專利名稱：用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法和使用該方法的光記錄介質的制作方法
技術領域：
本發明涉及光記錄方法和介質，并且更為具體的說，涉及用于管理在WORM類型光記錄介質上的缺陷區域的方法，和使用該方法的光記錄介質。該方法特別適用于在一次性寫入光盤比如那些使用近來開發的已知為BD-WO的藍光光盤格式上記錄數據。
背景技術：
使用光讀取/寫入裝置的數據記錄設備和介質通常被根據它們的寫入能力或靈活性來分類。在沒有寫入能力的只讀光記錄介質中，存在那些使用CD-ROM和DVD-ROM格式的光記錄介質。在已知的允許自由執行多次寫入操作的盤標準中，存在CD-RW、DVD-RAM、DVD-RW和DVD+RW類型，其是可重寫激光盤和數字多用途光盤。
另一方面，WORM類型光盤適于用作需要大的存儲容量的數據存儲設備。但是，這種光盤具有有限的記錄靈活性，并且用在一次性寫入多次讀取應用中。這些包括CD-R和DVD-R類型，其是可記錄的激光盤和數字多用途光盤。
同時，開發了已知為藍光光盤的高密度DVD(其是用于使用藍紫色激光記錄高質量音頻和視頻數據的大容量光盤)的新的類型。藍光光盤采用已知為BD-RE的可重寫光盤格式。
在光記錄介質的上述類型中，在它們的制造、處理或使用期間產生表面不完整和缺陷。因此，在數據記錄操作期間使用用于管理缺陷區域的方法，使得能夠正常地執行數據再現。
參考圖1，用于與光記錄介質102(比如BD-RE格式的光盤)一起使用的光盤記錄/再現設備100從主機(或控制器)200接收數據/命令輸入。光盤記錄/再現設備100設置有用于將數據寫到插入的光記錄介質或從其讀取數據的光拾取器104，用于控制光拾取器以實現正確的跟蹤并相對于光記錄介質的表面維持可控距離的拾取伺服器106，通過將從光拾取器接收的再現信號恢復為所需的信號值或通過調制從主機接收的記錄信號以傳送到光盤來處理到和來自光拾取器的數據的數據處理器108，用于在主機和記錄/再現設備之間傳送數據的接口110，用于控制記錄/再現設備的微計算機112，和用于存儲程序和用于臨時存儲包括缺陷管理信息的多種信息和數據的存儲器114。在主機200和存儲的程序的控制下，光拾取器104讀取在光盤上存儲(或寫入)的數據，提供輸入給數據處理器108的數據信號用于再現處理和輸出，并且使用從數據處理器輸出的寫入信號將數據寫到光盤的特定區域上。在寫入操作期間，光盤記錄/再現設備100根據經主機200輸入的命令和在存儲器114中存儲并由微機算機112執行的程序接收數據流(或編碼的模擬信號)，并輸出寫入信號到光拾取器104。
參考圖2，用于和圖1的設備一起使用的BD-RE類型光盤被劃分為指定的區域。該指定的區域基本上包括設置在導入區(LIA)和導出區(LOA)之間的數據區。該數據區包括和導入區相鄰的內備用區(ISA)和與導出區相鄰的外備用區(OSA)。
如上所述，光盤記錄/再現設備100處理來自主機200的輸入數據，并且以對應于糾錯碼塊單元的簇(clusters)將數據寫到光盤上。如果在寫入操作期間在數據區檢測到存在缺陷區域，光盤記錄/再現設備100執行一系列替換寫入操作以在兩個備用區之一(如圖2的實例所示為ISA)寫入對應于檢測的缺陷區域的數據簇。因此，通過在備用區而不是缺陷區域寫入缺陷區域的數據簇，可以從備用區讀取和再現數據，因此即使當光盤在數據區顯示出缺陷時也可防止發生寫入錯誤，并由此保證了數據安全性和數據完整性。
因為使用了可重寫光盤，使用允許自由訪問數據記錄區的光記錄介質執行上述方法。因此，在管理缺陷區域的數據的過程中，光盤記錄/再現設備具有無限定的記錄區的使用。但是，如果使用WORM類型光盤，僅一次執行寫入操作，并且必須在由用戶能執行正常的數據修補操作之前完成。
例如，近來已經開發了使用已知為BD-WO的格式的另一類型的藍光光盤。BD-WO類型光盤是一次性寫入類型光盤，因為這個類型的光盤格式的標準化近來剛剛開始，其不能使用用于管理光盤上的缺陷區域的已知方法。需要立即的解決方案。
發明內容
因此，本發明涉及用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法，以及使用該方法的光記錄介質(也就是，比如BD-WO的光盤)，其基本上避免了因為現有技術的限制和缺點引起的一個或多個問題。
本發明的目的是解決前述問題，其提供用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法，通過其寫入光盤的缺陷區域和從其讀取的數據被重新定位(重寫)，并且管理該數據，這是通過其中將數據寫入對應于缺陷區域的替代數據區(備用區)的替換寫入操作的性能來實現的。
本發明的另一目的是提供用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法，通過該方法在完成數據記錄操作之后實現正常數據再現，而與在記錄期間檢測到存在的一個或多個缺陷區域無關。
本發明的另一目的是提供使用一次性寫入光記錄介質過程中的數據安全性和數據完整性，具體的說對于使用從BD-WO光盤讀取的主計算機和在記錄時間采用線性替換技術的數據記錄操作。
本發明的另一目的是提供用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法，通過其促進BD-WO標準化。
本發明的另一目的是提供適于采用上述方法的光記錄介質。
本發明的另一目的是提供用于使用采用上述方法的光記錄介質的系統。
本發明的其它優點、目的和特征將在隨后的說明中部分地描述，經過以下檢驗或從本發明的實踐中學習，上述優點、目的和特征對于本領域的普通技術人員來說是顯而易見的。本發明的目的和優點可以如所附說明書及其權利要求書和附圖中所特別指出的來實現和獲得。
為實現本發明的這些和其它的優點，以及根據本發明的目的，如這里具體地和廣泛地描述的，提供了一種用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法，其包括步驟在光記錄介質的預定記錄扇區寫入數據之后，檢測在預定記錄扇區中缺陷的存在；通過在指定給光記錄介質的數據區的備用區中寫入數據，且在光記錄介質的指定的記錄扇區中寫入作為臨時缺陷列表信息的定位符信息來替換寫在缺陷記錄扇區中的數據，該定位符信息指示缺陷記錄扇區；和在分配到光記錄介質的導入區的缺陷管理區域中寫入用于訪問臨時缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對寫入位置信息的訪問的標識信息作為光盤定義結構信息。
在本發明的另一方面中，提供了一種用于管理一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法，其包括步驟通過從缺陷管理區域中的光盤定義結構信息搜索指定給光記錄介質的導入區的缺陷管理區域，并檢測和檢查標識信息來識別光盤結束狀態，其中該標識信息指示光盤結束狀態；基于標識信息，選擇性地搜索光盤定義結構信息中的缺陷列表信息或臨時缺陷列表信息的寫入位置；和基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時缺陷列表信息，對于缺陷區域執行替換寫入操作或正常再現操作。
在本發明的另一方面中，提供了具有用于光學記錄數據到一次性寫入光記錄介質或從一次性寫入光記錄介質光學再現數據的可編程設備的系統。該設備可被編程以執行本發明的方法的所需步驟，包括那些用于記錄數據和再現記錄的數據的步驟。
在本發明的另一方面中，提供一次性寫入光記錄介質，其包括數據區，相鄰數據區設置的導入區；和在導入區中用于寫入關于多個寫入位置的信息以及用于選擇性訪問寫入位置的標識信息(其作為光盤定義結構信息)的缺陷管理區域，該多個寫入位置用于訪問臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息，其中該臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息被寫在分開的位置。
比如BD-WO光盤的光記錄介質采用本發明的方法保證了數據的安全性和數據的完整性，特別在使用采用線性替換(linearreplacement)技術的主計算機的數據記錄操作期間。
應該理解本發明的前述解釋和下面的具體描述都是示例性和說明性的，并且意在提供本發明如權利要求所述的進一步解釋。
通過結合附圖的下面的詳細說明可以更為全面的理解本發明的另外的目的和優點，在附圖中圖1是根據現有技術的一般光盤記錄/再現設備的示意圖；圖2是用于管理在比如BD-RE類型光盤的可重寫光記錄介質上的缺陷區域的方法的視圖；圖3是示出了根據本發明優選實施例的一次性寫入光記錄介質，比如BD-WO類型光盤的指定的區域的視圖，其用于說明用于管理在光盤上的缺陷區域的方法；圖4是示出了根據本發明方法寫入的定位符信息的視圖；圖5是示出了根據本發明的方法寫入的定位符信息，由此增加訪問速率的視圖；圖6是用于說明根據本發明的另一優選實施例的，用于管理在一次性寫入光記錄介質、比如BD-WO類型光盤上的缺陷區域的方法的視圖；以及圖7是用于說明根據本發明的另一優選實施例的，用于管理在一次性寫入光記錄介質、比如BD-WO類型光盤上的缺陷區域的方法的視圖。
具體實施例方式
下面將詳細參考本發明的優選實施例，在附圖中示出了其實例。在整個附圖中使用相同的參考數字表示相同或相似的部分。
參考圖3，其中示出比如BD-WO類型光盤的光記錄介質的指定的區域以說明根據本發明的方法，在導入區(LIA)和導出區(LOA)之間設置數據區，其中數據區基本上包括用戶數據區和在用戶數據區的任一側設置的非用戶數據區。用戶數據區被指定有物理扇區號(PSN)和邏輯扇區號(LSN)，同時非用戶數據區僅被指定有物理扇區號。非用戶數據區分別包括外部備用區(OSA)和臨時缺陷列表(TDFL)區。外部備用區用于寫入對應于缺陷區域的數據，也就是，替換數據，而TDFL區用于寫入關于檢測的缺陷區域的缺陷區域數據定位符和相應的替換數據。可以累積地或連續地寫入缺陷區域數據定位符信息。
雖然沒有在附圖中示出，OSA和TDFL區可以是交替定位的或它們可以是另外的指定的區域，比如內備用區(ISA)。例如，可以另外設置ISA或代替OSA，或者與OSA相鄰或在LIA中在非用戶數據區設置TDFL區域。
在光記錄介質上記錄數據的過程中，比如如圖3所示，圖1的光盤記錄/再現設備100執行內部程序以時間連續的方式在用戶數據區的預定寫入扇區上寫入數據。寫入操作進行直到數據記錄終止或直到記錄最后一個記錄扇區。每個寫入情況將被稱作為數據記錄階段。
將預定的寫入扇區設置為缺陷驗證單元(DVU)，通過其在數據記錄階段期間，使用在每個DVU之后執行的寫入后確認操作(verify-after operation)檢測缺陷區域。一個DVU可以具有等于任意數目的物理軌道或簇的記錄大小，并且因為便于描述本發明的實施例的緣故，將這個記錄大小任意地設置為五個簇。多個缺陷驗證單元(DVU1到DVUn)構成了記錄或具有時間連續性的數據記錄階段的一個情況，且每個數據記錄階段1、2和3依賴于記錄的數據量來構成多個DVU。
由光盤記錄/再現設備100執行寫入后確認操作，其重復執行一系列檢測操作以確定對應于一個DVU的寫入數據的缺陷區域的存在。在每個缺陷區域檢測操作中，再現寫在DVU中的數據以驗證它的記錄狀態；就是說，確定是否成功寫入數據使得可以進行正常的再現。如果不能驗證正常的再現，則確定存在缺陷。
例如，在通過記錄操作在DVU1的物理簇1-5中順序和連續寫入數據之后S10，光盤記錄/再現設備100通過逐漸再現寫在DVU1中的數據來執行寫入后確認操作，以驗證正常再現，并由此檢測任意缺陷區域的存在。在逐漸再現過程中，光盤記錄/再現設備100再次從第一簇開始(或下一個位置)順序讀取寫入的數據，并且連續讀取直到通過再現操作檢測到第一個(或下一個)不可驗證的數據簇的出現S11，其指示在物理簇2中存在缺陷區域。之后，光盤記錄/再現設備100在它的存儲器114中臨時存儲物理簇2的數據。臨時存儲(緩存)的數據用于執行通過記錄操作的替換寫入操作S12，由此將對應于缺陷簇的替換數據寫作OSA中的替換簇2’以代替缺陷區域。這里，可以從OSA的任一端開始寫入第二簇的數據。
在完成上述的替換寫入操作之后，光盤記錄/再現設備100通過再現操作連續再現DVU1的數據S13，以進行到下一個簇，也就是，物理簇3。當在物理簇4中檢測到另一缺陷區域時，光盤記錄/再現設備100通過記錄操作執行另一替換寫入操作S14，其中緩存缺陷簇的數據，并且然后寫作為OSA中與替換簇2’連續的替換簇4’。
通過再現操作的DVU1的連續寫入后確認操作沒有找到另外的缺陷區域S15，則完成數據記錄階段1的DVU的數據記錄。因此，該DVU1最終包括物理簇1、3和5的數據并且具有兩個缺陷區域，將其數據作為對應于缺陷區域的替換簇2’和4’寫在OSA中。對于每個DVU重復相同處理，直到通過執行對于DVUn的記錄和寫入后確認操作完成數據記錄階段1。在這種情況下，將物理簇6寫作DVU2的第一簇。
然后，即，在連續完成DVUn的寫入后確認操作之后，光盤記錄/再現設備100寫入用于識別每個缺陷區域和定位相應替換數據的缺陷區域數據定位符。這些定位符被寫作TDFL信息并存儲在TDFL區域。為增加TDFL信息的訪問速率，光盤記錄/再現設備100還將寫入位置信息作為光盤定義結構(DDS)信息寫在LIA中指定的缺陷管理區域(DMA)中。
如圖4所示，該TDFL信息包括多個缺陷條目，每個被表示為一對PSN，也就是，缺陷PSN和對應于其的替換PSN。這里，缺陷PSN是缺陷區域的物理扇區號，而替換PSN是其中寫入缺陷區域的數據的區域的物理扇區號。每個缺陷條目還包括除PSN外的狀態信息。該狀態信息包括狀態1和狀態2信息，而狀態2信息在本實施例中不可用。狀態1信息指示在缺陷或潛在缺陷區域和對應于其的任意替換數據之間存在的關系的類型，該替換數據包括替換數據記錄狀態、地址分配、缺陷區域確認、替換區域可用性等。
對應于DDS信息的第60字節(第60字節位置)的記錄扇區可以包括用于訪問當前TDFL信息的第一PSN的寫入位置信息，也就是，反映最后(最近)的替換寫入操作的TDFL信息。將這種寫入位置信息和包括光盤結束標志的識別信息一起寫入和管理，該光盤結束標志指示是否執行了光盤結束操作，并通知完成了光盤的寫入處理。
當標識信息示出沒有光盤結束時，光盤記錄/再現設備100讀取DMA并且參考寫入位置信息以搜索寫入位置。例如，標識信息的一個字節可以被寫作“0000 XXXX”，以指示沒有執行光盤結束操作，或者被設置為“0000 1111”以指示執行了光盤結束。同時，標識信息可以包括大于一個字節的大小，并且可以使用“0000 XXXX”和“00001111”之外的值指示光盤結束操作的執行。該DDS信息可以包括用于訪問第一TDFL和當前TDFL兩者，或者選擇性地訪問任意一個的寫入位置信息。
當根據用戶操作執行光盤結束操作時，光盤記錄/再現設備100將光盤結束標志從指示沒有執行光盤結束操作的值(例如，“0000XXXX”)設置為指示光盤結束狀態的值(例如，“0000 1111”)，并且在DMA中寫入TDFL信息作為缺陷列表(DFL)信息。因此，在光盤結束的情況下，存儲在DDS信息中的寫入位置信息被寫作表示DFL信息的寫入位置的最終值。對應于DDS信息的第24字節(第24字節位置)的記錄扇區可以包括用于訪問DFL信息的第一PSN的寫入位置信息。
參考圖5，DDS信息可以增加之后的或最后的TDFL信息(TDFL q)的訪問速率，且進一步包括對應于最近寫入的TDFL，也就是，恰好在光盤結束之前的TDFL信息的第一PSN的寫入位置信息。
如圖6所示，該TDFL信息可以包括在LIA中的記錄扇區中。另一方面，如圖7所示，該TDFL信息可以被分配給OSA中的記錄扇區，或者可以被分配到別處，比如在LOA中。
工業應用性在本發明的方法中，當比如BD-WO類型的光盤的光記錄介質被放入比如如圖1所示的可編程系統中時，光盤記錄/再現設備100搜索分配到光盤的LIA的DMA，從DMA的DDS信息檢測光盤結束標志，檢查它的值，并由此確定光盤是否結束。如果光盤結束標志是示出了沒有出現光盤結束的值，則光盤記錄/再現設備100搜索和訪問關于DDS信息中的第一和/或之后(最后)的TDFL信息的寫入位置信息，以然后搜索和訪問TDFL信息。然后，光盤記錄/再現設備100執行一系列替換寫入操作或再現操作。另一方面，如果光盤結束標志是示出出現光盤結束的值，則光盤記錄/再現設備100搜索和訪問關于在DDS信息中存儲的第一和/或之后(最后)DFL信息的寫入位置信息，以然后搜索和訪問DFL信息。然后，光盤記錄/再現設備100可以執行再現操作。
通過采用根據本發明的用于在一次性寫入光記錄介質上管理缺陷區域的方法，通過其中將數據寫在對應于缺陷區域的替代(備用)數據區中的替換寫入操作的性能，寫入和有效管理寫在光盤的缺陷區域上的數據。因此，根據本方法的格式，比如當前開發的BD-WO類型光盤的光記錄介質能夠用于通過一次性寫入操作記錄數據，使得即使當在光盤上存在缺陷時也能正常再現記錄的數據。另外，通過提供合適的一次性寫入光記錄介質，采用本發明的方法促進了BD-WO標準化，由此能夠有效管理寫在其缺陷區域上的數據。
對于本領域普通技術人員來說很明顯可以對根據本發明的管理在一次性寫入光記錄介質上的缺陷區域的方法和使用該方法的光記錄介質做出多種修改和變更而不脫離本發明的精神和范圍。因此，本發明意在覆蓋在所附權利要求及其等效物范圍內提供的本發明的修改和變型。
權利要求
1.一種用于管理一次性寫入光記錄介質的缺陷區域的方法，其包括步驟在光記錄介質的預定記錄扇區中寫入數據之后，檢測在預定記錄扇區中缺陷的存在；通過在指定給光記錄介質的數據區的備用區中寫入數據，且在光記錄介質的指定的記錄扇區中寫入作為臨時缺陷列表信息的定位符信息來替換寫在缺陷記錄扇區中的數據，該定位符信息表示缺陷記錄扇區；和在指定到光記錄介質的導入區的缺陷管理區域中寫入用于訪問臨時缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對寫入位置信息的訪問的標識信息作為光盤定義結構信息。
2.如權利要求1所述的方法，進一步包括光盤結束步驟，所述光盤結束步驟包括步驟在缺陷管理區域寫入作為缺陷列表信息的臨時缺陷列表信息，和用于訪問缺陷列表信息的寫入位置信息的最終值；和設置標識信息為指示光盤結束的值，并將該值寫在缺陷管理區域中，其中，該設置的標識信息確定對最終寫入位置信息的訪問，并且其中設置的標識信息和最終寫入位置信息被包括在光盤定義結構信息中。
3.如權利要求2所述的方法，其中，該標識信息包括具有大于或等于一個字節大小的標志，所述標志確定在光記錄介質在光盤結束狀態時對寫在缺陷管理區域中的缺陷列表信息的訪問，并確定當光記錄介質不在光盤結束狀態時對寫在指定的記錄扇區中的臨時缺陷列表信息的訪問。
4.如權利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區被定位于光記錄介質的數據區中。
5.如權利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區被定位于光記錄介質的導入區中。
6.如權利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區被定位于光記錄介質的導出區中。
7.如權利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區被定位于光記錄介質的非用戶數據區中，該非用戶數據區與光記錄介質的外備用區相鄰。
8.如權利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區被定位于光記錄介質的用戶數據區中，該用戶數據區在光記錄介質的外備用區之前。
9.如權利要求1所述的方法，其中，該定位符信息是累積地寫入的。
10.如權利要求1所述的方法，其中，該定位符信息是連續地寫入的。
11.如權利要求1所述的方法，其中，在備用區中寫入替換數據的過程中，從備用區的一端開始寫入數據。
12.一種用于管理一次性寫入光記錄介質的缺陷區域的方法，其包括步驟通過從缺陷管理區域中的光盤定義結構信息搜索指定給光記錄介質的導入區的缺陷管理區域，和檢測并檢查表示光盤結束狀態標識信息來識別光盤結束狀態；基于標識信息，選擇性地搜索光盤定義結構信息中的缺陷列表信息或臨時缺陷列表信息的寫入位置；和基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時缺陷列表信息，對于缺陷區域執行替換寫入操作或正常再現操作。
13.如權利要求12所述的方法，其中，所述選擇性搜索步驟在標識信息指示光記錄介質處在光盤結束狀態時，搜索寫在缺陷管理區域中的缺陷列表信息的寫入位置。
14.如權利要求12所述的方法，其中，所述選擇性搜索步驟在標識信息指示光記錄介質不處在光盤結束狀態時，選擇性地搜索寫在缺陷管理區域以外的記錄扇區中的第一臨時缺陷列表信息或最后的臨時缺陷列表信息的寫入位置。
15.一種一次性寫入光記錄介質，其包括數據區；導入區，其被相鄰所述數據區設置；和缺陷管理區，其在導入區中用于寫入多個寫入位置作為光盤定義結構信息，該多個寫入位置用于訪問臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息和用于寫入選擇性訪問寫入位置的標識信息，其中，該臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息被寫在分開的位置。
16.如權利要求15所述的光記錄介質，其中，該光盤定義結構信息進一步包括用于訪問寫在缺陷管理區域中的第一缺陷列表信息的寫入位置信息；和用于訪問寫在缺陷管理區域之外的記錄扇區中的第一臨時缺陷列表信息的寫入位置信息。
17.如權利要求15所述的光記錄介質，其中，該標識信息包括具有大于或等于一個字節大小的標志，所述標志確定在光記錄介質處在光盤結束狀態時對寫在缺陷管理區域中的缺陷列表信息的訪問，并確定當光記錄介質不處在光盤結束狀態時對寫在指定的記錄扇區中的臨時缺陷列表信息的訪問。
18.如權利要求15所述的光記錄介質，其中，所述數據區、導入區和缺陷管理區被經BD-WO標準指定。
19.一種具有用于光學記錄數據到一次性寫入光記錄介質或從一次性寫入光記錄介質光學再現數據的可編程設備的系統，該一次性寫入光記錄介質包括數據區和與其相鄰設置的導入區，所述可編程設備包括用于在光記錄介質的預定記錄扇區中寫入數據之后，檢測在預定記錄扇區中缺陷的存在的裝置；用于通過在指定給光記錄介質的數據區的備用區中寫入數據，且在光記錄介質的指定的記錄扇區中寫入作為臨時缺陷列表信息的定位符信息來替換寫在缺陷記錄扇區中的數據的裝置，該定位符信息表示缺陷記錄扇區；和用于在指定到光記錄介質的導入區的缺陷管理區域中寫入用于訪問臨時缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對寫入位置信息的訪問的標識信息作為光盤定義結構信息的裝置，用于在缺陷管理區域寫入作為缺陷列表信息的臨時缺陷列表信息，和用于訪問缺陷列表信息的寫入位置信息的最終值的裝置；和用于設置標識信息為表示光盤結束的值并將該值寫在缺陷管理區域中的裝置，其中該設置的標識信息確定對最終寫入位置信息的訪問，并且其中設置的標識信息和最終寫入位置信息被包括在光盤定義結構信息中。
20.如權利要求19所述的系統，所述可編程設備進一步包括用于通過從缺陷管理區域中的光盤定義結構信息搜索指定給光記錄介質的導入區的缺陷管理區域，并檢測和檢查表示光盤結束狀態的標識信息來識別光盤結束狀態的裝置；用于基于標識信息，選擇性地搜索光盤定義結構信息中的缺陷列表信息或臨時缺陷列表信息的寫入位置的裝置；和用于基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時缺陷列表信息，對于缺陷區域執行替換寫入操作或正常再現操作的裝置。
21.一種用于管理一次性寫入光記錄介質的缺陷區域的方法，其包括步驟在光記錄介質的指定的記錄扇區中記錄用于分別訪問光記錄介質的缺陷列表(DFL)和光記錄介質的臨時缺陷列表(TDFL)的寫入位置信息；當光記錄介質不處在光盤結束狀態時，搜索TDFL寫入位置信息以在臨時缺陷列表中寫入缺陷管理信息；和當光記錄介質處在光盤結束狀態時，搜索DFL寫入位置信息以從缺陷列表中讀取缺陷管理信息。
22.一種用于管理一次性寫入光記錄介質的缺陷區域的方法，其包括步驟首先在光記錄介質的第一指定的記錄扇區中記錄用于訪問臨時缺陷列表(TDFL)的寫入位置信息；根據TDFL寫入位置信息在臨時缺陷列表中寫入缺陷管理信息；在光記錄介質的第二指定的記錄扇區中第二次記錄用于訪問缺陷列表(DFL)的寫入位置信息；和根據DFL寫入位置信息從缺陷列表中讀取缺陷管理信息，其中當光記錄介質不在光盤結束狀態時執行所述第一記錄步驟，且當光記錄介質在光盤結束狀態時執行所述第二記錄步驟。
全文摘要
本發明提供了用于管理一次性寫入光記錄介質的缺陷區域的方法及使用該方法的光記錄介質。在用于使用比如BD－WO類型光盤的光盤記錄/再現數據的光盤設備中，該方法允許通過用于記錄缺陷區域的數據的替換寫入操作，來正常讀取和再現寫在光盤的缺陷區域上的記錄數據。當在記錄處理期間在光盤的預定記錄扇區中檢測到缺陷時，將記錄數據寫在對應于缺陷區域的備用區上，并因此管理寫入數據。
文檔編號G11B20/10GK1739158SQ200380108780
公開日2006年2月22日 申請日期2003年11月27日 優先權日2003年1月14日
發明者樸容徹, 金成大 申請人:Lg電子株式會社