光學掃描設備的制作方法

專利名稱：光學掃描設備的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種光學掃描設備，更具體的說，本發明涉及一種包括用于掃描光學記錄載體的旋轉臂的光學掃描設備。
背景技術：
旋轉臂系統因其對讀/寫頭的機電調節而知名。旋轉臂掃描機構廣泛用在通稱為硬盤驅動器的磁盤記錄/再現裝置中，用于掃描磁盤。現在也已經考慮將旋轉臂用在光盤記錄/再現裝置中，用于掃描光盤或磁光盤。相比于作為在光盤系統中常用的掃描機構的2級滑板機構，所述旋轉臂提供了較簡單的機構，其部件數量較少。
在已知的使用了旋轉臂掃描機構的光學掃描設備中，包括激光器和檢測器系統的光學元件位于移動的旋轉臂之上。在這種系統中，所有用于激光器和檢測器系統的控制和信息信號必須通過連接箔片傳遞到旋轉臂系統和從旋轉臂系統中傳遞出來。在小型因素光學(SFFO)設備中，由于其速度較高并需要具有抗噪性，因此，連用于驅動激光器和處理檢測器信號的電子元件也需要定位在移動臂上。這會導致由激光器及其相關電子元件(驅動器)的散熱引起的熱學問題、由光學和電子元件的較重重量引起的動態問題以及由于大量電子元件連接到激光器電路和檢測電路而引起的互連問題。
這些問題可以通過使用分光系統而消除。其與光學掃描設備的激光器、檢測器陣列、電子元件以及大部分光學元件在與旋轉臂分離的固定位置處的定位有關。在這種系統的操作過程中，射束被光學記錄載體反射，沿旋轉臂返回，回到檢測器陣列。由于旋轉臂圍繞旋轉軸的角位置發生了改變，因此檢測器陣列上的射束光點產生了相應的旋轉。作為所述旋轉的結果，射束光點落在檢測器陣列上的角安排(angular disposition)不是穩定的。這使檢測器陣列對射束所攜帶的數據信號的信號譯釋造成困難。
JP2001-357549描述了一種具有旋轉臂的光學掃描設備，其中，已經由光學記錄載體反射的射束的偏振方向由與旋轉臂分離的可旋轉棱鏡旋轉。這確保了射束落在檢測器陣列上的方向是穩定的。為了旋轉棱鏡，必須采用占據了光學掃描設備的額外空間并使器結構復雜化的旋轉機構。

發明內容
根據本發明，提供了一種光學掃描設備，用于掃描光學記錄載體的信息層，所述設備包括旋轉臂，其被設置為圍繞旋轉軸擺動以關于旋轉軸改變旋轉臂的角位置；檢測器裝置，其與旋轉臂分開設置，用于檢測射束光點，所述射束光點具有角安排；第一反射表面，該面附著在旋轉臂上；第二反射表面，該面附著在旋轉臂上；第一光路，該光路是從記錄載體上的位置到所述第一反射表面；第二光路，該光路是從所述第一反射表面到所述第二反射表面；第三光路，該光路是從所述第二反射表面到所述檢測器裝置，其特征在于，所述旋轉臂包括至少一個光學反轉元件，其被設置為使旋轉臂的角位置的變化與射束光點的角安排的變化之間的相關度降低。
旋轉臂的光學反轉元件減小了隨旋轉臂的角位置的變化而產生的射束光點的角安排變化。通過降低其相關度，可以使用象散聚焦誤差檢測之類的技術。
除了在光學記錄載體的數據軌道跨越旋轉臂的擺動路徑的方向上的變化引起的變化之外，落在檢測器陣列上的射束光點的角安排最好與旋轉臂的角位置基本無關。
應當注意，德國專利申請DE19860054公開了一種用于以旋轉臂掃描光學記錄載體的光學掃描設備。所述旋轉臂關于旋轉軸具有不同的角位置，還具有附著其上的第一和第二反射鏡。第一反射鏡接收來自光學記錄載體向下反射的射束。所述射束被第一反射鏡沿旋轉臂導向第二反射鏡，所述第二鏡也面向下將射束反射向第三反射鏡。在該設計方案中，第二反射鏡反射的射束的橫截面的角安排基本與旋轉臂的角位置無關。但是，所述設計方案在軸線方面的安裝高度相對較大。本發明的具體實施方式
的另一優點在于減小了安裝高度，從而可以構造更加緊湊的光學掃描設備。
通過下文中僅用于示例并參考了附圖的對本發明的優選實施方式的描述，本發明的其他方面和優點將更加明顯。


圖1示出了類型與本發明的一個具體實施方式
類似的光學掃描設備的平面圖；圖2示出了類型與本發明的一個具體實施方式
類似的光學掃描設備的元件的側截面；圖3和圖4示意性的示出了射束對類型與本發明的一個具體實施方式
類似的光學掃描設備的旋轉臂的不同角位置的橫截面；圖5示出了根據本發明的一個具體實施方式
的光學掃描設備的元件的側截面；圖6和圖7示意性的示出了射束對根據本發明的一個具體實施方式
的光學掃描設備的旋轉臂的不同角位置的橫截面；圖8示出了根據本發明的另一具體實施方式
的光學掃描設備的元件的側截面；圖9示出了根據本發明的另一具體實施方式
的光學掃描設備的元件的側截面；圖10示出了根據本發明的另一具體實施方式
的光學掃描設備的元件的側截面；圖11和12示意性的示出了射束對根據本發明的一個具體實施方式
的光學掃描設備的旋轉臂的不同角位置的橫截面；圖13和14示意性的示出了根據本發明的一個具體實施方式
的射束的橫截面的變形；圖15示出了根據本發明的另一具體實施方式
的光學掃描設備的元件的側截面；和圖16和17示意性的示出了射束對根據本發明的一個具體實施方式
的旋轉臂的不同角位置的橫截面。
具體實施例方式
圖1示出了類型與本發明的具體實施方式
類似但不是根據本發明設計的光學掃描設備的平面圖，圖2示出了其側截面。光學掃描設備包括旋轉臂2，其用于圍繞旋轉軸CR擺動，以使旋轉臂2的角位置能發生改變。旋轉臂2具有軸承系統，其由兩個滾珠元件構成。一個滾珠元件位于旋轉臂的一部分上；另一滾珠位于另一部分上。滾珠元件可以在尺寸略大的軸承套中旋轉。旋轉臂2的致動器系統包括在臂一端位于磁場之內的線圈，從而，線圈的一側處于垂直上升場，線圈的另一側處于垂直下降場。經過線圈的電流產生洛倫茲力，該力在期望的方向上旋轉臂。
旋轉臂2的一端附著有第一反射表面，其形式是第一折疊式反射鏡4。分別以第二和第三折疊式反射鏡6、8的形式存在的第二反射表面和第三反射表面沿旋轉軸CR堆疊。第二折疊式反射鏡6附著在旋轉臂2上，因此，隨旋轉臂的旋轉而圍繞旋轉軸CR轉動。第三折疊式反射鏡8是固定檢測器裝置的一部分，所述固定檢測器裝置還包括激光器/檢測器單元10，其與旋轉臂2分離。激光器/檢測器單元10包括輻射源12(例如半導體激光器)、分束器16、準直透鏡18以及檢測器陣列20。輻射源12發射射束，其由分束器16引導到準直透鏡18，所述準直透鏡準直射束。現在經過準直的射束行進到折疊式反射鏡8，所述反射鏡將射束沿旋轉軸CR引導向第二折疊式反射鏡6。射束由這里行進到第一折疊式反射鏡4，所述反射鏡將射束引導向附著在旋轉臂2上的物鏡22。物鏡22將射束在光學記錄載體的信息層26的徑向位置上會聚為光點24。在本實施例中，光學記錄載體是光盤OD，例如CD、DVD或小型因素光(SFFO)盤。光盤OD圍繞旋轉軸SA旋轉，以使光點24能沿信息層26的軌道進行掃描。在圖1中，光盤OD雖然沒有直接示出，但是以輪廓線的形式示出于光學掃描設備的元件之上。物鏡22和第一折疊式反射鏡4安裝在支架元件(未示出)上，所述支架元件懸掛在兩個平行撓曲件上。位于支架元件上的驅動線圈可以產生垂直力，以獲得射束會聚為光點24的變化。
已經會聚為光點24的射束被信息層26反射，沿直線的第一光路LP1行進到第一折疊式反射鏡4。第一光路LP1平行于旋轉軸CR。射束沿直線的第二光路LP2從第一折疊式反射鏡4行進到第二折疊式反射鏡6，所述第二光路垂直于旋轉軸CR。第二折疊式反射鏡6將射束沿第三光路LP3從第二折疊式反射鏡6引導到檢測器裝置10的檢測器陣列20。第三光路LP3位于第二和第三折疊式反射鏡6、8之間的部分是直線形的，與旋轉軸CR一致。射束繼續從第三折疊式反射鏡8沿第三光路LP3經過準直透鏡18、分束器16行進到檢測器陣列20。檢測器陣列20包括檢測器元件，所述檢測器元件產生與存儲在光盤OD的信息層26的數據相關的主要信息信號、聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。
現在參考圖3和4，射束對圖1和2所示的光學掃描設備的旋轉臂2的不同角位置的橫截面在所述附圖中示意性的示出。圖3相應于旋轉臂2圍繞旋轉軸CR處于第一角位置，圖4相應于旋轉臂2關于旋轉軸CR處于第二角位置。第二角位置圍繞旋轉軸CR自第一角位置移動了一個角度。從光點24沿第一光路LP1行進到第一折疊式反射鏡4的射束具有第一橫截面28。為了進行說明，第一橫截面28具有第一參考軸30和第二參考軸32，所述參考軸位于第一橫截面28的平面之內并示出了第一橫截面28的角安排，第二參考軸32垂直于第一參考軸30。第一光路LP1分別垂直于第一和第二參考軸30、32。第一橫截面28具有第一和第二區域34、36，所述區域與射束被光盤OD的軌道衍射而產生的-1和+1衍射級光束與第一零級主光束的重疊部分相應。當掃描光盤OD的信息層26時，所述區域34、36可以被檢測器陣列20利用來實現徑向跟蹤功能，例如一光點推挽徑向跟蹤。為了進一步說明，第一橫截面28中示出了偏心參考點38。
沿第三光路LP3行進的射束具有第二橫截面40，其角安排直接與落在檢測器陣列20上的射束光點的角安排相應。同樣為了說明的目的，第二橫截面40具有第一參考軸40和第二參考軸44，所述參考軸處于第二橫截面40的平面內并示出了第二橫截面40的角安排，所述參考軸與第一橫截面28中的上述軸30、32相應。第三光路LP3分別垂直于第一和第二參考軸42、44。第二橫截面4具有第一和第二區域46、48，所述區域與在先描述的第一橫截面28中的區域34、36相應。如上所述，這些區域46、48可以被檢測器陣列20利用來執行徑向跟蹤功能。為了進一步說明的目的，第二橫截面40具有與第一橫截面28中的上述參考點38相應的偏心參考點50。
在旋轉臂2處于第一角位置或第二角位置的情況下，第一橫截面28具有相同的角安排。然而，在旋轉臂2處于第二角位置的情況下，如圖4所示，第二橫截面40具有不同于如圖3所示的當旋轉臂2處于第一角安排時的角安排。旋轉臂處于第一角位置時的第二橫截面40的角安排相對旋轉臂處于第二角位置時的第二橫截面40的角安排變化了角度2α。此外，旋轉臂2處于第二角位置時的第二橫截面40是第一橫截面28圍繞第二參考軸32的反轉形式。第一和第二橫截面的偏心參考點38、50的不同位置分別解釋了此種情況。
所述第二橫截面40的角安排對旋轉臂2的角位置的相關性產生了光學掃描設備的檢測器裝置10的定位不穩定的問題，這是因為與在使用線性跟蹤系統的已知光學掃描設備中所產生的問題相同，射束光點落在檢測器陣列20上的角安排不穩定。
圖5示出了根據本發明的一個具體實施方式
的光學掃描設備的元件側截面。
圖6和圖7示意性的示出了射束對根據本發明的本具體實施方式
的旋轉臂的不同角位置的橫截面。附圖中使用虛線示意性的示出了徑向臂102。
該實施方式的技術特征與在先描述的光學掃描設備的技術特征相似。所述技術特征標記為相似的附圖標記加100，其說明也可以應用于此。
在本發明的本實施方式中，剛性固定到旋轉臂102的光學反轉元件包括單反射表面57。光學反轉元件包括棱鏡，特別是特夫棱鏡(Doveprism)56。旋轉軸CR垂直設置，特夫棱鏡56的單反射表面57水平設置。沿第二光路LP102從第一折疊式反射鏡104行進的射束在進入到第二折疊式反射鏡106之前被特夫棱鏡56的單反射表面57反射。
現在參考圖6，當旋轉臂102處于第一角位置時，第一橫截面128具有與第二橫截面140相同的角安排。現在參考圖7，當旋轉臂102處于第二角位置時，第一橫截面128和第二橫截面140現在也都具有相同的角安排。另外，如通過第一和第二橫截面128、140的各偏心參考點138、150的位置所示，相對于第一橫截面128，第二橫截面140不會成為第一橫截面128關于第二參考軸132的反轉形式。
第二橫截面140的角安排和旋轉臂102的角位置現在基本彼此無關，從而，落在檢測器陣列120上的射束光點相對恒定。
第二橫截面140的角安排和旋轉臂102的角位置并不完全彼此獨立，因為第一橫截面128的角安排相對于光盤OD的信息層126有輕微變化。上述情況導致射束光點落在檢測器陣列120上的角安排變化。信息層126包括自光盤OD的主軸SA沿徑向R彼此平行的軌道。為了使第一橫截面128具有恒定的角安排，光點124需要從主軸SA開始沿光盤OD的徑向進行掃描。然而，當旋轉臂102圍繞旋轉軸擺動以實現不同的角位置時，光點124的掃描以一個弧度跨越光盤OD的軌道。因此，射束的第一橫截面128隨旋轉臂102的角位置在其角安排上產生輕微變化。
在本實施方式的光學掃描設備為小型因素光(SFFO)掃描設備的情況下，光盤OD自主軸SA的半徑在10mm到20mm之間，最好接近15mm。此外，在這種情況下，為了將第一橫截面128的角安排對旋轉臂102的角位置的相關度最小化，旋轉臂102在旋轉軸CR到光點124之間的長度最好在10mm到20mm之間，最好接近15mm。最好將光盤OD設置為使內側軌道Rin位于距離主軸SA4mm到10mm的半徑位置處，最好接近6mm，并且外側軌道Rout位于距離光盤OD的主軸SA10mm到18mm的半徑位置處，最好接近14mm。當旋轉臂102的角位置α＝0°時，光點124最好位于接近內外半徑中央的半徑位置處，最好是光盤OD的約10mm位置處。在最佳實施方式中，旋轉臂102需要擺動約-11.5°或+11.5°的角度(α)來掃描內側或外側軌道。當旋轉臂102處于掃描內側軌道Rin或外側軌道Rout的位置時，其中由此α＝-11.5°或+11.5°，射束的第一橫截面128的角安排接近0°。當旋轉臂102位于掃描接近光盤OD的內側和外側半徑Rin、Rout的中心軌道的位置時，α＝0°。在此α＝0°的位置上，射束的第一橫截面128具有約3.2°的角安排。因此，落在檢測器陣列120上的射束光點的角安排在0°到3.2°之間的變化與旋轉臂102的角位置相關。最好將檢測器陣列120設置為射束光點落在檢測器陣列120上的角安排使得0°近似落在范圍(例如-1.6°到+1.6°之間)的中間的方式變化，因為這相比于舉例而言的0°到3.2°之間的變化提供了電學上的優點。
在該設計方案中，第一橫截面128的角安排隨旋轉臂102的角位置的變化以及由此導致的落在檢測器陣列20上的射束光點的變化都保持最小。
對于距離主軸SA半徑為R的光盤OD，旋轉臂102的旋轉角度α最小值和最大值通常以下述公式表示最小值α=-arcsin(xL)---(1)]]>最大值α=+arcsin(xL)---(2)]]>
其中，L是旋轉軸CR和光點124之間的旋轉臂102的長度。最好將旋轉臂102設置為當掃描接近內外半徑Rin、Rout的中央的軌道時α約等于0°。在掃描所述軌道的過程中，光點124會聚在沿旋轉臂102圍繞旋轉軸CR擺動所形成的弧線上的位置上，而不是沿半徑R；并且其中x＝0.5×(Rout-Rin)當α＝0°時，旋轉軸CR與光盤OD的半徑R之間的距離D垂直于半徑R并基本平行于長度L。所述距離D可以下述公式計算D=L2-x2---(3)]]>圖8示出了根據本發明的另一實施方式的光學掃描設備的元件的側截面。該實施方式可以減輕旋轉臂的質量。
該實施方式的技術特征與在先描述的光學掃描設備的技術特征相似。所述技術特征標記為相似的附圖標記加200，其說明也可以適用于此。
就上述具體實施方式
而言，剛性固定到旋轉臂202上的光學反轉元件包括單反射表面58，所述單反射表面為一反射鏡58。將旋轉軸CR垂直設置，反射鏡58水平設置。在所述具體實施方式
中，反射鏡58附著在旋轉臂202的上表面上。沿第二光路LP202從第一折疊式反射鏡204行進的射束被反射鏡58反射到第二折疊式反射鏡206。
就上述具體實施方式
以及用圖6和7所述內容而言，第二橫截面240的角安排以及旋轉臂202的角位置基本上彼此無關，以使落在檢測器陣列220上的射束光點相對恒定。如上所述，第一橫截面228的角安排也相關光盤OD的信息層226而發生輕微變化。
為了使射束沿第二光路LP202行進以被反射鏡58反射，第一和第二折疊式反射鏡204、206需要分別具有特定的傾斜角β。旋轉臂202從旋轉軸CR到第一光路LP201具有長度L202。所述長度L202垂直于旋轉軸CR。旋轉臂202在反射鏡58與射束沿第二光路LP202行進到達到第一或第二折疊式反射鏡204、206的點之間也具有高度H。所述高度H平行于旋轉軸CR。反射鏡58具有垂直于旋轉軸CR的長度L58，其大于等于反射射束所需的最小長度。沿第二光路LP202行進的射束具有直徑d。通過上述信息，可以計算出傾斜角β，傾斜角β是第一或第二折疊式反射鏡204、206相對于垂直于旋轉軸CR的線的角度。所述計算式如下所述
β=12·arctan(L2022H)---(4)]]>由此，可以計算出反射鏡58的長度L58的數值L58≥dsin(90-2β)---(5)]]>例如，如果L202＝15mm，d＝1.5mm，H＝1.6mm，則β＝0.39°，L58≥7.2mm。
圖9示出了根據本發明的另一實施方式的光學掃描設備的元件的側截面。
該實施方式的技術特征與在先描述的光學掃描設備的技術特征相似。所述技術特征標記為相似的附圖標記加300，其說明也可以應用于此。
在該實施方式中，固定的檢測器裝置位于第二光路LP302對光盤OD的相反側。在上述實施方式中，固定檢測器裝置和光盤OD位于第二光路LP102、LP202的同側。
參考圖9，旋轉臂302還包括第一光學反轉元件，其是單反射表面，在所述實施例中為折疊式反射鏡52。旋轉臂302還包括第二光學反轉元件，其也可以是單反射表面，在這種情況下是折疊式反射鏡54。折疊式反射鏡52、54都剛性固定到旋轉臂2，并以平行于旋轉軸CR的方向分離開。在該實施方式中，反射鏡52、54在平行于旋轉軸CR的方向上堆疊。沿第二光路LP302從第一折疊式反射鏡304行進的射束射向光學反轉元件的折疊式反射鏡52，然后射向另一光學反轉元件的折疊式反射鏡54，之后進而射向第二折疊式反射鏡306。
就上述實施方式以及用圖6和7所示的內容而言，第二橫截面340的角安排和旋轉臂302的角位置基本上彼此獨立，以使落在檢測器陣列320上的射束光點相對恒定。然而，第一橫截面328的角安排也相關信息層326而發生輕微變化，如上所述。本設計方案相對于省略了兩個反轉反射鏡52、54的簡化設計的優點在于降低了構件高度。
圖10示出了根據本發明的另一實施方式的光學掃描設備的側截面。所述實施方式允許減少需要使用的元件的數量。
圖11和12示意性的示出了射束對根據本發明的該具體實施方式
的光學掃描設備的旋轉臂的不同角位置的橫截面。該實施方式的技術特征與在先描述的光學掃描設備的技術特征相似。所述技術特征標記為相似的附圖標記加400，其說明也可以應用于此。
剛性固定到旋轉臂402的是光學反轉元件，其是不對稱棱鏡64。不對稱棱鏡64包括第二折疊式反射鏡406和單反射表面62。沿第二光路LP402從第一折疊式反射鏡404行進的射束進入不對稱棱鏡64，之后由單反射表面62反射到第二折疊式反射鏡406。
參考圖11，與本發明的在先實施方式相似，第二橫截面440的角安排與第一橫截面428的角安排相同，旋轉軸402處于第一角位置上。然而，在該實施方式中，第二橫截面440以沿第一參考軸442的方向拉伸的形式變形。
現在參考圖12，其中，旋轉臂402處于第二角位置，第二橫截面440的角安排略微與旋轉臂402的角位置相關。第二橫截面440關于旋轉軸CR的角安排小于角2α。同樣，當旋轉臂402處于第一角位置時，第二橫截面440以沿第一參考軸442的方向拉伸的形式變形。分別與第一和第二橫截面中的偏心參考點438、450的位置相比，第二橫截面440不是第一橫截面的反轉變形。
可以利用圖13和14更具體的描述射束的第二橫截面440的變形。沿第二光路LP402行進的射束在進入不對稱棱鏡64之前具有第一直徑d1。被單反射表面62和第二折疊式反射鏡406反射之后，沿光路LP403行進的射束具有第二直徑d2。第二直徑等于第一直徑d1乘以放大率M。所述放大率M可以通過下式計算M＝1/tanθ (6)其中，θ是單反射表面62與第二折疊式反射鏡406之間的角度。所述角度θ與形成該不對稱棱鏡64的材料的折射率有關。最好將角θ選定為使第二光路LP402和第三光路LP403在第二和第三折疊式反射鏡406、408之間的部分的角度在80°到100°之間，最好彼此約為90°。
現在參考圖14，第二橫截面440具有第一扭曲角φ1和第二扭曲角φ2。第一扭曲角φ1相應于旋轉臂402處于第一角位置時自第一參考軸442的位移。第二扭曲角φ2相應于旋轉臂402處于第二角位置時自第二參考軸444的位移。旋轉臂402從第一角位置到第二角位置的位移由角α指示。對第一和第二扭曲角φ1、φ2的計算分別如下所示φ1＝α-atan(sinα/Mcosα) (7)φ2＝atan(Msinα/cosα)-α.(8)圖15示出了根據本發明的另一實施方式的光學掃描設備的元件的側截面。
圖16和17示意性的示出了射束對根據本發明的該具體實施方式
的旋轉臂的不同角位置的橫截面。
該實施方式的技術特征與在先描述的光學掃描設備的技術特征相似。所述技術特征標記為相似的附圖標記加500，其說明也可以應用于此。
在該實施方式中，光學反轉元件包括單反射表面，其為反射鏡66，剛性固定到旋轉臂502。旋轉軸CR和反射鏡66都垂直設置在旋轉臂502的壁的內表面上。沿第二光路LP502從第一折疊式反射鏡504行進的射束被垂直反射鏡66反射到第二折疊式反射鏡506。射束接觸光點68示出了射束在反射鏡66上的反射位置。
現在參考圖16，在該附圖中，旋轉臂502處于第一角位置，第二橫截面540具有不同于第一橫截面528的角安排。此外，垂直反射鏡66對射束的反射使第二橫截面540成為關于第一橫截面528的第一參考軸542的反轉變形。其通過分別比較第一和第二橫截面的偏心參考點538、550而示出。
現在參考圖17，在該附圖中，旋轉臂502處于第二角位置，第二橫截面540也具有不同于第一橫截面528的角安排。旋轉臂502處于第二角位置時的第二橫截面540的角安排與旋轉臂502處于第一角位置時的第二橫截面540的角安排相同。此外，第二橫截面540是第一橫截面528的相同的反轉變形。
因此，與本發明的上述實施方式相似，第二橫截面540的角安排和旋轉臂502的角位置基本上彼此無關，以使落在檢測器陣列520上的射束光點相對恒定。
上述具體實施方式
應被理解為本發明的解釋性示例。本發明還可以有其他具體實施方式
。
在本發明的具體實施方式
中，光學反轉元件剛性固定到旋轉臂上。或者，光學反轉元件可以如使元件在臂上旋轉或平移的方式附著在旋轉臂上，從而實現本發明。
此外，應當預見，光學反轉元件并不局限于沿第二光路定位在旋轉臂上。作為選擇，元件可以沿第三光路定位。
在上述具體實施方式
中，上述徑向跟蹤系統是單光點推挽型的。可以預見，也可以有選擇的使用三光點推挽型的徑向跟蹤系統。
在上述具體實施方式
中，反射鏡和棱鏡用作光學反轉元件。也可以有選擇的使用其他類型的元件。
應當理解，所描述的與任意實施方式相關任意技術特征都可以單獨使用或與其他技術特征相結合，也可以與任意其他具體實施方式
中的一個或多個技術特征結合使用，或與任意其他具體實施方式
任意結合。此外，在不背離由所附的權利要求所定義的本發明的范圍的條件下，也可以采用上述內容中未描述的等價實施方式及其改進方式。
權利要求
1.一種光學掃描設備，用于掃描光學記錄載體的信息層，所述設備包括旋轉臂(2；102；202；302；402；502)，其被設置為圍繞旋轉軸(CR)擺動以圍繞旋轉軸改變旋轉臂的角位置；檢測器裝置(10)，其與旋轉臂(2；102；202；302；402；502)分開設置，用于檢測射束光點，所述射束光點(40；140；240；340；440；540)具有角安排；第一反射表面(4；104；204；304；404；504)，該面附著在旋轉臂(2；102；202；302；402；502)上；第二反射表面(6；106；206；306；406；506)，該面附著在旋轉臂(2；102；202；302；402；502)上；第一光路(LP1；LP101；LP201；LP301；LP401；LP501)，該光路是從記錄載體上的位置到所述第一反射表面；第二光路(LP2；LP202；LP302；LP402；LP502)，該光路是從所述第一反射表面到所述第二反射表面；第三光路(LP3；LP103；LP203；LP303；LP403；LP503)，該光路是從所述第二反射表面到所述檢測器裝置(10)，其特征在于，所述旋轉臂包括至少一個光學反轉元件(52；54；56；58；64；66)，其被設置為使旋轉臂的角位置的變化與射束光點的角安排的變化之間的相關度降低。
2.根據權利要求1所述的光學掃描設備，其中，考慮到由于光學記錄載體上的數據軌道在跨越旋轉臂的擺動路徑時的方向變化引起的變化量，射束光點的角安排與旋轉臂(2；102；202；302；402；502)的角位置基本無關。
3.根據權利要求1、2或3其中任意之一所述的光學掃描設備，其中，所述射束光點包括與用于徑向跟蹤功能的所述射束的第一衍射級相應的區域(46；48；146；148；446；448；546；548)。
4.根據上述任意一個權利要求所述的光學掃描設備，其中，第三光路(LP3；LP103；LP203；LP303；LP403；LP503)的一部分基本與旋轉軸(CR)重合。
5.根據上述任意一個權利要求所述的光學掃描設備，其中，光學反轉元件剛性固定到旋轉臂。
6.根據上述任意一個權利要求所述的光學掃描設備，其中，光學反轉元件僅包括一個單反射表面(52)。
7.根據上述任意一個權利要求所述的光學掃描設備，其中，光學掃描設備包括另一光學反轉元件(54)，其中，光學反轉元件和所述另一光學反轉元件在平行于旋轉軸(CR)的方向上分離開。
8.根據上述任意一個權利要求所述的光學掃描設備，其中，光學反轉元件包括棱鏡。
9.根據權利要求8所述的光學掃描設備，其中，棱鏡包括第二反射表面(406)。
10.根據權利要求9所述的光學掃描設備，其中，棱鏡是不對稱棱鏡。
11.根據權利要求1到7中任意之一所述的光學掃描設備，其中，光學反轉元件包括反射鏡(52；56；58；66)。
全文摘要
本發明提供了一種光學掃描設備，用于掃描光學記錄載體的信息層，所述設備包括旋轉臂(2；102；202；302；402；502)，其被設置為圍繞旋轉軸(CR)擺動以圍繞旋轉軸改變旋轉臂的角位置；檢測器裝置(10)，與旋轉臂(2；102；202；302；402；502)分開設置，用于檢測射束光點，所述射束光點(40；140；240；340；440；540)具有角安排；第一反射表面(4；104；204；304；404；504)，該面附著在旋轉臂(2；102；202；302；402；502)上；第二反射表面(6；106；206；306；406；506)，該面附著在旋轉臂(2；102；202；302；402；502)上；第一光路(LP1；LP101；LP201；LP301；LP401；LP501)，該光路是從記錄載體上的位置到所述第一反射表面；第二光路(LP2；LP202；LP302；LP402；LP502)，該光路是從所述第一反射表面到所述第二反射表面；第三光路(LP3；LP103；LP203；LP303；LP403；LP503)，該光路是從所述第二反射表面到所述檢測器裝置(10)。所述旋轉臂包括至少一個光學反轉元件(52；54；56；58；64；66)，其被設置為使射束光點的角安排的變化與旋轉臂的角位置的變化之間的相關度降低。
文檔編號G11B7/135GK1669079SQ03817263
公開日2005年9月14日 申請日期2003年7月2日 優先權日2002年7月23日
發明者M·A·H·范德亞, G·L·M·詹森, G·J·P·尼斯塞, J·J·H·B·施萊彭, A·A·A·卡斯特里, F·C·彭寧, W·G·奧普海爾 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司