專利名稱：一次性寫入光盤和用于管理一次性寫入光盤上的缺陷區的方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種諸如一次性寫入藍光盤(BD-WO)的一次性寫入光盤和用于管理一次性寫入光盤上的缺陷區的方法及裝置。
背景技術：
現在正在開發新型高密度光盤，例如可重寫藍光盤(BD-RE)。該BD-RE的益處是其具有可重寫能力，即高質量視頻和音頻數據可以在其上面重復寫入、擦除和重寫入。
圖1是用于向諸如BD-RE的光盤寫入數據/從中再現數據的一般光盤設備的框圖。如圖1所示，光盤設備包括光拾取器11，其用于向BD-RE 10記錄信號/從中再現信號；視頻盤記錄器(VDR)系統12，其用于把來自光拾取器11的信號作為再現的信號處理，或者把外部數據流解調和處理為適合于寫入BD-RE 10的可寫信號；以及編碼器13，其用于對外部模擬信號編碼并提供編碼的信號至VDR系統12。
圖2示出了現有技術的BD-RE的結構。參考圖2，該BD-RE被分成導入區(LIA)、數據區和導出區(LOA)以及分配給數據區的前端和末端的內備用區(ISA)和外備用區(OSA)。
參考圖1和2，在VDR系統12把外部信號編碼和解調為適合寫的信號之后，光盤設備的VDR系統12以對應于具有預定記錄大小的ECC塊單元的簇為單位在BD-RE的數據區中寫入外部數據。在寫過程中，如果在BD-RE的數據區中發現缺陷區，VDR系統12則進行一系列的置換寫操作，其中，寫在缺陷區上的數據簇被寫到一個備用區上，例如寫在置換缺陷區的ISA上。因此，即使在BD-RE的數據區中存在缺陷區，VDR系統12也能夠通過把寫在缺陷區中的數據簇寫到備用區上的方式來事先防止數據寫錯誤。
一次性寫入藍光盤(BD-WO)是正在開發的另一種類型的高密度光盤，其中能夠向這種盤記錄高質量數據并從中再現。顧名思義，數據在BD-WO上只能寫一次且在BD-WO上不能重寫，但是可以重復讀取BD-WO。因此，BD-WO在無需記錄介質上的數據可重寫性的情況中是有用的。
遺憾的是，由于BD-WO仍然處在早期開發階段，現在還未出現關于如何管理BD-WO上的缺陷區、且是BD-WO的商業可行性和操作可行性所需的方案、盤結構、裝置和方法。
發明內容
因此，本發明提出一種用于管理諸如BD-WO的一次性寫入光盤上的缺陷區的技術。
本發明的目的是提供一種一次性寫入光盤和用于有效管理一次性寫入光盤的缺陷區的裝置和方法。
本發明的其它特征和優點將在隨后的說明中部分地描述，經過以下檢驗或從本發明的實踐中學習，上述特征和優點對于本領域的普通技術人員來說是顯而易見的。本發明的目的和其它優點可以如書面描述及其權利要求以及附圖中所特別指出的結構來實現和獲得。
根據本發明的一個方面，提供了一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的方法，該記錄介質包括數據區，該方法包括(a)在數據寫操作中，當數據被寫到數據區上時檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到另一數據用戶區中；以及(c)把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的至少一個缺陷管理區上。
根據本發明的另一方面，提供了一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的方法，該記錄介質包括數據區和導入區，該數據區包括備用區，該方法包括(a)在數據寫操作中，在把數據寫到數據區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到備用區中；以及(c)把與該缺陷區相關的缺陷列表信息寫到導入區上。
根據本發明的另一方面，一種一次性寫入記錄介質包括數據區，該數據區包括記錄區、置換區和至少一個缺陷管理區，其中，在數據寫操作期間，在把數據寫到記錄區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在，如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到置換區中，以及把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到該至少一個缺陷管理區上。
根據本發明的另一方面，一種一次性寫入記錄介質包括具有備用區的數據區和導入區，其中，在數據寫操作中，在把數據寫到數據區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在，如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到備用區中，以及把與該缺陷區相關的缺陷列表信息寫到導入區上。
根據本發明的另一方面，提供了一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的裝置，該記錄介質包括數據區，該裝置包括(a)用于在數據寫操作中，當把數據寫到數據區上時，檢測記錄介質的數據區中是否存在缺陷區的配置部分；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到另一數據用戶區中的配置部分；以及(c)把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的至少一個缺陷管理區上的配置部分。
根據本發明的另一方面，提供了一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的裝置，該記錄介質包括數據區和導入區，該數據區包括備用區，該裝置包括(a)用于在數據寫操作中，在把數據寫到數據區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在的配置部分；(b)用于如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到備用區中的配置部分；以及(c)用于把與該缺陷區相關的缺陷列表信息寫到導入區上的配置部分。
應當理解，本發明的上面描述和下面詳細的描述只是示例性和解釋性的且用于對所要求保護的本發明提供進一步的解釋說明。
所包括的附圖用于對本發明提供進一步的理解，該附圖被合并和構成本申請的組成部分，用于示出本發明的實施例，并結合描述用來解釋本發明的原理。在附圖中圖1示意性地示出了現有技術的光盤設備；圖2示出了現有技術的BD-RE的結構；圖3示出了根據本發明的光盤記錄/再現設備的框圖；圖4A和4B分別示出了根據本發明的實施例的單層BD-WO和雙層BD-WO的結構；圖5示出了根據本發明的第一優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法；圖6A和6B示出了根據本發明的第一優選實施例的變型的管理BD-WO上的缺陷區的方法；圖7示出了根據本發明的第二優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法；圖8示出了根據本發明的第三優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法；圖9示出了根據本發明的第四優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法；以及圖10A、10B和10C示出了根據本發明的第五優選實施例的各種示例的管理BD-WO上的缺陷區的方法。
具體實施例方式
現在為本發明的優選實施例給出詳細的參考，其示例在附圖中示出。
圖3示出了根據本發明的實施例的光盤記錄/再現設備20的框圖的示例。光盤記錄/再現設備20包括光拾取器22，其用于向光記錄介質21寫入數據/從中讀出數據；伺服單元23，其用于控制拾取器22保持拾取器22的物鏡與記錄介質21之間的距離和用于跟蹤記錄介質21上的相關軌道；數據處理器24，其用于處理用于寫入的輸入數據并把其供應給拾取器22，以及用于處理從記錄介質21讀出的數據；接口，其用于與任何外部主機30交換數據和/命令；存儲器或儲存器27，其用于在其中存儲信息和數據，包括與記錄介質21相關的缺陷管理數據；以及微處理器或控制器26，其用于控制記錄/再現設備20的操作和組件。要被寫入記錄介質21/從中讀出的數據也可以被存儲在存儲器27中。光盤記錄/再現設備20的所有元件均被可操作的連接。
記錄介質21是一次性寫入記錄介質，例如BD-WO。
圖4A和4B分別示出了根據本發明的兩種類型的一次性寫入光盤(例如BD-WO)的結構。如圖4A和4B所示，BD-WO可以具有一層或兩層記錄層。在圖4A中，只具有單層記錄層(層0)的BD-WO包括由導入區(LIA)、數據區和導出區(LOA)構成的單層記錄層且在下文中稱為單層盤。在圖4B中，雙層BD-WO包括兩層記錄層(層0和1)。第一記錄層(層0)包括LIA、數據區和外區。第二記錄層(層1)包括LOA、數據區和外區且在下文中稱為雙層盤。一般而言，數據寫在雙層盤中以如虛線箭頭所示的方向進行。單層盤可以具有23.3、25.0或27.0吉字節(Gbyte)的容量，而雙層盤可以具有46.6、50.0或54.0吉字節的容量。
應當注意，本發明的所有不同的實施例(如下面所討論的各種方法)可以應用于任何類型的一次性寫入光盤，例如單層BD-WO或雙層BD-WO。此外，雖然下面結合本發明的各方法討論了圖3的記錄/再現設備的使用，但是本發明并不限于此，且涵蓋其它記錄/再現設備，只要它們被配置成實現本方法。例如，根據需要，如圖1所示的設備可以用于實現本方法。
圖5示出了根據本發明的第一優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法。
參考圖3和5，根據本發明的第一實施例的管理一次性寫入光盤的缺陷區的方法如下所述。光盤記錄/再現設備20在BD-WO的數據區中的預定寫扇區上連續寫入數據，其中，寫扇區可以設置為具有等效于BD-WO上的一個或多于一個的物理軌道或簇的確定記錄大小的缺陷驗證單元(DVU)。
在DVU上連續寫入一組數據之后(記錄1)，微計算機26控制拾取器22以在BD-WO的記錄1區上進行一系列的缺陷區檢測操作。缺陷區檢測操作包括再現寫在DVU中的數據，并通過(例如)把從DVU再現的實際數據與將要被寫在DVU上的數據進行比較的方式來驗證該數據是否被正確寫在DVU上。如果驗證結果表示確定數據未被正確記錄在DVU上，則記錄/再現設備20假定在BD-WO的該DVU中存在缺陷區并使用線性置換方案來把該數據(關于該缺陷DVU)重新寫到BD-WO上的下一可用記錄區上。
例如，在連續寫入第一至第五數據簇(簇#1～#5)作為第一缺陷驗證單元DVU#1(步驟S10)之后，微計算機26控制拾取器22來主動再現(例如一簇接一簇地)寫在DVU#1上的數據，并通過檢查所再現的數據來檢測是否在DVU#1中存在任何缺陷區。例如，如果在第二簇Cluster#2(簇#2)中檢測到缺陷區(步驟S11)，微計算機26則控制數據處理器24和拾取器22來進行置換寫操作。在置換寫操作中，寫入簇#2的數據(暫存在存儲器27中或某個其它存儲器中)被寫到第五簇Cluster#5(簇#5)后面的簇區上(步驟S12)。
在完成對簇#2的置換寫之后，記錄/再現設備20檢查下一簇等，直到檢查到該DVU中的最末簇為止。例如，如果在第四簇Cluster#4(簇#4)中檢測到缺陷區(S13)，記錄/再現設備20則進行如上面所討論的置換寫操作，以把寫在缺陷簇#4中的數據寫到下一可用簇區上，例如用于簇#2的置換區之后的簇區(步驟S14)。
置換寫操作繼續到該DVU中的所有缺陷簇上的數據被寫入到其它簇區(置換區)中為止。結果，在這個示例中，DVU#1最后具有簇#1、#3和#5以及兩個缺陷區(原來的簇#2和#4)，其中，使用線性置換方案把置換區用來代替兩個缺陷區在其上面寫入數據。
當具有暫時連續性的數據記錄(記錄1)結束時(其包括關于DVU#1、DVU#2、……、DVU#n的缺陷區檢測操作和置換寫操作)，微計算機26把管理信息寫到記錄1的最末DVU后面的區域32上。
管理信息用于管理BD-WO的數據區中的缺陷區和管理寫入到對應于缺陷區的置換區中的數據。可以把管理信息作為缺陷列表(DFL)信息進行管理，其中，該DFL信息可以包括一個或多個缺陷項目Defect Entry#1-Defect Entry#n，每個缺陷項目具有對應缺陷區的第一物理扇區編號(缺陷區的PSN)、對應于該缺陷區的置換區的第一物理扇區編號(置換區的PSN)以及屬于缺陷項目的任何其它數據。
一旦關于記錄1的DFL信息(例如DFL#1)的寫完成，該記錄/再現設備20可以繼續具有暫時連續性的另一數據寫操作(例如記錄2)。當數據寫操作(記錄2)結束時(其包括關于如上所述的記錄2的所有DVU的缺陷區檢測操作和置換寫操作)，把關于記錄2的管理信息寫到記錄2的最末DVU后面的區域33上。該過程重復進行到要被寫入到BD-WO的數據區中的所有數據都正確寫入為止。
至于快速訪問所寫入的管理信息，微計算機26可以被配置成在BD-WO的其它部分中寫入快速訪問信息。例如，可以在BD-WO的LIA上寫入包括寫在其上面的缺陷列表的物理扇區編號的快速訪問信息，作為盤定義結構(DDS)信息。即，在LIA中存儲DFL#1的物理扇區編號(區域32)、DFL#2的物理扇區編號(區域33)等作為DDS的一部分。在另一實施例中，當根據數據寫操作所有缺陷列表(例如DFL#1-DFL#i)被分散寫在BD-WO的整個數據區中時，這些缺陷列表的位置信息(例如物理扇區編號)可以被存儲在LIA中，作為DDS的一部分。根據這些配置，在數據再現操作期間，記錄/再現設備能夠讀取并參考寫在LIA中的DDS信息來定位DFL位于BD-WO的數據區中的位置。然后，可以搜索DFL來定位和再現被寫在對應于缺陷的所要求區的置換區中的數據。
如圖5所示，在第一實施例中，BD-WO的數據區中沒有預分配的備用區。隨著記錄操作的進行，所存儲的DFL被分散在整個數據區中。
圖6A和6B示出了根據本發明的第一優選實施例的變型的用于管理BD-WO上的缺陷區的方法。第一實施例的變型除了BD-WO包括在盤再現期間初始分配給數據區的前端部分(ISA)或后端部分的具有固定大小的備用區之外，其他與上面所討論的第一實施例(圖5)相同。在這個示例中，示出了分配給數據區的后端部分的外備用區34(OSA)。
在這個變型實施例中，備用區(例如OSA 34)初始具有固定的大小，但是在數據寫/記錄操作中根據使用備用區的需要而變化。例如，當數據區中的缺陷增多時，由于數據寫操作中的數據寫被推到備用區中，所以所分配的備用區的大小可以減小，從而降低了備用區的大小。即，在第一實施例的變型中，該備用區被分配，并用作為一指定附加空間用于數據寫操作，且并不一定作為可以使用線性置換方案把缺陷區的數據寫到其上面的置換區。
例如，如圖6A和6B所示，隨著缺陷區檢測操作和置換寫操作的進行，根據置換區的記錄大小(例如置換簇#2和#4的大小)和DFL的大小來降低數據區的記錄大小(不包括OSA 34)。在這個方面中，如果在用戶數據(不包括OSA 34)中的數據的最末寫入位置未延伸(protrude into)在盤生產的初始階段所分配的OSA 34的開始寫入位置，則保持數據區(不包括OSA 34)的原記錄大小。但是，如果在用戶數據中的數據的最末寫入位置超出在盤生產的初始階段所分配的OSA 34的開始寫入位置，則增大用戶數據(不包括OSA 34)的記錄大小且相應降低OSA 34的大小。
因此，通過分配和使用具有可變化地降低的記錄大小的OSA 34，記錄/再現設備20可以使在開始數據寫操作之前所檢測到的可寫數據容量與由于該盤的數據區中存在任何缺陷區而導致降低的實際可寫數據容量之間的任何錯誤降到最低。
圖7示出了根據本發明的第二優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法。在第二實施例中，BD-WO包括分配給數據區的前端部分(內備用區ISA)和/或后端部分(外備用區OSA)的備用區。在圖7中，示出了外備用區35(OSA)。由于第二實施例中的備用區被用作用于使用線性置換方案而寫入對應于缺陷區的數據的置換區，所以第二實施例中的備用區(例如OSA 35)與第一實施例中的備用區(例如OSA 34)不同。第二實施例中的備用區具有可變大小，但是如果需要的話，可以具有固定大小。
參考圖7，記錄/再現設備20進行置換寫操作，其中，在連續寫入第一至第五數據簇(簇#1～#5)作為第一缺陷驗證單元DVU#1之后(步驟S10)，執行缺陷區檢測操作和置換寫操作。如果在第二簇區(簇#2)中發現存在缺陷區，則根據線性置換方案也把第二簇的數據寫到OSA 35的區域35a中(步驟S22)。然后，如果在第四簇(簇#4)中發現缺陷區，則根據線性置換方案也把第四簇的數據寫到OSA 35的區域35b中(步驟S24)。在每個DVU中所發現的缺陷區上的任何數據被使用線性置換方案重新寫入到諸如OSA 35的備用區的對應區中。
因此，在這個示例中，第一缺陷驗證單元DVU#1具有正常寫入的第一、第三和第五簇(簇#1、#3和#5)以及兩個缺陷區(簇#2和#4)。該OSA 35具有用于存儲與缺陷簇#2和#4的數據相同的數據的置換區。
與在第一實施例中一樣，當具有暫時連續性的每個數據記錄(例如記錄1、記錄2等)結束時，本發明的第二實施例寫入分散在該盤的整個數據區中的管理信息。例如，記錄/再現設備20把DFL信息(即DFL#1)作為管理信息寫在記錄1的最末DVU后面的區域32上。管理信息(例如，DFL)寫操作和DDS(例如，用于快速訪問)寫操作與本發明的第一實施例中所討論的一樣。
圖8示出了根據本發明的第三優選實施例的用于管理BD-WO上的缺陷區的方法。第三實施例與本發明的第二實施例相同，除了DFL(管理信息)未被分散的存儲在整個數據區中而是存儲在諸如ISA或OSA的所分配的備用區中之外。
如圖8所示，例如，在具有暫時連續性的每個數據記錄(例如記錄1)結束之后，記錄/再現設備20把對應剛結束的數據記錄的DFL寫入OSA 35。因此，對應于不同記錄1、2……的所有DFL被存儲在OSA 35的區域中。此外，該OSA 35作為置換區，用于存儲與數據區中的任何缺陷區的數據相同的數據。在諸如OSA 35的一個區域中具有DFL和在OSA 35具有所有置換區可以使用DDS和DFL來加快定位所需的置換區的過程。
圖9示出了根據本發明的第四優選實施例的管理BD-WO上的缺陷區的方法的視圖。第四實施例與本發明的第三實施例相同，除了DFL(管理信息)被寫在數據區外的特定寫扇區中，例如寫在導入區LIA中。
如圖9所示，例如，在具有暫時連續性的每個數據記錄(例如記錄1)結束之后，記錄/再現設備20在LIA 36寫入對應于剛結束的數據記錄的DFL。因此，對應于不同記錄1、2……的所有DFL被存儲在LIA 36中。除了DFL之外，該LIA 36還存儲在前面的實施例中所討論的DDS。該OSA 35仍作為置換區，用于存儲與數據區中的任何缺陷區的數據相同的數據。在諸如LIA 36的一個區域中具有DFL、在OSA 35具有所有置換區、和/或在諸如LIA 36的一個區域中同時具有DDS和DFL可以加快缺陷管理過程和使用DDS和DFL來定位所需置換區的過程。
圖10A、10B和10C是示出了根據本發明的第五優選實施例的用于管理BD-WO上的缺陷區的方法的各示例。第五實施例與前面的實施例的不同之處在于其允許DFL的累加寫(cumulative writing)。這種DFL的累加寫可以應用于前面所討論的第一至第四實施例中的每個實施例。
作為示例，根據第五實施例，圖10A示出了DFL的累加寫如何應用于如圖5～7所示的第一和第二實施例。參考圖10A，在具有暫時連續性的第一數據寫操作(例如記錄1)結束時，記錄/再現設備20把對應于剛結束的第一寫操作的DFL(DFL#1)寫入數據區的第一DFL區37。如在第一和第二實施例中所討論的一樣，第一DFL區37緊跟在第一記錄區(記錄1的區域)的最末DVU之后。然后，記錄/再現設備20繼續第二數據寫操作(即記錄2)。在第二數據寫操作結束之后，該記錄/再現設備20把對應于第二寫操作的DFL(DFL#2)以及第一DFL(DFL#1)寫入數據區的DFL區38。第二DFL區38緊跟在第二記錄區(記錄2的區域)的最末DVU之后。然后，記錄/再現設備20進繼續第三數據寫操作(即記錄3)。在第三數據寫操作結束之后，該記錄/再現設備20把對應于第三寫操作的DFL(DFL#3)以及第一和第二DFL(DFL#1和#2)寫入數據區的第三DFL區39。該第三DFL區39緊跟在第三記錄區(記錄3的區域)的最末DVU之后。該過程繼續執行任何后續的數據寫操作。因此，隨著數據寫操作的繼續，該DFL被累加地寫在數據區中。
作為另一示例，根據第五實施例，圖10B示出了DFL的累加寫如何應用于如圖8所示的第三實施例，其中，該DFL被寫入到諸如OSA35的備用區中。參考圖10B，在具有暫時連續性的第一數據寫操作(例如記錄1)結束時，記錄/再現設備20把對應于剛結束的第一寫操作的DFL(DFL#1)寫入到OSA 35的DFL區35d中。然后，該記錄/再現設備20繼續第二數據寫操作(即記錄2)。在第二數據寫操作結束之后，該記錄/再現設備20把對應于第二寫操作的DFL(DFL#2)以及第一DFL(DFL#1)寫入到OSA 35的第二DFL區35e中。在這個示例中，第二DFL區35e緊鄰第一DFL區35d。然后，記錄/再現設備20繼續第三數據寫操作(即記錄3)。在第三數據寫操作結束之后，記錄/再現設備20把對應于第三寫操作的DFL(DFL#3)以及第一和第二DFL(DFL#1和#2)寫入到OSA 35的第三DFL區35f中。在這個示例中，第三DFL區35f緊跟在第二DFL區35e之后。對任何后續的數據寫操作繼續執行該過程。因此，隨著數據寫操作的繼續，該DFL被累加寫在數據區的備用區中。
作為另一示例，根據第五實施例，圖10C示出了DFL的累加寫如何應用于如圖9所示的第四實施例，其中，該DFL被寫入到諸如導入區LIA 36的數據區外的區域中。參考圖10C，在具有暫時連續性的第一數據寫操作(例如記錄1)結束時，記錄/再現設備20把對應于第一寫操作的DFL(DFL#1)寫入到LIA 36的DFL區36a中。然后，記錄/再現設備20繼續第二數據寫操作(即記錄2)。在第二數據寫操作結束之后，記錄/再現設備20把對應于第二寫操作的DFL(DFL#2)連同第一DFL(DFL#1)寫入到LIA 36的第二DFL區35b中。在這個示例中，第二DFL區36b緊鄰第一DFL區36a。然后，記錄/再現設備20繼續第三數據寫操作(即記錄3)。在第三數據寫操作結束之后，該記錄/再現設備20把對應于第三寫操作的DFL(DFL#3)連同第一和第二DFL(DFL#1和#2)寫入到LIA 36的第三DFL區36c中。在這個示例中，第三DFL區36c緊跟在第二DFL區36b之后。對任何后續的數據寫操作繼續執行該過程。因此，隨著數據寫操作的繼續，該DFL被累加地寫在數據區前面/后面的區域中，例如寫在導入區中。
在第五實施例中，通過訪問數據區、備用區或導入區的最末DFL區，可以方便并立即訪問與所有數據寫操作相關的DFL。因此，即使當在第一數據寫操作(記錄1)時所寫入的第一缺陷列表信息(DFL#1)未被正確讀取時，也可以通過讀取任何后續的DFL信息來訪問DFL#1信息。這防止了或減少了可能由于對任何缺陷列表的損害而導致的再現錯誤的發生。
除了上面參考圖3～9所描述的各種實施例之外，用于累加寫和管理缺陷列表信息的方法的應用還可以延伸至用于寫和管理缺陷列表信息的其它實施例。
在本發明中，數據再現操作可以與數據寫操作同時、在其后面或在其前面發生。該數據寫操作可以與缺陷檢測操作和/或數據置換寫操作和/或管理信息寫操作同時、在其后面或在其前面發生。
工業應用如上所述，在數據再現中，根據本發明的用于管理一次性寫入光盤上的缺陷區的方法和裝置通過把數據寫到置換缺陷區的備用區或其它數據區上和通過有效管理與缺陷區相關的數據和缺陷管理數據來正確讀取和再現寫在諸如BD-WO的光盤的缺陷區上的數據。本發明還使在開始數據寫操作之前所檢測到的記錄介質的可寫數據容量與由于存在缺陷區而導致降低的記錄介質的實際可寫數據容量之間的任何錯誤降到最低，以及使可能由于對缺陷列表的損害而導致的再現錯誤的發生降到最低。
對于本領域的普通技術人員來說顯然可見，在不脫離本發明的精神或范圍的情況下，可以對本發明作出各種修改和變化。因此，本發明涵蓋了處于所附權利要求書及其等同物內的范圍內的本發明的修改和變化。
權利要求
1.一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的方法，該記錄介質包括數據區，該方法包括(a)在數據寫操作中，當數據被寫到數據區上時檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫到缺陷區中的數據寫到數據區的另一個區上；以及(c)把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的至少一個缺陷管理區上。
2.如權利要求1所述的方法，進一步包括(d)在第一數據寫操作期間，把數據簇寫到數據區的第一記錄區上，每個數據簇被寫到第一記錄區的多個簇區中的一個簇區上；以及其中該檢測步驟(a)包括對于每個簇區，檢查寫在其中的數據并根據檢查結果來確定對應的簇區是否是有缺陷的。
3.如權利要求2所述的方法，其中，該寫步驟(b)包括如果該確定步驟確定出對應的簇區是有缺陷的，則把寫在第一記錄區的對應簇區上的數據寫到數據區的另一簇區上。
4.如權利要求3所述的方法，其中，該寫步驟(c)包括在第一數據寫操作的寫步驟(b)結束之后，把與第一記錄區的所有缺陷簇區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的所述至少一個缺陷管理區上。
5.如權利要求1所述的方法，其中，在寫步驟(c)中，缺陷管理信息包括多個缺陷列表，每個缺陷列表與數據區的多個記錄區中的一個記錄區相關。
6.如權利要求5所述的方法，其中，缺陷列表被根據數據寫操作分散地寫在整個數據區中。
7.如權利要求6所述的方法，其中，該記錄介質包括數據區中的預分配備用區。
8.如權利要求7所述的方法，其中，在寫步驟(b)中，該數據區的另一個區是預分配備用區。
9.如權利要求6所述的方法，其中，每個缺陷列表包括當前缺陷列表和任何以前的缺陷列表，使得每個缺陷列表變成一累加缺陷列表。
10.如權利要求1所述的方法，其中，在寫步驟(b)中，記錄介質上的所述至少一個缺陷管理區是記錄介質的數據區中的預分配備用區的一部分。
11.如權利要求10所述的方法，其中，預分配備用區是位于數據區的前面部分上的內備用區或者是位于數據區的末端上的外備用區。
12.如權利要求10所述的方法，其中，在寫步驟(b)中，該數據區的另一個區是預分配備用區的一部分。
13.如權利要求10所述的方法，其中，在寫步驟(c)中，缺陷管理信息包括多個缺陷列表，每個缺陷列表與數據區的多個記錄區中的一個記錄區相關，并且其中，每個缺陷列表包括當前缺陷列表和任何以前的缺陷列表，使得每個缺陷列表變成累加缺陷列表。
14.如權利要求1所述的方法，其中，在寫步驟(c)中，記錄介質上的所述至少一個缺陷管理區是記錄介質上的數據區外的區。
15.如權利要求1所述的方法，其中，該缺陷管理信息包括在缺陷區上的位置信息和在寫步驟(b)中使用的數據區的另一個區上的位置信息。
16.如權利要求1所述的方法，進一步包括(e)把盤定義結構信息寫到記錄介質的導入區上，該盤定義結構信息包括與缺陷管理信息相關的位置信息。
17.如權利要求1所述的方法，其中，該記錄介質是一次性寫入藍光盤(BD-WO)。
18.一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的方法，該記錄介質包括數據區和導入區，該數據區包括備用區，該方法包括(a)在數據寫操作中，在把數據寫到數據區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到備用區中；以及(c)把與該缺陷區相關的缺陷列表信息寫到導入區上。
19.如權利要求18所述的方法，其中，該記錄介質是一次性寫入藍光盤(BD-WO)。
20.如權利要求18所述的方法，其中，在寫步驟(c)中，缺陷管理信息包括多個缺陷列表，每個缺陷列表與數據區的多個記錄區中的一個記錄區相關，以及每個缺陷列表包括當前缺陷列表和任何以前的缺陷列表，使得每個缺陷列表變成累加缺陷列表。
21.一種一次性寫入記錄介質，其包括數據區，其包括記錄區、置換區和至少一個缺陷管理區，其中，在數據寫操作期間，在把數據寫到記錄區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在，如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到置換區中，以及把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到所述至少一個缺陷管理區上。
22.如權利要求21所述的記錄介質，其中，該記錄區包括多個簇區，其中，在第一數據寫操作期間，把數據簇寫到該記錄區上，每個數據簇被寫到記錄區的簇區中的一個簇區上，以及對于每個簇區，檢查寫在其中的數據并確定對應的簇區是否是有缺陷的。
23.如權利要求22所述的記錄介質，其中，如果對應的簇區被確定是有缺陷的，則把寫在記錄區的對應簇區上的數據寫到數據區的另一簇區上。
24.如權利要求23所述的記錄介質，其中，把與記錄區的所有缺陷簇區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的至少一個缺陷管理區上。
25.如權利要求21所述的記錄介質，其中，缺陷管理信息包括多個缺陷列表，每個缺陷列表與數據區的多個記錄區中的一個記錄區相關。
26.如權利要求25所述的記錄介質，其中，該缺陷列表被根據數據寫操作分散地寫在整個數據區中。
27.如權利要求26所述的記錄介質，其中，該記錄介質進一步包括數據區中的預分配備用區。
28.如權利要求27所述的記錄介質，其中，數據區的置換區是預分配備用區。
29.如權利要求26所述的記錄介質，其中，每個缺陷列表包括當前缺陷列表和任何以前的缺陷列表，使得每個缺陷列表變成累加缺陷列表。
30.如權利要求21所述的記錄介質，其中，記錄介質上的所述至少一個缺陷管理區是記錄介質的數據區中的預分配備用區的一部分。
31.如權利要求30所述的記錄介質，其中，預分配備用區是位于數據區的前面部分上的內備用區或者是位于數據區的末端上的外備用區。
32.如權利要求30所述的記錄介質，其中，數據區的置換區是預分配備用區的一部分。
33.如權利要求30所述的記錄介質，其中，缺陷管理信息包括多個缺陷列表，每個缺陷列表與數據區的多個記錄區中的一個記錄區相關，并且其中，每個缺陷列表包括當前缺陷列表和任何以前的缺陷列表，使得每個缺陷列表變成累加缺陷列表。
34.如權利要求21所述的記錄介質，其中，記錄介質上的至少一個缺陷管理區是記錄介質上的數據區外的區。
35.如權利要求21所述的記錄介質，其中，該缺陷管理信息包括在缺陷區上的位置信息和在數據區的置換區上的位置信息。
36.如權利要求21所述的記錄介質，進一步包括位于數據區外且帶有盤定義結構信息的導入區，該盤定義結構信息包括與缺陷管理信息相關的位置信息。
37.如權利要求21所述的記錄介質，其中，該記錄介質是一次性寫入藍光盤(BD-WO)。
38.一種一次性寫入記錄介質，其包括包括備用區的數據區；以及導入區，其中，在數據寫操作中，在把數據寫到數據區上之后，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在，如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到備用區中，以及把與該缺陷區相關的缺陷列表信息寫到導入區上。
39.如權利要求38所述的記錄介質，其中，該記錄介質是一次性寫入藍光盤(BD-WO)。
40.如權利要求38所述的記錄介質，其中，缺陷管理信息包括多個缺陷列表，每個缺陷列表與數據區的多個記錄區中的一個記錄區相關，以及每個缺陷列表包括當前缺陷列表和任何以前的缺陷列表，使得每個缺陷列表變成累加缺陷列表。
41.一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的裝置，該記錄介質包括數據區，該裝置包括(a)用于在數據寫操作中，當把數據寫到數據區上時，檢測記錄介質的數據區中缺陷區的存在的裝置，；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到數據區的另一個區中的裝置；以及(c)用于把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的至少一個缺陷管理區上的裝置。
42.一種用于管理一次性寫入記錄介質上的缺陷區的裝置，該記錄介質包括數據區和導入區，該數據區包括備用區，該裝置包括(a)在數據寫操作中，用于在把數據寫到數據區上之后，檢測在記錄介質的數據區中缺陷區的存在的裝置；(b)如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到備用區中的裝置；以及(c)把與該缺陷區相關的缺陷列表信息寫到導入區上的裝置。
全文摘要
提供了一種一次性寫入記錄介質以及一種用于管理該記錄介質上的缺陷區的方法和裝置。該方法包括在數據寫操作中，當數據被寫到數據區上時檢測記錄介質的數據區中的缺陷區的存在；如果檢測到缺陷區，則把寫在缺陷區中的數據寫到另一數據用戶區上；以及把與該缺陷區相關的缺陷管理信息寫到記錄介質上的至少一個缺陷管理區上。
文檔編號G11B11/00GK1610938SQ03801864
公開日2005年4月27日 申請日期2003年9月26日 優先權日2002年9月26日
發明者樸容徹, 金成大 申請人:Lg電子株式會社