專利名稱：檢測介質厚度變化和/或補償其引起的球形像差的拾取器的制作方法
技術領域：
本發明涉及光學拾取器，更具體地說，本發明涉及一種光學拾取器，它能夠檢測記錄介質的厚度變化，和/或能夠補償由記錄介質厚度變化引起的球形像差。
背景技術：
通常，隨著由光學拾取裝置聚焦在記錄介質上的光點的尺寸變小，信息記錄/再現密度增加。使用的光波長(λ)越短，并且物鏡的數值孔徑(NA)越大，則光點的尺寸越小，這可由方程式(1)表達光點的尺寸∝λ/NA...(1)為了更高的記錄密度而減小聚焦在記錄介質上的光點尺寸，就需要構建帶有諸如藍光半導體激光器的短波長光源和具有更大NA的物鏡的光學拾取器。目前在本技術領域中能引起興趣的是一種用于利用0.85NA的物鏡將記錄密度增加到22.5GB、并用于將記錄介質的厚度減小到0.1mm以防止由記錄介質傾斜造成的性能降級的格式。這里，記錄介質厚度指的是從記錄介質的光入射表面到信息記錄表面的距離。
如下面的方程式(2)所示，球形像差W40d與物鏡NA的4次方和記錄介質的厚度偏差成比例。因此，如果采用約0.85的NA的物鏡，則記錄介質必須有偏差小于±3μm的統一厚度。但是，制造在上述厚度偏差范圍內的記錄介質十分困難。
W40=n2-18n3(NA)4Δd...(2)]]>
圖1表示當使用400nm光源和具有0.85NA的物鏡時，記錄介質的厚度偏差與由厚度偏差引起的波前像差(光學路徑差(OPD))之間的關系。如圖1所示，波前像差與厚度偏差按比例增加。因此，當采用具有高NA，如0.85NA的物鏡時，就必須校正由記錄介質的厚度偏差引起的球形像差。
圖2表示了一種能夠檢測光盤厚度的偏差的常規光學拾取器，該裝置在待審日本專利hei 12-57616中公開。參照圖2，該常規光學拾取器包括光源10，用于發射光束；偏振光束分離器11，用于根據其偏振狀態發射或反射入射光束；四分之一波片15，用于改變入射光束的偏振狀態；物鏡17，用于聚焦入射光束以在光盤1的記錄表面1a上形成光點；圓柱形散光鏡21，用于將影響光束的散光在從光盤1的記錄表面1a上反射后通過物鏡17、四分之一波片15和偏振光束分離器11傳送回去；以及光檢測器25，用于從散光鏡21接收光束。該常規光學拾取器還包括安置在偏振光束分離器11和四分之一波片15之間的校準鏡，用于校準來自光源的入射偏向光束；和安置在偏振光束分離器11和散光鏡21之間的聚光鏡19。
因為常規光學拾取器具有引起散光以能夠檢測聚焦誤差信號的散光鏡21，所以根據光盤的厚度t’，在從光盤1的記錄表面1a上反射后經過散光鏡21的光的強度分布會變化，如圖3A到3E所示。當采用的光盤1分別具有厚度0.70mm、0.65mm、0.60mm、0.55mm和0.50mm，并且圖2的光學拾取器被設計成用于0.6mm厚的光盤時，圖3A到3E說明經過散光鏡21并射向光檢測器25的光強度分布。
參照圖3C，當光盤1具有厚度0.60mm時，即相對于其它厚度水平的基準水平(以下稱為基準厚度)，由于沒有發生球形像差，進入光檢測器25的光強度分布是圓形的并且是中心點對稱的。當光盤1的厚度從0.60mm偏離，由于厚度偏差而發生球形像差，并且經過散光鏡21并由光檢測器25接收的光強度分布是中心點不對稱的，如圖3A、3B、3D和3E所示。
光檢測器25從所接收的光強度分布的變化檢測光盤1的厚度變化。為此目的，光檢測器25包括第一到第四內側部分A1、B1、C1和D1，及圍繞第一到第四內側部分A1、B1、C1和D1的第一到第四外側部分A2、B2、C2和D2。
在具有上述結構的常規光學拾取器中，光盤1的厚度變化信號是通過從在光檢測器25的一個對角線方向上的第一和第三內側部分A1和C1的檢測信號a1和c1與在另一個對角線方向上的第二和第四外側部分B2和D2的檢測信號b2和d2之和(a1+c1+b2+d2)，減去在光檢測器25的一個對角線方向上的第一和第三外側部分A2和C2的檢測信號a2和c2與在另一個對角線方向上的第二和第四內側部分B1和D1的檢測信號b1和d1之和(a2+c2+b1+d1)而檢測的。換言之，光盤的厚度變化信號St’能夠通過利用下面的方程式，從光檢測器25的第一到第四內側部分A1、B1、C1和D1的檢測信號a1、b1、c1和d1與第一到第四外側部分A2、B2、C2和D2的檢測信號a2、b2、c2和d2來檢測St′＝(a1+c1+b2+d2)-(a2+c2+b1+d1)...(3)但是，這個檢測光盤厚度變化的機理僅能夠被應用于采用散光鏡的光學拾取器。換言之，如果光學拾取器不包括散光鏡，與光學拾取器一同使用的光盤的厚度變化就不能被檢測到。
發明內容
為了解決上述問題，本發明的目的在于提供一種光學拾取器，它在光接收側不包括形成散光的散光鏡的情況下，能夠檢測記錄介質的厚度變化，和/或能夠補償由記錄介質厚度變化引起的球形像差。
根據本發明的目的，提供了一種光學拾取器，包括光源，用于產生和發射光束；物鏡，用于聚焦來自光源的入射光以在記錄介質上形成光點；和安置在光源和物鏡之間的光學路徑上的光學路徑改變器，用于改變入射光束的行進路徑，該光學拾取器的特征在于包括光束劃分與檢測裝置，用于將從記錄介質反射后經過物鏡和光學路徑改變器的光束劃分成光軸上的第一光束部分和在第一光束部分周圍的第二和第三光束部分，并從第一、第二和第三光束部分檢測第一、第二和第三檢測信號；和厚度變化檢測電路，用于通過從第一檢測信號中減去第二和第三檢測信號之和來檢測記錄介質的厚度變化。
最好，光束劃分與檢測裝置是具有第一、第二和第三光接收部分的光檢測器，用于將入射光束劃分成第一、第二和第三光束部分，接收第一、第二和第三光束部分，并分別光電轉換第一、第二和第三光束部分。
最好，光束劃分與檢測裝置包括光束劃分器，用于將入射光束劃分成第一、第二和第三光束部分；以及第一、第二和第三光檢測器，用于從光束劃分器接收第一、第二和第三光束部分，并分別光電轉換第一、第二和第三光束部分。
根據本發明的光學拾取器在光學路徑改變器和物鏡之間的光學路徑上還可以包括球形像差補償單元，用于根據由厚度變化檢測電路產生的厚度變化信號通過驅動補償由記錄介質厚度變化引起的球形像差。
根據本發明的光學拾取器還可以包括在光源和物鏡之間的光學路徑上的校準鏡，用于校準來自光源的偏向光束；以及執行器，用于根據由厚度變化檢測電路檢測的厚度變化信號驅動校準鏡，從而補償由記錄介質厚度變化引起的球形像差。
通過下面結合附圖詳細描述優選實施例，本發明的上述目的和優點將會變得更加清楚，其中圖1的圖表表示記錄介質的厚度偏差與由厚度偏差引起的波前像差(光學路徑差(OPD))之間的關系；圖2說明一種能夠檢測光盤厚度的偏差的常規光學拾取器，該裝置是在待審日本專利hei 12-57616中公開的；圖3A到3E說明當光盤分別具有厚度0.70mm、0.65mm、0.60mm、0.55mm和0.50mm時，進入圖2的光學拾取器的光檢測器的光強度分布，該光學拾取器被設計成用于0.6mm厚的光盤；圖4的平面圖說明圖2中所示的光檢測器的結構；圖5表示根據本發明的光學拾取器的一個優選實施例；圖6A到6C，和圖7A到7C分別說明當圖5的光學拾取器被設計成用于0.1mm厚的記錄介質，物鏡具有0.85NA并且光源發射400nm的光束時，對應記錄介質的厚度變化，從記錄介質反射后經過物鏡和光學路徑改變器傳回的光束的密度分布和相位分布；圖8說明圖5的光檢測器和厚度變化檢測電路的優選實施例；圖9說明圖8的厚度變化檢測電路的另一個實施例；圖10說明圖5的光檢測器和厚度變化檢測電路的其它實施例；圖11是當根據本發明的光學拾取器的光檢測器具有圖8的結構時，厚度變化信號和光檢測器的第一與第二光接收部分的第一與第二檢測信號之和的圖表；圖12是當根據本發明的光學拾取器的光檢測器具有圖10的結構時，記錄介質的厚度變化信號和光檢測器的第一、第二和第三光接收部分的第一、第二和第三檢測信號之和的圖表；圖13表示根據本發明的光學拾取器的另一個優選實施例；圖14表示根據本發明的光學拾取器的另一個優選實施例；圖15的平面圖表示圖14的光束劃分器的結構；圖16表示根據本發明的光學拾取器的另一個優選實施例；以及圖17的平面圖表示圖16的光束劃分器的結構。
具體實施例方式
在圖5中說明了根據本發明的光學拾取器的優選實施例。參照圖5，該光學拾取器包括光源51，用于產生和發射光束；物鏡57，用于聚焦來自光源51的入射光以在記錄介質50的信息記錄表面50a上形成光點；安置在光源51和物鏡57之間的光學路徑上的光學路徑改變器，用于改變入射光束的行進路徑；光檢測器65，用于劃分和檢測從記錄介質50反射后經過物鏡57和光學路徑改變器傳回的光束；以及厚度變化檢測電路70，用于從自光檢測器65輸出的多個檢測信號中檢測記錄介質50的厚度變化。這里，記錄介質50的厚度t指的是從記錄介質50的光入射表面50b到信息記錄表面50a的距離。厚度變化指參照一個記錄介質上的位置的厚度偏差、和不同光盤之間的厚度差兩者。
光源51可以是半導體激光器，例如邊緣發射激光器或垂直空穴表面發射激光器(VCSEL)。用于以預定比率發送和反射入射光束的光束分離器55能夠被采用作為光學路徑改變器。或者，光學路徑改變器可以包括偏振光束分離器(未示出)，用于根據其偏振情況有選擇地發送或反射入射光束；以及安置在偏振光束分離器和物鏡57之間的光學路徑上的四分之一波片(未示出)，用于改變入射光束的相位。
為了使用根據本發明的光學拾取器用于記錄和再現下一代數字通用盤(DVD)，所謂的“高清晰度(HD)DVD”家族系列的記錄介質，最好光源51采用藍光半導體激光器，該激光器發射大約400-420nm波長的光束，最好是大約405nm波長的光束，而物鏡57采用具有0.7或更大數值孔徑(NA)的透鏡，NA最好是0.85。
根據本發明的光學拾取器最好還包括在光源51和光束分離器55之間的光學路徑上的校準鏡53，用于校準從光源51發射的偏向光束；以及在光束分離器55和光檢測器65之間的光學路徑上的感測(sensing)鏡59，用于會聚入射光束。感測鏡59與光檢測器65之間的距離是確定的，以使被光檢測器接收的光點具有適當的尺寸，例如，具有直徑約100μm。
考慮到基于記錄介質50的厚度變化的光束強度分布的變化，光檢測器65作為光束劃分與檢測裝置被構建成能夠劃分和檢測從記錄介質反射后經過物鏡57和光學路徑改變器傳回的光束。
例如，假設物鏡57具有0.85的NA，光學拾取器被設計成用于具有厚度0.1mm的記錄介質50，而且光源51發射400nm的光束。在這種情況下，對應記錄介質50的厚度變化，從記錄介質50反射后經過物鏡57和光學路徑改變器傳回的光束LB的強度和相位分布在圖6A到6C中和圖7A到圖7C中示出。更具體地說，圖6A說明了從記錄介質50反射后經過光學路徑改變器傳回的光的強度分布，其中記錄介質50的厚度比設計用于光學拾取器的厚度0.1mm(以下稱為基準厚度)薄10μm，而圖7A說明了圖6A的光束的相位分布。圖6B說明了具有基準厚度0.1mm的記錄介質50的光分布，而圖7B說明了圖6B的光束的相位分布。圖6C說明了具有比基準厚度厚10μm的記錄介質50的光分布，而圖7C說明了圖6C的光束的相位分布。
參照圖6A和7A，當記錄介質50上光束聚焦的部分比基準厚度薄時，光束的強度分布在中心軸比較弱，并且從中心軸隨著距離增加而增強。而且，光束的相位分布出現類似對應中心軸的雙峰對稱。參照圖6B和7B，當記錄介質50上光束聚焦的部分具有基準厚度時，光束的強度分布貫穿光束是相同的，而且光束的相位分布是相同的。參照圖6C和7C，當記錄介質50上光束聚焦的部分比基準厚度厚時，光束的強度分布和相位分布與圖6A和7A的情況相反。
如圖6A到6C和圖7A到圖7C所示，光束的強度分布和相位分布根據記錄介質50的厚度變化圍繞中心軸對稱地變化，并對應相反的厚度變化而相反變化。而且，由增加大于基準厚度的記錄介質的厚度引起的光束的分布和相位譜的變化，與由減小小于基準厚度的記錄介質的厚度引起的光束的分布和相位譜的變化相反。
因此，光檢測器65最好被構建成可以將入射光束分成光軸上的LB部分和外圍部分分別檢測。例如，如圖8所示，光檢測器65可以包括第一和第二光接收部分A和B，用于將入射光束LB劃分成對應中心光軸的第一光束部分，和在第一光束部分周圍的第二光束部分，并用于光電轉換第一和第二光束部分。在這種情況下，光檢測器65的第一光接收部分A可以是圓形或矩形的，從而將入射光束LB劃分成對應中心光軸的第一光束部分和在第一光束部分周圍的第二光束部分，并分別檢測這兩部分。
如圖8所示，當光檢測器65包括第一和第二光接收部分A和B時，厚度變化檢測電路70與減法器71構建在一起，用于從第一光接收部分A的第一檢測信號a中減去第二光接收部分B的第二檢測信號b、并輸出相減的結果作為對應記錄介質50的厚度變化信號St。在這種情況下，如圖9所示，厚度變化檢測電路70還可以包括增益控制器73，用于在減法器71做減法之前，利用預定的增益因子k放大第一和第二檢測信號a和b中的至少一個信號，從而能夠調整厚度變化信號St的偏移量。
或者，如圖10所示，光檢測器65可以包括第一、第二和第三光接收部分D、E和F，用于分別將入射光束LB劃分成在中心光軸上排列的第一光束部分、和在入射光束LB的第一光束部分周圍的第二和第三光束部分，并用于分別光電轉換這些光束部分。第一、第二和第三光接收部分D、E和F既可以按對應記錄介質50的切線方向排列，也可以按對應記錄介質50的徑線方向排列。
當光檢測器65以如圖10所示的方式構建時，厚度變化檢測電路70通過從第一光接收部分D的第一檢測信號d中減去第二和第三光接收部分E和F的第二和第三檢測信號e和f之和來檢測記錄介質50的厚度變化。如圖9所示，厚度變化檢測電路70可以如此構建，從而能夠利用預定的增益因子k放大第一、第二和第三檢測信號d、e和f中的至少一個信號，然后處理檢測信號，從而能夠調整厚度變化信號的偏移量。
對于圖8和圖10示出的光檢測器65，第一光檢測部分A和D的尺寸是確定的，從而它們可接收全部入射光束的10-90％。
回到圖5，根據本發明的光學拾取器在光學路徑改變器和物鏡57之間的光學路徑上還可以包括球形像差補償單元75，其中該單元是根據由厚度變化檢測電路70產生的厚度變化信號St驅動的，因此補償了由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差。
通過在兩層具有電極圖案的透明基片之間注入液晶制造而成的液晶板能夠用作球形像差補償單元75。由于對于折射率液晶具有各向異性，經過液晶板的光束的相位發生改變。更具體地說，液晶板是根據厚度變化信號St驅動的，從而，經過液晶板的光束的波前形狀變成由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差的相反形狀，因此補償了由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差。在這種情況下，用于驅動球形像差補償單元75的驅動電路可以包含于或者獨立于厚度變化檢測電路70。
圖11是當本發明的光學拾取器的光檢測器65具有圖8的結構時，厚度變化信號St與光檢測器65的第一和第二光接收部分A和B的第一和第二檢測信號a和b之和Ssum相對于記錄介質50的厚度變化的圖表。圖12是當本發明的光學拾取器的光檢測器65具有圖10的結構時，厚度變化信號St和光檢測器65的第一、第二和第三光接收部分E、D和F的第一、第二和第三檢測信號e、d和f之和Ssum相對于記錄介質50的厚度變化的圖表。如圖11和12所示，相對于記錄介質50的厚度變化，由厚度檢測電路70檢測的厚度變化信號St的變化，相對而言大于由光檢測器65檢測的檢測信號之和Ssum的變化。
如參照圖11和12所描述的，記錄介質50的厚度變化能夠由本發明的光學拾取器檢測。因此，由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差能夠通過根據厚度變化信號St驅動球形像差補償單元75來校正。
此外，為了補償由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差，根據本發明的光學拾取器可以包括執行器80，它能夠根據由厚度變化檢測電路70產生的厚度變化信號St沿著光軸驅動校準鏡53，如圖13所示，以取代圖5的球形像差校正單元75。
圖14表示了根據本發明的光學拾取器的另一個優選實施例。在本實施例中，代替具有圖8中所示的分結構的檢測器65，將光束劃分器160、第一和第二光檢測器165a和165b用作光束劃分與檢測裝置。在圖14中，與圖5中相同的部件由相同的參考標號表示，并且這里將不再描述。
如圖15所示，光束劃分器160包括第一和第二部分A’和B’，用于將入射光束LB劃分成在光軸上的第一光束部分和在第一光束周圍的第二光束部分。例如，第一部分A’例如直接發送入射光束LB的第一光束部分，或將該部分衍射成第0級光束，從而發送的或衍射的光束由第一光檢測器165a接收。第二部分B’例如衍射入射光束LB的第二光束部分，從而第+1級或第-1級光束由第二光檢測器165b接收。全息光學單元(HOE)作為光束劃分器160，該HOE在第一部分A’中具有通孔、直接發送部分或全息圖案，用于衍射入射光束并發送產生的第0級光束；而且它在第二部分B’中具有全息圖案，用于衍射入射光束并發送產生的第+1級和第-1級光束。
在根據圖14中所示的本發明的實施例的光學拾取器中，從第一和第二光檢測器165a和165b的第一和第二檢測信號a和b中檢測記錄介質50的厚度變化信號St，以及根據厚度變化信號St通過驅動球形像差補償單元75校正由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差，其原理與前面實施例的原理相同。另外，圖14的光學拾取器可以包括執行器80，用于沿著光軸驅動校準鏡53，如圖13所示，從而補償了由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差。
圖16表示了根據本發明的光學拾取器的另一個優選實施例。在本實施例中，代替具有圖10中所示的分結構的檢測器65，將光束劃分器260及第一、第二和第三光檢測器265d、265e和165f用作光束劃分與檢測裝置。在圖16中，與圖5中相同的部件由相同的參考標號表示，并且這里將不再描述。
在圖16所示的實施例中，如圖17所示，光束劃分器260包括第一、第二和第三部分D’、E’和F’，用于根據與圖15的光束劃分器160相同的原理，將入射光束LB劃分成在光軸上的第一光束部分和在第一光束周圍的第二和第三光束部分。第一部分D’例如直接發送入射光束LB的第一光束部分，或衍射該部分并發送產生的第0級光束，從而發送的或衍射的光束由第一光檢測器265d接收。第二部分E’例如衍射入射光束LB的第二光束部分，從而第+1級或第-1級衍射的光束由第二光檢測器265e接收。第三部分F’例如衍射入射光束LB的第三光束部分，從而第+1級或第-1級衍射的光束由第三光檢測器265f接收。HOE能夠用作光束劃分器160，該HOE在第一部分D’中具有通孔、直接發送部分或全息圖案，用于衍射入射光束；而且它在第二部分E’和第三部分F’中都具有全息圖案，用于衍射入射光束。
在根據圖16中所示的本發明的實施例的光學拾取器中，從第一、第二和第三光檢測器265d、265e和265f的第一、第二和第三檢測信號d、e和f中檢測記錄介質50的厚度變化信號St，以及根據檢測的厚度變化信號St通過驅動球形像差補償單元75或校準鏡53補償由記錄介質50的厚度變化引起的球形像差，其原理與前面實施例的原理相同。
如上所述，在根據本發明的光學拾取器中，具有分結構的單個光檢測器，或光束劃分器和多個光檢測器被用作光束劃分與檢測裝置，從而，考慮到由記錄介質的厚度變化引起的光強度分布的變化，從記錄介質反射后經過物鏡和光學路徑改變器的光束是由光束劃分與檢測裝置劃分并檢測的。厚度變化信號是通過處理從光檢測器輸出的檢測信號而檢測的。因此記錄介質的厚度變化能夠利用在光學拾取器的光接收側不包括產生散光的散光鏡的光學系統來檢測。由記錄介質的厚度變化引起的球形像差能夠通過根據檢測的厚度變化信號驅動球形像差補償單元或校準鏡沿著光軸來校正。
盡管本發明是參照特定的優選實施例來描述的，但本領域的技術人員應該理解，在不脫離由本發明所附權利要求限定的本發明的精神和范圍的情況下，可以對其進行形式和細節的各種修改。
權利要求
1.一種光學拾取器，包括光源，用于產生和發射光束；物鏡，用于聚焦來自光源的入射光以在記錄介質上形成光點；和安置在光源和物鏡之間的光學路徑上的光學路徑改變器，用于改變入射光束的行進路徑，該光學拾取器的特征在于包括光束劃分與檢測裝置，用于將從記錄介質反射后經過物鏡和光學路徑改變器的光束劃分成光軸上的第一光束部分和在第一光束部分周圍的第二和第三光束部分，并從第一、第二和第三光束部分檢測第一、第二和第三檢測信號；和厚度變化檢測電路，用于通過從第一檢測信號中減去第二和第三檢測信號之和來檢測記錄介質的厚度變化。
2.如權利要求1所述的光學拾取器，其中光束劃分與檢測裝置是具有第一、第二和第三光接收部分的光檢測器，用于將入射光束劃分成第一、第二和第三光束部分，接收第一、第二和第三光束部分，并分別光電轉換第一、第二和第三光束部分。
3.如權利要求1所述的光學拾取器，其中光束劃分與檢測裝置包括光束劃分器，用于將入射光束劃分成第一、第二和第三光束部分；和第一、第二和第三光檢測器，用于從光束劃分器接收第一、第二和第三光束部分，并分別光電轉換第一、第二和第三光束部分。
4.如權利要求1至3中任一項權利要求所述的光學拾取器，其中厚度變化檢測電路利用預定的增益因子放大第一、第二和第三檢測信號中的至少一個信號，然后處理第一、第二和第三檢測信號以檢測記錄介質的厚度變化。
5.如權利要求1至3中任一項權利要求所述的光學拾取器，其中第一光束部分對應于全部入射光束的10-90％。
6.如權利要求1至3中任一項權利要求所述的光學拾取器，還包括在光學路徑改變器和物鏡之間的光學路徑上的球形像差補償單元，用于補償由記錄介質厚度變化引起的球形像差，其中記錄介質是根據由厚度變化檢測電路產生的厚度變化信號驅動的。
7.如權利要求1至3中任一項權利要求所述的光學拾取器，還包括在光源和物鏡之間的光學路徑上的校準鏡，用于校準來自光源的偏向光束；和執行器，用于根據由厚度變化檢測電路檢測的厚度變化信號驅動校準鏡，從而補償由記錄介質厚度變化引起的球形像差。
全文摘要
提供了一種光學拾取器，包括光源、用于聚焦來自光源的入射光的物鏡以及安置在光源和物鏡之間的光學路徑上的光學路徑改變器，其特征在于包括光束劃分與檢測裝置，用于將反射后光束劃分成光軸上的第一光束部分和在第一光束部分周圍的第二和第三光束部分，并從第一、第二和第三光束部分檢測第一、第二和第三檢測信號；和厚度變化檢測電路，用于通過從第一檢測信號中減去第二和第三檢測信號之和來檢測記錄介質的厚度變化。該光學拾取器允許檢測記錄介質的厚度變化，而無需在該光學拾取器的光接收側安裝散光鏡。由記錄介質的厚度變化引起的球形像差能夠通過使用執行器根據檢測的厚度變化信號驅動球形像差補償單元或校準鏡沿著光軸來校正。
文檔編號G11B7/13GK1532828SQ20041003185
公開日2004年9月29日 申請日期2001年9月13日 優先權日2000年12月28日
發明者鄭鐘三, 安榮萬, 金泰敬, 徐偕貞 申請人:三星電子株式會社