一種內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板的制作方法

專利名稱:一種內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板，所述測試板配置電源單元、控制單元、測試單元和固定單元，電源單元連接控制單元和測試單元，控制單元和測試單元相互連接；其中，電源單元，用于提供電源；控制單元包含復(fù)位模塊、撥碼模塊、插針模塊和時鐘模塊；復(fù)位模塊，用于給測試板的被測芯片發(fā)出復(fù)位信號；撥碼模塊，用于設(shè)置測試板的測試電壓；插針模塊，用于為測試板提供電源；時鐘模塊，用于給被測芯片提供時鐘信號；該測試板無需使用自動測試儀或者電腦/讀卡器就能對芯片存儲器完成耐力循環(huán)考核測試，具有節(jié)約成本和高效的特點。
【專利說明】
一種內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及集成電路存儲器測試、存儲器可靠性考核領(lǐng)域，特別是內(nèi)建式集成電路存儲器自動耐力測試板?！颈尘凹夹g(shù)】
[0002]隨著集成電路集成度的不斷增加、集成電路應(yīng)用領(lǐng)域的不斷擴展、集成電路功能的更加多樣化，集成電路芯片的可靠性測試越來越受到重視，集成電路設(shè)計公司在可靠性考核測試上的技術(shù)更新與成本也越來越受到重視;集成電路耐力考核是考核存儲器可實現(xiàn)的總擦寫次數(shù)，是集成電路存儲器可靠性考核的最重要指標(biāo)之一，所以存儲器的耐力考核測試是所有獨立存儲器顆粒產(chǎn)品、S0C產(chǎn)品的必須考核項目及例檢項目。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，集成電路耐力可靠性考核測試較多采用幾種方式:圓片級耐力可靠性測試采用了探針卡扎針使用自動測試儀，通過測試接口循環(huán)擦寫存儲器的方式進行耐力測試，成品的存儲器顆粒和S0C產(chǎn)品基本都是通過電腦、讀卡器等設(shè)備進行循環(huán)擦寫存儲器的方式進行存儲器的耐力可靠性考核測試或者例檢考核測試，這種方式需要自動測試儀或者電腦/讀卡器發(fā)送擦寫指令到存儲器顆粒的控制端或者S0C的CPU端，然后控制端或者CPU 再對存儲器區(qū)域進行循環(huán)的擦寫，從流程中可以看到，指令發(fā)送、接收過程會耗費大部分的測試時間，使得耐力測試的效率下降?！緦嵱眯滦蛢?nèi)容】
[0004]針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本發(fā)明的目的是提供一種內(nèi)建式集成電路芯片自動耐力測試板，它無需使用自動測試儀或者電腦/讀卡器就能對芯片存儲器完成耐力循環(huán)考核測試，具有節(jié)約成本和高效的特點。
[0005]為了達到上述發(fā)明目的，本發(fā)明的技術(shù)方案以如下方式實現(xiàn):
[0006]—種內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板，所述測試板配置電源單元、控制單元、測試單元和固定單元，電源單元連接控制單元和測試單元，控制單元和測試單元相互連接;其中， 電源單元，用于提供電源;控制單元包含復(fù)位模塊、控制用撥碼模塊、通信用插針模塊和時鐘模塊;復(fù)位模塊，用于給所述測試板的被測芯片發(fā)出復(fù)位信號;控制用撥碼模塊，用于設(shè)置所述測試板的測試電壓;通信用插針模塊，用于為所述測試板提供電源;時鐘模塊，用于給被測芯片提供時鐘信號。
[0007]優(yōu)選地，測試單元包括測試指示燈和測試接口；其中，測試指示燈，用于指示耐力測試的狀態(tài);測試接口用于與被測芯片進行連接。
[0008]優(yōu)選地，固定單元，用于固定連接測試板。
[0009]本實用新型由于采用了上述結(jié)構(gòu)，比現(xiàn)有技術(shù)的優(yōu)點在于，使用芯片內(nèi)部的CPU和待測存儲器實現(xiàn)芯片的內(nèi)部空閑存儲器的耐力測試，無需使用外部的自動測試儀，節(jié)約了成本;使用芯片內(nèi)部耐力測試程序自動完成校驗，省去了大量的外部通信時間并且可以做到實時校驗。
[0010]下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本實用新型作進一步說明?！靖綀D說明】

[0011]圖1為本實用新型自動耐力測試板的電路示意圖。
[0012]圖2為本實用新型的自動耐力測試板的正面示意圖。【具體實施方式】
[0013]參看圖1，本實用新型自動耐力測試板的電路示意圖，包括電源單元10、復(fù)位模塊 21、撥碼模塊22、插針模塊23、時鐘模塊24、測試指示燈31和測試接口 32。啟動自動耐力測試板時，首先下載自動耐力測試程序到待測芯片的存儲器模塊中，將多個待測芯片連接到測試接口 32上，電源單元10連接直流電源，插針模塊23連接測試板，配置撥碼模塊22選擇測試所用電壓，然后，開啟直流電源，打開撥碼模塊22的電源開關(guān)給測試板上電，同時通過插針模塊23給測試板上電，緊接著，復(fù)位模塊21發(fā)出復(fù)位信號給各個待測芯片，同時，時鐘模塊 24發(fā)送時鐘信號給各待測芯片，待測芯片接收到復(fù)位信號和時鐘信號，芯片復(fù)位，按照自動耐力測試程序設(shè)定等待某一設(shè)定的時間，待測芯片自動進入耐力流程，自動進行耐力結(jié)果校驗并記錄到存儲器模塊，自動記錄耐力測試循環(huán)次數(shù)，自動輸出耐力測試狀態(tài)到測試指示燈31。[〇〇14]參看圖2,本實用新型自動耐力測試板的正面示意圖，自動耐力測試板配置電源單元10、控制單元20、測試單元30和固定單元40;其中，電源單元10用于提供電源;控制單元20 包括復(fù)位模塊21、撥碼模塊22、插針模塊23和時鐘模塊24;測試單元30包括測試指示燈31和測試接口 32;測試單元30可以多個進行疊加，彼此之間通過插針進行電源信號傳遞，其中， 測試指示燈31用來指示耐力測試的狀態(tài);測試接口 32用來與被測芯片進行連接，根據(jù)被測芯片的形態(tài)不同，可以焊接/連接不同的測試座；復(fù)位模塊21，用于給該測試板的被測芯片發(fā)出復(fù)位信號;撥碼模塊22,用于設(shè)置該測試板的測試電壓;插針模塊23,用于為測試板提供電源，包括正在測試的測試板為其余測試板提供電源或者其余測試板為正在測試的測試板提供電源；時鐘模塊24,用于給被測芯片提供時鐘信號；固定單元40，用于固定連接測試板。啟動自動耐力測試板時，根據(jù)測試指示燈31的閃爍情況，判斷芯片耐力全部通過或者其他問題，也可以將所有芯片取下讀取存儲器模塊中的耐力測試結(jié)果，并根據(jù)耐力測試結(jié)果， 判斷芯片的耐力篩選測試或者可靠性耐力測試通過或者失敗。
[0015]上述僅為本實用新型的具體實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在不脫離本實用新型技術(shù)思路的基礎(chǔ)上能有許多變形和變化，這些顯而易見形成的技術(shù)方案也包含在本實用新型保護的技術(shù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板，其特征在于，所述測試板配置電源單元(10)、控制單元(20)、測試單元(30)和固定單元(40)，電源單 元(10)連接控制單元(20)和測試單元(30)，控制單元(20)和測試單元(30)相互連接；電源單元(10)，用于提供電源；控制單元(20)，包含復(fù)位模塊(21)、撥碼模塊(22)、插針模塊(23)和時鐘模塊(24);復(fù) 位模塊(21)，用于給所述測試板的被測芯片發(fā)出復(fù)位信號;撥碼模塊(22)，用于設(shè)置所述測 試板的測試電壓;插針模塊(23)，用于為所述測試板提供電源;時鐘模塊(24)，用于給被測 芯片提供時鐘信號。2.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板，其特征在于，測試單元(30)包括 測試指示燈(31)和測試接口(32);測試指示燈(31)，用于指示耐力測試的狀態(tài)；測試接口 (32)用于與被測芯片進行連接。3.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)建式存儲器自動耐力測試板，其特征在于，固定單元(40)，用 于固定連接測試板。
【文檔編號】G11C29/12GK205722803SQ201620391638
【公開日】2016年11月23日
【申請日】2016年4月29日
【發(fā)明人】肖金磊, 歐陽睿, 劉靜, 解辰
【申請人】北京同方微電子有限公司