根據控制單元2的控制，記錄/讀取單元1將數據記錄在一次寫入記錄介質100上和/或從一次記錄介質100上再現數據。在數據記錄期間，為了檢驗記錄的數據，記錄的數據被讀出。
控制單元2控制數據記錄和/或再現設備的全部操作。另外，當數據被記錄在一次寫入記錄介質100上和/或從一次寫入記錄介質100上被再現時，控制單元2創建更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在一次寫入記錄介質100上，并且將包含指示更新的TDFL的位置的指針信息的TDDS記錄在TDMA中，從而執行缺陷管理。當不要求時，應該理解控制單元2可以是通用或專用計算機。
當一次寫入記錄介質100被初始化以用于使用時，從一次寫入記錄介質100讀出的更新的TDFL和TDDS被存儲在存儲器3中。其后，如果新的用戶數據被記錄，則缺陷管理被再次執行，控制單元2在存儲在存儲器3中的TDFL中創建包括新的缺陷簇的位置信息和與新的缺陷簇相應的替換簇的位置信息的新的更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在TDMA中，并且將指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息記錄在TDMA中。
現在將參照圖3來描述一種根據本發明實施例將TDFL記錄在一次寫入記錄介質100上的方法，該方法通過圖2中所示的數據記錄和/或再現設備來執行。
圖3是示出一種根據本發明實施例的記錄TDFL的方法的流程圖。
盡管沒有顯示在圖3中，但是當一次寫入記錄介質100被裝入數據記錄和/或再現設備中時，初始化被執行以使用一次寫入記錄介質100。換句話說，控制單元2從一次寫入記錄介質100中讀取更新的TDFL和TDDS，并且將讀取的TDFL和TDDS存儲在存儲器3中。
其后，如果用戶數據和用戶數據記錄命令從主機(未顯示)被輸入到一次寫入記錄介質100，則控制單元2以預定的單位將用戶數據記錄在一次寫入記錄介質100上，并且執行寫入后檢驗操作以檢驗記錄的數據。
在當數據正被記錄的預定時間間隔期間，或者在完成單一數據記錄之后，數據記錄和/或再現設備創建包含新的缺陷簇的位置信息和與新的缺陷簇相應的替換簇的位置信息的新的更新的TDFL，將更新的TDFL記錄在TDMA中，并且將包括指示記錄更新的TDFL的位置的指針信息的TDDS記錄在TDMA中。
圖4是用于詳細解釋根據寫入后檢驗處理創建TDFL的示圖。這里，數據以扇區或簇為單位被處理。扇區是可由計算機的文件系統或應用程序管理的數據的最小單位。簇是可被一次物理地記錄在盤上的數據的最小單位。通常，至少一個扇區組成一個簇。
扇區被再分為物理扇區和邏輯扇區。物理扇區是在其中記錄與扇區相應的數據的盤的空間。用于找到物理扇區的地址被稱為物理扇區號(PSN)。邏輯扇區是用于管理文件系統或應用程序中的數據的扇區單元。同樣，邏輯扇區號(LSN)被分配給邏輯扇區。
數據記錄和/或再現設備使用PSN來找到將被記錄在一次寫入記錄介質100或在一次寫入記錄介質100上被再現的數據的位置，在用于記錄或再現數據的計算機或應用程序中以邏輯扇區為單位來管理所有的數據，并且使用LSN來找到數據的位置。LSN和PSN之間的關系根據缺陷產生和記錄數據起始的位置通過控制單元2來映射。
參照圖4，A表示用戶數據區，B表示備用區。在用戶數據區A和備用區B中，存在PSN被順序分配給其的多個物理扇區(未顯示)。LSN被分配到至少一個物理扇區單元。然而，除產生缺陷的用戶數據區A的缺陷區之外，LSN被分配給備用區B的替換區。其結果是，盡管物理扇區和邏輯扇區大小相同，但是如果缺陷區被產生，則PSN和LSN變得不同。
用戶數據根據連續記錄模式或隨機記錄模式被記錄在用戶數據區A中。在連續記錄模式下，用戶數據被順序并連續地記錄。在隨機記錄模式下，用戶數據沒必要被連續地記錄，而是被隨機記錄。①至⑦指示在其中寫入后檢驗操作被執行的單元區。
數據記錄和/或再現設備將用戶數據記錄在單元區①中，數據記錄和/或再現設備返回到單元區①的起始并且檢驗用戶數據是否被正常記錄或缺陷是否被產生。如果在其中產生缺陷的簇被找到，則該簇被識別為缺陷簇并且被指定為缺陷區，即缺陷#1，如圖4所示。
另外，數據記錄和/或再現設備將記錄在缺陷#1中的用戶數據重寫入備用區B。在其中用戶數據被重寫的備用區B的一部分被指定為替換#1。接著，在將用戶數據記錄在單元區②中之后，則數據記錄和/或再現設備返回到單元區②的起始并且檢驗用戶數據是否被正常記錄或者缺陷是否被產生。如果在其中缺陷被產生的至少一簇被找到，則該至少一簇被指定為缺陷②。以與上述同樣的方式，與缺陷#2相應的替換#2被指定。另外，在單元區③中，缺陷區，即缺陷#3和與缺陷#3相應的替換#3被指定。在單元區④中，沒有缺陷被找到并且不存在缺陷區。
在記錄和檢驗被完成一直到單元區④之后，如果期望終止記錄操作#1(例如，如果用戶按下彈出按鈕或者分配給記錄操作#1的用戶數據的記錄被完成)，則數據記錄和/或再現設備在存儲于存儲器3中的先前TDFL中創建TDFL#1，在TDFL#1中在單元區①至④中產生的缺陷#1至#3的位置信息和與缺陷#1至#3相應的替換#1至#3的位置信息被更新。
當一次寫入記錄介質100被再次裝入數據記錄和/或再現設備時，控制單元2從一次寫入記錄介質100讀取先前記錄的TDFL#1，并且將讀取的TDFL#1存儲在存儲器3中。其后，一旦記錄操作#2開始，以與記錄操作#1中相同的方式，數據被記錄并且缺陷管理被執行。
換句話說，在記錄操作#2中，記錄用戶數據之后的檢驗從單元區⑤至⑦被執行，因此，缺陷#4和#5和相應的替換#4和#5被指定。在記錄操作#2被終止之后，數據記錄和/或再現設備在存儲于存儲器3中的先前TDFL#1中創建TDFL#2，在TDFL#2中缺陷#4和#5的位置信息和替換#4和#5的位置信息被更新。
圖5示出示例性的TDFL。參照圖5，一次寫入記錄介質100上的所有缺陷簇的位置信息被包括在TDFL的第一列中，并且與缺陷簇相應的替換簇的位置信息被包括在TDFL的第二列中。在本實施例的一方面中，缺陷簇或替換簇的位置使用缺陷簇或替換簇的各自第一扇區的PSN來被指示。然而，根據本發明的方面，缺陷簇或替換簇的位置可使用缺陷簇或替換簇的各自最后扇區的PSN或者使用指示缺陷簇或替換簇的索引來被指示。
返回參照圖3，一旦TDFL被如上所述創建，則控制單元2將創建的TDFL記錄在TDMA的至少一簇中，并且檢驗記錄的TDFL(操作S510)。根據檢驗的結果，如果缺陷簇在記錄TDFL的簇之中被產生，則控制單元2將記錄在缺陷簇中的數據重寫入TDMA的另一簇中(操作S530)。
現在將對TDFL記錄后檢驗的兩個示例性實施例進行描述。
圖6是根據本發明實施例的TDFL記錄后檢驗的示圖。根據本發明所示實施例，當其大小等于多個簇的大小的TDFL被記錄在TDMA中時，整個TDFL被記錄并且隨后被檢驗。
參照圖6，TDFL的大小是包括第一簇210、第二簇230、第三簇250的三個簇，并且TDFL被記錄在三個簇中并且隨后被檢驗。根據檢驗的結果，其確定缺陷在第二簇230中被產生。因此，記錄在第二簇230中的數據被重寫入緊跟第三簇250之后的簇270。在簇270的檢驗之后，如果確定沒有在簇270中產生缺陷，則TDFL的記錄被終止，并且指示在其中記錄TDFL的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。此時，指針信息包括指示在初始記錄期間沒有產生缺陷的第一簇210和第三簇250的位置以及替換有缺陷的第二簇230的簇270的位置的指針。
圖7是用于解釋根據本發明另一實施例的TDFL記錄后檢驗的示圖。根據本發明所示實施例，TDFL具有三個簇的大小。TDFL被記錄在第一簇310中并且隨后被檢驗。根據檢驗的結果，確定在第一簇310中沒有產生缺陷。TDFL被記錄在第二簇330中并且被檢驗。根據檢驗的結果，確定缺陷在第二簇330中被產生。因此，記錄在第二簇330中的TDFL被重寫入緊跟缺陷的第二簇330之后的簇350。在簇350的檢驗之后，如果確定在簇350中沒有產生缺陷，則TDFL被記錄在第三簇370中并被檢驗。在檢驗第三簇370之后，如果確定沒有產生缺陷，則TDFL的記錄被終止，并且指示在其中記錄TDFL的簇的位置的指針信息被記錄在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。如圖6的實施例中，指針信息包括指示在初始記錄期間沒有產生缺陷的第一簇310和第三簇370的位置以及代替有缺陷的第二簇330的簇350的位置的指針。
圖8示出根據本發明一方面的指示TDFL的位置的示例性指針信息。圖8中顯示的指針信息包括k個指針410、430、和450。數據記錄和/或再現設備通過再現圖8中所示的指針信息來順序地將TDFL記錄在k個簇中，并且k個簇的位置可被看到。
在本實施例中，TDFL的第n簇指針(n是范圍從1到k的整數)具有4字節大小。另外，指針信息被包括在TDDS中。換句話說，TDDS包括指示TDFL的位置的指針信息、關于寫入條件測試區的可記錄位置的信息、寫保護信息、和分配給數據區的備用區的位置和/或大小信息。
由于TDDS應包括指示TDFL的位置的指針信息，所以TDDS應總在TDFL被記錄之后被記錄。
如上所述，根據用于記錄TDFL的方法和設備，可通過在記錄TDFL期間執行寫入后檢驗并且如果產生缺陷簇則將TDFL重寫入另一簇中來具有高可靠性地記錄TDFL。另外，當缺陷在TDFL的記錄期間被產生時，僅記錄在缺陷簇中的數據被記錄在替換簇中，而不是重新記錄整個TDFL。參照圖3，在操作S550，指示在其中正常記錄TDFL的簇的位置的指針信息被包括在TDDS中，并且TDDS被記錄在TDMA中。因此，可保存TDMA中的存儲空間。
現在將對一種根據本發明實施例的用于再現TDFL的方法和設備進行描述。
用于再現TDFL的設備使用圖2中所示的數據記錄和/或再現設備。然而，如果用于再現TDFL的設備是僅再現設備，則記錄/讀取單元1和控制單元2可僅執行數據讀取。
圖9是示出根據本發明實施例的再現TDFL的方法的流程圖。盡管沒有顯示在附圖中，但是當根據上述方法將用戶數據、TDFL、和TDDS記錄在其中的一次寫入記錄介質100被裝入數據記錄和/或再現設備時，控制單元2執行初始化以使用一次寫入記錄介質100。換句話說，使用和管理一次寫入記錄介質100所需的基本數據從一次寫入記錄介質100被讀取。
具體地講，在更新的TDDS被定位和讀取之后，指示更新的TDFL的位置的指針信息從更新的TDDS中被獲得(操作S610)。指示更新的TDFL的位置的指針信息具有圖8中顯示的結構。
由于控制單元2可從指針信息中獲得記錄更新的TDFL的簇的位置和TDFL被記錄在簇中的順序，所以其讀取更新的TDFL(操作S630)。控制單元2將從一次寫入記錄介質100中讀取的更新的TDDS和TDFL存儲在存儲器3中。控制單元2能夠參照存儲在存儲器3中的TDDS和TDFL來無缺陷地再現記錄在一次寫入記錄介質100上的用戶數據。
本發明還能夠被實現為計算機可讀記錄介質中的計算機可讀代碼。計算機可讀記錄介質包括可由計算機系統讀取的數據被存儲在其中的所有類型的記錄設備。這種計算機可讀記錄介質是ROM、RAM、CD-ROM、磁帶、軟盤、和光學數據存儲器、和經由如互聯網的載波的傳輸。另外，計算機可讀記錄介質可被分布在經網絡連接的計算機系統之中，并且計算機可讀代碼可被存儲在其上并且以分散方式被執行。
另外，應該理解本發明的方法可被使用在TDMA將被保存在其中的多種類型的介質中，這些介質包括可寫光學介質(例如CD-R、DVD-R)、可重寫介質(例如CD-R/W、DVD-R/W、DVD-RAM)、磁和磁光介質、和如藍光盤、高級光盤(AOD)、E-DVD的下一代DVD。
盡管已經顯示和描述了本發明的一些實施例，但本領域的技術人員應該理解在不脫離由權利要求和其等同物限定范圍的本發明的原理和精神的情況下，可對實施例進行改變。
權利要求
1.一種將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質中的方法，該方法包括將當數據被記錄在一次寫入記錄介質中時創建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷。將記錄在缺陷簇中的數據記錄在另一簇中；和將指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質上。
2.如權利要求1所述的方法，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
3.如權利要求1所述的方法，其中，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
4.如權利要求1所述的方法，其中，在記錄和檢驗臨時缺陷列表的步驟中，臨時缺陷列表被完全地記錄在該至少一簇中，并且檢驗缺陷是否在該至少一簇中被產生。
5.如權利要求1所述的方法，其中，臨時缺陷列表的記錄和檢驗以簇為單位被執行。
6.如權利要求1所述的方法，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。
7.如權利要求6所述的方法，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
8.一種用于記錄和/或再現關于一次寫入記錄介質的數據的設備，該設備包括記錄/讀取單元，用于將數據記錄在一次寫入記錄介質上或從一次寫入記錄介質再現數據；和控制單元，用于控制記錄/讀取單元將當數據被記錄在一次寫入記錄介質上時創建的用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的至少一簇中，檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷，控制記錄/讀取單元將記錄在缺陷簇中的數據記錄在另一簇中，并且控制記錄/讀取單元將指示在其中記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質上。
9.如權利要求8所述的設備，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
10.如權利要求8所述的設備，其中，指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
11.如權利要求8所述的設備，其中，控制單元將臨時缺陷列表完全地記錄在該至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷。
12.如權利要求8所述的設備，其中，控制單元以簇為單位記錄并且檢驗臨時缺陷列表。
13.如權利要求8所述的設備，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。
14.如權利要求13所述的設備，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
15.一種讀取記錄在一次寫入記錄介質上的用于缺陷管理的臨時缺陷列表的方法，該方法包括從一次寫入記錄介質獲得指示記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息；和根據指針信息，訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇并且讀取該臨時缺陷列表。
16.如權利要求15所述的方法，其中，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置。
17.如權利要求16所述的方法，其中，指針信息單獨地指示每一簇的位置。
18.如權利要求16所述的方法，其中，在記錄臨時缺陷列表期間，如果在該至少一簇中產生缺陷并且數據被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
19.如權利要求15所述的方法，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的位置信息。
20.如權利要求15所述的方法，其中，指針信息被記錄在臨時盤定義結構中。
21.如權利要求20所述的方法，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
22.一種用于再現和/或記錄關于一次寫入記錄介質的數據的設備，該設備包括讀取單元，用于讀取記錄在一次寫入記錄介質上的數據；和控制單元，用于控制讀取單元從一次寫入記錄介質讀取指示記錄用于缺陷管理的記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息，根據指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇，并且讀取臨時缺陷列表。
23.如權利要求22所述的設備，其中，指針信息指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置。
24.如權利要求23所述的方法，其中，指針信息指示每一簇的位置。
25.如權利要求23所述的方法，其中，在記錄臨時缺陷列表期間，如果在該至少一簇中產生缺陷并且數據被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
26.如權利要求22所述的方法，其中，臨時缺陷列表包括缺陷簇的第一位置信息和用于替換缺陷簇的替換簇的第二位置信息。
27.如權利要求22所述的方法，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。
28.如權利要求27所述的方法，其中，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被記錄在設置在一次寫入記錄介質上的臨時盤管理區中。
29.一種與記錄和/或再現設備一起使用的一次寫入記錄介質，包括至少一個用戶數據區，用于記錄用戶數據；至少一個備用區，用于當在用戶數據區的相應部分中產生缺陷時替換用戶數據區的相應部分；和至少一個臨時盤管理區，用于記錄用于缺陷管理的臨時缺陷列表和將記錄臨時缺陷列表的至少一簇的位置指示給記錄/再現設備的指針信息。
30.如權利要求29所述的一次寫入記錄介質，其中，臨時缺陷列表包括產生缺陷的用戶數據區的缺陷簇的第一位置信息和用于替換缺陷簇的備用區的替換簇的第二位置信息。
31.如權利要求29所述的一次寫入記錄介質，其中，當臨時缺陷列表被記錄在臨時盤管理區的至少一簇中時，如果在該至少一簇中產生缺陷并且數據被記錄在另一簇中，則指針信息包括不是缺陷簇的該另一簇的位置信息。
32.如權利要求29所述的一次寫入記錄介質，其中，指針信息被包括在臨時盤定義結構中。
33.一種在其上記錄有由計算機執行的用于將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質上的方法的程序的計算機可讀記錄介質，該方法包括將當數據被記錄在一次寫入記錄介質上時創建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷；將記錄在缺陷簇中的數據記錄在另一簇中；和將指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質上。
34.一種在其上記錄有由計算機執行的用于執行讀取用于缺陷管理的記錄在一次寫入記錄介質上的臨時缺陷列表的方法的程序的計算機可讀記錄介質，該方法包括從一次寫入記錄介質獲得指示記錄臨時缺陷列表的位置的指針信息；和根據指針信息訪問記錄臨時缺陷列表的至少一簇并且讀取臨時缺陷列表。
35.一種用于管理存儲在記錄介質上的用戶數據的臨時缺陷列表的方法，包括在基于逐簇將臨時缺陷列表記錄在記錄介質的臨時缺陷管理區期間執行寫入后檢驗處理。
36.如權利要求35所述的方法，其中，執行寫入后檢驗處理的步驟包括以單一單元將臨時缺陷列表記錄在臨時缺陷管理區的連續簇中；和檢驗記錄的單一單位的臨時缺陷列表，從而當缺陷被定位在與臨時缺陷列表的一部分相應的臨時缺陷管理區的簇中的一個中時，在臨時缺陷管理區的下一簇中存儲并檢驗該部分。
37.如權利要求36所述的方法，還包括將指示位置的指針信息存儲在記錄臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區中。
38.如權利要求37所述的方法，其中，指針信息僅指向包含臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區的簇。
39.如權利要求37所述的方法，還包括將指針信息存儲在被存儲于臨時缺陷管理區中的臨時盤定義結構中。
40.如權利要求39所述的方法，其中，當臨時缺陷管理區滿時，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被存儲在記錄介質上的次臨時缺陷管理區中。
41.如權利要求40所述的方法，其中，臨時缺陷列表在臨時盤定義結構之前被存儲在臨時缺陷管理區中。
42.如權利要求41所述的方法，其中，記錄介質是一次寫入光盤。
43.如權利要求42所述的方法，其中，一次寫入光盤是單記錄層盤。
44.如權利要求35所述的方法，其中，執行寫入后檢驗處理的步驟包括將臨時缺陷列表記錄在臨時缺陷管理區的單一簇增量中；和當單一簇被記錄時檢驗每個單一簇增量，從而當缺陷定位于與臨時缺陷列表的一部分相應的臨時缺陷管理區的單一簇中時，在臨時缺陷管理區的下一簇中記錄并檢驗臨時缺陷列表的該部分。
45.如權利要求44所述的方法，還包括將指示位置的指針信息存儲在記錄臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區中。
46.如權利要求45所述的方法，其中，指針信息僅指向包含臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區的簇。
47.如權利要求45所述的方法，還包括將指針信息存儲在被存儲于臨時缺陷管理區中的臨時盤定義結構中。
48.如權利要求47所述的方法，其中，當臨時缺陷管理區滿時，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被存儲在記錄介質上的次臨時缺陷管理區中。
49.如權利要求48所述的方法，其中，臨時缺陷列表在臨時盤定義結構之前被存儲在臨時缺陷管理區中。
50.如權利要求49所述的方法，其中，記錄介質是一次寫入光盤。
51.如權利要求50所述的方法，其中，一次寫入光盤是單記錄層盤。
52.一種管理存儲在一次寫入記錄介質上的用戶數據的臨時缺陷列表的方法，包括在將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的臨時缺陷管理區期間執行寫入后檢驗處理，從而當在記錄期間產生缺陷區時，僅與缺陷區相應的單一簇的數據被記錄在替換區中。
53.如權利要求52所述的方法，其中，缺陷區和替換區的位置由物理扇區號指示。
54.如權利要求53所述的方法，其中，物理扇區號與缺陷區和替換區的各自第一扇區相應。
55.如權利要求53所述的方法，其中，物理扇區號與缺陷區和替換區的各自最后扇區相應。
56.如權利要求53所述的方法，其中，索引指示各個缺陷區和替換區。
全文摘要
一種將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質上的方法，一種再現該臨時缺陷列表的方法，一種用于記錄和/或再現臨時缺陷列表的設備，以及一次寫入記錄介質。將用于缺陷管理的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質上的方法包括將當數據被記錄在一次寫入記錄介質上時被創建的臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的至少一簇中，并且檢驗在該至少一簇中是否產生缺陷。隨后，該方法包括將原始記錄在缺陷簇中的數據重新記錄在另一簇中，并且將指示記錄臨時缺陷列表的該至少一簇的位置的指針信息記錄在一次寫入記錄介質上。
文檔編號G11B7/007GK1705986SQ200480001415
公開日2005年12月7日 申請日期2004年4月29日 優先權日2003年4月30日
發明者黃盛凞, 高禎完 申請人:三星電子株式會社