游程長度受限碼產生方法、記錄/再現裝置及方法

專利名稱：游程長度受限碼產生方法、記錄/再現裝置及方法
技術領域：
本發明涉及游程長度受限碼產生方法，用于產生調節再現電路的代碼，該再現電路從一個信息存儲介質再現數字數據。本發明還涉及一種游程長度受限碼記錄/再現裝置，其產生用于調節一個再現電路的代碼，該再現電路從一個信息存儲介質再現數字數據，并且對一個信息存儲介質記錄/再現該代碼。另外，本發明涉及一種游程長度受限碼記錄/再現方法，用于產生調節從一個信息存儲介質再現的數字數據的再現電路的代碼，并且在一個信息存儲介質上記錄/再現該代碼。
背景技術：
作為可以存儲介質數字數據的記錄介質，以DVD為代表的光盤是已知的。DVD-RAM(一種DVD)包括信息記錄層。當該記錄層被適當能量的激光束所照射時，其結晶狀態改變。通過利用這樣的特性，即，在結晶狀態中的改變，數字數據可以被記錄在記錄層上。當用適當能量的激光照射該記錄層時，以獲得對應于記錄層的結晶狀態的反射光量。通過檢測該反射光，可以再現記錄在記錄層上的數字數據。
在最近幾年，PRML(部分響應和最大近似度)技術被用于提高記錄密度。例如日本專利申請公告9-17130等等公開PRML技術的技術內容。該技術的技術內容將在下文簡單描述，以便于理解。
部分響應(PR)是當通過正面地利用符號間干擾時再現數據的一種方法(再現信號之間的干擾對應于在相鄰位置記錄的數位)。根據在此時產生的符號間干擾，PR可以被進一步分類為多個不同的類。例如，在種類1的情況中，所記錄數據“1”被再現為2位再現數據“11”，并且對后續的1個數位產生符號間干擾。維特比解碼方法(ML)是一種所謂的最大值近似度序列估計方法，并且通過有效地使用一個再現電路波形的符號間干擾規則，根據信號幅度的信息多次再現數據。對于該處理，與從一個記錄介質獲得的再現波形同步的同步時鐘被產生，并且該再現波形本身使用要被轉換為幅度信息的時鐘來采樣。在此之后，該幅度信息受到適當的波形均衡，以轉換為預定的PR響應波形，并且維特比解碼器使用舊的和當前的采樣數據輸出最大近似數據序列作為再現數據。上述PR方法和維特比解碼方法(最大近似度解碼)的組合被稱為PRML方法。為了把PRML技術投入使用，需要獲得再現信號作為一個目標PR類的響應的高精度自適應均衡技術以及支持前一種技術的高精度時鐘再現技術。
下面將說明在PRML技術中所使用的游程長度受限碼。PRML再現電路從一個記錄介質再現的信號本身產生與該信號相同步地時鐘。為了產生穩定的時鐘，所記錄信號的極性在預定時間周期內被翻轉。與此同時，必須防止該記錄信號的極性在預定時間周期中翻轉，以減小所記錄信號的最大頻率。所記錄信號的極性不翻轉的最大數據長度被稱為最大游程長度，并且極性不翻轉的最小數據長度被稱為最小游程長度。具有8位最大游程長度和2位最小游程長度的調制規則被稱為(1，7)RLL，并且具有8位最大游程長度和3位最小游程長度的調制規則被稱為(2，7)RLL。也就說，相同代碼的最小化游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的游程長度受限碼序列被稱為(d，k)游程長度受限碼序列。作為一種典型的用于光盤中的調制/解調方法，已知有(1，7)RLL加EFM的方法(US 5,696,505)。
通常，在一個光盤上記錄數據之后，數據被記錄/再現于一個專用記錄校正區域，以調節記錄激光功率和記錄脈沖形狀。即使當一同進行數據再現時，與數據記錄相同，測試數據被暫時記錄在一個專用區域，以確定在此時可與記錄介質相匹配的再現電路的均衡特性，并且通過自適應地學習并且再現所記錄信號，獲得最佳的均衡特性。
作為在這種情況中所用的測試數據(測試寫入)模式，在日本專利申請公告2002-15479中公開的一種技術是已知的。利用該測試模式，2T、2T、4T的游程，即，[...0011000011001111...]模式的游程被記錄在測試數據區域。通過再現該信號，記錄功率被調節，并且同時調節用于維特比解碼的比較電平。按照這種方式，記錄功率和維特比解碼器可以被適當地調節。
在根據(1，7)RLL進行調制之后，所記錄標記長度落在2T至8T的范圍內。但是，由于在上述日本專利公告2002-15479從公開的測試數據模式使用2T、2T、4T的測試模式，具有短記錄標志長度(許多高頻成分)的模式比率較高。在一個再現信號中所包含的高頻成分隨著記錄密度的提高而被相當大地衰減。因此，當波形均衡器的自適應學習不足時，難以獲得穩定、高精度的再現時鐘。相應地，由于時鐘不穩定，因此自適應學習不能夠良好工作。如果最佳波形均衡條件已知，則不存在問題。但是，在交換記錄介質的光盤中，必須從非最佳均衡條件開始自適應學習。

發明內容
本發明的一個實施例可以提供一種游程長度受限碼產生方法，其可以產生適用于獲得最佳均衡性能的游程長度受限碼。本發明的另一個目的是提供一種游程長度受限碼記錄/再現裝置和游程長度受限碼記錄/再現方法，其產生和記錄適用于獲得最佳均衡特性的游程長度受限碼。
根據本發明的游程長度受限碼產生方法包括產生多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度，作為要被記錄在一個信息存儲介質的測試數據區域上的多個連續子區中的多個不同代碼序列。
根據本發明一個實施例的游程長度受限碼記錄/再現裝置包括產生單元，用于產生具有逐步變高的記錄密度的多個不同代碼序列；以及記錄單元，用于在一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上記錄由該產生單元所產生的多個不同代碼序列。
根據本發明一個實施例的游程長度受限碼記錄/再現方法，包括產生多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度；以及把多個所產生的不同代碼序列記錄在一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上。
本發明的其他實施例和優點將在下文的描述中給出，并且從該描述中部分地變為顯而易見，或者可以通過對本發明的實踐而獲得。本發明的實施例和優點可以通過在下文特別指出的裝置和組合來實現和獲得。


被包含并且構成說明書的一部分的

本發明的優選實施例，并且與在上文給出的一般描述和下文給出的對優選實施例的詳細描述一同用于說明本發明的原理。
圖1為示出在一個信息存儲介質上的測試數據扇區的格式和測試模式的第一例子的示意圖；圖2為示出根據本發明一個實施例的記錄/再現裝置的結構的示意方框圖；圖3為示出自適應均衡器和自適應學習電路的結構的示意方框圖；圖4為示出通過(1，7)RLL規則調制隨機數據而獲得的各個游程長度的調制數據的出現頻率的曲線圖；圖5為示出在一個信息存儲介質上的測試數據扇區的格式和一種測試模式的第二例子的示意圖；圖6為示出當使用與圖1或5所示不同的一個任意測試模式進行自適應均衡時該自適應均衡器的各個系數的學習處理的曲線圖；圖7為示出當使用圖1或5中所示的測試模式進行自適應均衡時該自適應均衡器的各個系數的學習處理的曲線圖；圖8為示出圖1中所示的測試模式的記錄處理的流程圖；圖9為示出圖5中所示的測試模式的記錄處理的流程圖；以及圖10為根據通過圖8或9中所示的記錄處理所記錄的測試模式的再現結果，用于調節一個再現電路的調節處理的流程圖。
具體實施例方式
下面參照附圖描述本發明的實施例。
圖1示出在一個信息存儲介質上的測試數據扇區的示意格式。圖1表示通過改變游程長度限制而產生的測試模式。也就是說，圖1示出根據逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同的游程長度限制所產生的多個不同代碼序列。換句話說，圖1示出多個不同代碼序列，其記錄密度逐漸增加。該測試數據扇區記錄由根據本發明一個實施例的游程長度受限碼產生方法、游程長度受限碼記錄/再現裝置以及游程長度受限碼記錄/再現方法所產生的游程長度受限碼。
信息存儲介質，即光盤100，是可以被記錄/再現數字數據的介質。該光盤100具有同心或螺旋記錄道，并且數據沿著該記錄道被記錄/再現，一部分可記錄區域被預先假定為一個測試數據區域100a。在該記錄道上，使用被稱為扇區的被記錄數據單位記錄/再現數據。圖1示出一個測試數據扇區結構，并且每個扇區包括VFO區域、PS區域、測試數據區域和PA區域。多個這種測試數據扇區被記錄在該測試數據區域100a上。并且，根據(1，7)RLL對一個普通數據記錄區域進行記錄/再現。
在圖1中的測試數據扇區的細節將在下文中描述。VFO區域被用于調節一個數據再現電路的PLL塊的相位。該區域存儲單一頻率的記錄模式，例如3T、3T的游程，即數據模式‘...000111000111...’。該PS區域存儲表示VFO區域結束的信號，即不存在于下一個測試數據區域中的數據模式，例如數據模式‘0111 1001 1110 0000 1110 0000 1111 00011000’。
該測試數據區域被用于該再現電路的自適應學習，并且調節一個記錄控制表。該測試數據區域包括多個子區。該測試數據區域的第一子區記錄游程長度限制為(5，7)RLL的N1位隨機模式。該測試數據區域的第二子區記錄游程長度限制為(4，7)RLL的N2位隨機模式。該測試數據區域的第三子區記錄游程長度限制為(3，7)RLL的N3位隨機模式。該測試數據區域的第四子區記錄游程長度限制為(2，7)RLL的N4位隨機模式。該測試數據區域的第五子區記錄游程長度限制為(1，7)RLL的N5位隨機模式。PA區域存儲表示測試數據區域結束的數據。該PA區域必須根據需要而改變，以滿足在具有在前的測試數據區域的最后數據的連接部分處的游程長度限制。圖1中所示的測試模式被記錄在光盤100的測試數據區域100a的測試數據區域之上，并且被從該測試數據區域100a再現。根據該再現結果，調節該再現電路的波形均衡特性。
該PA區域存儲表示測試數據區域結束的數據，例如，數據模式‘011100110000’。該PA區域必須根據需要而改變，以滿足在具有在前的測試數據區域中的最后數據的連接部分處的游程長度限制。
圖5示出在與圖1中相同的一個信息存儲介質上的測試數據扇區的示意格式。圖5表示通過改變最小游程長度模式的出現頻率而產生的一個測試模式。也就是說，圖5示出多個不同代碼序列，其最小游程長度模式的出現頻率逐步增加。換句話說，圖5示出多個不同的代碼序列，其記錄密度逐步增加。圖5中所示的試模式將在下文中詳細描述。
圖2為示出根據本發明一個實施例的記錄/再現裝置的結構的示意方框圖。如圖2中所示，該記錄/再現裝置(游程長度受限碼記錄/再現裝置)包括一個光讀取頭101、記錄補償表102、記錄補償控制器103、選擇器開關104、測試模式產生器105、(1，7)RLL調制器106、低通濾波器107、A/D轉換器108、自適應均衡器109、維特比解碼器110、解調器111、自適應學習電路112、PLL電路113等等。
(1，7)RLL調制器106調制記錄數據，以滿足(1，7)RLL游程長度限制。該測試模式產生器105產生一個測試模式。該測試模式產生器105以用于產生要被記錄在圖1或5中所示的測試數據扇區上的測試模式的格式預先存儲數據，并且在該測試模式產生之后產生這種測試模式。當測試模式要被記錄時該選擇器開關104連接到測試模式產生器105，并且當普通數據要被記錄時，連接到調制器106。
記錄補償控制器103參照記錄補償表102，響應由測試模式產生器105或調制器106所產生的各個記錄數據的游程長度，以適當的時序產生記錄脈沖。在記錄一個測試模式之后，由于該記錄補償表102的數值還沒有被調節，則根據一個標準值產生記錄脈沖。由記錄補償控制器103所產生的記錄脈沖被光讀取頭101轉換為光信號，并且光盤100被這些光信號所照射，在光盤100上，一個記錄層的結晶狀態根據所照射的光線的強度而改變。一系列數據記錄模式中的操作已經被說明。
下面將說明在數據再現模式中的操作。該光讀取頭101發出適當強度的激光束，其照射在該光盤100上。響應該激光束，具有對應于被記錄在該光盤100上的所記錄數據的強度的光線被反射，并且由輸出對應于被反射光的量的電信號的光讀取頭101所檢測。該電信號在該低通濾波器107中受到適當的頻帶限制。來自該低通濾波器107的輸出信號被A/D轉換器108轉換為數字信號。來自A/D轉換器108的輸出信號在自適應均衡器109中受到波形均衡，以獲得對應于一個目標PR類的響應波形。在此時的均衡特性由自適應學習電路112所調節。維特比解碼器110檢查來自自適應均衡器109的輸出是否為數據‘1’或‘0’，并且獲得二進制數據。所獲得的二進制數據受到與在解調器111中的(1，7)RLL調制相反的處理(解調)，因此獲得所記錄數據。與這些操作同時，PLL電路113根據來自自適應均衡器109的輸出控制采樣時鐘，以在A/D轉換器108中設置適當的采樣時序。
在自適應均衡器109和自適應學習電路112中的自適應學習將在下文中使用圖3來描述。圖3為示出自適應均衡器109和自適應學習電路112的具體細節的方框圖。如圖3中所示，自適應均衡器109包括延遲電路201和202、乘法器203、204、205、206、207和208。該自適應學習電路112包括計數更新電路212、213和214、一個延遲電路215、波形合成器216和加法器217。
每個延遲電路201和202把一個輸入信號延遲一個時鐘，并且輸出該延遲信號。每個乘法器203、204和205輸出兩個輸入數值的乘積。每個加法器206、207和208輸出兩個輸入數值之和。圖3示出使用三個乘法器的一個3抽頭數字濾波器，但是本發明不限于這種特定的濾波器。即使當乘法器的數目改變時，該基本操作保持不變。在本實施例中，僅僅說明該3抽頭濾波器。
假設x(k)是在時間k到達自適應均衡器109的輸入信號，并且c1、c2和c3是到該乘法器203、204和205的乘法器輸入。然后，該自適應均衡器109的輸出Y(k)由下式表達Y(k)＝x(k)*c1+x(k-1)*c2+x(k-2)*c3(1)假設A(k)為接收Y(k)的維特比解碼器110所獲得的二進制數據。如果，目標PR類例如是RP(1221)，并且A(k)是糾正再現數據，則在時間k的自適應均衡器的自適應原始輸出Z(k)由下式給出Z(k)＝A(k)+2*A(k-1)+2*A(k-2)+A(k-3)(2)在此，在時間k的均衡誤差E(k)被定義為E(k)＝Y(k)-Z(k) (3)自適應學習通過下式更新該乘法器的系數c1(k+1)＝c1(k)-α*x(k)*E(k)(4)c2(k+1)＝c2(k)-α*x(k)*E(k)(5)c3(k+1)＝c3(k)-α*x(k)*E(k)(6)請注意在方程(4)中，α是一個更新系數，并且設置一個正的小數值(例如，0.01)。
該波形合成器216執行上述方程(2)所給出的處理。延遲電路215把加法器208的輸出Y(k)延遲對應于在維特比解碼器110中的處理時間的一個時間，并且加法器217執行上述方程(3)所給出的處理。該系數更新電路212計算方程(4)，以更新乘法器203的系數。該更新結果被存儲在一個寄存器209中。該系數更新電路213計算方程(5)，以更新乘法器204的系數。更新結果被存儲在寄存器210中。該系數更新電路204計算方程(6)，以更新乘法器205的系數。該更新結果被存儲在一個寄存器211中。按照這種方式，執行自適應均衡器109的自適應學習。
如上文所述，圖1或5中所示的測試模式被記錄在該測試數據區域中，然后被再現，以進行自適應學習，從而調節該波形均衡電路。
為了保證適當的自適應學習，該維特比解碼器110的輸出結果必須被糾正。為此目的，在A/D轉換器108中的采樣時序和自適應均衡器109的均衡特性必須被大體上糾正。但是，當自適應均衡器109的自適應學習不足時，在來自維特比解碼器110的輸出中產生一些確定誤差。在維特比解碼器110中的確定誤差的其特征在于當該模式具有較大標記長度(大游程長度)時，該誤差速率較低，并且當該模式具有小標記長度(小游程長度)時，該模式較高。因此，希望在自適應學習到達一定水平之前，使用具有較大游程長度的數據模式進行自適應學習。
根據本發明，在圖1中所示的測試模式之間的關系，以及圖2中所示的數據再現電路的操作將在下文中說明。在圖1中所示的測試模式中，該VFO區域存儲一個單周期記錄模式(3T周期)。在該區域的再現過程中，PLL電路113的振蕩頻率和采樣相位被調節。在完成該調節之后，可以按照接近于正確的頻率和時序執行A/D轉換。但是，由于該VFO區域存儲一個單周期數據模式，因此它通常不進行自適應學習，因為即使在自適應學習之后，也不能夠獲得特定模式所專用的均衡特性。該測試數據區域的第一子區存儲一個模式，其游程長度限制為(57)RLL規則。因此，平均記錄的標志長度較大，并且維特比解碼器110不容易產生判斷錯誤。因此，自適應均衡器109的系數容易收斂到對具有較大標志長度(較低記錄密度)的所記錄模式優化的系數。該測試數據區域的第二子區存儲一個模式，其游程長度限制為(4，7)RLL規則。因此，該平均記錄標志長度略小于該第一子區的長度。但是，由于自適應均衡器109的系數具有已經自適應學習的(5，7)RLL模式，因此維特比解碼器110不容易產生判斷錯誤。因此，自適應均衡器109的系數容易收斂到對(4，7)RLL記錄模式優化的數值。類似地，通過自適應學習包含逐步變小的記錄標志的數據模式，自適應均衡器109逐步進行學習。最后，由于該自適應均衡器109自適應學習(1，7)RLL數據模式作為在實際數據記錄模式中的調制方，則可以獲得最終的均衡特性。在正常數據再現模式中，使用圖1中所示的測試模式的自適應學習結果進行波形均衡。
即使當應當存儲(5，7)RLL規則模式的第一子區存儲一些具有不大于5的游程長度的測試模式(例如，游程長度＝2)，可以獲得等價效果。這是因為不影響自適應學習的游程長度違背模式是允許的，由于圖3中所示的自適應均衡電路的自適應均衡逐步減慢，也就是說，可以使用圖1中所示的游程長度限制測試模式獲得近似的等價效果。
下文將描述通過改變最小游程長度模式的出現頻率而產生一個測試模式。圖4示出當根據(1，7)RLL規則調制時用于各個游程長度的調制數據的出現頻率。如圖4中所示，在實際記錄數據之后，最小游程長度＝2的出現頻率最高，并且該出現頻率隨著游程長度的增加而降低。本發明的特征是通過進行自適應學習以一個目標密度實現對均衡特征的容易調節，并且從具有較大游程長度的測試模式逐步減小該游程長度，其允許容易地自適應均衡。因此，圖5中所示的測試模式可以獲得一個均衡效果。
參見圖5，一個光盤100是可以記錄/再現數字數據的媒體。該光盤100具有同心或螺旋的記錄道，并且數據被沿著該記錄道而記錄/再現。一部分可記錄區域被預先假定為一個測試數據區域100a。在該記錄道上，使用被稱為扇區的所記錄數據單元對數據進行記錄/再現。與在第一實施例相同，每個扇區包括VFO區域、PS區域、測試數據區域和PA區域。多個這種測試數據扇區被記錄在測試數據區域100a中。并且根據(1，7)RLL規則進行記錄/再現。
測試數據扇區的具體細節將在下文說明。VFO區域被用于調節數據再現電路的頻率和PLL塊的相位。該區域存儲單個頻率的記錄模式，例如，3T、3T的游程，即數據模式‘...000111000111...’。該PS區域存儲表示VFO結束的信號，即，不存在于下一個測試數據區域中的數據模式，例如數據模式‘0111 1001 1110 0000 1110 0000 1111 0001 1000’。
該測試數據區域被用于再現電路的自適應學習，和記錄控制表的調節。該測試數據區域包括多個子區。測試數據區域的第一子區存儲一個測試模式，其中具有游程長度＝2的模式的出現頻率為P1(2)，具有游程長度＝3的模式的出現頻率為P1(3)，并且具有游程長度＝m的模式的出現頻率為P1(m)。測試數據區域的第二子區存儲測試模式，其中具有游程長度＝2的模式的出現頻率為P2(2)，具有游程長度＝3的模式的出現頻率為P2(3)，具有游程長度＝m的模式的出現頻率為P2(m)。類似地，測試數據區域被分為五個子區，并且在這些子區中的各個游程長度的模式的出現頻率為Pn(m)。請注意至少對這些子區中的各個游程長度的圖案出現頻率保持P1(2)≤P2(2)≤P3(2)≤P4(2)≤P5(2)以及P1(2)＜P5(2) ...(7)P1(3)≤P2(3)≤P3(3)≤P4(3)≤P5(3)以及P1(3)＜P5(3) ...(8)P1(4)≤P2(4)≤P3(4)≤P4(4)≤P5(4)以及P1(4)＜P5(4) ...(9)P1(5)≤P2(5)≤P3(5)≤P4(5)≤p5(5)以及P1(5)＜PS(S) ...(10)之一的關系。
按照這種方式，具有最小游程長度的模式的出現頻率在用于進行自適應學習的第一子區中較低，并且具有小的游程長度的這種模式的比率隨著自適應學習的進行而增加。使用這樣一個測試模式，可以獲得與圖1中所示的測試模式相同的效果。當圖5中所示的測試模式被按照與圖1中所示的測試模式相同的方式記錄和再現時，可以容易地調節該再現電路的波形均衡特性。
圖6示出當使用不同于本發明的任意測試模式進行自適應均衡時，該自適應均衡器的各個系數的學習過程。該任意測試模式是2T、2T、4T的游程模式。也就是說，使用[...0011000011001111...]模式。圖6的橫坐標示出經過的時間，并且縱坐標示出該系數的數值。從圖6可以看出，自適應均衡在時間20開始，但是該均衡特性不收斂到正常特性。
圖7示出當使用圖1中所示的測試模式進行自適應均衡電路時的學習過程。圖7的橫坐標示出經過的時間，并且縱坐標示出該系數的數值。從圖7可以看出，自適應均衡在時間20開始，然后順利地進行學習，以獲得目標均衡特性。
下面將參照圖8至10中所示的流程圖總結測試模式記錄處理和再現調節處理的概況。圖8為示出圖1中所示的測試模式的記錄處理的流程圖。圖9為示出圖5中所示的測試模式的記錄處理的流程圖。圖10為示出用于根據圖8或9中所示的記錄處理所記錄的測試模式再現結果用于調節該再現電路的調節處理的流程圖。通過圖2中所示的記錄/再現裝置執行測試模式記錄處理。并且，通過圖2中所示的記錄/再現裝置執行該再現電路調節處理。
首先參照圖8描述圖1中所示的測試模式的記錄處理。如圖8中所示，第一至第L個子區被設置在該測試數據區域100a中(ST11)，并且設置n＝1(ST12)。該測試模式產生器105產生一個(d1，k1)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在該測試數據區域100a的第一子區上記錄(d1，k1)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d1，k1)游程長度受限碼序列例如是(5，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝1(即，n≠L(ST15否))，因此數值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝2被設置，并且測試模式產生器105產生(d2，k2)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數據區域100a中的第二子區上記錄(d2，k2)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d2，k2)游程長度受限碼序列例如是(4，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝2(即，n≠L(ST15，否))，數值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝3被設置，并且測試模式產生器105產生(d3，k3)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數據區域100a中的第三子區上記錄(d3，k3)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d3，k3)游程長度受限碼序列例如是(3，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝3(即，n≠L(ST15，否))，數值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝4被設置，并且測試模式產生器105產生(d4，k4)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數據區域100a中的第四子區上記錄(d4，k4)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d4，k4)游程長度受限碼序列例如是(2，7)游程長度受限碼序列。在此時，由于n＝4(即，n≠L(ST15，否))，數值n被增加(ST16)。
也就是說，n＝5被設置，并且測試模式產生器105產生(d5，k5)游程長度受限碼序列(ST13)。該光讀取頭101在測試數據區域100a中的第五子區上記錄(d5，k5)游程長度受限碼序列(ST14)。該(d5，k5)游程長度受限碼序列例如是(1，7)游程長度受限碼序列。在此時，n＝5。如果L＝5，由于在此時n＝L(ST15，是)，該測試圖案記錄處理結束。
利用上述測試圖案記錄處理，圖1中所示的測試圖案被記錄。
接著，首先參照圖9描述圖5中所示的測試圖案的記錄處理。如圖9中所示，第一至第L子區被設置在測試數據區域100a(ST21)，并且n＝1被設置(ST22)。該測試模式產生器105產生包括具有出現頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數據區域100a中的第一子區上記錄具有出現頻率P1的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝1(即，n≠L(ST25，否))，該數值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝2被設置，該測試模式產生器105產生包括具有出現頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數據區域100a中的第二子區上記錄具有出現頻率P2的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝2(即，n≠L(ST25，否))，該數值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝3被設置，該測試模式產生器105產生包括具有出現頻率P3的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數據區域100a中的第三子區上記錄具有出現頻率P3的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝3(即，n≠L(ST25，否))，該數值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝4被設置，該測試模式產生器105產生包括具有出現頻率P4的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數據區域100a中的第四子區上記錄具有出現頻率P4的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝4(即，n≠L(ST25，否))，該數值n被增加(ST26)。
也就是說，n＝5被設置，并且該測試模式產生器105產生包括具有出現頻率P5的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列(ST23)。該光讀取頭101在該測試數據區域100a中的第五子區上記錄具有出現頻率P5的包括最小游程長度模式游程長度受限碼序列(ST24)。在此時，由于n＝5(即，n＝L(ST25，是))，該測試圖案記錄處理結束。
利用上述測試圖案記錄處理，圖5中所示的測試圖案被記錄。
下面將參照圖10說明用于根據由圖8或9所記錄的測試圖案的再現結果調節該再現電路的調節處理。如圖10中所示，第一至第L子區被設置在測試數據區域100a(ST31)，并且n＝1被設置(ST32)。該光讀取頭101再現第一子區(ST33)。也就是說，通過圖8中所示的記錄處理所記錄的(5，7)游程長度受限碼序列被再現。或者包括由圖9中所示的記錄處理所記錄的具有出現頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現。在此時，由于n＝1(即，n≠L(ST34，否))，該數值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝2被設置，并且該光拾取頭101再現該第二子區(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(4，7)游程長度受限碼序列被再現。或者包括具有由圖9中所示的記錄處理所記錄的出現頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現。在此時，由于n＝2(即，n≠L(ST34，否))，數值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝3被設置，并且該光拾取頭101再現該第三子區(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(3，7)游程長度受限碼序列被再現。或者包括具有由圖9中所示的記錄處理所記錄的出現頻率P3的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現。在此時，由于n＝3(即，n≠L(ST34，否))，數值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝4被設置，并且該光拾取頭101再現該第二子區(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(2，7)游程長度受限碼序列被再現。或者包括具有由圖9中所示的記錄處理所記錄的出現頻率P4的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現。在此時，由于n＝4(即，n≠L(ST34，否))，數值n被增加(ST35)。
也就是說，n＝5被設置，并且該光拾取頭101再現該第二子區(ST33)。也就是說，由圖8中所示的記錄處理所記錄的(1，7)游程長度受限碼序列被再現。或者包括具有由圖9中所示的記錄處理所記錄的出現頻率P5的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列被再現。在此時，n＝5。如果L＝5，由于在此時n＝L(ST34，是)，測試模式再現處理結束。
從而，根據該再現結果調節再現性能(ST35)。也就是說，自適應學習電路112調節自適應均衡器109的均衡特性。
如上文所述，由于根據本發明的測試數據記錄模式被記錄在一個預定測試數據區域上，并且在再現該所記錄數據時，執行測試數據區域，因此即使在高密度記錄模式中，也可以獲得穩定的記錄控制數據調節和再現電路調節。該技術不但可以被類似地用于采用記錄膜的相變的光盤中，而且還用于磁光盤裝置或磁盤裝置中。并且，即使在記錄波形的調節中，由于記錄區域被定義為與游程長度相對應，因此本發明的測試模式能夠容易地調節。
本發明的效果將在下文中描述。根據本發明，即使當不獲得不獲得最佳均衡特性時，可以高精度地再現時鐘，并且通過使用這些時鐘進行自適應學習，獲得最佳均衡特性。為此目的，該測試數據區域被分為多個M連續子區。該被分割的第一子區記錄一個(d1，k1)游程長度受限碼的測試模式。該被分割的第二子區記錄(d2，k2)游程長度受限碼的測試模式。類似地，該第L個(最后)子區記錄(dL，kL)游程長度受限碼的測試模式。對d1、d2、...、dL保持d1＞d2＞...＞dL的關系。另外，被記錄在最后子區上的該(dL，kL)游程長度受限碼的測試模式與用于實際記錄/再現的游程長度受限碼相同。
圖1或5中所示的游程長度受限碼被在該測試數據區域上記錄/再現，并且使用該再現信號進行該數據再現電路的自適應學習。因此，可以無發散地進行自適應學習。
本領域的普通技術人員容易做出其他優點和變型。因此，本發明在廣義上不限于該具體細節，并且代表實施例被示出和在此描述。相應地，可以做出各種變型而不脫離由所附權利要求以及其等價表述所定義的精神和范圍。
權利要求
1.一種游程長度受限碼產生方法，其特征在于包括產生(ST13，ST23)多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度，作為要被記錄在一個信息存儲介質的測試數據區域上的多個連續子區中的多個不同代碼序列。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于進一步包括根據逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同游程長度限制產生(ST13)多個不同游程長度代碼序列。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于進一步包括該游程長度受限碼產生方法是產生(d，k)游程長度受限碼序列的一種方法，該序列滿足相同代碼的最小游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的條件，以及該方法進一步包括在d1＞d2＞...＞dL的條件下，產生一個要被記錄在該信息存儲介質的第一子區上的(d1，k1)游程長度受限碼序列；產生要被記錄在該信息存儲介質的第二子區上的(d2，k2)游程長度受限碼序列；以及產生要被記錄在該信息存儲介質的第L子區上的(dL，kL)游程長度受限碼序列。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于進一步包括在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的條件下，產生(ST23)包括具有出現頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現頻率PL的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列。
5.一種游程長度受限碼記錄/再現裝置，用于產生、記錄和再現游程長度受限碼序列，其特征在于包括產生單元(105)，用于產生具有逐步變高的記錄密度的多個不同代碼序列；以及記錄單元(101、102、103)，用于在一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上記錄由該產生單元所產生的多個不同代碼序列。
6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于該產生單元根據逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同游程長度限制產生多個不同游程長度代碼序列。
7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于該游程長度受限碼產生單元是用于產生、記錄和再現(d，k)游程長度受限碼序列的一種裝置，該序列滿足相同代碼的最小游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的條件，以及在d1＞d2＞...＞dL的條件下，該產生單元產生(d1，k1)游程長度受限碼序列、(d2，k2)游程長度受限碼序列、以及(dL，kL)游程長度受限碼序列，以及該記錄單元把(d1，k1)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質的第一子區上，把(d2，k2)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質的第二子區上，以及把(dL，kL)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質的第L子區上。
8.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的條件下，該產生單元產生包括具有出現頻率P1的最小游程長度模式的第一游程長度受限碼序列、包括具有出現頻率P2的最小游程長度模式的第二游程長度受限碼序列、包括具有出現頻率PL的最小游程長度模式的第三游程長度受限碼序列，以及該記錄單元把該第一、第二和第三游程長度受限碼序列依次記錄在一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上。
9.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于進一步包括再現單元(101，107，108)，用于依次再現多個子區；以及調節單元(109，110，112)，用于根據多個子區的再現結果調節該再現單元的再現性能。
10.一種游程長度受限碼記錄/再現方法，用于產生、記錄和再現游程長度受限碼序列，其特征在于包括產生(ST13，ST23)多個不同代碼序列，其具有逐步變高的記錄密度；以及把多個所產生的不同代碼序列記錄在(ST14，ST24)一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上。
11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于進一步包括根據逐步減小相同代碼的最小游程長度的多個不同游程長度限制產生(ST13)多個不同游程長度代碼序列。
12.根據權利要求10所述的方法，其特征在于該游程長度受限碼產生方法是用于產生、記錄和再現(d，k)游程長度受限碼序列的一種方法，該序列滿足相同代碼的最小游程長度為(d+1)并且相同代碼的最大游程長度為(k+1)的條件，以及該方法進一步包括在d1＞d2＞...＞dL的條件下，產生(ST13)一個(d1，k1)游程長度受限碼序列、(d2，k2)游程長度受限碼序列、以及(dL，kL)游程長度受限碼序列，以及把(d1，k1)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質的第一子區上，把(d2，k2)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質的第二子區上，以及把(dL，kL)游程長度受限碼序列記錄在該信息存儲介質的第L子區上。
13.根據權利要求10所述的方法，其特征在于進一步包括在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的條件下，產生(ST23)包括具有出現頻率P1的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現頻率P2的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列、包括具有出現頻率PL的最小游程長度模式的游程長度受限碼序列，以及把該第一、第二和第三游程長度受限碼序列依次記錄在(ST24)一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上。
14.根據權利要求10所述的方法，其特征在于進一步包括再現(ST33)多個子區；以及根據多個子區的再現結果調節(ST36)再現性能。
全文摘要
根據本發明一個方面的游程長度受限碼記錄/再現裝置包括一個產生單元(105)，用于產生具有逐步變高的記錄密度的多個不同代碼序列；以及記錄單元(101、102、103)，用于在一個信息存儲介質的測試數據區域中的多個連續子區上記錄由該產生單元所產生的多個不同代碼序列。
文檔編號G11B7/005GK1505028SQ03152419
公開日2004年6月16日 申請日期2003年7月30日 優先權日2002年7月31日
發明者山川秀之, 小川昭人, 柏原裕, 人 申請人:株式會社東芝