判斷光點移動方向的設備和方法、控制光頭的設備和方法及光盤記錄/重放裝置的制作方法

專利名稱：判斷光點移動方向的設備和方法、控制光頭的設備和方法及光盤記錄/重放裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種設備和一種方法，判斷在光盤的信號記錄表面上形成之光點的徑向移動方向，該光盤具有兩種類型的槽紋，其深度相互不同，沿著記錄軌跡排列，該記錄軌跡是光盤的紋間表面。本發明也涉及控制光頭的一種設備和一種方法，該光頭用于在光盤的信號記錄表面上形成光點，光盤具有螺旋狀的紋間表面和兩種類型的螺旋狀槽紋，它們的深度相互不同，排列方式為面對面地把紋間表面夾在中間。不僅如此，本發明還涉及一種光盤記錄/重放裝置，適于在光盤的信號記錄表面上形成光點，光盤具有螺旋狀的紋間表面和兩種類型的螺旋狀槽紋，它們的深度相互不同，排列方式為面對面地把紋間表面夾在中間。
背景技術：
移動光束在光盤上形成的光點而使其在該處聚焦時，對物鏡的滑動電機和驅動部件饋送電流。這時，試圖驅動滑動電機和物鏡的方向，不一定與實際的光點移動方向互相一致，因為滑動電機和物鏡相對于其正確的運動有后座力。所以，需要提供一種設備，不斷地探測光點跨越軌跡的方向，無論何時，只要驅動滑動電機和物鏡，就保持它運行。
附圖的

圖1示意性地展示了一種已知方法的原理，判斷在常規光盤上形成之光點的移動方向，沿著光盤上的紋間表面有槽紋形成，槽紋的深度沒有差異。下面將參考圖1，詳細討論該已知方法。
在圖1中的曲線中，a顯示了已知光盤的槽紋輪廓，b顯示了從光盤上形成之光點的兩個反射光探測信號獲得的差信號波形，而c顯示了探測信號的和信號波形。在圖1中，對于所有曲線，橫軸都表示光盤上的徑向距離，而縱軸則不同，對于曲線a是表示槽紋深度，對于曲線b和c是表示信號振幅。
由光束在光盤上形成的光點覆蓋兩條槽紋，它們具有相同的深度并把紋間表面夾在中間，當光點的光束被這兩條槽紋之一反射和偏轉時，獲得的是第一個光探測輸出A，在同一光點處，光束被另一條槽紋反射和偏轉時，獲得的是第二個光探測輸出B，本文中所用的差信號，是指二者的差異，或者說A-B，它是一個推挽信號。另一方面，本文中所用的和信號，是指第一光束的探測輸出A與第二光束的探測輸出B的和，或者說A+B。
在圖1中，曲線d和e分別表示差信號雙態化產生的信號DP(數字化推挽)以及和信號雙態化產生的信號DS(數字化和)。用后文將要介紹的方式使用信號DP和DS，可以確定照射光束的光點移動方向。
現在參考圖2，其中顯示了一個D觸發器電路100，信號DP施加在D觸發器電路100的數據輸入端D，信號DS施加在D觸發器電路100的控制輸入端。如果光點從左L向右R移動，如箭頭(L→R)所示，跨越深度如曲線a所示的槽紋，在○指示的部分DS上升，對于這些部分，輸出Q為“L”，因為對應的DP電平為“L”。相反，如果光點從右R向左L移動，如箭頭(L→R)所示，跨越槽紋，在△指示的部分DS上升，對于這些部分，輸出Q為“H”，因為對應的DP電平為“H”。
因此，如果輸出信號Q為“L”，就判斷光點從左L向右R徑向跨越軌跡。相反，如果輸出信號Q為“H”，則判斷光點從右R向左L徑向跨越軌跡。換句話說，根據輸出信號Q能夠準確地確定光點的移動方向。這種技術使用了如下事實DS的相位和DP的相位，以及產生信號DS與DP的和信號的相位與差信號的相位，相差90度。
同時，通過不僅提高線密度，而且也提高軌跡密度，可以有效地提高光盤的信號記錄密度。提高軌跡密度，既可以通過一種紋間表面和槽紋方法，在紋間表面和槽紋上都記錄信號，也可以通過一種深淺不同的方法，使用一對槽紋，包括一條淺槽紋和一條深槽紋，排列成面對面地和螺旋狀地把紋間表面夾在中間，如11-296910號日本專利申請公開資料中公開的，該申請是本專利申請的申請人提交的。
下面將要非常詳細地介紹11-296910號日本專利申請公開資料中公開的、使用深度相互不同之一對槽紋的深淺不同的方法，尤其是關于在紋間表面上記錄信號。在常規光盤上，位置相鄰的軌跡槽紋具有相同的深度和相同的寬度。如果在這種光盤上以更大的密度排列軌跡，軌跡的空間頻率將會超過光盤的MTF(調制傳遞函數)，該處將不再產生軌跡信號。因此，盡管改進光盤的記錄/重放性能可能需要更高的軌跡密度，常規光盤的軌跡密度還是受限于循跡能力。
利用深淺不同的方法，使每對相鄰排列的槽紋具有不同的深度。結果，產生了一種軌跡間距1/2的頻率分量，致使可能獲得循跡誤差信號。在具有兩條軌跡的光盤上使用深淺不同的方法，使軌跡的輪廓相互為鏡像對稱，所以不難使它們顯示出相同的記錄特征。從這個觀點來看，深淺不同的方法和紋間表面與槽紋的方法之間存在著明顯的反差，對于后者，不同的軌跡顯示出不同的記錄特征，因為信號是記錄在不同的區域中，包括紋間表面和槽紋。
順便說一下，利用深淺不同的方法，循跡誤差信號顯示出一種兩條軌跡的單位循環，因此差信號與和信號都不同于常規光盤的對應信號。此外，根據兩條槽紋的深度，可能會有和信號不可獲得的情況，盡管差信號總是可獲得的。所以，如果光盤設計為使用深淺不同的方法，僅僅根據來自光盤上單一光點的反射光探測信號，就很難確定主光點的移動方向。

發明內容
本發明的一個目的是提供一種設備和一種方法，僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向。
本發明的另一個目的是提供一種設備和一種方法，通過僅僅使用差信號而不使用任何和信號，判斷光盤上光點的徑向移動方向，來控制光頭，以及根據用戶基于該判斷的意圖，準確地徑向移動光頭。
本發明的再一個目的是提供一種光盤記錄/重放裝置，通過僅僅使用差信號而不使用任何和信號，判斷光盤上光點的徑向移動方向，來控制光頭，以及根據該判斷，按照用戶的意圖，準確地徑向移動光頭，使該裝置適于向光盤上記錄信號和從光盤上重現信號。
在本發明的一個方面，提供了一種光點移動方向判斷設備，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由光束照射形成之副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括一個第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自一個副光點的反射光光量獲得的；一個第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化裝置，把第二計算裝置計算產生的副光點差信號雙態化；以及一種判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據。
在依據本發明的光點移動方向判斷設備中，判斷裝置判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點差信號的雙態數據。
在本發明的另一個方面，提供了一種光點移動方向判斷方法，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由光束照射形成之副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該方法包括一種第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化步驟，把第二計算步驟計算產生的副光點差信號雙態化；以及一種判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據。
利用依據本發明的光點移動方向判斷方法，在判斷步驟中判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化步驟的、副光點差信號的雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光點移動方向判斷設備，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由一對光束照射形成之一對副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括一種第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第三計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；一個第四計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算裝置計算產生的差信號，另一個是第三計算裝置計算產生的差信號；一個第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化裝置，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及一種判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據。
在該光點移動方向判斷設備中，判斷裝置判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光點移動方向判斷方法，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由一對光束照射形成之一對副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該方法包括一種第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自一個副光點的反射光光量獲得的；一個第三計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；一個第四計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算步驟計算產生的差信號，另一個是第三計算步驟計算產生的差信號；一個第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化步驟，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及一種判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據。
利用該光點移動方向判斷方法，在判斷步驟中判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化步驟的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光頭控制設備，用于控制某個光頭，它適于把一條主光束和一對側光束照射到光盤上，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括一種光點移動方向判斷設備，具有一種第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化裝置，把第二計算裝置計算產生的副光點差信號雙態化；以及一種判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及一種控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
在該光頭控制設備中，判斷裝置判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點差信號的雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光頭控制方法，用于控制某個光頭，適于在光盤上形成一個主光點和一對副光點，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該方法包括一種光點移動方向判斷步驟，包括一種第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化步驟，把第二計算步驟計算產生的副光點差信號雙態化；以及一種判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據；以及一種控制步驟，基于光點移動方向判斷步驟中判斷的主光點移動方向，控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭在光盤上照射主光點。
利用該光頭控制方法，在光點移動方向判斷步驟的判斷步驟中判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點的差信號雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光頭控制設備，用于控制某個光頭，適于在光盤上形成一個主光點和一對副光點，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括一種光點移動方向判斷設備，具有一種第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第三計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；一個第四計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算裝置計算產生的差信號，另一個是第三計算裝置計算產生的差信號；一個第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化裝置，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及一種判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及一種控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭在光盤上照射主光點。
在該光頭控制設備中，光點移動方向判斷裝置的判斷裝置判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光頭控制方法，用于控制某個光頭，適于在光盤上形成一個主光點和一對副光點，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該方法包括一種光點移動方向判斷步驟，包括一種第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第三計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；一個第四計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算步驟計算產生的差信號，另一個是第三計算步驟計算產生的差信號；一個第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化步驟，把第四計算步驟計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及一種判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據；以及一種控制步驟，基于光點移動方向判斷步驟中判斷的主光點移動方向，控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭在光盤上照射主光點。
利用該光頭控制方法，在光點移動方向判斷步驟的判斷步驟中判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化步驟的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據。
在本發明的再一個方面，提供了一種光盤記錄/重放裝置，通過在光盤上形成一個光束主光點和一對光束副光點，用于向光盤上記錄數據和從光盤上重現數據，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括一種光點移動方向判斷設備，具有一種第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化裝置，把第二計算裝置計算產生的副光點差信號雙態化；以及一種判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及一種控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
在本發明的又一個方面，提供了一種光盤記錄/重放裝置，通過在光盤上形成一個光束主光點和一對光束副光點，用于向光盤上記錄數據和從光盤上重現數據，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括一種光點移動方向判斷設備，具有一種第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；一個第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；一個第三計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；一個第四計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算裝置計算產生的差信號，另一個是第三計算裝置計算產生的差信號；一個第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；一個第二雙態化裝置，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及一種判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及一種控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
依據本發明的一種光盤記錄/重放裝置，僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向，并且根據該判斷，按照用戶的意圖，準確地徑向移動光頭，向光盤上記錄數據和從光盤上重現數據。
附圖簡要說明圖1顯示的曲線展示了常規光盤上光點移動方向的判斷原理。
圖2是一個D觸發器的示意電路圖，用于判斷常規光盤上光點移動方向。
圖3是本發明第一個實施例中磁光盤的一張示意圖，該實施例是一種光點移動方向判斷設備。
圖4是圖3中磁光盤的示意性剖面圖。
圖5是圖3中磁光盤上形成的三個光點的示意圖。
圖6是光電探測器的示意性平面圖，它們適于探測來自圖5中三個光點的反射光束的各自光量。
圖7是依據本發明的光點移動方向判斷設備第一個實施例第一版本的示意電路圖。
圖8是依據本發明的光點移動方向判斷設備第一個實施例第一版本中判斷部件的示意電路圖，它是該設備的一個主要部件。
圖9顯示的曲線展示了依據本發明的光點移動方向判斷設備第一個實施例第一版本的操作。
圖10顯示的曲線展示了依據本發明的光點移動方向判斷設備第一個實施例第一版本的一個判斷操作。
圖11顯示的曲線展示了依據本發明的光點移動方向判斷設備該實施例第一版本的另一個判斷操作。
圖12是依據本發明的光點移動方向判斷設備第一個實施例第二版本的示意電路圖。
圖13是依據本發明的光點移動方向判斷設備第一個實施例第二版本中判斷部件的示意電路圖，它是該設備的一個主要部件。
圖14是本發明第二個實施例第一版本的示意電路圖，它是一種光頭控制設備。
圖15是本發明第二個實施例第二版本的示意電路圖，它是一種光頭控制設備。
圖16是本發明第三個實施例的示意框圖，它是一種磁光盤記錄/重放裝置。
圖17是磁光盤的一張示意圖，該類型的每對槽紋之一擺動。
圖18是磁光盤記錄/重放裝置的示意框圖，它適于向磁光盤上記錄數據和從磁光盤上重現數據，該磁光盤的結構如圖3所示。
圖19是依據本發明的磁光盤第一個其它實例的示意性剖面圖。
圖20是依據本發明的磁光盤第二個其它實例的示意性剖面圖。
圖21是依據本發明的磁光盤第三個其它實例的示意性剖面圖。
圖22是依據本發明的磁光盤第四個其它實例的示意性剖面圖。
圖23是依據本發明的磁光盤第五個其它實例的示意性剖面圖。
具體實施例方式
現在，參考附圖中展示的本發明優選實施例，更加詳細地介紹本發明。
首先，與依據本發明的光點移動方向判斷方法一起，介紹光點移動方向判斷設備的第一個實施例，該方法在該實施例中使用。
光點移動方向判斷設備的這個實施例，包含在磁光盤記錄/重放裝置的光頭控制設備中，該裝置用于向磁光盤記錄數據和從磁光盤重現數據。它適于確定由光束比如激光束在磁光盤上形成之光點的移動方向，該激光束從光頭照射到磁光盤上，并沿盤片的徑向移動。
假設用戶對磁光盤記錄/重放裝置給出一條指令，使光頭跳過某個數目的軌跡，并從所需的軌跡重現數據。那么，光頭形成的光點就必須從光點當前照射的軌跡沿徑向移動該數目的軌跡。因此，光頭控制設備向滑動電機和物鏡供應電流，使光點在徑向上移動。不過，這時試圖驅動滑動電機和物鏡的方向，不一定與實際的光點移動方向相互一致，因為滑動電機和物鏡有后座力。那么，光頭控制設備就再也不可能掌握光點的當前位置并執行后續的操作，包括提取地址數據和控制循跡操作。
所以，需要提供一種光點移動方向判斷設備，用于不斷地探測光點跨越軌跡的方向，無論何時，只要驅動滑動電機和物鏡，就保持它運行。
這里應當注意，光點移動方向判斷設備的第一個實施例可以具有兩種版本，相互不同之處在于，從光頭在磁光盤上形成的三個光點中選用的光點信號。第一版本使用主光點的差信號和兩個來自副光點之一的差信號，而第二版本使用主光點的差信號和兩個副光點差信號的相減信號。后文中將更加詳細地介紹這兩個版本。
首先，將參考圖3介紹磁光盤，由光點移動方向判斷設備確定其上的光點移動方向。磁光盤1具有兩種不同類型的螺旋狀槽紋G1、G2，它們沿著記錄軌跡T(紋間表面L)前進，而且深度相互不同。記錄軌跡T的排列間距為0.55μm。
這里假設波長λ為660nm的激光束，從包括0.52數值孔徑NA物鏡的光頭照射在常規磁光盤上，該光盤具有的槽紋深度沒有相互不同。那么，光頭光學系統的截止fc由以下公式表示。
fc＝2NA/λ＝1575.75(/mm)因此，軌跡間距Tc由以下公式表示。
Tc＝1/fc＝0.634(μm)所以，不可能用該光頭照射軌跡間距Tc(0.55)表明小于Tc＝0.634的磁光盤1，以準確地在正確位置形成光點，0.634是由光學系統的截止(＝1575.75)確定的可容許下限。那么，不可能重現磁光盤1上記錄的任何信號，也不可能在磁光盤1上記錄信號。
磁光盤1的特征在于，深度相互不同的、兩種類型的一對槽紋面對面地排列，把每條記錄軌跡T夾在中間。所以，其特征是產生一種頻率分量，等于軌跡間距的1/2。那么，通過使用這種1/2頻率分量，其特征是可能產生一種循跡誤差信號。
現在參考圖3，磁光盤1的第一種類型的槽紋G1的深度為d1，它小于第二種類型的槽紋G2的深度d2。例如，d1可能是100nm而d2可能是170nm。
圖4是圖3中磁光盤1的示意性剖面圖。磁光盤1包括透明基底2、第一電介質膜3、記錄膜4、第二電介質膜5和保護膜6，它們按上述順序一層一層地鋪在接收激光束O的盤片側面，形成多層結構。典型的透明基底2是由聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚碳酸酯(PC)等制成。典型的第一電介質膜3和第二電介質膜5都是由SiN等制成。典型的記錄膜4是由TeFeCo合金等制成。典型的保護膜6是由紫外線凝固樹脂等制成。
上面已經指出，光頭在圖3和圖4中展示的磁光盤1上形成三個光點，包括一個主光點M和兩個副光點S1、S2(見圖5)。相對于主光點M的掃描位置，兩個副光點S1、S2的掃描位置在相反的方向移動了1/2間距。換句話說，如果主光點M在軌跡T0上，兩個副光點S1、S2就分別位于第一槽紋G1和第二槽紋G2上，它們面對面地排列，把軌跡T0夾在中間。
圖6是光電探測器的示意性平面圖，它們適于探測來自圖5中三個光點M、S1和S2之反射光束的各自光量。參考圖6，第一光電探測器30具有兩個光電探測區域Ma、Mb，是把第一光電探測器30在磁光盤1的半徑方向R上分成兩半產生的，這些區域適于探測來自主光點M的反射光束光量，并且輸出各自的探測信號(后文中分別記為Ma和Mb)。
第二光電探測器31也具有兩個光電探測區域S1a、S1b，是把第二光電探測器31在磁光盤1的半徑方向R上分成兩半產生的，這些區域適于探測來自副光點S1的反射光束光量，并且輸出各自的探測信號(后文中分別記為S1a和S1b)。
同樣，第三光電探測器32具有兩個光電探測區域S2a、S2b，是把光電探測器32在磁光盤1的半徑方向R上分成兩半產生的，這些區域適于探測來自副光點S2的反射光束光量，并且輸出各自的探測信號(后文中分別記為S2a和S2b)。
因此，該光頭包括第一光電探測器30、第二光電探測器31和第三光電探測器32，它們中的每一個都向某臺光點移動方向判斷設備(后文中將要介紹)，也向某個RF電路和其它電路供應其探測信號的部分或全部。該RF電路使用它收到的每個探測信號的部分或全部，產生重現信號RF、循跡誤差信號TE和聚焦誤差信號FE。
下面介紹光點移動方向判斷設備的第一個實施例，它適于使用每個探測信號的一部分，來確定光點的移動方向。這種光點移動方向判斷設備通過使用主光點M的差信號和副光點S1、S2之一或者說S1的差信號，確定光點移動方向。可能不必說，也可以使用其它的副光點S2的差信號，沒有任何問題。
現在參考圖7，該光點移動方向判斷設備包括微分放大器34，用于計算獲得第一光電探測器30獲得的探測信號Ma和探測信號Mb的差信號Ma-Mb；另一個微分放大器35，用于計算獲得第二光電探測器31獲得的探測信號S1a和探測信號S1b的差信號S1a-S1b；比較器36，用于使主光點M的差信號Ma-Mb雙態化；另一個比較器37，用于使副光點S1的差信號S1a-S1b雙態化；以及判斷部件38，用于根據來自比較器36的雙態數據和來自比較器37的雙態數據，確定主光點M的移動方向。
分別由第一光電探測器30的光電探測區域Ma和光電探測區域Mb產生的探測信號Ma和探測信號Mb，分別輸入到微分放大器34的正輸入端+和負輸入端-。微分放大器34放大探測信號Ma和探測信號Mb的輸入電壓差，并輸出Ma-Mb。分別由第二光電探測器31的光電探測區域S1a和光電探測區域S1b產生的探測信號S1a和探測信號S1b，分別輸入到微分放大器35的正輸入端+和負輸入端-。微分放大器35放大探測信號S1a和探測信號S1b的輸入電壓差，并輸出S1a-S1b。
比較器36在其正輸入端+接收微分放大器34的輸出信號Ma-Mb，并把它與0V進行比較。然后，它向判斷部件38供應差異的雙態數據。比較器37在其正輸入端+接收微分放大器35的輸出信號S1a-S1b，并把它與0V進行比較。然后，它向判斷部件38供應差異的雙態數據。
如圖8所示，判斷部件38包括一種判斷數據生成部件380和一種確定部件385。判斷數據生成部件380產生判斷數據，用于判斷主光點M的移動方向，確定部件385根據判斷數據生成部件380產生的判斷數據，確定主光點的移動方向。
判斷數據生成部件380包括兩個D觸發器電路381、382和轉換開關383，根據比較器36的雙態數據是L還是H，選擇或者D觸發器電路之一——或者說D觸發器電路381——的輸出數據Q，或者另一個D觸發器電路382的反相輸出數據Q，并輸出選定的數據。注意，從比較器36向轉換開關383供應的雙態數據，被延遲電路384延遲了大約d＝10ns(典型值)。
D觸發器電路381使從比較器37向其數據輸入端D供應的雙態數據，與從比較器36向其時鐘輸入端供應的雙態數據上升沿同步，使用后者的雙態數據作為時鐘脈沖，并且把前者的雙態數據供應給轉換開關383作為其輸出數據Q。
D觸發器電路382使從比較器37向其數據輸入端D供應的雙態數據，與從比較器36向其時鐘輸入端供應的雙態數據下降沿同步，使用后者的雙態數據作為時鐘脈沖，并且把前者的雙態數據供應給轉換開關383作為其輸出數據Q。
來自D觸發器電路381的輸出數據Q供應給轉換開關383的備選端a，而來自D觸發器電路382的反相輸出數據Q供應給轉換開關383的備選端b。轉換開關383還包括一個選擇端c，它根據來自比較器36的延遲雙態數據(轉換控制信號)，選擇性地或者連接備選端a，或者連接備選端b。例如，可能的方案是，如果雙態數據(轉換控制信號)Z處于H，就選擇備選端b，而如果雙態數據Z處于L，就選擇備選端a。由于選擇端c或者連接備選端a，或者連接備選端b，那么來自D觸發器電路381的輸出數據Q，或者來自D觸發器電路382的反相輸出數據Q，無論哪個只要適當，就供應給確定部件385作為判斷數據。
確定部件385內部事先配備了雙態數據“H”和“L”的某個表，“H”和“L”對應于光點的移動方向，該表用于確定磁光盤上光點的徑向移動方向。因此，確定部件385從判斷數據生成部件380收到判斷數據“H”或“L”之后，它就能夠通過參考該表確定磁光盤上光點的徑向移動方向。然后，確定部件385對光點移動方向的判斷結果，就通過輸出端39輸出。
現在，參考圖9，詳細介紹光點移動方向判斷設備第一個實施例第一版本的操作。圖9顯示了從主光點M獲得的差信號波形b；從主光點M獲得的和信號波形c；從副光點S1獲得的差信號波形d；兩個副光點S1、S2的差信號的差信號DSPP波形e——二者都用于第二版本中，正如后文的介紹，波形b、c、d和e都與槽紋G從磁光盤1的紋間表面L(軌跡T)測量的深度a有關；從主光點M獲得的差信號雙態化后獲得的雙態數據f和從副光點S1獲得的差信號或者差信號DSPP雙態化后獲得的雙態數據g。
參考圖9，雖然差信號波形b與和信號波形c稍微不同于已知磁光盤的對應波形，因為磁光盤1使用了深淺不同的方法，但是在兩種波形的相位相互移動90度方面，它們還是與圖1中對應的波形相同。所以從原理上說，判斷移動方向的常規方法可以用于本發明的目的。
不過應當注意，只有當差信號與和信號都具有足夠的信號強度時，常規方法才能夠用于本發明的目的。例如，每一對槽紋中，一條的深度為100nm，另一條的深度為170nm，產生的差信號可能具有足夠的信號強度，但是實際上不產生和信號。所以，對于可能使用這種盤片的驅動器，不推薦使用和信號的方法。
考慮到這一事實，本發明第一個實施例第一版本——它是一種光點移動方向判斷設備——適于使用圖9中d所示的副光點S1的差信號。
主光點M的差信號PP(主)和兩個副光點S1、S2的差信號PP(副1)和PP(副2)分別表示為下面的公式(1)、(2)和(3)PP(主)＝a+b*sin(2πu/2Tp) (1)PP(副1)＝(1/2k){a+b*sin(2π(u+q)/2Tp)} (2)PP(副2)＝(1/2k){a+b*sin(2π(u-q)/2Tp)} (3)式中a為盤片記號位置移動和探測器位置移動產生的分量，u為半徑方向的坐標，q為在半徑方向上主光點和副光點之間的距離，Tp為軌跡間距，主光點的光量與每個副光點的光量之比為k。
在以下兩點上，差信號不同于圖1中b指示的常規光盤的差信號。
正弦曲線的循環周期不等于軌跡間距Tp，而是等于2Tp(用兩條軌跡作單位)。
當主光點M位于某條軌跡的中心時，PP(主)不等于0，最大值MAX降低到最小值MIN。
如果(2)式中q等于Tp/2，下面的(4)式成立。
PP(副1)＝1/2k{a-b*cos(2πu/2Tp)} (4)(4)式所示的副光點S1的差信號PP(副1)也表示為圖9中的曲線d。如圖9所示，差信號PP(副1)與主光點M的差信號b相差90度。
主光點M的差信號PP(主)(圖9中的b)與Ma-Mb相同，后者是微分放大器34計算確定的。副光點S1的差信號PP(副1)(圖9中的d)與S1a-S1b相同，后者是微分放大器35計算確定的。
然后，利用比較器36使圖9中b指示的PP(主)雙態化，結果獲得圖9中f指示的雙態數據。同樣，利用比較器37使PP(副1)雙態化，結果獲得圖9中g指示的雙態數據Y。
現在，假設圖9中f指示的主光點M的差信號雙態數據由X表示，圖9中g指示的副光點S1的差信號雙態數據由Y表示。現在參考圖10和圖11，如果根據雙態數據X和Y，在圖10和圖11中主光點M正在從左L向右R(L至R)移動或者從右R向左L(R至L)移動，判斷部件38就作出其判斷，并以下面介紹的方式輸出其判斷。判斷部件38的確定部件385要求做到，如果判斷數據“L”供應給它，它就確定主光點M正在(L至R)移動，如果判斷數據“H”供應給它，它就確定主光點M正在(R至L)移動。
首先，將參考圖10介紹判斷部件38的操作。
作為起始，在圖10中a的雙態數據X第一個上升沿(計時t1)之前，圖10中b的雙態數據Y處于“L”。所以，這時D觸發器電路381(FF1)的輸出數據Q(FF1輸出)處于“L”，如圖10所示。從延遲電路384向轉換開關383供應的、用于轉換開關操作的控制信號Z，從計時t1被延遲了d，如圖10中c所示。所以在計時t1，轉換控制信號Z處于“L”。因此，轉換開關383選擇FF1的輸出數據Q，判斷數據生成部件380輸出“L”，如圖10中f所示。
在下一個計時t2，與時鐘脈沖(雙態數據X)的第一個下降沿同步的雙態數據Y處于“H”。這時，轉換控制信號Z處于“H”。因此，轉換開關383選擇通過使雙態數據Y的“H”反相獲得的、FF2的反相輸出數據Q，判斷數據生成部件380輸出“L”。
在下一個計時t3，與時鐘脈沖的下一個上升沿同步的雙態數據Y處于“L”。這時，轉換控制信號Z處于“L”。因此，判斷數據生成部件380通過其轉換開關383，輸出FF1的輸出數據Q，它為“L”。
在接著的計時t4，判斷部件38輸出“L”，如同在計時t2。同樣，在計時t5，判斷部件38輸出“L”，如同在計時t3，在計時t6輸出“L”，如同在計時t4。
因此，在圖10所示的條件下，判斷數據生成部件380保持輸出“L”，使得確定部件385確定，主光點M正在從L向R移動，如圖9所示。
現在，參考圖11介紹判斷部件38的操作。
作為起始，在圖11中a的雙態數據X第一個上升沿(計時t1)之前，圖11中b的雙態數據Y處于“H”。所以，這時D觸發器電路381(FF1)的輸出數據Q(FF1輸出)處于“H”，如圖11中d所示。從延遲電路384向轉換開關383供應的、用于轉換開關操作的控制信號Z，從計時t1被延遲了d，如圖11中c所示。所以在計時t1，轉換控制信號Z處于“L”。因此，轉換開關383選擇FF1的輸出數據Q，判斷數據生成部件380輸出“H”，如圖11中f所示。
在下一個計時t2，與時鐘脈沖(雙態數據X)的第一個下降沿同步的雙態數據Y處于“L”。這時，轉換控制信號Z處于“H”。因此，轉換開關383選擇通過使雙態數據Y的“L”反相獲得的、FF2的反相輸出數據Q，判斷數據生成部件380輸出“H”。
在下一個計時t3，與時鐘脈沖的下一個上升沿同步的雙態數據Y處于“H”。這時，轉換控制信號Z處于“L”。因此，判斷數據生成部件380通過其轉換開關383，輸出FF1的輸出數據Q，它為“H”。
在接著的計時t4，判斷數據生成部件380輸出“H”，如同在計時t2。同樣，在計時t5，判斷數據生成部件380輸出“H”，如同在計時t3，在計時t6輸出“H”，如同在計時t4。
因此，在圖11所示的條件下，判斷數據生成部件380保持輸出“H”，使得確定部件385確定，主光點M正在從R向L移動，如圖9所示。
因此，本發明第一個實施例第一版本——它是一種光點移動方向判斷設備——通過使用主光點的差信號和來自副光點之一的差信號，能夠確定光點的徑向移動方向。
現在，本發明第一個實施例第二版本——它也是一種光點移動方向判斷設備和適于通過使用所有探測信號來判斷光點的移動方向——將在下面介紹。光點移動方向判斷設備第一個實施例的這個第二版本，通過使用主光點M的差信號和兩個副光點差信號的相減信號，確定光點的移動方向。
如圖12所示，光點移動方向判斷設備第一個實施例第二版本包括微分放大器81——用于計算確定第一光電探測器30獲得的探測信號Ma和探測信號Mb的差信號Ma-Mb；微分放大器82——用于計算確定第二光電探測器31獲得的探測信號S1a和探測信號S1b的差信號S1a-S1b；微分放大器83——用于計算確定第三光電探測器32獲得的探測信號S2a和探測信號S2b的差信號S2a-S2b；微分放大器84——用于進一步計算確定微分放大器82計算出的差信號S1a-S1b和微分放大器82計算出的差信號S2a-S2b的差信號；比較器85——用于使微分放大器81計算出的、主光點的差信號Ma-Mb雙態化；另一個比較器86——用于使微分放大器84計算出的、兩個副光點的差信號的差信號——或者說(S1a-S1b)-(S2a-S2b)——雙態化；以及判斷部件87——用于根據來自比較器85的雙態數據和來自比較器86的雙態數據，確定主光點的移動方向。
分別由第一光電探測器30的光電探測區域Ma和光電探測區域Mb產生的探測信號Ma和探測信號Mb，分別輸入到微分放大器81的正輸入端+和負輸入端-。微分放大器81放大探測信號Ma和探測信號Mb的輸入電壓差，并輸出Ma-Mb。分別由第二光電探測器31的光電探測區域S1a和光電探測區域S1b產生的探測信號S1a和探測信號S1b，分別輸入到微分放大器82的正輸入端+和負輸入端-。微分放大器82放大探測信號S1a和探測信號S1b的輸入電壓差，并輸出S1a-S1b。分別由第S3光電探測器32的光電探測區域S2a和光電探測區域S2b產生的探測信號S2a和探測信號S2b，分別輸入到微分放大器83的正輸入端+和負輸入端-。微分放大器83放大探測信號S2a和探測信號S2b的輸入電壓差，并輸出S2a-S2b。
微分放大器82計算出的、副光點S1的差信號S1a-S1b和微分放大器83計算出的、副光點S2的差信號S2a-S2b分別輸入到微分放大器84的正輸入端+和負輸入端-。微分放大器84放大差信號S1a-S1b和差信號S2a-S2b的輸入電壓差，并輸出(S1a-S1b)-(S2a-S2b)。
比較器85在其正輸入端+接收微分放大器81的輸出信號Ma-Mb，并把它與0V進行比較。然后，它向判斷部件87供應差異的雙態數據。比較器86在其正輸入端+接收微分放大器84的輸出信號(S1a-S1b)-(S2a-S2b)，并把它與0V進行比較。然后，它向判斷部件87供應差異的雙態數據。
如圖13所示，判斷部件87包括一種判斷數據生成部件870和一種確定部件875。判斷數據生成部件870產生判斷數據，用于判斷主光點M移動方向，確定部件875根據判斷數據生成部件870產生的判斷數據，確定主光點的移動方向。
判斷數據生成部件870包括兩個D觸發器電路871、872和轉換開關873，用于根據比較器85雙態數據的L或H，選擇或者D觸發器電路之一——或者說D觸發器電路871——的輸出數據Q，或者另一個D觸發器電路872的反相輸出數據Q，并輸出選定的數據。注意，從比較器85向轉換開關873供應的雙態數據，被延遲電路874延遲了大約d＝10ns(典型值)。
D觸發器電路871使從比較器86向其數據輸入端D供應的雙態數據，與從比較器85向其時鐘輸入端供應的雙態數據上升沿同步，使用后者的雙態數據作為時鐘脈沖，并且把前者的雙態數據供應給轉換開關873作為其輸出數據Q。
D觸發器電路872使從比較器86向其數據輸入端D供應的雙態數據，與從比較器85向其時鐘輸入端供應的雙態數據下降沿同步，使用后者的雙態數據作為時鐘脈沖，并且把前者的雙態數據供應給轉換開關873作為其輸出數據Q。
來自D觸發器電路871的輸出數據Q供應給轉換開關873的備選端a，而來自D觸發器電路872的反相輸出數據Q供應給轉換開關873的備選端b。轉換開關873還包括一個選擇端c，它根據來自比較器85的延遲雙態數據(轉換控制信號)，選擇性地或者連接備選端a，或者連接備選端b。例如，可能的方案是，如果雙態數據(轉換控制信號)Z處于H，就選擇備選端b，而如果雙態數據Z處于L，就選擇備選端a。由于選擇端c或者連接備選端a，或者連接備選端b，那么來自D觸發器電路871的輸出數據Q，或者來自D觸發器電路872的反相輸出數據Q，無論哪個只要適當，就供應給確定部件875作為判斷數據。
確定部件875內部也事先配備了雙態數據“H”和“L”的某個表，“H”和“L”對應于光點的移動方向，該表用于確定磁光盤上光點的徑向移動方向。因此，確定部件875從判斷數據生成部件870收到判斷數據——或者說“H”或“L”——之后，它就能夠通過參考該表確定磁光盤上光點的徑向移動方向。然后，確定部件875對光點移動方向的判斷結果，就通過輸出端88輸出。
現在，參考圖9詳細介紹光點移動方向判斷設備第一個實施例第二版本的操作。光點移動方向判斷設備第一個實施例的這個第二版本，除了使用兩個副光點S1、S2的差信號之外，還使用差信號DSPP(副光點推挽之間的差異)。
使用上面提到的公式(2)和(3)，DSPP表示為下面的公式(5)DSPP＝(b/k)*sin(2πq/2Tp)sin(2πu/2Tp) (5)式中a為盤片記號位置移動和探測器位置移動產生的分量，u為半徑方向的坐標，q為在半徑方向上主光點和副光點之間的距離，Tp為軌跡間距，主光點的光量與每個副光點的光量之比為k。
如圖9所示，與(1)式表示的主光點M的差信號PP(主)相比，(5)式表示的DSPP顯示了90度的相位移。應當重視，DSPP與主光點M的差信號之間的相位差異，與在半徑方向上主光點M和副光點S1、S2之間的距離q的數值無關，盡管理想的距離q為Tp/2、3Tp/2……因為q的數值影響著DSPP信號的振幅。
DSPP信號(圖9中的e)雙態化后獲得的數據等于Y，如圖9中g所示。
利用光點移動方向判斷設備第一個實施例的第二版本，能夠確定主光點M的移動方向，如前面參考圖9至圖11進行的介紹。所以，將不再進行進一步的介紹。
因此，如上所述，光點移動方向判斷設備第一個實施例的第二版本，通過使用主光點的差信號和副光點的差信號，適于確定光點的移動方向。
現在，介紹本發明的第二個實施例。本發明的第二個實施例為一種光頭控制設備，適于使用依據本發明的光頭控制方法。光頭控制設備的第二個實施例也可以具有兩種版本，因為它既可以包括上面介紹的依據本發明的光點移動方向判斷設備實施例的第一版本，又可以包括其第二版本。后文中，光頭控制設備包括的光點移動方向判斷設備具有圖6和圖7展示的結構，將被稱為第一版本，而光頭控制設備包括的光點移動方向判斷設備具有圖12和圖13展示的結構，將被稱為第二版本。
首先，參考圖14，介紹光頭控制設備實施例的第一版本90。光頭控制設備90控制某個光頭的徑向位置，該光頭要求做到在圖3和圖4所示的磁光盤1上，照射圖5所示的三個光點，并且利用圖6所示的三個光電探測器，探測磁光盤1反射的光量。
假設用戶向磁光盤記錄/重放裝置給出一條指令，使光頭跳過某個數目的軌跡并從所需的軌跡重現數據。那么，光頭控制設備向滑動電機和物鏡供應電流，以徑向移動光點。不過，這時試圖驅動滑動電機和物鏡的方向和光點的實際移動方向不一定相互一致，因為滑動電機和物鏡有后座力。那么，光頭控制設備不再可能掌握光點的當前位置并執行后續的操作，包括提取地址數據和控制循跡操作。
所以，光頭控制設備必需包含一種光點移動方向判斷設備，用于不斷地探測光點跨越軌跡的方向，無論何時，只要驅動滑動電機和物鏡，就保持它運行。
因此，光頭控制設備90包含一種光點移動方向判斷設備33，并根據光點移動方向判斷設備33確定的光點移動方向，利用控制部件91控制光頭在磁光盤1上的徑向位置。
更確切地說，光頭控制設備90利用它包含的光點移動方向判斷設備33，確定光點移動方向，并根據其對光點移動方向的判斷，利用其控制部件91控制光頭的滑動電機，使光頭移動到接近用戶所需軌跡的位置。然后，光頭控制設備90的控制部件91使光頭讀取該軌跡的地址，以便使光點恰好移動到所需的軌跡上，隨后執行循跡控制操作。
下面介紹控制部件91的循跡控制操作。來自光點移動方向判斷設備33中微分放大器35的、副光點S1的差信號S1a-S1b，饋送給控制部件91。然后，控制部件91使用微分放大器35計算出的、副光點S1的差信號S1a-S1b作為循跡誤差信號TE，執行循跡控制操作。
因此，利用分開的兩個光電探測區域S1a、S1b，探測來自至少兩個來自副光點之一——或者說副光點S1——的反射光量，獲得了兩個信號，光頭控制設備90根據這兩個信號的差信號S1a-S1b，控制光頭相對于磁光盤1的循跡操作。
下面介紹光頭控制設備90使用某個副光點進行循跡控制操作的原理。
光頭在圖3和圖4所展示的磁光盤1上，形成了圖5所示的三個光點，包括一個主光點M和兩個副光點S1、S2。兩個副光點S1、S2的掃描位置是相對于主光點M的掃描位置在相反方向位移1/2間距。換句話說，如果主光點M在軌跡Th上，兩個副光點S1、S2就分別位于第一槽紋G1和第二槽紋G2上，它們面對面地排列，把軌跡Th夾在中間。那么，副光點S1的差信號S1a-S1b等于0。由于偏離軌跡條件產生的副光點差信號，其表現基本上無異于具有普通軌跡的磁光盤上的主光點的差信號。所以，它能夠用作循跡誤差信號。
同時，由于磁光盤1使用了深淺不同的方法，信號極性會變化，取決于是在第一槽紋G1上還是在第二槽紋G2上發現副光點。換句話說，如果圖形中水平軸表示半徑方向的坐標u，垂直軸表示差信號的量，那么圖形中的曲線可能顯示出上升斜坡或下降斜坡。由于控制部件91能夠事先掌握極性，光頭控制設備90就能夠相對于磁光盤1控制光頭，沒有問題。
下面參考圖15，介紹本發明第二個實施例的第二版本——光頭控制設備95。光頭控制設備95控制某個光頭的徑向位置，該光頭要求做到在圖3和圖4所示的磁光盤1上，照射圖5所示的三個光點，并且利用圖6所示的三個光電探測器，探測磁光盤1反射的光量。
光頭控制設備95利用它包含的、圖12和圖13所示的光點移動方向判斷設備80，確定光點移動方向，并根據光點移動方向判斷設備80確定的光點移動方向，利用控制部件96控制光頭在磁光盤1上的徑向位置。
更確切地說，光頭控制設備95利用它包含的光點移動方向判斷設備80，確定光點移動方向，并根據對光點移動方向的判斷，利用其控制部件96驅動滑動電機，使光頭移動到接近用戶所需軌跡的位置。然后，光頭控制設備95的控制部件96使光頭讀取該軌跡的地址，以便使光點恰好移動到所需的軌跡上，隨后執行循跡控制操作。
下面介紹控制部件96的循跡控制操作。
來自光點移動方向判斷設備80中微分放大器82的、副光點S1的差信號S1a-S1b，饋送給控制部件96。然后，控制部件96使用微分放大器82計算出的、副光點S1的差信號S1a-S1b作為循跡誤差信號TE，執行循跡控制操作。
因此，利用分開的兩個光電探測區域S1a、S1b，探測來自至少兩個來自副光點之一——或者說副光點S1——的反射光量，獲得了兩個信號，光頭控制設備95根據這兩個信號的差信號S1a-S1b，控制光頭相對于磁光盤1的循跡操作。
光頭控制設備95使用某個副光點進行循跡控制操作的原理與前面介紹的光頭控制設備90相同。
下面介紹本發明的第三個實施例——磁光盤記錄/重放裝置，包括本發明的第二個實施例(光頭控制設備90或95)并適于向磁光盤1上記錄信號和從磁光盤1上重現信號。如圖16所示，該磁光盤記錄/重放裝置包括主軸電機11、光頭12、RF電路13、伺服電路14、數據解調器15、數據ECC(糾錯碼)解調器16、輸出端17、地址解調器18、地址ECC解調器19、控制部件20、激光功率控制電路21、LD驅動電路22、輸入端23、ECC加入部件24、數據調制器25、磁場驅動電路26和外部磁場生成線圈27。
光頭12的類型適于把三條光束——包括一條主光束和兩條副光束——照射到磁光盤1上，包括光束源——比如激光二極管、準直器透鏡、物鏡、極化光束分離器、柱面透鏡和其它光學單元。光頭12進一步包括第一光電探測器30、第二光電探測器31、第三光電探測器32、滑動電機等等。光頭12光學系統的NA為0.52，光束源發射的光束具有0.66μm的波長λ。
RF電路13包括重現信號生成部件、光點移動方向判斷設備33或80中包含的多個微分放大器和聚焦誤差信號生成部件。微分放大器35或82尤其適于產生循跡誤差信號TE。
重現信號生成部件使用來自第一光電探測器30的探測信號Ma和Mb，產生重現信號RF。然后，重現信號RF供應給數據解調器15、地址解調器18和激光功率控制電路21。
聚焦誤差信號生成部件使用來自第一光電探測器30的探測信號Ma和Mb、來自第二光電探測器31的探測信號S1a和S1b以及來自第三光電探測器32的探測信號S2a和S2b，產生聚焦誤差信號FE。聚焦誤差信號FE供應給伺服電路14。
伺服電路14根據RF電路13供應的循跡誤差信號TE和聚焦誤差信號FE，產生循跡伺服信號和聚焦伺服信號，并把它們供應給光頭12。伺服電路14特別包含控制部件91或96，并根據循跡誤差信號TE，產生循跡伺服信號，這個循跡伺服信號用于控制光頭12的循跡操作。
在伺服電路14執行循跡操作之前，控制部件20確定光點的移動方向。換句話說，控制部件20包括多個比較器和某個判斷部件38或87，它們組成光點移動方向判斷設備33或80，無論哪個，合適即可。
利用上面的方案，伺服電路14對光頭12發射的光束執行循跡伺服操作和聚焦伺服操作，使光點準確地掃描磁光盤1上的記錄軌跡T。
在該磁光盤記錄/重放裝置中，地址解調器18從供應給它的重現信號RF中提取地址數據，以便從磁光盤1上恰好對應于用戶指令的位置重現數據。地址數據記錄在磁光盤1上每對槽紋上微小的凹坑中，可以按照重現信號RF中的變化提取。
地址解調器18對提取的地址數據進行解調，并把解調后的地址數據供應給地址ECC解調器19。地址ECC解調器19對解調后的地址數據執行錯誤探測運算和糾錯運算，并把恢復后的地址數據供應給控制部件20。
控制部件20從供應給它的地址數據中獲取磁光盤1上光束正在掃描的位置，并根據重現地址數據產生控制信號，包括指示光束掃描位置移動的信息，再向伺服電路14供應，使得光束可以恰好掃描磁光盤1上的目標軌跡。
前面已經指出，控制部件20包括多個比較器和某個判斷部件38或87，它們組成光點移動方向判斷設備33或80，無論哪個，合適即可。因此，它把RF電路13的微分輸出簡化為雙態數據，并使判斷部件38或87接受該雙態數據，以前面介紹的方式判斷主光點M在盤片上的徑向移動方向。控制部件20獲得的、對主光點M移動方向的判斷供應給伺服電路14。
伺服電路14根據來自控制部件20的控制信號，產生控制信號并把產生的控制信號供應給光頭12，用于控制光頭12發射的光束，以便改變它們的掃描位置。結果，能夠從磁光盤1上按照用戶給出的指令選定的位置讀出數據。這時，伺服電路14根據它從控制部件20收到的、對主光點M移動方向的判斷，產生控制信號。
從上面的介紹可以理解，由RF電路13和控制部件20共享的光點移動方向判斷設備33或80，作出對光點移動方向的判斷，安排在伺服電路14內的控制部件91或96，根據該判斷通過控制滑動電機，驅動光頭12到所需軌跡附近的位置。然后，控制部件91或96，無論哪個，合適即可，使光頭讀取軌跡的地址，以便使光點恰好移動到所需的軌跡上，隨后執行循跡控制操作。
激光功率控制電路21按照供應給它的重現信號RF，產生功率誤差信號——ER信號，用于控制光頭12發射光束的功率，并把功率誤差信號ER饋送給LD驅動電路22。
LD驅動電路22按照功率誤差信號ER，產生控制信號，用于控制從光頭12照射到磁光盤1上的光束功率，并向光頭12供應該信號，以便不斷地使光束功率保持在正確的水平。
當記錄在磁光盤1上并為用戶所需的數據，以上面介紹的方式作為重現信號RF供應到數據解調器15之后，數據解調器15對供應給它的重現信號RF的波形進行整形，并轉換成“0”和“1”的數據。然后，數據解調器15把該數據供應給ECC解調器16。ECC解調器16對數據執行錯誤探測運算和糾錯運算，以恢復原始數據，并通過輸出端17輸出恢復后的數據。
因此，利用上面介紹的、依據本發明的磁光盤記錄/重放裝置，作為光頭控制設備主要組件并包含在伺服電路14內的控制部件91或96，按照RF電路13和控制部件20共享的光點移動方向判斷設備33或80確定的主光點M移動方向，控制滑車電機的操作并執行循跡控制操作。所以，利用上面的方案，可以從磁光盤1的選定記錄軌跡T上的目標位置準確地重現數據。
下面介紹依據本發明用于在磁光盤1上記錄信號的方案。通過輸入端23輸入的數據供應給ECC加入電路24，其中把糾錯碼加入數據。隨后，該數據供應給數據調制器25。數據調制器25利用適當的調制方法，比如EFM調制方法，對加入了糾錯碼的數據進行調制，并把調制后的數據供應給磁場驅動電路26。
磁場驅動電路26按照要記錄的數據，驅動外部磁場生成線圈27。如圖16所示，外部磁場生成線圈27與光頭12面對面地安排在從光頭12的延長線上，并適于在磁光盤1的半徑方向與光頭12的移動同步移動。外部磁場生成線圈27按照磁場驅動電路26供應的、要記錄的數據，產生+(正)或-(負)的記錄磁場。
這時，控制部件20以上面介紹的方式，通過參考從磁光盤1讀出的地址數據，控制該裝置中有關的多種組件，并對準磁光盤1上要用光頭12的光束照射之處，也是磁光盤1上要用外部磁場生成線圈27施加磁場之處。另外，在控制部件20的控制下，激光功率控制電路21控制光頭12的光束功率，使得光束的功率可以保持在適于記錄操作的水平。
驅動磁光盤1每單位時間轉動預定數目的圈數。那么，按照外部磁場生成線圈27的極性，從磁光盤1上的目標位置起，就會在記錄軌跡上形成記錄標記。因此，要記錄的數據實際上就記錄在磁光盤1的記錄軌跡T上了。
在數據記錄操作期間，作為光頭控制設備主要組件并包含在伺服電路14內的控制部件91或96，再次按照RF電路13和控制部件20共享的光點移動方向判斷設備33或80確定的主光點M移動方向，控制滑車電機的操作并執行循跡控制操作。所以，利用上面的方案，可以從磁光盤1的選定記錄軌跡T上的目標位置準確地記錄數據。
下面介紹本發明的第四個實施例——磁光盤記錄/重放裝置，包括本發明的第二個實施例(光頭控制設備90或95)并適于向圖17所示的磁光盤上記錄信號和從該磁光盤上重現信號。
首先，將要介紹圖17所示的磁光盤40。這種磁光盤40是一種磁光盤類型，由磁光效應在其上面記錄標記，記錄標記由疇壁位移探測法(DWDD)探測。
如圖17所示，磁光盤40具有第一記錄軌跡A和第二記錄軌跡B，沿著第一記錄軌跡A和第二記錄軌跡B以深度d1螺旋狀形成的第一槽紋41，以及沿著第一記錄軌跡A和第二記錄軌跡B以深度d2(d1＜d2)螺旋狀形成的第二槽紋42，以產生對第一槽紋41的雙螺旋。
第一槽紋41是擺動槽紋，以預定的周期和±10nm的振幅周期地蜿蜒(后文中稱為擺動槽紋41)。第二槽紋42是直槽紋(后文中稱為直槽紋42)。使兩條一組中的槽紋一(擺動槽紋41)蜿蜒時，磁光盤40的槽紋就配備了地址信息。
每一條第一記錄軌跡A都是紋間表面，被擺動槽紋41和直槽紋42夾在中間，二者中直槽紋42相對于該軌跡安排在盤片周邊的內側DIN，并用于記錄信息信號。每一條第二記錄軌跡B也都是紋間表面，被擺動槽紋41和直槽紋42夾在中間，二者中擺動槽紋41相對于該軌跡安排在盤片周邊的內側DIN，并用于記錄信息信號。
在磁光盤40上，軌跡以0.55μm的軌跡間距TPitch安排。軌跡間距TPitch對應于擺動槽紋41的中心線和相鄰位置直槽紋42的中心線之間的距離。換句話說，每條擺動槽紋41的中心線和位置鄰近該擺動槽紋41的直槽紋42的中心線，被0.55μm的距離分開。一條直槽紋42的中心線和一條相鄰位置的直槽紋42的中心線之間的距離被稱為軌跡周期TPeriod。
磁光盤40也包括透明基底2、第一電介質膜3、記錄膜4、第二電介質膜5和保護膜6，它們以上述順序一層一層地鋪在接收激光束O的盤片側面，形成多層結構，如圖4所示。注意，圖4所示的第一槽紋G1對應于擺動槽紋41，圖4所示的第二槽紋G2對應于直槽紋42。換句話說，使直槽紋42具有深度d2，大于擺動槽紋41的深度d1(d2＞d1)。記錄膜4是通過涂覆某個記錄層——在上面記錄用于重現數據的、小于光點的標記——和擴展層——利用重現時光學拾取的光點引起的熱分布導致的疇擴(domain expansion)在上面讀取小標記——來形成的，并在它們之間夾著一個開關層，以產生多層結構。
上面已經指出，磁光盤40是一種光盤類型，其中記錄標記由疇壁位移探測法(DWDD)探測，并且為此采用了深淺不同的方法。DWDD是一種利用光點引起的熱分布導致的疇擴，讀取小于數據重現所用光點之記錄標記的技術。由于疇壁位移探測法能夠清楚地探測標記的邊緣，DWDD適于從使用了“標記邊緣記錄”技術的磁光盤重現數據。當DWDD與深淺不同的方法結合時，要求磁光盤槽紋的典型深度大于100nm。所以，使磁光盤40的第一槽紋和第二槽紋分別具有100nm和170nm的深度。
磁光盤40顯示出0.55μm的軌跡間距，適用于紋間表面記錄方法和RLL(1，7)調制方法。它被稱為第三代磁光盤(第三格式磁光盤)。下面的表1顯示了第三格式磁光盤的指標和前面兩代磁光盤的指標。第一格式磁光盤顯示出1.6μm的軌跡間距，適用于槽紋記錄方法和EFM調制方法。第二格式磁光盤顯示出0.95μm的軌跡間距，適用于紋間表面記錄方法和RLL(1，7)調制方法。
表1

前面已經指出，第三格式磁光盤減小了軌跡間距，小至0.55μm。雖然因為軌跡間距相對于激光束光點太小，對于普通槽紋記錄方法或者普通紋間表面記錄方法，循跡誤差信號(推挽信號)變得太小，但是對于第三格式磁光盤還是能夠獲得足夠大的循跡誤差信號，因為它采用了深淺不同的方法。第三格式磁光盤的地址輸入方法使用單邊擺動，與第二格式磁光盤的情況相同。通過FM調制和雙相調制對絕對地址進行編碼。雖然第三格式磁光盤的地址格式與第二格式磁光盤相同，但是第三格式磁光盤與第二格式磁光盤的不同之處在于，雖然在第二格式磁光盤上兩種類型的槽紋具有相同的深度，但是在第三格式磁光盤上它們卻具有不同的深度，因為后者采用了深淺不同的方法。
第三格式磁光盤的最顯著特征在于，使用疇壁位移探測法(DWDD)重現數據。由于使用了疇壁位移探測法，盡管第三格式磁光盤的線密度高達第二格式磁光盤線密度的2.6倍，第三格式磁光盤所用的光學系統還是采用650nm的激光波長和0.52的透鏡數值孔徑，與第二格式磁光盤所用的光學系統相同，以便實現向下兼容。
雖然第三格式磁光盤使用RLL(1，7)作為要記錄數據的調制方法，與第二格式磁光盤的調制方法相同，但是第三格式磁光盤使用配備了BIS(猝發指示器子碼)并具有更高糾錯能力的LDC(長距碼)作為糾錯碼。第三格式磁光盤的最小記錄單位為64kB。利用這些指標，使第三格式磁光盤具有非凡的記錄容量3GB，是第二格式磁光盤650MB記錄容量的大約4.6倍。
圖18顯示了一種磁光盤記錄/重放裝置(本發明的第四個實施例)，它適于向磁光盤40上記錄數據和從該磁光盤上重現數據。不必說，該磁光盤記錄/重放裝置也包含光頭控制設備90或95。
首先，將介紹磁光盤記錄/重放裝置50驅動磁光盤40的方案，以及前者驅動光頭53相對于磁光盤40移動的方案。主軸電機51以每單位時間預定數目的轉數驅動磁光盤40旋轉。主軸電機51由驅動器52驅動。在數字伺服處理器(DSSP)72——后文將要介紹——的控制下，驅動器52驅動主軸電機51旋轉。
光頭53把光束照射到磁光盤40上，它正受主軸電機51驅動而旋轉。通過在磁光盤40的半徑方向移動光頭53，從磁光盤40讀取數據。配備了滑車電機54的一種滑車機構的支持著光頭53，所以它可以在磁光盤40的半徑方向移動。當光頭53必須移動一大段距離以到達新的讀取位置時，該滑車機構就驅動它移動。一種雙軸驅動電路的支持著光頭53——后文將要介紹——的物鏡，其方式為，當光頭53必須移動一小段距離時，就通過驅動器52的循跡伺服操作，驅動它在磁光盤40的半徑方向移動。除此以外，通過聚焦伺服操作，驅動物鏡朝向或背向磁光盤40移動，以控制光束，以便聚焦在磁光盤40的信號記錄表面上。
下面介紹該裝置重放部件的結構。光頭53產生RF信號，并把它供應給RF放大器55，它使RF信號放大預定的增益。然后，RF信號順序供應給A/D轉換器56、自動增益控制(AGC)電路57、均衡器(EQ)和數字PLL部件58、譯碼器59和解調器60，它們組成信號處理部件。解調器60通過內部總線61，連接到存儲器62、ECC編碼器/譯碼器63和解密器/譯碼器64。
重放部件以下面介紹的方式運行。由光頭53從磁光盤40拾取的信號，在光頭53中進行光電轉換，然后輸出為RF信號。然后，RF信號輸入到RF放大器55，放大預定的增益，再供應給信號處理部件的A/D轉換器56。供應給A/D轉換器56的RF信號在那里量化。接著，量化的RF信號在AGC處理部件57中受到增益控制運算，然后在均衡器(EQ)和數字PLL部件58中受到整形運算和產生采樣時鐘的運算。隨后，RLL(1，7)信號由譯碼器59進行譯碼，由解調器60進行解調。雖然在上面介紹的方案中，使用RF信號的AGC、均衡和DPLL等運算是在A/D轉換之后進行的，它們也可以在RF信號的A/D轉換之前進行。作為解調的結果，從解調器60產生的數據流在存儲器62中逐漸增長，并由ECC編碼器/解碼器63根據糾錯塊的單位進行糾錯。然后，糾錯后的數據由解密器/譯碼器64進行解密和譯碼，并從時鐘生成器65輸出為DAT1信號，伴隨著來自時鐘生成器65的傳遞時鐘信號SCLK。
現在介紹該裝置記錄部件的結構。由加密器/編碼器66對該處輸入的DAT0信號進行處理，然后該信號通過內部總線61，順序供應給存儲器62、ECC編碼器/譯碼器63和調制器67。調制器67把調制后的數據供應給磁頭驅動部件68。磁頭驅動部件68驅動磁頭69。調制器67也把時鐘信號供應給激光APC電路和驅動器70。
記錄部件以下面介紹的方式運行。與傳遞時鐘信號SCLK同步輸入的DAT0信號，由加密器/編碼器66進行加密和編碼，然后寫入存儲器62。寫入存儲器62的數據由ECC編碼器/譯碼器63配備糾錯校驗碼，并通過內部總線61供應給調制器67。然后，由調制器67調制后的數據，通過磁頭驅動部件68供應給磁頭69。另一方面，從調制器67向激光APC電路和驅動器70給出激光選通調制時鐘信號。
現在介紹伺服系統的結構。伺服系統包括矩陣放大器71、DSSP 72和系統控制器76。矩陣放大器71從光頭53產生的信號中提取伺服誤差信號，包括循跡誤差信號和聚焦誤差信號和擺動信號。DSSP 72根據伺服誤差信號，通過驅動器52，對光頭53的滑車機構和傳動器執行預定的伺服處理操作，并且按照CLV控制信號(后文將要介紹)，對主軸電機51執行預定的主軸伺服處理操作。系統控制器76控制DSSP 72。伺服系統還包括BPF 73、ADIP譯碼器74和CLV控制部件75。BPF 73從矩陣放大器71提取的擺動信號中探測ADIP(預刻槽紋地址)信號。ADIP譯碼器74對ADIP信號進行譯碼。CLV控制部件75向DSSP 72供應CLV控制信號。
下面粗略地介紹伺服系統的操作。矩陣放大器71從來自光頭53的信號中提取的、包括循跡誤差信號和聚焦誤差信號的伺服信號，在DSSP 72中經過相位補償運算、增益/目標值選擇運算其它運算，再通過驅動器52，供應給光頭53中的傳動器和螺紋電機54。
另一方面，矩陣放大器71輸出的擺動信號的某些分量被帶通濾波器(BPF)73提取，ADIP譯碼器74譯碼的地址信息被傳遞到系統控制器76。BPF 73的輸出、ADIP譯碼器74中PLL相位誤差的積分和來自系統控制器76的控制信號供應給CLV控制部件75，然后通過DSSP 72和驅動器52供應給主軸電機51。
上面介紹的伺服系統包含光頭控制設備90或95。首先，在矩陣放大器71和系統控制器76中，以分布的方式，具有光頭控制設備90或95—一無論哪個，適當即可—一包括的光點移動方向判斷設備33或80。更確切地說，矩陣放大器71中包含光點移動方向判斷設備33或80的多個微分放大器，而多個比較器和判斷部件38或87—一無論哪個，適當即可—一包含在系統控制器76中。作為光頭控制設備90或95主要組件的控制部件91或96—一無論哪個，適當即可—一包含在DSSP 72中。
圖4中展示的第一光電探測器30、第二光電探測器31和第三光電探測器32包含在光頭53的內部。
因此，對于磁光盤記錄/重放裝置的這個實施例，為了數據重現操作的目的，位于DSSP 72的內部并組成光頭控制設備主要組件的控制部件91或96，再次根據矩陣放大器71和系統控制器76共享的光點移動方向判斷設備33或80—一無論哪個，適當即可—一確定的、主光點M的移動方向，控制滑車電機和循跡控制操作，使得數據能夠從記錄軌跡T的正確位置重現。
同樣，為了數據記錄操作的目的，位于DSSP 72的內部并組成光頭控制設備主要組件的控制部件91或96，根據矩陣放大器71和系統控制器76共享的光點移動方向判斷設備33或80—一無論哪個，適當即可—一確定的、主光點M的移動方向，控制滑車電機和循跡控制操作，使得數據能夠從記錄軌跡T的正確位置記錄。
這里應當再次注意，第一個實施例的第一版本和第二版本——一種光點移動方向判斷設備——用來確定照射到磁光盤1或40—一無論哪個，適當即可—一上光點的移動方向，其中槽紋G1和槽紋G2具有相互不同的各自深度，而紋間表面L具有相同的高度，并且紋間表面L用作記錄軌跡，正如前面參考圖3和圖4或者圖17和圖4—一無論哪個，適當即可—一所介紹的。不過，第一和第二版本也可以用于確定照射在某種其它類型磁光盤上光點的移動方向。下面討論不同于上面介紹的某些磁光盤類型。
圖19顯示了磁光盤第一個其它實例的示意性剖面圖。如圖19所示，磁光盤110具有各自深度相互不同的槽紋G1和槽紋G2，以及高度相同的紋間表面L。兩種不同類型的槽紋G1、G2具有的寬度大于紋間表面L的寬度，并且用作記錄軌跡。第一組槽紋G1的深度d1小于第二組槽紋G2的深度d2。由于磁光盤110的膜結構與圖4中展示的相同，其成員分別由相同的參考符號來表示。可以安排成兩個不同組中，一組的槽紋是擺動槽紋，而另一組的槽紋是直槽紋。
圖20顯示了磁光盤第二個其它實例的示意性剖面圖。如圖20所示，磁光盤120具有深度相同的槽紋G以及各自高度相互不同的紋間表面L1和紋間表面L2。槽紋G具有的寬度大于兩種不同類型的紋間表面L1、L2的寬度，并且用作記錄軌跡。第一組紋間表面L1的高度h1小于第二組紋間表面L2的高度h2。磁光盤120的結構與前面參考圖4介紹的相同。可以安排成某些槽紋是擺動槽紋，而其余的槽紋是直槽紋。
圖21顯示了磁光盤第三個其它實例的示意性剖面圖。如圖21所示，磁光盤130具有深度相同的槽紋G以及各自高度h1和h2相互不同的紋間表面L1和紋間表面L2。兩種不同類型的紋間表面L1、L2的寬度大于槽紋G具有的寬度，并且用作記錄軌跡。磁光盤130的結構與前面參考圖4介紹的相同。再次可以安排成某些槽紋是擺動槽紋，而其余的槽紋是直槽紋。
圖22顯示了磁光盤第四個其它實例的示意性剖面圖。如圖22所示，磁光盤140具有各自深度相互不同的槽紋G1和槽紋G2，以及各自高度相互不同的紋間表面L1和紋間表面L2。槽紋G1、G2具有的寬度大于紋間表面L1、L2的寬度，并且用作記錄軌跡。磁光盤140的膜結構與前面參考圖4介紹的相同。再次可以安排成兩個不同組中，一組的槽紋是擺動槽紋，而另一組的槽紋是直槽紋。
圖23顯示了磁光盤第五個其它實例的示意性剖面圖。如圖23所示，磁光盤150具有各自深度相互不同的槽紋G1和槽紋G2，以及各自高度相互不同的紋間表面L1和紋間表面L2。紋間表面L1、L2具有的寬度大于槽紋G1、G2的寬度，并且用作記錄軌跡。磁光盤150的膜結構與前面參考圖4介紹的相同。再次可以安排成兩個不同組中，一組的槽紋是擺動槽紋，而另一組的槽紋是直槽紋。
本發明第二個實施例的第一和第二版本——一種光頭控制設備——可以要求做到在磁光盤110、120、130、140或150上，控制光頭的徑向位置。
本發明第三個實施例——一種磁光盤記錄/重放裝置——可以如此安排，它可以把磁光信號記錄在磁光盤110、120、130、140或150上，并從該磁光盤上重現磁光信號。最后，本發明第四個實施例——也是一種磁光盤記錄/重放裝置——可以如此安排，它可以把磁光信號記錄在磁光盤110、120、130、140或150上，并從該磁光盤上重現磁光信號，其中某些槽紋是擺動槽紋，而其余的槽紋是直槽紋。
工業適用性在依據本發明的光點移動方向判斷設備中，判斷裝置根據來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點差信號的雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，該光點移動方向判斷設備能夠僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向，該光盤具有兩種具有各自不同深度的、不同類型的槽紋，每對槽紋位置相鄰，并把一條紋間表面夾在中間。
利用依據本發明的光點移動方向判斷設備，在判斷步驟中根據來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點差信號的雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，該光點移動方向判斷方法能夠僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向，該光盤具有兩種具有各自不同深度的、不同類型的槽紋，每對槽紋位置相鄰，并把一條紋間表面夾在中間。
在依據本發明的光點移動方向判斷設備中，判斷裝置根據來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，該光點移動方向判斷設備能夠僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向，該光盤具有兩種具有各自不同深度的、不同類型的槽紋，每對槽紋位置相鄰，并把一條紋間表面夾在中間。
利用依據本發明的光點移動方向判斷方法，在判斷步驟中根據來自第一雙態化步驟的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化步驟的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，該光點移動方向判斷方法能夠僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向，該光盤具有兩種具有各自不同深度的、不同類型的槽紋，每對槽紋位置相鄰，并把一條紋間表面夾在中間。
在依據本發明的光頭控制設備中，光點移動方向判斷設備的判斷裝置根據來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點差信號的雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，該控制裝置能夠在盤片的半徑方向控制光頭相對于光盤的位置。
利用依據本發明的光頭控制方法，在光點移動方向判斷步驟的判斷步驟中根據來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、副光點差信號的雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，在該控制步驟中，能夠在盤片的半徑方向控制光頭相對于光盤的位置。
在依據本發明的光頭控制設備中，光點移動方向判斷設備的判斷裝置根據來自第一雙態化裝置的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化裝置的、兩個副光點差信號的差信號雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，該控制裝置能夠在盤片的半徑方向控制光頭相對于光盤的位置。
利用依據本發明的光頭控制方法，在光點移動方向判斷步驟的判斷步驟中根據來自第一雙態化步驟的、主光點差信號的雙態數據和來自第二雙態化步驟的、副光點差信號的雙態數據，判斷主光點的移動方向。所以，在該控制步驟中，能夠在盤片的半徑方向控制光頭相對于光盤的位置。
依據本發明的一種光盤記錄/重放裝置僅僅使用差信號而不使用任何和信號，來判斷光盤上光點的徑向移動方向，根據該判斷按照用戶的意圖在徑向上準確地移動光頭，使得它能夠在光盤上記錄數據或者從光盤上重現數據。
權利要求
1.一種光點移動方向判斷設備，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由光束照射形成之副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述設備包括第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自一個副光點的反射光光量獲得的；第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化裝置，把第二計算裝置計算產生的副光點差信號雙態化；以及判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據。
2.根據權利要求1的設備，其特征在于，所述判斷裝置具有一個判斷數據生成部件和一個確定部件，該判斷數據生成部件產生判斷數據，用于判斷所述主光點的徑向移動方向，該確定部件使用判斷數據生成部件產生的判斷數據，確定所述主光點的移動方向。
3.根據權利要求2的設備，其特征在于，所述判斷裝置的所述判斷數據生成部件，在所述第一雙態化裝置計算結果的每個轉換點，對所述第二雙態化裝置的兩種連續的計算結果進行采樣，并按照所述第一雙態化裝置的計算結果，選擇性地輸出采樣后的兩種計算結果之一。
4.根據權利要求2的設備，其特征在于，所述判斷裝置的所述判斷數據生成部件具有兩個同步類型的觸發器電路和一個轉換開關，用于按照來自所述第一雙態化裝置的雙態數據是L還是H，選擇性地輸出觸發器電路之一的正輸出和另一個觸發器電路的反相輸出。
5.根據權利要求1的設備，其特征在于，所述判斷裝置對每條軌跡判斷所述主光點的移動方向。
6.一種光點移動方向判斷方法，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由光束照射形成之副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該方法包括第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自一個副光點的反射光光量獲得的；第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化步驟，把第二計算步驟計算產生的副光點差信號雙態化；以及一種判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據。
7.根據權利要求6的方法，其特征在于，所述判斷步驟包括一個判斷數據生成步驟和一個確定步驟，該判斷數據生成步驟產生判斷數據，用于判斷所述主光點的徑向移動方向，該確定步驟使用判斷數據生成步驟產生的判斷數據，確定所述主光點的移動方向。
8.一種光點移動方向判斷設備，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由一對光束照射形成之一對副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該設備包括第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第三計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；第四計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算裝置計算產生的差信號，另一個是第三計算裝置計算產生的差信號；第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化裝置，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據。
9.根據權利要求8的設備，其特征在于，所述判斷裝置具有一個判斷數據生成部件和一個確定部件，該判斷數據生成部件產生判斷數據，用于判斷所述主光點的徑向移動方向，該確定部件使用判斷數據生成部件產生的判斷數據，確定所述主光點的移動方向。
10.根據權利要求9的設備，其特征在于，所述判斷裝置的所述判斷數據生成部件，在所述第一雙態化裝置計算結果的每個轉換點，對所述第二雙態化裝置的兩種連續的計算結果進行采樣，并按照所述第一雙態化裝置的計算結果，選擇性地輸出采樣后的兩種計算結果之一。
11.根據權利要求9的設備，其特征在于，所述判斷裝置的所述判斷數據生成部件具有兩個同步類型的觸發器電路和一個轉換開關，用于按照來自所述第一雙態化裝置的雙態數據是L還是H，選擇性地輸出觸發器電路之一的正輸出和另一個觸發器電路的反相輸出。
12.根據權利要求8的設備，其特征在于，所述判斷裝置對每條軌跡判斷所述主光點的移動方向。
13.一種光點移動方向判斷方法，用于探測來自光盤上由光束照射形成之主光點的反射光和來自光盤上也由一對光束照射形成之一對副光點的反射光，以及根據該探測的結果判斷主光點的徑向移動方向，所述光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，該方法包括第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第三計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；第四計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算步驟計算產生的差信號，另一個是第三計算步驟計算產生的差信號；第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化步驟，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據。
14.根據權利要求13的方法，其特征在于，所述判斷步驟包括一個判斷數據生成步驟和一個確定步驟，該判斷數據生成步驟產生判斷數據，用于判斷所述主光點的徑向移動方向，該確定步驟使用判斷數據生成步驟產生的判斷數據，確定所述主光點的移動方向。
15.一種光頭控制設備，用于控制某個光頭，它適于把一條主光束和一對側光束照射到光盤上，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述設備包括光點移動方向判斷設備，具有第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化裝置，把第二計算裝置計算產生的副光點差信號雙態化；以及判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
16.根據權利要求15的設備，其特征在于，根據兩個分開的探測區域探測的、來自至少所述兩個來自副光點之一的兩個反射光光量信號的差信號，所述控制裝置控制所述光頭向所述光盤循跡。
17.根據權利要求16的設備，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在兩條位置相鄰軌跡的中心部分中。
18.根據權利要求16的設備，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在所述兩條槽紋之一上。
19.一種光頭控制方法，用于控制某個光頭，適于在光盤上形成一個主光點和一對副光點，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述方法包括光點移動方向判斷步驟，包括第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化步驟，把第二計算步驟計算產生的副光點差信號雙態化；以及判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據；以及控制步驟，基于光點移動方向判斷步驟中判斷的主光點移動方向，控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
20.根據權利要求19的方法，其特征在于，根據兩個分開的探測區域探測的、來自至少所述兩個來自副光點之一的兩個反射光光量信號的差信號，在所述控制步驟中控制所述光頭向所述光盤循跡。
21.根據權利要求20的方法，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在兩條位置相鄰軌跡的中心部分中。
22.根據權利要求20的方法，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在所述兩條槽紋之一上。
23.一種光頭控制設備，用于控制某個光頭，適于在光盤上形成一個主光點和一對副光點，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述設備包括光點移動方向判斷設備，具有第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第三計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；第四計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算裝置計算產生的差信號，另一個是第三計算裝置計算產生的差信號；第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化裝置，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
24.根據權利要求23的設備，其特征在于，根據兩個分開的探測區域探測的、來自至少所述兩個來自副光點之一的兩個反射光光量信號的差信號，所述控制裝置控制所述光頭向所述光盤循跡。
25.根據權利要求24的設備，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在兩條位置相鄰軌跡的中心部分中。
26.根據權利要求24的設備，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在所述兩條槽紋之一上。
27.一種光頭控制方法，用于控制某個光頭，適于在光盤上形成一個主光點和一對副光點，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述方法包括光點移動方向判斷步驟，包括第一計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第三計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；第四計算步驟，計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算步驟計算產生的差信號，另一個是第三計算步驟計算產生的差信號；第一雙態化步驟，把第一計算步驟計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化步驟，把第四計算步驟計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及判斷步驟，判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化步驟的雙態數據和來自第二雙態化步驟的雙態數據；以及控制步驟，基于光點移動方向判斷步驟中判斷的主光點移動方向，控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
28.根據權利要求27的方法，其特征在于，根據兩個分開的探測區域探測的、來自至少所述兩個來自副光點之一的兩個反射光光量信號的差信號，在所述控制步驟中控制所述光頭向所述光盤循跡。
29.根據權利要求28的方法，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在兩條位置相鄰軌跡的中心部分中。
30.根據權利要求28的方法，其特征在于，所述至少所述兩個來自副光點之一，被安排在所述兩條槽紋之一上。
31.一種光盤記錄/重放裝置，通過在光盤上形成一個光束主光點和一對光束副光點，用于向光盤上記錄數據和從光盤上重現數據，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述設備包括光點移動方向判斷設備，具有第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化裝置，把第二計算裝置計算產生的副光點差信號雙態化；以及判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
32.一種光盤記錄/重放裝置，通過在光盤上形成一個光束主光點和一對光束副光點，用于向光盤上記錄數據和從光盤上重現數據，該光盤具有紋間表面和槽紋，在表面上并排地螺旋狀排列，作為記錄軌跡，分別為每一對所述紋間表面位置相鄰并把一條槽紋夾在中間，以及/或者每一對所述槽紋位置相鄰并把一條紋間表面夾在中間，它們具有不同的高度和/或深度，所述設備包括光點移動方向判斷設備，具有第一計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自主光點的反射光光量獲得的；第二計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自副光點之一的反射光光量獲得的；第三計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號是利用兩個分開的探測區域探測來自其它的副光點的反射光光量獲得的；第四計算裝置，用于計算產生兩個信號的差信號，這兩個信號一個是第二計算裝置計算產生的差信號，另一個是第三計算裝置計算產生的差信號；第一雙態化裝置，把第一計算裝置計算產生的主光點差信號雙態化；第二雙態化裝置，把第四計算裝置計算產生的、兩個副光點差信號的差信號雙態化；以及判斷裝置，用于判斷主光點的移動方向，這種判斷是基于來自第一雙態化裝置的雙態數據和來自第二雙態化裝置的雙態數據；以及控制裝置，基于光點移動方向判斷設備判斷的主光點移動方向，用于控制光頭在光盤徑向上的位置，所述光頭把光束照射在光盤上。
全文摘要
一種設備和一種方法，能夠判斷在光盤的信號記錄表面上形成之光點的徑向移動方向，該光盤具有兩種類型的槽紋，其深度相互不同，沿著記錄軌跡排列，該軌跡是光盤的紋間表面。該設備的判斷部件根據主光點差信號的雙態數據和一個副光點差信號的雙態數據，判斷主光點的移動方向。利用這種方案，僅僅使用差信號而不使用任何和信號，就能夠確定光點相對于光盤半徑方向的移動方向。
文檔編號G11B7/085GK1457486SQ02800276
公開日2003年11月19日 申請日期2002年2月8日 優先權日2001年2月9日
發明者田中富士, 中尾進一, 遠藤惣銘, 石井保 申請人:索尼株式會社